JPH0866388A - 放射線撮像装置 - Google Patents
放射線撮像装置Info
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- JPH0866388A JPH0866388A JP6207389A JP20738994A JPH0866388A JP H0866388 A JPH0866388 A JP H0866388A JP 6207389 A JP6207389 A JP 6207389A JP 20738994 A JP20738994 A JP 20738994A JP H0866388 A JPH0866388 A JP H0866388A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 37
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
- 231100000987 absorbed dose Toxicity 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 検出器特性が変化した場合であっても、スジ
のでない正確な撮影画像を得られる放射線撮像装置を提
供する。 【構成】 Ｘ線発生装置から照射されたＸ線は被検体２
を透過してＸ線検出器アレイ３で検出される。検出され
たＸ線の測定データは補正手段４によって所定の画素値
に変換されて２次元画像として表示手段５に表示され
る。また、予め被検体２が存在しない状態でＸ線検出器
アレイ３によって検出されたＸ線の測定データを用い
て、第１の演算手段６ａにおいて被検体２の質量厚ρｔ
ijが、また、第２の演算手段６ｂにおいて被検体で吸収
されたエネルギーＪijが算出され、さらに、第３の演算
手段６ｃにおいて、被検体２で吸収されたエネルギーＪ
ijと被検体の質量厚ρｔijを用いて被検体２の被爆線量
を示す吸収線量Ｄが算出され、表示手段５に表示され
る。
のでない正確な撮影画像を得られる放射線撮像装置を提
供する。 【構成】 Ｘ線発生装置から照射されたＸ線は被検体２
を透過してＸ線検出器アレイ３で検出される。検出され
たＸ線の測定データは補正手段４によって所定の画素値
に変換されて２次元画像として表示手段５に表示され
る。また、予め被検体２が存在しない状態でＸ線検出器
アレイ３によって検出されたＸ線の測定データを用い
て、第１の演算手段６ａにおいて被検体２の質量厚ρｔ
ijが、また、第２の演算手段６ｂにおいて被検体で吸収
されたエネルギーＪijが算出され、さらに、第３の演算
手段６ｃにおいて、被検体２で吸収されたエネルギーＪ
ijと被検体の質量厚ρｔijを用いて被検体２の被爆線量
を示す吸収線量Ｄが算出され、表示手段５に表示され
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体を透過した放射
線から放射線像を撮影する放射線撮像装置に関する。
線から放射線像を撮影する放射線撮像装置に関する。
【０００２】
【従来技術】近年、胸部用のＸ線撮像装置として、直接
フィルムに透過Ｘ線を照射することでＸ線撮影像を得る
方式に代わり、半導体センサにより透過Ｘ線を電気信号
に変換することでＸ線撮影像を得る方式が開発されてい
る。
フィルムに透過Ｘ線を照射することでＸ線撮影像を得る
方式に代わり、半導体センサにより透過Ｘ線を電気信号
に変換することでＸ線撮影像を得る方式が開発されてい
る。
【０００３】この半導体センサは、通常個々の検出素子
を１次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構成
され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査する
ことで２次元画像が得られる。
を１次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構成
され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査する
ことで２次元画像が得られる。
【０００４】図４はこのラインセンサを用いた放射線撮
像装置の一つであるＸ線撮像装置の概略図で、ラインセ
ンサ１０が体軸方向に設置された支柱１１に対して、そ
の軸方向に移動可能に配設され、対向する位置にはＸ線
管１２が配設されている。このようなＸ線撮像装置は、
ラインセンサ１０の前に立たせた被検体Ｂに対してＸ線
管１２からＸ線を照射し、その状態でラインセンサ１０
を下方、即ち被検体Ｂの体軸方向へ移動させながら透過
Ｘ線を検出することにより被検体Ｂの２次元Ｘ線画像を
得るよう構成されている。
像装置の一つであるＸ線撮像装置の概略図で、ラインセ
ンサ１０が体軸方向に設置された支柱１１に対して、そ
の軸方向に移動可能に配設され、対向する位置にはＸ線
管１２が配設されている。このようなＸ線撮像装置は、
ラインセンサ１０の前に立たせた被検体Ｂに対してＸ線
管１２からＸ線を照射し、その状態でラインセンサ１０
を下方、即ち被検体Ｂの体軸方向へ移動させながら透過
Ｘ線を検出することにより被検体Ｂの２次元Ｘ線画像を
得るよう構成されている。
【０００５】かかる放射線撮像装置では、放射線照射に
よる被検体への悪影響を排除するため、被検体の被爆線
量を計算し、これをモニターする必要が生じる。かかる
場合、従来では別途不図示の線量計を放射線撮像装置に
配設してその測定量から被検体の被爆線量を算出してい
た。
よる被検体への悪影響を排除するため、被検体の被爆線
量を計算し、これをモニターする必要が生じる。かかる
場合、従来では別途不図示の線量計を放射線撮像装置に
配設してその測定量から被検体の被爆線量を算出してい
た。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、線量計
の測定結果から被検体の被爆線量を算出するためには、
非常に複雑な補正計算が必要になると共に、被検体の被
爆線量は放射線の撮影条件によって大きく異なるため、
撮影条件が変わる毎にかかる複雑な補正計算が必要にな
り、従来では、被爆線量の算出に多大な労力を要してい
た。
の測定結果から被検体の被爆線量を算出するためには、
非常に複雑な補正計算が必要になると共に、被検体の被
爆線量は放射線の撮影条件によって大きく異なるため、
撮影条件が変わる毎にかかる複雑な補正計算が必要にな
り、従来では、被爆線量の算出に多大な労力を要してい
た。
【０００７】さらに、放射線撮像装置とは別に線量計を
設ける必要があるため、装置構成が複雑かつ高価になる
という問題があった。
設ける必要があるため、装置構成が複雑かつ高価になる
という問題があった。
【０００８】そこで、本発明はかかる問題点を解消する
ため、別途線量計を設けることなく撮影された測定デー
タから被検体の被爆線量を算出できる放射線撮像装置を
提供することを目的とする。
ため、別途線量計を設けることなく撮影された測定デー
タから被検体の被爆線量を算出できる放射線撮像装置を
提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、放射線発生器から被検体に放射線を照射
し、透過した放射線を放射線検出器で検出し、その検出
データから被検体の放射線像を撮影する放射線撮像装置
であって、被検体が存在しない状態で照射された放射線
と被検体を透過した放射線のそれぞれの放射線検出器に
おける検出データから、被検体の被爆線量を算出する演
算手段を備えたことを特徴とする。
に、本発明は、放射線発生器から被検体に放射線を照射
し、透過した放射線を放射線検出器で検出し、その検出
データから被検体の放射線像を撮影する放射線撮像装置
であって、被検体が存在しない状態で照射された放射線
と被検体を透過した放射線のそれぞれの放射線検出器に
おける検出データから、被検体の被爆線量を算出する演
算手段を備えたことを特徴とする。
【００１０】
【作用】本発明の作用を図１に基づいて説明すると、Ｘ
線発生器１から照射されたＸ線は被検体２を透過してＸ
線検出器アレイ３で検出される。検出されたＸ線の測定
データは補正手段４によって所定の画素値に変換されて
２次元画像として表示手段５に表示されるとともに、演
算処理部６において、予め被検体２が存在しない状態で
Ｘ線検出器アレイ３によって検出されたＸ線の測定デー
タを用いて被検体の被爆線量が計測される。すなわち、
第１の演算手段６ａにおいて被検体の質量厚ρｔが、ま
た第２の演算手段６ｂにおいて被検体で吸収されたエネ
ルギーＪが算出される。そして、第３の演算手段６ｃに
おいて被検体で吸収されたエネルギーＪと被検体の質量
厚ρｔを用いて被検体の被爆線量を示す吸収線量Ｄが算
出され、表示手段５に表示される。
線発生器１から照射されたＸ線は被検体２を透過してＸ
線検出器アレイ３で検出される。検出されたＸ線の測定
データは補正手段４によって所定の画素値に変換されて
２次元画像として表示手段５に表示されるとともに、演
算処理部６において、予め被検体２が存在しない状態で
Ｘ線検出器アレイ３によって検出されたＸ線の測定デー
タを用いて被検体の被爆線量が計測される。すなわち、
第１の演算手段６ａにおいて被検体の質量厚ρｔが、ま
た第２の演算手段６ｂにおいて被検体で吸収されたエネ
ルギーＪが算出される。そして、第３の演算手段６ｃに
おいて被検体で吸収されたエネルギーＪと被検体の質量
厚ρｔを用いて被検体の被爆線量を示す吸収線量Ｄが算
出され、表示手段５に表示される。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１〜図３に基づ
いて説明する。
いて説明する。
【００１２】図１は本発明にかかる放射線撮像装置の一
つであるＸ線撮像装置の一実施例を示す概略図である。
同図において、１はＸ線を発生するＸ線発生器、２は撮
影の対象となる被検体、３はこの被検体２を透過したＸ
線を検出するＸ線検出器アレイである。
つであるＸ線撮像装置の一実施例を示す概略図である。
同図において、１はＸ線を発生するＸ線発生器、２は撮
影の対象となる被検体、３はこの被検体２を透過したＸ
線を検出するＸ線検出器アレイである。
【００１３】ここで、Ｘ線検出器アレイ３は、図４で説
明したように被検体２の体軸方向に走査されるよう構成
されており、これにより被検体２の２次元的な透過デー
タＩが得られる。
明したように被検体２の体軸方向に走査されるよう構成
されており、これにより被検体２の２次元的な透過デー
タＩが得られる。
【００１４】４は補正手段で、Ｘ線検出器アレイ３で検
出されたＸ線の測定データ、例えば個々のＸ線検出器
（検出素子）が半導体センサで構成されている場合はＸ
線強度に応じたパルス数を画像表示用の画素値に変換し
て出力する。５は撮影画像及び被検体の被爆Ｘ線量を表
示する表示手段である。
出されたＸ線の測定データ、例えば個々のＸ線検出器
（検出素子）が半導体センサで構成されている場合はＸ
線強度に応じたパルス数を画像表示用の画素値に変換し
て出力する。５は撮影画像及び被検体の被爆Ｘ線量を表
示する表示手段である。
【００１５】６は、被検体２を透過し検出されたＸ線の
測定データから被検体２の被爆Ｘ線量を算出するための
演算処理部で、被検体２の質量厚ρｔijを算出する第１
の演算手段６ａ、被検体２で吸収されたエネルギーＪij
を算出する第２の演算手段６ｂ、被検体で吸収されたエ
ネルギーＪijと被検体の質量厚ρｔijを用いて被検体の
被爆Ｘ線量を示す吸収線量Ｄを算出する第３の演算手段
６ｃ、及びメモリ６ｄとから構成される。メモリ６ｄに
は、後述するように第１の演算手段６ａ〜第３の演算手
段６ｃでの上記計算に用いられる各種データが予め記憶
されている。
測定データから被検体２の被爆Ｘ線量を算出するための
演算処理部で、被検体２の質量厚ρｔijを算出する第１
の演算手段６ａ、被検体２で吸収されたエネルギーＪij
を算出する第２の演算手段６ｂ、被検体で吸収されたエ
ネルギーＪijと被検体の質量厚ρｔijを用いて被検体の
被爆Ｘ線量を示す吸収線量Ｄを算出する第３の演算手段
６ｃ、及びメモリ６ｄとから構成される。メモリ６ｄに
は、後述するように第１の演算手段６ａ〜第３の演算手
段６ｃでの上記計算に用いられる各種データが予め記憶
されている。
【００１６】次に、かかる構成を有するＸ線撮像装置を
用いて、被検体の放射線被曝量を測定するための手順を
図２のフローチャートに基づいて説明する。まず、被検
体２のＸ線撮影を行い（Ｓ１）、Ｘ線検出器アレイ３で
検出されたＸ線の測定データを補正手段４において画像
用のデータに変換し、表示手段５に撮影画像を表示す
る。
用いて、被検体の放射線被曝量を測定するための手順を
図２のフローチャートに基づいて説明する。まず、被検
体２のＸ線撮影を行い（Ｓ１）、Ｘ線検出器アレイ３で
検出されたＸ線の測定データを補正手段４において画像
用のデータに変換し、表示手段５に撮影画像を表示す
る。
【００１７】これに併せて、Ｘ線検出器アレイ３で検出
されたＸ線の測定データは、演算処理部６の第１の演算
手段６ａにおいて演算処理され、図３に示されるよう
に、予め撮影領域を格子状に分割した各ピクセルＰij毎
の分割データＩijとなる（Ｓ２）。ここで、図３に示さ
れるピクセルＰijは、Ｘ線検出器アレイ３のチャンネル
方向と走査方向に所定数のデータ毎に分けられた個々の
領域を示す。例えば、チャンネル数が６０００、走査方
向のデータ取得数が６０００である場合、チャンネル方
向に１００と走査方向に１００のデータ数で分ければ、
チャンネル方向に６０、走査方向に６０のピクセルが形
成され、その総ピクセル数は３６００となる。また、分
割データＩijは、例えば、ピクセルＰijの領域で得られ
た総データの加重平均として求められる。
されたＸ線の測定データは、演算処理部６の第１の演算
手段６ａにおいて演算処理され、図３に示されるよう
に、予め撮影領域を格子状に分割した各ピクセルＰij毎
の分割データＩijとなる（Ｓ２）。ここで、図３に示さ
れるピクセルＰijは、Ｘ線検出器アレイ３のチャンネル
方向と走査方向に所定数のデータ毎に分けられた個々の
領域を示す。例えば、チャンネル数が６０００、走査方
向のデータ取得数が６０００である場合、チャンネル方
向に１００と走査方向に１００のデータ数で分ければ、
チャンネル方向に６０、走査方向に６０のピクセルが形
成され、その総ピクセル数は３６００となる。また、分
割データＩijは、例えば、ピクセルＰijの領域で得られ
た総データの加重平均として求められる。
【００１８】次に、第１の演算手段６ａは、メモリ６ｄ
に予め記憶された質量減弱係数（μ／ρ）、及び被検体
が存在しない状態で予め測定し記憶された分割データＩ
0ij を読み出し、下記の式（１）より、各ピクセルＰij
毎に被検体の質量厚（ρｔ）ijを算出する（Ｓ３）。
に予め記憶された質量減弱係数（μ／ρ）、及び被検体
が存在しない状態で予め測定し記憶された分割データＩ
0ij を読み出し、下記の式（１）より、各ピクセルＰij
毎に被検体の質量厚（ρｔ）ijを算出する（Ｓ３）。
【００１９】 Ｉij＝Ｉ0ij ・ｅ−（μ／ρ）（ρｔ）ij （１） ここで、μは散乱の影響をも含めた被検体の単位長さ当
たりの減弱量を示す線減弱係数、ρは被検体の密度、ｔ
は被検体の厚みである。
たりの減弱量を示す線減弱係数、ρは被検体の密度、ｔ
は被検体の厚みである。
【００２０】第２の演算手段６ｂは、メモリ６ｄに予め
記憶された質量エネルギー吸収係数（μ0 ／ρ）、１フ
ォトン当たりのエネルギーＪ0 を読み出し、第１の演算
手段６ａで算出された各ピクセルＰij毎の被検体の質量
厚（ρｔ）ijを用いて、被検体に吸収されたエネルギー
Ｊijを下記の式（２）より算出する（Ｓ４）。
記憶された質量エネルギー吸収係数（μ0 ／ρ）、１フ
ォトン当たりのエネルギーＪ0 を読み出し、第１の演算
手段６ａで算出された各ピクセルＰij毎の被検体の質量
厚（ρｔ）ijを用いて、被検体に吸収されたエネルギー
Ｊijを下記の式（２）より算出する（Ｓ４）。
【００２１】 Ｊij＝Ｊ0 ・Ｉ0ij ｛１−ｅ−（μ0 ／ρ）（ρｔ）ij｝ （２） ここで、μ0 は、散乱したＸ線の影響を除いた被検体の
単位長さ当たりの減弱量を示す線減弱係数である。
単位長さ当たりの減弱量を示す線減弱係数である。
【００２２】次に、第３の演算手段６ｃは、メモリ６ｄ
に予め記憶された１ピクセルＰij当たりの面積Ａを読み
出し、第１の演算手段６ａで算出された質量厚（ρｔ）
ijと、第２の演算手段６ｂで算出された被検体に吸収さ
れたエネルギーＪijとから下記の式（３）により被検体
の被爆Ｘ線量を示す吸収線量Ｄを算出する（Ｓ５）。
に予め記憶された１ピクセルＰij当たりの面積Ａを読み
出し、第１の演算手段６ａで算出された質量厚（ρｔ）
ijと、第２の演算手段６ｂで算出された被検体に吸収さ
れたエネルギーＪijとから下記の式（３）により被検体
の被爆Ｘ線量を示す吸収線量Ｄを算出する（Ｓ５）。
【００２３】 Ｄ＝Σ｛Ｊij／（Ａ・（ρｔ）ij）｝／（i ・j ） （３） ここで、Σは全ピクセルについての総和を示す。
【００２４】そして、算出された吸収線量Ｄは、被検体
の撮影像と共に、表示手段５に表示される。
の撮影像と共に、表示手段５に表示される。
【００２５】なお、上述の実施例で示したＸ線検出器ア
レイは、入射したＸ線を直接フォトン数として直接検出
するものであったが、電荷量を算出するタイプのもので
あってもよい。この場合、電荷量からフォトン数が算出
され、上述と同様の計算により被検体の被爆線量が算出
される。
レイは、入射したＸ線を直接フォトン数として直接検出
するものであったが、電荷量を算出するタイプのもので
あってもよい。この場合、電荷量からフォトン数が算出
され、上述と同様の計算により被検体の被爆線量が算出
される。
【００２６】また、上述の実施例では被爆線量を算出す
るのに撮影画像全域のデータを用いたが、これを放射線
吸収線量が最も大きいと思われる被検体の特定部分のみ
としてもよい。かかる場合、被爆Ｘ線量の精度をほとん
ど落とすことなく迅速に被爆Ｘ線量を算出できる。
るのに撮影画像全域のデータを用いたが、これを放射線
吸収線量が最も大きいと思われる被検体の特定部分のみ
としてもよい。かかる場合、被爆Ｘ線量の精度をほとん
ど落とすことなく迅速に被爆Ｘ線量を算出できる。
【００２７】さらに、上述の実施例では、放射線検出器
としてＸ線検出器アレーを用いたが、検出素子を２次元
状に配設した２次元放射線検出器を用いてもよい。
としてＸ線検出器アレーを用いたが、検出素子を２次元
状に配設した２次元放射線検出器を用いてもよい。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、別途線量計等特別な装
置を設けることなく、通常の撮影データから被検体の被
爆線量を算出するよう構成したため、より簡単な構成
で、しかも極めて容易に撮影毎の被検体の被爆線量の計
測が可能となる。
置を設けることなく、通常の撮影データから被検体の被
爆線量を算出するよう構成したため、より簡単な構成
で、しかも極めて容易に撮影毎の被検体の被爆線量の計
測が可能となる。
【図１】本発明にかかる放射線撮像装置のブロック図で
ある。
ある。
【図２】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図３】撮影領域をピクセル毎に分割する場合を示す図
である。
である。
【図４】放射線撮像装置の概略図である。
１・・・・・・Ｘ線発生器 ２・・・・・・被検体 ３・・・・・・Ｘ線検出器アレイ ４・・・・・・補正手段 ５・・・・・・表示手段 ６・・・・・・演算処理部
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線発生器から被検体に放射線を照射
し、透過した放射線を放射線検出器で検出し、その検出
データから被検体の放射線像を撮影する放射線撮像装置
において、 被検体が存在しない状態で照射された放射線と被検体を
透過した放射線のそれぞれの放射線検出器における検出
データから、被検体の被爆線量を算出する演算手段を備
えたことを特徴とする放射線撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6207389A JPH0866388A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6207389A JPH0866388A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0866388A true JPH0866388A (ja) | 1996-03-12 |
Family
ID=16538935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6207389A Pending JPH0866388A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0866388A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009268827A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置及びその駆動方法 |
| JP2012245229A (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Fujifilm Corp | 放射線被曝量取得装置および方法並びにプログラム |
| CN112146601A (zh) * | 2019-06-27 | 2020-12-29 | 清华大学 | 基于剂量场检测的辐射成像方法及装置 |
| WO2021147600A1 (zh) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 飞瑞医疗器械(嘉兴)有限公司 | X射线的dap计算方法、装置、设备、介质和限束器 |
| US11369333B2 (en) | 2019-06-27 | 2022-06-28 | Nuctech Company Limited | Method and apparatus for detecting dose distribution of article |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP6207389A patent/JPH0866388A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009268827A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置及びその駆動方法 |
| JP2012245229A (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Fujifilm Corp | 放射線被曝量取得装置および方法並びにプログラム |
| CN112146601A (zh) * | 2019-06-27 | 2020-12-29 | 清华大学 | 基于剂量场检测的辐射成像方法及装置 |
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| WO2021147600A1 (zh) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 飞瑞医疗器械(嘉兴)有限公司 | X射线的dap计算方法、装置、设备、介质和限束器 |
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