JPH0759762A - X線ct装置 - Google Patents
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- JPH0759762A JPH0759762A JP5213872A JP21387293A JPH0759762A JP H0759762 A JPH0759762 A JP H0759762A JP 5213872 A JP5213872 A JP 5213872A JP 21387293 A JP21387293 A JP 21387293A JP H0759762 A JPH0759762 A JP H0759762A
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はX線CT装置に関し、被検体からの
散乱X線の影響を低減できるX線CT装置の提供を目的
とする。 【構成】 少なくとも円環状回転板と、この回転板上の
所定位置に固設されたX線放射源と、このX線放射源に
対向する位置で前記回転板上に固設された多素子型X線
検出器とを含むX線装置において、この多素子型X線検
出器の両端に前記X線放射源側に突出した直接入射X線
遮蔽用カバーを有する検出器側コリメータを備えたX線
CT装置。
散乱X線の影響を低減できるX線CT装置の提供を目的
とする。 【構成】 少なくとも円環状回転板と、この回転板上の
所定位置に固設されたX線放射源と、このX線放射源に
対向する位置で前記回転板上に固設された多素子型X線
検出器とを含むX線装置において、この多素子型X線検
出器の両端に前記X線放射源側に突出した直接入射X線
遮蔽用カバーを有する検出器側コリメータを備えたX線
CT装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線CT装置に係り、
特に被検体で散乱されるX線の影響を低減したCT像が
得られるX線CT装置に関する。
特に被検体で散乱されるX線の影響を低減したCT像が
得られるX線CT装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線CT装置は、X線放射源から出射し
た一定エネルギー、一定強度のX線ビームが被検体を透
過した際に、その内部で吸収や散乱によって減弱した量
を被検体後方に位置するX線検出器で検知し、前記X線
放射源とこのX線検出器をその相対位置を保ちながら被
検体の周りに回転させて測定した被検体横断面のX線透
過率を、コンピュータによる信号処理によって分布画像
として再構成したものである。
た一定エネルギー、一定強度のX線ビームが被検体を透
過した際に、その内部で吸収や散乱によって減弱した量
を被検体後方に位置するX線検出器で検知し、前記X線
放射源とこのX線検出器をその相対位置を保ちながら被
検体の周りに回転させて測定した被検体横断面のX線透
過率を、コンピュータによる信号処理によって分布画像
として再構成したものである。
【0003】従って、X線CT装置は、少なくともX線
放射源とX線検出器及びこれらを固設した円環状回転板
並びに信号処理用コンピュータを備えており、被検体は
前記円環状回転板の円孔中心に静置している。X線検出
器は、検出素子と電気信号変換器や信号増幅器などを含
むが、検出速度を高めるために、前記X線放射源から出
射するX線は、ファンビームとし、これに対応するX線
検出器は多数の等感度素子を円弧状に配列した多素子型
とするのが普通である。
放射源とX線検出器及びこれらを固設した円環状回転板
並びに信号処理用コンピュータを備えており、被検体は
前記円環状回転板の円孔中心に静置している。X線検出
器は、検出素子と電気信号変換器や信号増幅器などを含
むが、検出速度を高めるために、前記X線放射源から出
射するX線は、ファンビームとし、これに対応するX線
検出器は多数の等感度素子を円弧状に配列した多素子型
とするのが普通である。
【0004】多素子型X線検出器を用いることによっ
て、同時に複数の被検体情報が得られるが、散乱X線に
よる画質の低下を改善する効果は期待できない。即ち、
検出素子はX線放射源の中心素子であるX線管の焦点と
検出素子の中心とを結ぶ計測パス上にある被検体部位の
X線透過率を測定するものであるが、被検体の他の部位
からの散乱X線が加算されることによって計測パス上の
被検体部位のX線透過率が見かけ上増加する
て、同時に複数の被検体情報が得られるが、散乱X線に
よる画質の低下を改善する効果は期待できない。即ち、
検出素子はX線放射源の中心素子であるX線管の焦点と
検出素子の中心とを結ぶ計測パス上にある被検体部位の
X線透過率を測定するものであるが、被検体の他の部位
からの散乱X線が加算されることによって計測パス上の
被検体部位のX線透過率が見かけ上増加する
【0005】このような散乱X線は、被検体の各部位で
発生するため、各検出素子の測定値に同時に誤差が生ず
る。この結果、これらデータを利用して再構成されたC
T画像では、分解能の低下が生ずる。特に、濃度分解能
と呼ばれる低コントラスト分解能の低下が問題である。
発生するため、各検出素子の測定値に同時に誤差が生ず
る。この結果、これらデータを利用して再構成されたC
T画像では、分解能の低下が生ずる。特に、濃度分解能
と呼ばれる低コントラスト分解能の低下が問題である。
【0006】散乱X線による検出感度の低下を補正する
ために、従来は被検体の大きさだけを考慮した補正量の
算出が行われてきた。
ために、従来は被検体の大きさだけを考慮した補正量の
算出が行われてきた。
【0007】即ち、被検体内に侵入したX線の散乱は被
検体の各部位で生ずるため、各検出素子には被検体のあ
らゆる部位からの散乱X線が入射すると考えられる。一
方、散乱X線強度はX線検出器を構成する複数の各素子
間(チャネル方向)では、急激に変化しないとみなしう
る。散乱X線に関するこの性質を利用すれば、各素子が
取り込んだ被検体透過X線データ(投影データ)から各
素子が見込む被検体の大きさ(被検体角度)を推定する
ことができる。そこで、被検体の大きさを算出し、その
大きさに一定の補正係数を乗じて補正量を求め投影デー
タから差し引いて誤差補正を行うのである。
検体の各部位で生ずるため、各検出素子には被検体のあ
らゆる部位からの散乱X線が入射すると考えられる。一
方、散乱X線強度はX線検出器を構成する複数の各素子
間(チャネル方向)では、急激に変化しないとみなしう
る。散乱X線に関するこの性質を利用すれば、各素子が
取り込んだ被検体透過X線データ(投影データ)から各
素子が見込む被検体の大きさ(被検体角度)を推定する
ことができる。そこで、被検体の大きさを算出し、その
大きさに一定の補正係数を乗じて補正量を求め投影デー
タから差し引いて誤差補正を行うのである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術によ
る散乱X線量の補正方法では、被検体の大きさだけが考
慮されており、被検体の形状や位置について充分考慮さ
れていなかった。
る散乱X線量の補正方法では、被検体の大きさだけが考
慮されており、被検体の形状や位置について充分考慮さ
れていなかった。
【0009】被検体内に侵入したX線は、各部位で散乱
するためにX線検出器を構成する複数の検出素子全てに
散乱X線が入射すると考えられる。しかし、散乱するX
線量は被検体形状や検出素子との相対位置によって変化
する。例えば、非常に薄い被検体部位と厚い被検体部位
とでは、散乱X線量に差が生ずる。このような場合に
は、投影データから算出した散乱X線量と実際の散乱X
線量のズレが大きくなり、正確な補正が行われないとい
う問題がある。
するためにX線検出器を構成する複数の検出素子全てに
散乱X線が入射すると考えられる。しかし、散乱するX
線量は被検体形状や検出素子との相対位置によって変化
する。例えば、非常に薄い被検体部位と厚い被検体部位
とでは、散乱X線量に差が生ずる。このような場合に
は、投影データから算出した散乱X線量と実際の散乱X
線量のズレが大きくなり、正確な補正が行われないとい
う問題がある。
【0010】本発明の目的は、被検体からの散乱X線量
をより正確に把握してデータ補正を行うことができるX
線CT装置を提供することである。
をより正確に把握してデータ補正を行うことができるX
線CT装置を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では、前記目的を
達成するために、X線検出器自体による散乱X線量の実
測を行う。散乱X線量の測定は、複数個の検出素子のう
ち両端部位の素子のみを利用して行う。
達成するために、X線検出器自体による散乱X線量の実
測を行う。散乱X線量の測定は、複数個の検出素子のう
ち両端部位の素子のみを利用して行う。
【0012】即ち、本発明では、円環状回転板と、該円
環状回転板上の所定位置に固設されたX線放射源と、該
X線放射源と対向する位置の前記円環状回転板上に固設
された多素子型X線検出器とを含むX線装置において、
前記多素子型X線検出器の両端に、該検出器から前記X
線放射源側に突出した直接入射X線遮蔽用のカバーを有
する検出器側コリメータを備えたことを特徴とするX線
CT装置を開示する。
環状回転板上の所定位置に固設されたX線放射源と、該
X線放射源と対向する位置の前記円環状回転板上に固設
された多素子型X線検出器とを含むX線装置において、
前記多素子型X線検出器の両端に、該検出器から前記X
線放射源側に突出した直接入射X線遮蔽用のカバーを有
する検出器側コリメータを備えたことを特徴とするX線
CT装置を開示する。
【0013】
【作用】円環状回転板上にX線放射源に対して円弧状に
配置された複数の検出素子から成るX線検出器の両端に
設けられた直接入射X線遮蔽用カバーは、X線受光面の
法線に対して傾きの小さなX線放射源からの直接X線が
両端の検出素子に入射する前に反射する機能を示す。
配置された複数の検出素子から成るX線検出器の両端に
設けられた直接入射X線遮蔽用カバーは、X線受光面の
法線に対して傾きの小さなX線放射源からの直接X線が
両端の検出素子に入射する前に反射する機能を示す。
【0014】しかし、法線に対して一定以上の傾きを有
するX線、即ち被検体からの散乱X線はカバーに遮蔽さ
れずに入射するので、両端の素子は散乱X線専用の測定
器として作動する。
するX線、即ち被検体からの散乱X線はカバーに遮蔽さ
れずに入射するので、両端の素子は散乱X線専用の測定
器として作動する。
【0015】被検体からの散乱X線量は、チャネル方向
に急激な変化が少なく、中央から周囲方向にゆるやかに
変化する性質があるので、予め被検体の形状位置が極端
に異なる場合についてもテストデータを集積しておけ
ば、周辺素子で計測した散乱X線量によって中央部分の
散乱X線量を推定することができる。
に急激な変化が少なく、中央から周囲方向にゆるやかに
変化する性質があるので、予め被検体の形状位置が極端
に異なる場合についてもテストデータを集積しておけ
ば、周辺素子で計測した散乱X線量によって中央部分の
散乱X線量を推定することができる。
【0016】即ち、周辺部分の素子による散乱X線量の
計測によって、かなり高い精度で検出器全体における散
乱X線の補正量を定めることが可能になる。
計測によって、かなり高い精度で検出器全体における散
乱X線の補正量を定めることが可能になる。
【0017】
【実施例】以下本発明を、実施例に基づき、より詳しく
述べる。図1は、本発明の一実施例におけるX線照射、
検知システムの構成を示す上面見取図である。図におい
て、1はX線管、2はスライスコリメータ、3は被検体
(人体)、4はX線検出器、5は検出器側コリメータ、
6は円環状回転板、7は散乱X線計測用素子である。
述べる。図1は、本発明の一実施例におけるX線照射、
検知システムの構成を示す上面見取図である。図におい
て、1はX線管、2はスライスコリメータ、3は被検体
(人体)、4はX線検出器、5は検出器側コリメータ、
6は円環状回転板、7は散乱X線計測用素子である。
【0018】前記X線管1、スライスコリメータ2及び
X線検知器4は、それぞれ円環状回転板6の所定位置に
固設されている。X線管1及びスライスコリメータ2か
ら成るX線放射源とX線検知器4の相対位置関係は、図
示したように円環状回転板6の円孔中心に静置した被検
体3を挟んで対向する位置になる。X線検知器4は、複
数の検知素子(チャネル)を円弧状に配列して成り、そ
の両端にX線検知器4からX線放射源側(被検体側)に
突出したX線遮蔽用カバーを有する検知器側コリメータ
5を固設している。
X線検知器4は、それぞれ円環状回転板6の所定位置に
固設されている。X線管1及びスライスコリメータ2か
ら成るX線放射源とX線検知器4の相対位置関係は、図
示したように円環状回転板6の円孔中心に静置した被検
体3を挟んで対向する位置になる。X線検知器4は、複
数の検知素子(チャネル)を円弧状に配列して成り、そ
の両端にX線検知器4からX線放射源側(被検体側)に
突出したX線遮蔽用カバーを有する検知器側コリメータ
5を固設している。
【0019】X線検知器4を構成する複数の検出素子の
うち、X線放射源から被検体3を経ないで直接入射する
X線ビームが前記X線遮蔽用カバーによって妨げられる
位置(X線検知器4の両端)にある検出素子が、散乱X
線計測用素子7である。
うち、X線放射源から被検体3を経ないで直接入射する
X線ビームが前記X線遮蔽用カバーによって妨げられる
位置(X線検知器4の両端)にある検出素子が、散乱X
線計測用素子7である。
【0020】図において、X線管1から放射されたX線
は、X線ビーム幅を調整するスライスコリメータ2によ
ってファンビームにされた後、被検体3側に放射され
る。本例ではX線管1及びスライスコリメータ2がX線
放射源を構成する。
は、X線ビーム幅を調整するスライスコリメータ2によ
ってファンビームにされた後、被検体3側に放射され
る。本例ではX線管1及びスライスコリメータ2がX線
放射源を構成する。
【0021】被検体3に照射されたX線ビームは、その
内部で散乱、吸収を受けて減弱し、散乱を受けずに透過
したX線ビームは、信号として対向位置にあるX線検知
器4の素子に入射し電気信号に変換される。一方、被検
体3側に放射されたX線ビームのうち被検体3に直接入
射しない成分は、直進して対向位置にあるX線検知器4
の素子に入射する。
内部で散乱、吸収を受けて減弱し、散乱を受けずに透過
したX線ビームは、信号として対向位置にあるX線検知
器4の素子に入射し電気信号に変換される。一方、被検
体3側に放射されたX線ビームのうち被検体3に直接入
射しない成分は、直進して対向位置にあるX線検知器4
の素子に入射する。
【0022】図1では、X線検知器4を構成する複数の
個別素子は、散乱X線計測用素子7を除いて図示されて
いない。しかし、被検体3の投影された位置にある個別
素子が被検体3を透過したX線の信号(被検体データ)
を与えることは明かであり、その両端側の個別素子が直
接X線入射による非減弱(バックグラウンド)受信レベ
ルを示す。
個別素子は、散乱X線計測用素子7を除いて図示されて
いない。しかし、被検体3の投影された位置にある個別
素子が被検体3を透過したX線の信号(被検体データ)
を与えることは明かであり、その両端側の個別素子が直
接X線入射による非減弱(バックグラウンド)受信レベ
ルを示す。
【0023】ところで、前記したように、被検体3に一
旦入射したX線は、進行方向各部位で散乱を受ける。従
って、散乱X線はX線検知器4を構成する全ての個別検
知素子に入射し、雑音レベルを形成する。直接X線が入
射しない位置に設けられている散乱X線計測素子7にも
入射する。
旦入射したX線は、進行方向各部位で散乱を受ける。従
って、散乱X線はX線検知器4を構成する全ての個別検
知素子に入射し、雑音レベルを形成する。直接X線が入
射しない位置に設けられている散乱X線計測素子7にも
入射する。
【0024】図2は、X線検知器4の各個別検知素子へ
のX線入射を示す図である。簡単のために、図1のX線
検知器4の左半分のみ示してあるが、右半分も同様であ
ることは自明である。
のX線入射を示す図である。簡単のために、図1のX線
検知器4の左半分のみ示してあるが、右半分も同様であ
ることは自明である。
【0025】直接X線が検出器側コリメータ5のオーバ
ーハングしたX線遮蔽用カバーで防げられる位置に設け
られた2ケの散乱X線計測素子7より右側のチャネル
は、全て計測用X線検出素子8を構成する。
ーハングしたX線遮蔽用カバーで防げられる位置に設け
られた2ケの散乱X線計測素子7より右側のチャネル
は、全て計測用X線検出素子8を構成する。
【0026】さて、スライスコリメータ2(図示せず)
から放射されたX線ビームのうち、被検体3に入射しな
いものは直接X線となってX線検知器4に入射するが、
検出器側コリメータ5のカバーで阻止された直接X線
は、カバーに吸収又は反射される。一方、被検体3に一
旦入射したX線は、透過X線及び散乱X線として被検体
3の後方に至る。図2では、簡単のために点線表示の散
乱X線が散乱X線計測阻止7のみに入射しているように
描いたが、勿論散乱X線は主計側用X線検出素子8にも
入射する。しかし、散乱X線計測素子7には、ほぼ散乱
X線のみしか入射しない。即ち、素子7の出力は、被検
体3からの散乱X線強度によってのみ決定される。
から放射されたX線ビームのうち、被検体3に入射しな
いものは直接X線となってX線検知器4に入射するが、
検出器側コリメータ5のカバーで阻止された直接X線
は、カバーに吸収又は反射される。一方、被検体3に一
旦入射したX線は、透過X線及び散乱X線として被検体
3の後方に至る。図2では、簡単のために点線表示の散
乱X線が散乱X線計測阻止7のみに入射しているように
描いたが、勿論散乱X線は主計側用X線検出素子8にも
入射する。しかし、散乱X線計測素子7には、ほぼ散乱
X線のみしか入射しない。即ち、素子7の出力は、被検
体3からの散乱X線強度によってのみ決定される。
【0027】図2では、X線検知器4の左側にある。散
乱X線計測素子7の数を2としたが、チャネル数を増や
せば更に素子7の割当数を増やすことが可能になる。
乱X線計測素子7の数を2としたが、チャネル数を増や
せば更に素子7の割当数を増やすことが可能になる。
【0028】図2に示した検出器側コリメータ5は、オ
ーバーハングしたカバー領域でX線を遮蔽する機能を示
すので、X線透過率の小さな材料、例えば鉛、タングス
テン、モリブデン、黄銅などを用いて作成することが好
ましい。強度及び加工性を考慮すると、黄銅がより適し
ている。又、黄銅を土台にして成形した表面に、更にX
線透過率の小さな鉛やモリブデンの薄板をラミネートし
て用いることが、より好ましい。
ーバーハングしたカバー領域でX線を遮蔽する機能を示
すので、X線透過率の小さな材料、例えば鉛、タングス
テン、モリブデン、黄銅などを用いて作成することが好
ましい。強度及び加工性を考慮すると、黄銅がより適し
ている。又、黄銅を土台にして成形した表面に、更にX
線透過率の小さな鉛やモリブデンの薄板をラミネートし
て用いることが、より好ましい。
【0029】図1、図2に構成例を示した本発明のX線
CTを用いて各チャネルの散乱X線量を推定するには、
予め各チャネルによる散乱X線強度分布をテストサンプ
ルによって求めておくことが必要である。
CTを用いて各チャネルの散乱X線量を推定するには、
予め各チャネルによる散乱X線強度分布をテストサンプ
ルによって求めておくことが必要である。
【0030】図3は、人体のX線吸収係数に近い物質で
ある水を被検体に用いた場合の散乱X線強度分布を示す
データである。被検体の大きさによる散乱X線分布の相
違を調べるために、直径の異なる(直径160〜380
mm)4ケの水ファントームについて、データを採取し
た。水ファントームは、図1に示す被検体3の位置に置
かれている。図3の縦軸は、X線検知器4の各チャネル
に入射する散乱X線強度を任意目盛りで示したものであ
る。
ある水を被検体に用いた場合の散乱X線強度分布を示す
データである。被検体の大きさによる散乱X線分布の相
違を調べるために、直径の異なる(直径160〜380
mm)4ケの水ファントームについて、データを採取し
た。水ファントームは、図1に示す被検体3の位置に置
かれている。図3の縦軸は、X線検知器4の各チャネル
に入射する散乱X線強度を任意目盛りで示したものであ
る。
【0031】図3は、ファントームの中心位置で散乱X
線強度が低く、周辺に向かうに従って散乱X線強度が増
大することを示している。散乱X線強度がピークに達し
た後、更に周辺部のチャネルに向かう程強度が低下する
のはファントーム径より広い領域では、直接X線が入射
し、逆に散乱角度の大きな散乱X線量が減少するからに
他ならない。又、図3はファントーム径が小さい場合程
中心部と周辺部の散乱X線強度差が大きくなることを示
している。
線強度が低く、周辺に向かうに従って散乱X線強度が増
大することを示している。散乱X線強度がピークに達し
た後、更に周辺部のチャネルに向かう程強度が低下する
のはファントーム径より広い領域では、直接X線が入射
し、逆に散乱角度の大きな散乱X線量が減少するからに
他ならない。又、図3はファントーム径が小さい場合程
中心部と周辺部の散乱X線強度差が大きくなることを示
している。
【0032】これは、散乱X線もファントーム内部では
吸収を受けるという性質に依存する。従って、径の小さ
なファントーム或は同一ファントーム内でもX線の透過
距離の短い周辺部位において散乱X線強度が大きくなる
のは当然である。
吸収を受けるという性質に依存する。従って、径の小さ
なファントーム或は同一ファントーム内でもX線の透過
距離の短い周辺部位において散乱X線強度が大きくなる
のは当然である。
【0033】このような散乱X線強度分布は、たとえば
図2に示した散乱X線計測素子7の位置を少しずつ移動
させることによって、素子7の出力変化として記録する
ことが出来る。
図2に示した散乱X線計測素子7の位置を少しずつ移動
させることによって、素子7の出力変化として記録する
ことが出来る。
【0034】図3から中央チャネル付近での散乱X線強
度と周辺部位での強度との間にパターン化出来る相関関
係が認められる。従って、予め多くの異なる径を有する
ファントームを用いてこの相関関係を定量化しておけ
ば、被検体のX線CTを行う場合周辺チャネル、すなわ
ち散乱X線計測用素子7における散乱X線強度から中心
部位、すなわち被検体投影データにおける散乱X線強度
を比較的高い精度で推定することが出来る。
度と周辺部位での強度との間にパターン化出来る相関関
係が認められる。従って、予め多くの異なる径を有する
ファントームを用いてこの相関関係を定量化しておけ
ば、被検体のX線CTを行う場合周辺チャネル、すなわ
ち散乱X線計測用素子7における散乱X線強度から中心
部位、すなわち被検体投影データにおける散乱X線強度
を比較的高い精度で推定することが出来る。
【0035】被検体のX線データから散乱X線の影響を
除く具体的手法は以下のようである。まず前記定量化さ
れたチャネル間散乱X線強度分布を利用してチャネル間
の補正係数を求め、次に実測された散乱X線計測用素子
7のデータにこの補正係数をかけて該当チャネルにおけ
る散乱X線強度を計算する。その上で、主計測用X線検
出素子8のX線データからこの散乱X線強度を減算すれ
ばよい。
除く具体的手法は以下のようである。まず前記定量化さ
れたチャネル間散乱X線強度分布を利用してチャネル間
の補正係数を求め、次に実測された散乱X線計測用素子
7のデータにこの補正係数をかけて該当チャネルにおけ
る散乱X線強度を計算する。その上で、主計測用X線検
出素子8のX線データからこの散乱X線強度を減算すれ
ばよい。
【0036】補正処理で用いる前記補正係数は、図3に
示した水ファントームだけでなく、他の人体に近いX線
吸収係数を有する材料,たとえばポリエチレンやアクリ
ルなどで構成されるファントームを用いて実験的に定め
れば、より正確な値が得られる。
示した水ファントームだけでなく、他の人体に近いX線
吸収係数を有する材料,たとえばポリエチレンやアクリ
ルなどで構成されるファントームを用いて実験的に定め
れば、より正確な値が得られる。
【0037】なお、被検体3の位置が図1で示したよう
な円環状回転板6の中央部円孔の中心からずれて静置し
ている場合、散乱X線強度分布は、図3に示したような
左右対称にはならない。この場合はX線検知器4を構成
する左端および右端における散乱X線計測用素子7の出
力が異なってくるので、そのデータを基にして補正係数
に重み付けを行う(すなわち、左右で異なる径のファン
トームデータを適用する)必要がある。このようにし
て、散乱X線の影響を極力低減したX線データを基にし
てCT画像を構築すれば、高いコントラストの画像が得
られる。円環状回転板6を回転しながら前記処理を行え
ば、精度の高い被検体の横断面X線画像が得られること
になる。
な円環状回転板6の中央部円孔の中心からずれて静置し
ている場合、散乱X線強度分布は、図3に示したような
左右対称にはならない。この場合はX線検知器4を構成
する左端および右端における散乱X線計測用素子7の出
力が異なってくるので、そのデータを基にして補正係数
に重み付けを行う(すなわち、左右で異なる径のファン
トームデータを適用する)必要がある。このようにし
て、散乱X線の影響を極力低減したX線データを基にし
てCT画像を構築すれば、高いコントラストの画像が得
られる。円環状回転板6を回転しながら前記処理を行え
ば、精度の高い被検体の横断面X線画像が得られること
になる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来のように被検体の大きさだけでなく、その形状や位置
が異なっていても精度のよい散乱X線補正が可能とな
る。また、専用の散乱X線検出器や検出回路を用いるこ
となく、主計測用X線検出素子、回路の一部をそのまま
散乱X線用に用いるため、コスト低減および信頼性の向
上に資することができる。この効果は、特に電離箱構造
の検出器を用いる場合に顕著である。本発明によれば、
同一の圧力容器の中に散乱X線検出用素子を配置するこ
とが出来るため、コスト低減および素子特性の均一性を
はかることができる。
来のように被検体の大きさだけでなく、その形状や位置
が異なっていても精度のよい散乱X線補正が可能とな
る。また、専用の散乱X線検出器や検出回路を用いるこ
となく、主計測用X線検出素子、回路の一部をそのまま
散乱X線用に用いるため、コスト低減および信頼性の向
上に資することができる。この効果は、特に電離箱構造
の検出器を用いる場合に顕著である。本発明によれば、
同一の圧力容器の中に散乱X線検出用素子を配置するこ
とが出来るため、コスト低減および素子特性の均一性を
はかることができる。
【図1】本発明の一実施例におけるX線照射、検知シス
テムを示す上面見取図である。
テムを示す上面見取図である。
【図2】図1に示したX線検知器の各個別検知素子(各
チャンネル)へのX線入射をモデリックに示す図であ
る。
チャンネル)へのX線入射をモデリックに示す図であ
る。
【図3】水ファントームにおける散乱X線強度の分布を
示す図である。
示す図である。
1 X線管 2 スライスコリメータ 3 被検体 4 X線検出器 5 検出器側コリメータ 6 円環状回転板 7 散乱X線計測用素子 8 主計測用X線検出素子
Claims (1)
- 【請求項1】 円環状回転板と、円環状回転板上の所定
位置に固設されたX線放射源と、該X線放射源と対向す
る位置の前記円環状回転板上に固設された多素子型X線
検出器とを含むX線装置において、 前記多素子型X線検出器の両端に、該検出器から前記X
線放射源側に突出した直接入射X線遮蔽用のカバーを有
する検出器側コリメータを備えたことを特徴とするX線
CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5213872A JPH0759762A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5213872A JPH0759762A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0759762A true JPH0759762A (ja) | 1995-03-07 |
Family
ID=16646419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5213872A Pending JPH0759762A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0759762A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010204125A (ja) * | 2010-06-21 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | 放射線検出器ユニット |
CN102764137A (zh) * | 2012-07-27 | 2012-11-07 | 苏州生物医学工程技术研究所 | 一种静态ct扫描仪及其散射x光子校正方法 |
KR20160014591A (ko) | 2013-05-29 | 2016-02-11 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
JP2017185080A (ja) * | 2016-04-07 | 2017-10-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム |
KR20200002781A (ko) | 2017-04-27 | 2020-01-08 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP5213872A patent/JPH0759762A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010204125A (ja) * | 2010-06-21 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | 放射線検出器ユニット |
CN102764137A (zh) * | 2012-07-27 | 2012-11-07 | 苏州生物医学工程技术研究所 | 一种静态ct扫描仪及其散射x光子校正方法 |
KR20160014591A (ko) | 2013-05-29 | 2016-02-11 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
JP2017185080A (ja) * | 2016-04-07 | 2017-10-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム |
KR20200002781A (ko) | 2017-04-27 | 2020-01-08 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
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