JPS59203947A - 放射線透過試験用露出測定装置 - Google Patents
放射線透過試験用露出測定装置Info
- Publication number
- JPS59203947A JPS59203947A JP58078212A JP7821283A JPS59203947A JP S59203947 A JPS59203947 A JP S59203947A JP 58078212 A JP58078212 A JP 58078212A JP 7821283 A JP7821283 A JP 7821283A JP S59203947 A JPS59203947 A JP S59203947A
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- Japan
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- radiation
- exposure
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、放射線透過試験用露出測定装置に関するもの
でおる。
でおる。
放射線透過試験は第１図に示すように試験片（１）を透
過した放射線（Ｘ線、γ線等）の強度変化をフィルテ（
２）に撮影し、その濃淡の程度から試験片（１）の内部
欠陥を調べるものである。放射線透過試験をする場合に
はフィルムに対する放射線の露出量を決定する必要があ
るが、この露出量の決定は第２図に示すようにあらかじ
め実験によシ作成した露出線図を用いる方法が従来から
広く採用されている。しかしながら、この露出線図を用
いて露出量を決定する方法は下記に述べる通シ多数の欠
点を有している。すなわち、露出線図を用いて露出量を
決定する場合は、■個々の放射線透過試験装置ごとに実
験をして露出線図を作成しておかなければならない、■
との露°出線図を作成するにはかなシの労力を必要とす
る、６）放射線透過試験装置の経年変化によシ露出線図
が変化するから、一定期間ごとに露出線図を作成し直さ
力ければならない、■電源電圧の変動によυ放射線透過
試験装置の放射線の出力が変動した場合は露出線図から
求めた露出量は適正値にならない、■この方法によって
得られる露出量は一般に精度が余如良くない等の欠点が
ある、 また、各種フィルム感度のフィルムについての露出量と
フィルム濃度との関係を求めて作成した第６図のフィル
ム特性曲線から所定濃度に対応した露出量を求め、放射
線の検出器とフィルム感度係数を同等にし、放射線線量
計とフィルム濃度とを直接対応させた市販の放射線透過
試験用露出測定装置を用いて露出量を測定する方法も採
用されている。しかし、フィルムの感光原理と放射線線
量計の検出原理とは全く異なるので、第４図に示すＸ線
の実効エネルギーとフィルム感度との関係、及び第５図
に示すＸ線の実効エネルギーとＸ線検出器の検出効率と
の関係からも明らかなように同一感度曲線を得るのは無
理があυ、従って、求めらｎた露出量の値は精度が余シ
良（ないし、また、フィルム感度係数がフィルムごとに
異なるので、使用できるフィルムは１種類に限定される
欠点がある。
過した放射線（Ｘ線、γ線等）の強度変化をフィルテ（
２）に撮影し、その濃淡の程度から試験片（１）の内部
欠陥を調べるものである。放射線透過試験をする場合に
はフィルムに対する放射線の露出量を決定する必要があ
るが、この露出量の決定は第２図に示すようにあらかじ
め実験によシ作成した露出線図を用いる方法が従来から
広く採用されている。しかしながら、この露出線図を用
いて露出量を決定する方法は下記に述べる通シ多数の欠
点を有している。すなわち、露出線図を用いて露出量を
決定する場合は、■個々の放射線透過試験装置ごとに実
験をして露出線図を作成しておかなければならない、■
との露°出線図を作成するにはかなシの労力を必要とす
る、６）放射線透過試験装置の経年変化によシ露出線図
が変化するから、一定期間ごとに露出線図を作成し直さ
力ければならない、■電源電圧の変動によυ放射線透過
試験装置の放射線の出力が変動した場合は露出線図から
求めた露出量は適正値にならない、■この方法によって
得られる露出量は一般に精度が余如良くない等の欠点が
ある、 また、各種フィルム感度のフィルムについての露出量と
フィルム濃度との関係を求めて作成した第６図のフィル
ム特性曲線から所定濃度に対応した露出量を求め、放射
線の検出器とフィルム感度係数を同等にし、放射線線量
計とフィルム濃度とを直接対応させた市販の放射線透過
試験用露出測定装置を用いて露出量を測定する方法も採
用されている。しかし、フィルムの感光原理と放射線線
量計の検出原理とは全く異なるので、第４図に示すＸ線
の実効エネルギーとフィルム感度との関係、及び第５図
に示すＸ線の実効エネルギーとＸ線検出器の検出効率と
の関係からも明らかなように同一感度曲線を得るのは無
理があυ、従って、求めらｎた露出量の値は精度が余シ
良（ないし、また、フィルム感度係数がフィルムごとに
異なるので、使用できるフィルムは１種類に限定される
欠点がある。
本発明は上記従来のものの欠点を解消するもので、正し
い露出量を簡単かつ正確に求めることができるようにし
た放射線透過試験用露出測定装置を提供す−ること金目
的とするものである、すなわち、本発明は試験片と同材
質の既知の厚みのフィルタを通過した放射線と、同じ線
源からフィルタを通過しない放射線又は前記フィルタと
同材質で異なる既知の厚さの別のフィルタを通過した放
射線からなる基準放射線との線量率を各々測定する放射
線測定手段、両者の線量率の比と前記フィルタの厚さと
に基いて吸収係数を演算する演算器、放射線の吸収係数
と所定フィルムのフィルム感度との関係をあらかじめ記
憶した第１の記憶手段と、該第１の記憶手段に記憶され
た放射線の吸収係数と所定のフィルムのフィルム感度と
の関係から前記演算器で求めた吸収係数に対応したフィ
ルム感度を求める第１の演算装置と、各種フィルム感度
のフィルムについての露出量とフィルム濃度との関係を
あらかじめ記憶した第２の記憶手段と、該第２の記憶手
段に記憶された各種フィルム感度のフィルムについての
露出量とフィルム濃度との関係から上記第１の演算装置
で求めたフィルム感度のフィルムについての露出量とフ
ィルム濃度トの関係を選択する選択手段と、該選択手段
で選択された所定フィルム感度のフィルムについての露
出量とフィルム濃度との関係からあらかじめ定められた
フィルム濃度に対応した露出量を求める第２の演算装置
とから成る計算装置とを備えた放射線透過試験用露出測
定装置を要旨とするものである。
い露出量を簡単かつ正確に求めることができるようにし
た放射線透過試験用露出測定装置を提供す−ること金目
的とするものである、すなわち、本発明は試験片と同材
質の既知の厚みのフィルタを通過した放射線と、同じ線
源からフィルタを通過しない放射線又は前記フィルタと
同材質で異なる既知の厚さの別のフィルタを通過した放
射線からなる基準放射線との線量率を各々測定する放射
線測定手段、両者の線量率の比と前記フィルタの厚さと
に基いて吸収係数を演算する演算器、放射線の吸収係数
と所定フィルムのフィルム感度との関係をあらかじめ記
憶した第１の記憶手段と、該第１の記憶手段に記憶され
た放射線の吸収係数と所定のフィルムのフィルム感度と
の関係から前記演算器で求めた吸収係数に対応したフィ
ルム感度を求める第１の演算装置と、各種フィルム感度
のフィルムについての露出量とフィルム濃度との関係を
あらかじめ記憶した第２の記憶手段と、該第２の記憶手
段に記憶された各種フィルム感度のフィルムについての
露出量とフィルム濃度との関係から上記第１の演算装置
で求めたフィルム感度のフィルムについての露出量とフ
ィルム濃度トの関係を選択する選択手段と、該選択手段
で選択された所定フィルム感度のフィルムについての露
出量とフィルム濃度との関係からあらかじめ定められた
フィルム濃度に対応した露出量を求める第２の演算装置
とから成る計算装置とを備えた放射線透過試験用露出測
定装置を要旨とするものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第６図は本発明に係る放射線透過試験用露出側。
定装置の第１実施例を示す説明図である。図中、（３）
は第１のＸ線検出器、（６′）は第２のＸ線検出器であ
シ、該第１のＸ線検出器（３）と第２のＸ線検出器（３
′）とは同特性のものから成る。第１のＸ線検出器（３
）には第１のフィルタ（４）が、第２のＸ線検出器（６
′）には第２のフィルタ（４′）が各々取付けられてい
る。ここで、第２のフィルタ（４′）は試験片がら成シ
、第１のフィルタ（４）は該試験片と同材質の金属板か
ら成る。例えば第２のフィルタ（４′）すなわち試験片
が鉄の場合、第１のフィルタ（４）は同材質の鉄薄板を
用いる。第１のフィルタ（４）の厚さをｔｌ、第２のフ
ィルタ（４′）の厚さをｔｌとすると、ｔｌとｔｌとは
ｔｌ、＞ ｔ、の関係にあシ、ｔｌはｔ＋＝０の場合、
すなわち第１のＸ線検出器（３）にフィルタを取付けな
い場合を含む、 （５）は前記第１のＸ線検出器（３）で検出されたＸ線
を積算して線量率Ｉ、を求める第１のＸ線線量計、（５
′）は前記第２のＸ線検出器（６′）で検出されたＸ線
を積算して線量率Ｉ２を求める第２のＸ線線量計である
。（６）は、前記第１のＸ線線量計（５）で求めた線量
ｘ ＩＩｓ前記第２のＸ線線量計（５′）で求めた線量
ｇ Ｉ２、第１のフィルタ（４）の厚さｔｌ及び第２の
フィルタ（４′）の厚さｔｚからＸ線の吸収係数を求め
る演算器である。
は第１のＸ線検出器、（６′）は第２のＸ線検出器であ
シ、該第１のＸ線検出器（３）と第２のＸ線検出器（３
′）とは同特性のものから成る。第１のＸ線検出器（３
）には第１のフィルタ（４）が、第２のＸ線検出器（６
′）には第２のフィルタ（４′）が各々取付けられてい
る。ここで、第２のフィルタ（４′）は試験片がら成シ
、第１のフィルタ（４）は該試験片と同材質の金属板か
ら成る。例えば第２のフィルタ（４′）すなわち試験片
が鉄の場合、第１のフィルタ（４）は同材質の鉄薄板を
用いる。第１のフィルタ（４）の厚さをｔｌ、第２のフ
ィルタ（４′）の厚さをｔｌとすると、ｔｌとｔｌとは
ｔｌ、＞ ｔ、の関係にあシ、ｔｌはｔ＋＝０の場合、
すなわち第１のＸ線検出器（３）にフィルタを取付けな
い場合を含む、 （５）は前記第１のＸ線検出器（３）で検出されたＸ線
を積算して線量率Ｉ、を求める第１のＸ線線量計、（５
′）は前記第２のＸ線検出器（６′）で検出されたＸ線
を積算して線量率Ｉ２を求める第２のＸ線線量計である
。（６）は、前記第１のＸ線線量計（５）で求めた線量
ｘ ＩＩｓ前記第２のＸ線線量計（５′）で求めた線量
ｇ Ｉ２、第１のフィルタ（４）の厚さｔｌ及び第２の
フィルタ（４′）の厚さｔｚからＸ線の吸収係数を求め
る演算器である。
（ハ）はＸ線の吸収係数と各種フィルムのフィルム感度
との関係をあらかじめ記憶した第１の記憶手段である。
との関係をあらかじめ記憶した第１の記憶手段である。
（２）は該第１の記憶手段（２）に記憶された上記関係
から前記演算器（６）で求めた吸収係数に対応した所定
フィルムのフィルム感度を求める第１の演算装置でおる
。ｆｆ３は各種フィルム感度のフィルムについての露出
量とフィルム濃度との関係をあらかじめ記憶した第２の
記憶手段である。ｆ４は該第２の記憶手段Ｑ葎に記憶さ
れた上記関係から前記第１の演算装置（２）で求めたフ
ィルム感度のフィルムについての露出量とフィルム濃度
との関係を選択する選択手段である。ｆ［有］は該選択
手段ケ→で選択きれた前記関係からあらかじめ定めたフ
ィルム濃度に対応したＸ線の露出量を求める第２の演算
装置である。以上説明した第１の記憶手段の）と、第１
の演算装置（２）と、第２の記憶手段１７３と、選択手
段（７→と、第２の演算装置ｆ椴とから計算装置（力が
構成される。なお、この計算装置（７ンで求めｆｃＸ線
の露出量は表示装置（図示せず）に表示することもでき
るし、またこのＸ線の露出量が目標値に到達した場合に
Ｘ線発生装置（８）のＸ線の照射を停止させるようにす
ることもできる。
から前記演算器（６）で求めた吸収係数に対応した所定
フィルムのフィルム感度を求める第１の演算装置でおる
。ｆｆ３は各種フィルム感度のフィルムについての露出
量とフィルム濃度との関係をあらかじめ記憶した第２の
記憶手段である。ｆ４は該第２の記憶手段Ｑ葎に記憶さ
れた上記関係から前記第１の演算装置（２）で求めたフ
ィルム感度のフィルムについての露出量とフィルム濃度
との関係を選択する選択手段である。ｆ［有］は該選択
手段ケ→で選択きれた前記関係からあらかじめ定めたフ
ィルム濃度に対応したＸ線の露出量を求める第２の演算
装置である。以上説明した第１の記憶手段の）と、第１
の演算装置（２）と、第２の記憶手段１７３と、選択手
段（７→と、第２の演算装置ｆ椴とから計算装置（力が
構成される。なお、この計算装置（７ンで求めｆｃＸ線
の露出量は表示装置（図示せず）に表示することもでき
るし、またこのＸ線の露出量が目標値に到達した場合に
Ｘ線発生装置（８）のＸ線の照射を停止させるようにす
ることもできる。
第２図は本発明に係る放射線透過試験用露出測定装置の
第２実施例を示す説明図である。図中、（３）はＸ線検
出器であシ、（５）は該ＸＭ検出器（３）で検出された
Ｘ線を積算して線量率を求めるＸ線線量計である。（９
）はフィルタ装置であシ、該フィルタ装置（９）は前記
Ｘ線検出器（３）の前面に配置されたフィルタ部０Ｑと
、該フィルタ部αｑのフィルタを駆動する駆動部αのと
、該駆動部α℃を制御する制御部（２）とフィルタの位
置を検出する位置検出部（至）とから成る。（６）はフ
ィルタの切換えによってＸ線線量計（５）で得られたＸ
線の各線量１１ 、Ｉ２及び切換えるフィルタの板厚ｔ
＋＋ｈからＸ線の吸収係数を求める演算器である。（７
）は計算装置であシ、該計算装置（７）は前記第１実施
例のものと同一の構成を成している。
第２実施例を示す説明図である。図中、（３）はＸ線検
出器であシ、（５）は該ＸＭ検出器（３）で検出された
Ｘ線を積算して線量率を求めるＸ線線量計である。（９
）はフィルタ装置であシ、該フィルタ装置（９）は前記
Ｘ線検出器（３）の前面に配置されたフィルタ部０Ｑと
、該フィルタ部αｑのフィルタを駆動する駆動部αのと
、該駆動部α℃を制御する制御部（２）とフィルタの位
置を検出する位置検出部（至）とから成る。（６）はフ
ィルタの切換えによってＸ線線量計（５）で得られたＸ
線の各線量１１ 、Ｉ２及び切換えるフィルタの板厚ｔ
＋＋ｈからＸ線の吸収係数を求める演算器である。（７
）は計算装置であシ、該計算装置（７）は前記第１実施
例のものと同一の構成を成している。
次に本発明の作用について説明する。まず、第１のＸ線
検出器（３）でＸ線を検出し、これを第１のＸ線線量計
（５）で積算してその線量率１１を求める。
検出器（３）でＸ線を検出し、これを第１のＸ線線量計
（５）で積算してその線量率１１を求める。
同様に第２のＸ線検出器（３′）でＸ線を検出し、これ
を第２のＸ線線量計（５′）で積算してその線量率Ｉ２
を求める、このときの第１のフィルタ（４）の厚さをｔ
ｌｓ第２のフィルタ（４′）の厚さをｔｚ、Ｘ線の吸収
係数をμとすると下記の式が成立する。
を第２のＸ線線量計（５′）で積算してその線量率Ｉ２
を求める、このときの第１のフィルタ（４）の厚さをｔ
ｌｓ第２のフィルタ（４′）の厚さをｔｚ、Ｘ線の吸収
係数をμとすると下記の式が成立する。
Ｉ２＝ ＩＩ ｅ−μ（ｈ−ｔ＋）
１
１１ ・（ｔｚ −ｔ＋ ） ＝ｔｎ −２
すなわち、厚さの異なる２枚のフィルタ（４）。
（４′）を通った後のそれぞれのＸ線の線量率Ｉ、 、
Ｉ２が測定できればそのＸ線の吸収係数μが算出でき
る。この計算は演算器（６）で打力う。
Ｉ２が測定できればそのＸ線の吸収係数μが算出でき
る。この計算は演算器（６）で打力う。
第４図は前述したようにＸ線の実効エネルギーとフィル
ム感度との関係を示すグラフであるが、Ｘ線の実効エネ
ルギーと吸収係数とは以下に述べる関係に６．Ｄ、従っ
て上記グラフからＸ線の吸収係数と各種フィルムのフィ
ルム感度との関係を求めることができる。
ム感度との関係を示すグラフであるが、Ｘ線の実効エネ
ルギーと吸収係数とは以下に述べる関係に６．Ｄ、従っ
て上記グラフからＸ線の吸収係数と各種フィルムのフィ
ルム感度との関係を求めることができる。
そこで、このＸｉの吸収係数と各種フィルムのフィルム
感度との関係を第１の記憶手段（ハ）に記憶させておき
、第１の演算装置（ハ）で、第１の記憶手段（ハ）に記
憶させた関係に前記演算器（６）で求めた吸収係数を対
応させて所定フィルムのフィルム感度を求める。
感度との関係を第１の記憶手段（ハ）に記憶させておき
、第１の演算装置（ハ）で、第１の記憶手段（ハ）に記
憶させた関係に前記演算器（６）で求めた吸収係数を対
応させて所定フィルムのフィルム感度を求める。
第５図は各種フィルム感度のフィルムについての露出ｉ
−とフィルム濃度との関係を示すグラフでアシ、この関
係を第２の記憶手段Ｑ３に記憶させておき、選択手段Ｑ
４で、第２の記憶手段（ハ）に記憶させた関係から前記
第１の演算装置（ハ）で求めたフィルム感度のフィルム
についての露出ｆｉｌフイルム濃度との関係を選択する
。そして、第２の演算装置ケゆで上記選択された関係か
らあらかじめ定めたフィルム濃度に対応したＸ線の露出
量を求める。
−とフィルム濃度との関係を示すグラフでアシ、この関
係を第２の記憶手段Ｑ３に記憶させておき、選択手段Ｑ
４で、第２の記憶手段（ハ）に記憶させた関係から前記
第１の演算装置（ハ）で求めたフィルム感度のフィルム
についての露出ｆｉｌフイルム濃度との関係を選択する
。そして、第２の演算装置ケゆで上記選択された関係か
らあらかじめ定めたフィルム濃度に対応したＸ線の露出
量を求める。
この露出量は表示装置によシ実時間にて表示する。
なお、計算装置（７）に目標濃度をプリセットしておけ
ば、必要な線量に到達した後、終了信号をＸ線発生装置
（８）に出力し、Ｘ線の照射を自動的に停止させること
もできる。
ば、必要な線量に到達した後、終了信号をＸ線発生装置
（８）に出力し、Ｘ線の照射を自動的に停止させること
もできる。
なお、第２実施例のものはｘｉ検出器とＸ線線量計がそ
れぞれ１つしかないが、これはフィルタを切換えること
によって第１実施例のものと同様に作用させることがで
きる。
れぞれ１つしかないが、これはフィルタを切換えること
によって第１実施例のものと同様に作用させることがで
きる。
本発明は以上説明したように構成したので放射線透過試
験における露出量を簡単かつ正確に求めることができ、
従って、放射線透過試験を正確に行なうことができる効
果がおる。
験における露出量を簡単かつ正確に求めることができ、
従って、放射線透過試験を正確に行なうことができる効
果がおる。
第１図は放射線透過試験法の説明図、第２図は材厚と露
出量とから成る露出線図、第３図は露出量とフィルム濃
度とから成るフィルム特性曲線図、第４図はＸ線の実効
エネルギーとフィルム感度とから成る関係図、第５図は
Ｘ線の実効エネルギーとＸｉ検出器の検出効率とから成
る関係図、第６図は本発明に係る放射線透過試験用露出
測定装置の第１実施例を示す説明図、第７図は本発明に
係る放射線透過試験用露出測定装置の第２実施例を示す
説明図、第８図は第６図又は第７図の計算装置の詳細説
明図である。 ６．３′・・・Ｘ線検出器、４ 、４’、・、フィルタ
、５゜５′・・・Ｘ線線量計、６・・・演算器、７・・
・計算装置、７１・・・第１の記憶手段、７２・・・第
１の演算装置、７６・・・第２の記憶手段、７４・・・
通釈手段、７５・・・第２の演算装置。 代理人 弁理士 木 村 三 朗
出量とから成る露出線図、第３図は露出量とフィルム濃
度とから成るフィルム特性曲線図、第４図はＸ線の実効
エネルギーとフィルム感度とから成る関係図、第５図は
Ｘ線の実効エネルギーとＸｉ検出器の検出効率とから成
る関係図、第６図は本発明に係る放射線透過試験用露出
測定装置の第１実施例を示す説明図、第７図は本発明に
係る放射線透過試験用露出測定装置の第２実施例を示す
説明図、第８図は第６図又は第７図の計算装置の詳細説
明図である。 ６．３′・・・Ｘ線検出器、４ 、４’、・、フィルタ
、５゜５′・・・Ｘ線線量計、６・・・演算器、７・・
・計算装置、７１・・・第１の記憶手段、７２・・・第
１の演算装置、７６・・・第２の記憶手段、７４・・・
通釈手段、７５・・・第２の演算装置。 代理人 弁理士 木 村 三 朗
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試験片と同材質の既知の厚みのフィルタを通過した放射
線と、同じ線源からフィルタを通過しない放射線又は前
記フィルタと同材質で異なる既知の厚さの別のフィルタ
を通過した放射線からなる基準放射線との線量率を各々
測定する放射線測定手段、両者の線量率の比と前記フィ
ルタの厚さとに基いて吸収係数を演算する演算器、 放射線の吸収係数と所定フィルムのフィルム感度との関
係をあらかじめ記憶した第１の記憶手段と、該第１の記
憶手段に記憶された放射線の吸収係数と所定フィルムの
フィルム感度との関係から前記演算器で求めた吸収係数
に対応したフィルム感度を求める第１の演算装置と、各
種フィルム感度のフィルムについての露出量とフィルム
濃度との関係をあらかじめ記憶した第２の記憶手段と、
該第２の記憶手段に記憶された各種フィルム感度のフィ
ルムについての露出量とフィルム濃度との関係から上記
第１の演算装置で求めたフィルム感度のフィルムについ
ての露出量とフィルム濃度との関係を選択する選択手段
と、該選択手段で選択された所定フィルム感度のフィル
ムについての露出量とフィルム濃度との関係からあらか
じめ定められたフィルム濃度に対応した露出量を求める
第２の演算装置とから成る計算装置 とを備えたことを特徴とする放射線透過試験用露出測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58078212A JPS59203947A (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 放射線透過試験用露出測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58078212A JPS59203947A (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 放射線透過試験用露出測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59203947A true JPS59203947A (ja) | 1984-11-19 |
Family
ID=13655737
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58078212A Pending JPS59203947A (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 放射線透過試験用露出測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59203947A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6138553U (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-11 | 日本鋼管株式会社 | 放射線透過試験用露出測定装置 |
| EP0345097A2 (en) * | 1988-06-03 | 1989-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure method and apparatus |
-
1983
- 1983-05-06 JP JP58078212A patent/JPS59203947A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6138553U (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-11 | 日本鋼管株式会社 | 放射線透過試験用露出測定装置 |
| EP0345097A2 (en) * | 1988-06-03 | 1989-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure method and apparatus |
| US5131022A (en) * | 1988-06-03 | 1992-07-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure method and apparatus |
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