JP6517376B2 - 低減されたパイルアップを有するx線デバイス - Google Patents
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Description
Claims (15)
- 撮像対象物体の画像データを取得するためのX線デバイスであって、前記X線デバイスは、X線源と放射線検出器とを備え、
前記放射線検出器は、放射線を検出するための検出器要素を含み、前記検出器要素の各々は調整可能な感応ボリュームを含み、前記感応ボリュームへ入ったX線光子は、前記画像データを生成するために用いられる電気信号を作り出し、
前記X線デバイスは、高い光子束に曝露される前記検出器要素が、より低い光子束に曝露される検出器要素の感応ボリュームと比べて低減された感応ボリュームを有するよう、前記撮像対象物体の幾何構造に従って前記検出器要素のうちの少なくとも1つの検出器要素の感応ボリュームを制御する制御ユニットを更に備える、X線デバイス。 - 前記制御ユニットは、前記検出器要素の少なくとも一部が、前記撮像対象物体によって作り出された陰影領域の外側に位置する時に、前記撮像対象物体の幾何構造に従って前記検出器要素の前記感応ボリュームを低減する、請求項1に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、前記検出器要素の少なくとも一部が、前記撮像対象物体の別の領域よりも小さいX線減衰係数を有する前記撮像対象物体の領域を横断した放射線を収集した時に、前記検出器要素の前記感応ボリュームを低減する、請求項1に記載のX線デバイス。
- 前記X線源及び前記放射線検出器は、前記撮像対象物体のX線スキャンの間に前記撮像対象物体の周りを回転する、請求項1に記載のX線デバイス。
- 制御プロファイルは、前記X線スキャンの間における前記放射線検出器のいくつかの位置のための前記検出器要素の前記感応ボリュームを制御するための制御パラメータの値を示し、前記制御ユニットは、前記制御プロファイル内で示された前記制御パラメータの値に従って前記制御パラメータを変更することによって前記検出器要素の前記感応ボリュームを制御する、請求項4に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、前記制御プロファイルを記憶するための記憶装置に結合され、前記X線スキャンの実行に関連して前記制御プロファイルを読み出す、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、更なるX線スキャン、特にスカウトスキャンにおいて取得された前記撮像対象物体の1つ又は複数の画像に基づいて前記制御プロファイルを生成する、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、前記撮像対象物体の推定された幾何構造に従って前記制御プロファイルを生成する、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記X線デバイスは、前記撮像対象物体をスキャンする距離計を更に備え、前記制御ユニットは、前記距離計を用いて決定された前記撮像対象物体の寸法に基づいて前記撮像対象物体の幾何構造を推定する、請求項8に記載のX線デバイス。
- 前記撮像対象物体の複数の種別に対する幾何構造のための所定の制御プロファイルが、前記制御ユニット内に記憶され、前記制御ユニットは、前記撮像対象物体の種別についての情報に基づいて前記制御プロファイルを選択する、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記検出器要素は、入射光子に応じて電荷キャリアを生成する変換器要素であって、カソード電極組立体とアノード電極組立体との間に配置されている当該変換器要素を備え、前記アノード電極組立体は、画像データを生成するために用いられる電気信号を作り出すために電荷キャリアを収集するための少なくとも1つのアノード電極と、前記アノード電極と同じか又は前記アノード電極よりも負の電位上に保持され得る少なくとも1つのステアリング電極とを備える、請求項1に記載のX線デバイス。
- 前記検出器要素の前記感応ボリュームは、前記ステアリング電極の電位を前記アノード電極の電位により近づけることによって、又は前記ステアリング電極の電位を前記アノード電極の電位よりも正にすることによって低減される、請求項11に記載のX線デバイス。
- 制御プロファイルが、X線スキャンの間における前記放射線検出器のいくつかの位置のための前記アノード電極と前記ステアリング電極との間の電圧を示すパラメータの値を示し、前記制御ユニットは、前記制御プロファイル内で示された前記パラメータの値に従って電圧を変更することによって前記検出器要素の前記感応ボリュームを制御する、請求項11に記載のX線デバイス。
- 撮像対象物体の画像データを取得するためのX線デバイスの作動の方法であって、前記X線デバイスは、X線源と放射線検出器とを備え、前記放射線検出器は、放射線を検出するための検出器要素を含み、前記検出器要素の各々は、調整可能な感応ボリュームを含み、前記感応ボリュームへ入ったX線光子は、前記画像データを生成するために用いられる電気信号を作り出し、
前記X線デバイスの制御ユニットは、高い光子束に曝露される前記検出器要素が、より低い光子束に曝露される検出器要素の感応ボリュームと比べて低減された感応ボリュームを有するよう、前記撮像対象物体の幾何構造に従って前記検出器要素のうちの少なくとも1つの検出器要素の感応ボリュームを制御する、方法。 - 請求項1に記載のX線デバイスの処理ユニットで実行可能なコンピュータプログラムであって、前記コンピュータプログラムが前記処理ユニット内で実行されると前記処理ユニットに請求項14に記載の方法を実行させるプログラムコード手段を含む、コンピュータプログラム。
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