JP2017185080A - 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の第1の実施形態を説明し、散乱線の遮蔽手段がない場合でも散乱線を推定することができる実施形態について説明する。本発明の第1の実施形態について、図面を参照して具体的に説明する。
次に、本発明の第2の実施形態を説明し、非投影範囲において推定された散乱線分布を利用して、全領域(投影範囲及び非投影範囲)の散乱線分布を補正する実施形態について説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。本発明の第2の実施形態について、図面を参照して具体的に説明する。
次に、本発明の第3の実施形態を説明し、非投影範囲において推定された散乱線分布を利用して、全領域(投影範囲及び非投影範囲)の散乱線分布を補正する実施形態について説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。本発明の第3の実施形態について、図面を参照して具体的に説明する。
104 検出部
105 第1の測定部
106 第2の測定部
107 第1の推定部
110 表示部
508,808 第2の推定部
509,809 補正部
Claims (10)
- 被写体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する第1の測定手段と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する第2の測定手段と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被写体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する第1の推定手段と
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。 - 前記推定手段は、前記第1の検出データ及び前記第2の検出データの差により、前記第1の散乱線分布を推定することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置。
- 前記推定手段は、前記第2の検出データが前記第1の検出データより大きい範囲を、前記投影範囲以外の範囲として規定することを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮影装置。
- 前記推定手段は、前記第1の検出データを前記第2の検出データから減算した値が所定の閾値を超える範囲を、前記投影範囲以外の範囲として規定することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
- 前記第2の検出データに基づいて、前記投影範囲及び前記投影範囲以外の範囲における前記放射線の第2の散乱線分布を推定する第2の推定手段と、
前記第2の散乱線分布を前記第1の散乱線分布に近似させることにより、前記第2の散乱線分布を補正する補正手段と
を備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮影装置。 - 前記補正手段は、前記投影範囲以外の範囲における前記第2の散乱線分布が前記第1の散乱線分布に近似するように、前記投影範囲及び前記投影範囲以外の範囲における前記第2の散乱線分布の値を定数倍することにより、前記第2の散乱線分布を補正することを特徴とする請求項5に記載の放射線撮影装置。
- 前記第2の推定手段は、複数の前記散乱線分布の加重和を、前記第2の散乱線分布として推定し、
前記補正手段は、前記第2の散乱線分布が前記第1の散乱線分布に近似するように、前記線形加重和の重み係数を決定することにより、前記第2の散乱線分布を補正することを特徴とする請求項5に記載の放射線撮影装置。 - 放射線を照射する放射線発生手段と、
前記放射線発生手段からの放射線を検出する検出手段と、
被写体を配置しない状態で照射された前記放射線の第1の検出データを測定する第1の測定手段と、
前記被検体を配置した状態で照射された前記放射線の第2の検出データを測定する第2の測定手段と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被写体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する第1の推定手段と
を備えることを特徴とする放射線撮影システム。 - 被写体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する工程と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する工程と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被写体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する工程と
を備えることを特徴とする放射線撮影方法。 - コンピュータを請求項1乃至7の何れか1項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。
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