JPH0866388A - 放射線撮像装置 - Google Patents
放射線撮像装置Info
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- JPH0866388A JPH0866388A JP6207389A JP20738994A JPH0866388A JP H0866388 A JPH0866388 A JP H0866388A JP 6207389 A JP6207389 A JP 6207389A JP 20738994 A JP20738994 A JP 20738994A JP H0866388 A JPH0866388 A JP H0866388A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 37
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
- 231100000987 absorbed dose Toxicity 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 検出器特性が変化した場合であっても、スジ
のでない正確な撮影画像を得られる放射線撮像装置を提
供する。 【構成】 X線発生装置から照射されたX線は被検体2
を透過してX線検出器アレイ3で検出される。検出され
たX線の測定データは補正手段4によって所定の画素値
に変換されて2次元画像として表示手段5に表示され
る。また、予め被検体2が存在しない状態でX線検出器
アレイ3によって検出されたX線の測定データを用い
て、第1の演算手段6aにおいて被検体2の質量厚ρt
ijが、また、第2の演算手段6bにおいて被検体で吸収
されたエネルギーJijが算出され、さらに、第3の演算
手段6cにおいて、被検体2で吸収されたエネルギーJ
ijと被検体の質量厚ρtijを用いて被検体2の被爆線量
を示す吸収線量Dが算出され、表示手段5に表示され
る。
のでない正確な撮影画像を得られる放射線撮像装置を提
供する。 【構成】 X線発生装置から照射されたX線は被検体2
を透過してX線検出器アレイ3で検出される。検出され
たX線の測定データは補正手段4によって所定の画素値
に変換されて2次元画像として表示手段5に表示され
る。また、予め被検体2が存在しない状態でX線検出器
アレイ3によって検出されたX線の測定データを用い
て、第1の演算手段6aにおいて被検体2の質量厚ρt
ijが、また、第2の演算手段6bにおいて被検体で吸収
されたエネルギーJijが算出され、さらに、第3の演算
手段6cにおいて、被検体2で吸収されたエネルギーJ
ijと被検体の質量厚ρtijを用いて被検体2の被爆線量
を示す吸収線量Dが算出され、表示手段5に表示され
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体を透過した放射
線から放射線像を撮影する放射線撮像装置に関する。
線から放射線像を撮影する放射線撮像装置に関する。
【0002】
【従来技術】近年、胸部用のX線撮像装置として、直接
フィルムに透過X線を照射することでX線撮影像を得る
方式に代わり、半導体センサにより透過X線を電気信号
に変換することでX線撮影像を得る方式が開発されてい
る。
フィルムに透過X線を照射することでX線撮影像を得る
方式に代わり、半導体センサにより透過X線を電気信号
に変換することでX線撮影像を得る方式が開発されてい
る。
【0003】この半導体センサは、通常個々の検出素子
を1次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構成
され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査する
ことで2次元画像が得られる。
を1次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構成
され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査する
ことで2次元画像が得られる。
【0004】図4はこのラインセンサを用いた放射線撮
像装置の一つであるX線撮像装置の概略図で、ラインセ
ンサ10が体軸方向に設置された支柱11に対して、そ
の軸方向に移動可能に配設され、対向する位置にはX線
管12が配設されている。このようなX線撮像装置は、
ラインセンサ10の前に立たせた被検体Bに対してX線
管12からX線を照射し、その状態でラインセンサ10
を下方、即ち被検体Bの体軸方向へ移動させながら透過
X線を検出することにより被検体Bの2次元X線画像を
得るよう構成されている。
像装置の一つであるX線撮像装置の概略図で、ラインセ
ンサ10が体軸方向に設置された支柱11に対して、そ
の軸方向に移動可能に配設され、対向する位置にはX線
管12が配設されている。このようなX線撮像装置は、
ラインセンサ10の前に立たせた被検体Bに対してX線
管12からX線を照射し、その状態でラインセンサ10
を下方、即ち被検体Bの体軸方向へ移動させながら透過
X線を検出することにより被検体Bの2次元X線画像を
得るよう構成されている。
【0005】かかる放射線撮像装置では、放射線照射に
よる被検体への悪影響を排除するため、被検体の被爆線
量を計算し、これをモニターする必要が生じる。かかる
場合、従来では別途不図示の線量計を放射線撮像装置に
配設してその測定量から被検体の被爆線量を算出してい
た。
よる被検体への悪影響を排除するため、被検体の被爆線
量を計算し、これをモニターする必要が生じる。かかる
場合、従来では別途不図示の線量計を放射線撮像装置に
配設してその測定量から被検体の被爆線量を算出してい
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、線量計
の測定結果から被検体の被爆線量を算出するためには、
非常に複雑な補正計算が必要になると共に、被検体の被
爆線量は放射線の撮影条件によって大きく異なるため、
撮影条件が変わる毎にかかる複雑な補正計算が必要にな
り、従来では、被爆線量の算出に多大な労力を要してい
た。
の測定結果から被検体の被爆線量を算出するためには、
非常に複雑な補正計算が必要になると共に、被検体の被
爆線量は放射線の撮影条件によって大きく異なるため、
撮影条件が変わる毎にかかる複雑な補正計算が必要にな
り、従来では、被爆線量の算出に多大な労力を要してい
た。
【0007】さらに、放射線撮像装置とは別に線量計を
設ける必要があるため、装置構成が複雑かつ高価になる
という問題があった。
設ける必要があるため、装置構成が複雑かつ高価になる
という問題があった。
【0008】そこで、本発明はかかる問題点を解消する
ため、別途線量計を設けることなく撮影された測定デー
タから被検体の被爆線量を算出できる放射線撮像装置を
提供することを目的とする。
ため、別途線量計を設けることなく撮影された測定デー
タから被検体の被爆線量を算出できる放射線撮像装置を
提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、放射線発生器から被検体に放射線を照射
し、透過した放射線を放射線検出器で検出し、その検出
データから被検体の放射線像を撮影する放射線撮像装置
であって、被検体が存在しない状態で照射された放射線
と被検体を透過した放射線のそれぞれの放射線検出器に
おける検出データから、被検体の被爆線量を算出する演
算手段を備えたことを特徴とする。
に、本発明は、放射線発生器から被検体に放射線を照射
し、透過した放射線を放射線検出器で検出し、その検出
データから被検体の放射線像を撮影する放射線撮像装置
であって、被検体が存在しない状態で照射された放射線
と被検体を透過した放射線のそれぞれの放射線検出器に
おける検出データから、被検体の被爆線量を算出する演
算手段を備えたことを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明の作用を図1に基づいて説明すると、X
線発生器1から照射されたX線は被検体2を透過してX
線検出器アレイ3で検出される。検出されたX線の測定
データは補正手段4によって所定の画素値に変換されて
2次元画像として表示手段5に表示されるとともに、演
算処理部6において、予め被検体2が存在しない状態で
X線検出器アレイ3によって検出されたX線の測定デー
タを用いて被検体の被爆線量が計測される。すなわち、
第1の演算手段6aにおいて被検体の質量厚ρtが、ま
た第2の演算手段6bにおいて被検体で吸収されたエネ
ルギーJが算出される。そして、第3の演算手段6cに
おいて被検体で吸収されたエネルギーJと被検体の質量
厚ρtを用いて被検体の被爆線量を示す吸収線量Dが算
出され、表示手段5に表示される。
線発生器1から照射されたX線は被検体2を透過してX
線検出器アレイ3で検出される。検出されたX線の測定
データは補正手段4によって所定の画素値に変換されて
2次元画像として表示手段5に表示されるとともに、演
算処理部6において、予め被検体2が存在しない状態で
X線検出器アレイ3によって検出されたX線の測定デー
タを用いて被検体の被爆線量が計測される。すなわち、
第1の演算手段6aにおいて被検体の質量厚ρtが、ま
た第2の演算手段6bにおいて被検体で吸収されたエネ
ルギーJが算出される。そして、第3の演算手段6cに
おいて被検体で吸収されたエネルギーJと被検体の質量
厚ρtを用いて被検体の被爆線量を示す吸収線量Dが算
出され、表示手段5に表示される。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1〜図3に基づ
いて説明する。
いて説明する。
【0012】図1は本発明にかかる放射線撮像装置の一
つであるX線撮像装置の一実施例を示す概略図である。
同図において、1はX線を発生するX線発生器、2は撮
影の対象となる被検体、3はこの被検体2を透過したX
線を検出するX線検出器アレイである。
つであるX線撮像装置の一実施例を示す概略図である。
同図において、1はX線を発生するX線発生器、2は撮
影の対象となる被検体、3はこの被検体2を透過したX
線を検出するX線検出器アレイである。
【0013】ここで、X線検出器アレイ3は、図4で説
明したように被検体2の体軸方向に走査されるよう構成
されており、これにより被検体2の2次元的な透過デー
タIが得られる。
明したように被検体2の体軸方向に走査されるよう構成
されており、これにより被検体2の2次元的な透過デー
タIが得られる。
【0014】4は補正手段で、X線検出器アレイ3で検
出されたX線の測定データ、例えば個々のX線検出器
(検出素子)が半導体センサで構成されている場合はX
線強度に応じたパルス数を画像表示用の画素値に変換し
て出力する。5は撮影画像及び被検体の被爆X線量を表
示する表示手段である。
出されたX線の測定データ、例えば個々のX線検出器
(検出素子)が半導体センサで構成されている場合はX
線強度に応じたパルス数を画像表示用の画素値に変換し
て出力する。5は撮影画像及び被検体の被爆X線量を表
示する表示手段である。
【0015】6は、被検体2を透過し検出されたX線の
測定データから被検体2の被爆X線量を算出するための
演算処理部で、被検体2の質量厚ρtijを算出する第1
の演算手段6a、被検体2で吸収されたエネルギーJij
を算出する第2の演算手段6b、被検体で吸収されたエ
ネルギーJijと被検体の質量厚ρtijを用いて被検体の
被爆X線量を示す吸収線量Dを算出する第3の演算手段
6c、及びメモリ6dとから構成される。メモリ6dに
は、後述するように第1の演算手段6a〜第3の演算手
段6cでの上記計算に用いられる各種データが予め記憶
されている。
測定データから被検体2の被爆X線量を算出するための
演算処理部で、被検体2の質量厚ρtijを算出する第1
の演算手段6a、被検体2で吸収されたエネルギーJij
を算出する第2の演算手段6b、被検体で吸収されたエ
ネルギーJijと被検体の質量厚ρtijを用いて被検体の
被爆X線量を示す吸収線量Dを算出する第3の演算手段
6c、及びメモリ6dとから構成される。メモリ6dに
は、後述するように第1の演算手段6a〜第3の演算手
段6cでの上記計算に用いられる各種データが予め記憶
されている。
【0016】次に、かかる構成を有するX線撮像装置を
用いて、被検体の放射線被曝量を測定するための手順を
図2のフローチャートに基づいて説明する。まず、被検
体2のX線撮影を行い(S1)、X線検出器アレイ3で
検出されたX線の測定データを補正手段4において画像
用のデータに変換し、表示手段5に撮影画像を表示す
る。
用いて、被検体の放射線被曝量を測定するための手順を
図2のフローチャートに基づいて説明する。まず、被検
体2のX線撮影を行い(S1)、X線検出器アレイ3で
検出されたX線の測定データを補正手段4において画像
用のデータに変換し、表示手段5に撮影画像を表示す
る。
【0017】これに併せて、X線検出器アレイ3で検出
されたX線の測定データは、演算処理部6の第1の演算
手段6aにおいて演算処理され、図3に示されるよう
に、予め撮影領域を格子状に分割した各ピクセルPij毎
の分割データIijとなる(S2)。ここで、図3に示さ
れるピクセルPijは、X線検出器アレイ3のチャンネル
方向と走査方向に所定数のデータ毎に分けられた個々の
領域を示す。例えば、チャンネル数が6000、走査方
向のデータ取得数が6000である場合、チャンネル方
向に100と走査方向に100のデータ数で分ければ、
チャンネル方向に60、走査方向に60のピクセルが形
成され、その総ピクセル数は3600となる。また、分
割データIijは、例えば、ピクセルPijの領域で得られ
た総データの加重平均として求められる。
されたX線の測定データは、演算処理部6の第1の演算
手段6aにおいて演算処理され、図3に示されるよう
に、予め撮影領域を格子状に分割した各ピクセルPij毎
の分割データIijとなる(S2)。ここで、図3に示さ
れるピクセルPijは、X線検出器アレイ3のチャンネル
方向と走査方向に所定数のデータ毎に分けられた個々の
領域を示す。例えば、チャンネル数が6000、走査方
向のデータ取得数が6000である場合、チャンネル方
向に100と走査方向に100のデータ数で分ければ、
チャンネル方向に60、走査方向に60のピクセルが形
成され、その総ピクセル数は3600となる。また、分
割データIijは、例えば、ピクセルPijの領域で得られ
た総データの加重平均として求められる。
【0018】次に、第1の演算手段6aは、メモリ6d
に予め記憶された質量減弱係数(μ/ρ)、及び被検体
が存在しない状態で予め測定し記憶された分割データI
0ij を読み出し、下記の式(1)より、各ピクセルPij
毎に被検体の質量厚(ρt)ijを算出する(S3)。
に予め記憶された質量減弱係数(μ/ρ)、及び被検体
が存在しない状態で予め測定し記憶された分割データI
0ij を読み出し、下記の式(1)より、各ピクセルPij
毎に被検体の質量厚(ρt)ijを算出する(S3)。
【0019】 Iij=I0ij ・e−(μ/ρ)(ρt)ij (1) ここで、μは散乱の影響をも含めた被検体の単位長さ当
たりの減弱量を示す線減弱係数、ρは被検体の密度、t
は被検体の厚みである。
たりの減弱量を示す線減弱係数、ρは被検体の密度、t
は被検体の厚みである。
【0020】第2の演算手段6bは、メモリ6dに予め
記憶された質量エネルギー吸収係数(μ0 /ρ)、1フ
ォトン当たりのエネルギーJ0 を読み出し、第1の演算
手段6aで算出された各ピクセルPij毎の被検体の質量
厚(ρt)ijを用いて、被検体に吸収されたエネルギー
Jijを下記の式(2)より算出する(S4)。
記憶された質量エネルギー吸収係数(μ0 /ρ)、1フ
ォトン当たりのエネルギーJ0 を読み出し、第1の演算
手段6aで算出された各ピクセルPij毎の被検体の質量
厚(ρt)ijを用いて、被検体に吸収されたエネルギー
Jijを下記の式(2)より算出する(S4)。
【0021】 Jij=J0 ・I0ij {1−e−(μ0 /ρ)(ρt)ij} (2) ここで、μ0 は、散乱したX線の影響を除いた被検体の
単位長さ当たりの減弱量を示す線減弱係数である。
単位長さ当たりの減弱量を示す線減弱係数である。
【0022】次に、第3の演算手段6cは、メモリ6d
に予め記憶された1ピクセルPij当たりの面積Aを読み
出し、第1の演算手段6aで算出された質量厚(ρt)
ijと、第2の演算手段6bで算出された被検体に吸収さ
れたエネルギーJijとから下記の式(3)により被検体
の被爆X線量を示す吸収線量Dを算出する(S5)。
に予め記憶された1ピクセルPij当たりの面積Aを読み
出し、第1の演算手段6aで算出された質量厚(ρt)
ijと、第2の演算手段6bで算出された被検体に吸収さ
れたエネルギーJijとから下記の式(3)により被検体
の被爆X線量を示す吸収線量Dを算出する(S5)。
【0023】 D=Σ{Jij/(A・(ρt)ij)}/(i ・j ) (3) ここで、Σは全ピクセルについての総和を示す。
【0024】そして、算出された吸収線量Dは、被検体
の撮影像と共に、表示手段5に表示される。
の撮影像と共に、表示手段5に表示される。
【0025】なお、上述の実施例で示したX線検出器ア
レイは、入射したX線を直接フォトン数として直接検出
するものであったが、電荷量を算出するタイプのもので
あってもよい。この場合、電荷量からフォトン数が算出
され、上述と同様の計算により被検体の被爆線量が算出
される。
レイは、入射したX線を直接フォトン数として直接検出
するものであったが、電荷量を算出するタイプのもので
あってもよい。この場合、電荷量からフォトン数が算出
され、上述と同様の計算により被検体の被爆線量が算出
される。
【0026】また、上述の実施例では被爆線量を算出す
るのに撮影画像全域のデータを用いたが、これを放射線
吸収線量が最も大きいと思われる被検体の特定部分のみ
としてもよい。かかる場合、被爆X線量の精度をほとん
ど落とすことなく迅速に被爆X線量を算出できる。
るのに撮影画像全域のデータを用いたが、これを放射線
吸収線量が最も大きいと思われる被検体の特定部分のみ
としてもよい。かかる場合、被爆X線量の精度をほとん
ど落とすことなく迅速に被爆X線量を算出できる。
【0027】さらに、上述の実施例では、放射線検出器
としてX線検出器アレーを用いたが、検出素子を2次元
状に配設した2次元放射線検出器を用いてもよい。
としてX線検出器アレーを用いたが、検出素子を2次元
状に配設した2次元放射線検出器を用いてもよい。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、別途線量計等特別な装
置を設けることなく、通常の撮影データから被検体の被
爆線量を算出するよう構成したため、より簡単な構成
で、しかも極めて容易に撮影毎の被検体の被爆線量の計
測が可能となる。
置を設けることなく、通常の撮影データから被検体の被
爆線量を算出するよう構成したため、より簡単な構成
で、しかも極めて容易に撮影毎の被検体の被爆線量の計
測が可能となる。
【図1】本発明にかかる放射線撮像装置のブロック図で
ある。
ある。
【図2】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図3】撮影領域をピクセル毎に分割する場合を示す図
である。
である。
【図4】放射線撮像装置の概略図である。
1・・・・・・X線発生器 2・・・・・・被検体 3・・・・・・X線検出器アレイ 4・・・・・・補正手段 5・・・・・・表示手段 6・・・・・・演算処理部
Claims (1)
- 【請求項1】 放射線発生器から被検体に放射線を照射
し、透過した放射線を放射線検出器で検出し、その検出
データから被検体の放射線像を撮影する放射線撮像装置
において、 被検体が存在しない状態で照射された放射線と被検体を
透過した放射線のそれぞれの放射線検出器における検出
データから、被検体の被爆線量を算出する演算手段を備
えたことを特徴とする放射線撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6207389A JPH0866388A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6207389A JPH0866388A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0866388A true JPH0866388A (ja) | 1996-03-12 |
Family
ID=16538935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6207389A Pending JPH0866388A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 放射線撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0866388A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009268827A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置及びその駆動方法 |
JP2012245229A (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Fujifilm Corp | 放射線被曝量取得装置および方法並びにプログラム |
CN112146601A (zh) * | 2019-06-27 | 2020-12-29 | 清华大学 | 基于剂量场检测的辐射成像方法及装置 |
WO2021147600A1 (zh) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 飞瑞医疗器械(嘉兴)有限公司 | X射线的dap计算方法、装置、设备、介质和限束器 |
US11369333B2 (en) | 2019-06-27 | 2022-06-28 | Nuctech Company Limited | Method and apparatus for detecting dose distribution of article |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP6207389A patent/JPH0866388A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009268827A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置及びその駆動方法 |
JP2012245229A (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Fujifilm Corp | 放射線被曝量取得装置および方法並びにプログラム |
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US11369333B2 (en) | 2019-06-27 | 2022-06-28 | Nuctech Company Limited | Method and apparatus for detecting dose distribution of article |
WO2021147600A1 (zh) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 飞瑞医疗器械(嘉兴)有限公司 | X射线的dap计算方法、装置、设备、介质和限束器 |
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