JPH0759762A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH0759762A JPH0759762A JP5213872A JP21387293A JPH0759762A JP H0759762 A JPH0759762 A JP H0759762A JP 5213872 A JP5213872 A JP 5213872A JP 21387293 A JP21387293 A JP 21387293A JP H0759762 A JPH0759762 A JP H0759762A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はＸ線ＣＴ装置に関し、被検体からの
散乱Ｘ線の影響を低減できるＸ線ＣＴ装置の提供を目的
とする。 【構成】 少なくとも円環状回転板と、この回転板上の
所定位置に固設されたＸ線放射源と、このＸ線放射源に
対向する位置で前記回転板上に固設された多素子型Ｘ線
検出器とを含むＸ線装置において、この多素子型Ｘ線検
出器の両端に前記Ｘ線放射源側に突出した直接入射Ｘ線
遮蔽用カバーを有する検出器側コリメータを備えたＸ線
ＣＴ装置。
散乱Ｘ線の影響を低減できるＸ線ＣＴ装置の提供を目的
とする。 【構成】 少なくとも円環状回転板と、この回転板上の
所定位置に固設されたＸ線放射源と、このＸ線放射源に
対向する位置で前記回転板上に固設された多素子型Ｘ線
検出器とを含むＸ線装置において、この多素子型Ｘ線検
出器の両端に前記Ｘ線放射源側に突出した直接入射Ｘ線
遮蔽用カバーを有する検出器側コリメータを備えたＸ線
ＣＴ装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に係り、
特に被検体で散乱されるＸ線の影響を低減したＣＴ像が
得られるＸ線ＣＴ装置に関する。
特に被検体で散乱されるＸ線の影響を低減したＣＴ像が
得られるＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線放射源から出射し
た一定エネルギー、一定強度のＸ線ビームが被検体を透
過した際に、その内部で吸収や散乱によって減弱した量
を被検体後方に位置するＸ線検出器で検知し、前記Ｘ線
放射源とこのＸ線検出器をその相対位置を保ちながら被
検体の周りに回転させて測定した被検体横断面のＸ線透
過率を、コンピュータによる信号処理によって分布画像
として再構成したものである。
た一定エネルギー、一定強度のＸ線ビームが被検体を透
過した際に、その内部で吸収や散乱によって減弱した量
を被検体後方に位置するＸ線検出器で検知し、前記Ｘ線
放射源とこのＸ線検出器をその相対位置を保ちながら被
検体の周りに回転させて測定した被検体横断面のＸ線透
過率を、コンピュータによる信号処理によって分布画像
として再構成したものである。
【０００３】従って、Ｘ線ＣＴ装置は、少なくともＸ線
放射源とＸ線検出器及びこれらを固設した円環状回転板
並びに信号処理用コンピュータを備えており、被検体は
前記円環状回転板の円孔中心に静置している。Ｘ線検出
器は、検出素子と電気信号変換器や信号増幅器などを含
むが、検出速度を高めるために、前記Ｘ線放射源から出
射するＸ線は、ファンビームとし、これに対応するＸ線
検出器は多数の等感度素子を円弧状に配列した多素子型
とするのが普通である。
放射源とＸ線検出器及びこれらを固設した円環状回転板
並びに信号処理用コンピュータを備えており、被検体は
前記円環状回転板の円孔中心に静置している。Ｘ線検出
器は、検出素子と電気信号変換器や信号増幅器などを含
むが、検出速度を高めるために、前記Ｘ線放射源から出
射するＸ線は、ファンビームとし、これに対応するＸ線
検出器は多数の等感度素子を円弧状に配列した多素子型
とするのが普通である。
【０００４】多素子型Ｘ線検出器を用いることによっ
て、同時に複数の被検体情報が得られるが、散乱Ｘ線に
よる画質の低下を改善する効果は期待できない。即ち、
検出素子はＸ線放射源の中心素子であるＸ線管の焦点と
検出素子の中心とを結ぶ計測パス上にある被検体部位の
Ｘ線透過率を測定するものであるが、被検体の他の部位
からの散乱Ｘ線が加算されることによって計測パス上の
被検体部位のＸ線透過率が見かけ上増加する
て、同時に複数の被検体情報が得られるが、散乱Ｘ線に
よる画質の低下を改善する効果は期待できない。即ち、
検出素子はＸ線放射源の中心素子であるＸ線管の焦点と
検出素子の中心とを結ぶ計測パス上にある被検体部位の
Ｘ線透過率を測定するものであるが、被検体の他の部位
からの散乱Ｘ線が加算されることによって計測パス上の
被検体部位のＸ線透過率が見かけ上増加する
【０００５】このような散乱Ｘ線は、被検体の各部位で
発生するため、各検出素子の測定値に同時に誤差が生ず
る。この結果、これらデータを利用して再構成されたＣ
Ｔ画像では、分解能の低下が生ずる。特に、濃度分解能
と呼ばれる低コントラスト分解能の低下が問題である。
発生するため、各検出素子の測定値に同時に誤差が生ず
る。この結果、これらデータを利用して再構成されたＣ
Ｔ画像では、分解能の低下が生ずる。特に、濃度分解能
と呼ばれる低コントラスト分解能の低下が問題である。
【０００６】散乱Ｘ線による検出感度の低下を補正する
ために、従来は被検体の大きさだけを考慮した補正量の
算出が行われてきた。
ために、従来は被検体の大きさだけを考慮した補正量の
算出が行われてきた。
【０００７】即ち、被検体内に侵入したＸ線の散乱は被
検体の各部位で生ずるため、各検出素子には被検体のあ
らゆる部位からの散乱Ｘ線が入射すると考えられる。一
方、散乱Ｘ線強度はＸ線検出器を構成する複数の各素子
間（チャネル方向）では、急激に変化しないとみなしう
る。散乱Ｘ線に関するこの性質を利用すれば、各素子が
取り込んだ被検体透過Ｘ線データ（投影データ）から各
素子が見込む被検体の大きさ（被検体角度）を推定する
ことができる。そこで、被検体の大きさを算出し、その
大きさに一定の補正係数を乗じて補正量を求め投影デー
タから差し引いて誤差補正を行うのである。
検体の各部位で生ずるため、各検出素子には被検体のあ
らゆる部位からの散乱Ｘ線が入射すると考えられる。一
方、散乱Ｘ線強度はＸ線検出器を構成する複数の各素子
間（チャネル方向）では、急激に変化しないとみなしう
る。散乱Ｘ線に関するこの性質を利用すれば、各素子が
取り込んだ被検体透過Ｘ線データ（投影データ）から各
素子が見込む被検体の大きさ（被検体角度）を推定する
ことができる。そこで、被検体の大きさを算出し、その
大きさに一定の補正係数を乗じて補正量を求め投影デー
タから差し引いて誤差補正を行うのである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術によ
る散乱Ｘ線量の補正方法では、被検体の大きさだけが考
慮されており、被検体の形状や位置について充分考慮さ
れていなかった。
る散乱Ｘ線量の補正方法では、被検体の大きさだけが考
慮されており、被検体の形状や位置について充分考慮さ
れていなかった。
【０００９】被検体内に侵入したＸ線は、各部位で散乱
するためにＸ線検出器を構成する複数の検出素子全てに
散乱Ｘ線が入射すると考えられる。しかし、散乱するＸ
線量は被検体形状や検出素子との相対位置によって変化
する。例えば、非常に薄い被検体部位と厚い被検体部位
とでは、散乱Ｘ線量に差が生ずる。このような場合に
は、投影データから算出した散乱Ｘ線量と実際の散乱Ｘ
線量のズレが大きくなり、正確な補正が行われないとい
う問題がある。
するためにＸ線検出器を構成する複数の検出素子全てに
散乱Ｘ線が入射すると考えられる。しかし、散乱するＸ
線量は被検体形状や検出素子との相対位置によって変化
する。例えば、非常に薄い被検体部位と厚い被検体部位
とでは、散乱Ｘ線量に差が生ずる。このような場合に
は、投影データから算出した散乱Ｘ線量と実際の散乱Ｘ
線量のズレが大きくなり、正確な補正が行われないとい
う問題がある。
【００１０】本発明の目的は、被検体からの散乱Ｘ線量
をより正確に把握してデータ補正を行うことができるＸ
線ＣＴ装置を提供することである。
をより正確に把握してデータ補正を行うことができるＸ
線ＣＴ装置を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明では、前記目的を
達成するために、Ｘ線検出器自体による散乱Ｘ線量の実
測を行う。散乱Ｘ線量の測定は、複数個の検出素子のう
ち両端部位の素子のみを利用して行う。
達成するために、Ｘ線検出器自体による散乱Ｘ線量の実
測を行う。散乱Ｘ線量の測定は、複数個の検出素子のう
ち両端部位の素子のみを利用して行う。
【００１２】即ち、本発明では、円環状回転板と、該円
環状回転板上の所定位置に固設されたＸ線放射源と、該
Ｘ線放射源と対向する位置の前記円環状回転板上に固設
された多素子型Ｘ線検出器とを含むＸ線装置において、
前記多素子型Ｘ線検出器の両端に、該検出器から前記Ｘ
線放射源側に突出した直接入射Ｘ線遮蔽用のカバーを有
する検出器側コリメータを備えたことを特徴とするＸ線
ＣＴ装置を開示する。
環状回転板上の所定位置に固設されたＸ線放射源と、該
Ｘ線放射源と対向する位置の前記円環状回転板上に固設
された多素子型Ｘ線検出器とを含むＸ線装置において、
前記多素子型Ｘ線検出器の両端に、該検出器から前記Ｘ
線放射源側に突出した直接入射Ｘ線遮蔽用のカバーを有
する検出器側コリメータを備えたことを特徴とするＸ線
ＣＴ装置を開示する。
【００１３】
【作用】円環状回転板上にＸ線放射源に対して円弧状に
配置された複数の検出素子から成るＸ線検出器の両端に
設けられた直接入射Ｘ線遮蔽用カバーは、Ｘ線受光面の
法線に対して傾きの小さなＸ線放射源からの直接Ｘ線が
両端の検出素子に入射する前に反射する機能を示す。
配置された複数の検出素子から成るＸ線検出器の両端に
設けられた直接入射Ｘ線遮蔽用カバーは、Ｘ線受光面の
法線に対して傾きの小さなＸ線放射源からの直接Ｘ線が
両端の検出素子に入射する前に反射する機能を示す。
【００１４】しかし、法線に対して一定以上の傾きを有
するＸ線、即ち被検体からの散乱Ｘ線はカバーに遮蔽さ
れずに入射するので、両端の素子は散乱Ｘ線専用の測定
器として作動する。
するＸ線、即ち被検体からの散乱Ｘ線はカバーに遮蔽さ
れずに入射するので、両端の素子は散乱Ｘ線専用の測定
器として作動する。
【００１５】被検体からの散乱Ｘ線量は、チャネル方向
に急激な変化が少なく、中央から周囲方向にゆるやかに
変化する性質があるので、予め被検体の形状位置が極端
に異なる場合についてもテストデータを集積しておけ
ば、周辺素子で計測した散乱Ｘ線量によって中央部分の
散乱Ｘ線量を推定することができる。
に急激な変化が少なく、中央から周囲方向にゆるやかに
変化する性質があるので、予め被検体の形状位置が極端
に異なる場合についてもテストデータを集積しておけ
ば、周辺素子で計測した散乱Ｘ線量によって中央部分の
散乱Ｘ線量を推定することができる。
【００１６】即ち、周辺部分の素子による散乱Ｘ線量の
計測によって、かなり高い精度で検出器全体における散
乱Ｘ線の補正量を定めることが可能になる。
計測によって、かなり高い精度で検出器全体における散
乱Ｘ線の補正量を定めることが可能になる。
【００１７】
【実施例】以下本発明を、実施例に基づき、より詳しく
述べる。図１は、本発明の一実施例におけるＸ線照射、
検知システムの構成を示す上面見取図である。図におい
て、１はＸ線管、２はスライスコリメータ、３は被検体
（人体）、４はＸ線検出器、５は検出器側コリメータ、
６は円環状回転板、７は散乱Ｘ線計測用素子である。
述べる。図１は、本発明の一実施例におけるＸ線照射、
検知システムの構成を示す上面見取図である。図におい
て、１はＸ線管、２はスライスコリメータ、３は被検体
（人体）、４はＸ線検出器、５は検出器側コリメータ、
６は円環状回転板、７は散乱Ｘ線計測用素子である。
【００１８】前記Ｘ線管１、スライスコリメータ２及び
Ｘ線検知器４は、それぞれ円環状回転板６の所定位置に
固設されている。Ｘ線管１及びスライスコリメータ２か
ら成るＸ線放射源とＸ線検知器４の相対位置関係は、図
示したように円環状回転板６の円孔中心に静置した被検
体３を挟んで対向する位置になる。Ｘ線検知器４は、複
数の検知素子（チャネル）を円弧状に配列して成り、そ
の両端にＸ線検知器４からＸ線放射源側（被検体側）に
突出したＸ線遮蔽用カバーを有する検知器側コリメータ
５を固設している。
Ｘ線検知器４は、それぞれ円環状回転板６の所定位置に
固設されている。Ｘ線管１及びスライスコリメータ２か
ら成るＸ線放射源とＸ線検知器４の相対位置関係は、図
示したように円環状回転板６の円孔中心に静置した被検
体３を挟んで対向する位置になる。Ｘ線検知器４は、複
数の検知素子（チャネル）を円弧状に配列して成り、そ
の両端にＸ線検知器４からＸ線放射源側（被検体側）に
突出したＸ線遮蔽用カバーを有する検知器側コリメータ
５を固設している。
【００１９】Ｘ線検知器４を構成する複数の検出素子の
うち、Ｘ線放射源から被検体３を経ないで直接入射する
Ｘ線ビームが前記Ｘ線遮蔽用カバーによって妨げられる
位置（Ｘ線検知器４の両端）にある検出素子が、散乱Ｘ
線計測用素子７である。
うち、Ｘ線放射源から被検体３を経ないで直接入射する
Ｘ線ビームが前記Ｘ線遮蔽用カバーによって妨げられる
位置（Ｘ線検知器４の両端）にある検出素子が、散乱Ｘ
線計測用素子７である。
【００２０】図において、Ｘ線管１から放射されたＸ線
は、Ｘ線ビーム幅を調整するスライスコリメータ２によ
ってファンビームにされた後、被検体３側に放射され
る。本例ではＸ線管１及びスライスコリメータ２がＸ線
放射源を構成する。
は、Ｘ線ビーム幅を調整するスライスコリメータ２によ
ってファンビームにされた後、被検体３側に放射され
る。本例ではＸ線管１及びスライスコリメータ２がＸ線
放射源を構成する。
【００２１】被検体３に照射されたＸ線ビームは、その
内部で散乱、吸収を受けて減弱し、散乱を受けずに透過
したＸ線ビームは、信号として対向位置にあるＸ線検知
器４の素子に入射し電気信号に変換される。一方、被検
体３側に放射されたＸ線ビームのうち被検体３に直接入
射しない成分は、直進して対向位置にあるＸ線検知器４
の素子に入射する。
内部で散乱、吸収を受けて減弱し、散乱を受けずに透過
したＸ線ビームは、信号として対向位置にあるＸ線検知
器４の素子に入射し電気信号に変換される。一方、被検
体３側に放射されたＸ線ビームのうち被検体３に直接入
射しない成分は、直進して対向位置にあるＸ線検知器４
の素子に入射する。
【００２２】図１では、Ｘ線検知器４を構成する複数の
個別素子は、散乱Ｘ線計測用素子７を除いて図示されて
いない。しかし、被検体３の投影された位置にある個別
素子が被検体３を透過したＸ線の信号（被検体データ）
を与えることは明かであり、その両端側の個別素子が直
接Ｘ線入射による非減弱（バックグラウンド）受信レベ
ルを示す。
個別素子は、散乱Ｘ線計測用素子７を除いて図示されて
いない。しかし、被検体３の投影された位置にある個別
素子が被検体３を透過したＸ線の信号（被検体データ）
を与えることは明かであり、その両端側の個別素子が直
接Ｘ線入射による非減弱（バックグラウンド）受信レベ
ルを示す。
【００２３】ところで、前記したように、被検体３に一
旦入射したＸ線は、進行方向各部位で散乱を受ける。従
って、散乱Ｘ線はＸ線検知器４を構成する全ての個別検
知素子に入射し、雑音レベルを形成する。直接Ｘ線が入
射しない位置に設けられている散乱Ｘ線計測素子７にも
入射する。
旦入射したＸ線は、進行方向各部位で散乱を受ける。従
って、散乱Ｘ線はＸ線検知器４を構成する全ての個別検
知素子に入射し、雑音レベルを形成する。直接Ｘ線が入
射しない位置に設けられている散乱Ｘ線計測素子７にも
入射する。
【００２４】図２は、Ｘ線検知器４の各個別検知素子へ
のＸ線入射を示す図である。簡単のために、図１のＸ線
検知器４の左半分のみ示してあるが、右半分も同様であ
ることは自明である。
のＸ線入射を示す図である。簡単のために、図１のＸ線
検知器４の左半分のみ示してあるが、右半分も同様であ
ることは自明である。
【００２５】直接Ｘ線が検出器側コリメータ５のオーバ
ーハングしたＸ線遮蔽用カバーで防げられる位置に設け
られた２ケの散乱Ｘ線計測素子７より右側のチャネル
は、全て計測用Ｘ線検出素子８を構成する。
ーハングしたＸ線遮蔽用カバーで防げられる位置に設け
られた２ケの散乱Ｘ線計測素子７より右側のチャネル
は、全て計測用Ｘ線検出素子８を構成する。
【００２６】さて、スライスコリメータ２（図示せず）
から放射されたＸ線ビームのうち、被検体３に入射しな
いものは直接Ｘ線となってＸ線検知器４に入射するが、
検出器側コリメータ５のカバーで阻止された直接Ｘ線
は、カバーに吸収又は反射される。一方、被検体３に一
旦入射したＸ線は、透過Ｘ線及び散乱Ｘ線として被検体
３の後方に至る。図２では、簡単のために点線表示の散
乱Ｘ線が散乱Ｘ線計測阻止７のみに入射しているように
描いたが、勿論散乱Ｘ線は主計側用Ｘ線検出素子８にも
入射する。しかし、散乱Ｘ線計測素子７には、ほぼ散乱
Ｘ線のみしか入射しない。即ち、素子７の出力は、被検
体３からの散乱Ｘ線強度によってのみ決定される。
から放射されたＸ線ビームのうち、被検体３に入射しな
いものは直接Ｘ線となってＸ線検知器４に入射するが、
検出器側コリメータ５のカバーで阻止された直接Ｘ線
は、カバーに吸収又は反射される。一方、被検体３に一
旦入射したＸ線は、透過Ｘ線及び散乱Ｘ線として被検体
３の後方に至る。図２では、簡単のために点線表示の散
乱Ｘ線が散乱Ｘ線計測阻止７のみに入射しているように
描いたが、勿論散乱Ｘ線は主計側用Ｘ線検出素子８にも
入射する。しかし、散乱Ｘ線計測素子７には、ほぼ散乱
Ｘ線のみしか入射しない。即ち、素子７の出力は、被検
体３からの散乱Ｘ線強度によってのみ決定される。
【００２７】図２では、Ｘ線検知器４の左側にある。散
乱Ｘ線計測素子７の数を２としたが、チャネル数を増や
せば更に素子７の割当数を増やすことが可能になる。
乱Ｘ線計測素子７の数を２としたが、チャネル数を増や
せば更に素子７の割当数を増やすことが可能になる。
【００２８】図２に示した検出器側コリメータ５は、オ
ーバーハングしたカバー領域でＸ線を遮蔽する機能を示
すので、Ｘ線透過率の小さな材料、例えば鉛、タングス
テン、モリブデン、黄銅などを用いて作成することが好
ましい。強度及び加工性を考慮すると、黄銅がより適し
ている。又、黄銅を土台にして成形した表面に、更にＸ
線透過率の小さな鉛やモリブデンの薄板をラミネートし
て用いることが、より好ましい。
ーバーハングしたカバー領域でＸ線を遮蔽する機能を示
すので、Ｘ線透過率の小さな材料、例えば鉛、タングス
テン、モリブデン、黄銅などを用いて作成することが好
ましい。強度及び加工性を考慮すると、黄銅がより適し
ている。又、黄銅を土台にして成形した表面に、更にＸ
線透過率の小さな鉛やモリブデンの薄板をラミネートし
て用いることが、より好ましい。
【００２９】図１、図２に構成例を示した本発明のＸ線
ＣＴを用いて各チャネルの散乱Ｘ線量を推定するには、
予め各チャネルによる散乱Ｘ線強度分布をテストサンプ
ルによって求めておくことが必要である。
ＣＴを用いて各チャネルの散乱Ｘ線量を推定するには、
予め各チャネルによる散乱Ｘ線強度分布をテストサンプ
ルによって求めておくことが必要である。
【００３０】図３は、人体のＸ線吸収係数に近い物質で
ある水を被検体に用いた場合の散乱Ｘ線強度分布を示す
データである。被検体の大きさによる散乱Ｘ線分布の相
違を調べるために、直径の異なる（直径１６０〜３８０
ｍｍ）４ケの水ファントームについて、データを採取し
た。水ファントームは、図１に示す被検体３の位置に置
かれている。図３の縦軸は、Ｘ線検知器４の各チャネル
に入射する散乱Ｘ線強度を任意目盛りで示したものであ
る。
ある水を被検体に用いた場合の散乱Ｘ線強度分布を示す
データである。被検体の大きさによる散乱Ｘ線分布の相
違を調べるために、直径の異なる（直径１６０〜３８０
ｍｍ）４ケの水ファントームについて、データを採取し
た。水ファントームは、図１に示す被検体３の位置に置
かれている。図３の縦軸は、Ｘ線検知器４の各チャネル
に入射する散乱Ｘ線強度を任意目盛りで示したものであ
る。
【００３１】図３は、ファントームの中心位置で散乱Ｘ
線強度が低く、周辺に向かうに従って散乱Ｘ線強度が増
大することを示している。散乱Ｘ線強度がピークに達し
た後、更に周辺部のチャネルに向かう程強度が低下する
のはファントーム径より広い領域では、直接Ｘ線が入射
し、逆に散乱角度の大きな散乱Ｘ線量が減少するからに
他ならない。又、図３はファントーム径が小さい場合程
中心部と周辺部の散乱Ｘ線強度差が大きくなることを示
している。
線強度が低く、周辺に向かうに従って散乱Ｘ線強度が増
大することを示している。散乱Ｘ線強度がピークに達し
た後、更に周辺部のチャネルに向かう程強度が低下する
のはファントーム径より広い領域では、直接Ｘ線が入射
し、逆に散乱角度の大きな散乱Ｘ線量が減少するからに
他ならない。又、図３はファントーム径が小さい場合程
中心部と周辺部の散乱Ｘ線強度差が大きくなることを示
している。
【００３２】これは、散乱Ｘ線もファントーム内部では
吸収を受けるという性質に依存する。従って、径の小さ
なファントーム或は同一ファントーム内でもＸ線の透過
距離の短い周辺部位において散乱Ｘ線強度が大きくなる
のは当然である。
吸収を受けるという性質に依存する。従って、径の小さ
なファントーム或は同一ファントーム内でもＸ線の透過
距離の短い周辺部位において散乱Ｘ線強度が大きくなる
のは当然である。
【００３３】このような散乱Ｘ線強度分布は、たとえば
図２に示した散乱Ｘ線計測素子７の位置を少しずつ移動
させることによって、素子７の出力変化として記録する
ことが出来る。
図２に示した散乱Ｘ線計測素子７の位置を少しずつ移動
させることによって、素子７の出力変化として記録する
ことが出来る。
【００３４】図３から中央チャネル付近での散乱Ｘ線強
度と周辺部位での強度との間にパターン化出来る相関関
係が認められる。従って、予め多くの異なる径を有する
ファントームを用いてこの相関関係を定量化しておけ
ば、被検体のＸ線ＣＴを行う場合周辺チャネル、すなわ
ち散乱Ｘ線計測用素子７における散乱Ｘ線強度から中心
部位、すなわち被検体投影データにおける散乱Ｘ線強度
を比較的高い精度で推定することが出来る。
度と周辺部位での強度との間にパターン化出来る相関関
係が認められる。従って、予め多くの異なる径を有する
ファントームを用いてこの相関関係を定量化しておけ
ば、被検体のＸ線ＣＴを行う場合周辺チャネル、すなわ
ち散乱Ｘ線計測用素子７における散乱Ｘ線強度から中心
部位、すなわち被検体投影データにおける散乱Ｘ線強度
を比較的高い精度で推定することが出来る。
【００３５】被検体のＸ線データから散乱Ｘ線の影響を
除く具体的手法は以下のようである。まず前記定量化さ
れたチャネル間散乱Ｘ線強度分布を利用してチャネル間
の補正係数を求め、次に実測された散乱Ｘ線計測用素子
７のデータにこの補正係数をかけて該当チャネルにおけ
る散乱Ｘ線強度を計算する。その上で、主計測用Ｘ線検
出素子８のＸ線データからこの散乱Ｘ線強度を減算すれ
ばよい。
除く具体的手法は以下のようである。まず前記定量化さ
れたチャネル間散乱Ｘ線強度分布を利用してチャネル間
の補正係数を求め、次に実測された散乱Ｘ線計測用素子
７のデータにこの補正係数をかけて該当チャネルにおけ
る散乱Ｘ線強度を計算する。その上で、主計測用Ｘ線検
出素子８のＸ線データからこの散乱Ｘ線強度を減算すれ
ばよい。
【００３６】補正処理で用いる前記補正係数は、図３に
示した水ファントームだけでなく、他の人体に近いＸ線
吸収係数を有する材料，たとえばポリエチレンやアクリ
ルなどで構成されるファントームを用いて実験的に定め
れば、より正確な値が得られる。
示した水ファントームだけでなく、他の人体に近いＸ線
吸収係数を有する材料，たとえばポリエチレンやアクリ
ルなどで構成されるファントームを用いて実験的に定め
れば、より正確な値が得られる。
【００３７】なお、被検体３の位置が図１で示したよう
な円環状回転板６の中央部円孔の中心からずれて静置し
ている場合、散乱Ｘ線強度分布は、図３に示したような
左右対称にはならない。この場合はＸ線検知器４を構成
する左端および右端における散乱Ｘ線計測用素子７の出
力が異なってくるので、そのデータを基にして補正係数
に重み付けを行う（すなわち、左右で異なる径のファン
トームデータを適用する）必要がある。このようにし
て、散乱Ｘ線の影響を極力低減したＸ線データを基にし
てＣＴ画像を構築すれば、高いコントラストの画像が得
られる。円環状回転板６を回転しながら前記処理を行え
ば、精度の高い被検体の横断面Ｘ線画像が得られること
になる。
な円環状回転板６の中央部円孔の中心からずれて静置し
ている場合、散乱Ｘ線強度分布は、図３に示したような
左右対称にはならない。この場合はＸ線検知器４を構成
する左端および右端における散乱Ｘ線計測用素子７の出
力が異なってくるので、そのデータを基にして補正係数
に重み付けを行う（すなわち、左右で異なる径のファン
トームデータを適用する）必要がある。このようにし
て、散乱Ｘ線の影響を極力低減したＸ線データを基にし
てＣＴ画像を構築すれば、高いコントラストの画像が得
られる。円環状回転板６を回転しながら前記処理を行え
ば、精度の高い被検体の横断面Ｘ線画像が得られること
になる。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来のように被検体の大きさだけでなく、その形状や位置
が異なっていても精度のよい散乱Ｘ線補正が可能とな
る。また、専用の散乱Ｘ線検出器や検出回路を用いるこ
となく、主計測用Ｘ線検出素子、回路の一部をそのまま
散乱Ｘ線用に用いるため、コスト低減および信頼性の向
上に資することができる。この効果は、特に電離箱構造
の検出器を用いる場合に顕著である。本発明によれば、
同一の圧力容器の中に散乱Ｘ線検出用素子を配置するこ
とが出来るため、コスト低減および素子特性の均一性を
はかることができる。
来のように被検体の大きさだけでなく、その形状や位置
が異なっていても精度のよい散乱Ｘ線補正が可能とな
る。また、専用の散乱Ｘ線検出器や検出回路を用いるこ
となく、主計測用Ｘ線検出素子、回路の一部をそのまま
散乱Ｘ線用に用いるため、コスト低減および信頼性の向
上に資することができる。この効果は、特に電離箱構造
の検出器を用いる場合に顕著である。本発明によれば、
同一の圧力容器の中に散乱Ｘ線検出用素子を配置するこ
とが出来るため、コスト低減および素子特性の均一性を
はかることができる。
【図１】本発明の一実施例におけるＸ線照射、検知シス
テムを示す上面見取図である。
テムを示す上面見取図である。
【図２】図１に示したＸ線検知器の各個別検知素子（各
チャンネル）へのＸ線入射をモデリックに示す図であ
る。
チャンネル）へのＸ線入射をモデリックに示す図であ
る。
【図３】水ファントームにおける散乱Ｘ線強度の分布を
示す図である。
示す図である。
１ Ｘ線管 ２ スライスコリメータ ３ 被検体 ４ Ｘ線検出器 ５ 検出器側コリメータ ６ 円環状回転板 ７ 散乱Ｘ線計測用素子 ８ 主計測用Ｘ線検出素子
Claims (1)
- 【請求項１】 円環状回転板と、円環状回転板上の所定
位置に固設されたＸ線放射源と、該Ｘ線放射源と対向す
る位置の前記円環状回転板上に固設された多素子型Ｘ線
検出器とを含むＸ線装置において、 前記多素子型Ｘ線検出器の両端に、該検出器から前記Ｘ
線放射源側に突出した直接入射Ｘ線遮蔽用のカバーを有
する検出器側コリメータを備えたことを特徴とするＸ線
ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5213872A JPH0759762A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5213872A JPH0759762A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0759762A true JPH0759762A (ja) | 1995-03-07 |
Family
ID=16646419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5213872A Pending JPH0759762A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0759762A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010204125A (ja) * | 2010-06-21 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | 放射線検出器ユニット |
| CN102764137A (zh) * | 2012-07-27 | 2012-11-07 | 苏州生物医学工程技术研究所 | 一种静态ct扫描仪及其散射x光子校正方法 |
| KR20160014591A (ko) | 2013-05-29 | 2016-02-11 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
| JP2017185080A (ja) * | 2016-04-07 | 2017-10-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム |
| KR20200002781A (ko) | 2017-04-27 | 2020-01-08 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP5213872A patent/JPH0759762A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010204125A (ja) * | 2010-06-21 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | 放射線検出器ユニット |
| CN102764137A (zh) * | 2012-07-27 | 2012-11-07 | 苏州生物医学工程技术研究所 | 一种静态ct扫描仪及其散射x光子校正方法 |
| KR20160014591A (ko) | 2013-05-29 | 2016-02-11 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
| JP2017185080A (ja) * | 2016-04-07 | 2017-10-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム |
| KR20200002781A (ko) | 2017-04-27 | 2020-01-08 | 도레이 카부시키가이샤 | 섬유 구조물 |
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