JPS604127Y2 - 差動型磁気探傷装置 - Google Patents
差動型磁気探傷装置Info
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- JPS604127Y2 JPS604127Y2 JP1975164259U JP16425975U JPS604127Y2 JP S604127 Y2 JPS604127 Y2 JP S604127Y2 JP 1975164259 U JP1975164259 U JP 1975164259U JP 16425975 U JP16425975 U JP 16425975U JP S604127 Y2 JPS604127 Y2 JP S604127Y2
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- Japan
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- magnetic field
- magnetic
- tubular body
- field detection
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は磁気特性を利用して鋼管等管状磁性金属体に存
在する欠陥を探知する差動型の磁気探傷装置に関する。
在する欠陥を探知する差動型の磁気探傷装置に関する。
従来この種の差動型磁気探傷装置は、その探傷子として
、第５図に示す如く、同一の差動増幅器Ａに接続され、
互に設定間隔をおいて配列された２個の磁場検出素子Ｍ
ａ、 Ｍｂからなるものを適数個用い、管状磁性金属体
（以下管状体Ｐという）の送導径路近傍に、例えば円周
方向欠陥の幅寸法を検知する場合は前記磁場検出素子Ｍ
ａ、Ｍｂが管状体Ｐの矢符で図示する送導方向前後に位
置するように探傷子を設置して使用する構成のものであ
った。
、第５図に示す如く、同一の差動増幅器Ａに接続され、
互に設定間隔をおいて配列された２個の磁場検出素子Ｍ
ａ、 Ｍｂからなるものを適数個用い、管状磁性金属体
（以下管状体Ｐという）の送導径路近傍に、例えば円周
方向欠陥の幅寸法を検知する場合は前記磁場検出素子Ｍ
ａ、Ｍｂが管状体Ｐの矢符で図示する送導方向前後に位
置するように探傷子を設置して使用する構成のものであ
った。
そして管状体Ｐの外周面又は内周面に生じる欠陥は、そ
のほとんどが製造工程における特定の機器又は部品の異
常動作に基因するものであるから、例えば円周方向欠陥
についていえばその円周方向への長さ寸法が種々異なる
にせよ、その幅寸法すなわち軸方向寸法はほとんどの円
周方向欠陥について略々同一になることが知られている
ので、従来装置においては探傷子の磁場検出素子Ｍａ、
Ｍｂの配列間隔を管状体Ｐに存在する円周方向欠陥に
略々共通の幅寸法（以下、標準幅寸法Ｗという）の１７
２に一致するように設定しておくのが通常であった。
のほとんどが製造工程における特定の機器又は部品の異
常動作に基因するものであるから、例えば円周方向欠陥
についていえばその円周方向への長さ寸法が種々異なる
にせよ、その幅寸法すなわち軸方向寸法はほとんどの円
周方向欠陥について略々同一になることが知られている
ので、従来装置においては探傷子の磁場検出素子Ｍａ、
Ｍｂの配列間隔を管状体Ｐに存在する円周方向欠陥に
略々共通の幅寸法（以下、標準幅寸法Ｗという）の１７
２に一致するように設定しておくのが通常であった。
しかしながら、このような設定間隔で配列された磁場検
出素子Ｍａ、 Ｍｂによって管状体Ｐの円周方向欠陥を
検知する場合、管状体Ｐの外周面に存在する円周方向欠
陥（以下単に外周傷Ｆ工という）については良好なＳ／
Ｎ比でこれを探知できるが、管状体Ｐの内周面に存在す
る円周方向欠陥（以下単に内周傷Ｆ２という）の探知に
ついてはＳ／Ｎ比が悪いという欠点があつた。
出素子Ｍａ、 Ｍｂによって管状体Ｐの円周方向欠陥を
検知する場合、管状体Ｐの外周面に存在する円周方向欠
陥（以下単に外周傷Ｆ工という）については良好なＳ／
Ｎ比でこれを探知できるが、管状体Ｐの内周面に存在す
る円周方向欠陥（以下単に内周傷Ｆ２という）の探知に
ついてはＳ／Ｎ比が悪いという欠点があつた。
本考案は、従来の差動型磁気探傷装置にみられた上記の
如き欠点を除去し、管状体の欠陥が内外周面のいずれに
存在する場合においても常に良好なＳ／Ｎ比でこれを探
知しうる新規な差動型磁気探傷装置の提供を目的とする
。
如き欠点を除去し、管状体の欠陥が内外周面のいずれに
存在する場合においても常に良好なＳ／Ｎ比でこれを探
知しうる新規な差動型磁気探傷装置の提供を目的とする
。
本考案者は、差動型磁気探傷装置におけるＳｌＮ比を改
善するために、従来看過されていた探傷子内の磁場検出
素子配列間隔の検討を行っていたがその結果法のような
知見を得た。
善するために、従来看過されていた探傷子内の磁場検出
素子配列間隔の検討を行っていたがその結果法のような
知見を得た。
すなわち、磁場発生コイル（図示省略）等を用いて管状
体Ｐに磁場を与えた場合において、管状体Ｐの内外周に
存在する欠陥に基因して管状体Ｐの外周面から漏洩する
磁束の広がりすなわち欠陥幅方向への分布範囲は、第５
図に破線で示す如く、該欠陥が外周傷Ｆ１であるときは
その欠陥幅寸法すなわち前記標準幅寸法Ｗに略々一致す
るおに対し、該欠陥が内周傷Ｆ２であるときはその欠陥
幅寸法の２倍乃至用倍すなわち２Ｗ〜ＩＯＷに拡大し、
その拡大の度合は管状体Ｐの肉厚に関係することが判明
した。
体Ｐに磁場を与えた場合において、管状体Ｐの内外周に
存在する欠陥に基因して管状体Ｐの外周面から漏洩する
磁束の広がりすなわち欠陥幅方向への分布範囲は、第５
図に破線で示す如く、該欠陥が外周傷Ｆ１であるときは
その欠陥幅寸法すなわち前記標準幅寸法Ｗに略々一致す
るおに対し、該欠陥が内周傷Ｆ２であるときはその欠陥
幅寸法の２倍乃至用倍すなわち２Ｗ〜ＩＯＷに拡大し、
その拡大の度合は管状体Ｐの肉厚に関係することが判明
した。
この知見によれば従来の如く２個の磁場検出素子を前記
設定間隔１／２Ｗで配列した探傷子を用いるだけでは内
周傷探知の場合におけるＳ／Ｎ比が悪くなるのは自明の
理である。
設定間隔１／２Ｗで配列した探傷子を用いるだけでは内
周傷探知の場合におけるＳ／Ｎ比が悪くなるのは自明の
理である。
そきて本考案者は、従来の設定間隔より２倍乃至川倍広
い間隔で２個の磁場検出素子を配列した探傷子を新設し
、この新らたな探傷子によって管状体の内周傷を、また
従来の探傷子によって管状体の外周傷をそれぞれ探知さ
せることによって管状体の磁気探傷におけるＳ／Ｎ比を
改善する本考案を完成した、本考案をその実施例を示す
図面に基いて説明すると以下のとおりである。
い間隔で２個の磁場検出素子を配列した探傷子を新設し
、この新らたな探傷子によって管状体の内周傷を、また
従来の探傷子によって管状体の外周傷をそれぞれ探知さ
せることによって管状体の磁気探傷におけるＳ／Ｎ比を
改善する本考案を完成した、本考案をその実施例を示す
図面に基いて説明すると以下のとおりである。
すなわち、本考案に係る差動型磁気探傷装置（以下、本
案装置という）は、第１図に示す如く、管状体Ｐの送導
径路に対設した１対の磁場発生環状コイルＣ９Ｃ等の管
状体磁化手段と前記送導径路近傍に設けられ、略々１／
２Ｗの設定間隔で配列した２個の磁場検出素子Ｍａ、
Ｍｂを装着した規定間隔探傷子Ｍと磁場検出素子Ｍａ、
Ｍｂに差動接続した差動増幅器Ａ等からなる従来公知
の差動型磁気探傷装置の前記規定間隔探傷子Ｍに近接し
て、前記設定間隔の２倍乃至用倍の間隔で磁場検出素子
Ｍａ、Ｍｂの配列方向と同一方向に配列した２個の磁場
検出素子Ｎａ、 Ｎｂを装着した広幅間隔探傷子Ｎを設
は該磁場検出素子Ｎａ、 Ｎｂは差動増幅器Ｂに差動接
続し、差動増幅器Ａ、 Ｂの出力は一括して又は別個に
適宜の信号処理回路Ｑを介してオッシログラフ等の信号
表示器Ｒに接続したものである。
案装置という）は、第１図に示す如く、管状体Ｐの送導
径路に対設した１対の磁場発生環状コイルＣ９Ｃ等の管
状体磁化手段と前記送導径路近傍に設けられ、略々１／
２Ｗの設定間隔で配列した２個の磁場検出素子Ｍａ、
Ｍｂを装着した規定間隔探傷子Ｍと磁場検出素子Ｍａ、
Ｍｂに差動接続した差動増幅器Ａ等からなる従来公知
の差動型磁気探傷装置の前記規定間隔探傷子Ｍに近接し
て、前記設定間隔の２倍乃至用倍の間隔で磁場検出素子
Ｍａ、Ｍｂの配列方向と同一方向に配列した２個の磁場
検出素子Ｎａ、 Ｎｂを装着した広幅間隔探傷子Ｎを設
は該磁場検出素子Ｎａ、 Ｎｂは差動増幅器Ｂに差動接
続し、差動増幅器Ａ、 Ｂの出力は一括して又は別個に
適宜の信号処理回路Ｑを介してオッシログラフ等の信号
表示器Ｒに接続したものである。
上記の如く構成した本案装置を用いて管状体Ｐの円周方
向傷を磁気探傷する場合は、第１図に矢符で示す方向へ
管状体Ｐを送導する。
向傷を磁気探傷する場合は、第１図に矢符で示す方向へ
管状体Ｐを送導する。
標準幅寸法Ｗの外周傷Ｆ１が規定間隔探傷子Ｍの直下を
通過するとき、該外周傷Ｆ１に基因する漏洩磁束は先ず
磁場検出素子Ｍａに検知され次いで磁場検出素子Ｍｂに
検知される。
通過するとき、該外周傷Ｆ１に基因する漏洩磁束は先ず
磁場検出素子Ｍａに検知され次いで磁場検出素子Ｍｂに
検知される。
磁場検出素子Ｍａ、Ｍｂの配列間隔は略々１／２Ｗに設
定されているのでこれらの磁場検出素子が漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号ｍ９ｍ′は第２図Ａ、
Ｂに示す如く凡そ１８０°の位相差を示す。
定されているのでこれらの磁場検出素子が漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号ｍ９ｍ′は第２図Ａ、
Ｂに示す如く凡そ１８０°の位相差を示す。
従ってこのとき差動増幅器Ａの出力する差分信号Ｘは第
２図Ｃに示す如く振幅が磁場信号ｍ９ｍ′の２倍近い十
分大きな信号になる。
２図Ｃに示す如く振幅が磁場信号ｍ９ｍ′の２倍近い十
分大きな信号になる。
これに反し標準幅寸法Ｗの内周傷Ｆ２が規定間隔探傷子
Ｍの直下を通過するときは、前述の如く該内周傷Ｆ２に
基因する漏洩磁束の分布範囲が２Ｗ乃至１０Ｗにまで及
んでいるため、例えば分布範囲２Ｗの場合を例にとって
説明すると磁場検出素子Ｍａ、 Ｍｂが該漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号ｍ９ｍ′は第３図Ａ、
Ｂに示す如くその位相差が９０°程度になる。
Ｍの直下を通過するときは、前述の如く該内周傷Ｆ２に
基因する漏洩磁束の分布範囲が２Ｗ乃至１０Ｗにまで及
んでいるため、例えば分布範囲２Ｗの場合を例にとって
説明すると磁場検出素子Ｍａ、 Ｍｂが該漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号ｍ９ｍ′は第３図Ａ、
Ｂに示す如くその位相差が９０°程度になる。
従ってこのとき差動増幅器Ａは、差分信号Ｘとして、第
３図Ｃに示す如くその振幅が磁場信号ｍ。
３図Ｃに示す如くその振幅が磁場信号ｍ。
ｍ′の振幅に比してほとんど差のない信号を出力するに
過ぎない。
過ぎない。
これがすなわち、従来装置において管状体の内周傷を探
知する際のＳ／Ｎ比が悪いとされていた理由に他ならな
い。
知する際のＳ／Ｎ比が悪いとされていた理由に他ならな
い。
しかしながら本案装置においては広幅間隔探傷子Ｎが併
設されており広幅間隔探傷子Ｎを構成する磁場検出素子
Ｎａ、 Ｎｂは内周傷Ｆ２に基因する漏洩磁束の分布範
囲に対応する間隔、すなわち分布範囲が２Ｗの場合には
２Ｗｘｌ／２＝Ｗの間隔で配列されているため、内周傷
Ｆ２が広幅間隔探傷子Ｎの直下を通過する際に磁場検出
素子Ｎａ、 Ｎｂが発する正弦波状の磁場信号ｎ、ｎ′
は第４図Ａ、 Ｂに示す如く凡そ１８００の位相差を示
すので、このとき差動増幅器Ｂの出力する差分信号ｙは
第４図Ｃに示す如く振幅が磁場信号ｎ、ｎ′の２倍近い
十分大きな信号になる。
設されており広幅間隔探傷子Ｎを構成する磁場検出素子
Ｎａ、 Ｎｂは内周傷Ｆ２に基因する漏洩磁束の分布範
囲に対応する間隔、すなわち分布範囲が２Ｗの場合には
２Ｗｘｌ／２＝Ｗの間隔で配列されているため、内周傷
Ｆ２が広幅間隔探傷子Ｎの直下を通過する際に磁場検出
素子Ｎａ、 Ｎｂが発する正弦波状の磁場信号ｎ、ｎ′
は第４図Ａ、 Ｂに示す如く凡そ１８００の位相差を示
すので、このとき差動増幅器Ｂの出力する差分信号ｙは
第４図Ｃに示す如く振幅が磁場信号ｎ、ｎ′の２倍近い
十分大きな信号になる。
従って差動増幅器Ａ、 Ｂの出力する差分信号ｘ、ｙを
信号処理回路Ｑにおいて所定レベル以上の入力信号に対
してのみ出力信号を発するように処理するなど適宜処理
した後、信号表示器Ｒに表示すれば、表示された信号か
ら管状体Ｐに存在するすべての欠陥を良好なＳ／Ｎ比で
探知することができる。
信号処理回路Ｑにおいて所定レベル以上の入力信号に対
してのみ出力信号を発するように処理するなど適宜処理
した後、信号表示器Ｒに表示すれば、表示された信号か
ら管状体Ｐに存在するすべての欠陥を良好なＳ／Ｎ比で
探知することができる。
本案装置はまた管状体Ｐの軸方向傷を磁気探傷するため
にも用いることが可能である。
にも用いることが可能である。
この目的に使用する場合は、従来から規定間隔探傷子Ｍ
を、これを構成する磁場検出素子の配列方向が管状体Ｐ
の外周に沿った円周方向となるように、設置するわけで
あるから広幅間隔探傷子Ｎもまたこれを構成する２個の
磁場検出素子が前記円周方向に一致するように設置して
管状体Ｐを軸心回転させながらその探傷を行う。
を、これを構成する磁場検出素子の配列方向が管状体Ｐ
の外周に沿った円周方向となるように、設置するわけで
あるから広幅間隔探傷子Ｎもまたこれを構成する２個の
磁場検出素子が前記円周方向に一致するように設置して
管状体Ｐを軸心回転させながらその探傷を行う。
この場合管状体Ｐの外周面に存在する軸方向傷のみなら
ず内周面に存在する軸方向傷をも良好なＳ／Ｎ比で探知
しうろことは前同様である。
ず内周面に存在する軸方向傷をも良好なＳ／Ｎ比で探知
しうろことは前同様である。
また本案装置の実際の使用にあたっては、規定間隔探傷
子Ｍと広幅間隔探傷子Ｎを各２個以上設置して探傷密度
の向上を図り得ることは勿論である。
子Ｍと広幅間隔探傷子Ｎを各２個以上設置して探傷密度
の向上を図り得ることは勿論である。
要するに、本案装置は従来装置に用いられていた規定間
隔探傷子Ｍの外にこれとは磁場検出素子の配列間隔が２
乃至Ｗ倍の広幅間隔探傷子Ｎを併設し、管状体の外周面
に存在する欠陥と内周面に存在する欠陥とを、配列間隔
の異なる二種類の探傷子によって別々に検出させるもの
であるから、管状体の内外周面いずれに存在する欠陥を
も良好なＳ／Ｎ比で探知することが可能になり、鋼管等
管状性金属体の品質管理面に寄与するところ大である。
隔探傷子Ｍの外にこれとは磁場検出素子の配列間隔が２
乃至Ｗ倍の広幅間隔探傷子Ｎを併設し、管状体の外周面
に存在する欠陥と内周面に存在する欠陥とを、配列間隔
の異なる二種類の探傷子によって別々に検出させるもの
であるから、管状体の内外周面いずれに存在する欠陥を
も良好なＳ／Ｎ比で探知することが可能になり、鋼管等
管状性金属体の品質管理面に寄与するところ大である。
なお、上記実施例においては信号処理回路Ｑ及び信号表
示器Ｒを共用するものとしたが、差動増幅器Ａ、 Ｂの
それぞれに独立の信号処理回路、信号表示器を設けるこ
とも可能である。
示器Ｒを共用するものとしたが、差動増幅器Ａ、 Ｂの
それぞれに独立の信号処理回路、信号表示器を設けるこ
とも可能である。
また、規定間隔探傷子Ｍと広幅間隔探傷子Ｎに代えてこ
れらを構成していた磁場検出素子Ｍａ、 Ｍｂ及びＮａ
。
れらを構成していた磁場検出素子Ｍａ、 Ｍｂ及びＮａ
。
Ｎｂの４個をこの順序に配列装着してなる単一の探傷子
を用いることも勿論可能である。
を用いることも勿論可能である。
図面は本考案の実施例を示すものであって、第１図は管
状体の側断面図と共に示す本案装置のブロック線図、第
２図乃至第４図の各Ａ、 Ｂ、 Ｃは本案装置の磁場信
号及び差分信号の波形図、第５図は管状体の側断面図と
共に従来公知の差動型磁気探傷装置のブロック線図であ
る。 Ｐ・・・・・・管状体、Ｆ□・・・・・・外周欠陥、Ｆ
２・・・・・・内周欠陥、Ｍ・・・・・・規定間隔探傷
子、Ｎ・・・・・・広幅間隔探傷子、Ｍａ、 Ｍｂ、
Ｎａ、 Ｎｂ・・・・・・磁場検出素子、Ａ、 Ｂ・・
・・・・差動増幅器、Ｑ・・・・・・信号処理回路、Ｒ
・・・・・・信号表示器、Ｃ・・・・・・磁場発生コイ
ル。
状体の側断面図と共に示す本案装置のブロック線図、第
２図乃至第４図の各Ａ、 Ｂ、 Ｃは本案装置の磁場信
号及び差分信号の波形図、第５図は管状体の側断面図と
共に従来公知の差動型磁気探傷装置のブロック線図であ
る。 Ｐ・・・・・・管状体、Ｆ□・・・・・・外周欠陥、Ｆ
２・・・・・・内周欠陥、Ｍ・・・・・・規定間隔探傷
子、Ｎ・・・・・・広幅間隔探傷子、Ｍａ、 Ｍｂ、
Ｎａ、 Ｎｂ・・・・・・磁場検出素子、Ａ、 Ｂ・・
・・・・差動増幅器、Ｑ・・・・・・信号処理回路、Ｒ
・・・・・・信号表示器、Ｃ・・・・・・磁場発生コイ
ル。
Claims (1)
- 同一の差動増幅器Ａに差動接続され、鋼管等管状磁性金
属体の傷に基因する漏洩磁束を検出する２個の磁場検出
素子相互が所定間隔で配列されてなる規定間隔探傷子と
、前記とは別の差動増幅器Ｂに差動接続され、前記磁性
金属体の傷に基因する漏洩磁束を検出する前記とは別の
２個の磁場検出素子相互が前記所間隔の２乃至用倍間隔
で配列されてなる広幅間隔探傷子とを有し、前記規定間
隔探傷子と広幅間隔探傷子とが近接して前記磁性金属体
の送導径路近傍に適数個併設され、前記差動増幅器Ａ、
Ｂの出力を適宜の信号処理回路を介して表示するよう
にしたことを特徴とする差動型磁気探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975164259U JPS604127Y2 (ja) | 1975-12-05 | 1975-12-05 | 差動型磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975164259U JPS604127Y2 (ja) | 1975-12-05 | 1975-12-05 | 差動型磁気探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5276392U JPS5276392U (ja) | 1977-06-07 |
| JPS604127Y2 true JPS604127Y2 (ja) | 1985-02-05 |
Family
ID=28643053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1975164259U Expired JPS604127Y2 (ja) | 1975-12-05 | 1975-12-05 | 差動型磁気探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604127Y2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4829883B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-12-07 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 管を非破壊検査するための方法及び装置 |
| JP2015179028A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 大阪瓦斯株式会社 | 欠陥深さ推定方法、及び欠陥深さ推定装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS582649A (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-08 | Sanyo Tokushu Seikou Kk | 磁気探傷装置 |
| JP2014202483A (ja) * | 2013-04-01 | 2014-10-27 | 大阪瓦斯株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
| JP6452880B1 (ja) * | 2018-06-13 | 2019-01-16 | 東亜非破壊検査株式会社 | 管状体のきず又は欠陥の検査方法及び装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5256989A (en) * | 1975-11-05 | 1977-05-10 | Kobe Steel Ltd | Detector for detecting flaw by eddy current |
-
1975
- 1975-12-05 JP JP1975164259U patent/JPS604127Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5256989A (en) * | 1975-11-05 | 1977-05-10 | Kobe Steel Ltd | Detector for detecting flaw by eddy current |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4829883B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-12-07 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 管を非破壊検査するための方法及び装置 |
| JP2015179028A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 大阪瓦斯株式会社 | 欠陥深さ推定方法、及び欠陥深さ推定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5276392U (ja) | 1977-06-07 |
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