JP2018527966A5 - - Google Patents
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Claims (15)
- 撮像対象物体の画像データを取得するためのX線デバイスであって、前記X線デバイスは、X線源と放射線検出器とを備え、
前記放射線検出器は、放射線を検出するための検出器要素を含み、前記検出器要素の各々は調整可能な感応ボリュームを含み、前記感応ボリュームへ入ったX線光子は、前記画像データを生成するために用いられる電気信号を作り出し、
前記X線デバイスは、高い光子束に曝露される前記検出器要素が、より低い光子束に曝露される検出器要素の感応ボリュームと比べて低減された感応ボリュームを有するよう、前記撮像対象物体の幾何構造に従って前記検出器要素のうちの少なくとも1つの検出器要素の感応ボリュームを制御する制御ユニットを更に備える、X線デバイス。 - 前記制御ユニットは、前記検出器要素の少なくとも一部が、前記撮像対象物体によって作り出された陰影領域の外側に位置する時に、前記撮像対象物体の幾何構造に従って前記検出器要素の前記感応ボリュームを低減する、請求項1に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、前記検出器要素の少なくとも一部が、前記撮像対象物体の別の領域よりも小さいX線減衰係数を有する前記撮像対象物体の領域を横断した放射線を収集した時に、前記検出器要素の前記感応ボリュームを低減する、請求項1に記載のX線デバイス。
- 前記X線源及び前記放射線検出器は、前記撮像対象物体のX線スキャンの間に前記撮像対象物体の周りを回転する、請求項1に記載のX線デバイス。
- 制御プロファイルは、前記X線スキャンの間における前記放射線検出器のいくつかの位置のための前記検出器要素の前記感応ボリュームを制御するための制御パラメータの値を示し、前記制御ユニットは、前記制御プロファイル内で示された前記制御パラメータの値に従って前記制御パラメータを変更することによって前記検出器要素の前記感応ボリュームを制御する、請求項4に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、前記制御プロファイルを記憶するための記憶装置に結合され、前記X線スキャンの実行に関連して前記制御プロファイルを読み出す、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、更なるX線スキャン、特にスカウトスキャンにおいて取得された前記撮像対象物体の1つ又は複数の画像に基づいて前記制御プロファイルを生成する、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記制御ユニットは、前記撮像対象物体の推定された幾何構造に従って前記制御プロファイルを生成する、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記X線デバイスは、前記撮像対象物体をスキャンする距離計を更に備え、前記制御ユニットは、前記距離計を用いて決定された前記撮像対象物体の寸法に基づいて前記撮像対象物体の幾何構造を推定する、請求項8に記載のX線デバイス。
- 前記撮像対象物体の複数の種別に対する幾何構造のための所定の制御プロファイルが、前記制御ユニット内に記憶され、前記制御ユニットは、前記撮像対象物体の種別についての情報に基づいて前記制御プロファイルを選択する、請求項5に記載のX線デバイス。
- 前記検出器要素は、入射光子に応じて電荷キャリアを生成する変換器要素であって、カソード電極組立体とアノード電極組立体との間に配置されている当該変換器要素を備え、前記アノード電極組立体は、画像データを生成するために用いられる電気信号を作り出すために電荷キャリアを収集するための少なくとも1つのアノード電極と、前記アノード電極と同じか又は前記アノード電極よりも負の電位上に保持され得る少なくとも1つのステアリング電極とを備える、請求項1に記載のX線デバイス。
- 前記検出器要素の前記感応ボリュームは、前記ステアリング電極の電位を前記アノード電極の電位により近づけることによって、又は前記ステアリング電極の電位を前記アノード電極の電位よりも正にすることによって低減される、請求項11に記載のX線デバイス。
- 制御プロファイルが、X線スキャンの間における前記放射線検出器のいくつかの位置のための前記アノード電極と前記ステアリング電極との間の電圧を示すパラメータの値を示し、前記制御ユニットは、前記制御プロファイル内で示された前記パラメータの値に従って電圧を変更することによって前記検出器要素の前記感応ボリュームを制御する、請求項11に記載のX線デバイス。
- 撮像対象物体の画像データを取得するためのX線デバイスの作動の方法であって、前記X線デバイスは、X線源と放射線検出器とを備え、前記放射線検出器は、放射線を検出するための検出器要素を含み、前記検出器要素の各々は、調整可能な感応ボリュームを含み、前記感応ボリュームへ入ったX線光子は、前記画像データを生成するために用いられる電気信号を作り出し、
前記X線デバイスの制御ユニットは、高い光子束に曝露される前記検出器要素が、より低い光子束に曝露される検出器要素の感応ボリュームと比べて低減された感応ボリュームを有するよう、前記撮像対象物体の幾何構造に従って前記検出器要素のうちの少なくとも1つの検出器要素の感応ボリュームを制御する、方法。 - 請求項1に記載のX線デバイスの処理ユニットで実行可能なコンピュータプログラムであって、前記コンピュータプログラムが前記処理ユニット内で実行されると前記処理ユニットに請求項14に記載の方法を実行させるプログラムコード手段を含む、コンピュータプログラム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP15174564.3 | 2015-06-30 | ||
EP15174564 | 2015-06-30 | ||
PCT/EP2016/064497 WO2017001269A1 (en) | 2015-06-30 | 2016-06-23 | X-ray device with reduced pile-up |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018527966A JP2018527966A (ja) | 2018-09-27 |
JP2018527966A5 true JP2018527966A5 (ja) | 2019-03-07 |
JP6517376B2 JP6517376B2 (ja) | 2019-05-22 |
Family
ID=53498889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017567402A Active JP6517376B2 (ja) | 2015-06-30 | 2016-06-23 | 低減されたパイルアップを有するx線デバイス |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10470723B2 (ja) |
EP (1) | EP3316781B1 (ja) |
JP (1) | JP6517376B2 (ja) |
CN (1) | CN107809953B (ja) |
WO (1) | WO2017001269A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6849356B2 (ja) * | 2016-09-13 | 2021-03-24 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用画像診断装置 |
US11076823B2 (en) | 2017-06-28 | 2021-08-03 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus including a photon-counting detector and circuitry configured to set a control parameter corresponding to a position of each detecting element in the photon-counting detector |
JP6968593B2 (ja) * | 2017-06-28 | 2021-11-17 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線ct装置 |
JP6968594B2 (ja) * | 2017-06-28 | 2021-11-17 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線ct装置 |
CN111226137B (zh) | 2017-10-26 | 2023-07-14 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 用于x射线荧光的检测器 |
US10660601B2 (en) * | 2018-01-02 | 2020-05-26 | Shanghai United Imaging Healtcare Co., Ltd. | Systems and methods for monitoring a medical device |
CN113008913A (zh) * | 2019-12-20 | 2021-06-22 | 万睿视影像有限公司 | 使用放射性同位素的用于管道和其他结构的射线照相检查系统 |
US11733182B2 (en) * | 2019-12-20 | 2023-08-22 | Varex Imaging Corporation | Radiographic inspection system for pipes and other structures using radioisotopes |
DE102020216576B3 (de) | 2020-12-28 | 2021-12-30 | Siemens Healthcare Gmbh | Röntgendetektoreinheit mit einer anpassbaren Spannungsversorgung und Verfahren zum Betrieb einer Röntgendetektoreinheit |
DE102022000101A1 (de) | 2022-01-12 | 2023-07-13 | Giesecke+Devrient Currency Technology Gmbh | Optisch variables Sicherheitselement |
JP2024032518A (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-12 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、撮影システム、画像処理方法、及びプログラム |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7227924B2 (en) | 2000-10-06 | 2007-06-05 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Computed tomography scanning system and method using a field emission x-ray source |
JP2004239699A (ja) * | 2003-02-05 | 2004-08-26 | Ntn Corp | 角度検出装置および角度検出装置付き軸受 |
CN101258577A (zh) * | 2005-06-10 | 2008-09-03 | 增强技术公司 | 高灵敏度、高分辨率的检测器装置和阵列 |
US20070290142A1 (en) * | 2006-06-16 | 2007-12-20 | General Electeric Company | X-ray detectors with adjustable active area electrode assembly |
WO2009115956A2 (en) * | 2008-03-19 | 2009-09-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Single photon radiation detector |
EP2265974B1 (en) * | 2008-04-10 | 2015-06-17 | Koninklijke Philips N.V. | Modular multi-geometry pet system |
US8314395B2 (en) | 2009-08-31 | 2012-11-20 | General Electric Company | Semiconductor crystal based radiation detector and method of producing the same |
US8160200B2 (en) | 2010-03-30 | 2012-04-17 | General Electric Company | Method and system for image data acquisition |
CN103097913B (zh) * | 2010-09-13 | 2015-09-09 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 具有操纵电极的辐射探测器 |
EP2751596B1 (en) * | 2011-08-30 | 2017-07-19 | Koninklijke Philips N.V. | Photon counting detector |
CN104220899A (zh) | 2012-03-27 | 2014-12-17 | 皇家飞利浦有限公司 | 利用具有光子计数探测器的成像系统的常规成像 |
JP2014048171A (ja) | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Tele Systems:Kk | 放射線検出器に駆動用のバイアス電圧を供給する装置及びその方法 |
KR20150001184A (ko) | 2013-06-26 | 2015-01-06 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 촬영 장치 및 그 동작 방법 |
DE102014204042A1 (de) * | 2014-03-05 | 2015-09-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Ansteuerung eines Röntgendetektors und zugehörige Steuereinheit |
-
2016
- 2016-06-23 CN CN201680038827.9A patent/CN107809953B/zh active Active
- 2016-06-23 JP JP2017567402A patent/JP6517376B2/ja active Active
- 2016-06-23 WO PCT/EP2016/064497 patent/WO2017001269A1/en active Application Filing
- 2016-06-23 EP EP16731167.9A patent/EP3316781B1/en active Active
- 2016-06-23 US US15/580,290 patent/US10470723B2/en active Active
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