JP2015167860A - X線コンピュータ断層撮影装置、位置ずれ特定方法、および位置ずれ特定プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】第3世代のスキャン機構のアイソセンタに対する第4世代のスキャン機構のアイソセンタの位置ずれを特定可能なX線コンピュータ断層撮影装置の提供。
【解決手段】本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線管と第1検出器を回転可能に支持する回転フレームと、X線を検出する第2検出器を固定して支持する固定フレームと、第1検出器に係る第1アイソセンタに対する第2検出器に係る第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像を記憶する記憶部と、回転フレームを回転させてスキャンを実行することにより、第1検出器からの出力に基づいて第2画像を再構成する再構成部と、第1及び第2画像の画素値に基づいて位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算する計算部と、指標値に基づいて、複数の位置ずれのうち第2画像に関する第2アイソセンタの位置ずれを特定する位置ずれ特定部と、を具備する。
【選択図】図7
【解決手段】本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線管と第1検出器を回転可能に支持する回転フレームと、X線を検出する第2検出器を固定して支持する固定フレームと、第1検出器に係る第1アイソセンタに対する第2検出器に係る第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像を記憶する記憶部と、回転フレームを回転させてスキャンを実行することにより、第1検出器からの出力に基づいて第2画像を再構成する再構成部と、第1及び第2画像の画素値に基づいて位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算する計算部と、指標値に基づいて、複数の位置ずれのうち第2画像に関する第2アイソセンタの位置ずれを特定する位置ずれ特定部と、を具備する。
【選択図】図7
Description
本明細書で開示される実施形態は、一般に、コンピュータ断層撮影(Computed Tomography:以下、CTと呼ぶ)に関する。詳細には、本明細書で開示される実施形態は、第4世代検出器の影パターンを用いて第3世代のCTシステム座標に対して第4世代検出器を位置合せするX線コンピュータ断層撮影装置、および関連する方法、プログラムに関する。
X線コンピュータ断層撮影(CT)は、その最も簡単な表現によれば、対象(被検体)および検出器を横断するX線ビームで、線当たりの全体の減弱量を示すことである。減弱量は、対象が存在する場合と存在しない場合で同じX線を比較することから導かれる。この概念的な定義から画像を適正に構成するためには、いくつかのステップが必要である。例えば、X線発生器の有限な寸法、発生器からの非常に低エネルギーのX線を遮るフィルタの性質および形状、検出器の幾何形状および特性の詳細、ならびに取得システムの容量などは、すべて実際の再構成を行う方法に影響する要素である。
組み合わされた第3世代および第4世代CTスキャナの場合、システム行列(system matrix)は、第3世代CTシステム座標に対する第4世代の疎な光子計数検出器のオフセット(位置ずれ、差異)の知識を必要とする。第3世代のアイソセンタと第4世代検出器のアイソセンタとの間のオフセットが正確に知られていない場合、システム行列は不正確なものとなり、再構成された画像にアーティファクトを生ずることになる。さらに、オフセットは、温度で誘発された材料の拡大、およびガントリ回転に起因して、時間が経過すると変化する可能性がある。
目的は、第3世代のスキャン機構のアイソセンタに対する第4世代のスキャン機構のアイソセンタの位置ずれを特定可能なX線コンピュータ断層撮影装置、位置ずれ特定方法および位置ずれ特定プログラムを提供することにある。
本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線管と第1検出器とを回転可能に支持する回転フレームと、前記X線管により発生されたX線を検出する第2検出器を固定して支持する固定フレームと、前記第1検出器に関する第1アイソセンタに対する前記第2検出器に関する第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像を記憶する記憶部と、前記回転フレームを回転させてスキャンを実行することにより、前記第1検出器からの出力に基づいて第2画像を再構成する再構成部と、前記第1画像の画素値と前記第2画像の画素値とに基づいて前記位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算する計算部と、前記指標値に基づいて、前記複数の位置ずれのうち、前記第2画像に関する前記第2アイソセンタの位置ずれを特定する位置ずれ特定部と、を具備することを特徴とする。
一実施形態では、第4世代X線コンピュータ断層撮影(CT)のスキャナに対して、第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対する固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセット(位置ずれ)を求めるための方法が提供される。その方法は、(1)複数のオフセット画像(第1画像)を取得することであり、各オフセット画像は、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して公知のオフセット位置に配置された状態で実行されるスキャンから取得されることと、(2)現在の画像(第2画像)を取得するために、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して未知のオフセット位置に配置された状態で実行される現在のスキャンを実施することと、(3)複数の誤差値を取得するために、各オフセット画像に対して、オフセット画像と現在の画像との間の対応する誤差値を計算することと、(4)複数の誤差値のうちの最小の誤差値を求めることと、(5)複数のオフセット画像のうちの、求められた最小の誤差値を有するオフセット画像に対応するオフセット位置になるように、固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセットを求めることとを具備する。
他の実施形態では、取得ステップは、オフセット画像のデータベースからオフセット画像を取得することを備え、各オフセット画像が空気スキャンまたは公知のファントムのスキャンにより生成される。
他の実施形態では、計算ステップは、各オフセット画像に対して、現在の画像におけるピクセルにおける画素値と、オフセット画像におけるピクセルにおける画素値との間の平均二乗誤差を計算することを具備する。
他の実施形態では、取得ステップは、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタ付近の様々な公知のオフセット位置に配置されたときに、複数のオフセット画像が生成された画像を含むように複数のオフセット画像を取得することを具備する。例えば、公知のオフセット位置は、第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタを中心とした2次元グリッドで配置される。
他の実施形態では、第4世代X線コンピュータ断層撮影(CT)のスキャナに関して、第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対する固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセットを求めるための方法が提供される。その方法は、(1)複数のオフセット画像を取得することであり、各オフセット画像は、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して公知のオフセット位置に配置された状態で実行されるスキャンから取得されることと、(2)現在の画像を取得するために、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して未知のオフセット位置に配置された状態で実行される現在のスキャンを実施することと、(3)複数の誤差値を取得するために、各オフセット画像に対して、オフセット画像と現在の画像との間の対応する相関値を計算することと、(4)複数の相関値のうちの最大の相関値を求めることと、(5)複数のオフセット画像のうちの、求められた最大の相関値を有するオフセット画像に対応するオフセット位置になるように、固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセットを求めることとを具備する。
他の実施形態では、第4世代X線コンピュータ断層撮影(CT)のスキャナにおいて、第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対する固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセットを求めるための装置が提供される。その装置は、処理回路に、(1)複数のオフセット画像を取得することであり、各オフセット画像は、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して公知のオフセット位置に配置された状態で実行されるスキャンから取得されることと、(2)現在の画像を取得するために、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して未知のオフセット位置に配置された状態で実行される現在のスキャンを実施することと、(3)複数の誤差値を取得するために、各オフセット画像に対して、オフセット画像と現在の画像との間の対応する誤差値を計算することと、(4)複数の誤差値のうちの最小の誤差値を求めることと、(5)複数のオフセット画像のうちの、求められた最小の誤差値を有するオフセット画像に対応するオフセット位置になるように、固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセットを求めることとを実施させるプログラムを実行するように構成された処理回路を具備する。
装置は、複数のオフセット画像を記憶するメモリをさらに含むことができ、各オフセット画像がオフセット画像の対応するオフセット位置に関連付けて記憶される。
次に図面を参照すると、図1は、回転する第3世代供給源(generation source)/検出器システムと共に、静的であり(stationary)、疎に分散された第4世代検出器を有する、組み合わされた第3/第4世代システムを示している。
ここで、第3世代供給源(generation source)とは、例えばX線管である。図1における番号1は、X線管を示している。図1のおける番号3は、第3世代のX線検出器(例えば、積分型のX線検出器)を示している。図1における番号8は、開口9より大きい口径であって、固定フレーム13に疎に配置された第4世代のX線検出器(例えば、光子計数型X線検出器)である。
図4および図5から分かるように、第3世代検出器の検出面には、発生されたX線により、第4世代検出器の影が発生する。第4世代検出器の影は、結果として第3世代検出器からの出力による再構成画像にアーティファクトを生成する。アーティファクトは明確に定義されたパターンを有し、アーティファクトのパターンは、第3世代のアイソセンタに対する第4世代検出器の位置に基づいて変化することを認識していた。したがって、本実施形態では、アーティファクトのパターンは、x−y平面における第4世代検出器の中心を第3世代のアイソセンタに位置合せするために使用される。
例えば、図3は、内側の、疎なリングがアイソセンタに中心を置いた第3世代検出器からの出力による再構成画像を示している。対照的に、図4では、内側のリングはオフセットされ、x=−2mm、y=−4mmに中心がある。さらに、図5では、内側リングはオフセットされ、x=1mm、y=0.5mmに中心がある。
一実施形態では、図2Aで示すように、第4世代の疎なリングの、第3世代アイソセンタからのオフセットは、以下の方法を用いて計算される。
ステップ201で、第3世代検出器からの出力による再構成画像(第3世代画像)は、第4世代検出器が様々な公知のオフセット位置(位置ずれ)に配置された状態で、例えば空気スキャンまたはファントムスキャンを用いて、再構成される。すなわち、ステップ201において、データベースに記憶される一連の第1画像(オフセット画像)を取得するために、第3世代検出器による一連の空気スキャンが実行され、xおよびy方向における様々な位置ずれに配置された4世代検出器に関する画像再構成が実行される。例えば、10個のx方向オフセット、および10個のy方向オフセットが、100枚の画像を生成するために使用される。xおよびyの他の数のオフセットを使用することもできる。取得された画像は、一回(または一定間隔)で取得され、後に使用するためにメモリのデータベースに格納される。
ステップ201で、第3世代検出器からの出力による再構成画像(第3世代画像)は、第4世代検出器が様々な公知のオフセット位置(位置ずれ)に配置された状態で、例えば空気スキャンまたはファントムスキャンを用いて、再構成される。すなわち、ステップ201において、データベースに記憶される一連の第1画像(オフセット画像)を取得するために、第3世代検出器による一連の空気スキャンが実行され、xおよびy方向における様々な位置ずれに配置された4世代検出器に関する画像再構成が実行される。例えば、10個のx方向オフセット、および10個のy方向オフセットが、100枚の画像を生成するために使用される。xおよびyの他の数のオフセットを使用することもできる。取得された画像は、一回(または一定間隔)で取得され、後に使用するためにメモリのデータベースに格納される。
ステップ202で、ステップ201で画像が取得された後にしばらくして、(未知のオフセットを有する)スキャナに対する現在の第3世代画像が取得される。すなわち、ステップ202において、第2画像(現在の画像)を取得するために、第3世代検出器による空気スキャンが実行され、未知の位置ずれにおける第4世代検出器に関する画像再構成が実行される。
ステップ203で、現在の画像のピクセル値と、それぞれのオフセット画像のピクセル値との間の平均二乗誤差(Mean Square Error:MSE)が、例えば、
一般的には、ステップ203で、同位置(上式における添え字i)における現在の画像の画素値と複数のオフセット画像各々の画素値とを用いて、複数のオフセット画像にそれぞれ対応する複数の指標値が計算される。指標値とは、現在の画像と複数のオフセット画像各々との、類似性または相違性を示す指標値である。相違性を示す指標値とは、例えば、誤差値などである。誤差値とは、例えば、MSE、二乗平均平方根(Root Mean Square Error:RMSE)などである。類似性を示す指標値とは、例えば、相関値である。
ステップ204で、現在の画像のオフセットは、ステップ203で計算された最小のMSEを有する画像のオフセットと同じになるように決定される。加えて、オフセットをさらに正確に見出すために、双線形補間を使用することができる。すなわち、ステップ204において、ステップ203で得られたMSE値のうち最小のMSE値が特定され、第4世代検出器の位置ずれが、特定された最小のMSE値に関連付けられた第1画像に関連する位置ずれとして決定される。
他の実施形態では、図2Bで示すように、第4世代の疎なリングの、第3世代のアイソセンタからのオフセットは、以下の方法を用いて計算される。
ステップ211で、第3世代の画像は、4世代検出器が様々な公知のオフセット位置に配置された状態で、例えば空気スキャンまたはファントムスキャンを用いて、再構成される。すなわち、ステップ211において、第3世代検出器による一連の空気スキャンが実行され、xおよびy方向における様々な位置ずれに配置された4世代検出器に関する画像再構成が実行される。例えば、10個のx方向オフセット、および10個のy方向オフセットが、100枚の画像を生成するために使用される。xおよびyの他の数のオフセットを使用することもできる。取得された画像は、一回(または一定間隔)で取得され、後に使用するためにメモリのデータベースに格納される。
ステップ212で、ステップ211で画像が取得された後にしばらくして、(未知のオフセットを有する)スキャナに対する現在の第3世代画像が取得される。すなわち、ステップ212において、第3世代検出器による空気スキャンが実行され、未知の位置ずれにおける第4世代検出器に関する画像再構成が実行される。
ステップ213で、現在の画像と、すべてのオフセット画像との間の相関値が計算される。例えば、相互相関を、
ステップ214で、現在の画像のオフセットは、ステップ213で計算された最大の相関を有する画像のオフセットと同じになるように決定される。加えて、オフセットをさらに正確に見出すために、双線形補間を使用することができる。すなわち、ステップ214において、ステップ213で得られた相関値のうち最大の相関値が特定され、第4世代検出器の位置ずれが、特定された最大の相関値に関連付けられた第1画像に関連する位置ずれとして決定される。
図6は、本明細書で述べる検出器を含むCTスキャナ装置の基本構造を示す。図6のCT装置は、X線管1と、フィルタおよびコリメータ2と、第3世代の検出器3とを含む。図1で示されるように、CT装置はまた、第4世代スキャナを構成する、疎な固定されたエネルギー識別検出器を含む。CT装置はまた、回転フレームの回転を制御し、X線源を制御し、かつ患者のベッドを制御する制御器4および回転ユニットなどの、さらなる機械的かつ電気的な構成要素を有する。CT装置はまた、データ収集システム5およびプロセッサ6を含み、データ収集システムにより収集された投影(ビュー)データに基づいて、CT画像を生成する。プロセッサ6は、コンピュータプログラムを実行できる、CPUまたはその他のハードウェア処理回路とすることができる。プロセッサおよびデータ収集システム5は、メモリ7を利用する。そのメモリ7は、例えば検出器から取得された投影データおよび再構成された画像を格納するように構成されている。
一実施形態では、プロセッサは、上記で論じたように、収集された投影データに基づいて、一連のオフセットされたCT画像を再構成するように構成された再構成プロセッサを含む。プロセッサはまた、図2Aおよび図2Bのフローチャート中のステップを実施するように構成/プログラムされる。
本CT装置において、第3世代のスキャン機構におけるアイソセンタと、第4世代のスキャン機構におけるアイソセンタとの位置ずれ(オフセット)が決定されると、例えばプロセッサ6は、決定された位置ずれに基づいて、システム行列(System Matrix)を補正する。プロセッサ6は、投影データと補正したシステム行列とを用いて、画像を再構成する。
なお、プロセッサ6は、決定された位置ずれを用いて、非補正のシステム行列を用いて再構成された画像(以下、非補正再構成画像と呼ぶ)を、補正してもよい。具体的には、非補正再構成画像において、決定された位置ずれに起因するアーチファクトが、プロセッサ6により補正される。
一実施形態では、図1および図6で示す第4世代のX線スペクトルコンピュータ断層撮影(CT)スキャナ装置は、回転するX線源1と,第3世代検出器3と、複数の固定されたエネルギー識別検出器(図1)とを含む。さらに、ハードウェアプロセッサ(処理回路)6は、処理回路に、(1)ハードウェアメモリから、複数のオフセット画像を取得することであり、各オフセット画像が、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して知られたオフセット位置に配置された状態で実行されるスキャンから取得されること、(2)コントローラに、現在の画像を取得するために、固定されたエネルギー識別検出器のリングが第3世代X線源/検出器システムのアイソセンタに対して未知のオフセット位置に配置された状態で実行される現在のスキャンを実施させること、(3)複数の誤差値を得るために、各オフセット画像に対して、オフセット画像と現在の画像との間の対応する誤差値を計算すること、(4)複数の誤差値のうちの最小の誤差値を求めること、および(5)複数のオフセット画像のうちの、求められた最小の誤差値を有するオフセット画像に対応するオフセット位置になるように、固定されたエネルギー識別検出器のリング中心の位置的オフセットを求めることを実施させるプログラムを実行するように構成される。
当業者であれば理解されるように、プロセッサ6は、特定用途向け集積回路(ASIC)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、または他のプログラム可能論理デバイス(CPLD)など、個別の論理ゲートとして実装できるCPUを含むことができる。FPGAまたはCPLD実装は、任意の他のハードウェア記述言語でコーディングしてもよいし、またそのコードは、FPGAまたはCPLD内の電子メモリに直接格納されるか、または別個の電子メモリとして格納されてもよい。さらにメモリは、ROM、EPROM、EEPROM、またはフラッシュメモリなど、不揮発性のものであってもよい。メモリはまた、スタティックまたはダイナミックRAMなどの揮発性のものとすることができ、またマイクロコントローラもしくはマイクロプロセッサなどのプロセッサは、FPGAまたはCPLDとメモリ間の対話と同様に、電子メモリを管理するために提供されてもよい。
代替的に、再構成プロセッサにおけるCPUは、本明細書で述べた機能を実施する1組のコンピュータ可読命令を含むコンピュータプログラムを実行してもよく、そのプログラムは、上記で述べた非一時的な電子メモリ、および/またはハードディスクドライブ、CD、DVD、フラッシュドライブ、あるいは任意のその他公知の記憶媒体のいずれかに格納される。さらに、コンピュータ可読命令は、ユーティリティアプリケーション、バックグラウンドデーモン、もしくは(or)オペレーティングシステムのコンポーネント、またはそれらの組合せとして提供してもよい。また、コンピュータ可読命令は、プロセッサや、オペレーティングシステムおよび当業者に公知のその他オペレーティングシステムと共に実行される。
事前に再構成されたプロセッサにより処理された後、処理された信号は、CT画像を生成するように構成された、再構成プロセッサに渡される。画像はメモリに格納され、および/またはディスプレイ上に表示される。当業者であれば理解されるように、メモリは、ハードディスクドライブ、CD−ROMドライブ、DVDドライブ、フラッシュドライブ、RAM、ROM、または当技術分野では公知である任意のその他電子的なストレージとすることができる。ディスプレイは、LCDディスプレイ、CRTディスプレイ、プラズマディスプレイ、OLED、LED、または当技術分野では公知である任意のその他ディスプレイとして実施することができる。したがって、本明細書で提供されるメモリおよびディスプレイの記述は、単に例示的なものに過ぎず、本提案でもたらされる進歩(advancement)の範囲を決して限定するものではない。
いくつかの実施形態が述べられてきたが、これらの実施形態は、例示のために提示されているに過ぎず、本発明の範囲を限定することを意図していない。実際に、本明細書で述べられた新たな方法およびシステムは、様々な他の形態で実施することができる。さらに、本明細書で述べた方法およびシステムの形態における様々な除外、置換え、および変更は、本発明の趣旨から逸脱することなく行ってもよい。添付の特許請求の範囲およびその均等な形態は、このような形態もしくは変更を、本発明の範囲および趣旨に含まれるものとして包含するように意図されている。
以下、本X線コンピュータ断層撮影装置について、図7を用いて、より詳細に説明する。図7は、X線コンピュータ断層撮影装置10の構成の一例を示す構成図である。本X線コンピュータ断層撮影装置10は、図7に示すように、電流調整器11と、高電圧発生器12と、ガントリ100と、前処理デバイス111と、再構成部117と、記憶部7と、計算部118と、位置ずれ特定部119と、補正部120と、表示デバイス121と、入力デバイスと122、制御器4とを有する。図6のプロセッサ6は、図7において、例えば、前処理デバイス111と、再構成部117と、計算部118と、位置ずれ特定部119と、補正部120とに相当する。
電流調整器11は、制御器4による制御のもとで、高電圧発生器12に供給する電流を調整する。高電圧発生器12は、制御器4による制御のもとで、電流調整器11から供給された電流により、高電圧を発生する。高電圧発生器12は、スリップリング108を介して、発生した高電圧をX線管1に印加する。なお、電流調整器11と高電圧発生器12とのうち少なくとも一方は、回転フレーム102に搭載されてもよい。このとき、電流調整器11は、調整した電流を、スリップリング108を介して高電圧発生器12に供給する。
ガントリ100は、X線管1と、コリメータ2と、第1検出器3と、回転フレーム102と、データ収集システム5と、回転ユニット104と、非接触データ伝送器106と、第2検出器8と、固定フレーム13とを有する。回転フレーム102は、X線管1と第1検出器3とを互いに対向させて搭載する。加えて、回転フレーム102には、データ収集システムが搭載される。
回転フレーム102に搭載されたX線管、第1検出器、データ収集システムは、例えば、第3世代のスキャン機構に対応する。第1検出器3は、例えば、エネルギー積分型のX線検出器である。エネルギー積分型の検出器は、入射X線ビームの測定強度を取り込む。測定強度は、測定期間中に検出素子に衝突する全ての光子のエネルギーの合計である。回転ユニット104は、制御器4による制御のもとで、回転フレーム102を回転させる。
固定フレーム13は、環状であって、ガントリ100に固定される。固定フレーム13の直径は、例えば、開口9の直径より大きい。加えて、固定フレーム13の半径は、回転フレーム102の回転半径より小さい。固定フレーム13は、疎な状態で複数の第2検出器8を搭載する。第2検出器8は、例えば、光子計数型のX線検出器である。
X線管1は、スリップリング108を介した高電圧発生器12からの出力に基づいて、X線を発生する。X線の焦点から放射されたX線は、X線管1のX線放射窓に取り付けられたコリメータ2により、例えばコーンビーム形(角錐形)に整形される。X線の放射範囲は、図6および7において、点線で示されている。X軸は、回転軸Zと直交し、放射されるX線の焦点を通る直線である。Y軸は、X軸および回転軸Zと直交する直線である。なお、説明の便宜上このXYZ座標系は、回転軸Zを中心として回転する回転座標系として説明する。
第1検出器3は、回転軸Zを挟んでX線管1に対向する位置およびアングルで、回転フレーム102に搭載される。第1検出器3は、複数のX線検出素子を有する。ここでは、単一のX線検出素子が単一のチャンネルを構成しているものとして説明する。複数のチャンネルは、回転軸Zに直交し、かつ放射されるX線の焦点を中心として、この中心から1チャンネル分のX線検出素子の受光部中心までの距離を半径とする円弧方向(チャンネル方向)とZ方向(スライス方向)との2方向に関して2次元状に配列される。第1検出器3に関するアイソセンタを第1アイソセンタと呼ぶ。
なお、第1検出器3は、複数のX線検出素子を1列に配列した複数のモジュールで構成されてもよい。このとき、モジュール各々は、上記チャンネル方向に沿って略円弧方向に1次元状に配列される。また、複数のX線検出素子は、チャンネル方向とスライス方向との2方向に関して2次元状に配列させてもよい。すなわち、2次元状の配列は、上記チャンネル方向に沿って一次元状に配列された複数のチャンネルを、スライス方向に関して複数列並べて構成される。このような2次元状のX線検出素子配列を有するX線検出部107は、略円弧方向に1次元状に配列される複数の上記モジュールをスライス方向に関して複数列並べて構成してもよい。第1検出器3の出力側には、データ収集システム(Data Aquisition Sistem:DAS)5が接続される。
撮影又はスキャンに際しては、X線管1と第1検出器3との間の円筒形の開口(撮影領域)9内に、被検体Pが天板に載置され、挿入される。以下、天板にいずれの物体も載置されない状態(未載置状態)で実行されるスキャンを空気スキャンと呼ぶ。すなわち、空気スキャンは、空気に対して実行されるスキャンである。また、天板に公知のファントムが載置された状態で実行されるスキャンをファントムスキャンと呼ぶ。
空気スキャンまたはファントムスキャンは、第1アイソセンタに対する第2アイソセンタの複数の位置ずれ(オフセット)各々を予め設定して実行される。このとき、位置ずれは既知である。位置ずれが既知の状態で実行される空気スキャンまたはファントムスキャンを、既知スキャンと呼ぶ。空気スキャンおよびファントムスキャンは、位置ずれが未知の状態で実行される。位置ずれが未知の状態で回転フレームを回転させて実行される空気スキャンまたはファントムスキャンを、未知スキャンと呼ぶ。
データ収集システム5は、第1検出器3の各チャンネルの電流信号を電圧に変換するI−V変換器と、この電圧信号をX線の曝射周期に同期して周期的に積分する積分器と、この積分器の出力信号を増幅するアンプと、このアンプの出力信号をディジタル信号変換するアナログ・ディジタル・コンバータとが、チャンネルごとに取り付けられている。データ収集システム5は、第1検出器3からの出力に基づいて、(純生データ(pure raw data))を発生する。
具体的には、データ収集システム5は、純生データを収集した時点におけるビュー角を表すデータ(ビュー角データ)と関連付けて、複数のチャンネル各々の純生データを発生する。純生データとは、第1検出器3の出力に応じたデータ値の集合である。ここでは説明の便宜上、ワンショットで略同時に収集したビュー角が同一である全チャンネルにわたる一揃いの純生データを、純生データセットと称する。
また、ビュー角は、X線管1が回転軸Zを中心として周回する円軌道の各位置を、回転軸Zから鉛直上向きにおける円軌道の最上部を0°として360°の範囲の角度で表したものである。なお、純生データセットの各チャンネルに対するデータ値は、回転フレーム113の回転数、ビュー角、コーン角、チャンネル番号によって識別される。データ収集システム5は、純生データセットを、ビュー角ごとに非接触データ伝送器106を介して、前処理デバイス111に出力する。
第2検出器8は、X線管1により発生されたX線を検出する。複数の第2検出器は、所定の間隔を空けて、固定フレーム13に支持される。すなわち、複数の第2検出器は、固定フレーム13上に、疎に配置される。第2検出器8は、例えば、X線のエネルギーを識別可能なX線検出器である。すなわち、第2検出器8は、光子計数検出型の検出器である。第2検出器8は、X線管1で発生されたX線光子(X線フォトン)を検出し、検出したX線フォトン数(計数)に応じた出力信号を再構成部117に出力する。第2検出器8に関するアイソセンタを第2アイソセンタと呼ぶ。例えば、初期設定において、第2アイソセンタは、第1アイソセンタと略同位置に設定される。
前処理デバイス111は、非接触データ伝送器106から出力された純生データセットに対して前処理を施す。前処理には、例えばチャンネル間の感度不均一補正処理、X線強吸収体、主に金属部による極端な信号強度の低下または、信号脱落を補正する処理等が含まれる。前処理デバイス111から出力された再構成処理直前のデータ(生データ(raw data)または、投影データと称される、ここでは投影データという)は、ビュー角データと関連付けられて、磁気ディスク、光磁気ディスク、又は半導体メモリを備えた記憶部7に記憶される。
すなわち、前処理デバイス111は、複数のチャンネル各々の投影データを、ビュー角データと関連付けられて発生する。なお、投影データとは、被検体を透過したX線の強度に応じたデータ値の集合である。ここでは説明の便宜上、ワンショットで略同時に収集したビュー角が同一である全チャンネルにわたる一揃いの投影データを、投影データセットと称する。すなわち、純生データセットと投影データセットとは、前処理を介して対応する。
再構成部117は、ビューアングルが360°又は180°+ファン角の範囲内の投影データセットに基づいて、フェルドカンプ法またはコーンビーム再構成法により、略円柱形の3次元画像(ボリュームデータ)を再構成する機能を有する。再構成部117は、例えばファンビーム再構成法(ファンビーム・コンボリューション・バックプロジェクション法ともいう)またはフィルタード・バックプロジェクション法により2次元画像(断層画像)を再構成する機能を有する。再構成部117は、ボリュームデータに基づいて、任意の断面の医用画像を発生する。再構成部117は、再構成したボリュームデータおよび医用画像を記憶部7に出力する。
フェルドカンプ法は、コーンビームのように再構成面に対して投影レイが交差する場合の再構成法である。フェルドカンプ法は、コーン角が小さいことを前提として畳み込みの際にはファン投影ビームとみなして処理し、逆投影はスキャンの際のレイに沿って処理する近似的画像再構成法である。コーンビーム再構成法は、フェルドカンプ法よりもコーン角のエラーが抑えられる方法として、再構成面に対するレイの角度に応じて投影データを補正する再構成法である。
再構成部117は、既知スキャンに関する投影データセットに基づいて、第1アイソセンタを含む断面画像を再構成する。具体的には、再構成部117は、複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の断面画像(以下、第1画像と呼ぶ)を再構成する。複数の第1画像(オフセット画像)各々には、位置ずれの影響(例えばアーチファクト)が現れる。再構成部117は、再構成した複数の第1画像を、記憶部7に出力する。
図3は、位置ずれなし、すなわち第1アイソセンタと第2アイソセンタとの差異が無い場合における第1画像を示している。図4は、第1アイソセンタの位置を基準(x=0mm、y=0mm)として、固定フレーム(内側のリング)の第2アイソセンタが、x=−2mm、y=−4mmに位置するときの第1画像を示している。図5は、第1アイソセンタの位置を基準(x=0mm、y=0mm)として、固定フレーム(内側のリング)の第2アイソセンタが、x=1mm、y=0.5mmに位置するときの第1画像を示している。図4、図5に示すように、複数の位置ずれ各々は、第1アイソセンタを中心とする2次元グリッドで設定されてもよい。
再構成部117は、未知スキャンに関する投影データセットに基づいて、第2画像を再構成する。第2画像には、未知の位置ずれに関する影響(例えばアーチファクト)が現れる。再構成部117は、再構成した第2画像を計算部118に出力する。
図示していないインターフェースは、本X線コンピュータ断層撮影装置10と電子的通信回線(以下、ネットワークと呼ぶ)とを接続する。ネットワークには、図示していない放射線部門情報管理システムおよび図示していない病院情報システム、外部サーバなどが接続される。
記憶部7は、再構成部117で再構成されたボリュームデータおよび医用画像、第2検出器8からの出力信号(スペクトル)、投影データ、複数の位置ずれにそれぞれ対応するう複数の第1画像などを記憶する。記憶部7は、入力デバイス122により入力された操作者の指示、画像処理の条件、撮影条件などの情報を記憶する。
記憶部7は、X線コンピュータ断層撮影のために、ガントリ100、図示していない寝台などを制御する制御プログラムを記憶する。記憶部7は、位置ずれの特定に関する処理を実行する位置ずれ特定プログラムなどを記憶してもよい。なお、複数の第1画像は、インターフェースを介して外部のサーバなどにおけるデータベースから読み込まれてもよい。また、複数の第1画像は、第2画像に関する位置ずれに対応する画像を有してもよい。
計算部118は、第1画像における複数の画素値(以下、第1画素値と呼ぶ)と第2画像における複数の画素値(以下、第2画素値と呼ぶ)とに基づいて、複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算する。指標値とは、複数の第1画像各々と第2画像との差異の程度、または類似の程度を示す値である。差異の程度を示す値とは、例えば、誤差値である。誤差値とは、例えば、MSE、RMSEなどである。類似性を示す指標値とは、例えば、相関値などである。
計算部118は、指標値として誤差値を計算する。具体的には、計算部118は、複数の第1画像各々と前記第2画像との間における画素値による平均二乗誤差を、誤差値として計算する。なお、計算部118は、複数の第1画像各々と前記第2画像との間における画素値による相関値を、指標値として計算してもよい。計算された複数の指標値は、複数の第1画像にそれぞれ対応する。複数の第1画像は複数の位置ずれにそれぞれ対応しているため、複数の指標値は、複数の位置ずれにそれぞれ対応する。計算部118は、計算した複数の指標値を位置ずれ特定部119に出力する。
位置ずれ特定部119は、指標値に基づいて、複数の位置ずれから第2画像に関する位置ずれを特定する。位置ずれ特定部119は、特定した位置すれを、補正部120に出力する。第2画像に関する位置ずれは、第1アイソセンタに対する第2アイソセンタの位置ずれに相当する。以下、第2画像に関する位置ずれの特定について具体的に説明する。まず、指標値が、誤差値(MSE、RMSEなど)である場合について説明する。なお、指標値が、相関値である場合については後ほど説明する。
位置ずれ特定部119は、複数の指標値(誤差値)のうち最も小さい誤差値(以下、最小値と呼ぶ)を特定する。最小値は、位置的に、第1画像と第2画像とが最も近い状態を示している。位置ずれ特定部119は、最小値に対応する第1画像を特定する。位置ずれ特定部119は、特定された第1画像に対応する位置ずれを、第2画像に関する位置ずれとして特定する。
位置ずれ特定部119は、複数の指標値(相関値)のうち最も大きい相関値(以下、最大値と呼ぶ)を特定する。最大値は、位置的に、第1画像と第2画像とが最も近い状態を示している。位置ずれ特定部119は、最大値に対応する第1画像を特定する。位置ずれ特定部119は、特定された第1画像に対応する位置ずれを、第2画像に関する位置ずれ(オフセット)として特定する。
補正部120は、特定された位置ずれに基づいて、第1検出器3および第2検出器8における複数の検出素子の位置情報を示すシステム行列を補正する。補正されたシステム行列は、再構成部117に出力される。このとき、再構成部117は、補正されたシステム行列と、第1検出器からの出力に関する投影データセットとに基づいて、第3画像を再構成する。再構成された再構成画像は、表示デバイス121に出力される。
なお、補正部120による補正対象は、システム行列に限定されない。例えば、まず、第2が図尾の再構成後において、回転フレーム102を被検体周りに回転させて、スキャンが実行される。このスキャンにより、被検体を透過したX線が、第1検出器3により検出される。次いで、第1検出器3からの出力に基づいて、未補正のシステム行列を用いて、被検体に関する第3画像が再構成される。
このとき、第1アイソセンタに対する第2アイソセンタの相対的な位置ずれに起因するアーチファクトが、第3画像に現れることがある。次いで、補正部120は、特定された位置ずれを用いて、再構成された第3画像を補正する。すなわち、補正部120は、第3画像に対して、相対的な位置ずれに起因するアーチファクトを、補正する。補正された第3画像は、表示デバイス121に出力される。
表示デバイス121は、再構成部117により再構成された医用画像、補正部120により補正された医用画像、X線コンピュータ断層撮影のために設定される条件などを表示する。
入力デバイス122は、操作者からの各種指示・命令・情報・選択・設定を本X線コンピュータ断層撮影装置10に取り込む。取り込まれた各種指示・命令・情報・選択・設定は、後述する制御器4などに出力される。入力デバイス122は、図示しないが、関心領域(ROI)の設定などを行うためのトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等を有する。
入力デバイス122は、表示画面上に表示されるカーソルの座標を検出し、検出した座標を制御器4に出力する。なお、入力デバイス122は、表示画面を覆うように設けられたタッチパネルでもよい。この場合、入力デバイス122は、電磁誘導式、電磁歪式、感圧式等の座標読み取り原理でタッチ指示された座標を検出し、検出した座標を制御器4に出力する。
制御器4は、本X線コンピュータ断層撮影装置10の中枢として機能する。すなわち、制御器4は、本X線コンピュータ断層撮影装置10における各部を制御する。制御器4は、図示しないCPUとメモリとを備える。制御器4は、図示していないメモリに記憶された検査スケジュールデータと制御プログラムとに基づいて、X線コンピュータ断層撮影のために、電流調整器11、高電圧発生器12、およびガントリ100などを制御する。制御器4は、所定の画像発生・表示等を実行するための制御プログラムを、記憶部7から読み出して自身が有するメモリ上に展開し、各種処理に関する演算・処理等を実行する。
制御器4は、記憶部7に記憶された位置ずれ特定プログラムを、自身のメモリに展開し、図2Aにおける処理ステップ202乃至204、または図2Bにおける処理ステップ212乃至214を実行するために、電流調整器11、高電圧発生器12、ガントリ100、計算部118、位置ずれ特定部119、補正部120などを制御する。
以上に述べた構成によれば、以下の効果を得ることができる。
本実施形態におけるX線コンピュータ断層撮影装置10によれば、第1アイソセンタに対する第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像各々における画素値と、回転フレームを回転させて実行されたスキャンに伴う第1検出器からの出力に基づいて再構成された第2画像の画素値とに基づいて、位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算することができる。
本実施形態におけるX線コンピュータ断層撮影装置10によれば、第1アイソセンタに対する第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像各々における画素値と、回転フレームを回転させて実行されたスキャンに伴う第1検出器からの出力に基づいて再構成された第2画像の画素値とに基づいて、位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算することができる。
さらに、本X線コンピュータ断層撮影装置10によれば、計算された指標値に基づいて、複数の位置ずれから第2画像に関する位置ずれを特定することができ、特定された位置ずれに基づいて、システム行列を補正することができる。次いで、補正されたシステム具用列を用いて、第3画像を再構成することができる。
また、本X線コンピュータ断層撮影装置10によれば、第2画像の発生後に実行されたスキャンにより発生された第3画像を、特定された位置ずれを用いて補正することができる。
すなわち、本実施形態におけるX線コンピュータ断層撮影装置10によれば、空気スキャンまたは所定のファイントムに対するスキャンに伴う第4世代の第2検出器による影により、再構成画像(第1画像および第2画像)に明確なパターンが現れることを利用している。この明確なパターンの変化は、第1アイソセンタに対する第2アイソセンタの相対的な位置ずれ(オフセット)に依存する。
このため、既知スキャンによる複数の位置ずれのそれぞれ対応する服うすの第1画像と、未知スキャンにより発生された第2画像とを比較することで、未知スキャンが実行された時点における位置ずれ(オフセット)を特定することができる。特定された位置ずれを用いて、未知スキャン後に実行されたスキャンにより発生された第3画像のアーチファクトまたはシステム行列を補正することができる。
これにより、本X線コンピュータ断層撮影装置10によれば、ガントリ100による振動、温度変化による素材の膨張などによる経年変化により、第3世代のアイソセンタの位置に対する第4世代のアイソセンタの相対的な位置ずれが発生したとしても、良好な医用画像を発生させることができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…X線管、2…フィルタおよびコリメータ、3…第3世代の検出器(第1検出器)、4…制御器、5…データ収集システム、6…プロセッサ、7…記憶部、8…第4世代のX線検出器(第2検出器)、9…開口、10…X線コンピュータ断層撮影装置、11…電流調整期、12…高電圧発生器、13…固定フレーム、100…ガントリ、102…回転フレーム、104…回転ユニット、106…非接触データ伝送器、108…スリップリング、111…前処理デバイス、117…再構成部、118…計算部、119…位置ずれ特定部、120…補正部、121…表示デバイス、122…入力デバイス。
Claims (12)
- X線管と第1検出器とを回転可能に支持する回転フレームと、
前記X線管により発生されたX線を検出する第2検出器を固定して支持する固定フレームと、
前記第1検出器に関する第1アイソセンタに対する前記第2検出器に関する第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像を記憶する記憶部と、
前記回転フレームを回転させてスキャンを実行することにより、前記第1検出器からの出力に基づいて第2画像を再構成する再構成部と、
前記第1画像の画素値と前記第2画像の画素値とに基づいて前記位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算する計算部と、
前記指標値に基づいて、前記複数の位置ずれのうち、前記第2画像に関する前記第2アイソセンタの位置ずれを特定する位置ずれ特定部と、
を具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記第2検出器は、
前記X線のエネルギーを識別可能なX線検出器であること、
を特徴とする請求項1に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記計算部は、
前記指標値として誤差値を計算し、
前記位置ずれ特定部は、
前記誤差値のうち最小値に対応する位置ずれを、前記第2画像に関する位置ずれとして特定すること、
を具備することを特徴とする請求項1または2に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記計算部は、
前記第1画像と前記第2画像との間における画素値による平均二乗誤差を、前記誤差値として計算すること、
を特徴とする請求項3に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記計算部は、
前記指標値として相関値を計算し、
前記位置ずれ特定部は、
前記相関値のうち最大値に対応する位置ずれを、前記第2画像に関する位置ずれとして特定すること、
を具備することを特徴とする請求項1または2に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記特定された位置ずれに基づいて、前記第1検出器および前記第2検出器における複数の検出素子の位置情報を示すシステム行列を補正する補正部をさらに具備し、
前記再構成部は、
前記補正されたシステム行列と、前記第1検出器からの出力とに基づいて、第3画像を再構成すること、
を特徴とする請求項1乃至5のうちにいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記再構成部は、前記回転フレームを被検体周りに回転させてスキャンを実行することにより、前記第1検出器からの出力に基づいて第3画像を再構成し、
前記特定された位置ずれに基づいて、前記第3画像を補正する補正部をさらに具備すること、
を特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記第1画像は、データベースから取得され、
前記第1画像は、空気スキャンまたは所定のファントムのスキャンにより生成されること、
を特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記複数の第1画像は、
前記第2画像に関する位置ずれに対応する画像を有すること、
を特徴とする請求項1乃至8のうちいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記複数の位置ずれ各々は、
前記第1アイソセンタを中心とする2次元グリッドで設定されること、
を特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 回転フレームに支持された第1検出器に関する第1アイソセンタに対する、固定フレームに支持された第2検出器に関する第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像を記憶し、
前記回転フレームを回転させてスキャンを実行し、
前記第1検出器からの出力に基づいて第2画像を再構成し、
前記第1画像の画素値と前記第2画像の画素値とに基づいて前記位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算し、
前記指標値に基づいて、前記複数の位置ずれのうち、前記第2画像に関する前記第2アイソセンタの位置ずれを特定すること、
を具備することを特徴とする位置ずれ特定方法。 - コンピュータに、
回転フレームに支持された第1検出器に関する第1アイソセンタに対する、固定フレームに支持された第2検出器に関する第2アイソセンタの複数の位置ずれにそれぞれ対応する複数の第1画像を記憶する機能と、
前記回転フレームを回転させてスキャンを実行することにより、前記第1検出器からの出力に基づいて第2画像を再構成する機能と、
前記第1画像の画素値と前記第2画像の画素値とに基づいて前記位置ずれにそれぞれ対応する複数の指標値を計算する機能と、
前記指標値に基づいて、前記複数の位置ずれのうち、前記第2画像に関する前記第2アイソセンタの位置ずれを特定する機能と、
を実現させることを特徴とする位置ずれ特定プログラム。
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