CN112971816A - 用于焦点运动检测和校正的系统和方法 - Google Patents

Abstract

本发明题为“用于焦点运动检测和校正的系统和方法”。本发明所公开的技术可用于在扫描过程期间检测和校正由X射线焦点未对准引起的通道增益误差。本发明相对于常规技术的一个有益效果是不需要附加硬件来检测焦点漂移。相反，每个刀片的静态未对准被考虑作为估计和校正X射线焦点漂移或未对准的一部分。这样，减少了由于焦点运动引起的图像伪影的风险，并且避免了对检测焦点运动的昂贵硬件解决方案的需要。

Description

用于焦点运动检测和校正的系统和方法

背景技术

本说明书的实施方案整体涉及基于X射线的成像技术，并且更具体地涉及与X射线发射点和X射线检测器元件未对准相关的问题。

在基于X射线的成像系统诸如计算机断层摄影(CT)成像系统中，朝向诸如患者或物品(例如，包裹、制造的物品等)之类的对象发射X射线束以对物体中的感兴趣区域进行成像。射束在穿过对象时通常会被衰减。随后，衰减的射束入射到具有检测器元件阵列的辐射检测器上。响应于衰减的射束，阵列的检测器元件生成表示对象的内部信息的相应电信号。这些电信号由数据处理单元处理以生成表示对象中感兴趣区域的图像。

从所采集的数据重建图像通常基于这样的假设：X射线光子已经以直线路径从X射线发射焦点行进到检测到相应光子的检测器元件。然而，X射线焦点相对于一个或多个准直元件或板(例如，患者后防散射栅格)的未对准或移动可导致对成像系统(诸如CT成像系统)的临床使用有害的图像伪影。在准直器刀片节距大于通道(即，像素)节距的系统中，这种影响可能更显著，使得各个准直器刀片的“阴影”情况可以不同程度地影响不同的通道。

发明内容

下文概述了与最初要求保护的主题相称的某些实施方案。这些实施方案并非旨在限制要求保护的主题的范围，而是这些实施方案仅旨在提供可能的实施方案的简要概述。实际上，本发明可包括多种形式，这些形式可类似于或不同于下文所述的实施方案。

在一个实施方案中，提供了一种用于估计X射线焦点的运动的方法。根据该方法，通过将X射线从X射线焦点朝向包括多个通道的辐射检测器发射来采集图像数据。第一子集的通道各自具有定位在相应通道上方的准直器刀片，并且第二子集的通道不受准直器刀片阻挡。针对第一子集的至少一个相应通道：估计相应通道的相对通道增益；并且使用相对通道增益和相应通道的X射线焦点运动灵敏度比率来估计X射线焦点运动。

在另一个实施方案中，提供一种成像系统。根据该实施方案，成像系统包括：X射线辐射源，该X射线辐射源被配置成在操作期间从焦点发射X射线；准直器，所述准直器包括多个准直器刀片；辐射检测器，所述辐射检测器包括多个像素，每个像素对应于所述辐射检测器的通道。第一子集的通道各自具有定位在相应通道上方的准直器刀片，并且第二子集的通道不受准直器刀片阻挡。该成像系统还包括：处理电路，该处理电路被配置成执行包括以下各项的动作：通过使X射线从X射线源朝向辐射检测器发射来采集图像数据；针对第一子集的至少一个相应通道：估计相应通道的相对通道增益；以及使用相对通道增益和相应通道的X射线焦点运动灵敏度比率来估计X射线焦点运动。

在附加实施方案中，提供了用于校正焦点运动的方法。根据该方法，估计辐射检测器的相应通道的相对通道增益。使用相对通道增益和相应通道的X射线焦点运动灵敏度比率来估计X射线焦点的运动。基于对X射线焦点的运动的估计来计算焦点运动校正。焦点运动校正因子用作图像重建或重建后过程的一部分，以校正或移除伪影或其它图像不规则部分。

附图说明

当参考附图阅读以下详细描述时，将更好地理解本发明的这些和其它特征、方面和优点，附图中相同的符号在整个附图中表示相同的部分，其中：

图1示出了根据本公开的某些方面的计算机断层摄影成像系统的部件；

图2示意性地示出了根据本公开的某些方面的其上设置有准直器刀片的检测器的通道的侧视图；

图3示意性地示出了根据本公开的某些方面的其上设置有准直器刀片的检测器的通道的附加侧视图；

图4可视地示出了根据本公开的某些方面的在准直辐射检测器的上下文中的对准和未对准的X射线焦点；

图5以图形方式示出了根据本公开的某些方面的检测器通道相对于X射线焦点位置的信号响应；

图6示意性地示出了根据本公开的某些方面的检测器的通道的侧视图，倾斜准直器刀片设置在该检测器上并且与感兴趣的某些参数结合；

图7示出了根据本公开的某些方面的用于估计焦点运动的步骤的一个具体实施的处理流程；并且

图8以图形方式示出了根据本公开的某些方面的使用相对通道增益来确定X射线焦点位置。

具体实施方式

在下面将描述一个或多个具体的实施方案。为了提供这些实施方案的简明描述，可能未在说明书中描述实际具体实施的所有特征。应当理解，在任何此类实际具体实施的开发中，如在任何工程或设计项目中，必须做出许多特定于具体实施的决策以实现开发者的具体目标，诸如遵守可能因具体实施而不同的系统相关和业务相关约束。此外，应当理解，此类开发努力可能是复杂且耗时的，但对于受益于本公开的普通技术人员来说仍然是设计、制作和制造的常规任务。

当介绍本发明的各种实施方案的元件时，冠词“一个”、“一种”、“该”和“所述”旨在表示存在元件中的一个或多个。术语“包含”、“包括”和“具有”旨在是包含性的，并且意指除了列出的元件之外还可存在附加元件。此外，以下讨论中的任何数值示例旨在非限制性的，并且因此附加的数值、范围和百分比在所公开的实施方案的范围内。

虽然在医学成像的背景中可提供以下讨论的各方面，但是应当理解，本技术不限于这样的此类医学背景。实际上，在此类医学背景中提供示例和解释仅是为了通过提供现实具体实施和应用的实例来便于进行解释。然而，本方法也可以用于其它背景中，诸如用于在制成件或制成品的非破坏性检查(即，质量控制或质量审核应用)和/或包裹、箱盒、行李等的非侵入性检查(即，安检或筛检应用)中使用的工业计算机断层摄影(CT)的断层摄影图像重建。一般来讲，本发明方法可以用于任何成像或筛选环境中，或者X射线发射点的图像处理场未对准可以与具有相关联的防散射或准直元件(例如，刀片)的检测器元件的阵列不对准。

如本文所讨论，来自所采集的X射线透射数据的图像的重建通常基于这样的假设：X射线光子已经以直线路径从X射线发射焦点行进到检测到相应光子的检测器元件。然而，X射线焦点相对于一个或多个准直元件或板(例如，患者后防散射栅格)的未对准或移动可导致对成像系统(诸如CT成像系统)的临床使用有害的图像伪影。在准直器刀片节距大于通道(即，像素)节距的系统中，这种影响可能更明显。

本发明所公开的技术可用于检测和校正在扫描过程期间由X射线焦点未对准(这可导致所述图像伪影)引起的通道增益误差。本文相对于常规技术所述的技术的一个益处在于，它们不需要用于检测焦点漂移的附加硬件。相反，本文所述的方法考虑了制造期间每个刀片的静态未对准，作为估计和校正X射线焦点漂移或未对准的一部分。这样，减少了由于焦点运动引起的图像伪影的风险，并且避免了对检测焦点运动的昂贵硬件解决方案的需要。

考虑到前述讨论，图1示出了根据本文所讨论的结构和方法的用于采集和处理图像数据的成像系统10的实施方案。在示出的实施方案中，系统10为计算机断层摄影(CT)系统，其被设计成采集X射线投影数据并将投影数据重构为体积重构以用于显示和分析。CT成像系统10包括一个或多个X射线源12，诸如一个或多个X射线管或允许在成像阶段期间在一个或多个能谱处生成X射线的固态发射结构。

在某些具体实施中，源12可以定位在患者前准直器和/或滤波器组件22附近，该患者前准直器和/或滤波器组件可以用于操纵X射线束20、限定X射线束20的高强度区域的形状(诸如通过限制偏角度发射)和/或范围、控制或限定X射线射束20的能量分布，和/或以其它方式限制患者24的不在感兴趣区域内的那些部分上的X射线暴露。在实践中，滤波器组件或射束整形器22可结合在源12和成像体积之间的机架内。

X射线束20进入其中定位有受检者(例如，患者24)或感兴趣对象(例如，制造部件、行李、包裹等)的区域。受检者使X射线光子20的至少一部分衰减，从而得到衰减的X射线光子26，其撞击到由被布置为m×n阵列的多个检测器元件(例如，像素)形成的像素化检测器阵列28上。在所描绘的示例中，衰减的X射线光子26在到达检测器阵列28之前穿过准直器18(例如，和防散射栅格)。如本文所讨论，准直器18可由基本上垂直于检测器阵列28的表面对准并且由衰减材料形成的多个刀片或其它元件组成，所述衰减材料限制或防止以偏离角度行进的X射线光子26(例如，散射的X射线)到达检测器阵列28。到达检测器阵列28的电信号被检测和处理以生成一个或多个投影数据集。在所描绘的示例中，检测器28联接到系统控制器30，该系统控制器命令获取由检测器28生成的数字信号。

系统控制器30命令操作成像系统10以执行过滤、检查和/或校准方案，并且可处理所采集的数据。相对于X射线源12，系统控制器30为X射线检查序列提供功率、焦点位置、控制信号等。根据某些实施方案，系统控制器30可以控制滤波器组件22、CT机架(或X射线源12和检测器28附接到的其它结构支撑件)的操作，和/或患者支撑件在检查过程中的平移和/或倾斜。

此外，经由马达控制器36，系统控制器30可控制用于分别移动受检者34和/或成像系统10的部件的线性定位子系统32和/或旋转子系统34的操作。例如，在CT系统中，辐射源12和检测器28围绕对象(例如，患者24)旋转，以采集一系列角度视角上的X射线透射数据。因此，在真实世界具体实施中，成像系统10被配置成生成与覆盖整个感兴趣的扫描区域的多个角位置(例如，360°、180°+扇形射束角度(α)等)中的每一者相对应的X射线透射数据。

系统控制器30可包括信号处理电路和相关联的存储器电路。在此类实施方案中，存储器电路可以存储由系统控制器30执行以操作成像系统10(包括X射线源12和/或滤波器组件22)并且根据本文讨论的步骤和过程处理由检测器28采集的数字测量值的程序、例程和/或编码算法。在一个实施方案中，系统控制器30可以被实现为基于处理器的系统的全部或部分。

源12可以由包含在系统控制器30内的X射线控制器38控制。X射线控制器38可被配置成向源12提供功率、定时信号和/或焦点尺寸和焦点位置。此外，在一些实施方案中，X射线控制器38可被配置成选择性地激活源12，使得系统10内的不同位置处的管或发射器可彼此同步地或彼此独立地操作，或者在成像阶段期间在不同能量分布之间切换源。

系统控制器30可以包括数据采集系统(DAS)40。DAS 40接收由检测器28的读出电子器件收集的数据，诸如来自检测器28的数字信号。然后，DAS 40可以转换和/或处理数据以供基于处理器的系统(诸如计算机42)进行后续处理。在本文讨论的某些实施中，检测器28内的电路可使检测器的模拟信号在传输到数据采集系统40之前转换为数字信号。计算机42可以包括一个或多个非暂时性存储器设备46或与其通信，该存储器设备能够存储由计算机42处理的数据、将由计算机42处理的数据、或者将由计算机42的图像处理电路44执行的指令。例如，计算机42的处理器可以执行存储在存储器46上的一个或多个指令集，该存储器可为计算机42的存储器、处理器的存储器、固件或类似的实例。以举例的方式，计算机42的图像处理电路44可被配置成生成诊断图像。在一个实施方案中，诊断图像是使用图像重建技术获得的实时图像，所述图像重建技术应用于从多个像素102获得的并针对X射线焦点运动或未对准校正的多个信号。在一个实施方案中，诊断图像是针对X射线焦点运动或未对准校正的CT图像，并且显示在用于帮助医务人员的显示装置50上。

计算机42可还适于控制由系统控制器30启用的特征(即，扫描操作和数据采集)，诸如响应于由操作员经由操作员工作站48提供的命令和扫描参数。系统10还可包括耦接到操作员工作站48的显示器50，该显示器允许操作员查看相关的系统数据、成像参数、原始成像数据、重建的数据或图像等。另外，系统10可以包括打印机52，该打印机联接到操作员工作站48并且被配置成打印任何期望的测量结果。显示器50和打印机52可也直接或经由操作员工作站48连接到计算机42(如图1中所示)。另外，操作员工作站48可以包括或联接到图片存档和通信系统(PACS)54。PACS 54可以联接到远程系统或客户端56、放射科信息系统(RIS)、医院信息系统(HIS)、或者内部或外部网络，使得不同位置处的其它人能够访问图像数据。

考虑到前述对整体成像系统10的讨论，并且转到图2，以剖面侧视图示出了现有检测器28和准直器18布置的示例。在该示例中，检测器28被示出为包括各自对应于读出通道的像素82的阵列。在一个此类示例中，像素节距可为大约1mm。一组准直器刀片80被示出为与像素82的阵列相关联，使得每个像素被单独准直。刀片80被示出为放置在其中像素被接合的地方，使得可归因于刀片80的阴影主要位于这些接合处，使得像素82的大部分有效区域相对地不含由刀片产生的阴影。这样，每个像素82相对一致且均匀地受准直器刀片80影响。具体地讲，如果X射线发射焦点未对准，则可归因于相邻通道之间的未对准的差分增益变化相对较小。

转到图3，其为具有较小像素82(例如，小于1mm的像素节距)的较高空间分辨率检测器28的示例。由于像素较小，每个通道可能不被各个准直器刀片分开。相反，如图所示，每个准直器刀片80可为多个像素82(即，通道)提供准直，其中一些像素82由刀片80触摸或紧邻刀片80，并且其它像素不邻近刀片80。相应地，在X射线焦点未对准的情况下，由于相关刀片80的不同放置，由于相邻通道之间的X射线焦点未对准的差分增益变化可能很大。即，X射线焦点未对准可导致高分辨率检测器中的大增益变化。

概念性地，这在图4中示出，其中对准的(左)和未对准的(右)X射线焦点90的并排比较在准直检测器28的上下问中示出。如左图中所示，当X射线焦点90与刀片80对准(如由延伸穿过刀片80的纵向轴线94表示)时，由刀片投射的阴影98通常是对称的并且最小化。相反，如右侧所示，当X射线焦点90相对于刀片80未对准时，由刀片80投射的阴影98相对于不同像素82(此处表示为通道(CH)-1、-2、-3)不对称，并且尺寸可相对于当X射线焦点90对准时增大。

考虑到前述讨论，准直器刀片80和X射线焦点90的未对准可导致对临床图像质量有害的图像伪影。具体地讲，检测器级未对准的影响是由于准直器刀片遮蔽X射线焦点而在各个通道的增益中引入较小但有效的变化，如图4中所示。即，准直器刀片阴影在各个检测器通道上的增量变化可导致通道增益的差分变化，这可导致图像伪影。如相对于图2-4所示，在准直器刀片80的节距大于像素(即，通道)节距使得存在其上方具有准直器刀片的像素和其上方不具有此类刀片的像素的情况下，这种影响可能更显著。如果未检测并校正，则由于X射线焦点未对准而导致的这些变化可能被错误地解释为对象衰减的变化，从而导致图像伪影。

在实践中，X射线焦点未对准可为两种类型。如本文所用，静态未对准可被理解为由于制造公差，诸如相对于准直器刀片的偏转或倾斜，并且可通过检测器校准在一定程度上进行校正。然而，由于在操作期间产生的热和机械力，在扫描过程期间可能发生动态未对准。动态未对准可能难以检测，并且对应地难以校正。

考虑到前述内容，本文所讨论的技术可用于检测和校正在扫描过程期间(包括在较高分辨率类型的系统中)可归因于X射线焦点未对准的通道增益误差，如图3中所示。具体地讲，可在没有用于检测X射线焦点漂移的附加硬件的情况下执行本文所公开的技术。

通过上下文，像素82(即，通道)可被表征为属于两组：(1)其上存在准直器板或刀片80的像素(本文中表示为像素82A)和其上不存在准直器板或刀片80的像素(本文中表示为像素82B)。正是其上存在准直器刀片的那些像素82A受到X射线焦点未对准(例如，运动)的影响。

这在图5中所示的曲线图中示出，该曲线图在三通道布置的上下文中表征X射线焦点运动。如图5中所示，在定位准直器刀片80的通道2处看到的信号基于X射线焦点(xfs)位置而变化。相反，无论X射线焦点位置如何，在其上没有定位准直器刀片80的侧翼通道(即，通道1和通道3)处看到的平均信号是均匀的。准直器刀片80定位在其上的每个通道因此可在安装和使用之前(诸如在制造后校准期间)在整个X射线焦点位置范围内表征其响应(例如，r_ch)。

此外，如本文所述，可导致如本文所述的伪影的板或刀片80偏转可具有静态分量和动态分量两者。以举例的方式，刀片80的静态挠曲可归因于刀片80的制造并且在操作或使用期间不改变。相反，刀片80的动态挠曲可归因于扫描期间刀片80的移动或变化，诸如归因于热或机械力。静态挠曲的影响通常将大于可归因于动态挠曲的那些。为了示出这些概念，图6示出了准直器18的偏转刀片80。在该示例中，刀片或板的高度(H_刀片)(由参考标号120表示)与偏转角度θ(由参考标号122表示)和刀片偏转距离dx(由参考标号124表示)一起示出。基于这些观察，准直器刀片80的倾斜可根据以下公式建模：

(1)θ＝θ_静态+θ_动态

以及

(2)dx＝H_刀片sin(θ)。

考虑到前述内容，可以观察到，其上定位有刀片80(即，像素82A)的给定通道相对于相邻像素82B的相对灵敏度(r_ch(θ,xfs))是相应刀片80的倾斜或偏转的函数。因此，上面定位有刀片80的每个通道(即，像素82A)可由相对于其相邻通道的灵敏度函数来表征，诸如在本示例和附图的上下文中根据：

(3)

此类表征可作为制造或预安装校准或评估过程的一部分来确定。

转到图7，提供了利用这些概念的各个方面来确定X射线焦点运动的方法的处理流程。所述具体实施示例利用了以下观察结果：未受X射线焦点运动影响的相邻通道可提供将受X射线焦点运动影响的那些通道与其比较的恒定基线。基于该观察，经由所测量的焦点运动灵敏度比率将每个刀片80对静态未对准的灵敏度结合到估计和校正过程中。

在该处理流程示例中，可校准或以其它方式表征给定检测器28和准直器18组件以确定(步骤140)每个通道处的X射线焦点运动灵敏度，如上所述，其可以是准直器刀片倾斜的函数。在所描绘的示例中，X射线焦点运动灵敏度通过X射线焦点运动灵敏度比率(r_ch)142来表征，如公式(3)所述。该表征可作为检测器/准直器组件的制造过程的一部分或在任何其它合适的时间进行，诸如在安装前或其它使用前时间段期间。因此，X射线运动灵敏度的这种表征可在延长的使用周期内对于检测器/准直器组件保持有效。

在使用或操作期间(即，作为采集临床或诊断成像数据的一部分)，估计(步骤152)采集后相对通道增益

150。以举例的方式，采集后相对通道增益

可被估计为：

(4)

如公式4中所示，相对通道增益150的估计可基于对所采集的数据的多个N个图像切片进行的观察，其中N可少至一个图像切片，或者可为5、10、30、50、100或更多个图像切片，这取决于检查采集协议。在一个具体实施中，相对通道增益150可被表示为对应于针对不同的相应N个图像切片观察到的比率的概率分布(通过中心趋势的量度诸如平均值、中值和模式以及相关联的方差来表征)。一旦确定了采集后相对通道增益

150，就可将其与已知的X射线焦点运动灵敏度142结合使用，以在图像数据采集期间统计地估计(步骤160)X射线焦点运动

162。即，在一个此类实施方案中，X射线焦点运动基于确定给定采集中的通道的合适子集，所述通道不受准直器刀片阻挡并且响应于X射线焦点的运动而表现出最小的差分增益灵敏度。

其实施例在图8上以图形方式示出。在该示例中，

150的估计(此处被概率地描绘为分布)可被映射到对应于r_ch的垂直轴，r_ch可从如步骤140所确定的X射线焦点运动灵敏度导出或确定。在所描绘的示例中，

150可与所考虑的通道的已知X射线焦点运动灵敏度一起使用，以估计在图像数据采集期间在图8中水平绘制的X射线焦点

162的位置或运动。然后可使用在图像数据采集期间在相应通道处估计的X射线焦点运动

162来校正或以其它方式解决任何观察到的X射线焦点运动，诸如通过计算用作图像重建或重建后过程的一部分的一个或多个焦点运动校正因子来校正或移除伪影或其它图像不规则性。以举例的方式，在某些实施方案中，信号校正可限于与其上定位有板80的像素相关联的那些通道，即，其中信号变化可由于刀片80的未对准而引起的那些通道。类似地，为了避免由于散射和/或噪声引起的信号损坏，可以在多个视图上和/或针对多个板对测量和校正进行平均。

本发明的技术效果包括CT成像系统，该CT成像系统能够在成像操作期间减少X射线焦点运动的影响，诸如通过减少或消除可归因于X射线焦点运动的图像伪影。在没有附加硬件的情况下实现X射线焦点运动效果的估计和/或校正。

该书面描述使用示例来公开本发明，包括最佳模式，并且还使本领域技术人员能够实践本发明，包括制造和使用任何设备或系统以及执行任何包含的方法。本发明的专利范围由权利要求书限定，并且可包括本领域技术人员想到的其它示例。如果此类其它示例具有与权利要求书的字面语言没有区别的结构元件，或者如果它们包括与权利要求书的字面语言具有微小差别的等效结构元件，则此类其它示例旨在落入权利要求书的范围内。

Claims (15)

1.一种用于估计X射线焦点的运动的方法，包括：

通过从所述X射线焦点朝向包括多个通道的辐射检测器发射X射线来采集图像数据，其中第一子集的所述通道各自具有定位在所述相应通道上方的准直器刀片，并且第二子集的通道不受准直器刀片阻挡；

针对所述第一子集的至少一个相应通道：

估计所述相应通道的相对通道增益；以及

使用所述相对通道增益和所述相应通道的X射线焦点运动灵敏度比率来估计X射线焦点运动。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述X射线焦点运动灵敏度比率被确定为所述辐射检测器的安装前校准的一部分。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一子集的通道响应于所述X射线焦点的运动而表现出不均匀的差分增益灵敏度。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述相应通道的所述X射线焦点运动灵敏度比率包括在所述相应通道处测量的信号与在所述第二子集中的相邻通道处测量的信号的平均值的比率。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述相应通道的所述相对通道增益包括在所述相应通道处针对N个图像切片测量的求和信号与针对所述N个图像切片在所述第二子集中的相邻通道处测量的信号的求和平均值的比率。

6.根据权利要求1所述的方法，其中估计X射线焦点运动包括确定给定采集中属于通道的所述第二子集并且响应于所述X射线焦点的运动而表现出最小差分增益灵敏度的通道的合适子集。

7.根据权利要求1所述的方法，其中估计X射线焦点运动包括将所述相应通道的所述相对通道增益与再次绘制X射线焦点位置的所述X射线焦点运动灵敏度的表示相关联。

8.根据权利要求1所述的方法，还包括：

基于X射线焦点运动的所述估计来计算焦点运动校正；以及

使用所述焦点运动校正作为图像重建或重建后过程的一部分，以校正或移除伪影或其它图像不规则部分。

9.一种成像系统，包括：

X射线辐射源，所述X射线辐射源被配置成在操作期间从焦点发射X射线；

准直器，所述准直器包括多个准直器刀片；

辐射检测器，所述辐射检测器包括多个像素，每个像素对应于所述辐射检测器的通道，其中第一子集的所述通道各自具有定位在所述相应通道上方的准直器刀片，并且第二子集的通道不受准直器刀片阻挡；

处理电路，所述处理电路被配置成执行包括以下各项的动作：

通过使X射线从所述X射线源朝向所述辐射检测器发射来采集图像数据；

针对所述第一子集的至少一个相应通道：

估计所述相应通道的相对通道增益；以及

使用所述相对通道增益和所述相应通道的X射线焦点运动灵敏度比率来估计X射线焦点运动。

10.根据权利要求9所述的成像系统，其中所述第一子集的通道响应于所述X射线焦点的运动而表现出不均匀的差分增益灵敏度。

11.根据权利要求9所述的成像系统，其中所述第二子集的通道响应于所述X射线焦点的运动而表现出均匀的差分增益灵敏度。

12.根据权利要求9所述的成像系统，其中所述相应通道的所述X射线焦点运动灵敏度比率包括在所述相应通道处测量的信号与在所述第二子集中的相邻通道处测量的信号的平均值的比率。

13.根据权利要求9所述的成像系统，其中所述相应通道的所述相对通道增益包括在所述相应通道处针对N个图像切片测量的求和信号与针对所述N个图像切片在所述第二子集中的相邻通道处测量的信号的求和平均值的比率。

14.根据权利要求9所述的成像系统，其中估计X射线焦点运动包括将所述相应通道的所述相对通道增益与再次绘制X射线焦点位置的所述X射线焦点运动灵敏度的表示相关联。

15.根据权利要求9所述的成像系统，其中所述处理电路被进一步配置成执行包括以下各项的动作：

基于X射线焦点运动的所述估计来计算焦点运动校正；以及

使用所述焦点运动校正作为图像重建或重建后过程的一部分，以校正或移除伪影或其它图像不规则部分。

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