JP7187855B2 - 磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関し、特に、磁性体の磁束を検知する磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関する。

従来、磁性体の磁束を検知する磁性体検査装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。

上記特許文献１には、スチールワイヤロープ（磁性体）の傷み（断線）を検知するためのスチールワイヤロープの断線検出装置（磁性体検査装置）が開示されている。このスチールワイヤロープの断線検出装置は、スチールワイヤロープを磁化した状態で、検査対象物であるスチールワイヤロープに対して、検出コイルを移動させながら、検出コイルによりスチールワイヤロープの磁束を検知（計測）する。このスチールワイヤロープの断線検出装置は、計測波形の値と、しきい値とを比べて、スチールワイヤロープの傷みの有無を判定する。

特開平１０－３３２５４２号公報

しかしながら、上記特許文献１に記載されたスチールワイヤロープの断線検出装置では、スチールワイヤロープの傷みの有無を判定することができる一方、スチールワイヤロープ（磁性体）の傷みの種類までは判定することができないという問題点がある。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、磁性体の傷みの種類を容易に判定することが可能な磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することである。

上記目的を達成するために、鋭意検討した結果、本願発明者は、磁性体の傷みを示す傷み波形では、磁性体の傷みの種類に応じて、傷み波形の特徴量に変化があるという新たな知見を得た。この発明の第１の局面による磁性体検査システムは、この新たな知見を利用して、磁性体の傷みの種類を判定するものである。すなわち、この発明の第１の局面による磁性体検査システムは、磁性体に対して検知部を相対的に移動させながら検知部により磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する磁性体検査装置と、計測波形のうち磁性体の傷みを示す傷み波形の特徴量と傷みの種類との関係を予め記憶している記憶部と、計測された傷み波形から特徴量を抽出し、抽出した特徴量と、記憶部に予め記憶された特徴量との比較に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定する処理装置と、を備え、処理装置は、特徴量としての傷み波形の時間軸方向の長さ、および、特徴量としての傷み波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている。

この発明の第１の局面による磁性体検査システムでは、上記のように構成することにより、磁性体の傷みの種類を判定する場合、磁性体の傷みの種類に応じて、傷み波形の特徴量に変化があることを利用して、磁性体の傷みの種類を容易に判定することができる。その結果、磁性体の傷みの種類を容易に判定することが可能な磁性体検査システムを提供することができる。

また、上記第１の局面による磁性体検査システムでは、上記のように構成することにより、傷み波形の時間軸方向の長さを特徴量として抽出して磁性体の傷みの種類を判定する場合、磁性体の傷みの種類に応じて、傷み波形の時間軸方向の長さに大小があることを利用して、磁性体の傷みの種類を容易に判定することができる。また、傷み波形の極性を特徴量として抽出して磁性体の傷みの種類を判定する場合、磁性体の傷みの種類に応じて、傷み波形の極性が異なることを利用して、磁性体の傷みの種類を容易に判定することができる。

上記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定する構成において、好ましくは、磁性体は、複数の素線により形成されたワイヤロープであり、処理装置は、傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープの傷み、または、素線断線によるワイヤロープの傷み以外のワイヤロープの傷みであると判定するように構成されている。ここで、本願発明者は、素線断線によるワイヤロープの傷みでは、傷みの範囲が比較的小さいため、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的小さいという新たな知見を得た。また、本願発明者は、素線断線によるワイヤロープの傷みでは、ワイヤロープの断面積が減少して磁束が減少するため、傷み波形がこの磁束の減少に対応した特徴的な極性を示すという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成すれば、素線断線によるワイヤロープの傷みを示す傷み波形では、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的小さいこと、および、磁束の減少に対応した特徴的な極性を示すことを利用して、ワイヤロープの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープの傷み、または、素線断線によるワイヤロープの傷み以外のワイヤロープの傷みであることを容易に判定することができる。

この場合、好ましくは、処理装置は、傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープの傷み、または、磁性異物付着によるワイヤロープの傷みであると判定するように構成されており、処理装置は、傷み波形の時間軸方向の長さに基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープの傷みであると判定するように構成されている。ここで、本願発明者は、欠片などの磁性異物付着によるワイヤロープの傷みでは、傷みの範囲が比較的小さいため、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的小さいという新たな知見を得た。また、本願発明者は、磁性異物付着によるワイヤロープの傷みでは、ワイヤロープの断面積が増加して磁束が増加するため、傷み波形がこの磁束の増加に対応した特徴的な極性を示すという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成すれば、磁性異物付着によるワイヤロープの傷みを示す傷み波形では、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的小さいこと、および、磁束の増加に対応した特徴的な極性を示すこと、並びに、素線断線によるワイヤロープの傷みを示す傷み波形では、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的小さいこと、および、磁束の減少に対応した特徴的な極性を示すことを利用して、ワイヤロープの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープの傷み、または、磁性異物付着によるワイヤロープの傷みであることを容易に判定することができる。また、本願発明者は、キンクなどに起因して生じる塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープの傷みでは、傷みの範囲が比較的大きいため、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的大きいという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成すれば、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープの傷みを示す傷み波形では、傷み波形の時間軸方向の長さが比較的大きいことを利用して、ワイヤロープの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープの傷みであることを容易に判定することができる。

上記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定する構成において、好ましくは、検知部は、差動コイルを含み、処理装置は、検知部の差動コイルにより検知された傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている。このように構成すれば、差動コイルにより得られた雑音（ノイズ）が少ない傷み波形に基づいてワイヤロープの傷みの種類を判定することができるので、ワイヤロープの傷みの種類をより精度良く判定することができる。また、本願発明者は、差動コイルを用いれば、容易に、素線断線による磁性体の傷みと、磁性異物付着による磁性体の傷みとを判定することができることを見いだした。

上記検知部が差動コイルを含む構成において、好ましくは、傷み波形は、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形であり、処理装置は、傷み波形としての両側波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形としての両側波形の極性の順番に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の傷みの種類に応じて傷み波形としての両側波形の時間軸方向の長さに大小があること、または、磁性体の傷みの種類に応じて傷み波形としての両側波形の極性の順番が異なることを利用して、磁性体の傷みの種類を容易に判定することができることを本願発明者は見いだした。

上記検知部が差動コイルを含む構成において、好ましくは、傷み波形は、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形を時間軸方向に積分した１つの山なり形状を有する積分波形であり、処理装置は、傷み波形としての積分波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形としての積分波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている。このように構成すれば、磁性体の傷みの種類に応じて傷み波形としての積分波形の時間軸方向の長さに大小があること、または、磁性体の傷みの種類に応じて傷み波形としての積分波形の極性が異なることを利用して、磁性体の傷みの種類を容易に判定することができることも本願発明者は見いだした。

この発明の第２の局面による磁性体検査装置は、磁性体に対して相対的に移動されながら磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する検知部と、計測波形のうち磁性体の傷みを示す傷み波形の特徴量と傷みの種類との関係を予め記憶している記憶部と、計測された傷み波形から特徴量を抽出し、抽出した特徴量と、記憶部に予め記憶された特徴量との比較に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定する処理部と、を備え、処理部は、特徴量としての傷み波形の時間軸方向の長さ、および、特徴量としての傷み波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている。

この発明の第２の局面による磁性体検査装置では、上記のように構成することにより、第１の局面による磁性体検査システムと同様に、本願発明者による新たな知見に基づいて、磁性体の傷みの種類を容易に判定することが可能な磁性体検査装置を提供することができる。

この発明の第３の局面による磁性体検査方法は、磁性体に対して検知部を相対的に移動させながら検知部により磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得するステップと、計測された計測波形のうち磁性体の傷みを示す傷み波形から特徴量を抽出するステップと、抽出した特徴量と、傷み波形の特徴量と傷みの種類との関係を予め記憶している記憶部に予め記憶された特徴量との比較に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するステップと、を備え、磁性体の傷みの種類を判定するステップは、特徴量としての傷み波形の時間軸方向の長さ、および、特徴量としての傷み波形の極性に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定するステップを含む。

この発明の第３の局面による磁性体検査方法では、上記のように構成することにより、第１の局面による磁性体検査システムと同様に、本願発明者による新たな知見に基づいて、磁性体の傷みの種類を容易に判定することが可能な磁性体検査方法を提供することができる。

本発明によれば、上記のように、磁性体の傷みの種類を容易に判定することができる。

第１～第３実施形態による磁性体検査システムの構成を示す概略図である。 第１～第３実施形態による磁性体検査装置の構成を示す図である。 第１～第３実施形態による磁性体検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。 傷み波形としての両側波形を示す図である。 傷み波形としての積分波形を示す図である。

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

［第１実施形態］
図１～図４を参照して、第１実施形態による磁性体検査システム３００の構成について説明する。

（磁性体検査システムの構成）
図１に示すように、磁性体検査システム３００は、検査対象物であり磁性体であるワイヤロープＷの傷み（素線断線など）を検査するためのシステムである。磁性体検査システム３００は、ワイヤロープＷの磁束を計測する磁性体検査装置１００と、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測結果の表示、および、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測結果に基づく解析を行う処理装置２００と、を備える。磁性体検査システム３００によりワイヤロープＷの傷みを検査することにより、目視により確認しにくいワイヤロープＷの傷みを確認可能である。なお、ワイヤロープＷは、特許請求の範囲の「磁性体」の一例である。

ワイヤロープＷは、たとえば、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用されている。ワイヤロープＷは、磁性を有する複数の素線により形成されている。具体的には、ワイヤロープＷは、複数の素線が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されている。ワイヤロープＷは、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、磁性体検査装置１００により状態を監視されている。磁束の計測の結果、劣化の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープＷは、作業者により交換される。

ワイヤロープＷは、磁性体検査装置１００の位置において、Ｘ方向に延びるように配置されている。磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷの表面に沿ってワイヤロープＷに対して相対的にＸ方向（ワイヤロープＷの長手方向）に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を計測する。たとえば、クレーンやエレベータに使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動する場合には、磁性体検査装置１００をワイヤロープＷに対して固定した状態で、ワイヤロープＷをＸ方向に移動させながら、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。また、吊り橋に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動しない場合には、ワイヤロープＷを磁性体検査装置１００に対して固定した状態で、磁性体検査装置１００をＸ方向に移動させながら、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープＷの各位置における磁束が計測される。

図２および図３に示すように、磁性体検査装置１００は、検知部１と、磁界印加部２（図２参照）と、電子回路部３とを備える。

検知部１は、ワイヤロープＷの磁束を検知（計測）する。具体的には、検知部１は、励振コイル１１と、一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂを有する差動コイル１２とを含む。励振コイル１１は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振する。励振コイル１１は、導線を複数回巻き回したものであり、ワイヤロープＷを囲むように、ワイヤロープＷの軸心周りに配置されている。励振コイル１１は、励振交流電流が流れることにより、内部（輪の内側）にＸ方向（ワイヤロープＷの長手方向、軸方向）に沿った磁界を発生させ、発生させた磁界を内部に配置されたワイヤロープＷに印加する。

差動コイル１２（受信コイル１２ａおよび１２ｂ）は、励振コイル１１により磁界を印加されたワイヤロープＷのＸ方向の磁束を検知（計測）する。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、それぞれ導線を複数回巻き回したものであり、互いに差動接続されている。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、ワイヤロープＷを囲むように、ワイヤロープＷの軸心周りに配置されている。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、ワイヤロープＷに対して相対的にＸ方向に移動されながら、内部（輪の内側）に配置されたワイヤロープＷの内部のＸ方向の磁束（全磁束）を検知する。差動コイル１２は、検知したワイヤロープＷのＸ方向の磁束に応じて、差動信号（検知信号）を電圧として送信する。差動信号は、受信コイル１２ａからの信号と受信コイル１２ｂからの信号との差を示す信号である。

たとえば、差動コイル１２は、受信コイル１２ａおよび１２ｂの両方がワイヤロープＷの正常箇所（傷みがない箇所）に位置する場合、略ゼロの値を有する差動信号を送信する。ワイヤロープＷの正常箇所では、ワイヤロープＷの全磁束（磁界の大きさに透磁率と面積とを乗算した値）が略同じであるためである。また、たとえば、差動コイル１２は、受信コイル１２ａおよび１２ｂのうちの一方がワイヤロープＷの傷み箇所に位置し、他方がワイヤロープＷの正常箇所に位置する場合、比較的大きい値（変動する値）を有する差動信号（図４参照）を送信する。ワイヤロープＷの傷み箇所では、ワイヤロープＷの正常箇所とは全磁束が異なるためである。このように、差動コイル１２により、ワイヤロープＷの傷み箇所を示す信号（傷み波形Ｗｄ（図４参照））を得ることが可能である。傷み波形Ｗｄは、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形（上に凸の波形部分および下に凸の波形部分を１つずつ含む波形）である。また、差動コイル１２では、受信コイル１２ａおよび１２ｂの信号同士の差分を取ることにより、雑音（ノイズ）を打ち消すことができるので、Ｓ／Ｎ比の良い信号を得ることが可能である。磁性体検査装置１００は、ワイヤロープＷに対して検知部１の差動コイル１２を相対的にＸ方向に移動させながら、検知部１の差動コイル１２によりワイヤロープＷの磁束を検知（計測）して、計測波形を取得する。

また、差動コイル１２は、励振コイル１１の内部（輪の内側）に設けられている。なお、差動コイル１２は、励振コイル１１の外部（輪の外側）に設けられていてもよい。差動コイル１２の受信コイル１２ａおよび１２ｂは、Ｘ１方向側からＸ２方向側に向かって、この順にＸ方向に沿って配置されている。

磁界印加部２は、検知部１によりワイヤロープＷの磁束を検知する前に、予めワイヤロープＷの磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。これにより、検知部１によるワイヤロープＷの磁束の検知時に、磁化の乱れに起因して雑音（ノイズ）が生じることを抑制可能である。また、塑性変形を伴わない成分（着磁、軽い曲げなど）に起因する磁束変化を予め除去可能である。磁界印加部２は、ワイヤロープＷに対してＹ方向（ワイヤロープＷの長手方向に直交する方向）に磁界を印加することにより、磁性体の磁化の大きさおよび方向を整える。磁界印加部２は、磁石２１および２２を有する第１磁界印加部２ａと、磁石２３および２４を有する第２磁界印加部２ｂとを含む。第１磁界印加部２ａ（磁石２１および２２）は、検知部１に対して、Ｘ１方向側（ワイヤロープＷの長手方向の一方側）に配置されている。また、第２磁界印加部２ｂ（磁石２３および２４）は、検知部１に対して、Ｘ２方向側（ワイヤロープＷの長手方向の他方側）に配置されている。第１磁界印加部２ａは、磁石２１および２２により、Ｙ２方向に磁界を印加するように構成されている。第２磁界印加部２ｂは、磁石２３および２４により、Ｙ１方向に磁界を印加するように構成されている。

図３に示すように、電子回路部３は、処理部３１と、受信Ｉ／Ｆ（インターフェース）３２と、励振Ｉ／Ｆ３３と、電源回路３４と、記憶部３５と、通信部３６とを含む。処理部３１は、磁性体検査装置１００の各部を制御するように構成されている。処理部３１は、ＣＰＵ（中央処理装置）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含む。受信Ｉ／Ｆ３２は、差動コイル１２からの差動信号を受信して、処理部３１に送信する。受信Ｉ／Ｆ３２は、増幅器を含む。受信Ｉ／Ｆ３２は、増幅器により差動コイル１２からの差動信号を増幅して、処理部３１に送信する。励振Ｉ／Ｆ３３は、処理部３１からの制御信号を受信して、受信した制御信号に基づいて、励振コイル１１に対する電力の供給を制御する。電源回路３４は、外部から電力を受け取って、励振コイル１１などの磁性体検査装置１００の各部に電力を供給する。記憶部３５は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果（計測データ）などの情報を記憶（保存）する。通信部３６は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置１００と処理装置２００とを通信可能に接続する。

図１に示すように、処理装置２００は、通信部２０１と、処理部２０２と、記憶部２０３と、表示部２０４とを備える。通信部２０１は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置１００と処理装置２００とを通信可能に接続する。処理装置２００は、通信部２０１を介して、磁性体検査装置１００によるワイヤロープＷの計測結果（計測データ）を受信する。処理部２０２は、処理装置２００の各部を制御する。処理部２０２は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリなどを含む。処理部２０２は、通信部２０１を介して受信したワイヤロープＷの計測結果に基づいて、素線断線などのワイヤロープＷの傷みを解析する。記憶部２０３は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープＷの計測結果、処理部２０２によるワイヤロープＷの計測結果の解析結果などの情報を記憶（保存）する。表示部２０４は、たとえば液晶モニタであり、ワイヤロープＷの計測結果、処理部２０２によるワイヤロープＷの計測結果の解析結果などの情報を表示する。

（傷みの種類の判定に関する構成）
図４では、計測波形のうちの傷み波形Ｗｄのグラフを示す。縦軸は、信号強度（電圧など）を示す軸である。横軸は、計測時のワイヤロープＷと検知部１の差動コイル１２との相対移動量を示す時間軸である。ここで、第１実施形態では、記憶部２０３には、計測波形のうちワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄの特徴量と傷みの種類との関係が予め記憶されている。また、図４に示すように、処理装置２００の処理部２０２は、計測された傷み波形Ｗｄから特徴量を抽出し、抽出した特徴量と、記憶部２０３に予め記憶された特徴量との比較に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定（推定）する。処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄから、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性のうちの少なくとも一方を特徴量として抽出する。また、処理装置２００の処理部２０２は、特徴量として抽出した傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性のうちの少なくとも一方に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定（推定）する。具体的には、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄとしての両側波形の時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄとしての両側波形の極性の順番のうちの少なくとも一方に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定する。傷み波形Ｗｄとしての両側波形の時間軸方向の長さＬは、たとえば、両側波形の２つの波形部分のピーク間の長さである。

たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであると判定する。処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが、予め決められた第１しきい値以上である場合、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであると判定する。第１しきい値は、実際の検査時と同一の移動速度および検知部１（差動コイル１２）の配置により、予め測定しておいた測定結果に基づいて決定される値である。また、この測定時とは異なる移動速度により実際の検査を行う場合、第１しきい値を比例計算により補正して使用してもよい。

また、たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが、予め決められた第２しきい値（＜第１しきい値）未満で、かつ、傷み波形Ｗｄとしての両側波形の極性の順番が予め決められた第１順番（図４では、上に凸、下に凸の順）である場合、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。第２しきい値は、予め実験などにより求められる値である。

また、たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが、予め決められた第２しきい値未満で、かつ、傷み波形Ｗｄとしての両側波形の極性の順番が予め決められた第２順番（図４では、下に凸、上に凸の順、第１順番とは逆の順番）である場合、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。

キンクなどに起因して生じる塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みでは、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷みに比べて、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが数倍程度になる。キンクなどに起因して生じる塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みでは、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷みなどの局所的な傷みに比べて、傷みの範囲が大きいためである。

このため、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷み、または、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷み以外の傷み（磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷み）のいずれであるかを判定可能である。同様に、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷み、もしくは、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷み以外の傷み（塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷み）のいずれであるかを判定可能である。

なお、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬは、ワイヤロープＷの種類（太さなど）に応じて異なると考えられる。このため、磁性体検査装置１００が互いに異なる種類の複数のワイヤロープＷを検査可能に構成されている場合、磁性体検査装置１００が検査可能なワイヤロープＷの種類毎の第１しきい値および第２しきい値を処理装置２００の記憶部２０３に記憶させてもよい。

また、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みと、素線断線によるワイヤロープＷの傷みとでは、傷み波形Ｗｄが互いに異なる極性を示す。具体的には、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みと、素線断線によるワイヤロープＷの傷みとでは、傷み波形Ｗｄとして両側波形の極性の順番が互いに逆の順番になる。磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みでは、ワイヤロープＷの断面積が増加して磁束が増加する一方、素線断線によるワイヤロープＷの傷みでは、ワイヤロープＷの断面積が減少して磁束が減少するためである。

このため、処理装置２００の処理部２０２は、傷み波形Ｗｄの極性（傷み波形Ｗｄとしての両側波形の極性の順番）に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷み、または、素線断線によるワイヤロープＷの傷みのいずれであるかを判定可能である。なお、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みと、素線断線によるワイヤロープＷの傷みとにおいて、傷み波形Ｗｄが示す極性の順番は図４に示す例に限られない。これらの傷みにおいて、傷み波形Ｗｄが示す極性の順番は図４に示す例とは反対であってもよい。傷み波形Ｗｄが示す極性の順番は、差動コイル１２の一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂのうちのいずれを基準として信号同士の差分を取るかによるためである。

ワイヤロープＷの傷みの種類を判定した後、処理装置２００の処理部２０２は、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果（塑性変形を伴う伸び、磁性異物付着、素線断線など）を出力する。たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を表示部２０４に出力して、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を表示部２０４に表示する。また、たとえば、処理装置２００の処理部２０２は、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を、検査されたワイヤロープＷが用いられている装置（エレベータなど）に出力して、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果に応じた動作（停止動作など）をこの装置に行わせる。

（第１実施形態の効果）
第１実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、計測された傷み波形Ｗｄから特徴量を抽出し、抽出した特徴量と、記憶部２０３に予め記憶された特徴量との比較に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定するように構成する。これにより、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定する場合、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて、傷み波形Ｗｄの特徴量に変化があることを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することができる。その結果、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することが可能な磁性体検査システム３００を提供することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、傷み波形Ｗｄから、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性のうちの少なくとも一方を特徴量として抽出するように構成する。これにより、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬを特徴量として抽出してワイヤロープＷの傷みの種類を判定する場合、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに大小があることを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することができる。また、傷み波形Ｗｄの極性を特徴量として抽出してワイヤロープＷの傷みの種類を判定する場合、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて、傷み波形Ｗｄの極性が異なることを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷み、または、素線断線によるワイヤロープＷの傷み以外のワイヤロープＷの傷みであると判定するように構成する。ここで、本願発明者は、素線断線によるワイヤロープＷの傷みでは、傷みの範囲が比較的小さいため、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的小さいという新たな知見を得た。また、本願発明者は、素線断線によるワイヤロープＷの傷みでは、ワイヤロープＷの断面積が減少して磁束が減少するため、傷み波形Ｗｄがこの磁束の減少に対応した特徴的な極性を示すという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成することにより、素線断線によるワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄでは、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的小さいこと、および、磁束の減少に対応した特徴的な極性を示すことを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷み、または、素線断線によるワイヤロープＷの傷み以外のワイヤロープＷの傷みであることを容易に判定することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷み、または、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みであると判定するように構成する。そして、処理装置２００を、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであると判定するように構成する。ここで、本願発明者は、欠片などの磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みでは、傷みの範囲が比較的小さいため、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的小さいという新たな知見を得た。また、本願発明者は、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みでは、ワイヤロープＷの断面積が増加して磁束が増加するため、傷み波形Ｗｄがこの磁束の増加に対応した特徴的な極性を示すという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成することにより、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄでは、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的小さいこと、および、磁束の増加に対応した特徴的な極性を示すこと、並びに、素線断線によるワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄでは、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的小さいこと、および、磁束の減少に対応した特徴的な極性を示すことを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープの傷み、または、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みであることを容易に判定することができる。また、本願発明者は、キンクなどに起因して生じる塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みでは、傷みの範囲が比較的大きいため、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的大きいという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成することにより、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄでは、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的大きいことを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであることを容易に判定することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、処理装置２００を、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであると判定するように構成する。ここで、本願発明者は、キンクなどに起因して生じる塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みでは、傷みの範囲が比較的大きいため、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的大きいという新たな知見を得た。そこで、上記のように構成することにより、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄでは、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが比較的大きいことを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄであることを容易に判定することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、検知部１を、差動コイル１２を含むように構成する。そして、処理装置２００を、検知部１の差動コイル１２により検知された傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性のうちの少なくとも一方に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定するように構成する。これにより、差動コイル１２により得られた雑音（ノイズ）が少ない傷み波形Ｗｄに基づいてワイヤロープＷの傷みの種類を判定することができるので、ワイヤロープＷの傷みの種類をより精度良く判定することができる。また、本願発明者は、差動コイル１２を用いれば、容易に、素線断線によるワイヤロープＷの傷みと、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みとを判定することができることを見いだした。

また、第１実施形態では、上記のように、傷み波形Ｗｄは、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形である。そして、処理装置２００を、傷み波形Ｗｄとしての両側波形の時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄとしての両側波形の極性の順番のうちの少なくとも一方に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定するように構成する。これにより、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて傷み波形Ｗｄとしての両側波形の時間軸方向の長さＬに大小があること、または、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて傷み波形Ｗｄとしての両側波形の極性の順番が異なることを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することができることを本願発明者は見いだした。

［第２実施形態］
次に、図１および図５を参照して、第２実施形態について説明する。この第２実施形態では、傷み波形が両側波形である上記第１実施形態と異なり、傷み波形が両側波形を積分した積分波形である例について説明する。なお、上記第１実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。

（磁性体検査システムの構成）
磁性体検査システム６００は、図１に示すように、処理装置５００を備える点で、上記第１実施形態の磁性体検査システム３００と相違する。また、処理装置５００は、処理部５０２を備える点で、上記第１実施形態の処理装置２００と相違する。

第２実施形態では、図５に示すように、傷み波形Ｗｄは、両側波形を時間軸方向に積分した１つの山なり形状を有する積分波形である。処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄとしての両側波形を時間軸方向に積分することにより、傷み波形Ｗｄとしての積分波形に変換する。なお、図５では、理解の容易のため、積分波形を実線により示し、元の両側波形を破線により示す。

処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の極性のうちの少なくとも一方に基づいて、磁性体の傷みの種類を判定する。傷み波形Ｗｄとしての積分波形の時間軸方向の長さＬは、たとえば、積分波形の半値幅である。

たとえば、処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであると判定する。処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが、予め決められた第３しきい値以上である場合、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みであると判定する。なお、第３しきい値は、予め実験などにより求められる値である。

また、たとえば、処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが、予め決められた第４しきい値（＜第３しきい値）未満で、かつ、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の極性が予め決められた第１極性（図５では、上に凸）である場合、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。なお、第４しきい値は、予め実験などにより求められる値である。

また、たとえば、処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが、予め決められた第４しきい値未満で、かつ、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の極性が予め決められた第２極性（図５では、下に凸、第１極性とは逆の極性）である場合、ワイヤロープＷの傷みの種類が、素線断線によるワイヤロープＷの傷みであると判定する。

積分波形においても、元の両側波形と同様に、キンクなどに起因して生じる塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷みでは、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷みに比べて、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬが数倍程度になる。

このため、処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷み、または、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷み以外の傷み（磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷み）のいずれであるかを判定可能である。同様に、処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の時間軸方向の長さＬに基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷み、もしくは、磁性異物付着または素線断線によるワイヤロープＷの傷み以外の傷み（塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープＷの傷み）のいずれであるかを判定可能である。

また、積分波形においても、元の両側波形と同様に、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みと、素線断線によるワイヤロープＷの傷みとでは、傷み波形Ｗｄが互いに異なる極性を示す。具体的には、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みと、素線断線によるワイヤロープＷの傷みとでは、傷み波形Ｗｄとして積分波形の極性が互いに逆になる。

このため、処理装置５００の処理部５０２は、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の極性に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類が、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷み、または、素線断線によるワイヤロープＷの傷みのいずれであるかを判定可能である。なお、磁性異物付着によるワイヤロープＷの傷みと、素線断線によるワイヤロープＷの傷みとにおいて、傷み波形Ｗｄが示す極性は図５に示す例に限られない。これらの傷みにおいて、傷み波形Ｗｄが示す極性は図５に示す例とは反対であってもよい。傷み波形Ｗｄが示す極性は、差動コイル１２の一対の受信コイル１２ａおよび１２ｂのうちのいずれを基準として信号同士の差分を取るかによるためである。

第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。

（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第２実施形態では、上記のように、傷み波形Ｗｄは、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形を時間軸方向に積分した１つの山なり形状を有する積分波形である。そして、処理装置５００を、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄとしての積分波形の極性のうちの少なくとも一方に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定するように構成する。これにより、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて傷み波形Ｗｄとしての積分波形の時間軸方向の長さに大小があること、または、ワイヤロープＷの傷みの種類に応じて傷み波形Ｗｄとしての積分波形の極性が異なることを利用して、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することができることも本願発明者は見いだした。

なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。
［第３実施形態］
次に、図１～図５を参照して、第３実施形態について説明する。この第３実施形態では、処理装置がワイヤロープの傷みの種類を判定する上記第１実施形態と異なり、磁性体検査装置がワイヤロープの傷みの種類を判定する例について説明する。なお、上記第１実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。

（磁性体検査システムの構成）
磁性体検査システム９００は、図１～図３に示すように、磁性体検査装置７００と処理装置８００とを備える点で、上記第１実施形態の磁性体検査システム３００と相違する。また、磁性体検査装置７００および処理装置８００は、それぞれ、処理部６３１および処理部８０２を備える点で、上記第１実施形態の磁性体検査装置１００および処理装置２００と相違する。

第３実施形態では、記憶部３５には、計測波形のうちワイヤロープＷの傷みを示す傷み波形Ｗｄの特徴量と傷みの種類との関係が予め記憶されている。また、磁性体検査装置７００の処理部６３１は、計測された傷み波形Ｗｄから特徴量を抽出し、抽出した特徴量と、記憶部３５に記憶された特徴量との比較に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定（推定）する。磁性体検査装置７００の処理部６３１は、傷み波形Ｗｄから、傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性のうちの少なくとも一方を特徴量として抽出する。また、磁性体検査装置７００の処理部６３１は、抽出した傷み波形Ｗｄの時間軸方向の長さＬ、および、傷み波形Ｗｄの極性のうちの少なくとも一方に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定する。磁性体検査装置７００の処理部６３１は、上記第１実施形態のように（図４参照）、傷み波形Ｗｄとしての両側波形に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定してもよい。また、磁性体検査装置７００の処理部６３１は、上記第２実施形態のように（図５参照）、傷み波形Ｗｄとしての積分波形に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定してもよい。第３実施形態においても、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定方法は、上記第１実施形態または上記第２実施形態と同様である。このため、詳細な説明は省略する。

ワイヤロープＷの傷みの種類を判定した後、磁性体検査装置７００の処理部６３１は、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果（塑性変形を伴う伸び、磁性異物付着、素線断線など）を出力する。たとえば、磁性体検査装置７００の処理部６３１は、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を処理装置８００に出力する。処理装置８００の処理部８０２は、たとえば、磁性体検査装置７００からのワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を表示部２０４に出力して、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を表示部２０４に表示する。また、たとえば、磁性体検査装置７００の処理部６３１は、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果を、検査されたワイヤロープＷが用いられている装置（エレベータなど）に出力して、ワイヤロープＷの傷みの種類の判定結果に応じた動作（停止動作など）をこの装置に行わせる。

第３実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。

（第３実施形態の効果）
第３実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

第３実施形態では、上記のように、磁性体検査装置７００を、計測された傷み波形Ｗｄから特徴量を抽出し、抽出した特徴量と、記憶部３５に予め記憶された特徴量との比較に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を判定する処理部６３１を備えるように構成する。これにより、上記第１実施形態と同様に、本願発明者による新たな知見に基づいて、ワイヤロープＷの傷みの種類を容易に判定することが可能な磁性体検査装置７００を提供することができる。

なお、第３実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。

［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

たとえば、上記第１～第３実施形態では、磁性体検査システムにおいて検査される磁性体がワイヤロープである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査システムにおいて検査される磁性体は、ワイヤロープ以外の磁性体であってもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、検査対象物であるワイヤロープが、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査対象物であるワイヤロープ（磁性体）は、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボット以外に使用されてもよい。

また、上記第１～第３実施形態では、検知部が一対の受信コイルを有する差動コイルを含む例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、検知部が単一のコイルにより構成された検知コイルを含んでいてもよい。単一のコイルにより構成された検知コイルによりワイヤロープ（磁性体）の磁束を検知する場合にも、磁性体の傷みの種類に応じて、傷み波形の時間軸方向の長さに大小が生じる。このため、傷み波形の時間軸方向の長さに基づいて、ワイヤロープ（磁性体）の傷みの種類を判定可能である。

また、上記第１～第３実施形態では、傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性のうちの少なくとも一方に基づいて、塑性変形を伴う伸びによるワイヤロープの傷み、磁性異物付着によるワイヤロープの傷み、および、素線断線によるワイヤロープの傷みの３つの傷みを判定（推定）する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、これら３つの傷みの全部を必ずしも判定（推定）しなくてもよい。たとえば、これら３つの傷みのうちの少なくとも１つを判定（推定）してもよい。また、本発明では、傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性のうちの少なくとも一方に基づいて、これら３つの傷み以外の傷みを判定（推定）してもよい。たとえば、傷み波形の時間軸方向の長さ、および、傷み波形の極性のうちの少なくとも一方に基づいて、プレス（ワイヤロープに対する圧縮）によるワイヤロープの傷みを判定してもよい。

１ 検知部
１２ 差動コイル
３５ 記憶部
１００、７００ 磁性体検査装置
２００、５００、８００ 処理装置
２０３ 記憶部
３００、６００、９００ 磁性体検査システム
６３１ 処理部
Ｌ 傷み波形の時間軸方向の長さ
Ｗ ワイヤロープ（磁性体）
Ｗｄ 傷み波形

Claims (8)

1. 磁性体に対して検知部を相対的に移動させながら前記検知部により前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する磁性体検査装置と、
   前記計測波形のうち前記磁性体の傷みを示す傷み波形の特徴量と傷みの種類との関係を予め記憶している記憶部と、
   計測された前記傷み波形から前記特徴量を抽出し、抽出した前記特徴量と、前記記憶部に予め記憶された前記特徴量との比較に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定する処理装置と、を備え、
   前記処理装置は、前記特徴量としての前記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、前記特徴量としての前記傷み波形の極性に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている、磁性体検査システム。
2. 前記磁性体は、複数の素線により形成されたワイヤロープであり、
   前記処理装置は、前記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、前記傷み波形の極性に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類が、素線断線による前記ワイヤロープの傷み、または、素線断線による前記ワイヤロープの傷み以外の前記ワイヤロープの傷みであると判定するように構成されている、請求項１に記載の磁性体検査システム。
3. 前記処理装置は、前記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、前記傷み波形の極性に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類が、素線断線による前記ワイヤロープの傷み、または、磁性異物付着による前記ワイヤロープの傷みであると判定するように構成されており、
   前記処理装置は、前記傷み波形の時間軸方向の長さに基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類が、塑性変形を伴う伸びによる前記ワイヤロープの傷みであると判定するように構成されている、請求項２に記載の磁性体検査システム。
4. 前記検知部は、差動コイルを含み、
   前記処理装置は、前記検知部の前記差動コイルにより検知された前記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、前記傷み波形の極性に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている、請求項２または３に記載の磁性体検査システム。
5. 前記傷み波形は、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形であり、
   前記処理装置は、前記傷み波形としての前記両側波形の時間軸方向の長さ、および、前記傷み波形としての前記両側波形の極性の順番に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている、請求項４に記載の磁性体検査システム。
6. 前記傷み波形は、互いに極性が逆の２つの波形部分を有する両側波形を時間軸方向に積分した１つの山なり形状を有する積分波形であり、
   前記処理装置は、前記傷み波形としての前記積分波形の時間軸方向の長さ、および、前記傷み波形としての前記積分波形の極性に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている、請求項４に記載の磁性体検査システム。
7. 磁性体に対して相対的に移動されながら前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する検知部と、
   前記計測波形のうち前記磁性体の傷みを示す傷み波形の特徴量と傷みの種類との関係を予め記憶している記憶部と、
   計測された前記傷み波形から前記特徴量を抽出し、抽出した前記特徴量と、前記記憶部に予め記憶された前記特徴量との比較に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定する処理部と、を備え、
   前記処理部は、前記特徴量としての前記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、前記特徴量としての前記傷み波形の極性に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するように構成されている、磁性体検査装置。
8. 磁性体に対して検知部を相対的に移動させながら前記検知部により前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得するステップと、
   計測された前記計測波形のうち前記磁性体の傷みを示す傷み波形から特徴量を抽出するステップと、
   抽出した前記特徴量と、前記傷み波形の特徴量と傷みの種類との関係を予め記憶している記憶部に予め記憶された前記特徴量との比較に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するステップと、を備え、
   前記磁性体の傷みの種類を判定するステップは、前記特徴量としての前記傷み波形の時間軸方向の長さ、および、前記特徴量としての前記傷み波形の極性に基づいて、前記磁性体の傷みの種類を判定するステップを含む、磁性体検査方法。

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