JPS61100235A - X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法 - Google Patents

X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法

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JPS61100235A
JPS61100235A JP59223698A JP22369884A JPS61100235A JP S61100235 A JPS61100235 A JP S61100235A JP 59223698 A JP59223698 A JP 59223698A JP 22369884 A JP22369884 A JP 22369884A JP S61100235 A JPS61100235 A JP S61100235A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
slice
profile
sensitivity
measurement
Prior art date
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Pending
Application number
JP59223698A
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English (en)
Inventor
松村 滋
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GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
Yokogawa Medical Systems Ltd
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Publication date
Application filed by Yokogawa Medical Systems Ltd filed Critical Yokogawa Medical Systems Ltd
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はX ta CT (Computer Tom
ography )のX線スライス厚方向の感度プロフ
ィールを測定する方法の改良に関する。
(従来の技術) X線CTにおいて、スカウトビューを得る場合、スライ
ス厚方向にスライスプロフィールによるコンボリューシ
ョン処理を施しているため、高周波成分の劣化が生ずる
。これを補正するためには復元関数が必要である。そし
て、この復元関数を求めるためには正確なスライスプロ
フィールを知る必要があった。
従来のスライスプロフィール測定は次のような方法であ
った。
■第2図に示すようなスライス厚測定用ファントムを用
い、そのCTaからCT値のプロフィールを求める方法
である。即ち、長さ約5Qmm。
幅約20nun、厚さ約Q、5+nmのアルミニウム板
21をスライス面と45°の角度で、中心及び周辺の2
箇所に配設し、周囲を水で満たしたファントム20を用
意する。第3図(イ)に示すようにこのファントム20
に対しX線を矢印△のように照射し、第3図(ロ)のよ
うなCT値のプロフィール(スライスプロフィール)を
得る。スライス厚は、このスライスプロフィールの半値
全幅−〈図中のd)で求められる。
■T L D (T hermo −luminesc
ent dosimeter )のアレイ検出器を配列
し、線分プロフィールを求める方法。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、このような従来の方法においては次のよ
うな問題がある。
前記■の方法では、CT値のプロフィールは、再構成演
算処理におけるソフトウェアの影響を受けて誤差が生じ
、又、X線強度に対してリニアでなく対数的な関係にあ
る。
前記■の方法では、多数のTLDを使用し簡単な操作で
の測定が不可能である。又、線量プロフィールは測定し
得ても、必要とする感度プロフィールは測定できない。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、簡単な手法で正確な感度プロフィールを求め
ることのできる測定方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) このような目的を達成する本発明は、X線CT5   
 において、照11XIIlをスライス方向に対して斜
めに遮断し、これをX線検出器で検出し、得られたX線
強度信号を用いることによりXla強度プロフィールを
測定するようにしたことを特徴とするもめである。
まず、本発明の原理を第4図を用いて説明する。
第4図中の符号1はXl1I(紙面の垂直方向に向かう
)の通路の一部を遮蔽する遮蔽板で、該遮蔽板1がない
場合における成るチャンネルCでのX線感度Iは、X線
通路が全く遮蔽されないことから、T −f”f<x 
) dx       (1)t。
で表わされる。ここに、f(×)は第4図中に併せて示
したようにスライス方向の各位置×に対するX線強度プ
ロフィールであり、又、XO,X2はX線検出器におけ
るスライス方向の有感領域の限界値である。
一方、同図に示すように、スライス面内に斜めに遮蔽す
る如り父線遮蔽板1を置いた場合には、チャンネルCに
おけるX線感度■(×)は、第4図のLの範囲のX線し
か透過しないことから、となる。ここで、(2)式の両
辺を微分すると、J頷”=f(x>         
<3)Lx となり、Xa感度T (x )を微分すると、X線強度
プロフィールf(x)が求められることがわかる。
尚、多数のX線検出器を配列した方向即ちチャンネル方
向と前記スライス方向(実空間座標)との間には次の関
係がある。
(X −X C)= (C−Co )−tanθ【4) ここに、θは遮蔽板1のチャンネル方・向に対する斜角
である。
(実施例) 以下、図面を参照し本発明方法を具体的に説明する。
第1図は本発明の方法を実施するための要部構成図であ
る。同図において、3は被検体を載置するクレードルで
、その先端にファントムホルダー31を有し、ここに遮
蔽板1を有するファントム2が@税可能に取付けら1れ
ている。4はX17Q源で、スライス厚!のX線ファン
ビームがX線検出器5に放飼される。検出器5は多数の
検出素子が配列されたもので、各検出素子は入射X線強
度を電気信号に変換して出力する。各チャンネルの出力
信号はデータ収集装置6により収集される。
7は検出素子名チャンネルの感度ムラを補正する感度ム
ラ補正回路、8は感度ムラ補正の施された各チャンネル
の検出信号を微分する微分回路である。
このような構成において、感度プロフィールを測定する
場合には、クレードルを移動し、遮蔽板1の先端の三角
形部分がX線ビームを遮る位置に設定する。この状態で
X線を投射し、その透過X線強度を検出器で検出する。
検出器5の出力信号はデータ収集装置6を介して1チヤ
ンネルずつ取り込まれる。この信号を感度ムラ補正回路
7及び微分回路8で補正及び微分処理することにより、
X線強度プロフィールf(×)を測定することができる
尚、xi板1は実施例の構造に限定されるものではなく
次のようにしてもよい。例えば、第5図に示すようにX
S*が透過しないワイヤ51をスライス面に斜めに配置
してスキャンするか、又は。
第6図のようにスライス而に対して斜めのスリットを有
する遮蔽板61を配設してスキャンしてもよい。このよ
うな遮蔽構造のものを用いた場合には、スライス方向に
一定面積の遮蔽部(第5図の場合)又は開口部(第6図
の場合)がずれて存在することになり、各チャンネルに
は一定面積の遮蔽又は開口を介してX線が入射すること
になる。
このため、各チャンネルのXII感度■′がX線強度と
なり、微分処理が不要になる。このX線感度1′は次式
で示される。
I’ −T (x )−1(X+δ)    (5)こ
こにδはワイヤ或いはスリットの幅(×方向)である。
(発明の効果) 以上述べたように、本発明によれば、簡単な方法により
正確な感度プロフィールを測定することができる。そし
て、スカウトビューを得る場合のコンボリューション処
理において生ずる高周波成分の劣化を補正するに必要な
感度プロフィールを容易且つ正確に求めることができる
ので、スカウトビューの品質を向上させることができる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法を実施するための要部構成図、第
2図は従来のスライス厚測定用ファントムの構成図、第
3図は従来のスライスプロフィール測定方法を説明する
ための図、第4図は本発明の詳細な説明するための図、
第5図及び第6図は本発明の他の実施例を説明するため
の図である。 1・・・遮蔽板    2・・・ファントム3・・・ク
レードル  31・・・ファントムホルダー4・・・X
線源    5・・・X線検出器6・・・データ収集装
置 7・・・感度ムラ補正回路 8・二微分回路 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社腎 島1図 吊2図 吊3図 (イ) (ロ)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. X線CTにおいて、照射X線をスライス方向に対して斜
    めに遮断し、これをX線検出器で検出し、得られたX線
    強度信号を用いることによりX線強度プロフィールを測
    定するようにしたことを特徴とするX線CTのスライス
    プロフィール測定方法。
JP59223698A 1984-10-24 1984-10-24 X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法 Pending JPS61100235A (ja)

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JP59223698A JPS61100235A (ja) 1984-10-24 1984-10-24 X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法

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JPS61100235A true JPS61100235A (ja) 1986-05-19

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JP59223698A Pending JPS61100235A (ja) 1984-10-24 1984-10-24 X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003102718A (ja) * 2001-09-27 2003-04-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線ctシステム、操作コンソール、及びその制御方法、ファントム
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JP2020094906A (ja) * 2018-12-12 2020-06-18 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 核物質量計測装置及び核物質量計測方法

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