WO2012133461A1 - 硬質皮膜被覆部材及びその製造方法、並びにそれを具備する刃先交換式回転工具 - Google Patents

硬質皮膜被覆部材及びその製造方法、並びにそれを具備する刃先交換式回転工具 Download PDF

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福永 有三
久保田 和幸
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日立ツール株式会社
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Definitions

  • the present invention provides a hard coating member having high hardness and wear resistance, and having high adhesion to a substrate and an upper layer made of cemented carbide or high-speed steel, and such a hard coating member by chemical vapor deposition.
  • the present invention relates to a method and a blade-tip-exchangeable rotary tool provided with such a hard film-coated member.
  • hard coatings such as TiC film, TiN film, TiCN film, Al 2 O 3 film were formed on the surface of substrates such as cemented carbide, cermet, ceramics, etc.
  • substrates such as cemented carbide, cermet, ceramics, etc.
  • Surface coated cutting tools are used. Such surface-coated cutting tools are used under increasingly severe conditions (for example, conditions that require a large impact such as heavy interrupted cutting), and accordingly have a hard coating that can withstand a greater impact. A cutting tool is desired.
  • JP-A-2008-87150 discloses a TiN film and a columnar TiCN film [average particle diameter (measured in a direction parallel to the substrate surface) 0.05 to 0.5 ⁇ m in order on the surface of the substrate, and columnar TiCN using CuK ⁇ rays.
  • the X-ray diffraction peak position 2 ⁇ on the (422) plane of the film is in the range of 121.5 to 122.6 °. ]
  • a coated cutting tool in which an aluminum oxide film and a TiN film are formed is disclosed.
  • C / (C + N) is 0.70 to 0.90.
  • a columnar TiCN film source gas is a TiCl 4 gas, CH 3 CN gas, H 2 gas, and a chain hydrocarbon gas having 2 to 20 carbon atoms excluding CH 4 (for example, C 2 H 6 , C 2 H 4 or C 3 H 6 ) is used. Since chain hydrocarbon gas is added to the source gas, the columnar TiCN film has an average particle size as small as 0.05 to 0.5 ⁇ m, and C / (C + N) has a high carbon concentration as 0.70 to 0.90, High hardness and excellent wear resistance. However, since the columnar TiCN film is a single layer with a high carbon concentration, it has been found that the adhesion with the aluminum oxide film is insufficient.
  • JP 2005-212047 discloses a surface covering member in which a fine titanium carbonitride layer, an upper titanium carbonitride layer, and an aluminum oxide layer are sequentially formed on the surface of a substrate by chemical vapor deposition.
  • JP 2005-212047 uses a reactive gas consisting of TiCl 4 gas, CH 3 CN gas, N 2 gas and H 2 gas for forming a titanium carbonitride layer, and in a reactive gas for a fine titanium carbonitride layer by increasing the proportion of CH 3 CN gas in the reaction gas of CH 3 CN for the upper titanium carbonitride layer than the proportion of gas, according to increasing the crystal grain size of the upper titanium carbonitride layer finer titanium carbonitride layer is doing.
  • the upper titanium carbonitride layer has a higher carbon concentration than the lower titanium carbonitride layer, so the upper titanium carbonitride layer and the Al 2 O 3 film Adhesion is insufficient. Therefore, the surface-coated tool described in JP-A-2005-212047 has a short life.
  • Japanese Patent Laid-Open No. 2005-153098 discloses a TiCN film made of streaked TiCN crystals grown at least perpendicular to the base material on the surface of a base material made of a hard alloy such as cemented carbide, and an Al 2 O 3 film.
  • a surface-coated cutting tool formed sequentially, wherein the TiCN film is positioned under a carbon-enriched TiCN film in contact with an Al 2 O 3 film having a C / N ratio of 1.5 to 4 and a carbon-enriched TiCN film.
  • JP 2005-153098 discloses that the carbon-enriched TiCN film that is exposed when the Al 2 O 3 layer is peeled has high wear resistance, so that the wear does not progress rapidly and stable wear resistance and fracture resistance It is described that a tool having the following can be obtained. JP 2005-153098 also shows that the average crystal width of the streaked TiCN crystal in the carbon-enriched TiCN film is larger than the average crystal width of the streaked TiCN crystal in the nitrogen-enriched TiCN film.
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-315154 discloses a surface-coated cermet cutting tool in which a modified titanium carbonitride layer is deposited on the surface of a tool base.
  • the modified titanium carbonitride layer is formed by forming a conventional TiCN layer on a TiCN thin film having an average layer thickness of 0.02 to 0.5 ⁇ m. Since the source gas for the TiCN thin film is composed of TiCl 4 , C 3 H 6 , N 2 and H 2 , the TiCN thin film corresponds to the first layer in the present invention. Further, since the conventional TiCN layer is formed of a raw material gas composed of TiCl 4 , CH 3 CN, N 2 and H 2 , it corresponds to the third layer in the present invention.
  • the modified titanium carbonitride layer of JP-A-2006-315154 is a conventional TiCN layer (corresponding to the third layer) on the TiCN thin film (corresponding to the first layer) without using the second layer in the present invention. Is formed directly, so that the hardness and wear resistance are insufficient. Therefore, the cutting tool disclosed in JP 2006-315154 has a short life.
  • an object of the present invention is to provide a hard film covering member having a hard film having high hardness and wear resistance, and having a high adhesion to a substrate and an upper layer made of cemented carbide or high speed steel.
  • Another object of the present invention is to provide a method for producing such a hard film-coated member.
  • Still another object of the present invention is to provide a blade-tip-replaceable rotary tool provided with such a hard film covering member.
  • the hard coating member of the present invention is formed by forming a hard coating on a substrate made of cemented carbide or high speed steel by chemical vapor deposition, and the hard coating is composed of first to third layers in order from the substrate side.
  • a titanium carbonitride layer having a columnar crystal structure and an upper layer (a) In the titanium carbonitride layer, the carbon concentration of the first layer is 13 to 22% by mass, the carbon concentration of the second layer is 12 to 21% by mass, and the carbon concentration of the third layer is 9-15 mass%, the carbon concentration of the second layer is 0.1 mass% or less lower than the carbon concentration of the first layer, and the carbon concentration of the third layer is 0.5 mass% of the carbon concentration of the second layer.
  • the upper layer is (i) a bonding layer formed on the third layer, and a hard oxide layer of Al and / or Cr formed on the bonding layer, or (ii) the third layer. It is a hard layer formed on top of which Ti and / or Cr and C and / or N are essential, and at least one element selected from the group consisting of Al, Si, B, Zr and V is an optional element It is characterized by that.
  • the first layer having a high carbon concentration has high adhesion to the substrate
  • the third layer having low carbon concentration has high adhesion to the upper layer
  • the second layer having an intermediate carbon concentration has high hardness and wear resistance.
  • the carbon concentration of the first layer and the second layer is as high as 13 to 22% by mass and 12 to 21% by mass, respectively, the columnar crystal structure of the titanium carbonitride layer is refined, and the hardness is high and the wear resistance is excellent. Yes.
  • the carbon concentration of the first layer is 0.1 mass% or more higher than the carbon concentration of the second layer, the titanium carbonitride layer has a high adhesion to the substrate.
  • the carbon concentration of the third layer is 9 to 15% by mass, which is 0.5% by mass or more lower than that of the second layer, so that the adhesion with the upper layer is high.
  • the first layer is composed of titanium carbonitride containing 68-84.5 wt% titanium, 13-22 wt% carbon and 2.5-10 wt% nitrogen
  • the second layer is It consists of titanium carbonitride containing 69-85.5 wt% titanium, 12-21 wt% carbon and 2.5-10 wt% nitrogen
  • the third layer is 71-86 wt% titanium, 9-15 wt%
  • titanium carbonitride containing 5 to 14% by mass of nitrogen.
  • the atomic ratio of carbon concentration C to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N): C / (C + N) is 0.65 to 0.9 in the first layer, 0.65 to 0.85 in the second layer,
  • the third layer is preferably from 0.5 to 0.7.
  • the thickness of the second layer and the third layer is preferably 1 ⁇ m or more. Since the second layer is as thick as 1 ⁇ m or more, the hard coating member of the present invention has a sufficient life. Further, since the third layer is as thick as 1 ⁇ m or more, the columnar crystal structure connected to the second layer has high hardness and high adhesion with the upper layer.
  • the thickness of the first layer is preferably 0.01 to 2 ⁇ m.
  • the thickness of the second layer is preferably 1 to 20 ⁇ m.
  • the thickness of the third layer is preferably 1 to 10 ⁇ m. Therefore, the ratio of the thickness of the first layer to the thickness of the entire titanium carbonitride layer is preferably 0.5 to 8%, the ratio of the thickness of the second layer is preferably 40 to 80%, The thickness ratio is preferably 15 to 60%. Since each layer is not completely flat, even when simply called “thickness”, it means “average thickness”. The same applies to the upper layer.
  • the average cross-sectional diameters of the columnar crystals of the first to third layers are preferably 0.01 to 0.5 ⁇ m. As described above, since the columnar crystals extending from the first layer to the third layer are fine, the titanium carbonitride layer has excellent wear resistance.
  • a part of Ti in the second layer is at least one selected from the group consisting of Zr, V, Cr, Si, B, and Al in a proportion of 0.2 to 10% by mass with respect to 100% by mass of the entire second layer.
  • the metal element may be substituted.
  • a part of Ti in the third layer is at least selected from the group consisting of Zr, V, Cr, Si, B and Al in a ratio of 0.2 to 10% by mass with respect to 100% by mass of the entire third layer. You may substitute with a kind of metal element.
  • a part of TiCl 4 gas in the raw material gas is mixed at a ratio of 0.2 to 10% by volume with the total raw material gas being 100% by volume. It is preferable to substitute with a chloride gas of at least one metal element selected from the group consisting of V, Cr, Si, B and Al.
  • the bonding layer is a single layer or a multilayer in which at least one element selected from the group consisting of Ti, Al, B and Zr and at least one element selected from the group consisting of C, N and O are essential. It is preferable to consist of a hard film. By satisfying this condition, the adhesion between the titanium carbonitride layer and the bonding layer is increased.
  • the tie layer preferably has a multilayer structure having a layer having a high adhesion to the third layer and a layer having a high adhesion to the Al and / or Cr oxide layer.
  • the hard film-coated member is suitable for use as a component member of an insert or a mold, and is highly practical.
  • the method for producing a hard film-coated member of the present invention comprises a hard material comprising a titanium carbonitride layer having a columnar crystal structure composed of first to third layers in order from the substrate side on a substrate made of cemented carbide or high speed steel.
  • the first layer has a carbon concentration of 13 to 22% by mass
  • the second layer has a carbon concentration of 12 to 21% by mass
  • the third layer has a carbon concentration of 9 to 15% by mass.
  • a hard film coating in which the carbon concentration of the second layer is 0.1% by mass or more lower than the carbon concentration of the first layer and the carbon concentration of the third layer is 0.5% by mass or more lower than the carbon concentration of the second layer.
  • the member is manufactured by chemical vapor deposition, (1) forming the first layer using a raw material gas composed of TiCl 4 gas, N 2 gas, C 2 to C 5 hydrocarbon gas and H 2 gas; (2) From TiCl 4 gas, N 2 gas, organic cyanide gas, C 2 to C 5 hydrocarbon gas (CH 4 gas may be contained in a proportion of less than 50% by volume), and H 2 gas Forming the second layer using a raw material gas, (3)
  • the third layer is formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, N 2 gas, organic cyanide gas and H 2 gas, and the amount of the organic cyanide compound gas is smaller than that in the step (2). It is characterized by that.
  • the organic cyanide is preferably CH 3 CN.
  • the amount of C 2 to C 5 hydrocarbon gas in the step (1) is preferably larger than the amount of C 2 to C 5 hydrocarbon gas in the step (2).
  • the third layer is formed using a gas and a source gas consisting of the remaining H 2 gas.
  • the reaction temperature in steps (1) to (3) is preferably 700 to 900 ° C., more preferably 750 to 880 ° C., and most preferably 800 to 850 ° C.
  • the reaction pressure is preferably 5 to 20 kPa in Step (1), 5 to 10 kPa in Step (2), and 5 to 10 kPa in Step (3).
  • a part of the TiCl 4 gas in the raw material gas forming the second layer and / or the third layer, Zr, V, Cr, It may be replaced with a chloride gas of at least one metal element selected from the group consisting of Si, B and Al.
  • the hard film covering member of the present invention having a titanium carbonitride layer formed by a chemical vapor deposition method on a substrate made of cemented carbide or high-speed steel, the titanium carbonitride layer has a first layer having high adhesion to the substrate, Since it has a second layer having high hardness and wear resistance and a third layer having high adhesion to the upper layer, it has excellent wear resistance and also has a problem of peeling of a hard film from the substrate and carbonitriding. There is no problem of peeling of the upper layer from the titanium layer.
  • FIG. 2 is a graph schematically showing a concentration distribution in a film thickness direction of carbon in a titanium carbonitride layer obtained using the raw material gas shown in FIG. 1 (a).
  • 2 is a graph showing an X-ray diffraction pattern of a hard coating composed of a titanium carbonitride layer, a bonding layer, and an aluminum oxide layer in Example 1.
  • 3 is a graph showing an X-ray diffraction pattern obtained by enlarging a range of 2 ⁇ of 121.0 to 125.0 ° in FIG.
  • FIG. 3 (a) is a cross-sectional view taken along line AA of FIG.
  • FIG. 3B is an enlarged cross-sectional view showing a portion C in the turning insert base body of FIG. 3 (b).
  • 2 is a scanning electron micrograph (magnification: 5000 times) showing a fractured surface structure of the hard film-coated insert of Example 1.
  • FIG. 2 is an optical micrograph (magnification: 1000 times) showing a lapping surface obtained by obliquely polishing the hard film of the hard film-coated insert of Example 1.
  • 2 is a transmission electron micrograph showing the fracture structure of a titanium carbonitride layer in the hard film-coated insert of Example 1.
  • FIG. 2 is a graph showing the concentration distribution in the film thickness direction of C and N in the titanium carbonitride layer of Example 1.
  • FIG. 4 is a graph showing the concentration distribution in the film thickness direction of C and N in the titanium carbonitride layer of Example 2.
  • FIG. 4 is a transmission electron micrograph showing the fracture structure of a titanium carbonitride layer in the hard film-coated insert of Comparative Example 3.
  • 6 is a graph showing the concentration distribution in the film thickness direction of C and N in the titanium carbonitride layer of Comparative Example 3.
  • FIG. 11 (a) is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. It is the schematic which shows a shell mill cutter (blade edge exchange type rotary tool
  • Hard film coated member The hard film coated member of the present invention has a hard film formed by a chemical vapor deposition method on a substrate made of cemented carbide or high-speed steel, and the hard film is formed in order from the substrate side.
  • a titanium carbonitride layer having a columnar crystal structure composed of first to third layers and an upper layer are included. In the titanium carbonitride layer, the carbon concentration of the second layer is lower than the carbon concentration of the first layer, and the carbon concentration of the third layer is lower than the carbon concentration of the second layer.
  • the upper layer is (i) a first upper layer comprising a bonding layer formed on the third layer, and a hard oxide layer of Al and / or Cr formed on the bonding layer, or (ii) Formed on the third layer, Ti and / or Cr and C and / or N are essential, and at least one element selected from the group consisting of Al, Si, B, Zr and V is an optional element It is a second upper layer made of a hard layer.
  • the first layer needs to have excellent adhesion to a substrate made of cemented carbide or high-speed steel
  • the second layer needs to have excellent hardness and wear resistance
  • the third layer has It is necessary to have excellent adhesion to the upper layer.
  • the hard coating member of the present invention include not only cutting tools but also various sliding members (molds and the like).
  • the substrate is made of a material (a cemented carbide or high-speed steel) that can be subjected to chemical vapor deposition at a temperature close to 1000 ° C.
  • cemented carbide is preferable from the viewpoint of strength, hardness, wear resistance, toughness and the like.
  • the hard film according to the present invention can be formed on any of the unprocessed surface after sintering, the polished surface, and the blade edge processed surface. Hardness and wear resistance are sufficiently high even with a hard film formed on the sintered surface of the substrate that has not been polished, but the hard film formed on the polished surface of the substrate and the processed surface of the blade edge has crystal grains. Higher for miniaturization.
  • a hard coating member When a hard coating member is used as a cutting tool for a substrate made of cemented carbide, the hard coating may be peeled off due to welding of the work material. It is necessary to have a high adhesive strength against.
  • a lower layer made of carbide or nitride In the case of forming a carbonitride film by a chemical vapor deposition method, a lower layer made of carbide or nitride has been conventionally formed for the purpose of improving the adhesion to the substrate.
  • a TiC layer formed using TiCl 4 gas, CH 4 gas and H 2 gas or a thick TiN layer formed using TiCl 4 gas, N 2 gas and H 2 gas is formed, the substrate exceeds 900 ° C.
  • the film forming temperature can be lowered by using such a raw material gas, it is possible to suppress the diffusion of Co in the cemented carbide (substrate) to the first layer, and it is a hard material having high hardness and excellent wear resistance. A film covering member is obtained.
  • the carbon concentration (carbon content) of the first layer is preferably 13 to 22% by mass, 21% by mass is more preferable, and 14.5 to 20% by mass is most preferable.
  • the said composition was calculated
  • the nitrogen concentration (nitrogen content) of the first layer is preferably 2.5 to 10% by mass, more preferably 3 to 9% by mass, and most preferably 3.5 to 8% by mass. If the nitrogen concentration of the first layer is less than 2.5% by mass, the hardness is not sufficient, and if it exceeds 10% by mass, the carbonitride of the first layer becomes brittle.
  • the atomic ratio of carbon concentration C to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N) of the first layer: C / (C + N) is preferably 0.65 to 0.9, more preferably 0.7 to 0.85.
  • the atomic ratio of nitrogen concentration N to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N) of the first layer: N / (C + N) is preferably 0.35 to 0.1, and more preferably 0.3 to 0.15.
  • the content of Ti (which may contain a Me element) is preferably 68 to 84.5 mass%, more preferably 70 to 83 atomic%, and most preferably 72 to 82 mass%. When Ti is out of the range of 68 to 84.5% by mass, the hardness and wear resistance of the first layer are greatly reduced.
  • the Me element is at least one metal element selected from the group consisting of Zr, V, Cr, Si, B, and Al. Among the Me elements, Zr, Cr, Si, V, and Al improve the oxidation resistance of the first layer, and Zr, Si, V, and B improve the hardness and wear resistance of the first layer.
  • the content of Me element is preferably 0.2 to 10% by mass, where Ti + Me is 100% by mass.
  • the columnar crystals in the first layer are fine (average cross-sectional diameter is small).
  • the “average cross-sectional diameter” means the average diameter of the cross section of the columnar crystal in a plane parallel to the substrate surface.
  • the average cross-sectional diameter of the columnar crystals in the first layer is preferably 0.01 to 0.5 ⁇ m, more preferably 0.01 to 0.2 ⁇ m, and most preferably 0.01 to 0.1 ⁇ m. Those having an average cross-sectional diameter of less than 0.01 ⁇ m are difficult to produce industrially, and if it exceeds 0.5 ⁇ m, the hardness greatly decreases.
  • the function of the first layer is to secure adhesion with a substrate made of cemented carbide or high-speed steel, so the average thickness may be 0.01-2 ⁇ m, preferably 0.05-1 ⁇ m, preferably 0.1-0.8 ⁇ m. More preferred.
  • the adhesion is low even if the average thickness is less than 0.01 ⁇ m or more than 2 ⁇ m.
  • the first layer is thicker than 2 ⁇ m, as shown in Comparative Example 1 described later, the carbon concentration increases remarkably as it goes to the surface layer side, and the surface layer side of the first layer becomes brittle. Therefore, for example, a cutting tool in which only a thick first layer is formed on a substrate has a short life.
  • the ratio of the thickness of the first layer to the thickness of the entire titanium carbonitride layer is preferably 0.5 to 8%, more preferably 1 to 7%.
  • the carbon concentration of the second layer is characterized by being 0.1 mass% or less lower than the carbon concentration of the first layer. Since the first layer has a higher carbon concentration than the second layer, the first layer has a sufficiently high adhesion to the substrate. The reason why the carbon concentration of the first layer is higher than that of the second layer is considered to be that the raw material gas for the first layer does not contain the organic cyanide gas but contains only the hydrocarbon gas.
  • the carbon concentration of the second layer is preferably 0.3 to 3% by mass lower than the carbon concentration of the first layer, and more preferably 0.5 to 2.5% by mass.
  • the nitrogen concentration (nitrogen content) of the second layer is preferably 2.5 to 10% by mass, more preferably 3 to 9% by mass, and most preferably 4 to 8% by mass. If the nitrogen concentration is less than 2.5% by mass, the second layer has insufficient hardness, and if it exceeds 10% by mass, the second layer becomes brittle.
  • the atomic ratio of carbon concentration C to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N) of the second layer: C / (C + N) is preferably 0.65 to 0.85, and more preferably 0.7 to 0.8.
  • the atomic ratio of nitrogen concentration N to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N) of the second layer: N / (C + N) is preferably 0.35 to 0.15, and more preferably 0.3 to 0.2.
  • the content of Ti (which may contain Me element) is preferably 69 to 85.5% by mass, more preferably 71 to 83.5 atomic%, and most preferably 73 to 82% by mass. When Ti is out of the range of 69 to 85.5% by mass, the hardness and wear resistance of the second layer are greatly reduced.
  • the Me element is at least one metal element selected from the group consisting of Zr, V, Cr, Si, B, and Al. Of the Me elements, Zr, Cr, Si, V, and Al improve the oxidation resistance of the second layer, and Zr, Si, V, and B improve the hardness and wear resistance of the second layer.
  • the content of Me element is preferably 0.2 to 10% by mass, where Ti + Me is 100% by mass.
  • composition (mass ratio) in the crystal grains of the second layer is expressed as Tia 1 (Cx 1 Ny 1 ) b 1 (Ti may contain Me element), Ti (Me element contained)
  • the content a 1 is preferably 0.55 to 0.85
  • the CN content b 1 is preferably 0.45 to 0.15
  • the C content x 1 b 1 is 0.3 to 0.1.
  • the N content y 1 b 1 is preferably 0.15 to 0.05.
  • composition (mass ratio) of the grain boundaries of the second layer is expressed as Tia 2 (Cx 2 Ny 2 ) b 2 (Ti may contain Me element), Ti (Me element
  • the content a 2 is preferably 0.3 to 0.6
  • the CN content b 2 is preferably 0.7 to 0.4
  • the C content x 2 b 2 is 0.5 to 0.3.
  • the N content y 2 b 2 is preferably 0.2 to 0.1.
  • the ratio (x 1 b 1 / x 2 b 2 ) between the C content in the crystal grains and the C content in the grain boundaries in the second layer is preferably 0.2 to 0.6, more preferably 0.3 to 0.5. More preferred.
  • the hard coating member of the present invention has significantly higher performance than the conventional titanium carbonitride layer coating member by chemical vapor deposition. is there.
  • the average cross-sectional diameter of the columnar crystals in the second layer is preferably 0.01 to 0.5 ⁇ m, more preferably 0.01 to 0.2 ⁇ m, and most preferably 0.01 to 0.1 ⁇ m. Those having an average cross-sectional diameter of less than 0.01 ⁇ m are difficult to produce industrially, and if it exceeds 0.5 ⁇ m, the hardness greatly decreases.
  • the average thickness of the second layer having sufficient impact resistance as well as high hardness and wear resistance is preferably 1 to 20 ⁇ m, more preferably 1.5 to 15 ⁇ m, and most preferably 2 to 10 ⁇ m. If the average thickness is less than 1 ⁇ m, the service life is short, and if it exceeds 20 ⁇ m, the adhesion is greatly reduced. Furthermore, as the first layer becomes thicker, the carbon concentration on the surface layer side becomes higher and the adhesive strength decreases, so the first layer is sufficiently thinner than the second layer (the second layer is sufficiently thicker than the first layer). Is preferred.
  • the ratio of the thickness of the second layer to the thickness of the entire titanium carbonitride layer (first layer + second layer + third layer) is preferably 40 to 80%, more preferably 45 to 80%.
  • the hardness of the second layer measured by the nanoindentation (indentation) method is preferably 30 to 40 GPa, and more preferably 32 to 40 GPa. If the hardness of the second layer is less than 30 mm GPa, the wear resistance is low, and if it exceeds 40 mm GPa, the carbon concentration in the second layer is too high and embrittles.
  • the carbon concentration of the third layer is preferably 0.5% by mass or more lower than the carbon concentration of the second layer, more preferably 1 to 7% by mass, and most preferably 1.5 to 6.5% by mass.
  • the nitrogen concentration (nitrogen content) of the third layer is preferably 5 to 14% by mass, more preferably 6 to 12% by mass, and most preferably 8 to 11% by mass. If the nitrogen concentration is less than 5% by mass, the third layer has insufficient hardness, and if it exceeds 14% by mass, it becomes brittle.
  • the atomic ratio of carbon concentration C to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N) of the third layer is preferably 0.5 to 0.7, more preferably 0.55 to 0.65.
  • C / (C + N) of the third layer is preferably smaller by 0.05 to 0.3 than C / (C + N) of the second layer, and more preferably smaller by 0.1 to 0.25.
  • the atomic ratio of nitrogen concentration N to the total of carbon concentration C and nitrogen concentration N (C + N) of the third layer: N / (C + N) is preferably 0.5 to 0.3, and more preferably 0.45 to 0.35.
  • the content of Ti (which may contain a Me element) is preferably 71 to 86% by mass, more preferably 74 to 84% by mass, and most preferably 75 to 81% by mass.
  • the Me element that may substitute a part of Ti is preferably at least one metal element selected from the group consisting of Zr, V, Cr, Si, B, and Al. Of the Me elements, Zr, Cr, Si, V and Al improve the oxidation resistance of the third layer, and Zr, Si, V and B improve the hardness and wear resistance of the third layer.
  • the content of Me element is preferably 0.2 to 10% by mass, where Ti + Me is 100% by mass.
  • the third layer has a lower carbon concentration than the first layer and the second layer, but the film formation rate in the direction perpendicular to the substrate is sufficiently faster than the film formation rate in the direction parallel to the third layer. It becomes fine.
  • the average cross-sectional diameter of the columnar crystals in the third layer is preferably 0.01 to 0.5 ⁇ m, more preferably 0.01 to 0.2 ⁇ m, and most preferably 0.01 to 0.1 ⁇ m. Those having an average cross-sectional diameter of less than 0.01 ⁇ m are difficult to produce industrially, and if it exceeds 0.5 ⁇ m, the hardness greatly decreases. Thus, the average cross-sectional diameter of the columnar crystals is substantially the same from the first layer to the third layer.
  • the average thickness of the third layer is preferably 1 to 10 ⁇ m, more preferably 1.5 to 8 ⁇ m, and most preferably 1.5 to 6 ⁇ m. If the average thickness is less than 1 ⁇ m, the life is short, and if it exceeds 10 ⁇ m, the adhesion is greatly reduced. Further, the ratio of the thickness of the third layer to the thickness of the entire titanium carbonitride layer (first layer + second layer + third layer) is preferably 15 to 60%, more preferably 17 to 50%.
  • the hardness of the third layer measured by the nanoindentation (indentation) method is preferably 30 to 40 GPa, more preferably 32 to 40 GPa. If the hardness of the third layer is less than 30 mm GPa, the wear resistance is low, and if it exceeds 40 mm GPa, the carbon concentration in the third layer is too high and embrittles.
  • the upper layer is (i) a first upper layer comprising a bonding layer formed on the third layer and a hard oxide layer of Al and / or Cr formed on the bonding layer, or ( ii) formed on the third layer, essentially comprising Ti and / or Cr and C and / or N, and at least one element selected from the group consisting of Al, Si, B, Zr and V being an optional element And a hard layer (second upper layer).
  • the bonding layer formed immediately above the third layer by chemical vapor deposition is composed of at least one element selected from the group consisting of Ti, Al, B and Zr, and a group consisting of C, N and O. It is a single-layer or multi-layer hard film that essentially contains at least one selected element.
  • the bonding layer has a Ti (CN) layer having the same crystal structure as the third layer, and Ti (CN) with high adhesion between the oxide layer (A multilayer structure comprising a (CNO) layer, a Ti (CO) layer, a (TiAl) (CNO) layer or a (TiB) (CNO) layer is preferred.
  • Al and / or Cr oxide layer An Al and / or Cr oxide layer (aluminum oxide layer, chromium oxide layer or aluminum oxide / chromium layer) formed on the bonding layer by chemical vapor deposition is required. Depending on the case, Zr and / or Ti may be contained.
  • the oxide layer of Al and / or Cr preferably has an ⁇ -type structure as a main component, and has a single ⁇ -type structure (only an ⁇ -type X-ray diffraction pattern is observed as shown in FIG. 2). preferable.
  • the average thickness of the oxide layer is preferably 0.5 to 12 ⁇ m, more preferably 1 to 10 ⁇ m, and most preferably 2 to 8 ⁇ m. If the average thickness is less than 0.5 ⁇ m, the oxide layer has a short life, and if it exceeds 12 ⁇ m, the adhesion is greatly reduced.
  • the second upper layer formed on the third layer is essentially composed of Ti and / or Cr and C and / or N, and is selected from the group consisting of Al, Si, B, Zr and V. It is a hard layer having at least one selected element as an optional element.
  • the second upper layer preferably has the same face centered cubic (FCC) structure as the third layer.
  • the second upper layer has a single layer or a multilayer structure, TiC film, TiN film, (TiAl) N film, (TiSi) N film, (TiB) N film, TiZr (CN) film, TiAl It is preferably selected from the group consisting of (CN) film, TiSi (CN) film, TiCr (CN) film, TiV (CN) film, TiAlSi (CN) film, TiB (CN) film and CrC film.
  • the average thickness of the second upper layer is preferably 0.5 to 10 ⁇ m, more preferably 1 to 8 ⁇ m, and most preferably 2 to 5 ⁇ m. If the average thickness is less than 0.5 ⁇ m, the lifetime is short, and if it exceeds 10 ⁇ m, the adhesion is too low.
  • the hard film according to the present invention can be formed by a chemical vapor deposition method using a thermal chemical vapor deposition apparatus or a plasma assisted chemical vapor deposition apparatus (also simply referred to as “CVD furnace”).
  • a thermal chemical vapor deposition apparatus or a plasma assisted chemical vapor deposition apparatus (also simply referred to as “CVD furnace”).
  • CVD furnace also simply referred to as “CVD furnace”.
  • the method of the present invention will be described taking the case of the thermal chemical vapor deposition method as an example, but the present invention is of course not limited thereto, and can be applied to other chemical vapor deposition methods.
  • Source gas for titanium carbonitride layer As shown schematically in FIG. 1 (a), the source gas for forming the first to third layers of the titanium carbonitride layer is C 2 to C 5 .
  • the hydrocarbon gas concentration and the organic cyanide gas concentration change.
  • C 2 H 6 is exemplified as a C 2 to C 5 hydrocarbon gas
  • CH 3 CN is exemplified as an organic cyanide gas for simplification.
  • C 2 -C 5 hydrocarbon gases include ethane (C 2 H 6 ), propane (C 3 H 8 ), butane (C 4 H 10 ), pentane (C 5 H 12 ), ethylene (C 2 H 4 ), Propylene (C 3 H 6 ), butene (C 4 H 8 ), and alkane or alkene gas such as pentene (C 5 H 10 ), among which ethane gas is preferred.
  • the hydrocarbon gas may contain CH 4 gas in a proportion of less than 50% by volume. The lower the proportion of CH 4 gas in the hydrocarbon gas, the higher the hardness or wear resistance of the resulting titanium carbonitride layer. Therefore, the proportion of CH 4 gas in the hydrocarbon gas is preferably 30% by volume or less, more preferably 20% by volume or less, and most preferably 0% by volume.
  • organic cyanide examples include acetonitrile (CH 3 CN), propronitrile (CH 3 CH 2 CN), benzonitrile (C 6 H 5 CN), and acetonitrile is preferable in consideration of cost.
  • Formation of titanium carbonitride layer (1) Formation of first layer H 2 gas, N 2 gas, and Ar gas are flowed into a CVD furnace in which a substrate made of cemented carbide or high-speed steel is set, and the temperature is raised to the film formation temperature, and then TiCl 4 gas A source gas composed of N 2 gas, C 2 to C 5 hydrocarbon gas, and H 2 gas is flowed into the CVD furnace. An organic cyanide gas is not used for forming the first layer. This is because if the first layer forming gas contains an organic cyanide compound gas, the adhesion between the substrate and the first layer is reduced.
  • the composition of the source gas of the first layer is 0.2 to 1% by volume of TiCl, where the total of TiCl 4 gas, N 2 gas, hydrocarbon gas and H 2 gas is 100% by volume.
  • it consists of 4 gases, 20-60% by volume N 2 gas, 0.8-3% by volume C 2 -C 5 hydrocarbon gas, and the balance H 2 gas.
  • the TiCl 4 gas is less than 0.2% by volume, a uniform titanium carbonitride layer is not formed, and adhesion with a substrate made of cemented carbide or high-speed steel is inferior.
  • TiCl 4 gas exceeds 1% by volume, the substrate and the raw material gas react excessively, and an embrittlement layer is formed between the substrate and the adhesive strength with the substrate decreases.
  • TiCl 4 gas is more preferably 0.3 to 0.8% by volume, and most preferably 0.4 to 0.8% by volume.
  • N 2 gas is less than 20% by volume, the substrate and the raw material gas react excessively to form an embrittled layer between the substrate and the adhesion to the substrate is reduced.
  • the N 2 gas exceeds 60% by volume, the reaction components become dilute accordingly, a uniform titanium carbonitride layer cannot be obtained, and the adhesion with the substrate is reduced.
  • N 2 gas is more preferably 30 to 50% by volume, and most preferably 30 to 40% by volume.
  • the C 2 to C 5 hydrocarbon gas is more preferably 0.8 to 2.5% by volume, and most preferably 1 to 2% by volume.
  • the film formation temperature of the first layer is preferably 700 to 900 ° C, more preferably 750 to 880 ° C, and most preferably 800 to 850 ° C.
  • the film forming temperature is less than 700 ° C.
  • the film forming speed is too slow.
  • the film forming temperature exceeds 900 ° C., the substrate and the source gas react excessively, and an embrittled layer is formed between the substrate and the adhesion with the substrate is reduced.
  • the film forming pressure of the first layer is preferably 5 to 20 kPa, more preferably 10 to 15 kPa. If the film forming pressure is less than 5 kPa, a titanium carbonitride layer having high adhesion to the substrate cannot be obtained. On the other hand, when the film forming pressure exceeds 20 kPa, the substrate and the source gas react excessively, an embrittled layer is formed between the substrate and the adhesion to the substrate is reduced.
  • the reaction of TiCl 4 gas and C 2 -C 5 hydrocarbon gas is more active than the reaction of TiCl 4 gas and N 2 gas, so the titanium carbonitride layer with high carbon concentration is covered.
  • the substrate and the raw material gas react to form a titanium carbonitride layer having high adhesion to the substrate.
  • Source gas It is preferable that the second layer is formed continuously by switching to the source gas of the second layer after forming the first layer. Thereby, fine columnar crystals grow continuously, and a titanium carbonitride layer having high adhesion between the first layer and the second layer is obtained.
  • the source gas of the second layer is TiCl 4 gas, N 2 gas, organic cyanide gas, C 2 to C 5 hydrocarbon gas (CH 4 gas may be contained in a proportion of less than 50% by volume), And H 2 gas.
  • the concentration of C 2 to C 5 hydrocarbon gas in the source gas of the second layer is the concentration of C 2 to C 5 hydrocarbon gas in the source gas of the first layer. Lower is preferred.
  • the composition of the source gas of the second layer is 1 to 3% by volume of TiCl 4 with the total of TiCl 4 gas, N 2 gas, organic cyanide gas, hydrocarbon gas and H 2 gas being 100% by volume. 4 gas, 10-30% by volume N 2 gas, 0.2-2% by volume organic cyanide gas, 0.5-2.5% by volume C 2 -C 5 hydrocarbon gas (ratio of less than 50% by volume of CH 4 gas) And the remainder H 2 gas. If the TiCl 4 gas is less than 1% by volume, a uniform titanium carbonitride layer cannot be obtained.
  • TiCl 4 gas exceeds 3% by volume, the difference between the carbon concentration in the crystal grains and the carbon concentration at the crystal grain boundaries is reduced, fine columnar crystals are not formed, and the hardness and wear resistance are reduced.
  • TiCl 4 gas is more preferably 1 to 2.7% by volume, and most preferably 1.2 to 2.5% by volume.
  • N 2 gas is less than 10% by volume, the reaction is promoted too much and the nitrogen concentration in the second layer becomes too low. As a result, the carbon concentration in the second layer becomes too high, and the adhesion is reduced. On the other hand, if the N 2 gas exceeds 30% by volume, the reaction is not uniform and the film growth rate varies, not only the adhesion decreases, but the carbon concentration increases as the nitrogen concentration in the second layer increases. The hardness and wear resistance are reduced. N 2 gas is more preferably 10 to 25% by volume, and most preferably 10 to 20% by volume.
  • the organic cyanide gas is more preferably 0.2 to 1.5% by volume, and most preferably 0.2 to 1.2% by volume.
  • the C 2 to C 5 hydrocarbon gas is more preferably 0.6 to 2.2% by volume, and most preferably 0.8 to 2% by volume.
  • the film formation temperature of the second layer is preferably 700 to 900 ° C, more preferably 750 to 880 ° C, and more preferably 800 to 850 ° C.
  • the film forming temperature is less than 700 ° C.
  • the film forming speed is too slow.
  • the film forming temperature exceeds 900 ° C., the substrate and the raw material gas react excessively, the crystal grains become coarse, and the hardness and wear resistance decrease.
  • the film forming pressure of the second layer is preferably 5 to 10 kPa, more preferably 7 to 9 kPa. If the deposition pressure is less than 5 kPa, a uniform titanium carbonitride layer cannot be obtained. On the other hand, when the film forming pressure exceeds 10 kPa, the crystal grains become coarse and the hardness and wear resistance are lowered.
  • the third layer source gas is composed of TiCl 4 gas, N 2 gas, organic cyanide gas, and H 2 gas. As shown in FIG. 1 (a), the third layer source gas does not contain C 2 to C 5 hydrocarbon gas. Lower than the carbon concentration of the layer. As a result, the third layer has high adhesion with the upper layer.
  • the amount of organic cyanide gas in the raw material gas of the third layer smaller than that in the step (2) of forming the second layer, it is possible to suppress the coarsening of the columnar crystals, and the high hardness and wear resistance.
  • the adhesion with the upper layer can be improved while maintaining the above.
  • the composition of the third layer source gas is 0.8 to 3% by volume of TiCl 4 gas, 10% of the total of TiCl 4 gas, N 2 gas, organic cyanide gas and H 2 gas being 100% by volume. It is preferably composed of ⁇ 30% by volume of N 2 gas, 0.1 ⁇ 1.2% by volume (0.1% by volume or less than step (2)), organic cyanide compound gas, and the balance H 2 gas.
  • TiCl 4 gas is less than 0.8% by volume, the carbon concentration in the obtained titanium carbonitride layer is too high, and the adhesion with the upper layer is low.
  • TiCl 4 gas exceeds 3% by volume, the columnar crystals are coarsened, and the hardness and wear resistance are reduced.
  • TiCl 4 gas is more preferably 1 to 2.7% by volume, and most preferably 1 to 2.5% by volume.
  • N 2 gas is less than 10% by volume, the nitrogen concentration in the titanium carbonitride layer is too low (relatively too high in carbon concentration), and the adhesion with the upper layer is low. On the other hand, when the N 2 gas exceeds 30% by volume, a uniform titanium carbonitride layer cannot be obtained.
  • N 2 gas is more preferably 10 to 25% by volume, and most preferably 12 to 25% by volume.
  • the organic cyanide gas is more preferably 0.1 to 1% by volume, and most preferably 0.1 to 0.8% by volume.
  • the concentration of the organic cyanide compound gas in the third layer source gas is preferably 0.1% by volume or less less than the concentration of the organic cyanide compound gas in the second layer source gas [Step (2)].
  • the organic cyanide gas concentration is the same as that in the second layer source gas, the third layer columnar crystals formed using the source gas not containing the C 2 to C 5 hydrocarbon gas tend to be coarse. . In order to prevent this, it is preferable to reduce the concentration of the organic cyanide gas in the raw material gas of the third layer by 0.1% by volume or more.
  • the concentration of the organic cyanide gas in the source gas of the third layer is more preferably 0.1 to 0.7% by volume less than the concentration of the organic cyanide gas in the source gas of the second layer, and it is preferably 0.2 to 0.6% by volume less Most preferred.
  • the film formation temperature of the third layer is preferably 700 to 900 ° C, more preferably 750 to 880 ° C, and most preferably 800 to 850 ° C.
  • the film forming temperature is less than 700 ° C.
  • the film forming speed is too slow.
  • the film forming temperature exceeds 900 ° C., the substrate and the raw material gas react excessively, the crystal grains become coarse, and the hardness and wear resistance decrease.
  • the film forming pressure of the third layer is preferably 5 to 10 kPa, more preferably 7 to 9 kPa. If the deposition pressure is less than 5 kPa, a uniform titanium carbonitride layer cannot be obtained. On the other hand, when the film forming pressure exceeds 10 kPa, the crystal grains become coarse and the hardness and wear resistance are lowered.
  • the tie layer is preferably a multilayer coating having at least a layer having a high adhesion to the third layer of the titanium carbonitride layer and a layer having a high adhesion to the oxide layer. Any layer can be formed by a known chemical vapor deposition method.
  • the bonding layer is formed at a temperature of 950 to 1050 ° C., for example, about 1000 ° C.
  • Examples of the layer having high adhesion with the third layer include a Ti (CN) film, a TiN film, and a TiC film.
  • the Ti (CN) film can be formed, for example, using a source gas composed of TiCl 4 gas, N 2 gas, CH 4 gas, and the balance H 2 gas.
  • the TiN film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, N 2 gas, and H 2 gas.
  • the TiC film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, CH 4 gas, and H 2 gas.
  • Examples of the layer having high adhesion with the oxide layer include a Ti (NO) film, a Ti (CO) film, a Ti (CNO) film, a (TiAl) (CNO) film, and a (TiB) (CNO) film. It is done.
  • the Ti (NO) film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, N 2 gas, CO gas, CO 2 gas, and H 2 gas.
  • the Ti (CO) film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, CH 4 gas, CO gas, CO 2 gas, and H 2 gas.
  • the Ti (CNO) film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, CH 4 gas, N 2 gas, CO gas, CO 2 gas, and H 2 gas.
  • the (TiAl) (CNO) film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, AlCl 3 gas, CH 4 gas, N 2 gas, CO gas, CO 2 gas, and H 2 gas.
  • the (TiB) (CNO) film can be formed using a source gas composed of TiCl 4 gas, BCl 3 gas, CH 4 gas, N 2 gas, CO gas, CO 2 gas, and H 2 gas.
  • the film thickness of the layer having high adhesion to the third layer and the layer having high adhesion to the oxide layer may be 0.1 to 2 ⁇ m, and preferably 0.3 to 1 ⁇ m. If the film thickness is less than 0.1 ⁇ m, the life is short, and if it exceeds 2 ⁇ m, the adhesion is greatly reduced.
  • the aluminum oxide layer, the chromium oxide layer, and the aluminum oxide / chromium layer can be formed by a known chemical vapor deposition method.
  • AlCl 3 gas generated by flowing HCl gas and H 2 gas through an Al metal piece kept at 335 ° C., CO 2 gas, H 2 S gas, HCl gas, and H Two gases are flowed into a CVD furnace kept at 800 to 1050 ° C. (for example, about 1000 ° C.), and aluminum oxide is formed on the bonding layer by chemical vapor deposition.
  • the second upper layer having high adhesion to the third layer can be formed by a known chemical vapor deposition method.
  • the film forming temperature is 750 to 1150 ° C., and may be 800 ° C., for example.
  • Examples of the source gas used to form the second upper layer are as follows. (a) TiC film TiCl 4 gas, CH 4 gas and H 2 gas. (b) TiN film TiCl 4 gas, N 2 gas and H 2 gas. (c) (TiAl) N film TiCl 4 gas, AlCl 3 gas, N 2 gas and NH 3 gas. (d) (TiSi) N film TiCl 4 gas, SiCl 4 gas, N 2 gas and NH 3 gas.
  • (e) (TiB) N film TiCl 4 gas, N 2 gas and BCl 3 gas.
  • the flow rate (ml / min) is ml per minute at 1 atm and 25 ° C.
  • the thickness is an average value.
  • Example 1 Formation of a hard coating composed of a titanium carbonitride layer, a bonding layer and an oxide layer A cemented carbide (6% by mass of Co, the balance WC and the balance WC) schematically shown in FIGS. 3 (a) to 3 (c)
  • the cutting edge portion 21 of the turning insert base body (TNMG160408) 20 made of inevitable impurities was honed using a diamond brush.
  • Reference numeral 23 denotes a land portion, and 24 denotes a flank.
  • This insert substrate (TNMG160408) was set in a CVD furnace, and the temperature in the CVD furnace was raised to 850 ° C. while flowing H 2 gas.
  • the titanium carbonitride layer is composed of 66.0% by volume of H 2 gas, 32.2% by volume of N 2 gas, 0.5% by volume of TiCl 4 gas, and 1.3% by volume of C 2 H 6 gas at 850 ° C. and 10 kPa.
  • the source gas was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6100 ml / min, and a first layer having a thickness of 0.5 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition. Further continuously at 850 ° C.
  • a source gas composed of 2 H 6 gas was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6700 ml / min, and a second layer having a thickness of 8 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition. Furthermore, a raw material gas consisting of 83.0 volume% H 2 gas, 15.0 volume% N 2 gas, 1.5 volume% TiCl 4 gas, and 0.5 volume% CH 3 CN gas at 850 ° C. and 8 kPa was continuously obtained.
  • a third layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition in a CVD furnace at a flow rate of ml / min.
  • a bonding layer composed of a Ti (CN) layer and a Ti (CNO) layer first, at 1000 ° C. and 20 kPa, 63.5% by volume H 2 gas, 32.0% by volume N 2 gas, 3.2% by volume A raw material gas consisting of CH 4 gas and 1.3 vol% TiCl 4 gas was flowed to the CVD furnace at a flow rate of 6300 ml to form a Ti (CN) layer having a thickness of 0.5 ⁇ m. Continuously at 1000 ° C.
  • the average thickness of each of the first to third layers, the bonding layer, and the ⁇ -type aluminum oxide layer was obtained by polishing at an angle of 2 ° with respect to the coating surface.
  • the surface was etched using Murakami reagent, and the film thickness of each layer was measured by observing any five locations on the etched surface with a 1000 ⁇ optical microscope, and the average was obtained by averaging.
  • FIG. 4 (b) shows an example of an optical micrograph.
  • the first to third layers can be identified by the difference in light and dark that reflects the difference in structure due to the source gas.
  • FIG. 2 shows an X-ray diffraction pattern with 2 ⁇ ranging from 9 to 145 °.
  • the diffraction peak of ⁇ -type aluminum oxide was observed together with the diffraction peak of the Ti (CN) film.
  • Figure 2 (b) shows an enlarged view of 2 ⁇ in the range of 121.0-125.0 ° in Fig. 2 (a).
  • the columnar crystal Ti (CN) film coated with the insert of this example has an X-ray diffraction peak position 2 ⁇ on the (422) plane within a range of 122.7 to 124.0 °.
  • the X-ray diffraction peak position 2 ⁇ on the (422) plane was found to be different from the columnar Ti (CN) film disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-87150.
  • This difference is considered to be mainly due to the difference in the raw material gas composition and layer structure of the Ti (CN) film used in this example and Patent Document 1, respectively.
  • the segregation of carbon in the columnar crystal Ti (CN) film disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-87150 also affects the above difference.
  • the content of Ti, C and N in the titanium carbonitride layer, and the content of Me element in the case of containing Me element are measured with an electron probe microanalyzer (EPMA, manufactured by JEOL Ltd.) JXA-8500F) was measured under the conditions of an acceleration voltage of 10 kV, an irradiation current of 0.05 A, and a beam diameter of 0.5 ⁇ m.
  • the thin first layer, grain boundaries, and crystal grain composition consist of an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) mounted on a field emission transmission electron microscope (TEM, JEM-2010F manufactured by JEOL Ltd.), and a scanning type.
  • EDS energy dispersive X-ray spectrometer
  • the analysis was performed using an Auger electron spectrometer (SMART200 type manufactured by PHI, acceleration voltage 10 kV, sample current 10 nA, electron probe diameter 0.1 ⁇ m or less).
  • Composition analysis by EPMA, EDS, and Auger electron spectroscopy (AES) was performed at the center position in the film thickness direction of each of the first to third layers.
  • the ratio (x 1 b 1 / x 2 b 2 ) between the C content in the crystal grains and the C content in the crystal grain boundaries in the second layer was 0.30.
  • FIG. 6 shows the concentration distribution in the film thickness direction of C and N in the titanium carbonitride layer (first layer to third layer). As shown in Tables 1 to 3, the ratio of C / (C + N) was 0.70 for the first layer, 0.69 for the second layer, and 0.58 for the third layer.
  • the second layer and the second layer were measured by nanoindentation (indentation) method using an ultra-fine indentation hardness tester (ENTION 1100 manufactured by Elionix Co., Ltd.) using Si single crystal as a standard sample.
  • the hardness of the three layers was measured five times at the center position in the thickness direction and averaged.
  • the measurement conditions were maximum load: 4900 mN, load speed: 49 mN / sec, unloading speed: 49 mN / sec, and holding time: 1 sec.
  • the results are shown in Tables 1 to 3.
  • Examples 2-31 In the same manner as in Example 1 except that the film formation conditions of the first to third layers and the composition of the bonding layer were changed as shown in Tables 1 to 4, the titanium carbonitride layers, bonding layers, and An oxide layer was formed, and the physical properties and performance were evaluated in the same manner as in Example 1.
  • FIG. 7 shows the concentration distribution in the film thickness direction of C and N in the titanium carbonitride layer (first to third layers) of Example 2.
  • Comparative Examples 1-8 A hard film of Comparative Examples 1 to 8 was formed in the same manner as in Example 1 except that the film formation conditions of the first to third layers and the composition of the bonding layer were changed as shown in Tables 5 to 9. The physical properties and performance of the hard film-coated cutting insert were evaluated in the same manner as in Example 1.
  • a single-layer titanium carbonitride layer (corresponding to the first layer) was formed using a source gas containing C 2 H 6 gas but not CH 3 CN gas.
  • Comparative Example 2 a single-layer titanium carbonitride layer (corresponding to the third layer) was formed using a source gas containing CH 3 CN gas but not C 2 H 6 gas.
  • Comparative Example 3 a single-layer titanium carbonitride layer was formed using a source gas not containing N 2 gas by the method described in JP-A-2008-87150. In Comparative Example 4, CH 4 gas was used to form the first to third layers. In Comparative Examples 5 and 6, the same TiN layer and Ti (CN) layer as in JP-A-2005-153098 were formed. In Comparative Example 7, the same TiN layer and Ti (CN) layer as in JP-A-2006-315154 were formed. The Ti (CN) layer of Comparative Example 7 is composed of the first layer and the third layer in the present invention. Further, Comparative Example 8 has the same hard coating as Comparative Example 7 except that no TiN layer is formed [Ti (CN) layer composed of a first layer and a third layer, a bonding layer, and an alumina layer. ] Was formed.
  • FIG. 9 shows the concentration distribution in the film thickness direction of C and N in the hard film of Comparative Example 3.
  • the film formation conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the first layer are shown in Table 1, and the film formation conditions, physical properties (composition, structure and film thickness) of the second layer and the crystal composition Is shown in Table 2, the film formation conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the third layer are shown in Table 3, and the composition of the bonding layer and the cutting evaluation results are shown in Table 4.
  • the film formation conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the first layer are shown in Tables 5 and 7 and the film formation conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the second layer are shown.
  • the crystal composition is shown in Table 8, the film formation conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the third layer are shown in Table 9, and the composition of the bonding layer and the cutting evaluation results are shown in Table 10.
  • the Ti (CN) layers of Comparative Examples 1 and 3 are both single layers, but their composition is in the center in the thickness direction of each of the first layer, the second layer, and the third layer of Example 1. Measured at the corresponding position.
  • the tool life of each of the hard film-coated inserts of Examples 1 to 31 was 8 minutes or longer, which was more than twice the tool life of Comparative Examples 1 to 8. This is because the hard film-coated inserts of Examples 1 to 31 were oxidized through a first layer having high adhesion to the cemented carbide substrate, a second layer having excellent hardness and wear resistance, and a bonding layer. This is because it has a titanium carbonitride layer composed of a third layer having high adhesion to the aluminum layer.
  • Comparative Example 1 and Comparative Example 3 having a single-layer titanium carbonitride layer the carbon concentration in the titanium carbonitride layer increases toward the surface side, so the titanium carbonitride layer and the bonding layer Peeling occurred between the two, and the tool life was short. Further, in the hard film-coated insert of Comparative Example 2 having a single layer of titanium carbonitride, the carbon concentration was low, so peeling did not occur between the titanium carbonitride layer and the bonding layer. Delamination occurred between the layers and again the tool life was short.
  • Comparative Example 4 using CH 4 gas without using CH 3 CN as a raw material gas for the first layer to the third layer, brittle been decarburized layer formed on the cemented carbide substrate, and the substrate and titanium carbonitride Delamination occurred between the layers, resulting in a short tool life. Since the hard film-coated inserts of Comparative Examples 5 to 8 did not have the second layer, they were inferior in wear resistance and also had a short tool life.
  • Example 32 After forming the first layer of the titanium carbonitride layer on the same substrate as in Example 1 where the cutting edge portion was honed under the conditions of Table 11, 80.3 vol% H 2 gas continuously at 850 ° C and 10 kPa, 6700 ml of source gas consisting of 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.2% by volume C 2 H 6 gas, and 1.0% by volume ZrCl 4 gas A second layer having a composition of (TiZr) (CN) and having a thickness of 8 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of / min. Continuously, at 850 ° C.
  • Example 2 82.0% by volume H 2 gas, 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 0.5% by volume CH 3 CN gas, and 1.0% by volume ZrCl
  • a source gas consisting of 4 gases was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6600 ml / min to form a 3 ⁇ m thick third layer having a composition of (TiZr) (CN). Further continuously, a bonding layer and an ⁇ -type aluminum oxide film were formed in the same manner as in Example 1.
  • Example 33 After forming the first layer of the titanium carbonitride layer on the same substrate as in Example 1 where the cutting edge portion was honed under the conditions of Table 11, 80.3 vol% H 2 gas continuously at 850 ° C and 10 kPa, 6700 ml of source gas consisting of 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.2% by volume C 2 H 6 gas, and 1.0% by volume SiCl 4 gas
  • the second layer having a composition of (TiSi) (CN) and having a thickness of 8 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of / min. Continuously, at 850 ° C.
  • Example 34 After forming the first layer of the titanium carbonitride layer on the same substrate as in Example 1 where the cutting edge portion was honed under the conditions of Table 11, 80.3 vol% H 2 gas continuously at 850 ° C and 10 kPa, 6700 ml of source gas consisting of 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.2% by volume C 2 H 6 gas, and 1.0% by volume VCl 3 gas
  • the second layer having a composition of (TiV) (CN) and having a thickness of 8 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of / min. Continuously, at 850 ° C.
  • Example 2 82.0% by volume H 2 gas, 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 0.5% by volume CH 3 CN gas, and 1.0% by volume VCl
  • a source gas consisting of three gases was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6600 ml / min to form a third layer having a thickness of 2 ⁇ m and a composition of (TiV) (CN). Further continuously, a bonding layer and an ⁇ -type aluminum oxide film were formed in the same manner as in Example 1.
  • Example 35 After forming the first layer of the titanium carbonitride layer on the same substrate as in Example 1 where the cutting edge portion was honed under the conditions of Table 11, 80.3 vol% H 2 gas continuously at 850 ° C and 10 kPa, 6700 ml of source gas consisting of 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.2% by volume C 2 H 6 gas, and 1.0% by volume CrCl 3 gas
  • the second layer having a composition of (TiCr) (CN) and having a thickness of 8 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of / min. Continuously, at 850 ° C.
  • Example 36 After forming the first layer of the titanium carbonitride layer on the same substrate as in Example 1 where the cutting edge portion was honed under the conditions of Table 11, 80.3 vol% H 2 gas continuously at 850 ° C. and 5 kPa, 6700 ml of source gas consisting of 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.2% by volume C 2 H 6 gas, and 1.0% by volume BCl 3 gas
  • the second layer having a composition of (TiB) (CN) and having a thickness of 8 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of / min. Continuously, at 850 ° C.
  • Example 37 After forming the first layer of the titanium carbonitride layer on the same substrate as in Example 1 where the cutting edge portion was honed under the conditions of Table 11, 80.3 vol% H 2 gas continuously at 750 ° C and 5 kPa, 6700 ml of source gas consisting of 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.2% by volume C 2 H 6 gas, and 1.0% by volume AlCl 3 gas A second layer having a composition of (TiAl) (CN) and having a thickness of 8 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of / min. Continuously, at 750 ° C.
  • the film formation conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the first layer are shown in Table 11, and the film formation conditions, physical properties (composition, structure and film thickness) and crystal composition of the second layer Is shown in Table 12, the film forming conditions and physical properties (composition, structure and film thickness) of the third layer are shown in Table 13, and the composition of the bonding layer and the cutting evaluation results are shown in Table 14.
  • Example 38 On the cemented carbide insert substrate (TNMG160408) with the cutting edge honed, the first to third layers and the bonding layer made of titanium carbonitride were formed under the same conditions as in Example 1, and then 1010 ° C. and 10 kPa.
  • a raw material gas comprising 9.2% by volume of CrCl 3 gas, 85.3% by volume of H 2 gas, 4.3% by volume of CO 2 gas, 0.2% by volume of H 2 S gas, and 1.0% by volume of HCl gas was passed through a CVD furnace at a flow rate of 4700 ml to form an ⁇ -type chromium oxide layer having a thickness of 6 ⁇ m.
  • the cutting performance of the obtained hard coating-coated insert was evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 15.
  • Example 39 On the cemented carbide insert substrate (TNMG160408) with the cutting edge honed, the first to third layers and the bonding layer made of titanium carbonitride were formed under the same conditions as in Example 1, and then 1010 ° C. and 10 kPa.
  • a 6 ⁇ m thick ⁇ -type aluminum oxide with a composition expressed by (Al 0.5 Cr 0.5 ) 2 O 3 (atomic ratio) is passed through a CVD furnace at a flow rate of 4700 ml with a flow rate of 4% HCl gas.
  • a chromium layer was formed.
  • the cutting performance of the obtained hard coating-coated insert was evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 15.
  • the hard coating-coated insert of the present invention has good cutting performance even when the oxide layer is an ⁇ -type chromium oxide layer (Example 38) or an ⁇ -type aluminum oxide / chromium layer (Example 39). I understand.
  • Example 40 As shown in Table 16, hard film-coated inserts were prepared and cut in the same manner as in Example 1 except that 25% by volume of C 2 H 6 gas as hydrocarbon gas for the second layer was replaced with CH 4 gas. Evaluation was performed. The results are shown in Table 16.
  • Example 41 As shown in Table 16, hard film-coated inserts were prepared and cut in the same manner as in Example 1 except that 45% by volume of C 2 H 6 gas as hydrocarbon gas for the second layer was replaced with CH 4 gas. Evaluation was performed. The results are shown in Table 16.
  • Comparative Example 9 As shown in Table 16, a hard coating-coated insert was prepared and evaluated for cutting in the same manner as in Example 1 except that the hydrocarbon gas for the second layer was changed to CH 4 gas. The results are shown in Table 16.
  • Example 40 and Example 41 produced by replacing 25% by volume and 45% by volume of C 2 H 6 gas as hydrocarbon gas for the second layer with CH 4 gas, respectively.
  • the film-coated insert had good cutting performance.
  • the hard film-coated insert of Comparative Example 9 produced using 100% by volume of CH 4 gas as the second layer hydrocarbon gas had a short life.
  • FIG. 10 (a) and FIG. 10 (b) show an example of the hard film-coated mold 10 of the present invention.
  • the hard film-coated mold 10 includes a punch 2 for punching, a horizontal member 3 to which the punch 2 is fixed, and a pair of guides for moving the horizontal member 3 in the vertical direction at a predetermined speed with high accuracy.
  • the upper die 5 having pins 4 and 4 and a central hole 5a (hole diameter 0.15 mm) through which the tip 2a of the punch 2 passes, and a central hole 6a (hole diameter 0.15 mm) through which the tip 2a of the punch 2 enters
  • the lower mold 6 is provided.
  • the base of the punch 2 is formed of the same cemented carbide as in Example 1, and the first, second and third titanium carbonitride layers, the bonding layer, and the oxidation are the same as in Example 1 on the cemented carbide punch base. An aluminum layer was formed.
  • Example 43 A hard coating coated mold was prepared in the same manner as in Example 42 except that the base of the punch 2 was made of high speed steel (SKH57), and the presence or absence of peeling of the hard coating on the tip 2a of the punch 2 was observed. The results are shown in Table 17.
  • Comparative Example 10 A hard film-coated mold was prepared in the same manner as in Example 42 except that the same hard film as in Comparative Example 1 was formed, and the presence or absence of peeling of the hard film on the tip 2a of the punch 2 was observed. The results are shown in Table 17.
  • Comparative Example 11 A hard coating coated mold was prepared in the same manner as in Example 43 except that the same hard coating as in Comparative Example 1 was formed, and the presence or absence of peeling of the hard coating on the tip 2a of the punch 2 was observed. The results are shown in Table 17.
  • Example 1 did not peel from either the cemented carbide punch substrate (Example 42) or the high-speed steel punch substrate (Example 43).
  • the hard film of 1 was peeled off from both the cemented carbide punch substrate (Comparative Example 10) and the high-speed steel punch substrate (Comparative Example 11).
  • Example 44 The same cemented carbide insert substrate as in Example 1 with the honing treatment applied to the cutting edge was set in a CVD furnace, and at 900 ° C. and 16 kPa, 0.5 volume% TiCl 4 gas, 33.0 volume% N 2 gas and 66.5 A source gas consisting of volume% H 2 gas was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6300 ml / min to form a TiN layer having an average thickness of 0.03 ⁇ m on the insert substrate. Subsequently, in the same CVD furnace, a titanium carbonitride layer consisting of the first to third layers, a bonding layer and an oxide layer were formed on the TiN layer in the same manner as in Example 1 to obtain a hard coating-coated insert. . The cutting performance of this hard film-coated insert was evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 18.
  • Example 45 Comparative Example 12
  • Example 44 and Example 45 in which a TiN layer having an average thickness of 0.03 to 0.1 ⁇ m was formed between the insert substrate and the first layer were the same as in Example 1. Longer life than hard film coated insert. In contrast, the hard film-coated insert of Comparative Example 12 in which a 0.5 ⁇ m TiN layer was formed had a short life. From this, it can be seen that when a thin TiN layer of 0.03 to 0.1 ⁇ m is formed under the first layer, the adhesion between the insert base and the first layer is increased, and the life of the hard coating coated insert is prolonged.
  • Example 46 Formation of titanium carbonitride layer consisting of the first to third layers and the second upper layer Cemented carbide insert base consisting of 6% by mass of Co, the balance WC and inevitable impurities (CNMG120412) The cutting blade part was honed. This insert substrate was set in a CVD furnace, and the temperature in the CVD furnace was raised to 850 ° C. while flowing H 2 gas. First, at 850 ° C.
  • a raw material gas consisting of 66.0% by volume of H 2 gas, 32.2% by volume of N 2 gas, 0.5% by volume of TiCl 4 gas, and 1.3% by volume of C 2 H 6 gas was 6100 ml /
  • the first layer having a thickness of 1 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition. Continuously at 850 ° C.
  • a source gas composed of H 6 gas was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6700 ml / min, and a second layer having a thickness of 3 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition. Furthermore, a raw material gas consisting of 83.0 volume% H 2 gas, 15.0 volume% N 2 gas, 1.5 volume% TiCl 4 gas, and 0.5 volume% CH 3 CN gas at 850 ° C. and 8 kPa was continuously obtained.
  • a third layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition in a CVD furnace at a flow rate of ml / min.
  • Example of crystal structure, composition and average cross-sectional diameter of columnar crystal grains of first to third layers As a result of measurement in the same manner as in Example 1, almost the same result as in Example 1 was obtained.
  • Example 47 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • a raw material gas consisting of 48.7% by volume of H 2 gas, 48.7% by volume of N 2 gas, 1.0% by volume of TiCl 4 gas and 1.6% by volume of BCl 3 gas was flowed to the CVD furnace at a flow rate of 6160 ml, A (TiB) N film having a thickness of 3 ⁇ m was formed.
  • Example 48 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46. in 5 kPa, 48.4% by volume of H 2 gas, 48.4% by volume of N 2 gas, 0.6 volume% of NH 4 gas, 1.0 volume% of TiCl 4 gas and 6200 ml of raw material gas consisting of 1.6 vol% of SiCl 4 gas (TiSi) N film having a thickness of 3 ⁇ m was formed.
  • CNMG120412 cemented carbide insert base body
  • Example 49 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • a source gas consisting of 49.5% by volume H 2 gas, 49.5% by volume N 2 gas, and 1.0% by volume TiCl 4 gas at a flow rate of 6060 ml at a flow rate of 6060 ml at 12 kPa to form a 3 ⁇ m thick TiN film Formed.
  • Example 50 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • a source gas consisting of 91.6% by volume H 2 gas, 7.4% by volume CH 4 gas, and 1.0% by volume TiCl 4 gas was flowed to the CVD furnace at a flow rate of 5460 ml, and a 3 ⁇ m thick TiC film was formed. Formed.
  • Example 51 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • a source gas consisting of 46.4% by volume H 2 gas, 46.4% by volume N 2 gas, 6.2% by volume CH 4 gas, and 1.0% by volume TiCl 4 gas at a flow rate of 6460 ml at 12 kPa.
  • Example 52 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • Source gas consisting of 48.2% by volume H 2 gas, 48.1% by volume N 2 gas, 0.6% by volume CH 3 CN gas, 2.1% by volume ZrCl 4 gas, and 1.0% by volume TiCl 4 gas at 12 kPa was passed through a CVD furnace at a flow rate of 6230 ml to form a TiZr (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m.
  • Example 53 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • CNMG120412 cemented carbide insert base body
  • a source gas composed of TiCl 4 gas was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6270 ml to form a TiAl (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m.
  • Example 54 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) with the cutting edge honed in the same manner as in Example 46. At 5kPa, 47.9% by volume H 2 gas, 47.8% by volume N 2 gas, 0.6% by volume NH 4 gas, 0.6% by volume CH 3 CN gas, 2.1% by volume SiCl 4 gas, and 1.0% by volume A source gas composed of TiCl 4 gas was flowed into the CVD furnace at a flow rate of 6400 ml to form a TiSi (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m.
  • CN cemented carbide insert base body
  • Example 55 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • Source gas consisting of 48.8% by volume H 2 gas, 47.8% by volume N 2 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.1% by volume BCl 3 gas, and 1.3% by volume TiCl 4 gas at 5kPa
  • a TiB (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of 6160 ml.
  • Example 56 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) with the cutting edge honed in the same manner as in Example 46.
  • CNMG120412 cemented carbide insert base body
  • Example 56 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) with the cutting edge honed in the same manner as in Example 46.
  • 47.3% by volume H 2 gas 47.3% by volume N 2 gas, 0.6% by volume NH 4 gas, 0.6% by volume CH 3 CN gas, 1.6% by volume AlCl 3 gas, 1.6% by volume SiCl
  • a source gas composed of 4 gases and 1.0 vol% TiCl 4 gas was flowed to the CVD furnace at a flow rate of 6340 ml to form a TiAlSi (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m.
  • Example 57 After the first to third titanium carbonitride layers were formed in the same manner as in Example 46 on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge, it was continuously treated at 900 ° C. and 5 ° C. A raw material gas comprising 48.6% by volume H 2 gas, 48.2% by volume N 2 gas, 0.6% by volume CH 3 CN gas, 1.6% by volume CrCl 3 gas, and 1.0% by volume TiCl 4 gas at kPa. The TiCr (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m was formed by flowing in a CVD furnace at a flow rate of 6600 ml.
  • Example 58 A titanium carbonitride layer composed of the first to third layers was formed on the cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge portion in the same manner as in Example 46.
  • Source gas consisting of 48.6% by volume H 2 gas, 48.2% by volume N 2 gas, 0.6% by volume CH 3 CN gas, 1.6% by volume VCl 3 gas, and 1.0% by volume TiCl 4 gas at 5 kPa was passed through a CVD furnace at a flow rate of 6400 ml to form a TiV (CN) film having a thickness of 3 ⁇ m.
  • Example 59 A titanium carbonitride layer composed of a first layer to a third layer was formed in the same manner as in Example 46 on a cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge, and then the same 950 ° C. And a raw material gas consisting of 91.6% by volume of H 2 gas, 7.4% by volume of CH 4 gas, and 1.0% by volume of CrCl 3 gas at a flow rate of 6060 ml in a CVD furnace and a 3 ⁇ m thick CrC film Formed.
  • CNMG120412 cemented carbide insert base body
  • Example 60 A first layer was formed in the same manner as in Example 46 on a cemented carbide insert base body (CNMG120412) whose honing treatment was applied to the cutting edge, and then continuously at 850 ° C. and 8 kPa at 80.3 vol% H 2.
  • Source gas consisting of gas, 15.0% by volume N 2 gas, 1.5% by volume TiCl 4 gas, 1.0% by volume CH 3 CN gas, 1.0% by volume CH 4 gas, and 1.2% by volume C 2 H 6 gas
  • a second layer having a thickness of 3 ⁇ m was formed by chemical vapor deposition in a CVD furnace at a flow rate of 6700 ml / min. Further, in the same manner as in Example 46, a third layer and a (TiAl) N film were formed.
  • Example 61 The same insert substrate (CNMG120412) as in Example 46 was set in a CVD furnace and comprised of 0.5 vol% TiCl 4 gas, 33.0 vol% N 2 gas and 66.5 vol% H 2 gas at 900 ° C. and 16 kPa. A source gas was flowed at a flow rate of 6300 ml / min to form a TiN layer having an average thickness of 0.04 ⁇ m on the substrate. Subsequently, in the same CVD furnace, in the same manner as in Example 46, a titanium carbonitride layer and a (TiAl) N layer composed of the first to third layers were formed on the TiN layer. The cutting performance of the obtained hard coating-coated insert was evaluated in the same manner as in Example 46. The results are shown in Table 20.
  • Example 62 Comparative Example 13 Manufacture of hard film coated inserts of Example 62 and Comparative Example 13 in the same manner as Example 61 except that the average thickness of the TiN layer interposed between the insert substrate and the first layer was 0.1 ⁇ m and 0.4 ⁇ m, respectively. Then, the cutting performance was evaluated in the same manner as in Example 61. The results are shown in Table 20.
  • the hard film-coated inserts of Example 61 and Example 62 in which a TiN layer having an average thickness of 0.04 to 0.1 ⁇ m was formed between the substrate and the first layer had a long life.
  • the hard film-coated insert of Comparative Example 13 having a TiN average thickness of 0.4 ⁇ m had a short life.
  • Example 63 Using a wet blasting device, a polishing solution with a concentration of 20% by mass made of an abrasive material of alumina abrasive grains (average particle size: 50 ⁇ m) was blasted to the cutting edge of a cemented carbide insert base (TNMG160408) and honed. Thereafter, in the same manner as in Example 1, a titanium carbonitride layer comprising a first layer to a third layer, a bonding layer, and an aluminum oxide layer were formed, and physical properties and performance were evaluated.
  • Example 1 using the brush treatment for the honing treatment has high hardness because the crystal grains from the first layer to the third layer are fine, and wet blasting was used for the honing treatment.
  • the lifetime was longer than that of the hard film-coated insert of Example 63.
  • the hard film-coated insert of Comparative Example 7 had a short life because the hard film peeled off.
  • Example 64 Insert base for milling made of cemented carbide (consisting of 11% by weight Co, 2% by weight TaC, the balance WC and inevitable impurities) schematically shown in FIGS. 11 (a) and 11 (b)
  • the cutting edge 31 of (EDNW15T4TN-15) 30 was honed using a diamond brush.
  • 33 shows a land part and 34 shows a flank.
  • This insert substrate is set in a CVD furnace to form a first layer, a titanium carbonitride layer composed of a second layer and a third layer having a thickness of 4 ⁇ m, a bonding layer, and an ⁇ -type aluminum oxide layer under the same conditions as in Example 1. did.
  • the obtained five hard film-coated inserts 30 (having the main cutting edge 7) are connected to the tip of the tool body 36 of a shell mill cutter (blade changeable rotary tool: ASR 5080-5) 40.
  • a set screw 37 was attached to 38, and the peeling of the hard film and the tool life were evaluated under the following rolling conditions.
  • fastening means for the insert 30 known fastening means such as a clamping wedge can be employed.
  • the peeling of the hard film was evaluated by observing with an optical microscope at a magnification of 100 times whether or not the hard film had a peeling portion after a cutting time of 100 minutes.
  • the tool life was defined as the processing time when the maximum wear width of the flank surface exceeded 0.350 mm, when the hard coating was peeled off, or when the hard coating was chipped.
  • the results are shown in Table 22.
  • Comparative Example 14 The same titanium nitride, titanium carbonitride layer, bonding layer and ⁇ -type aluminum oxide layer as in Comparative Example 7 were formed on the insert substrate (EDNW15T4TN-15) 30 that was honed in the same manner as in Example 64.
  • the obtained five hard coating-coated inserts 30 were mounted on a shell mill cutter (blade exchange type rotating tool: ASR 5080-5) 40, and the hard coating peeling and tool life were evaluated in the same manner as in Example 64. The results are shown in Table 22.
  • Example 64 the hard coating coated insert of Example 64 in which the same titanium carbonitride layer as in Example 1 was formed also in the case of the milling insert was compared with that in which the same titanium carbonitride layer as in Comparative Example 7 was formed. Longer life than the hard film coated insert of Example 14.

Abstract

 超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に化学蒸着法により基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層(第二層の炭素濃度は第一層の炭素濃度より低く、第三層の炭素濃度は第二層の炭素濃度より低い。)を有する硬質皮膜被覆部材及びそれを用いた刃先交換式回転工具。第一層はTiCl4ガス、N2ガス、C2~C5の炭化水素ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成し、第二層はTiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス、C2~C5の炭化水素ガス、及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成し、第三層はTiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス及びH2ガスからなり、かつ有機シアン化合物ガスの量が第二層より少ない原料ガスを用いて形成する。

Description

硬質皮膜被覆部材及びその製造方法、並びにそれを具備する刃先交換式回転工具
 本発明は、高い硬度及び耐摩耗性を有するとともに、超硬合金又は高速度鋼からなる基体及び上層との密着力が高い硬質皮膜被覆部材、及びかかる硬質皮膜被覆部材を化学蒸着法により製造する方法、並びにかかる硬質皮膜被覆部材を備えた刃先交換式回転工具に関する。
 従来から金属等の切削加工には、超硬合金、サーメット、セラミックス等の基体の表面にTiC膜、TiN膜、TiCN膜、Al2O3膜等の単層又は複層の硬質皮膜を形成した表面被覆切削工具が用いられている。このような表面被覆切削工具は益々過酷な条件(例えば、重断続切削等のように大きな衝撃がかかる条件)で使われるようになっており、それに伴ってより大きな衝撃に耐えられる硬質皮膜を有する切削工具が望まれている。
 特開2008-87150号は、基体の表面に順に、TiN膜、柱状晶TiCN膜[平均粒径(基体表面に平行な方向で測定)が0.05~0.5μmで、CuKα線を用いた柱状晶TiCN膜の(422)面のX線回折ピーク位置2θが121.5~122.6°の範囲内にある。]、酸化アルミニウム膜及びTiN膜が形成された被覆切削工具を開示している。柱状晶TiCN膜において、C/(C+N)は0.70~0.90である。特開2008-87150号では、柱状晶TiCN膜の原料ガスにTiCl4ガス、CH3CNガス、H2ガス、及びCH4を除く炭素数2~20の鎖状炭化水素ガス(例えば、C26、C24又はC36)を用いている。原料ガスに鎖状炭化水素ガスを添加しているため、柱状晶TiCN膜は0.05~0.5μmと小さい平均粒径を有し、C/(C+N)が0.70~0.90と高い炭素濃度を有し、高硬度で、耐摩耗性に優れている。しかし、柱状晶TiCN膜は高炭素濃度の単層であるため、酸化アルミニウム膜との密着力が不十分であることが分った。
 特開2005-212047号は、基体の表面に化学蒸着法により順に、微細炭窒化チタン層、上部炭窒化チタン層、及び酸化アルミニウム層を形成してなる表面被覆部材を開示している。特開2005-212047号は、炭窒化チタン層の形成にTiCl4ガス、CH3CNガス、N2ガス及びH2ガスからなる反応ガスを使用し、かつ微細炭窒化チタン層用の反応ガス中のCH3CNガスの割合より上部炭窒化チタン層用の反応ガス中のCH3CNガスの割合を多くすることにより、微細炭窒化チタン層より上部炭窒化チタン層の結晶粒径を大きくすると記載している。しかし、特開2005-212047号に記載の方法では下層の炭窒化チタン層より上層の炭窒化チタン層の方が炭素濃度が高くなるので、上層の炭窒化チタン層とAl2O3膜との密着力が不十分である。そのため、特開2005-212047号に記載の表面被覆工具は短寿命である。
 特開2005-153098号は、超硬合金等の硬質合金からなる母材の表面に、少なくとも母材に対して垂直に成長した筋状TiCN結晶からなるTiCN膜と、Al2O3膜とを順次形成した表面被覆切削工具であって、前記TiCN膜が、1.5~4のC/N比を有するAl2O3膜に接する炭素富化TiCN膜と、炭素富化TiCN膜の下に位置し0.2~0.7のC/N比を有する窒素富化TiCN膜とを有し、かつX線回折パターンの回折角2θ=60.4~61.5°の範囲内に前記TiCN膜のピークが2本以上存在する表面被覆切削工具を開示している。特開2005-153098号は、Al2O3層が剥離すると露出する炭素富化TiCN膜が高い耐摩耗性を有するので、急激に摩耗が進行することなく、安定した耐摩耗性および耐欠損性を有する工具が得られると記載している。特開2005-153098号はまた、炭素富化TiCN膜中の筋状TiCN結晶の平均結晶幅が窒素富化TiCN膜中の筋状TiCN結晶の平均結晶幅より大きいことが、界面での付着力を向上させるために望ましいと記載している。しかし、この表面被覆切削工具では、特開2005-212047号と同様に窒素富化TiCN膜の上に炭素富化TiCN膜を設けているため、Al2O3層との密着力が十分でないだけでなく、本発明における第二層に相当する層がないため耐摩耗性に劣り短寿命である。
 特開2006-315154号は、工具基体の表面に改質炭窒化チタン層を蒸着した表面被覆サーメット製切削工具を開示している。改質炭窒化チタン層は、0.02~0.5μmの平均層厚を有するTiCN薄膜上に従来のTiCN層を形成してなる。TiCN薄膜の原料ガスはTiCl4,C3H6,N2及びH2からなるので、TiCN薄膜は本発明における第一層に相当する。また、従来のTiCN層はTiCl4,CH3CN,N2及びH2からなる原料ガスにより形成されるので、本発明における第三層に相当する。このように特開2006-315154号の改質炭窒化チタン層は、本発明における第二層を介さずにTiCN薄膜(第一層に相当)上に従来のTiCN層(第三層に相当)を直接形成してなるので、硬度及び耐摩耗性が不十分である。従って、特開2006-315154号の切削工具は短寿命である。
 従って本発明の目的は、高い硬度及び耐摩耗性を有するとともに、超硬合金又は高速度鋼からなる基体及び上層との密着力が高い硬質皮膜を有する硬質皮膜被覆部材を提供することである。
 本発明のもう一つの目的は、かかる硬質皮膜被覆部材を製造する方法を提供することである。
 本発明のさらに別の目的は、かかる硬質皮膜被覆部材を備えた刃先交換式回転工具を提供することである。
 本発明の硬質皮膜被覆部材は、超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に化学蒸着法により硬質皮膜を形成してなり、前記硬質皮膜は基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層と上層とを含み、
(a) 前記炭窒化チタン層において、前記第一層の炭素濃度が13~22質量%であり、前記第二層の炭素濃度が12~21質量%であり、前記第三層の炭素濃度が9~15質量%であり、前記第二層の炭素濃度が前記第一層の炭素濃度より0.1質量%以上低く、かつ前記第三層の炭素濃度が前記第二層の炭素濃度より0.5質量%以上低く、
(b) 前記上層は、(i) 前記第三層上に形成された結合層、及び前記結合層上に形成されたAl及び/又はCrの硬質酸化物層、又は(ii) 前記第三層上に形成され、Ti及び/又はCrとC及び/又はNとを必須とし、Al、Si、B、Zr及びVからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を任意元素とする硬質層であることを特徴とする。高炭素濃度の第一層は基体との密着力が高く、低炭素濃度の第三層は上層との密着力が高く、中間の炭素濃度の第二層は高い硬度及び耐摩耗性を有する。
 前記第一層及び前記第二層の炭素濃度はそれぞれ13~22質量%及び12~21質量%と高いので、炭窒化チタン層の柱状結晶組織が微細化し、硬度が高く耐摩耗性に優れている。また前記第一層の炭素濃度が前記第二層の炭素濃度より0.1質量%以上高いので、炭窒化チタン層は基体に対して高い密着力を有する。さらに前記第三層の炭素濃度は9~15質量%で、前記第二層より0.5質量%以上低いので、前記上層との密着力が高い。
 本発明の一実施形態では、前記第一層は68~84.5質量%のチタン、13~22質量%の炭素及び2.5~10質量%の窒素を含有する炭窒化チタンからなり、前記第二層は69~85.5質量%のチタン、12~21質量%の炭素及び2.5~10質量%の窒素を含有する炭窒化チタンからなり、前記第三層は71~86質量%のチタン、9~15質量%の炭素及び5~14質量%の窒素を含有する炭窒化チタンからなる。
 炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する炭素濃度Cの原子比:C/(C+N)は、前記第一層が0.65~0.9であり、前記第二層が0.65~0.85であり、前記第三層が0.5~0.7であるのが好ましい。
 前記第二層及び前記第三層の厚さは1μm以上であるのが好ましい。前記第二層が1μm以上と厚いので、本発明の硬質皮膜被覆部材は十分な寿命を有する。また前記第三層が1μm以上と厚いので、前記第二層に連なる柱状結晶組織により高い硬度を有するとともに、上層との密着力が高い。
 前記第一層の厚さは0.01~2μmであるのが好ましい。前記第二層の厚さは1~20μmであるのが好ましい。前記第三層の厚さは1~10μmであるのが好ましい。従って、炭窒化チタン層全体の厚さに対して、第一層の厚さの比率は0.5~8%が好ましく、第二層の厚さの比率は40~80%が好ましく、第三層の厚さの比率は15~60%が好ましい。なお各層は完全に平坦である訳ではないので、単に「厚さ」と呼ぶ場合でも、「平均厚さ」を意味する。これは、前記上層についても同じである。
 前記第一層~第三層の柱状結晶の平均横断面径はいずれも0.01~0.5μmであるのが好ましい。このように第一層~第三層にわたる柱状結晶が微細であるために、前記炭窒化チタン層は優れた耐摩耗性を有する。
 前記第二層中のTiの一部を、第二層全体を100質量%として0.2~10質量%の割合で、Zr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素で置換しても良い。また前記第三層中のTiの一部を、第三層全体を100質量%として0.2~10質量%の割合で、Zr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素で置換しても良い。かかる前記第二層及び/又は前記第三層を形成する場合、それらの原料ガス中のTiCl4ガスの一部を、前記原料ガス全体を100体積%として0.2~10体積%の割合で、Zr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素の塩化物ガスで置換するのが好ましい。
 前記第二層の柱状結晶は質量比で、Tia1(Cx1Ny1)b1(但し、a1=0.55~0.85、a1+b1=1、x1=0.5~0.8、及びx1+y1=1である。)により表される組成を有する結晶粒と、Tia2(Cx2Ny2)b2(但し、a2=0.3~0.6、a2+b2=1、x2=0.6~0.9、及びx2+y2=1である。)により表される組成を有する結晶粒界とを有し、0.2≦x1b1/x2b2≦0.6を満たすのが好ましい。
 前記結合層は、Ti、Al、B及びZrからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素と、C、N及びOからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素とを必須とする単層又は多層の硬質皮膜からなるのが好ましい。この条件を満たすことにより、前記炭窒化チタン層と前記結合層との密着力が高くなる。結合層は、第三層との密着力が高い層と、Al及び/又はCrの酸化物層との密着力が高い層とを有する多層構造であるのが好ましい。
 前記硬質皮膜被覆部材は、インサート又は金型の構成部材として使用するのに好適であり、実用性に富む。
 本発明の硬質皮膜被覆部材の製造方法は、超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に、基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層を含む硬質皮膜を有し、前記第一層の炭素濃度が13~22質量%であり、前記第二層の炭素濃度が12~21質量%であり、前記第三層の炭素濃度が9~15質量%であり、前記第二層の炭素濃度が前記第一層の炭素濃度より0.1質量%以上低く、かつ前記第三層の炭素濃度が前記第二層の炭素濃度より0.5質量%以上低い硬質皮膜被覆部材を化学蒸着法により製造するもので、
(1) TiCl4ガス、N2ガス、C2~C5の炭化水素ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて前記第一層を形成し、
(2) TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス、C2~C5の炭化水素ガス(CH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。)、及びH2ガスからなる原料ガスを用いて前記第二層を形成し、
(3) TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス及びH2ガスからなり、かつ前記有機シアン化合物ガスの量が前記工程(2) より少ない原料ガスを用いて前記第三層を形成することを特徴とする。
 前記有機シアン化合物はCH3CNであるのが好ましい。
 前記工程(1) におけるC2~C5の炭化水素ガスの量は、前記工程(2) におけるC2~C5の炭化水素ガスの量より多いのが好ましい。
 本発明の方法では、(1) 0.2~1体積%のTiCl4ガス、20~60体積%のN2ガス、0.8~3体積%のC2~C5の炭化水素ガス、及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて前記第一層を形成し、(2) 1~3体積%のTiCl4ガス、10~30体積%のN2ガス、0.2~2体積%の有機シアン化合物ガス、0.5~2.5体積%のC2~C5の炭化水素ガス(CH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。)、及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて前記第二層を形成し、(3) 0.8~3体積%のTiCl4ガス、10~30体積%のN2ガス、0.1~1.2体積%であって、前記工程(2) より0.1体積%以上少ない有機シアン化合物ガス、及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて前記第三層を形成するのが好ましい。
 前記工程(1)~(3) における反応温度は700~900℃が好ましく、750~880℃がより好ましく、800~850℃が最も好ましい。反応圧力は、前記工程(1) では5~20 kPaであり、前記工程(2) では5~10 kPaであり、前記工程(3) では5~10 kPaであるのが好ましい。
 前記第二層及び/又は前記第三層を形成する原料ガス中のTiCl4ガスの一部を、前記原料ガス全体を100体積%として0.2~10体積%の割合で、Zr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素の塩化物ガスで置換しても良い。
 超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に化学蒸着法により形成した炭窒化チタン層を有する本発明の硬質皮膜被覆部材は、炭窒化チタン層が、基体との密着力が高い第一層と、高い硬度及び耐摩耗性を有する第二層と、上層との密着力が高い第三層とからなるので、優れた耐摩耗性を有するとともに、基体からの硬質皮膜の剥離の問題及び炭窒化チタン層からの上層の剥離の問題がない。
本発明に係る炭窒化チタン層の形成工程における原料ガス中の炭化水素(C2H6)ガスの濃度及び有機シアン化合物(CH3CN)ガスの濃度の変化を概略的に示すグラフである。 図1(a) に示す原料ガスを使用して得られる炭窒化チタン層の炭素の膜厚方向の濃度分布を概略的に示すグラフである。 実施例1の炭窒化チタン層、結合層及び酸化アルミニウム層からなる硬質皮膜のX線回折パターンを示すグラフである。 図2(a) において2θが121.0~125.0°の範囲を拡大したX線回折パターンを示すグラフである。 旋削用インサート基体を概略的に示す平面図である。 図3(a) のA-A断面図である。 図3(b) の旋削用インサート基体における部分Cを示す拡大断面図である。 実施例1の硬質皮膜被覆インサートの破断面組織を示す走査型電子顕微鏡写真(倍率:5000倍)である。 実施例1の硬質皮膜被覆インサートの硬質皮膜を斜めに研磨することにより得たラップ面を示す光学顕微鏡写真(倍率:1000倍)である。 実施例1の硬質皮膜被覆インサートにおける炭窒化チタン層の破断面組織を示す透過型電子顕微鏡写真である。 実施例1の炭窒化チタン層中のC及びNの膜厚方向の濃度分布を示すグラフである。 実施例2の炭窒化チタン層中のC及びNの膜厚方向の濃度分布を示すグラフである。 比較例3の硬質皮膜被覆インサートにおける炭窒化チタン層の破断面組織を示す透過型電子顕微鏡写真である。 比較例3の炭窒化チタン層中のC及びNの膜厚方向の濃度分布を示すグラフである。 本発明の硬質皮膜被覆金型の一例(パンチが上昇した状態)を示す概略図である。 本発明の硬質皮膜被覆金型の一例(パンチが下降した状態)を示す概略図である。 ミーリング用インサート基体を概略的に示す平面図である。 図11(a) のB-B断面図である。 シェルミルカッター(刃先交換式回転工具)を示す概略図である。
[1] 硬質皮膜被覆部材
 本発明の硬質皮膜被覆部材は、超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に化学蒸着法により形成された硬質皮膜を有し、前記硬質皮膜は基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層と上層とを含む。前記炭窒化チタン層において、前記第二層の炭素濃度は前記第一層の炭素濃度より低く、かつ前記第三層の炭素濃度は前記第二層の炭素濃度より低い。また前記上層は、(i) 前記第三層上に形成された結合層、及び前記結合層上に形成されたAl及び/又はCrの硬質酸化物層からなる第一の上層、又は(ii) 前記第三層上に形成され、Ti及び/又はCrとC及び/又はNとを必須とし、Al、Si、B、Zr及びVからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を任意元素とする硬質層からなる第二の上層である。
 前記第一層は超硬合金又は高速度鋼からなる基体との密着力が優れている必要があり、前記第二層は硬度及び耐摩耗性に優れている必要があり、前記第三層は上層との密着力に優れている必要がある。本発明の硬質皮膜被覆部材としては切削工具のみならず各種の摺動部材(金型等)が挙げられるが、以下切削工具を例にとって説明する。
(A) 基体
 基体は1000℃近くで化学蒸着法を行うことができる材質(超硬合金又は高速度鋼)からなる。中でも、強度、硬度、耐摩耗性、靱性等の観点から、超硬合金が好ましい。超硬合金の場合、焼結後の未加工面、研磨加工面及び刃先処理加工面のいずれの面に対しても本発明に係る硬質皮膜を形成することができる。硬度及び耐摩耗性は、研磨加工をしていない基体の焼結面に形成した硬質皮膜でも十分に高いが、基体の研磨面及び刃先処理加工面に形成した硬質皮膜の方が、結晶粒が微細化するためにさらに高い。
(B) 炭窒化チタン層
(1) 第一層
 硬質皮膜被覆部材を超硬合金製基体の切削工具として使用する場合、被削材の溶着により硬質皮膜の剥離が発生するおそれがあるため、硬質皮膜は超硬合金製基体に対して高い密着力を有する必要がある。化学蒸着法により炭窒化物皮膜を形成する場合、基体との密着力を向上する目的で、従来炭化物又は窒化物からなる下層が形成されていた。しかし、TiCl4ガス、CH4ガス及びH2ガスを用いて形成したTiC層や、TiCl4ガス、N2ガス及びH2ガスを用いて形成した厚いTiN層を形成すると、基体が900℃超の高温に長時間曝されるために、基体と下層との界面に脱炭層が形成され、基体と下層との密着力が低下する。その上、超硬合金中のCoが下層に拡散し、下層の硬度が低下する。この問題は高速度鋼製基体の切削工具にも発生する。
 そのため、TiCl4ガス、CH3CNガス及びH2ガスを用いてTi(CN)膜を形成することが提案されたが、炭素濃度が不十分であるために基体との密着力が低く、また基体との密着力を高めるためには成膜温度を900℃超にする必要があり、Coの拡散の問題が生じる。そのため本発明では、後述するように原料ガスにTiCl4ガス及びN2ガスとの反応性が高いC2~C5の炭化水素ガスを比較的高い比率で添加することにより、炭素濃度の高い炭窒化チタン層を第一層として形成し、基体との密着力を高めた。また、このような原料ガスの使用により成膜温度を低下できるので、超硬合金(基体)中のCoの第一層への拡散を抑えることができ、高硬度で耐摩耗性に優れた硬質皮膜被覆部材が得られる。
 第一層全体の組成をTi(Me元素を含有しても良い。)+C+N=100質量%で表すと、第一層の炭素濃度(炭素含有量)は13~22質量%が好ましく、14~21質量%がより好ましく、14.5~20質量%が最も好ましい。ここで、前記組成は後述するEPMA、EDS及びAESの測定結果に基づき求めたものである。第一層の炭素濃度が13質量%未満であると、超硬合金又は高速度鋼からなる基体との密着力が十分でなく、炭窒化物の結晶粒径を十分に微細化できず、かつ成膜温度を低くできないので超硬合金のCoの第一層への拡散を抑えることができない。また、第一層の炭素濃度が22質量%超であると、フリーカーボンの生成により基体に対する炭窒化チタン層の密着力が低下する。
 第一層の窒素濃度(窒素含有量)は2.5~10質量%が好ましく、3~9質量%がより好ましく、3.5~8質量%が最も好ましい。第一層の窒素濃度が2.5質量%未満であると、硬度が十分でなく、10質量%超であると第一層の炭窒化物は脆くなる。
 第一層の炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する炭素濃度Cの原子比:C/(C+N)は0.65~0.9にするのが好ましく、0.7~0.85にするのがより好ましい。C/(C+N)の比が0.65未満では硬度及び耐摩耗性が低下する。またC/(C+N)の比が0.9超のものは工業生産性に乏しい。第一層の炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する窒素濃度Nの原子比:N/(C+N)は0.35~0.1にするのが好ましく、0.3~0.15にするのがより好ましい。
 Ti(Me元素を含有しても良い。)の含有量は68~84.5質量%が好ましく、70~83原子%がより好ましく、72~82質量%が最も好ましい。Tiが68~84.5質量%の範囲外だと、第一層の硬度及び耐摩耗性が大きく低下する。Me元素はZr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素である。Me元素のうちZr、Cr、Si、V及びAlは第一層の耐酸化性を改善し、Zr、Si、V及びBは第一層の硬度及び耐摩耗性を改善する。Me元素の含有量は、Ti+Meを100質量%として、0.2~10質量%であるのが好ましい。
 第一層の柱状結晶は微細である(平均横断面径が小さい)。ここで「平均横断面径」とは、基体表面に平行な面における柱状結晶の断面の平均径を意味する。第一層における柱状結晶の平均横断面径は0.01~0.5μmが好ましく、0.01~0.2μmがより好ましく、0.01~0.1μmが最も好ましい。平均横断面径が0.01μm未満のものは工業的に生産するのが困難であり、0.5μm超では硬度が大きく低下する。
 第一層の機能は超硬合金又は高速度鋼からなる基体との密着力を確保することであるので、その平均厚さは0.01~2μmで良く、0.05~1μmが好ましく、0.1~0.8μmがより好ましい。平均厚さが0.01μm未満でも2μm超でも密着力は低い。さらに、第一層が2μm超と厚膜になると、後述の比較例1に示すように、表層側に行くにつれて炭素濃度が顕著に増加し、第一層の表層側は脆化する。そのため、例えば基体に厚い第一層だけ形成した切削工具は短寿命である。さらに、炭窒化チタン層全体(第一層+第二層+第三層)の厚さに対する第一層の厚さの割合は0.5~8%が好ましく、1~7%がより好ましい。
(2) 第二層
 第二層は、比較的高い炭素濃度を有するために高硬度及び優れた耐摩耗性を有する炭窒化チタン層である。第一層と同様に、第二層の組成もEPMA、EDS及びAESによる測定結果に基づき求めたものである。第二層全体の組成をTi(Me元素を含有しても良い。)+C+N=100質量%で表すと、第二層の炭素濃度(炭素含有量)は12~21質量%が好ましく、13.5~20質量%がより好ましく、14~19質量%が最も好ましい。第二層の炭素濃度が12質量%未満であると、硬度及び耐摩耗性が十分でない。一方、第二層の炭素濃度が21質量%超であると、硬度が高すぎ、耐衝撃性に劣るという問題が生じる。
 また、第二層の炭素濃度は第一層の炭素濃度より0.1質量%以上低いことを特徴とする。第一層の方が第二層より炭素濃度が高いために、第一層は基体に対して十分に高い密着力を有する。第一層の方が第二層より炭素濃度が高くなるのは、第一層用の原料ガスが有機シアン化合物ガスを含有せずに炭化水素ガスだけを含有するためであると考えられる。第二層の炭素濃度は第一層の炭素濃度より0.3~3質量%低いのが好ましく、0.5~2.5質量%低いのがより好ましい。
 第二層の窒素濃度(窒素含有量)は2.5~10質量%が好ましく、3~9質量%がより好ましく、4~8質量%が最も好ましい。窒素濃度が2.5質量%未満であると、第二層は硬度が十分でなく、10質量%超であると第二層は脆くなる。
 第二層の炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する炭素濃度Cの原子比:C/(C+N)は0.65~0.85にするのが好ましく、0.7~0.8にするのがより好ましい。C/(C+N)の比が0.65未満では硬度及び耐摩耗性が低い。またC/(C+N)の比が0.85超では工業生産性に乏しい。第二層の炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する窒素濃度Nの原子比:N/(C+N)は0.35~0.15にするのが好ましく、0.3~0.2にするのがより好ましい。
 Ti(Me元素を含有しても良い。)の含有量は69~85.5質量%が好ましく、71~83.5原子%がより好ましく、73~82質量%が最も好ましい。Tiが69~85.5質量%の範囲外だと、第二層の硬度及び耐摩耗性が大きく低下する。Me元素はZr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素である。Me元素のうち、Zr、Cr、Si、V及びAlは第二層の耐酸化性を改善し、Zr、Si、V及びBは第二層の硬度及び耐摩耗性を改善する。Me元素の含有量は、Ti+Meを100質量%として、0.2~10質量%であるのが好ましい。
 第二層では、結晶粒内の炭素濃度より結晶粒界の炭素濃度の方が高いことが分った。具体的には質量比で、Tia1(Cx1Ny1)b1(但し、a1=0.55~0.85、a1+b1=1、x1=0.5~0.8、及びx1+y1=1である。)により表される組成を有する結晶粒と、Tia2(Cx2Ny2)b2(但し、a2=0.3~0.6、a2+b2=1、x2=0.6~0.9、及びx2+y2=1である。)により表される組成を有する結晶粒界とを有し、0.2≦x1b1/x2b2≦0.6を満たしている。
 第二層の結晶粒内の組成(質量比)をTia1(Cx1Ny1)b1(ただし、TiはMe元素を含有しても良い。)で表したとき、Ti(Me元素を含有しても良い。)の含有量a1は0.55~0.85であるのが好ましく、CNの含有量b1は0.45~0.15であるのが好ましく、Cの含有量x1b1は0.3~0.1であるのが好ましく、Nの含有量y1b1は0.15~0.05であるのが好ましい。また第二層の結晶粒界の組成(質量比)をTia2(Cx2Ny2)b2(ただし、TiはMe元素を含有しても良い。)で表したとき、Ti(Me元素を含有しても良い。)の含有量a2は0.3~0.6であるのが好ましく、CNの含有量b2は0.7~0.4であるのが好ましく、Cの含有量x2b2は0.5~0.3であるのが好ましく、Nの含有量y2b2は0.2~0.1であるのが好ましい。第二層における結晶粒内のC含有量と結晶粒界のC含有量との比(x1b1/x2b2)は0.2~0.6であるのが好ましく、0.3~0.5であるのがより好ましい。
 第二層の炭窒化チタン層が結晶粒内及び結晶粒界の上記組成条件を満たす場合、本発明の硬質皮膜被覆部材は、従来の化学蒸着法による炭窒化チタン層被覆部材より著しく高性能である。
 第二層の柱状結晶も微細であるので、高い硬度及び耐摩耗性を有する。第二層における柱状結晶の平均横断面径は0.01~0.5μmが好ましく、0.01~0.2μmがより好ましく、0.01~0.1μmが最も好ましい。平均横断面径が0.01μm未満のものは工業的に生産するのが困難であり、0.5μm超では硬度が大きく低下する。
 高い硬度及び耐摩耗性とともに十分な耐衝撃性を有する第二層の平均厚さは、1~20μmが好ましく、1.5~15μmがより好ましく、2~10μmが最も好ましい。平均厚さが1μm未満では短寿命となり、20μm超では密着力が大きく低下する。さらに、第一層が厚くなるとその表層側の炭素濃度が高くなり、密着力が低下するので、第一層は第二層より十分に薄い(第二層は第一層より十分に厚い)のが好ましい。炭窒化チタン層全体(第一層+第二層+第三層)の厚さに対する第二層の厚さの割合は40~80%が好ましく、45~80%がより好ましい。
  ナノインデンテーション(押込み)法により測定した第二層の硬さは30~40 GPaであるのが好ましく、32~40 GPaであるのがより好ましい。第二層の硬さが30 GPa未満では耐摩耗性が低く、また40 GPa超では第二層中の炭素濃度が高すぎ、脆化する。
(3) 第三層
 第三層は、炭素濃度を低下させることにより上層との密着力を高めた炭窒化チタン層である。第一層及び第二層と同様に、第三層の組成もEPMA、EDS及びAESの測定結果に基づき求めたものである。第三層全体の組成をTi(Me元素を含有しても良い。)+C+N=100質量%で表すと、第三層の炭素濃度(炭素含有量)は9~15質量%が好ましく、10~14質量%がより好ましく、11~14質量%が最も好ましい。第三層の炭素濃度が9質量%未満であると、硬度及び耐摩耗性が十分でない。一方、第三層の炭素濃度が15質量%超であると、前記上層との密着力が十分でない。
 第三層の炭素濃度は第二層の炭素濃度より0.5質量%以上低いのが好ましく、1~7質量%低いのがより好ましく、1.5~6.5質量%低いのが最も好ましい。高い硬度及び耐摩耗性を有する第二層より低い炭素濃度を有することにより、十分な硬度及び耐摩耗性を保持したまま前記上層との密着力を向上させることができる。
 第三層の窒素濃度(窒素含有量)は5~14質量%が好ましく、6~12質量%がより好ましく、8~11質量%が最も好ましい。窒素濃度が5質量%未満であると、第三層は硬度が十分でなく、また14質量%超であると脆くなる。
 第三層の炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する炭素濃度Cの原子比:C/(C+N)は0.5~0.7にするのが好ましく、0.55~0.65にするのがより好ましい。C/(C+N)の比が0.5未満では硬度及び耐摩耗性が低い。またC/(C+N)の比が0.7超では上層との密着力が低い。第三層のC/(C+N)は第二層のC/(C+N)より0.05~0.3だけ小さいのが好ましく、0.1~0.25だけ小さいのがより好ましい。第三層の炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する窒素濃度Nの原子比:N/(C+N)は0.5~0.3にするのが好ましく、0.45~0.35にするのがより好ましい。
 Ti(Me元素を含有しても良い。)の含有量は71~86質量%が好ましく、74~84質量%がより好ましく、75~81質量%が最も好ましい。Tiの一部を置換しても良いMe元素はZr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素であるのが好ましい。Me元素のうち、Zr、Cr、Si、V及びAlは第三層の耐酸化性を改善し、Zr、Si、V及びBは第三層の硬度及び耐摩耗性を改善する。Me元素の含有量は、Ti+Meを100質量%として、0.2~10質量%であるのが好ましい。
 第三層は第一層及び第二層より炭素濃度が低いが、基体に垂直な方向の成膜速度の方が平行な方向の成膜速度より十分に速いので、第三層の柱状結晶も微細になる。第三層における柱状結晶の平均横断面径は0.01~0.5μmが好ましく、0.01~0.2μmがより好ましく、0.01~0.1μmが最も好ましい。平均横断面径が0.01μm未満のものは工業的に生産するのが困難であり、0.5μm超では硬度が大きく低下する。このように第一層~第三層にかけて、柱状結晶の平均横断面径は実質的に同じである。
 前記上層との密着力を十分に発揮するために、第三層の平均厚さは1~10μmが好ましく、1.5~8μmがより好ましく、1.5~6μmが最も好ましい。平均厚さが1μm未満では短寿命であり、10μm超では密着力が大きく低下する。さらに、炭窒化チタン層全体(第一層+第二層+第三層)の厚さに対する第三層の厚さの割合は15~60%が好ましく、17~50%がより好ましい。
  ナノインデンテーション(押込み)法により測定した第三層の硬さは30~40 GPaであるのが好ましく、32~40 GPaであるのがより好ましい。第三層の硬さが30 GPa未満では耐摩耗性が低く、また40 GPa超では第三層中の炭素濃度が高すぎ、脆化する。
(C) 上層
 上層は、(i) 前記第三層上に形成された結合層、及び前記結合層上に形成されたAl及び/又はCrの硬質酸化物層からなる第一の上層、又は(ii) 前記第三層上に形成され、Ti及び/又はCrとC及び/又はNとを必須とし、Al、Si、B、Zr及びVからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を任意元素とする硬質層(第二の上層)である。
(1) 第一の上層
(a) 結合層
 化学蒸着法により第三層の直上に形成する結合層は、Ti、Al、B及びZrからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素と、C、N及びOからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素とを必須とする単層又は多層の硬質皮膜である。第三層及び前記酸化物層との高い密着力を発揮するために、結合層は第三層と同じ結晶構造を有するTi(CN)層と、前記酸化物層との密着力が高いTi(CNO)層、Ti(CO)層、(TiAl)(CNO)層又は(TiB)(CNO)層とからなる多層構造が好ましい。
(b) Al及び/又はCrの酸化物層
 化学蒸着法により結合層の上に形成するAl及び/又はCrの酸化物層(酸化アルミニウム層、酸化クロム層又は酸化アルミニウム・クロム層)は、必要に応じてZr及び/又はTiを含有しても良い。Al及び/又はCrの酸化物層はα型構造を主体とするのが好ましく、α型の単一構造(図2に示すようにα型のX線回折パターンのみが観察される。)がより好ましい。耐熱性及び耐酸化性を十分に発揮するために、前記酸化物層の平均厚さは0.5~12μmが好ましく、1~10μmがより好ましく、2~8μmが最も好ましい。平均厚さが0.5μm未満では酸化物層は短寿命であり、12μm超では密着力が大きく低下する。
(2) 第二の上層
 第三層上に形成される第二の上層は、Ti及び/又はCrとC及び/又はNとを必須とし、Al、Si、B、Zr及びVからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を任意元素とする硬質層である。第二の上層は第三層と同じ面心立方(FCC)構造を有するのが好ましい。具体的には、第二の上層は単層又は多層構造を有し、TiC膜、TiN膜、(TiAl)N膜、(TiSi)N膜、(TiB)N膜、TiZr(CN)膜、TiAl(CN)膜、TiSi(CN)膜、TiCr(CN)膜、TiV(CN)膜、TiAlSi(CN)膜、TiB(CN)膜及びCrC膜からなる群から選ばれるのが好ましい。
 高い硬度及び耐摩耗性、並びに長寿命を得るために、第二の上層の平均厚さは0.5~10μmが好ましく、1~8μmがより好ましく、2~5μmが最も好ましい。平均厚さが0.5μm未満では短寿命であり、また10μm超では密着力が低すぎる。
[2] 製造方法
 本発明に係る硬質皮膜は、熱化学蒸着装置又はプラズマ支援化学蒸着装置(単に「CVD炉」とも言う。)を用いた化学蒸着法により形成することができる。以下熱化学蒸着法の場合を例にとって本発明の方法を説明するが、勿論本発明はそれに限定されるものではなく、他の化学蒸着法にも適用できる。
(A) 炭窒化チタン層の原料ガス
 図1(a) に概略的に示すように、炭窒化チタン層の第一層~第三層を形成するための原料ガスでは、C2~C5の炭化水素ガスの濃度及び有機シアン化合物ガスの濃度が変化する。なお図1(a) では簡単化のために、C2~C5の炭化水素ガスとしてC2H6を例示しており、有機シアン化合物ガスとしてCH3CNを例示している。
 C2~C5の炭化水素ガスとしては、エタン(C2H6)、プロパン(C3H8)、ブタン(C4H10)、ペンタン(C5H12)、エチレン(C2H4)、プロピレン(C3H6)、ブテン(C4H8)、及びペンテン(C5H10)のようなアルカン又はアルケンガスが挙げられるが、なかでもエタンガスが好ましい。炭化水素ガスはCH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。炭化水素ガス中のCH4ガスの割合が低い程、得られる炭窒化チタン層の硬度又は耐摩耗性は高い傾向がある。従って、炭化水素ガス中のCH4ガスの割合は30体積%以下が好ましく、20体積%以下がより好ましく、実質的に0体積%が最も好ましい。
 有機シアン化合物としては、アセトニトリル(CH3CN)、プロパニトリル(CH3CH2CN)、ベンゾニトリル(C6H5CN)等が挙げられるが、コストを考慮するとアセトニトリルが好ましい。
(B) 炭窒化チタン層の形成
(1) 第一層の形成
 超硬合金又は高速度鋼からなる基体をセットしたCVD炉内にH2ガス、N2ガス及びArガスを流し、成膜温度まで昇温した後、TiCl4ガス、N2ガス、C2~C5の炭化水素ガス、及びH2ガスからなる原料ガスをCVD炉内に流す。第一層の形成には有機シアン化合物ガスを用いない。これは、第一層の形成用ガスが有機シアン化合物ガスを含有していると、基体と第一層との密着力が低下するからである。
(a) 原料ガス
 具体的には、第一層の原料ガスの組成は、TiCl4ガス、N2ガス、炭化水素ガス及びH2ガスの合計を100体積%として、0.2~1体積%のTiCl4ガス、20~60体積%のN2ガス、0.8~3体積%のC2~C5の炭化水素ガス、及び残部H2ガスからなるのが好ましい。TiCl4ガスが0.2体積%未満であると均一な炭窒化チタン層とならず、超硬合金又は高速度鋼からなる基体との密着力が劣る。一方、TiCl4ガスが1体積%を超えると、基体と原料ガスが過剰に反応し、基体との間に脆化層が形成されるために、基体との密着力が低下する。TiCl4ガスは0.3~0.8体積%がより好ましく、0.4~0.8体積%が最も好ましい。
 N2ガスが20体積%未満であると、基体と原料ガスが過剰に反応して基体との間に脆化層が形成されるために、基体との密着力が低下する。一方、N2ガスが60体積%を超えるとその分反応成分が希薄となり、均一な炭窒化チタン層が得られず、基体との密着力が低下する。N2ガスは30~50体積%がより好ましく、30~40体積%が最も好ましい。
 C2~C5の炭化水素ガスが0.8体積%未満であると、第一層の炭素濃度が不十分であり、基体との密着力に劣る。一方、C2~C5の炭化水素ガスが3体積%を超えると、基体と原料ガスが過剰に反応し、基体との間に脆化層が形成され、基体との密着力が低下する。C2~C5の炭化水素ガスは0.8~2.5体積%がより好ましく、1~2体積%が最も好ましい。
(b) 成膜条件
 第一層の成膜温度は700~900℃が好ましく、750~880℃がより好ましく、800~850℃が最も好ましい。成膜温度が700℃未満では成膜速度が遅すぎる。一方、成膜温度が900℃を超えると基体と原料ガスが過剰に反応し、基体との間に脆化層が形成され、基体との密着力が低下する。
 第一層の成膜圧力は5~20 kPaが好ましく、10~15 kPaがより好ましい。成膜圧力が5 kPa未満であると、基体との密着力が高い炭窒化チタン層を得ることができない。一方、成膜圧力が20 kPaを超えると、基体と原料ガスが過剰に反応し、基体との間に脆化層が形成され、基体との密着力が低下する。
 上記温度及び圧力では、TiCl4ガスとN2ガスの反応より、TiCl4ガスとC2~C5の炭化水素ガスの反応の方が活発であるので、炭素濃度の高い炭窒化チタン層が被覆されるとともに、基体と原料ガスが反応し、基体との密着力が高い炭窒化チタン層が形成される。
(2) 第二層の形成
(a) 原料ガス
 第一層を形成後第二層の原料ガスに切り換えて、第二層を連続的に形成するのが好ましい。これにより微細な柱状結晶が連続的に成長し、第一層と第二層との密着力が高い炭窒化チタン層が得られる。第二層の原料ガスは、TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス、C2~C5の炭化水素ガス(CH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。)、及びH2ガスからなる。図1(a) に示すように、第二層の原料ガス中のC2~C5の炭化水素ガスの濃度は、第一層の原料ガス中のC2~C5の炭化水素ガスの濃度より低いのが好ましい。
 具体的には、第二層の原料ガスの組成は、TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス、炭化水素ガス及びH2ガスの合計を100体積%として、1~3体積%のTiCl4ガス、10~30体積%のN2ガス、0.2~2体積%の有機シアン化合物ガス、0.5~2.5体積%のC2~C5の炭化水素ガス(CH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。)、及び残部H2ガスからなるのが好ましい。TiCl4ガスが1体積%未満であると、均一な炭窒化チタン層が得られない。一方、TiCl4ガスが3体積%を超えると、結晶粒内の炭素濃度と結晶粒界の炭素濃度の差が少なくなり、微細な柱状結晶が形成されず、硬度及び耐摩耗性が低下する。TiCl4ガスは1~2.7体積%がより好ましく、1.2~2.5体積%が最も好ましい。
 N2ガスが10体積%未満であると、反応が促進されすぎて第二層中の窒素濃度が少なくなり過ぎる。その結果、第二層中の炭素濃度が高くなりすぎ、密着力が低下する。一方、N2ガスが30体積%を超えると、反応が均一にならず膜成長速度にばらつきが生じ、密着性が低下するだけでなく、第二層中の窒素濃度が高くなる分炭素濃度が低下し、硬度及び耐摩耗性が低下する。N2ガスは10~25体積%がより好ましく、10~20体積%が最も好ましい。
 有機シアン化合物ガスが0.2体積%未満であると、成膜速度が遅く、均一な炭窒化チタン層が得られない。一方、有機シアン化合物ガスが2体積%を超えると、成膜速度が速すぎ、結晶粒内の炭素濃度と結晶粒界の炭素濃度の差が少なくなる。その結果、柱状結晶が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。有機シアン化合物ガスは0.2~1.5体積%がより好ましく、0.2~1.2体積%が最も好ましい。
 C2~C5の炭化水素ガスが0.5体積%未満であると、結晶粒内の炭素濃度と結晶粒界の炭素濃度の差が少なくなり、柱状結晶が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。一方、C2~C5の炭化水素ガスが2.5体積%を超えると、第二層の炭素濃度が高くなり過ぎ、耐衝撃性が低下する。C2~C5の炭化水素ガスは0.6~2.2体積%がより好ましく、0.8~2体積%が最も好ましい。
(b) 成膜条件
 第二層の成膜温度は700~900℃が好ましく、750~880℃がより好ましく、800~850℃がより好ましい。成膜温度が700℃未満では成膜速度が遅すぎる。一方、成膜温度が900℃を超えると基体と原料ガスが過剰に反応し、結晶粒が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。
 第二層の成膜圧力は5~10 kPaが好ましく、7~9 kPaがより好ましい。成膜圧力が5 kPa未満であると均一な炭窒化チタン層が得られない。一方、成膜圧力が10 kPaを超えると、結晶粒が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。
(3) 第三層の形成
(a) 原料ガス
 第二層を形成後第三層の原料ガスに切り換えて、第三層を連続的に形成するのが好ましい。これにより微細な柱状結晶が連続的に成長し、第一層~第三層の密着力が高い炭窒化チタン層が得られる。第三層の原料ガスは、TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス及びH2ガスからなる。図1(a) に示すように第三層の原料ガスはC2~C5の炭化水素ガスを含有していないので、図1(b) に示すように第三層の炭素濃度は第二層の炭素濃度より低くなる。その結果、第三層は上層との密着力が高い。また第三層の原料ガス中の有機シアン化合物ガスの量を第二層を形成する工程(2) より少くすることにより、柱状結晶の粗大化を抑制することができ、高い硬度及び耐摩耗性を維持したまま、上層との密着力を向上させることができる。
 具体的には、第三層の原料ガスの組成は、TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス及びH2ガスの合計を100体積%として、0.8~3体積%のTiCl4ガス、10~30体積%のN2ガス、0.1~1.2体積%の(工程(2) より0.1体積%以上少ない。)有機シアン化合物ガス、及び残部H2ガスからなるのが好ましい。TiCl4ガスが0.8体積%未満であると得られる炭窒化チタン層中の炭素濃度が高すぎ、上層との密着力が低い。一方、TiCl4ガスが3体積%を超えると、柱状結晶が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。TiCl4ガスは1~2.7体積%がより好ましく、1~2.5体積%が最も好ましい。
 N2ガスが10体積%未満であると、炭窒化チタン層の窒素濃度が低すぎ(相対的に炭素濃度が高すぎ)、上層との密着力が低い。一方、N2ガスが30体積%を超えると、均一な炭窒化チタン層が得られない。N2ガスは10~25体積%がより好ましく、12~25体積%が最も好ましい。
 有機シアン化合物ガスが0.1体積%未満であると、成膜速度が遅すぎるだけでなく、均一な炭窒化チタン層が得られない。一方、有機シアン化合物ガスが1.2体積%を超えると、柱状結晶が粗大化して硬度及び耐摩耗性が低下するのみならず、炭窒化チタン層中の炭素濃度が高くなり過ぎ、上層との密着力が低下する。有機シアン化合物ガスは0.1~1体積%がより好ましく、0.1~0.8体積%が最も好ましい。
 第三層の原料ガス中の有機シアン化合物ガスの濃度は、第二層の原料ガス[工程(2)]中の有機シアン化合物ガスの濃度より0.1体積%以上少ないのが好ましい。第二層の原料ガス中と同じ有機シアン化合物ガス濃度を有すると、C2~C5の炭化水素ガスを含有しない原料ガスを用いて形成する第三層の柱状結晶は粗大化する傾向がある。それを防止するために、第三層の原料ガス中の有機シアン化合物ガスの濃度も0.1体積%以上低下させるのが好ましい。第三層の原料ガス中の有機シアン化合物ガスの濃度は、第二層の原料ガス中の有機シアン化合物ガスの濃度より0.1~0.7体積%少ないのがより好ましく、0.2~0.6体積%少ないのが最も好ましい。
(b) 成膜条件
 第三層の成膜温度は700~900℃が好ましく、750~880℃がより好ましく、800~850℃が最も好ましい。成膜温度が700℃未満では成膜速度が遅すぎる。一方、成膜温度が900℃を超えると基体と原料ガスが過剰に反応し、結晶粒が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。
 第三層の成膜圧力は5~10 kPaが好ましく、7~9 kPaがより好ましい。成膜圧力が5 kPa未満であると均一な炭窒化チタン層が得られない。一方、成膜圧力が10 kPaを超えると、結晶粒が粗大化し、硬度及び耐摩耗性が低下する。
(C) 上層の形成
(1) 第一の上層の形成
(a) 結合層の形成
 炭窒化チタン層の第三層と上記酸化物層との密着力は十分ではないので、両層の密着力を高めるための結合層を形成する。結合層は、少なくとも炭窒化チタン層の第三層との密着力が高い層と、上記酸化物層との密着力が高い層とを有する多層皮膜であるのが好ましい。いずれの層も公知の化学蒸着法により形成することができる。結合層の成膜温度は950~1050℃であり、例えば約1000℃で良い。
 第三層との密着力が高い層としては、Ti(CN)膜、TiN膜、TiC膜等が挙げられる。Ti(CN)膜は、例えばTiCl4ガス、N2ガス、CH4ガス及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。TiN膜は、TiCl4ガス、N2ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。TiC膜は、TiCl4ガス、CH4ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。
 上記酸化物層との密着力が高い層としては、Ti(NO)膜、Ti(CO)膜、Ti(CNO)膜、(TiAl)(CNO)膜、(TiB)(CNO)膜等が挙げられる。Ti(NO)膜は、TiCl4ガス、N2ガス、COガス、CO2ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。Ti(CO)膜は、TiCl4ガス、CH4ガス、COガス、CO2ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。Ti(CNO)膜は、TiCl4ガス、CH4ガス、N2ガス、COガス、CO2ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。(TiAl)(CNO)膜は、TiCl4ガス、AlCl3ガス、CH4ガス、N2ガス、COガス、CO2ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。(TiB)(CNO)膜は、TiCl4ガス、BCl3ガス、CH4ガス、N2ガス、COガス、CO2ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて形成することができる。
 第三層との密着力が高い層及び上記酸化物層との密着力が高い層の膜厚はいずれも、0.1~2μmで良く、0.3~1μmが好ましい。膜厚が0.1μm未満では短寿命であり、2μm超では密着力が大きく低下する。
(b) 酸化物層の形成
 酸化アルミニウム層、酸化クロム層及び酸化アルミニウム・クロム層は公知の化学蒸着法により形成することができる。例えば酸化アルミニウム層の場合、335℃に保温したAl金属片にHClガス及びH2ガスを流すことにより発生させたAlCl3ガスと、CO2ガスと、H2Sガスと、HClガスと、H2ガスとを800~1050℃(例えば、約1000℃)に保温したCVD炉内に流し、化学蒸着法により結合層上に酸化アルミニウムを形成する。
(2) 第二の上層の形成
 第三層との密着力が高い第二の上層は公知の化学蒸着法により形成することができる。成膜温度は750~1150℃であり、例えば800℃で良い。第二の上層を形成するのに用いる原料ガスの例は下記の通りである。
(a) TiC膜 TiCl4ガス、CH4ガス及びH2ガス。
(b) TiN膜 TiCl4ガス、N2ガス及びH2ガス。
(c) (TiAl)N膜 TiCl4ガス、AlCl3ガス、N2ガス及びNH3ガス。
(d) (TiSi)N膜 TiCl4ガス、SiCl4ガス、N2ガス及びNH3ガス。
(e) (TiB)N膜 TiCl4ガス、N2ガス及びBCl3ガス。
(f) TiZr(CN) 膜 TiCl4ガス、ZrCl4ガス、N2ガス、CH4ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、ZrCl4ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(g) TiAl(CN) 膜 TiCl4ガス、AlCl3ガス、N2ガス、CH4ガス、NH3ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、AlCl3ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(h) TiSi(CN) 膜 TiCl4ガス、SiCl4ガス、N2ガス、CH4ガス、NH3ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、SiCl4ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(i) TiCr(CN) 膜 TiCl4ガス、CrCl3ガス、N2ガス、CH4ガス、NH3ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、CrCl3ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(j) TiV(CN) 膜 TiCl4ガス、VCl3ガス、N2ガス、CH4ガス、NH3ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、VCl3ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(k) TiAlSi(CN) 膜 TiCl4ガス、AlCl3ガス、SiCl4ガス、N2ガス、CH4ガス、NH3ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、AlCl3ガス、SiCl4ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(l) TiB(CN) 膜 TiCl4ガス、BCl3ガス、N2ガス、CH4ガス、NH3ガス及びH2ガス、又はTiCl4ガス、BCl3ガス、N2ガス、CH3CNガス及びH2ガス。
(m) CrC膜 CrCl3ガス、CH4ガス及びH2ガス。
 本発明を以下の実施例によりさらに詳細に説明するが、勿論本発明はそれらに限定されるものではない。以下の実施例及び比較例において、流量(ml/分)は1気圧及び25℃における毎分のmlであり、また厚さは平均値である。
実施例1
(1) 炭窒化チタン層、結合層及び酸化物層からなる硬質皮膜の形成
 図3(a)~図3(c) に概略的に示す超硬合金(6質量%のCoと、残部WC及び不可避的不純物からなる。)製の旋削用インサート基体(TNMG160408)20の切刃部21をダイヤブラシを用いてホーニング処理した。なお、23はランド部を示し、24は逃げ面を示す。
 このインサート基体(TNMG160408)をCVD炉内にセットし、H2ガスを流しながらCVD炉内温度を850℃に上昇させた。まず炭窒化チタン層として、850℃及び10 kPaで、66.0体積%のH2ガス、32.2体積%のN2ガス、0.5体積%のTiCl4ガス、及び1.3体積%のC26ガスからなる原料ガスを6100 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ0.5μmの第一層を形成した。さらに連続して850℃及び8 kPaで、81.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、及び1.2体積%のC2H6ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ8μmの第二層を形成した。さらに連続して850℃及び8 kPaで、83.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、及び0.5体積%のCH3CNガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ2μmの第三層を形成した。
 次にTi(CN)層及びTi(CNO)層からなる結合層を形成するために、まず1000℃及び20 kPaで、63.5体積%のH2ガス、32.0体積%のN2ガス、3.2体積%のCH4ガス、及び1.3体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6300 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ0.5μmのTi(CN)層を形成した。連続して1000℃及び20 kPaで、61.3体積%のH2ガス、30.7体積%のN2ガス、3.0体積%のCH4ガス、1.2体積%のTiCl4ガス、3.0体積%のCOガス、及び0.8体積%のCO2ガスからなる原料ガスを6500 ml/分の流量でCVD炉に流し、厚さ0.5μmのTi(CNO)層を形成した。
 さらに、1010℃及び10 kPaで、9.2体積%のAlCl3ガスと、85.3体積%のH2ガスと、4.3体積%のCO2ガスと、0.2体積%のH2Sガスと、1.0体積%のHClガスとからなる原料ガスを4700 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ6μmのα型酸化アルミニウム層を形成し、硬質皮膜を被覆した旋削用インサートを得た。
(2) 膜厚の測定
 第一層~第三層、結合層及びα型酸化アルミニウム層の各々の平均厚さは、皮膜面に対して2°の角度で斜めに研磨することにより得たラップ面を村上試薬を用いてエッチングし、エッチング面の任意の5箇所を1000倍の光学顕微鏡で観察することにより各層の膜厚を測定し、平均することにより求めた。図4(b) は光学顕微鏡写真の一例を示す。図4(b) から明らかなように、第一層~第三層は、原料ガスによる組織の差異を反映した明暗の差により識別することができる。
(3) 結晶構造の測定
 硬質皮膜の結晶構造を同定するため、X線回折装置(PANalytical社製のEMPYREAN)により、管電圧45 kV及び管電流40 mAでCuKα1線(波長λは0.15405 nmである。)を硬質皮膜表面に照射した。図2は2θが9~145°の範囲のX線回折パターンを示す。図2のX線回折パターンには、Ti(CN)膜の回折ピークとともに、α型酸化アルミニウムの回折ピークが観察された。
 図2(b) は、図2(a) において2θが121.0~125.0°の範囲を拡大して示す。図2(b) から明らかなように、本実施例のインサートに被覆された柱状晶Ti(CN)膜は、その(422)面のX線回折ピーク位置2θが122.7~124.0°の範囲内にあり、(422)面のX線回折ピーク位置2θが121.5~122.6°の範囲内にある特開2008-87150号の柱状晶Ti(CN)膜とは異なることが分かった。この差異は、主として、本実施例及び特許文献1においてそれぞれ使用したTi(CN)膜の原料ガス組成及び層構成の差異によると考えられる。また特開2008-87150号の柱状晶Ti(CN)膜中の炭素の偏析も上記差異に影響を与えていると考えられる。
(4) 炭窒化チタン層の結晶組織の観察及び柱状結晶粒の平均横断面径の測定
 倍率5000倍の走査型電子顕微鏡(SEM、株式会社日立作製所製S-4200)を用いて、ホーニング処理した切刃部の硬質皮膜の破断面を観察した結果、図4(a) に示すように炭窒化チタン層(第一層~第三層)が柱状結晶組織を有することが確認された。さらに硬質皮膜の破断面を透過型電子顕微鏡により観察した結果を図5に示す。図4(a) 及び図5から明らかなように、実施例1の硬質皮膜中の炭窒化チタン層(第一層~第三層)は非常に微細な結晶粒からなっていた。図4(a) から求めた第一層~第三層における炭窒化チタン結晶粒の平均横断面径dはそれぞれ0.07μm、0.07μm及び0.08μmであった。
(5) 組成の測定
 炭窒化チタン層中のTi、C及びNの含有量、及びMe元素を含有する場合にはMe元素の含有量を、電子プローブマイクロ分析装置(EPMA、日本電子株式会社製JXA-8500F)により、加速電圧10 kV、照射電流0.05 A、及びビーム径0.5μmの条件で測定した。薄い第一層、結晶粒界及び結晶粒の組成は、電界放射型透過電子顕微鏡(TEM、日本電子株式会社製JEM-2010F)に搭載のエネルギー分散型X線分光器(EDS)、及び走査型オージェ電子分光装置(PHI製SMART200型、加速電圧10 kV、試料電流10 nA、電子プローブ径0.1μm以下)を用いて分析した。EPMA、EDS及びオージェ電子分光法(AES)による組成分析は、第一層~第三層の各々の膜厚方向中心位置で行った。第二層における結晶粒内のC含有量と結晶粒界のC含有量との比(x1b1/x2b2)は0.30であった。炭窒化チタン層(第一層~第三層)中のC及びNの膜厚方向の濃度分布を図6に示す。表1~表3に示すように、C/(C+N)の比は第一層では0.70であり、第二層では0.69であり、第三層では0.58であった。
(6) 硬さの測定
 Si単結晶を標準試料とする超微小押し込み硬さ試験機(株式会社エリオニクス製ENT-1100)を用いて、ナノインデンテーション(押込み)法により、第二層及び第三層の硬さをそれぞれの厚さ方向の中心位置で5回測定し、平均した。測定条件は、最大負荷:4900 mN、負荷速度: 49mN/秒、除荷速度: 49mN/秒、及び保持時間:1秒であった。結果を表1~表3に示す。
 (7) 性能評価
 硬質皮膜を形成した旋削用インサートを用いて、下記旋削条件で硬質皮膜の剥離及び工具寿命を評価した。硬質皮膜の剥離は、2分間の切削時間の後で硬質皮膜に剥離箇所があるか否かを倍率100倍の光学顕微鏡で観察することにより評価した。工具寿命は、逃げ面の最大摩耗幅が0.350 mmを超えたとき、硬質皮膜が剥離したとき、又は硬質皮膜がチッピングしたときの加工時間とした。
  被削材:  SUS316L
  加工方法: 連続旋削
  工具形状: TNMG160408
  切削速度: 200 m/分
  送り:   0.30 mm/回転
  切り込み: 1.2 mm
  切削液:  水性切削油
実施例2~31
 第一層~第三層の成膜条件及び結合層の組成を表1~4に示すように変更した以外実施例1と同様にして、実施例2~31の炭窒化チタン層、結合層及び酸化物層を形成し、実施例1と同様に物性及び性能を評価した。実施例2の炭窒化チタン層(第一層~第三層)中のC及びNの膜厚方向の濃度分布を図7に示す。
比較例1~8
 第一層~第三層の成膜条件及び結合層の組成を表5~9に示すように変更した以外実施例1と同様にして、比較例1~8の硬質皮膜を形成し、得られた硬質皮膜被覆切削インサートの物性及び性能を実施例1と同様に評価した。比較例1では、C2H6ガスを含有するがCH3CNガスを含有しない原料ガスを用いて、単層の炭窒化チタン層(第一層に相当)を形成した。比較例2では、CH3CNガスを含有するがC2H6ガスを含有しない原料ガスを用いて、単層の炭窒化チタン層(第三層に相当)を形成した。比較例3では、特開2008-87150号に記載の方法によりN2ガスを含有しない原料ガスを用いて単層の炭窒化チタン層を形成した。比較例4では、第一層~第三層の形成にCH4ガスを使用した。比較例5及び6では、特開2005-153098号と同様のTiN層及びTi(CN)層を形成した。比較例7では、特開2006-315154号と同様のTiN層及びTi(CN)層を形成した。比較例7のTi(CN)層は本発明における第一層及び第三層からなる。また比較例8では、TiN層を形成しない以外比較例7と同じ硬質皮膜[第一層及び第三層からなるTi(CN)層、結合層及びアルミナ層を有する。]を形成した。
 比較例3の炭窒化チタン層(単一層)の断面組織の透過型電子顕微鏡写真を図8に示す。図8から測定した比較例3の炭窒化チタン結晶粒の平均横断面径dは0.5μmであった。実施例1の第二層における結晶粒内のC含有量と結晶粒界のC含有量との比(x1b1/x2b2)の測定位置に対応する、基体からの炭窒化チタン層の厚さ方向の位置で測定した比較例3の(x1b1/x2b2)は1.00であった。比較例3の硬質皮膜中のC及びNの膜厚方向の濃度分布を図9に示す。
 実施例1~31について、第一層の成膜条件及び物性(組成、組織及び膜厚)を表1に示し、第二層の成膜条件、物性(組成、組織及び膜厚)及び結晶組成を表2に示し、第三層の成膜条件及び物性(組成、組織及び膜厚)を表3に示し、結合層の組成及び切削評価結果を表4に示す。比較例1~8について、第一層の成膜条件及び物性(組成、組織及び膜厚)を表5及び表7 に示し、第二層の成膜条件、物性(組成、組織及び膜厚)及び結晶組成を表8に示し、第三層の成膜条件及び物性(組成、組織及び膜厚)を表9に示し、結合層の組成及び切削評価結果を表10に示す。なお、比較例1及び3のTi(CN)層はいずれも単層であるが、それらの組成は、実施例1の第一層、第二層及び第三層のそれぞれの厚さ方向中央に対応する位置で測定した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
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Figure JPOXMLDOC01-appb-T000012
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Figure JPOXMLDOC01-appb-T000014
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Figure JPOXMLDOC01-appb-T000017
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000018
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000019
 実施例1~31の硬質皮膜被覆インサートの工具寿命はいずれも8分以上であり、比較例1~8の工具寿命の2倍以上長かった。これは、実施例1~31の硬質皮膜被覆インサートが、超硬合金製基体との密着力が高い第一層と、硬度及び耐摩耗性に優れた第二層と、結合層を介して酸化アルミニウム層との密着力が高い第三層とからなる炭窒化チタン層を有するためである。
 これに対して、単層の炭窒化チタン層を有する比較例1及び比較例3では、炭窒化チタン層における炭素濃度が表面側に行くに従って増大しているので、炭窒化チタン層と結合層との間で剥離が起こり、工具寿命が短かった。また、単層の炭窒化チタン層を有する比較例2の硬質皮膜被覆インサートは、炭素濃度が低かったので炭窒化チタン層と結合層との間で剥離は起こらなかったが、基体と炭窒化チタン層の間で剥離が起こり、やはり工具寿命が短かった。第一層~第三層の原料ガスにCH3CNを使用せずCH4ガスを使用した比較例4では、超硬合金製基体に脱炭層が形成されて脆くなり、かつ基体と炭窒化チタン層の間で剥離が起こり工具寿命が短かかった。比較例5~8の硬質皮膜被覆インサートは、第二層を有さないので耐摩耗性に劣り、やはり工具寿命が短かった。
実施例32
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ基体に表11の条件で炭窒化チタン層の第一層を形成した後、連続して850℃及び10 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.2体積%のC2H6ガス、及び1.0体積%のZrCl4ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiZr)(CN)の組成を有する厚さ8μmの第二層を形成した。連続して、850℃及び10 kPaで、82.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、0.5体積%のCH3CNガス、及び1.0体積%のZrCl4ガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiZr)(CN)の組成を有する厚さ2μmの第三層を形成した。さらに連続して、実施例1と同様に結合層及びα型酸化アルミニウム膜を形成した。
実施例33
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ基体に表11の条件で炭窒化チタン層の第一層を形成した後、連続して850℃及び10 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.2体積%のC2H6ガス、及び1.0体積%のSiCl4ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiSi)(CN)の組成を有する厚さ8μmの第二層を形成した。連続して、850℃及び10 kPaで、82.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、0.5体積%のCH3CNガス、及び1.0体積%のSiCl4ガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiSi)(CN)の組成を有する厚さ2μmの第三層を形成した。さらに連続して、実施例1と同様に結合層及びα型酸化アルミニウム膜を形成した。
実施例34
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ基体に表11の条件で炭窒化チタン層の第一層を形成した後、連続して850℃及び10 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.2体積%のC2H6ガス、及び1.0体積%のVCl3ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiV)(CN)の組成を有する厚さ8μmの第二層を形成した。連続して、850℃及び10 kPaで、82.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、0.5体積%のCH3CNガス、及び1.0体積%のVCl3ガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiV)(CN)の組成を有する厚さ2μmの第三層を形成した。さらに連続して、実施例1と同様に結合層及びα型酸化アルミニウム膜を形成した。
実施例35
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ基体に表11の条件で炭窒化チタン層の第一層を形成した後、連続して850℃及び10 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.2体積%のC2H6ガス、及び1.0体積%のCrCl3ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiCr)(CN)の組成を有する厚さ8μmの第二層を形成した。連続して、850℃及び10 kPaで、82.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、0.5体積%のCH3CNガス、及び1.0体積%のCrCl3ガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiCr)(CN)の組成を有する厚さ2μmの第三層を形成した。さらに連続して、実施例1と同様に結合層及びα型酸化アルミニウム膜を形成した。
実施例36
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ基体に表11の条件で炭窒化チタン層の第一層を形成した後、連続して850℃及び5 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.2体積%のC2H6ガス、及び1.0体積%のBCl3ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiB)(CN)の組成を有する厚さ8μmの第二層を形成した。連続して、850℃及び5 kPaで、82.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、0.5体積%のCH3CNガス、及び1.0体積%のBCl3ガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiB)(CN)の組成を有する厚さ2μmの第三層を形成した。さらに連続して、実施例1と同様に結合層及びα型酸化アルミニウム膜を形成した。
実施例37
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ基体に表11の条件で炭窒化チタン層の第一層を形成した後、連続して750℃及び5 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.2体積%のC2H6ガス、及び1.0体積%のAlCl3ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiAl)(CN)の組成を有する厚さ8μmの第二層を形成した。連続して、750℃及び5 kPaで、82.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、0.5体積%のCH3CNガス、及び1.0体積%のAlCl3ガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉内に流し、(TiAl)(CN)の組成を有する厚さ2μmの第三層を形成した。さらに連続して、実施例1と同様に結合層及びα型酸化アルミニウム膜を形成した。
 実施例32~37について、第一層の成膜条件及び物性(組成、組織及び膜厚)を表11に示し、第二層の成膜条件、物性(組成、組織及び膜厚)及び結晶組成を表12に示し、第三層の成膜条件及び物性(組成、組織及び膜厚)を表13に示し、結合層の組成及び切削評価結果を表14に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000020
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Figure JPOXMLDOC01-appb-T000022
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Figure JPOXMLDOC01-appb-T000027
 表11~14から明らかなように、Tiの一部がZr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素で置換された場合でも、8分以上の工具寿命を有していた。
実施例38
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(TNMG160408)上に、実施例1と同じ条件で炭窒化チタンからなる第一層~第三層及び結合層を形成後、1010℃及び10 kPaで、9.2体積%のCrCl3ガスと、85.3体積%のH2ガスと、4.3体積%のCO2ガスと、0.2体積%のH2Sガスと、1.0体積%のHClガスとからなる原料ガスを4700 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ6μmのα型酸化クロム層を形成した。得られた硬質皮膜被覆インサートの切削性能を実施例1と同様に評価した。結果を表15に示す。
実施例39
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(TNMG160408)上に、実施例1と同じ条件で炭窒化チタンからなる第一層~第三層及び結合層を形成後、1010℃及び10 kPaで、4.6体積%のAlCl3ガスと、4.6体積%のCrCl3ガスと、85.3体積%のH2ガスと、4.3体積%のCO2ガスと、0.2体積%のH2Sガスと、1.0体積%のHClガスとからなる原料ガスを4700 mlの流量でCVD炉に流し、(Al0.5Cr0.5)2O3(原子比)で表される組成を有する、厚さ6μmのα型酸化アルミニウム・クロム層を形成した。得られた硬質皮膜被覆インサートの切削性能を実施例1と同様に評価した。結果を表15に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000028
 表15から、本発明の硬質皮膜被覆インサートは、酸化物層がα型酸化クロム層(実施例38)又はα型酸化アルミニウム・クロム層(実施例39)でも、良好な切削性能を有することが分かる。
実施例40
 表16に示すように第二層用の炭化水素ガスとしてのC2H6ガスの25体積%をCH4ガスで置換した以外実施例1と同様にして、硬質皮膜被覆インサートを作製し、切削評価を行った。結果を表16に示す。
実施例41
 表16に示すように第二層用の炭化水素ガスとしてのC2H6ガスの45体積%をCH4ガスで置換した以外実施例1と同様にして、硬質皮膜被覆インサートを作製し、切削評価を行った。結果を表16に示す。
比較例9
 表16に示すように第二層用の炭化水素ガスをCH4ガスに変更した以外実施例1と同様にして、硬質皮膜被覆インサートを作製し、切削評価を行った。結果を表16に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000029
 表16から明らかなように、第二層用炭化水素ガスとしてのC2H6ガスのそれぞれ25体積%及び45体積%をCH4ガスで置換して製造した実施例40及び実施例41の硬質皮膜被覆インサートは良好な切削性能を有していた。これに対して、第二層用炭化水素ガスとしてCH4ガス100体積%の原料ガスを使用して製造した比較例9の硬質皮膜被覆インサートは短寿命であった。
実施例42
 図10(a) 及び図10(b) は本発明の硬質皮膜被覆金型10の一例を示す。この硬質皮膜被覆金型10は、構成部材として、打ち抜き加工用パンチ2と、パンチ2を固定した水平部材3と、水平部材3を上下方向に所定速度で高精度に移動させるための一対のガイドピン4、4と、パンチ2の先端部2aが貫通する中央孔5a(穴径0.15 mm)を有する上型5と、パンチ2の先端部2aが進入する中央孔6a(穴径0.15 mm)を有する下型6とを具備する。パンチ2の基体を実施例1と同じ超硬合金により形成し、超硬合金製パンチ基体に実施例1と同じ第一層、第二層及び第三層の炭窒化チタン層、結合層及び酸化アルミニウム層を形成した。
 上型5と下型6との間に固定した薄板S(SUS304製、板厚0.2 mm)をパンチ2で打ち抜き、図10(a) の紙面垂直方向に所定距離だけ移動させる1ショットの打ち抜き加工を5000回連続して行った後、パンチ2の先端部2aの硬質皮膜の剥離の有無を、倍率100倍の光学顕微鏡で観察した。結果を表17に示す。
実施例43
 パンチ2の基体を高速度鋼(SKH57)とした以外実施例42と同様にして硬質皮膜被覆金型を作製し、パンチ2の先端部2aの硬質皮膜の剥離の有無を観察した。結果を表17に示す。
比較例10
 比較例1と同じ硬質皮膜を形成した以外実施例42と同様にして硬質皮膜被覆金型を作製し、パンチ2の先端部2aの硬質皮膜の剥離の有無を観察した。結果を表17に示す。
比較例11
 比較例1と同じ硬質皮膜を形成した以外実施例43と同様にして硬質皮膜被覆金型を作製し、パンチ2の先端部2aの硬質皮膜の剥離の有無を観察した。結果を表17に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000030
 表17から明らかなように、実施例1の硬質皮膜は超硬合金製パンチ基体(実施例42)及び高速度鋼製パンチ基体(実施例43)のいずれからも剥離しなかったが、比較例1の硬質皮膜は超硬合金製パンチ基体(比較例10)及び高速度鋼製パンチ基体(比較例11)のいずれからも剥離した。
実施例44
 切刃部をホーニング処理した実施例1と同じ超硬合金製インサート基体をCVD炉内にセットし、900℃及び16 kPaで、0.5体積%のTiCl4ガス、33.0体積%のN2ガス及び66.5体積%のH2ガスからなる原料ガスを6300 ml/分の流量でCVD炉に流し、インサート基体に平均厚さ0.03μmのTiN層を形成した。引き続き、同じCVD炉内で実施例1と同様にしてTiN層上に第一層~第三層からなる炭窒化チタン層、結合層及び酸化物層を成膜し、硬質皮膜被覆インサートを得た。この硬質皮膜被覆インサートの切削性能を実施例1と同様に評価した。結果を表18に示す。
実施例45、比較例12
 超硬合金製インサート基体と第一層との間に介在するTiN層の平均厚さをそれぞれ0.1μm及び0.5μmとした以外実施例44と同様にして、実施例45及び比較例12の硬質皮膜被覆インサートを製造し、実施例1と同様に切削性能を評価した。結果を表18に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000031
 表18から明らかなように、インサート基体と第一層との間に平均厚さが0.03~0.1μmのTiN層を形成した実施例44及び実施例45の硬質皮膜被覆インサートは、実施例1の硬質皮膜被覆インサートより長寿命であった。これに対し、0.5μmのTiN層を形成した比較例12の硬質皮膜被覆インサートは短寿命であった。これから、0.03~0.1μmと薄いTiN層を第一層の下に形成すると、インサート基体と第一層との密着力が高まり、硬質皮膜被覆インサートの寿命が長くなることが分る。
実施例46
(1) 第一層~第三層からなる炭窒化チタン層及び第二の上層の形成
 6質量%のCoと、残部WC及び不可避的不純物からなる超硬合金製の旋削用インサート基体(CNMG120412)の切刃部をホーニング処理した。このインサート基体をCVD炉内にセットし、H2ガスを流しながらCVD炉内温度を850℃に上昇させた。まず850℃及び10 kPaで、66.0体積%のH2ガス、32.2体積%のN2ガス、0.5体積%のTiCl4ガス、及び1.3体積%のC2H6ガスからなる原料ガスを6100 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ1μmの第一層を形成した。連続して850℃及び8 kPaで、81.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、及び1.2体積%のC2H6ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ3μmの第二層を形成した。さらに連続して850℃及び8 kPaで、83.0体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、及び0.5体積%のCH3CNガスからなる原料ガスを6600 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ2μmの第三層を形成した。
 次に、800℃及び5 kPaで、48.2体積%のH2ガス、48.2体積%のN2ガス、0.6体積%のNH4ガス、1.0体積%のTiCl4ガス及び2.0体積%のAlCl3ガスからなる原料ガスを6300 mlの流量でCVD炉に流し、第三層の直上に厚さ3μmの(TiAl)N膜を形成した。
(2)第一層~第三層の結晶構造、組成及び柱状結晶粒の平均横断面径の測定
 第一層~第三層の結晶構造、組成及び柱状結晶粒の平均横断面径を実施例1と同様に測定した結果、実施例1とほぼ同じ結果が得られた。
(3) 性能評価
 硬質皮膜被覆インサートを用いて、下記旋削条件で硬質皮膜の剥離及び工具寿命を評価した。硬質皮膜の剥離は、5分間の切削後に硬質皮膜の表面に剥離箇所があるか否かを倍率100倍の光学顕微鏡で観察することにより評価した。逃げ面の最大摩耗幅が0.350 mmを超えるまでの時間、硬質皮膜が剥離するまでの時間、及び硬質皮膜がチッピングするまでの時間のうち最も短い時間を工具寿命とした。
  被削材:  SUS316L
  加工方法: 連続旋削
  切削速度: 150 m/分
  送り:   0.30 mm/回転
  切り込み: 1.5 mm
  切削液:  水性切削油
実施例47
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に900℃及び10 kPaで、48.7体積%のH2ガス、48.7体積%のN2ガス、1.0体積%のTiCl4ガス及び1.6体積%のBCl3ガスからなる原料ガスを6160 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmの(TiB)N膜を形成した。
実施例48
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に1100℃及び5 kPaで、48.4体積%のH2ガス、48.4体積%のN2ガス、0.6体積%のNH4ガス、1.0体積%のTiCl4ガス及び1.6体積%のSiCl4ガスからなる原料ガスを6200 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmの(TiSi)N膜を形成した。
実施例49
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に950℃及び12 kPaで、49.5体積%のH2ガス、49.5体積%のN2ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6060 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiN膜を形成した。
実施例50
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に1000℃及び9 kPaで、91.6体積%のH2ガス、7.4体積%のCH4ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを5460 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiC膜を形成した。
実施例51
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に1000℃及び12 kPaで、46.4体積%のH2ガス、46.4%体積%のN2ガス、6.2体積%のCH4ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6460 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTi(CN)膜を形成した。
実施例52
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に1000℃及び12 kPaで、48.2体積%のH2ガス、48.1%体積%のN2ガス、0.6体積%のCH3CNガス、2.1体積%のZrCl4ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6230 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiZr(CN)膜を形成した。
実施例53
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に800℃及び5kPaで、47.9体積%のH2ガス、47.8%体積%のN2ガス、0.6体積%のNH4ガス、0.6体積%のCH3CNガス、2.1体積%のAlCl3ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6270 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiAl(CN)膜を形成した。
実施例54
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に1050℃及び5kPaで、47.9体積%のH2ガス、47.8%体積%のN2ガス、0.6体積%のNH4ガス、0.6体積%のCH3CNガス、2.1体積%のSiCl4ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6400 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiSi(CN)膜を形成した。
実施例55
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に850℃及び5kPaで、48.8体積%のH2ガス、47.8%体積%のN2ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.1体積%のBCl3ガス、及び1.3体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6160 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiB(CN)膜を形成した。
実施例56
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に1050℃及び5kPaで、47.3体積%のH2ガス、47.3%体積%のN2ガス、0.6体積%のNH4ガス、0.6体積%のCH3CNガス、1.6体積%のAlCl3ガス、1.6体積%のSiCl4ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6340 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiAlSi(CN)膜を形成した。
実施例57
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層の炭窒化チタン層を形成した後、連続的に900℃及び5 kPaで、48.6体積%のH2ガス、48.2%体積%のN2ガス、0.6体積%のCH3CNガス、1.6体積%のCrCl3ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6600 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiCr(CN)膜を形成した。
実施例58
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に950℃及び5 kPaで、48.6体積%のH2ガス、48.2%体積%のN2ガス、0.6体積%のCH3CNガス、1.6体積%のVCl3ガス、及び1.0体積%のTiCl4ガスからなる原料ガスを6400 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのTiV(CN)膜を形成した。
実施例59
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層を形成した後、連続的に同じ950℃及び9 kPaで、91.6体積%のH2ガス、7.4体積%のCH4ガス、及び1.0体積%のCrCl3ガスからなる原料ガスを6060 mlの流量でCVD炉に流し、厚さ3μmのCrC膜を形成した。
実施例60
 切刃部をホーニング処理した超硬合金製インサート基体(CNMG120412)上に、実施例46と同様にして第一層を形成した後、連続的に850℃及び8 kPaで、80.3体積%のH2ガス、15.0体積%のN2ガス、1.5体積%のTiCl4ガス、1.0体積%のCH3CNガス、1.0体積%のCH4ガス、及び1.2体積%のC2H6ガスからなる原料ガスを6700 ml/分の流量でCVD炉に流し、化学蒸着法により厚さ3μmの第二層を形成した。さらに連続して実施例46と同様にして、第三層及び(TiAl)N膜を形成した。
 実施例47~60の各硬質皮膜被覆インサートの切削評価を実施例46と同様に行った。実施例46~60の各硬質皮膜被覆インサートの切削評価結果を表19に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000032
 表19から明らかなように、第三層の直上に第二の上層としてTiC膜、TiN膜、(TiAl)N膜、(TiSi)N膜、(TiB)N膜、Ti(CN)膜、TiZr(CN)膜、TiAl(CN)膜、TiSi(CN)膜、TiCr(CN)膜、TiV(CN)膜、TiAlSi(CN)膜、TiB(CN)膜、又はCrC膜を形成した実施例46~60の各硬質皮膜被覆インサートは長寿命であった。
実施例61
 実施例46と同じインサート基体(CNMG120412)をCVD炉内にセットし、900℃及び16 kPaで、0.5体積%のTiCl4ガス、33.0体積%のN2ガス及び66.5体積%のH2ガスからなる原料ガスを6300 ml/分の流量で流し、基体上に平均厚さ0.04μmのTiN層を形成した。引き続き同じCVD炉内で、実施例46と同様にしてTiN層上に第一層~第三層からなる炭窒化チタン層及び(TiAl)N層を成膜した。得られた硬質皮膜被覆インサートの切削性能を実施例46と同様に評価した。結果を表20に示す。
実施例62、比較例13
 インサート基体と第一層との間に介在するTiN層の平均厚さをそれぞれ0.1μm及び0.4μmとした以外実施例61と同様にして、実施例62及び比較例13の硬質皮膜被覆インサートを製造し、実施例61と同様に切削性能を評価した。結果を表20に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000033
 表20から明らかなように、基体と第一層との間に平均厚さが0.04~0.1μmのTiN層を形成した実施例61及び実施例62の硬質皮膜被覆インサートは長寿命であった。これに対し、TiN層の平均厚さが0.4μmの比較例13の硬質皮膜被覆インサートは短寿命であった。
実施例63
 ウエットブラスト装置を用いて、超硬合金製インサート基体(TNMG160408)の切刃部に、アルミナ砥粒(平均粒径:50μm)研磨材からなる濃度20質量%の研磨液をブラストしてホーニング処理した後、実施例1と同様にして第一層~第三層からなる炭窒化チタン層、結合層及びアルミニウム酸化物層を形成し、物性及び性能を評価した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000034
 表21から明らかなように、ホーニング処理にブラシ処理を用いた実施例1は、第一層から第三層までの結晶粒が微細であるため硬さが高く、ホーニング処理にウエットブラストを用いた実施例63の硬質皮膜被覆インサートより長寿命であった。これに対し、比較例7の硬質皮膜被覆インサートは硬質皮膜が剥離し、短寿命であった。
実施例64
 図11(a) 及び図11(b) に概略的に示す超硬合金(11質量%のCoと、2質量%のTaCと、残部WC及び不可避的不純物からなる。)製のミーリング用インサート基体(EDNW15T4TN-15)30の切刃部31をダイヤブラシを用いてホーニング処理した。なお、33はランド部を示し、34は逃げ面を示す。
 このインサート基体をCVD炉内にセットし、実施例1と同じ条件で第一層、厚さ4μmの第二層及び第三層からなる炭窒化チタン層、結合層及びα型酸化アルミニウム層を形成した。得られた5つの硬質皮膜被覆インサート30(主切刃7を有する)を、図12に示すように、シェルミルカッター(刃先交換式回転工具:ASR 5080-5)40の工具本体36の先端部38に止めねじ37で装着し、下記転削条件で硬質皮膜の剥離及び工具寿命を評価した。インサート30の締結手段としては、クランプ用楔等の公知の締結手段を採用することができる。硬質皮膜の剥離は、100分間の切削時間の後で硬質皮膜に剥離箇所があるか否かを倍率100倍の光学顕微鏡で観察することにより評価した。工具寿命は、逃げ面の最大摩耗幅が0.350 mmを超えたとき、硬質皮膜が剥離したとき、又は硬質皮膜がチッピングしたときの加工時間とした。結果を表22に示す。
  被削材:  S55C (A)
  切削速度: 160 m/分
  一刃当たりの送り量: 2.0 mm/tooth
  軸方向の切り込み量: 2.0 mm
  径方向の切り込み量: 60 mm
  切削液:  なし(乾式加工)
比較例14
 実施例64と同様にホーニング処理したインサート基体(EDNW15T4TN-15)30に対して、比較例7と同じ窒化チタン、炭窒化チタン層、結合層及びα型酸化アルミニウム層を形成した。得られた5つの硬質皮膜被覆インサート30をシェルミルカッター(刃先交換式回転工具:ASR 5080-5)40に装着し、実施例64と同様に硬質皮膜の剥離及び工具寿命を評価した。結果を表22に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000035
 表22から明らかなように、ミーリング用インサートの場合も、実施例1と同じ炭窒化チタン層を形成した実施例64の硬質皮膜被覆インサートは、比較例7と同じ炭窒化チタン層を形成した比較例14の硬質皮膜被覆インサートより長寿命であった。
2    打ち抜き加工用パンチ
3    水平部材
4,4  ガイドピン
5    上型
5a    上型の中央孔
6    下型
6a    下型の中央孔
7    インサートの主切刃
10    金型
S    薄板
20    旋削用インサート基体
21    旋削用インサート基体の切刃部
23    旋削用インサート基体のランド部
24    旋削用インサート基体の逃げ面
30    ミーリング用インサート
31    ミーリング用インサート基体の切刃部
33    ミーリング用インサート基体のランド部
34    ミーリング用インサート基体の逃げ面
36    工具本体
37    インサート用止めねじ
38    インサートの先端部
40    シェルミルカッター(刃先交換式回転工具)

Claims (18)

  1. 超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に化学蒸着法により硬質皮膜を形成してなる硬質皮膜被覆部材であって、前記硬質皮膜は基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層と上層とを含み、
    (a) 前記炭窒化チタン層において、前記第一層の炭素濃度が13~22質量%であり、前記第二層の炭素濃度が12~21質量%であり、前記第三層の炭素濃度が9~15質量%であり、前記第二層の炭素濃度が前記第一層の炭素濃度より0.1質量%以上低く、かつ前記第三層の炭素濃度が前記第二層の炭素濃度より0.5質量%以上低く、
    (b) 前記上層は、(i) 前記第三層上に形成された結合層、及び前記結合層上に形成されたAl及び/又はCrの硬質酸化物層、又は(ii) 前記第三層上に形成され、Ti及び/又はCrとC及び/又はNとを必須とし、Al、Si、B、Zr及びVからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を任意元素とする硬質層であることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  2. 請求項1に記載の硬質皮膜被覆部材において、前記第一層は68~84.5質量%のチタン、13~22質量%の炭素及び2.5~10質量%の窒素を含有する炭窒化チタンからなり、前記第二層は69~85.5質量%のチタン、12~21質量%の炭素及び2.5~10質量%の窒素を含有する炭窒化チタンからなり、前記第三層は71~86質量%のチタン、9~15質量%の炭素及び5~14質量%の窒素を含有する炭窒化チタンからなることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  3. 請求項2に記載の硬質皮膜被覆部材において、炭素濃度C及び窒素濃度Nの合計(C+N)に対する炭素濃度Cの原子比:C/(C+N)は、前記第一層が0.65~0.9であり、前記第二層が0.65~0.85であり、前記第三層が0.5~0.7であり、第三層のC/(C+N)が第二層のC/(C+N)より0.05~0.3だけ小さいことを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  4. 請求項1~3のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材において、前記第二層及び前記第三層の厚さが1μm以上であることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  5. 請求項4に記載の硬質皮膜被覆部材において、前記第一層の厚さが0.01~2μmであり、前記第二層の厚さが1~20μmであり、前記第三層の厚さが1~10μmであることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  6. 請求項1~5のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材において、前記第一層~第三層の柱状結晶の平均横断面径がいずれも0.01~0.5μmであることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  7. 請求項1~6のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材において、前記第二層及び/又は前記第三層中のTiの一部が、前記第二層全体又は前記第三層全体を100質量%として0.2~10質量%の割合で、Zr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素で置換されていることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  8. 請求項1~7のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材において、少なくとも前記第二層の柱状結晶は質量比で、Tia1(Cx1Ny1)b1(但し、a1=0.55~0.85、a1+b1=1、x1=0.5~0.8、及びx1+y1=1である。)により表される組成を有する結晶粒と、Tia2(Cx2Ny2)b2(但し、a2=0.3~0.6、a2+b2=1、x2=0.6~0.9、及びx2+y2=1である。)により表される組成を有する結晶粒界とを有し、0.2≦x1b1/x2b2≦0.6を満たすことを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  9. 請求項1~8のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材において、前記結合層は、Ti、Al、B及びZrからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素と、C、N及びOからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素とを必須とすることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  10. 請求項1~9のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材において、前記硬質皮膜被覆部材がインサート又は金型の構成部材であることを特徴とする硬質皮膜被覆部材。
  11. 超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に、基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層を含む硬質皮膜を有し、前記第一層の炭素濃度が13~22質量%であり、前記第二層の炭素濃度が12~21質量%であり、前記第三層の炭素濃度が9~15質量%であり、前記第二層の炭素濃度が前記第一層の炭素濃度より0.1質量%以上低く、かつ前記第三層の炭素濃度が前記第二層の炭素濃度より0.5質量%以上低い硬質皮膜被覆部材を化学蒸着法により製造する方法において、
    (1) TiCl4ガス、N2ガス、C2~C5の炭化水素ガス及びH2ガスからなる原料ガスを用いて前記第一層を形成し、
    (2) TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス、C2~C5の炭化水素ガス(CH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。)、及びH2ガスからなる原料ガスを用いて前記第二層を形成し、
    (3) TiCl4ガス、N2ガス、有機シアン化合物ガス及びH2ガスからなり、かつ前記有機シアン化合物ガスの量が前記工程(2) より少ない原料ガスを用いて前記第三層を形成することを特徴とする方法。
  12. 請求項11に記載の硬質皮膜被覆部材の製造方法において、
    (1) 0.2~1体積%のTiCl4ガス、20~60体積%のN2ガス、0.8~3体積%のC2~C5の炭化水素ガス、及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて前記第一層を形成し、
    (2) 1~3体積%のTiCl4ガス、10~30体積%のN2ガス、0.2~2体積%の有機シアン化合物ガス、0.5~2.5体積%のC2~C5の炭化水素ガス(CH4ガスを50体積%未満の割合で含有しても良い。)、及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて前記第二層を形成し、
    (3) 0.8~3体積%のTiCl4ガス、10~30体積%のN2ガス、0.1~1.2体積%であって、前記工程(2) より0.1体積%以上少ない有機シアン化合物ガス、及び残部H2ガスからなる原料ガスを用いて前記第三層を形成することを特徴とする方法。
  13. 請求項11又は12に記載の硬質皮膜被覆部材の製造方法において、前記有機シアン化合物がCH3CNであることを特徴とする方法。
  14. 請求項11~13のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材の製造方法において、前記工程(1) におけるC2~C5の炭化水素ガスの量が前記工程(2) におけるC2~C5の炭化水素ガスの量より多いことを特徴とする方法。
  15. 請求項11~14のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材の製造方法において、前記工程(1)~(3) における反応温度が700~900℃であることを特徴とする方法。
  16. 請求項11~15のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材の製造方法において、反応圧力は前記工程(1) では5~20 kPaであり、前記工程(2) では5~10 kPaであり、前記工程(3) では5~10 kPaであることを特徴とする方法。
  17. 請求項11~16のいずれかに記載の硬質皮膜被覆部材の製造方法において、前記第二層及び/又は前記第三層を形成する原料ガス中のTiCl4ガスの一部が、前記原料ガス全体を100体積%として0.2~10体積%の割合で、Zr、V、Cr、Si、B及びAlからなる群から選ばれた少なくとも一種の金属元素の塩化物ガスで置換されていることを特徴とする方法。
  18. 工具本体に複数のインサートを配設した刃先交換式回転工具であって、前記インサートは超硬合金又は高速度鋼からなる基体上に化学蒸着法により硬質皮膜を形成してなり、前記硬質皮膜は基体側から順に第一~第三の層からなる柱状結晶組織を有する炭窒化チタン層と上層とを含み、
    (a) 前記炭窒化チタン層において、前記第一層の炭素濃度が13~22質量%であり、前記第二層の炭素濃度が12~21質量%であり、前記第三層の炭素濃度が9~15質量%であり、前記第二層の炭素濃度が前記第一層の炭素濃度より0.1質量%以上低く、かつ前記第三層の炭素濃度が前記第二層の炭素濃度より0.5質量%以上低く、
    (b) 前記上層は、(i) 前記第三層上に形成された結合層、及び前記結合層上に形成されたAl及び/又はCrの硬質酸化物層、又は(ii) 前記第三層上に形成され、Ti及び/又はCrとC及び/又はNとを必須とし、Al、Si、B、Zr及びVからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を任意元素とする硬質層であることを特徴とする刃先交換式回転工具。
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