SU954868A1 - Способ магнитографического контрол изделий из ферромагнитных материалов - Google Patents

Description

другого вдоль продольной оси магнитного носител . Снимают магнитограмму магнитного рельефа при переходе измерительным преобразователем границы раздела намагниченного и немагнитного участков. Получают эталонную магнитограмму на основании экспериментальных исследований дл  разл1«н.ых марок сталей, толшины контролируемого издели  и типов намарнкчивающих устройств. Сравнива  магклтограммы магнитного рельефа при переходе измерительным преобразователем границы раздела намагниченного и немагнитного участков эталонного и используемого при контроле маг нитных носителей, суд т о степени намап нтетенности последнего н корректируют в соответствии с полученными сведешгамк режим намагничивани  издели . П р и м.е р. Магнитный носитель с отверстием накладывают на образец изде- ЛИЯ с заранее известными дефектами (на- .пример, 1О, 15, 30, 50, 7О%) и там еHHjoT намагниченность издели  до тех пор пока не будут вы влены все-дефекты. Одновременно с увеличениеминдукции в изделии измер ют амплитуды сигналов от дефектов и от отверсти  в магнитном носи теле. Если минимально вы вл емый д&фект составл ет 15%,значит данные среДства дефектоскопии обеспечивают чувствительность 15%. Этой чувствительности соответствует режим намагничивани  при получении сигнала от отверсти  в магнитном носителе г50 отв. ед. Такой магнитный носитель принимают за эталон. Пресь варительно провод т эксперименты по выбору эталона. Дл  чего испытывают несколько типов магнитнь1х носителей и намагничивающих устройств. Пр расшифровке рабочих магнитнь1Х носителей после проведени  магнитографического контрол  на издели х опреде- . л ют места на магнитном носителе, где не записаны дефекты, пробивают отверс-. ти , измер ют сигнал от отверсти  и сра& нивают с эталонным. По результату сравнени  определ ют режим намагничивани  . (на сколько отличаетс  от оптимального), а затем измер ют размеры дефектов или корректируют режим, т. е. делают повторную магнитограмму при большем или ме.ньшем токе в намагничивающем устройстве . Из графнкйв видно, что при оптимальном режиме намагничивани , соответствугошем вы влению наименьшего дефекта 15%, большие по размеру дефекты 30, 50 и 70% будут вы влень даже при отклонетш от оптимального режима намагничивани , т. е. при выборе эталона, намагниченность магнитного носител  св зана с размером . наименьшего вы вл емого дефекта .. . . . . Способ пбзвол ет повысить точность магнитографического контрол  и определ ть чувствительность контрол  дл  данных средств дефектоскопии. Формула Изобретени  Способ магнитографического контрол . изделий te ферромагнитных материалов, заключающийс  в том, что на магнитном носителе получают немагнитные участки, изделие намагничивают совместно с размеще ными на его поверхности магнитным носителем, считывают. с магнитного носител  магнитограмму и по ней суд т о наличии и параметрах дефектов, о т л ичающийс  тем, что, с целью повышени  точности контрол , снимают магнитограмму магнитного рельефа при переходе измерительным преобразователем границы раздела намагниченного и немагнитного участков, сравнивают. полученную магнитограмму с эталонной и по результатам сравнени  определ ют степень намагниченности магнитного носител  и в соответствии с величиной степени .намагниченности устанавливают режим намагничивани  контролируемого юдели . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 1616154/28, кл.. q О1 N 27/85, 1971 (прототип).

gi-AomS

в

Claims (1)

1. Формула Изобретения

   Способ магнитографического контроля. изделий *йз ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что на магнитном носителе получают немагнитные участки, изделие намагничивают совместно с размещенными на его поверхности магнитным носителем, считывают. с магнитного носителя магнитограмму и по ней судят о наличии и параметрах дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, снимают магнитограмму магнитного рельефа при переходе измерительным преобразователем · границы раздела намагниченного и немаг. нитного участков, сравнивают. полученную магнитограмму с эталонной и по результатам сравнения определяют степень намагниченности магнитного носителя и в соответствии с величиной степени намагниченности устанавливают режим намагничивания контролируемого изделия.