JPS582649A - 磁気探傷装置 - Google Patents
磁気探傷装置Info
- Publication number
- JPS582649A JPS582649A JP10036181A JP10036181A JPS582649A JP S582649 A JPS582649 A JP S582649A JP 10036181 A JP10036181 A JP 10036181A JP 10036181 A JP10036181 A JP 10036181A JP S582649 A JPS582649 A JP S582649A
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- Japan
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- delay
- signal
- probe
- signals
- circuit
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9066—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals by measuring the propagation time, or delaying the signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、金属材料の表面近傍に存在する各種の形状の
傷を、１個の探触子て、同時にそれぞれ精度よく検出し
得る漏洩磁束検出型磁気探傷装置に関する。
傷を、１個の探触子て、同時にそれぞれ精度よく検出し
得る漏洩磁束検出型磁気探傷装置に関する。
従来の漏洩磁束検出型探傷装置の最も一般的なタイプは
、探触子に磁気検出素子を２個備えた２素子型である◇
この型の特徴を第１〜４図で説明する。
、探触子に磁気検出素子を２個備えた２素子型である◇
この型の特徴を第１〜４図で説明する。
第１図において、１は被検材で、２は偏部を迂回する漏
洩磁束、３は探触子で走査方向に小さい間隔を置いて２
個の磁気検出素子４．４′を樹脂のベースに埋め込んだ
ものである。これら素子は、漏洩磁束帯を通過する際、
それぞれ磁束あ垂直成分または水平成分を感知し、第２
図〜第３図をこ実線で示す如き傷信号曲線を描く。以下
垂直成分感知の場合について説明すると、図においてへ
は素子がプラスの最大感度を示す位置、ｂはマイナスの
最大感度を示す位置で元る。２個の素子の間隔なりとし
、ａｂ間をｄとした場合、およそＤキｄの場合は第２図
のとおり、素子４がｂ地点に達した時、素子４′はａ地
点にあり、これらの信号を差動回路で処理すると、破線
で示すとおりの波形が得られ、検出素子が単一の場合と
くらべて２倍の信号電力が得られる。また、この際のベ
ースノイズも消去されるので、ＳＮ比は２倍以上に向上
することとなる。そして、およそ２Ｄ＞ｄの範囲では、
同様にして信号電力は１〜２倍の範囲で増加するが、お
よそ２Ｄ＜ｄｔこなると第３図に示す如く逆に減少する
。このことはｄが２９より大きいような漏洩磁束がノイ
ズであるか、または検出対象でない傷に起因するもので
ある場合は、ＳＮ比を更に・向上させることを意味する
。
洩磁束、３は探触子で走査方向に小さい間隔を置いて２
個の磁気検出素子４．４′を樹脂のベースに埋め込んだ
ものである。これら素子は、漏洩磁束帯を通過する際、
それぞれ磁束あ垂直成分または水平成分を感知し、第２
図〜第３図をこ実線で示す如き傷信号曲線を描く。以下
垂直成分感知の場合について説明すると、図においてへ
は素子がプラスの最大感度を示す位置、ｂはマイナスの
最大感度を示す位置で元る。２個の素子の間隔なりとし
、ａｂ間をｄとした場合、およそＤキｄの場合は第２図
のとおり、素子４がｂ地点に達した時、素子４′はａ地
点にあり、これらの信号を差動回路で処理すると、破線
で示すとおりの波形が得られ、検出素子が単一の場合と
くらべて２倍の信号電力が得られる。また、この際のベ
ースノイズも消去されるので、ＳＮ比は２倍以上に向上
することとなる。そして、およそ２Ｄ＞ｄの範囲では、
同様にして信号電力は１〜２倍の範囲で増加するが、お
よそ２Ｄ＜ｄｔこなると第３図に示す如く逆に減少する
。このことはｄが２９より大きいような漏洩磁束がノイ
ズであるか、または検出対象でない傷に起因するもので
ある場合は、ＳＮ比を更に・向上させることを意味する
。
以上のとおり、従来の磁気探傷装置は、Ｓ／Ｎ、比をよ
くする為に、２素子探触子を用いているが、この方式で
は２素子間の距離りが定められると、感度（Ｓ／Ｎ比）
よく検出され得る傷がｄ中りという特定の大きさの漏洩
磁束を出す傷に限られてしまうことをこなる。いろいろ
の種類の傷を同じように感度よく検出するには、それだ
けの数の異るＤの探触子を並べて用いるしかない。更に
２素子探触子は、画素子の受信感度が揃うように精密に
作られなければならず、歩留りが悪い等、製作コヌト上
にも難点があった。
くする為に、２素子探触子を用いているが、この方式で
は２素子間の距離りが定められると、感度（Ｓ／Ｎ比）
よく検出され得る傷がｄ中りという特定の大きさの漏洩
磁束を出す傷に限られてしまうことをこなる。いろいろ
の種類の傷を同じように感度よく検出するには、それだ
けの数の異るＤの探触子を並べて用いるしかない。更に
２素子探触子は、画素子の受信感度が揃うように精密に
作られなければならず、歩留りが悪い等、製作コヌト上
にも難点があった。
本発明は、以上の問題点を一消する為になされたもので
、その要旨とするところは、単一の磁気検出素子を備え
た探触子と、該検出素子からの信号を遅延させる複数個
の遅延回路と、各遅延信号を即時信号と比較して変化量
を演算する差動回路と、各差動回路からの信号から傷信
号のみを分離するフィルター回路と、各傷信号からそれ
ぞれある設定値以上のものを弁別し、処理命令を出す為
の合否判定回路と、を主構成要素としたことを特徴とす
る磁気探傷装置である。
、その要旨とするところは、単一の磁気検出素子を備え
た探触子と、該検出素子からの信号を遅延させる複数個
の遅延回路と、各遅延信号を即時信号と比較して変化量
を演算する差動回路と、各差動回路からの信号から傷信
号のみを分離するフィルター回路と、各傷信号からそれ
ぞれある設定値以上のものを弁別し、処理命令を出す為
の合否判定回路と、を主構成要素としたことを特徴とす
る磁気探傷装置である。
次に本発明につき詳細に説明する。第４図に本発明装置
のブロック回路図を示す。図に示すとおり、本発明にお
ける探触子は、１個の磁気検出素子のみを備えている。
のブロック回路図を示す。図に示すとおり、本発明にお
ける探触子は、１個の磁気検出素子のみを備えている。
探触子５が被検材表面と一定間隔離れた位置を、相対速
度Ｖで走査する。この際、ａ、１３間距離がｄｌである
ような漏洩磁束を最大感度で検出したい場合、即時信号
とは別に即時信号から距離ｄｉだけ、時間にしてｄｉ／
Ｖ だけ遅らせた遅延信号を遅延回路により得て、こ
れと即時信号とを差動回路１こかけるのである。こうす
ることで、第１図における２素子探触子の素子４′の役
割を遅延回路が果すことになり、第２図１こおける信号
波形■および■−■と同様の信号波形が得られる。遅延
回路は、複数個を設は検出したい各種の傷のｄ＆に応じ
てそれぞれ遅延時間を（ｌｉ／Ｖ に設定する。
度Ｖで走査する。この際、ａ、１３間距離がｄｌである
ような漏洩磁束を最大感度で検出したい場合、即時信号
とは別に即時信号から距離ｄｉだけ、時間にしてｄｉ／
Ｖ だけ遅らせた遅延信号を遅延回路により得て、こ
れと即時信号とを差動回路１こかけるのである。こうす
ることで、第１図における２素子探触子の素子４′の役
割を遅延回路が果すことになり、第２図１こおける信号
波形■および■−■と同様の信号波形が得られる。遅延
回路は、複数個を設は検出したい各種の傷のｄ＆に応じ
てそれぞれ遅延時間を（ｌｉ／Ｖ に設定する。
本発明に用いる遅延回路としては、例えばパケット・プ
リゲート回路を使用した市販の各種オーディオ用の信号
遅延装置を用いてもよいが、より簡素なものを設計し、
使用してもよい。いずれにしても、即時信号から複数個
の遅延信号を得るのであるか、ら、時分割サンプリング
方式を使用するのが適切である。
リゲート回路を使用した市販の各種オーディオ用の信号
遅延装置を用いてもよいが、より簡素なものを設計し、
使用してもよい。いずれにしても、即時信号から複数個
の遅延信号を得るのであるか、ら、時分割サンプリング
方式を使用するのが適切である。
差動回路以降、フィルター回路、合否判定回路等は、２
素子型探傷機をご用いるものと同じでよい。
素子型探傷機をご用いるものと同じでよい。
なお、これら主構成要素のほかに、磁気探傷装置として
当然あるいは任意をこ備えるべき各種機構、回路を、本
発明装置においても備えていることは勿論である。
当然あるいは任意をこ備えるべき各種機構、回路を、本
発明装置においても備えていることは勿論である。
以上の通り、本発明装置によって単一の検出素子、単一
の探触子でもって、検出したい全ての漏洩磁束について
、それぞれの形状に応じて、個々に自由に遅延回路の遅
延時間なセ・ントしておくことにより、それぞれの漏洩
磁束を最大感度で検出することができ、検査精度と検査
作業能率の向上をこきわめて大きい貢献をすることがで
きた。更に探触子は、検出素子を１個備えるだけなので
、２素子型をこおける如きレベル合わせを要せず、製作
が容易となり、コストも安い利点もある。
の探触子でもって、検出したい全ての漏洩磁束について
、それぞれの形状に応じて、個々に自由に遅延回路の遅
延時間なセ・ントしておくことにより、それぞれの漏洩
磁束を最大感度で検出することができ、検査精度と検査
作業能率の向上をこきわめて大きい貢献をすることがで
きた。更に探触子は、検出素子を１個備えるだけなので
、２素子型をこおける如きレベル合わせを要せず、製作
が容易となり、コストも安い利点もある。
第１図は、一般の磁気探傷の原理説明図、第２〜３図は
一般の２素子型探触子により得られる傷信号波形で、第
２図は最大をこ感度が向上する場合、第３図は感度が低
下する場合を示す。第４図は本発明装置のブロック回路
図である。
一般の２素子型探触子により得られる傷信号波形で、第
２図は最大をこ感度が向上する場合、第３図は感度が低
下する場合を示す。第４図は本発明装置のブロック回路
図である。
Claims (1)
- 単一の磁気検出素子を備えた探触子と、該検出素子から
の信号を遅延させる複数個の遅延回路と、各遅延回路か
らの遅延信号を即時信号と比較して変化量を演算する差
動回路と、各差動回路からの信号から傷信号のみを分離
するフィルター回路と、各傷信号からそれぞれある設定
値以上のものを弁別し処理命令を出す為の合否判定回路
と、を主構成要素としたことを特徴とする磁気探傷装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10036181A JPS582649A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10036181A JPS582649A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 磁気探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582649A true JPS582649A (ja) | 1983-01-08 |
| JPS6324259B2 JPS6324259B2 (ja) | 1988-05-19 |
Family
ID=14271934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10036181A Granted JPS582649A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 磁気探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582649A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003322640A (ja) * | 2002-05-07 | 2003-11-14 | Nippon Steel Corp | 鋼材の表面疵検出装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5276392U (ja) * | 1975-12-05 | 1977-06-07 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP10036181A patent/JPS582649A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5276392U (ja) * | 1975-12-05 | 1977-06-07 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003322640A (ja) * | 2002-05-07 | 2003-11-14 | Nippon Steel Corp | 鋼材の表面疵検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6324259B2 (ja) | 1988-05-19 |
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