JPS61100235A - Ｘ線ｃｔのスライスプロフイ−ル測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はＸ　ｔａ　ＣＴ　（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ　Ｔｏｍ
ｏｇｒａｐｈｙ　）のＸ線スライス厚方向の感度プロフ
ィールを測定する方法の改良に関する。

（従来の技術） Ｘ線ＣＴにおいて、スカウトビューを得る場合、スライ
ス厚方向にスライスプロフィールによるコンボリューシ
ョン処理を施しているため、高周波成分の劣化が生ずる
。これを補正するためには復元関数が必要である。そし
て、この復元関数を求めるためには正確なスライスプロ
フィールを知る必要があった。

従来のスライスプロフィール測定は次のような方法であ
った。

■第２図に示すようなスライス厚測定用ファントムを用
い、そのＣＴａからＣＴ値のプロフィールを求める方法
である。即ち、長さ約５Ｑｍｍ。

幅約２０ｎｕｎ、厚さ約Ｑ、５＋ｎｍのアルミニウム板
２１をスライス面と４５°の角度で、中心及び周辺の２
箇所に配設し、周囲を水で満たしたファントム２０を用
意する。第３図（イ）に示すようにこのファントム２０
に対しＸ線を矢印△のように照射し、第３図（ロ）のよ
うなＣＴ値のプロフィール（スライスプロフィール）を
得る。スライス厚は、このスライスプロフィールの半値
全幅−〈図中のｄ）で求められる。

■Ｔ　Ｌ　Ｄ　（Ｔ　ｈｅｒｍｏ　−ｌｕｍｉｎｅｓｃ
ｅｎｔ　ｄｏｓｉｍｅｔｅｒ　）のアレイ検出器を配列
し、線分プロフィールを求める方法。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、このような従来の方法においては次のよ
うな問題がある。

前記■の方法では、ＣＴ値のプロフィールは、再構成演
算処理におけるソフトウェアの影響を受けて誤差が生じ
、又、Ｘ線強度に対してリニアでなく対数的な関係にあ
る。

前記■の方法では、多数のＴＬＤを使用し簡単な操作で
の測定が不可能である。又、線量プロフィールは測定し
得ても、必要とする感度プロフィールは測定できない。

本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、簡単な手法で正確な感度プロフィールを求め
ることのできる測定方法を提供することにある。

（問題点を解決するための手段） このような目的を達成する本発明は、Ｘ線ＣＴ５　　　
　において、照１１ＸＩＩｌをスライス方向に対して斜
めに遮断し、これをＸ線検出器で検出し、得られたＸ線
強度信号を用いることによりＸｌａ強度プロフィールを
測定するようにしたことを特徴とするもめである。

まず、本発明の原理を第４図を用いて説明する。

第４図中の符号１はＸｌ１Ｉ（紙面の垂直方向に向かう
）の通路の一部を遮蔽する遮蔽板で、該遮蔽板１がない
場合における成るチャンネルＣでのＸ線感度Ｉは、Ｘ線
通路が全く遮蔽されないことから、Ｔ　−ｆ”ｆ＜ｘ　
）　ｄｘ　　　　　　　（１）ｔ。

で表わされる。ここに、ｆ（×）は第４図中に併せて示
したようにスライス方向の各位置×に対するＸ線強度プ
ロフィールであり、又、ＸＯ，Ｘ２はＸ線検出器におけ
るスライス方向の有感領域の限界値である。

一方、同図に示すように、スライス面内に斜めに遮蔽す
る如り父線遮蔽板１を置いた場合には、チャンネルＣに
おけるＸ線感度■（×）は、第４図のＬの範囲のＸ線し
か透過しないことから、となる。ここで、（２）式の両
辺を微分すると、Ｊ頷”＝ｆ（ｘ＞　　　　　　　　　
＜３）Ｌｘ となり、Ｘａ感度Ｔ　（ｘ　）を微分すると、Ｘ線強度
プロフィールｆ（ｘ）が求められることがわかる。

尚、多数のＸ線検出器を配列した方向即ちチャンネル方
向と前記スライス方向（実空間座標）との間には次の関
係がある。

（Ｘ　−Ｘ　Ｃ）＝　（Ｃ−Ｃｏ　）−ｔａｎθ【４） ここに、θは遮蔽板１のチャンネル方・向に対する斜角
である。

（実施例） 以下、図面を参照し本発明方法を具体的に説明する。

第１図は本発明の方法を実施するための要部構成図であ
る。同図において、３は被検体を載置するクレードルで
、その先端にファントムホルダー３１を有し、ここに遮
蔽板１を有するファントム２が＠税可能に取付けら１れ
ている。４はＸ１７Ｑ源で、スライス厚！のＸ線ファン
ビームがＸ線検出器５に放飼される。検出器５は多数の
検出素子が配列されたもので、各検出素子は入射Ｘ線強
度を電気信号に変換して出力する。各チャンネルの出力
信号はデータ収集装置６により収集される。

７は検出素子名チャンネルの感度ムラを補正する感度ム
ラ補正回路、８は感度ムラ補正の施された各チャンネル
の検出信号を微分する微分回路である。

このような構成において、感度プロフィールを測定する
場合には、クレードルを移動し、遮蔽板１の先端の三角
形部分がＸ線ビームを遮る位置に設定する。この状態で
Ｘ線を投射し、その透過Ｘ線強度を検出器で検出する。

検出器５の出力信号はデータ収集装置６を介して１チヤ
ンネルずつ取り込まれる。この信号を感度ムラ補正回路
７及び微分回路８で補正及び微分処理することにより、
Ｘ線強度プロフィールｆ（×）を測定することができる
。

尚、ｘｉ板１は実施例の構造に限定されるものではなく
次のようにしてもよい。例えば、第５図に示すようにＸ
Ｓ＊が透過しないワイヤ５１をスライス面に斜めに配置
してスキャンするか、又は。

第６図のようにスライス而に対して斜めのスリットを有
する遮蔽板６１を配設してスキャンしてもよい。このよ
うな遮蔽構造のものを用いた場合には、スライス方向に
一定面積の遮蔽部（第５図の場合）又は開口部（第６図
の場合）がずれて存在することになり、各チャンネルに
は一定面積の遮蔽又は開口を介してＸ線が入射すること
になる。

このため、各チャンネルのＸＩＩ感度■′がＸ線強度と
なり、微分処理が不要になる。このＸ線感度１′は次式
で示される。

Ｉ’　−Ｔ　（ｘ　）−１（Ｘ＋δ）　　　　（５）こ
こにδはワイヤ或いはスリットの幅（×方向）である。

（発明の効果） 以上述べたように、本発明によれば、簡単な方法により
正確な感度プロフィールを測定することができる。そし
て、スカウトビューを得る場合のコンボリューション処
理において生ずる高周波成分の劣化を補正するに必要な
感度プロフィールを容易且つ正確に求めることができる
ので、スカウトビューの品質を向上させることができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法を実施するための要部構成図、第
２図は従来のスライス厚測定用ファントムの構成図、第
３図は従来のスライスプロフィール測定方法を説明する
ための図、第４図は本発明の詳細な説明するための図、
第５図及び第６図は本発明の他の実施例を説明するため
の図である。 １・・・遮蔽板　　　　２・・・ファントム３・・・ク
レードル　　３１・・・ファントムホルダー４・・・Ｘ
線源　　　　５・・・Ｘ線検出器６・・・データ収集装
置 ７・・・感度ムラ補正回路 ８・二微分回路 特許出願人　横河メディカルシステム株式会社腎 島１図 吊２図 吊３図 （イ） （ロ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. Ｘ線ＣＴにおいて、照射Ｘ線をスライス方向に対して斜
   めに遮断し、これをＸ線検出器で検出し、得られたＸ線
   強度信号を用いることによりＸ線強度プロフィールを測
   定するようにしたことを特徴とするＸ線ＣＴのスライス
   プロフィール測定方法。