WO2005000590A1 - ノズルプレート及びその製造方法 - Google Patents

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etching
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Haruhiko Deguchi
Chiyoshi Yoshioka
Yasuhiro Sakamoto
Hidetsugu Kawai
Shigeaki Kakiwaki
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Sharp Kabushiki Kaisha
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Definitions

  • the present invention relates to a structure of a nozzle plate used for a micro-dot forming apparatus for forming a micro-pattern by a micro-dot, and a method of manufacturing the same.
  • ink-jet printers have been used literally as printers, exclusively using paper as a medium.
  • attention has been paid to the versatility and low cost of the ink jet printer technology, and the formation of fine patterns such as power filters for liquid crystal display devices, which have been processed by photolithography technology in the past, has been considered.
  • Attention has been focused on the application of inkjet printers to the formation of conductive patterns on printed wiring boards. Therefore, in recent years, it has become possible to form a fine pattern with high precision by directly drawing a very small ink dot on a drawing target (for example, a color filter for liquid crystal display or a printed wiring board).
  • a drawing target for example, a color filter for liquid crystal display or a printed wiring board.
  • minute dot forming devices that can be used has been active. ( In such a minute dot forming device, a nozzle plate having high ejection characteristics such as ejection stability and high landing accuracy is required.
  • FIG. 19 (&) ⁇ FIG. 19 (b) is an explanatory view of a nozzle plate (hereinafter referred to as a conventional configuration) described in Patent Document 1. +
  • a conventional chip plate is composed of 21 SOI (Siliconon Insulator) substrates.
  • the SOI substrate 21 has an etching stop layer Si 0 2 layer 2 over the entire area of the support Si layer 25. 6 and an Si layer 24 as an active layer on the SiO 2 layer 26.
  • An orifice 22 is formed in the Si layer 24, and a tapered portion 23 is formed in the Si layer 25. The orifice 22 and the tapered portion 23 communicate with each other. I have.
  • the conventional nozzle plate manufacturing method (hereinafter referred to as the conventional method) is as follows. First, the surface of the Si layer 24 as an active layer is oxidized to form an oxide film (not shown). Then, a predetermined pattern is formed on the oxide film 2 8, dry etching is performed with this pattern as a mask, stop etching at S i ⁇ two layers 2 6 is etched Holdings top layer, sediment Fi scan 2 2 To form Next, the surface of the Si layer 25 serving as a support layer is oxidized to form an oxide film (not shown). A predetermined pattern is formed on this oxide film, and using this pattern as a mask, dry etching is performed under conditions that cause undercut, and etching is stopped by the SiO 2 layer 26 to form a tapered portion 23. . Finally, the Si 2 layer 26 between the orifice 22 and the tapered portion 23 and the oxide film on the surface are removed with a hydrofluoric acid-based etchant.
  • Patent Document 1 states that the processing accuracy of the above-mentioned nozzle is within 1 micron of soil with respect to the dimensional design value. Is low.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a nozzle plate having a first nozzle hole with high forming accuracy and having a low risk of deformation such as warpage, and a method of manufacturing the same. It is in. Disclosure of the invention
  • the nozzle plate of the present invention includes a first nozzle layer having a first nozzle hole for discharging a liquid substance, a second nozzle layer communicating with the first nozzle hole, and receiving a supply of the liquid substance. Between the second nozzle layer with nozzle holes, the shielding layer is locally formed around a communication portion communicating with the first nozzle hole and the second nozzle hole. It is characterized by being formed in
  • the first nozzle hole is for discharging the liquid substance supplied to the second nozzle hole.
  • the above-mentioned liquid substance includes not only a liquid but also a substance having such a viscosity that it can be discharged from the first nozzle hole.
  • the shielding layer is formed around a communication portion where the first nozzle hole and the second nozzle hole communicate with each other, and when the first nozzle hole is etched, the shape of the opening of the first nozzle hole is formed. It is a mask that defines.
  • the shielding layer is provided locally, the area of the contact portion between the first nozzle layer and the shielding layer or between the second nozzle layer and the shielding layer can be reduced. As a result, the generation of stress due to the difference in linear expansion coefficient between the first nozzle layer, the second nozzle layer, and the shielding layer can be significantly suppressed, and large warpage occurs in the nozzle plate. Can be prevented. Therefore, when joining the nozzle plate to, for example, an inkjet head, the joining accuracy can be improved, and the structural reliability of the nozzle plate itself can be increased.
  • the rigidity required for the first nozzle layer and the second nozzle layer is reduced, and the thickness of the first nozzle layer and the second nozzle layer is reduced.
  • the first nozzle hole and the second nozzle hole having high forming accuracy can be provided.
  • the layer thicknesses of the first nozzle layer and the second nozzle layer can be reduced as described above, the first nozzle hole and the second nozzle hole can be formed small. As a result, the degree of integration of the first nozzle holes can be increased, and the resolution of drawing can be improved.
  • the outer shape of the shielding layer be larger than the outer shape of the second nozzle hole in the communication portion.
  • the state where the outer shape of the shielding layer matches the outer shape of the second nozzle hole in the communication part is the minimum outer shape of the locally formed shielding layer. If the outer shape of the shielding layer is smaller than the outer shape of the communicating portion of the second nozzle hole to be formed, the etching of the second nozzle hole progresses to the first nozzle layer around the shielding layer. This is because they will.
  • the shielding layer is formed when the second nozzle hole is etched. It functions as a stopper, and the etching of the second nozzle hole can be reliably stopped by the shielding layer.
  • the second nozzle hole does not penetrate the shielding layer, so that the thickness of the first nozzle layer is kept constant, and the liquid material There is no variation in the flow path resistance.
  • the first nozzle hole is formed of a penetrating portion of the first nozzle layer and a penetrating portion of the shielding layer.
  • a penetration portion having the same diameter as the diameter of the penetration portion of the shielding layer can be formed in the first nozzle layer using the shielding layer as an etching mask. This makes it possible to provide the first nozzle hole with high shape accuracy.
  • the second nozzle hole has a tapered shape in which a communicating portion with the first nozzle hole is narrow.
  • the second nozzle hole is tapered, turbulence does not easily occur in the supplied liquid material in the second nozzle hole, and the ejection stability of the droplet can be improved.
  • both the first nozzle layer and the second nozzle layer are formed of a polymer organic material
  • the shielding layer is formed of a metal material, an inorganic oxide material, and an inorganic nitride material. Desirably, it is formed from at least one of them.
  • the first nozzle layer and the second nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using oxygen.
  • the shielding layer has high etching resistance to dry etching by the plasma using oxygen, and is hardly etched. This makes it possible to provide the first nozzle hole and the second nozzle hole with higher forming accuracy, and since the second nozzle hole formed in the second nozzle layer does not penetrate the shielding layer, 1
  • the thickness of the nozzle layer can be kept constant, and there is no variation in the flow resistance of the liquid material to be discharged.
  • the nozzle plate of the present invention may further comprise, in addition to the above-described configuration, the first nozzle layer and the second nozzle layer both formed of polyimide resin, and the shielding layer may be formed of Ti, Al, Au, P t, T a, W, N b, S i ⁇ 2, a l 2 ⁇ 3, S i at least is selected from N have to desirable mainly composed of one material Q
  • the first nozzle layer and the second nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using oxygen.
  • the shielding layer has high etching resistance to dry etching by the plasma using oxygen, and is hardly etched.
  • first nozzle holes Contact Yopi second nozzle hole of accuracy, since the second nozzle hole formed in the second nozzle layer and no child through the shield layer, The thickness of the first nozzle layer can be kept constant, and the flow resistance of the liquid substance does not vary.
  • the nozzle plate of the present invention may be configured such that at least one of the first nozzle layer and the second nozzle layer has at least one of S i, S i ⁇ 2 , and S i 3 N 4.
  • the shielding layer is formed of a material mainly containing at least one of A1, Cu, Au, Pt, A1 oxide, and A1 nitride. It is desirable to have been.
  • the first nozzle layer and the second nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using fluorine.
  • the shielding layer has high etching resistance to the dry etching by the plasma using fluorine, and is hardly etched.
  • the first nozzle hole and the second nozzle hole having higher forming accuracy can be provided.
  • the first nozzle hole can be provided.
  • the thickness of the layer can be kept constant, and the flow resistance of the liquid material does not vary.
  • the nozzle plate of the present invention includes a nozzle layer having one or more first nozzle holes for discharging a liquid material, a nozzle layer communicating with the first nozzle hole, and supplying the liquid material.
  • a reinforcing plate fixed to the nozzle layer and having a higher resistance to etching than the nozzle layer, and formed at least around the communicating portion between the first nozzle hole and the second nozzle hole. And a shielding layer.
  • the first nozzle hole is for discharging the liquid substance supplied to the second nozzle hole.
  • the above-mentioned liquid substance includes not only a liquid but also a substance having such a viscosity that it can be discharged from the first nozzle hole.
  • the shielding layer is formed around a communicating portion between the first nozzle hole and the second nozzle hole, and when etching the first nozzle hole, a mask for defining the shape of the opening of the first nozzle hole. It becomes.
  • the reinforcing plate fixed to the nozzle layer can be formed in a separate process, so that the degree of freedom in selecting a material to be used for the reinforcing plate is greatly improved.
  • the shielding layer can be processed into a required minimum shape without being affected by the shape of the second nozzle hole formed in the reinforcing plate. Thereby, the area of the contact portion between the nozzle layer and the shielding layer can be reduced.
  • the structural reliability of the nozzle plate itself can be increased.
  • the joining accuracy can be improved.
  • the layer thickness of the nozzle layer can be reduced. That is, by forming the first nozzle hole in a nozzle layer having a small layer thickness, the formation accuracy of the first nozzle hole for controlling the size of the discharged droplet can be increased.
  • the nozzle layer having the first nozzle holes and the reinforcing plate having the second nozzle holes can be processed in different steps. For this reason, the diameter of the discharge hole for controlling the size of the discharged liquid droplet can be set by processing a thin nozzle layer, so that the first nozzle hole with high formation accuracy can be provided.
  • the shielding layer is formed within an opening range of the second nozzle hole.
  • the shielding layer falls within the opening range of the second nozzle hole, the stress generated around the shielding layer can be minimized, and the shielding layer is formed with the nozzle layer. Since the structure is not sandwiched between the reinforcing plate and the reinforcing plate, it is possible to enhance the bonding accuracy between the nozzle layer and the reinforcing plate.
  • the area of the contact portion between the nozzle layer and the shielding layer can be further reduced. That is, the generation of stress due to the difference in linear expansion coefficient between the nozzle layer and the reinforcing plate and the shielding layer can be further suppressed, and large warpage of the nozzle plate can be prevented.
  • the joining accuracy can be improved, and the structural reliability of the nozzle plate itself can be increased.
  • the nozzle layer and the reinforcing plate must be processed in separate processes. Therefore, the first nozzle hole and the second nozzle hole can be formed small. As a result, the degree of integration of the first nozzle holes can be increased, and the resolution of drawing can be improved. .
  • the first nozzle hole is formed of a penetrating portion of the first nozzle layer and a penetrating portion of the shielding layer.
  • a penetration portion having the same diameter as the diameter of the penetration portion of the shielding layer can be formed in the nozzle layer using the shielding layer as an etching mask.
  • the nozzle layer is formed of a polymer organic material
  • the shielding layer is at least one of a metal material, an inorganic oxide material, and an inorganic nitride material.
  • the reinforcing plate is made of at least one of Si, an inorganic oxide material, and a polymer organic material.
  • the nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using oxygen.
  • the shielding layer has high etching resistance to dry etching by the above-described plasma using oxygen, and is hardly etched. Thereby, the first nozzle hole with higher forming accuracy can be provided.
  • the nozzle layer is made of a polyimide resin
  • the shielding layer is made of Ti, A1, Au, Pt, W, Nb, S i 0 2
  • a l 2 Rei_3 is composed of one material at least is selected from S i N
  • the reinforcing plate is a principal component of one at least of the S i, glass, a 1 2_Rei 3 It must be made of ceramic material or polyimide resin. Is desirable.
  • the nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using oxygen.
  • the shielding layer has high etching resistance to dry etching by the above-described plasma using oxygen, and is hardly etched. Thereby, it is possible to provide the first nozzle hole with higher forming accuracy.
  • the nozzle layer is formed of a material containing at least one of S i, S i ⁇ 2 , and S i 3 N 4 as a main component.
  • the shielding layer is made of a material mainly containing at least one of A1, Cu, Au, Pt, A1 oxide, and A1 nitride, and the reinforcing plate is made of Si, glass, it is preferably formed by a ceramic stick material or Porii Mi de resin to at least mainly composed of one of the a 1 2 0 3.
  • the nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using fluorine.
  • the shielding layer has a high etching resistance to the dry etching by the plasma using fluorine, and is hardly etched. Thereby, the first nozzle hole with higher forming accuracy can be provided.
  • the nozzle layer is formed by S i 0 2 or S i 3 N 4, for example, in the case of forming the liquid-repellent film on the discharging surface of the liquid material, adhesion of the repellent liquid film. It can improve and prevent peeling and chipping.
  • the shielding layer as an etching mask, etching the nozzle layer from the opening, and forming a first nozzle hole penetrating the nozzle layer from the opening.
  • the shielding layer with an etching mask, c the first nozzle hole with a diameter identical to the diameter of the opening of the shielding layer can be formed in the nozzle layer This ensures that the first nozzle hole It can be formed with high precision.
  • an optimum material can be selected as a material for the shielding layer as an etching mask for the first nozzle hole or as a side wall of the first nozzle hole.
  • the first nozzle hole can be formed with higher accuracy.
  • the shielding layer is locally formed, the area of the contact portion between the nozzle layer and the shielding layer can be reduced. Thereby, it is possible to suppress the generation of stress due to the difference in linear expansion ratio between the nozzle layer and the shielding layer, and to prevent large warpage of the nozzle plate. Therefore, when joining the nozzle plate to the ink jet head, for example, the joining accuracy can be improved, and the structural reliability of the nozzle plate itself can be increased.
  • the rigidity required for the nozzle layer is reduced, and the layer thickness of the nozzle layer can be reduced. That is, the etching amount accompanying the etching of the first nozzle hole is reduced, and the formation error can be reduced. Thereby, the first nozzle hole can be formed with high accuracy.
  • the first nozzle hole can be formed small. As a result, the degree of integration of the first nozzle holes can be increased, and the resolution of drawing can be improved.
  • the method for manufacturing a nozzle plate of the present invention further comprises, after the above three steps, a reinforcing plate having a second nozzle hole separately formed, and a shielding plate provided on the nozzle layer. It is preferable to perform a step of joining the nozzle layer so that the layer is located inside the second nozzle hole.
  • the shielding layer can be formed in a small shape so as to be located inside the second nozzle hole as long as it has a size that can serve as an etching mask when forming the first nozzle hole.
  • the shielding layer since the shielding layer is located within the opening range of the second nozzle hole, the shielding layer does not contact the reinforcing plate. As a result, the generation of stress due to the difference in linear expansion coefficient between the nozzle layer and the reinforcing plate and the shielding layer can be significantly suppressed, and large warpage of the nozzle plate can be prevented.
  • the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.
  • a method of manufacturing a nozzle plate according to the present invention is directed to a method of manufacturing a nozzle plate having a nozzle hole for discharging a liquid, in order to solve the above-described problem.
  • the first nozzle hole having the same diameter as the diameter of the opening of the shielding layer can be formed in the first nozzle layer using the shielding layer as an etching mask.
  • the shielding layer functions as a stopper when etching the second nozzle hole, and the etching of the second nozzle hole can be reliably stopped by the shielding layer. That is, when etching the second nozzle layer, the second nozzle hole does not penetrate the shielding layer. As a result, the thickness of the first nozzle layer is kept constant, and the flow resistance of the liquid material does not vary.
  • an optimal material can be selected as a shielding layer at the time of etching the first nozzle hole or as a side wall of the first nozzle hole.
  • the first nozzle hole can be formed with higher precision.
  • the shielding layer is etched from one direction, so that the etching is performed from two directions facing each other as in the conventional method. Compared to the case, the alignment between the first nozzle hole and the second nozzle hole is easier.
  • the etching in the fifth step can be performed using the etching apparatus and the etching solution or the etching gas in the fourth step as they are. This simplifies the manufacturing process.
  • a nozzle plate of the present invention includes a first nozzle layer having a first nozzle hole for discharging a liquid material, and a first nozzle layer communicating with the first nozzle hole.
  • the first nozzle hole is formed so as to be in contact with the surface on the liquid material discharge side, and is characterized in that the first nozzle hole penetrates the first nozzle layer and communicates with the opening.
  • the first nozzle hole is for discharging the liquid material supplied to the second nozzle hole, and the opening communicating with the first nozzle hole is for controlling the discharge direction and discharge amount of the liquid material. This is a portion that contributes to the ejection characteristics that greatly contributes to control.
  • the liquid substance includes not only a liquid but also a substance having such a viscosity as to be able to be discharged from the first nozzle hole.
  • the discharge characteristic contributing portion as the opening is formed in the discharge layer having higher etching resistance than the first nozzle layer.
  • the ejection layer has high resistance to etching, so that the risk of deformation of the opening of the ejection layer is reduced. can do.
  • the opening of the ejection layer formed in advance is filled with the constituent material of the first nozzle layer, and then the first nozzle layer is etched to form the first nozzle hole, and the opening is opened. Even if it is a part that contributes to the ejection characteristics, the etching resistance of the ejection layer is higher than that of the first nozzle layer, so that the etching of the first nozzle layer is surely stopped when the ejection layer is exposed. . That is, the discharge characteristic contributing portion has the same shape as the opening formed in advance.
  • the formation accuracy of the above-described discharge characteristic contributing portion is greatly improved as compared with the case where the above-described discharge characteristic contributing portion of the first nozzle hole is directly formed in the first nozzle layer without providing the discharge layer in the first nozzle layer. Can be improved.
  • the discharge layer is formed in the first nozzle layer.
  • the thickness of the discharge layer is smaller than the thickness of the first nozzle layer.
  • a main component of the ejection layer is an inorganic material.
  • the ejection layer is made of an inorganic material, the above-described ejection. Even when, for example, a liquid-repellent film is formed on the ejection layer, the shape of the opening formed in the ejection layer is reduced Can be maintained.
  • the outer shape of the discharge layer is defined by the boundary between the discharge layer and the first nozzle layer. It should be larger than the outer shape of the first nozzle hole on the surface.
  • the ejection layer functions as a stop layer in etching the first nozzle layer. That is, when the first nozzle layer is etched from the second nozzle layer side to form the first nozzle hole, the etching automatically stops, as it were, in the discharge layer, and the first nozzle hole is formed. Is done.
  • the discharge layer is locally formed around the opening.
  • the contact area between the ejection layer and the first nozzle layer can be reduced.
  • the joining accuracy can be improved, and the structural reliability of the nozzle plate itself can be increased.
  • the generation of the stress as described above can be suppressed, the rigidity required for the first and second nozzle layers is reduced, and the layer thickness of the first and second nozzle layers is reduced. be able to. That is, the amount of etching accompanying the etching of the first nozzle hole and the second nozzle hole is reduced, and the formation error can be reduced. Thereby, it is possible to provide the first and second nozzle holes with high forming accuracy.
  • the thicknesses of the first and second nozzle layers can be reduced as described above, the first and second nozzle holes can be formed small. As a result, the degree of integration of the first nozzle holes can be increased, and the resolution of drawing can be improved.
  • a shielding layer having higher resistance to etching than the first nozzle layer is locally interposed between the first nozzle layer and the second nozzle layer, and the first nozzle hole is provided. Preferably penetrates the shielding layer and communicates with the second nozzle hole.
  • the shielding layer is formed by etching the first nozzle layer.
  • the mask When forming one nozzle hole, the mask defines the shape of the opening of the first nozzle hole.
  • the shielding layer is provided locally, the area of the contact portion between the first nozzle layer and the shielding layer or between the second nozzle layer and the shielding layer can be reduced. 2
  • the generation of stress due to the difference in the coefficient of linear expansion between the nozzle layer and the shielding layer can be greatly suppressed, Warpage can be prevented from occurring. Therefore, when joining the nozzle plate to, for example, an ink jet head, the joining accuracy can be improved, and the structural reliability of the nozzle plate itself can be increased.
  • the rigidity required for the second nozzle layer is reduced, and the thickness of the first and second nozzle layers can be reduced. That is, the amount of etching accompanying the etching of the first nozzle hole and the second nozzle hole is reduced, and the formation error can be reduced. Thereby, it is possible to provide the first and second nozzle holes with high forming accuracy.
  • the thicknesses of the first and second nozzle layers can be reduced as described above, the first and second nozzle holes can be formed small. As a result, the degree of integration of the first nozzle holes can be increased, and the resolution of drawing can be improved.
  • the shielding layer has higher resistance to etching than the second nozzle layer, and the outer shape of the shielding layer is a communicating portion between the first nozzle hole and the second nozzle hole. It is preferably larger than the outer shape of the second nozzle hole in the above.
  • the etching resistance of the shielding layer is made higher than that of the second nozzle layer, and the outer shape of the shielding layer is made larger than the outer shape of the second nozzle hole in the communicating portion between the first and second nozzle holes.
  • the shielding layer functions as a stopper when etching the second nozzle hole, and the etching of the second nozzle hole can be reliably stopped by the shielding layer.
  • the thickness of the first nozzle layer is reduced because the second nozzle hole does not penetrate the shielding layer. Is kept constant.
  • the end point of the second nozzle hole processing can be set accurately on the surface of the shielding layer by the shielding layer, so that the first nozzle layer is over-etched when the second nozzle hole is processed.
  • the length of the first nozzle hole can be controlled by the thickness of the first nozzle layer without being damaged. This stabilizes the flow path resistance, stabilizes the ejection stability of droplets, and improves the landing accuracy and resolution.
  • the first nozzle layer has higher resistance to etching than the second nozzle layer.
  • the first nozzle layer itself can function as a stopper when etching the second nozzle hole, and the etching of the second nozzle hole can be stopped by the first nozzle layer.
  • the etching of the second nozzle hole can be stopped by the first nozzle layer without providing the shielding layer, the above-described stress between the first and second nozzle layers and the shielding layer is generated. Therefore, it is possible to more effectively prevent the nozzle plate from warping.
  • the first nozzle hole which is a penetrating portion of the first nozzle layer, has a tapered shape in which a communicating portion with the opening is narrowed.
  • the second nozzle hole has a tapered shape in which a communicating portion with the first nozzle hole is narrowed. According to the above configuration, since the second nozzle hole has a tapered shape, turbulence does not easily occur in the supplied liquid material in the second nozzle hole, and the ejection stability of droplets can be improved. it can.
  • the nozzle plate of the present invention it is preferable that at least a liquid-repellent film is formed on the surface of the discharge layer on the liquid substance discharge side.
  • At least the liquid repellent film is formed on the surface of the discharge layer on the liquid material discharge side, so that the meniscus shape of the liquid material formed in the opening is stable, and the liquid The ejection direction of the substance is stabilized. That is, the landing accuracy is improved and the drawing resolution is improved.
  • a nozzle plate including a first nozzle layer having a first nozzle hole for discharging a liquid material, and a supply of the liquid material while communicating with the first nozzle hole. It has a second nozzle hole.
  • a reinforcing plate that is fixed to the first nozzle layer, and has higher resistance to etching than the first nozzle layer, and at least around the communicating portion between the first nozzle hole and the second nozzle hole.
  • a discharge layer having an opening, having a higher resistance to etching than the first nozzle layer, and formed so as to be in contact with the surface of the first nozzle layer on the liquid material discharge side.
  • the first nozzle hole is characterized in that it penetrates the first nozzle layer and communicates with the opening.
  • the discharge layer that contributes to the discharge characteristics as the opening is formed in the discharge layer having higher etching resistance than the first nozzle layer.
  • the first nozzle layer is etched to form the first nozzle hole.
  • the ejection layer has high resistance to etching, the risk of deformation of the opening of the ejection layer can be reduced.
  • the etching resistance of the discharge layer is higher than that of the first nozzle layer, so that the etching of the first nozzle layer is surely stopped when the discharge layer is exposed.
  • the discharge characteristic contributing portion has the same shape as the opening formed in advance.
  • the formation accuracy of the discharge characteristic contributing portion is improved. It can be dramatically improved.
  • the above-mentioned shielding layer serves as a mask for defining the shape of the opening of the first nozzle hole when the first nozzle hole is etched, so that the first nozzle hole can be formed with high accuracy.
  • the shielding layer can be processed into a required minimum required shape without being affected by the shape of the second nozzle hole formed in the reinforcing plate. Thereby, the area of the contact portion between the first nozzle layer and the shielding layer can be reduced.
  • the above-described reinforcing plate fixed to the first nozzle layer can be formed in a separate process, the degree of freedom in selecting a material to be used for the reinforcing plate is greatly improved. As a result, a highly rigid reinforcing plate can be used. It is possible to prevent the warp plate from warping.
  • the generation of stress due to the difference in linear expansion coefficient between the first nozzle layer, the reinforcing plate, and the shielding layer can be significantly suppressed, and large warpage of the nozzle plate can be prevented.
  • the layer thickness of the first nozzle layer can be reduced. That is, by forming the first nozzle holes in the first nozzle layer having a small layer thickness, the formation accuracy of the first nozzle holes can be further improved.
  • the discharge layer is A 1, P t, A u, therefore consists at least of the A 1 2 0 3, A 1 N in material that one main component, It is preferable that the first nozzle layer is made of a silicon compound and the second nozzle layer is made of an organic resin.
  • the material forming the discharge layer is formed by etching the silicon compound forming the first nozzle layer (for example, dry etching using a plasma containing fluorine) or forming the second nozzle layer.
  • etching the silicon compound forming the first nozzle layer for example, dry etching using a plasma containing fluorine
  • High resistance to etching of constituent organic resins eg, dry etching using oxygen-containing plasma.
  • the ejection layer is not damaged during the processing of the first and second nozzle holes. That is, it is possible to configure a nozzle plate having an opening processed with extremely high processing accuracy without deforming the opening in the nozzle (first and second nozzle holes) forming process. This improves the impact accuracy and the drawing resolution.
  • the silicon compound forming the first nozzle layer is etched by etching the organic resin forming the second nozzle layer (for example, using a plasma containing oxygen). Because of the high etching resistance of the first nozzle layer, the first nozzle layer is not significantly damaged by overetching when the second nozzle hole is drilled.
  • the discharge layer is made of a silicon compound
  • the first nozzle layer is made of a metal material containing A 1 as a main component
  • the second nozzle layer is made of an organic resin. It is preferred to be composed of
  • the material constituting the ejection layer is etching of a metal material mainly composed of A 1 constituting the first nozzle layer (for example, dry etching using plasma containing chlorine), or It has high etching resistance to etching of the organic resin constituting the second nozzle layer (for example, dry etching using plasma containing oxygen).
  • the opening is not damaged during the processing of the first and second nozzle holes. That is, it is possible to configure a nozzle plate having an opening machined with extremely high machining accuracy without deforming the opening in the process of forming the nozzle (first and second nozzle holes). Thereby, the landing accuracy is improved, and the drawing resolution is improved.
  • the metal material mainly composed of A 1 constituting the first nozzle layer is
  • the first nozzle layer is formed of an organic resin
  • the discharge layer is formed of Ti, Al, Au, Pt, Ta, W, Nb, Sio. 2, a 1 2_Rei 3, S i 3 N 4, at least is selected from a 1 N to be mainly one preferred material.
  • the first nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using oxygen.
  • the ejection layer has high etching resistance to dry etching by the plasma using oxygen, and is hardly etched. Thereby, an opening with higher forming accuracy can be provided.
  • the same material as that of the ejection layer can be used for the shielding layer.
  • the shielding layer when the first nozzle layer is etched to form the first nozzle hole, the shielding layer can be used as a mask for defining the shape of the opening of the first nozzle hole. The processing accuracy of the first nozzle hole can be improved as compared with the patterning by the method.
  • the shielding layer has an etching resistance to dry etching by plasma using oxygen when processing the second nozzle hole. Therefore, the processing of the second nozzle hole can be accurately stopped at the shielding layer.
  • the first nozzle layer is formed by at least the material of one main component of the S i, S i 0 2, S i 3 N 4, the discharge layer Is formed by a material mainly composed of at least one of Al, Ni, Fe, Co, Cu, Au, Pt, A1 oxide, and A1 nitride. Is desirable.
  • the first nozzle layer can be easily processed by dry etching using plasma using fluorine.
  • the ejection layer has a high etching resistance to the dry etching by the plasma using fluorine, and is hardly etched. Thereby, it is possible to provide an opening with higher forming accuracy.
  • the same material as that of the ejection layer can be used for the shielding layer.
  • the shielding layer can be used as a mask for defining the shape of the opening of the first nozzle hole. Processing accuracy of the first nozzle hole can be improved compared to patterning.
  • the shielding layer has an etching resistance to dry etching by plasma using fluorine for processing the second nozzle hole. Since it is high, the processing of the second nozzle hole can be accurately stopped at the shielding layer.
  • the shielding layer has high etching resistance to dry etching by plasma using oxygen for processing the second nozzle hole. Can be accurately stopped at the shielding layer. This stabilizes the length of the first nozzle hole, stabilizes the flow path resistance, and improves the ejection stability. Wear this Improved bullet accuracy and high-resolution drawing.
  • either the organic resin or Si or the Si compound can be used for the second nozzle layer, and the range of material selection is widened, and the manufacture of the nozzle plate becomes easy.
  • the method for manufacturing a nozzle plate according to the present invention includes: a first nozzle hole having a first opening and a first nozzle hole for discharging a liquid substance; A method for manufacturing a nozzle plate having a first nozzle layer having the first nozzle hole, wherein a discharge layer having the first opening and having higher resistance to etching than the first nozzle layer is formed.
  • the first opening is a discharge characteristic contributing portion that greatly contributes to control of the discharge direction and discharge amount of the liquid substance.
  • the above-mentioned liquid substance includes not only a liquid but also a substance having a viscosity such that it can be discharged from the first nozzle hole.
  • the first nozzle layer is etched in the first removal step of removing the first nozzle layer in the first opening. The etching is surely stopped when the discharge layer is exposed.
  • the above-mentioned discharge characteristic contributing portion is the same as the previously formed first opening. Shape.
  • the formation accuracy of the above-described discharge characteristic contributing portion is greatly improved as compared with the case where the above-described discharge characteristic contributing portion of the first nozzle hole is directly formed in the first nozzle layer without providing the discharge layer in the first nozzle layer. Can be improved.
  • the second nozzle layer having lower etching resistance than the first nozzle layer is replaced with the first opening and the first nozzle hole.
  • a second nozzle hole forming step is performed after the first removing step.
  • the first nozzle layer functions as a stopper when etching the second nozzle hole, and without forming an etching stopper such as a shielding layer, the first nozzle layer is used for forming the second nozzle hole.
  • the etching of the nozzle layer can be stopped at the first nozzle layer.
  • the rigidity required for the first nozzle layer is reduced, and the layer thickness of the first nozzle layer can be reduced. Wear. In other words, the amount of etching accompanying the etching of the first nozzle hole is reduced, and the formation error can be reduced. Thereby, the first nozzle hole can be formed with high accuracy. .
  • the etching is performed from two directions facing each other as in the conventional method. In comparison with the above, the alignment of the first nozzle hole and the second nozzle hole is easier.
  • the method further includes the step of forming a first opening between the first nozzle layer forming step and the first nozzle hole forming step.
  • a shielding layer forming step of locally forming a shielding layer having higher resistance to etching on the formed first nozzle layer corresponding to the first opening, and filling the second opening.
  • a second nozzle layer is formed so as to cover the first nozzle layer, and then the second nozzle layer is etched, so that the second nozzle pierces the second nozzle layer and reaches the shielding layer. And forming a second nozzle hole for forming a hole.
  • the shielding layer functions as a stopper when etching the second nozzle hole, and the etching of the second nozzle hole can be reliably stopped by the shielding layer.
  • the thickness of the first nozzle layer is kept constant because the second nozzle hole does not penetrate the shielding layer.
  • the end point of the processing of the second nozzle hole can be accurately set on the surface of the shielding layer by the shielding layer, so that the first nozzle layer is damaged by overetching during the processing of the second nozzle hole. Therefore, the length of the first nozzle hole can be controlled by the thickness of the first nozzle layer. This stabilizes the flow path resistance, stabilizes the ejection stability of liquid material, and achieves landing accuracy. And the resolution improves. '
  • the shielding layer is formed locally, the area of the contact portion between the first nozzle layer and the shielding layer can be reduced. Thereby, it is possible to suppress the generation of stress due to the difference in linear expansion coefficient between the first nozzle layer and the shielding layer, and to prevent large warpage of the nozzle plate.
  • the shielding layer is etched from one direction, the etching is performed from two directions facing each other as in the conventional method. In comparison with the above, the alignment of the first nozzle hole and the second nozzle hole is easier.
  • a second removing step of removing the second nozzle layer in the first nozzle hole portion following the second nozzle hole forming step It is preferable to perform a third removing step of removing the second nozzle layer in the opening.
  • the first nozzle hole forming step and the first removing step are performed successively to the second nozzle hole forming step.
  • the first nozzle hole can be etched using the etching apparatus and the etching solution or the etching gas in the processing step of the second nozzle hole as they are.
  • a step of forming a liquid-repellent film having lower resistance to etching than the discharge layer on the surface of the discharge layer From the first nozzle hole to remove the liquid-repellent film in the first nozzle hole.
  • the liquid-repellent film that has reached the inside (inner wall) of the first opening from the surface of the ejection layer is removed by etching from the opposite side of the first opening.
  • the ejection layer has high etching resistance to the etching of the lyophobic film
  • the first opening is removed in the etching process for removing the lyophobic film that has entered the first opening. No deformation.
  • the margin for performing the etching to remove the wrapped liquid-repellent film is increased, and the wrapped liquid-repellent film can be almost completely removed by sufficient etching.
  • FIG. 1A is a perspective view showing a nozzle plate according to the first embodiment of the present invention
  • FIG. 1B is an explanatory view showing a cross section taken along line AA ′ of FIG. 1A. is there.
  • FIG. 2 is an explanatory diagram showing a modified example of the nozzle plate by a cross-sectional configuration. .
  • 3 (a) to 3 (g) are explanatory views showing a method of manufacturing the nozzle plate according to the first embodiment of the present invention in a sectional configuration.
  • FIG. 5A is a perspective view showing a nozzle plate according to the second embodiment of the present invention
  • FIG. 5B is an explanatory view showing a cross section taken along the line BB ′ in FIG. 5A. is there.
  • 6 (a) to 6 (g) are explanatory views showing a method of manufacturing a nozzle plate according to the second embodiment of the present invention by a cross-sectional configuration.
  • FIG. 7 is a perspective view for explaining the configuration of the force absorbing plate according to the second embodiment.
  • 8 (a) to 8 (c) are explanatory diagrams showing another method of manufacturing the nozzle plate according to the first embodiment of the present invention in a sectional configuration.
  • FIG. 9 is an explanatory view showing another manufacturing method of the nozzle plate according to the first embodiment of the present invention by a cross-sectional configuration.
  • FIGS. 10 (a) and 10 (b) are schematic diagrams illustrating a method of joining the nozzle layer and the reinforcing plate.
  • FIG. 11 (a) is a perspective view showing a nozzle plate according to the third embodiment of the present invention
  • FIG. 11 (b) is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. 11 (a).
  • FIG. 12 is an explanatory diagram showing a modified example of the nozzle plate by a cross-sectional configuration.
  • FIGS. 13 (a) to 13 (g) are explanatory views showing a method of manufacturing a nozzle plate according to the third embodiment of the present invention by a cross-sectional configuration.
  • FIG. 14 is an explanatory view showing a modified example of the above-described method for manufacturing a nozzle plate by a cross-sectional configuration.
  • FIG. 15 (a) is a perspective view showing a nozzle plate according to a fourth embodiment of the present invention
  • FIG. 15 (b) is a cross-sectional view taken along the line BB ′ in FIG. 15 (a).
  • FIGS. 16 (a) to 16 (g) are explanatory views showing a method of manufacturing a nozzle plate according to the fourth embodiment of the present invention by a cross-sectional configuration.
  • FIGS. 17 (a) to 17 (c) are illustrations for explaining the step of removing the liquid-repellent film by etching.
  • FIG. 18 is an explanatory diagram showing a modified example of the nozzle plate according to the third embodiment by a cross-sectional configuration.
  • FIG. 19 (a) is a perspective view showing a conventional nozzle plate
  • FIG. 19 (b) is an explanatory view showing a cross section taken along the line CC ′ in FIG. 19 (a).
  • Fig. 1 (a) shows the nozzle plug of the present invention used in a microdot forming apparatus.
  • FIG. 1B is a perspective view of a part of the rate, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 1A.
  • One or more liquid (liquid substance) discharge ports 9 are formed in the nozzle plate, and two liquid discharge ports 9 are shown in FIG. 1 (a).
  • the nozzle plate 8 includes a first nozzle layer 1, a second nozzle layer 2, a stopper layer 3 (shielding layer), a liquid-repellent film 4, and a nozzle. It has a hole 1 1.
  • a liquid-repellent film 4 is formed on the liquid ejection surface side of the first nozzle shoulder 1, and a second nozzle layer 2 is formed on the opposite side.
  • the stopper layer 3 is located at the interface between the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 in the second nozzle layer 2, and is in contact with the first nozzle layer 1 and has the above-mentioned liquid discharge port 9. It is formed locally at the position where the first nozzle hole 11a with the opening as the opening is formed. That is, the first nozzle hole 11a penetrates the liquid-repellent film 4, the first nozzle layer 1, and penetrates the center of the locally formed stop layer 3. .
  • the second nozzle hole 11b forms a nozzle hole 11 together with the first nozzle hole 11a, and expands from the communicating portion with the cylindrical first nozzle hole 11a. It has a tapered shape (a truncated conical shape) that opens and passes through the second nozzle layer 2 and opens at the surface 2 b on the opposite side of the liquid-repellent film 4.
  • the upper base 11y of the second nozzle hole lib having a truncated cone shape is an annular shape centered on the first nozzle hole 11a, and the stopper layer 3 forms the upper base 11y.
  • the diameter of the communicating part 11 x (substantially circle) between the first nozzle hole 11 a and the second nozzle hole 11 b is the outer diameter of the upper bottom 11 y of the second nozzle hole lib (the above communicating part The outer shape of the second nozzle hole 11b at 11X).
  • the substantially circular opening of the first nozzle hole 11a is the liquid discharge port 9.
  • the substantially circular opening of 1b is the liquid supply port 12.
  • Stopper layer 3 is made of a metal material mainly composed of Ti.
  • the diameter of the opening (liquid discharge port 9) of the first nozzle hole 11a is about 3 ⁇ m.
  • the outer diameter of the upper bottom 11y of the second nozzle hole 11b is 1 O ⁇ m, and the diameter of the opening (liquid inlet 12) is 30 ⁇ .
  • the liquid-repellent film 4 on the first nozzle layer 1 is formed of a fluoropolymer or a silicon-based polymer film.
  • the stopper layer 3 is locally provided at each position where the nozzle holes 11 are formed, the interface layer between the first nozzle layer and the second nozzle layer is conventionally provided. Compared with a configuration in which a stopper layer is formed over the entirety, the generation of stress due to a difference in linear expansion coefficient between the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 and the stopper layer 3 is significantly suppressed. This can prevent the nozzle plate 8 from being greatly warped.
  • the layer thickness of the first nozzle layer 1 or the second nozzle layer 2 is reduced to the conventional structure (FIG. 19 (a), FIG. 19 (b)).
  • Layer 25 force (S100 ⁇ m) can be reduced.
  • the first Nozzle layer 1 is 1 ⁇ m N 2nd nozzle layer 2 force 20 ⁇ ).
  • the second nozzle hole lib has a tapered shape, turbulence of the liquid hardly occurs inside the second nozzle hole 1lb, and the ejection stability of the droplet can be improved.
  • the second nozzle layer 2 can be made thinner as compared with the conventional configuration as described above, even if the second nozzle hole 11 b is formed in a tapered shape, the liquid inlet 12 is formed. The size can be reduced as compared with the conventional configuration. As a result, the degree of integration of the nozzle holes 11 can be increased.
  • the material used for the first nozzle layer 1 is not limited to polyimide. It may be a polymer organic material other than polyimide, a Si compound material such as Sio 2 or Si 3 N 4 , or Si.
  • the material used for the stopper layer 3 is not limited to a metal material containing Ti as a main component.
  • etching gas plasma containing oxygen
  • etchant nitric acid, potassium hydroxide aqueous solution, etc.
  • Ti, Al, Cu, Au, Pt, Ta, W, Nb, etc. are the main components.
  • Metallic material an inorganic oxide material composed mainly of S i ⁇ 2, A 1 2 0 3 or the like, an inorganic nitride material mainly composed of S i 3 N 4 and the like.
  • the material used for the second nozzle layer 2 is not limited to polyimide.
  • the material used for the second nozzle layer 2 may be a polymer organic material other than polyimide, S i Rei_2, have S i 3 N 4 and Rere ivy S i compound material, or even S i derconnection .
  • the shape of the stopper layer 3 only needs to be a shape localized at the position where the nozzle hole 11 is formed, and is not limited to a substantially square shape.
  • it may be circular.
  • a circular shape is preferable because the shape is the most isotropic and the stress is reduced isotropically.
  • one nozzle hole 11 is formed for one stop layer 3, but the present invention is not limited to this.
  • a plurality of nozzle holes 11 may be formed in one stopper layer 3 if the stress can be suppressed as compared with the conventional configuration.
  • the diameter of the communicating portion 11X between the first nozzle hole 11a and the second nozzle hole lib is above the second nozzle hole 11b.
  • the diameter is smaller than, but not limited to, the diameter of the bottom 1 1 y.
  • the diameter of the communication portion 11X may be the same as the diameter of the contact portion 11y.
  • the second nozzle hole 11b has a truncated conical shape (tapered shape) in which the communicating portion 11X with the first nozzle hole 11a is narrowed, but the present invention is not limited to this. Absent. For example, as shown in FIG.
  • the side wall of the second nozzle hole 11 b may be formed in a so-called straight shape (cylindrical shape) perpendicular to the stopper layer 3.
  • the liquid inlet 12 of the second nozzle hole lib can be made smaller, and the degree of integration of the nozzles can be further increased.
  • the second nozzle hole lib is inserted into the bulged text as shown in Fig. 8 (c). It may have a tapered shape.
  • the nozzle plate is configured to include the first nozzle layer 1, the stopper layer 3, and the second nozzle layer 2, whereby
  • the thickness of the nozzle plate 8 can be kept to a necessary minimum, the liquid inlet 12 of the nozzle plate 8 can be made smaller, thereby accumulating the nozzle holes 11. The degree can be improved. Along with this, it becomes possible to draw high-resolution images.
  • the nozzle plate 8 is reinforced by the second nozzle layer 2 having a large film thickness, the rigidity of the entire nozzle plate 8 is high, and the nozzle plate 8 is less likely to be warped, and is easily handled.
  • the stopper layer 3 is set to be thinner than the first nozzle layer 1, when the stopper layer 3 is etched using photolithography technology.
  • the first nozzle layer 1 is not directly processed using the photolithography technique without using the stop layer 3, but is additionally processed.
  • the first nozzle layer 1 can be processed by a processing method having a high etching selectivity using the stopper layer 3 as a mask with a high shape accuracy of the nozzle layer, so that the size of the discharged droplet can be controlled.
  • One nozzle hole 1 la can be formed with high precision.
  • FIGS. 3 (a) to 3 (g) are diagrams illustrating the steps of manufacturing the nozzle plate according to the present embodiment.
  • FIG. 4 shows a modification of the step shown in FIG. 3 (c).
  • a sacrificial layer 5 is formed on a substrate 6 made of Si, glass, or the like for temporary holding of an arbitrary thickness by wet plating using Ni (see FIG. 3 (a)).
  • the thickness of the sacrificial layer 5 is 10 m.
  • a coating type polyimide resin having a thickness of 1 ⁇ m is formed on the sacrificial layer 5 to form the first nozzle layer 1 (first step, FIG. 3 (b)).
  • the coating type polyimide resin was applied on the sacrificial layer 5 by spin coating, and was baked at 350 ° C. for 2 hours.
  • a stopper layer 3 is formed on the first nozzle layer 1 ⁇ Second step, FIG. 3 (c)) 0
  • a sputtering method is used.
  • a stopper layer 3 having a thickness of 0.5 ⁇ m (500 A) is formed.
  • the stopper layer 3 is formed into a resist having a predetermined shape by photolithography.
  • After forming the pattern it is processed into a substantially square shape with a side length of 20 m by dry etching using Ar ions such as ion milling. At the time of this dry etching, one opening 11a having a diameter of 3 ⁇ m is formed inside the above substantially square.
  • the opening 11 ai is a part of the first nozzle hole 11 a in a pattern for forming a first nozzle hole 11 a described later. '
  • a second nozzle layer 2 is formed on the first nozzle layer 1 and the stopper layer 3 with a thickness of 20 ⁇ (third step, FIG. 3 (d)).
  • the second nozzle layer 2 was formed by applying a coating type polyimide resin by a spin coating method in the same manner as the first nozzle layer 1, and baked at 350 ° C. for 2 hours to have a thickness of 20 m.
  • the opening 11a of the stopper layer 3 is also filled with polyimide resin.
  • a resist pattern 7 is formed on the second nozzle layer 2 by photolithography, and dry etching is performed using a gas containing oxygen as a main component, so that the second nozzle layer 2 has a tapered shape ( A second nozzle hole lib with a truncated cone shape was formed (fourth process, Fig. 3 (e)).
  • the dry etching can be stopped at the stopper layer 3. That is, in the portion where the stopper layer 3 is exposed except the opening 11 ai of the stopper layer 3, the drying does not further proceed.
  • the etch rate of the resist pattern 7 is made substantially equal to the etch rate of the polyimide resin of the second nozzle layer 2, and the resist pattern pattern 7 is set to 1
  • a method was used in which the resist pattern 7 was formed into a taper shape by performing a post beta at 50 ° C. for 60 minutes, and this shape was transferred to the second nozzle layer 2 by etching. That is, as shown in FIG. 9, a resist pattern 7 having an etch rate substantially equal to that of the polyimide resin (second nozzle layer 2) and having a tapered cross section is formed, and the same speed as the etching of the polyimide resin is formed.
  • Etch resist pattern 7 with, and widen the edge of resist pattern 7.
  • the polyimide resin (the second nozzle layer 2) is also etched, and the wall surface of the etching (the wall surface of the second nozzle hole lib) has a tapered wall surface formed by the initial resist (the resist wall). It has the same shape as pattern 7). Since the resist pattern 7 and the etch rate of the second nozzle layer 2 are substantially equal, it is desirable that the resist pattern 7 be formed thicker than the second nozzle layer 2.
  • etching for processing the first nozzle hole 11a is performed on the first nozzle layer 1 (fifth step, see FIG. 3 (e)).
  • the first nozzle hole 11a is formed into a shape (substantially circular, having a diameter of 3 / zm) determined by the opening 11a of the stopper layer 3 formed in the previous step.
  • the stopper layer 3 is hardly etched by the dry etching mainly containing oxygen in this step, the pattern formed on the stopper layer 3 does not change and the first nozzle hole 11 a As shown in FIG. 3 (e), the first nozzle hole 11a can be formed with high precision.
  • the resist pattern 7 is removed by using a resist stripper, and the nozzle plate 8 is immersed in an aqueous solution containing nitric acid and water as a main component and only the sacrificial layer 5 is etched.
  • Fig. 3 (f) Ti which forms the polyimide resin and the stopper layer 3 which forms the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 is: The etching liquid for the sacrificial layer 5 Since the sacrifice layer 5 is hardly etched, the shape of the sacrifice layer 5 is not changed and the structural reliability is not reduced.
  • a liquid-repellent film 4 is formed on the surface of the first nozzle layer 1 (FIG. 3 (g)).
  • a fluoropolymer is used for the purpose of considering the ease of application, and this is applied to the surface of the first nozzle layer 1 by a method such as stamping, and a liquid repellent film 4 is formed by a high molecular weight film.
  • the lyophobic film that has flowed into the first nozzle hole 11a is dry-etched from the side of the second nozzle hole 11b using a plasma containing oxygen after forming the lyophobic film. It was removed. Thereby, the damage of the nozzle plate 8 can be minimized.
  • the stopper layer 3 is used as a mask (shielding layer) and the first nozzle hole 11a is etched.
  • the nozzle hole 11a can be formed with high precision.
  • the etching is automatically stopped by the stopper layer 3, and the etching depth of the second nozzle hole lib can be defined.
  • the first nozzle hole 11a can be formed with higher accuracy.
  • the first nozzle layer 1 or the second nozzle layer 2 can be formed thin, the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 1 are etched when the first nozzle hole 11a and the second nozzle hole 11b are etched. The amount of etching of layer 2 can be small, and the formation error is small. Therefore, the nozzle holes 11 can be formed with high accuracy.
  • the stopper layer 3 is etched from one direction, so that the stopper layer 3 faces each other as in the conventional method. Compared to the case where etching is performed from two directions, the positioning of the first nozzle hole 11a and the second nozzle hole lib is easier.
  • the etching apparatus and the etching solution or the etching gas in the fourth process are used as they are.
  • the fifth step of etching can be performed. This simplifies the manufacturing process.
  • Ni is used as the sacrificial layer 5
  • polyimide resin is used as the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2
  • stopper layer 3 is used as the stopper layer 3.
  • T i was used, it is not limited to this combination.
  • the sacrificial layer 5 may be made of nitric acid such as Al, Cu, etc., or KOH, depending on the combination of materials used for the first nozzle layer 1, the second nozzle layer 2, and the stopper layer 3.
  • a material that is soluble in an aqueous solution or a material that can be etched by oxygen plasma, such as polyimide, can be used.
  • a vapor deposition method, a sputtering method, a coating method, or the like can be used depending on the material other than the plating.
  • the stopper layer 3 has 44
  • a material having high resistance to the etching of the sacrifice layer 5 and the etching of the first nozzle hole 11a and the second nozzle hole 11b can be used.
  • Table 1 shows the materials used (sacrifice layer, 1st nozzle layer, stopper layer, 2nd nozzle layer) and processing methods (stopper layer, 1st nozzle hole, 2nd nozzle hole, sacrifice layer). Preferred combinations are shown below.
  • the first nozzle layer 1, the second nozzle layer 2 is not limited to good Una polymeric organic material Porii Mi de resins, non-machine silicon compounds such as S i or S io 2 You can choose.
  • T i is fried resistance low that used in this embodiment for this etching, It is desirable to use a material having etching resistance such as Au as the stop layer 3.
  • the stopper layer 3 also has the combination shown in Table 1 in addition to Ti. Therefore, the materials listed in the table can be used. Note that Ti, which is the material of the stopper layer 3, can be etched even by plasma using a mixed gas of CF 4 and oxygen. However, the first nozzle layer 1 (polyimide) formed below T i is etched faster than T i by the plasma of the gas, and is greatly damaged. Therefore, in the present embodiment, the dry etching method using Ar ions is employed for patterning the stopper layer 3. As described above, the dry etching method using Ar ions, which has a small difference between the etch rate of the stopper layer 3 and the etch rate of the first nozzle layer 1, minimizes damage to the first nozzle layer 1. The puttering of the stopper layer 3 can be performed while keeping the limit.
  • the stopper layer 3 is formed in a square shape, but is not limited to this.
  • any shape and size may be used so that the second nozzle hole 11 b reaches the stopper layer 3 and the progress of the etching stops.
  • the shape and size (required minimum size) be such that warpage of the nozzle plate 8 due to the stress of the stopper layer 3 can be further reduced.
  • step 2 the shape of the stopper layer 3 and the opening 11 a ⁇ serving as the pattern for forming the first nozzle hole 11 a were simultaneously formed, but the two etching steps were performed. Can also be created.
  • step 2 as shown in FIG. 4, the first nozzle hole 11a may be machined at the time of forming the nozzle hole processing pattern (the stove layer 3 having the opening 11ai). .
  • step 3 when forming the second nozzle layer 2 (step 3), the opening 11 a a previously processed is buried, so in step 5, the corresponding portion is processed again.
  • step 4 the mask material and the etching conditions when processing the second nozzle hole 11b are optimized, and the side wall bulges (curved surface) as shown in FIGS. 8 (a) to 8 (c). 2) Nozzle hole 1 1.b with a hole can also be formed.
  • the liquid-repellent film 4 is not limited to a fluoropolymer, but may be a silicon-based polymer film, DLC (diamond-like carbon), or the like.
  • the first nozzle hole 11a is processed by a highly selective processing means using the opening 11ai of the stopper layer 3 as a mask.
  • the change in the processing shape of the first nozzle hole 11a due to a small change, a variation in the thickness of the first nozzle layer 1 due to an over-etch, etc. is small, and the processing with high shape accuracy and high reproducibility can be performed.
  • the second nozzle hole 11b is highly selective with respect to the stopper layer 3. Therefore, the processing of the second nozzle hole lib can be stopped at the stopper layer 3 with good reproducibility. For this reason, the influence of the processing accuracy of the second nozzle hole 11b on the processing accuracy of the first nozzle hole 11a is negligible, the shape accuracy of the liquid discharge port 9 is high, and the nozzle plate with a thick layer is thick. 8 can be manufactured stably.
  • FIG. 5 (a) is a perspective view of a part of the nozzle plate of the present invention used in the microdot forming apparatus
  • FIG. 5 (b) is a view taken along the line BB ′ of FIG. 5 (a). It is sectional drawing.
  • One or more liquid (liquid substance) discharge ports 90 are formed in the nozzle plate, and two liquid discharge ports 90 are shown in FIG. 5 (a).
  • the nozzle plate 80 has a nozzle layer 10, a stopper layer 30 (shielding layer), a reinforcing plate 20, and a nozzle hole 110.
  • a liquid-repellent film 40 is formed on the liquid discharge surface side of the nozzle layer 10, and a force-absorbing plate 20 is bonded to the opposite side.
  • the stopper layer 30 is located at the interface between the nozzle layer 10 and the reinforcing plate 20 and is locally located at the position where the first nozzle hole 110a having the liquid discharge port 90 as an opening is formed. Is formed. That is, the first nozzle hole 110 a penetrates the liquid-repellent film 40 and the nozzle layer 10, and penetrates the central part of the locally formed stopper layer 30. .
  • the rectangular parallelepiped second nozzle hole 110b penetrates the reinforcing plate 20, and the nozzle hole 110 is formed together with the cylindrical first nozzle hole 110a. Constitute.
  • the stopper layer 30 is located inside the second nozzle hole 110b (within the opening range) at the interface between the nozzle layer 10 and the reinforcing plate 20. Therefore, the bottom surface (substantially square shape) corresponding to the opening of the second nozzle hole 110b is the liquid supply port 120, and the bottom surface 110b corresponding to the back wall of the second nozzle hole 110b.
  • the contact surface (substantially square with holes) between the nozzle layer 10 and the stopper layer 30 is located inside y (substantially square). Note that a communication portion 11 Ox (substantially circular) between the first nozzle hole 110a and the second nozzle hole 110b is located inside (in the center of) the contact surface.
  • the nozzle layer 10 is formed of a polyimide film having a thickness of 1 ⁇ m.
  • the stopper layer 30 is made of a metal material mainly composed of Ti, and is formed in a substantially square shape with 1 ⁇ ⁇ per side in order to reduce warpage due to stress of the entire nozzle plate 80. .
  • the diameter of the opening (liquid discharge port 90) of the first nozzle hole 110a is 3 ⁇ m.
  • the liquid-repellent film 40 is formed from a polymer material having a fluoropolymer.
  • the reinforcing plate 20 is made of Si having a thickness of ⁇ , and the opening (liquid supply port 120) of the above-described substantially square second nozzle hole 110b has a side of 30 ⁇ m. Has become. '
  • the stopper layer 30 only needs to be a shielding layer when etching the first nozzle hole 110a described later, so that the stopper layer 30 is provided inside the second nozzle hole 110b. It is formed in a small shape to be located.
  • the contact surface between the nozzle layer 10 and the stopper layer 30 is minimized.
  • the contact surface between the reinforcing plate 20 and the stopper layer 30 can be eliminated, the linear expansion between the nozzle layer 10 and the reinforcing plate 20 and the stopper layer 30 can be eliminated.
  • the generation of stress due to the difference in the rates can be significantly suppressed as compared with the conventional and the configurations of the first embodiment. As a result, it is possible to prevent the nozzle plate 80 from being largely warped. .
  • the material used for the nozzle layer 10 is not limited to polyimide. It may be a high molecular organic material other than polyimide, a Si compound material such as sio 2 , S i 3N4, or S i.
  • the material used for the stopper layer 30 is not limited to a metal material containing Ti as a main component.
  • a material having high resistance to the etching that is, oxygen-containing plasma, fluorine-containing plasma, nitric acid, and water oxidation Any material having high resistance to a potassium aqueous solution or the like may be used.
  • Examples include a metal material, an inorganic oxide material, and an inorganic nitride material.
  • the material used for the reinforcing plate 20 is not limited to S i. S i 0 2, such S i 3 N 4 may be a S i compound material.
  • the shape of the stopper layer 30 may be any shape that is localized at the position where the nozzle hole 110 is formed, and is not limited to a substantially square shape. For example, it may be circular. A circular shape is preferable because the shape is the most isotropic and the stress is also reduced isotropically. Further, as shown in FIG. 5A, in this embodiment, one nozzle hole 110 is formed for one stop layer 30, but the present invention is not limited to this. If the stress can be reduced compared to the conventional configuration For example, a plurality of nozzle holes 110 may be formed in one stop layer 30. Further, the second nozzle hole 110b provided in the reinforcing plate 20 is not limited to a rectangular parallelepiped shape (a cross section is a square shape). It may be cylindrical or tapered (frusto-conical).
  • the nozzle plate As described above, by forming the nozzle plate with the nozzle layer 10, the stopper layer 30, and the reinforcing plate 20,
  • the thickness of the nozzle plate 80 can be kept to the minimum necessary, the liquid inlet 120 of the nozzle plate 80 can be made small, and as a result, the nozzle The degree of integration of the holes 110 can be improved. Along with this, it becomes possible to draw high-resolution images.
  • stopper layer 30 can be processed into a required minimum shape without being affected by the shape of the second nozzle hole 110 b formed in the reinforcing plate 20, The warpage of the nozzle plate 80 due to the difference in the coefficient of linear expansion can be further reduced.
  • the stopper layer 30 is set thinner than the nozzle layer 10, the stopper layer 30 is etched using photolithography technology.
  • the shape accuracy of the processing is high and the nozzle layer 10 can be processed by the processing method having high selectivity using the stopper layer 30 as a mask, the size of the discharged droplet can be controlled.
  • One nozzle hole 110a can be formed with high precision.
  • FIG. 6 (a) to 6 (g) show a manufacturing process of the nozzle plate according to the present embodiment.
  • a method of manufacturing the nozzle plate according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
  • a sacrificial layer 50 is formed by wet plating using Ni on a substrate 60 made of Si, glass, or the like for temporary holding of an arbitrary thickness (FIG. 6 (a)).
  • the thickness of the sacrificial layer 50 is 10 ⁇ m.
  • a coating type polyimide resin having a thickness of 1 ⁇ m is formed on the sacrificial layer 50 to form a nozzle layer 10 (FIG. 6 (b)).
  • the above-mentioned coating type polyimide resin is applied on the sacrificial layer 50 by spin coating, and is then applied. C was fired for 2 hours.
  • a stopper layer 30 (shielding layer) is formed on the nozzle layer 10 (FIG. 6C).
  • a stopper layer 30 having a thickness of 500 A is formed by a sputtering method using a material mainly composed of Ti.
  • the stopper layer 30 is formed by dry etching with Ar ions such as ion milling and has a side length of about 10 ⁇ m. Process into a square shape. At the time of this dry etching, one opening 110 ai having a diameter of 3 ⁇ is formed inside the above-mentioned substantially square.
  • the opening 110 ai is a forming pattern of a first nozzle hole 110 a described later, and forms a part of the first nozzle hole 110 a.
  • a resist pattern 70 having a pattern corresponding to the opening llO ai of the stopper layer 30 is formed. That is, the opening is formed so that the opening 110 ai of the stopper layer 30 is located at the opening 70 a of the resist pattern 70.
  • the nozzle layer 10 is etched from the opening ll O ai force to form a first nozzle hole 110a. This etching is performed by dry etching using a gas containing oxygen as a main component. ( Figure 6 (d)).
  • the first nozzle hole 110a can be formed with an extremely high processing accuracy of 0.1 m, which is close to the photolithography pattern accuracy.
  • the thickness of the resist 70 is preferably larger than the thickness of the nozzle layer 10, and in the present embodiment, the thickness of the resist is 2 ⁇ m.
  • a reinforcing plate 20 having a rectangular parallelepiped second nozzle hole 11 Ob with a side of 15 ⁇ m is placed so that the stopper layer 30 is arranged in the second nozzle hole 110 b.
  • Position and glue see Fig. 6 (e)
  • a method of observing the bonding surface of each member (nozzle layer .10 and reinforcing plate 20) with a camera or the like, moving the above members by a predetermined amount from the observation position, and mechanically joining was used.
  • FIG. 10 (a) shows the positioning (alignment phase) and FIG. 10 (b) shows the joining (joining phase) in this method.
  • the bonding surface of the reinforcing plate 20 was observed by the camera 61 in the reinforcing plate position measuring area 65, and the second nozzle hole 110b was observed. Measure the contour pattern.
  • the nozzle layer position measurement area 67 the bonding surface of the nozzle layer 10 is observed by the camera 62, and the contour pattern of the stopper layer 30 is measured.
  • an appropriate movement amount of the nozzle layer 10 and the reinforcing plate 20 is calculated from the above measurement results, and the nozzle layer 10 and the reinforcing plate are calculated according to the appropriate moving amount. 20 is moved to the appropriate position in the joint area 66 (alignment phase).
  • the joining surface is pressure-bonded up and down without observing the joining surface in real time, and the joining plate 20 and the nozzle layer 10 are joined.
  • the reinforcing plate 20 is made of Si, and an epoxy resin having high chemical resistance is used as the adhesive. At the time of bonding, it is desirable to cure at room temperature so that the nozzle plate 80 does not warp due to the difference in linear expansion coefficient between the adhesive and the nozzle layer 10 or the reinforcing plate 20.
  • a liquid-repellent film 40 is formed on the surface of the nozzle layer 10 (FIG. 6 (g)).
  • a fluoropolymer was used for the purpose of considering the ease of application.
  • a plasma containing oxygen was removed by dry etching from the b side. This can minimize damage to the nozzle plate 8.0.
  • a method of manufacturing the reinforcing plate 20 will be briefly described with reference to FIG.
  • an Si substrate 3 2 having a thickness of 100 ⁇ m in the direction of arrow D was bonded to the surface 33 on which the grooves of the Si substrate 31 having the above grooves were formed using an epoxy-based adhesive. I do.
  • it is cut by a dicing device in the direction perpendicular to the groove (the direction of arrow D in the figure).
  • the cross section is a substantially square having a side of 15; um
  • a thickness of 50 m in the direction of the arrow F is obtained.
  • a plurality of reinforcing plates 20 can be cut out.
  • the above method is merely an example of a method for manufacturing the reinforcing plate 20.
  • the second nozzle hole 110b along the direction of the arrow E in the figure (a substantially square cross section of 15 ⁇ m on a side)
  • the reinforcing plate 20 having a plurality of rows in the direction of arrow D in the figure can also be manufactured.
  • the staggered second nozzle holes 110b can be formed.
  • the stopper layer 30 is formed in the first nozzle hole 110a. Any size may be used as long as it becomes a shielding layer (mask) during tuning. Therefore, stopper layer 30 can be formed in a smaller shape than in the first embodiment. ⁇
  • the nozzle plate 80 can be manufactured simply and stably.
  • Ni is used for the sacrificial layer 50
  • polyimide resin is used for the nozzle layer 10
  • Si is used for the reinforcing plate 20
  • Ti is used for the stopper layer 30. Not limited.
  • the sacrificial layer 50 may be made of nitric acid such as Al, Cu, or the like, depending on the combination of materials used for the nozzle layer 10, the reinforcing plate 20, and the stopper layer 30.
  • a material that is soluble in an aqueous KOH solution or a material that can be etched by oxygen plasma, such as polyimide, can be used.
  • an evaporation method, a sputtering method, a coating method, or the like can be used depending on the material other than the plating.
  • the stopper layer 30 can be made of a material having high resistance to the etching of the sacrificial layer 50 and the etching of the first nozzle hole 110a.
  • Table 2 shows the preferred materials (sacrifice layer, nozzle layer, stopper layer, reinforcing plate) and processing methods (stopper layer, first nozzle hole, removal of sacrificial layer). Show a good combination
  • nozzle layer 1 0 is not limited to good Una polymeric organic gear cost Porii Mi de resins, and inorganic silicon compounds such as S i or S i 0 2.
  • the reinforcing plate 2 it can be used Ceramic or Porii Mi de resin trough ivy material mainly composed of glass or A 1 2_Rei 3 other than S i.
  • T i is the material of the scan stopper layer 3 0 may be etched in a plasma using a mixed gas of CF 4 and oxygen.
  • the nozzle layer 10 (polyimide) formed below T i is etched faster than T i by the plasma of the above gas, and is greatly damaged. Therefore, in the present embodiment, the dry etching method using Ar ions is employed for patterning the stop layer 30.
  • the stopper layer 3 By adopting a dry etching method using Ar ions that has a small difference in etch rate between the nozzle layer 10 and the nozzle layer 10, the stop layer 30 can be patterned while minimizing damage to the nozzle layer 10. .
  • the thickness of the nozzle plate 80 can be kept to the minimum necessary, the liquid inlet 120 of the nozzle plate 80 can be made smaller, and as a result, the nozzle hole can be reduced.
  • the degree of integration of 110 can be improved. Along with this, it becomes possible to draw high-resolution images.
  • the nozzle plate 80 can be manufactured easily and stably.
  • the nozzle plate 8 (80) of the above embodiment is characterized in that the thickness of the stopper layer 3 (30) is smaller than that of the first nozzle layer 1 (nozzle layer 10). It can also be.
  • the stopper layer 3 (30) is set thinner than the first nozzle layer 1 (nozzle layer 10).
  • the first nozzle layer 1 (nozzle layer 10) is directly applied to the photolithography technology without using the stopper layer 3 (30).
  • the first nozzle layer 1 or the second nozzle layer 2 is formed of a material selected from a high molecular weight organic material or Si or an inorganic silicon compound, respectively.
  • the stopper layer 3 can be characterized by being formed of a material having high resistance to the processing means of the first nozzle layer 1 or the second nozzle layer 2.
  • the nozzle plate 8 having the above configuration, since the first nozzle holes 11 a are formed in the first nozzle layer 1 so as to penetrate the stopper layer 3, the shape accuracy of the first nozzle holes 11 a is high. . Also, since the second nozzle hole 1 1b formed in the second nozzle layer 2 does not penetrate the stopper layer 3, the thickness of the first nozzle layer 1 is constant, and the variation in flow path resistance There is no.
  • the method of manufacturing the nozzle plate 8 (80) in the above embodiment includes a step of attaching the first nozzle layer 1 (nozzle layer 10) ′ and a step of attaching the first nozzle layer 1 (nozzle layer 10). Forming a stopper layer 3 (30) on the stopper layer 3; forming an opening in the stopper layer 3 (30); and forming the stopper layer 3 (30) on the stopper layer 3 (30). As the mask, the first nozzle hole 1 1a (1 10a) And a step of separating the first nozzle layer 1 (nozzle layer 10) from the supporting substrate.
  • the nozzle plate 8 (80) having the above structure, when forming the opening of the stopper layer 3 (30) serving as a mask for the first nozzle hole 11a (110a), 1 Since the nozzle layer 1 (nozzle layer 10) is supported by the support substrate, the above-described opening can be processed with high accuracy, and therefore, the first nozzle hole that is processed using this opening as a mask 1 1 a (1 1 0 a) is formed with high precision.
  • the method for manufacturing a nozzle plate according to the above embodiment may be characterized in that the processing of the first nozzle hole 11a or the second nozzle hole 11b is performed by dry etching.
  • the first nozzle hole 11a or the second nozzle hole 11b is processed by etching having high anisotropy.
  • the first nozzle hole 11a or the second nozzle hole The nozzle hole lib can be machined with high machining accuracy.
  • the shielding layer can also serve as a droplet discharge signal transmitting unit.
  • the nozzle plate according to the present invention can be applied to ink jets of any of a bubble jet (registered trademark) system, a piezoelectric ejection system, and an electrostatic ejection system.
  • FIG. 11 (a) is a perspective view of a part of the nozzle plate of the present invention used in the microdot forming apparatus, and FIG. It is arrow sectional drawing.
  • the nozzle plate 8 has one or more liquid material discharge outlets (opening or first opening) (hereinafter referred to as discharge outlets) 11 c. In FIG. 11 (a), two nozzles are provided.
  • the first nozzle layer 1 having a liquid-repellent film 4 on the liquid material discharge side of the nozzle plate 8, and the second nozzle layer on the liquid material supply side.
  • a layer 2 is formed, and a discharge layer 14 is formed in the first nozzle layer 1, and a stopper layer 3 (shielding layer) is formed in the second nozzle layer 2.
  • a nozzle hole 11 is formed so as to penetrate the first nozzle layer 1, the stopper layer 3, and the second nozzle layer 2).
  • the liquid-repellent film 4 is formed on the liquid material ejection surface of the nozzle plate 8, and the first nozzle layer 1 is formed so as to be in contact with the liquid-repellent film 4.
  • the ejection layer 14 is locally formed in the first nozzle 1 layer, and the surface of the first nozzle layer 1 on the lyophobic film 4 side and the surface of the ejection layer 14 on the lyophobic film 4 side are different. It is formed flush.
  • the second nozzle layer 2 is formed such that one surface thereof is in contact with the surface of the first nozzle layer 1 opposite to the surface on which the liquid repellent film 4 is formed.
  • the stopper layer 3 is locally formed in the second nozzle 2 layer such that one surface thereof is in contact with the first nozzle layer 1. .
  • the nozzle hole 11 penetrating the liquid-repellent film 4, the discharge layer 14, the first nozzle layer 1, and the second nozzle layer 2 is provided with the liquid-repellent film 4, the discharge layer 14, the first nozzle layer 1, and the nozzle hole 11.
  • the first nozzle hole 11 a is a penetrating portion of the top layer 3, and the second nozzle hole 11 b is a penetrating portion of the second nozzle layer 2.
  • the first nozzle hole 11 a is provided with a discharge port 11 c which is a penetrating portion of the liquid repellent film 4 and the discharge layer 14, and a penetrating portion of the first nozzle layer 1 and the stopper layer 3.
  • the first nozzle hole portion, which is a portion, is composed of 1 d force.
  • the discharge layer 14 is located at the interface between the liquid-repellent film 4 and the first nozzle layer 1 in the first nozzle layer 1 and is in contact with the liquid-repellent film 4 and the discharge port 1 1c
  • the stopper layer 3 is located at the interface between the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 in the second nozzle layer 2. In addition to being in contact with the first nozzle layer 1, it is formed locally at the position where the first nozzle hole lid is formed.
  • the liquid material supplied from the inlet opening of the second nozzle hole lib formed on the back surface of the nozzle plate 8 (the surface opposite to the surface on which the liquid-repellent film 4 is formed) ′ is supplied to the second nozzle hole 11 b and For example, the liquid is discharged as droplets from the discharge port 11 c via the first nozzle hole lid.
  • the shape at the time of discharging the liquid substance is not limited to the shape of a droplet.
  • the discharge port 11c and the first nozzle hole lid are both cylindrical, and the second nozzle hole 11b is , A tapered shape that expands flared from the communicating part with the first nozzle hole 11d
  • the upper bottom 11a of the cylindrical first nozzle hole 11d is formed in an annular shape centered on the substantially discharge port 11c, and the discharge layer 14 is formed by the upper bottom 11a. Success And exposed. Therefore, the diameter of the communicating part 11 jS (substantially circular) between the discharge port 11 c and the first nozzle hole 11 d is the outer diameter of the upper bottom 11 ⁇ of the first nozzle hole lid (the above-mentioned communicating part). The outer diameter of the first nozzle hole 11 d at 1 1 ⁇ ).
  • the upper bottom 11y of the second nozzle hole lib having a truncated cone shape is a ring shape centered on the substantially first nozzle hole 11d, and the stopper layer 3 is the upper bottom 11y. Is exposed. Therefore, the diameter of the communication portion 11 X (substantially circular) between the first nozzle hole 11 d and the second nozzle hole lib is the outer diameter of the upper bottom 11 y of the second nozzle hole 11 b (the above communication portion 1 The outer diameter of the second nozzle hole 1 1b at 1X).
  • a 0.5 ⁇ Ti film mainly containing Ti is used for the ejection layer 14. Also, a polyimide film having a thickness of about 1 m is used for the first nozzle layer 1, and a polyimide film having a thickness of about 20111 is used for the second nozzle layer 2.
  • the stopper layer 3 is made of a metal material containing Ti as a main component, and has a substantially square shape with a side of about 20 ⁇ m in order to reduce warpage due to stress of the entire nozzle plate 8.
  • the diameter of the discharge port 11 c corresponding to the opening of the first nozzle hole 11 a is about 3 ⁇ m.
  • the outer diameter of the upper bottom 11y of the second nozzle hole 11b is 1 O / ⁇ m, and the diameter of the inlet opening (liquid inlet 12) is 30 ⁇ .
  • the liquid-repellent film 4 on the ejection layer 14 and the first nozzle layer 1 is formed of a fluoropolymer or silicon-based polymer film having a thickness of about 0 to 0.5 m. Yes.
  • the liquid-repellent film 4 removes an extra area that goes around the discharge port 11c by dry etching as described later, but prevents the shape of the discharge pile from being significantly deformed by the dry etch. In addition, it is desirable that the film thickness is smaller than the film thickness of the discharge port 11c.
  • the shape of the discharge port 11c of the nozzle plate 8, which greatly affects the landing accuracy, is determined by the processing accuracy of the Ti film of 0.5 m.
  • the processing accuracy of the exit 1 1c is very high, and with this, a very high landing accuracy can be secured.
  • the thickness of the ejection layer 14 may be reduced. As a result, the amount of etching of the ejection layer 14 is reduced, so that the time for exposing the ejection layer 14 to the etching agent can be shortened.
  • the rigidity of the ejection layer 14 may be reduced, and the structural reliability of the ejection port 11 c may be reduced.
  • the discharge layer 14 Since the discharge layer 14 is formed so as to be in contact with the surface of the first nozzle layer 1 on the liquid repellent film 4 side and inside the first nozzle layer 1, the discharge layer 14 is reinforced. Therefore, the shape accuracy of the discharge port 11c can be improved while maintaining the structural reliability of the discharge port 11c.
  • the stopper layer 3 is provided locally at each position where the nozzle holes 11 (first nozzle holes 11 d) are formed, the stopper layer 3 is formed between the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2. Compared to the configuration in which the stopper layer 3 is formed over the entire interface, the generation of stress due to the difference in the linear expansion coefficient between the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 and the stopper layer 3 is greatly reduced. Therefore, it is possible to prevent the nozzle plate 8 from being largely warped.
  • the second nozzle hole lib is tapered, the second nozzle hole 1 Liquid turbulence does not easily occur inside 1b, and the discharge stability of the liquid substance can be improved.
  • the liquid repellent film 4 can prevent the liquid substance from adhering to the ejection layer 14 near the ejection port 1.1c.
  • the material used for the ejection layer 14 is not limited to a metal material containing Ti as a main component.
  • the etching process of the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2, the etching of the sacrificial layer 5 (see FIG. 13 (f)) described later, and the etching process of the liquid-repellent film 4 wrapped around the discharge port 11 c At this time, materials having high resistance to such etching, ie, etching gas (plasma containing oxygen, plasma containing fluorine, etc.) or etchant (a nitric acid, potassium hydroxide aqueous solution, etc.) Any material having high resistance may be used.
  • T i, A l, C u, C o, F e, N i, A u, P t, T a, W metal mainly composed of N b such material, S i 0 2, inorganic oxide material composed mainly of a 1 2 0 3 or the like, an inorganic nitride material, and the like composed mainly of S i 3 N 4, a 1 N , etc., in combination with the Etsuchingugasu or Etchan DOO You can choose.
  • the material used for the first nozzle layer 1 is not limited to polyimide. It may be a polymer organic material other than polyimide, a Si compound material such as sio 2 , Si 3 N 4 , or Si.
  • the material used for the stopper layer 3 is not limited to a metal material containing Ti as a main component.
  • a material having high resistance to such etching that is, an etching gas (oxygen gas) is used. Contain Any material may be used as long as it has high resistance to plasma (eg, plasma containing fluorine) or etchant (eg, nitric acid, potassium hydroxide aqueous solution). Specifically, T i, A l, C u, C o, F e,.
  • N i, A u, P t, T a, W metal mainly composed of N b such material, S i ⁇ 2 , inorganic oxide material composed mainly of a 1 2 03, etc., an inorganic nitride material mainly composed of S i 3 N 4, a 1 N , and the like.
  • the material used for the second nozzle layer 2 is not limited to polyimide.
  • the material used for the second nozzle layer 2 may be a polymer organic material other than Porii Mi de, S i 0 2, S i 3 N 4 such S i compound material or S i derconnection may,.
  • the shape of the discharge layer 14 may be any shape as long as it is localized at the position where the discharge port 11c is formed, and is not limited to a substantially square shape.
  • it may be circular.
  • a circular shape is preferable because the shape is the most isotropic and the stress is also reduced isotropically.
  • one ejection layer 1 in this embodiment, one ejection layer 1
  • one of the discharge ports 1 1 c are formed against it if it is possible to suppress the stress from the limiting c of conventional configuration to a plurality of discharge ports in a single ejection layer 1 4 11c may be formed.
  • the shape of the stopper layer 3 only needs to be localized at the position where the nozzle hole 11 is formed, and is not limited to a substantially square shape. For example, it may be circular. A circular shape is preferable because the shape is the most isotropic and the stress is reduced isotropically.
  • one nozzle hole 11 (first nozzle hole lid) is formed for one stopper layer 3. It is not limited to. '' Lower stress than conventional configuration If possible, a plurality of nozzle holes 11 (first nozzle hole lid) may be formed in one stopper layer 3.
  • the force S is set so that the diameter of the discharge port 11c is slightly smaller than the diameter of the first nozzle hole 11d.
  • the diameter of the discharge port '11c and the diameter of the first nozzle hole 11d may be the same.
  • the diameter of the communication portion 11X between the first nozzle hole portion 11d and the second nozzle hole lib is equal to the diameter of the second nozzle hole lib. It is smaller than the diameter of the upper base 1 1 y, but is not limited to this.
  • the diameter of the communication portion 11X may be the same as the diameter of the contact portion 11y.
  • the second nozzle hole lib has a truncated conical shape (tapered shape) in which the communicating portion 11X with the first nozzle hole 11a (first nozzle hole lid) is narrowed.
  • the side wall of the second nozzle hole l ib may be formed in a so-called straight shape (cylindrical shape) perpendicular to the stopper layer 3.
  • the liquid inlet 12 of the second nozzle hole l i b can be made smaller, and the degree of integration of the nozzle 11 can be further increased.
  • the second nozzle hole l ib may have a bulging tapered shape as shown in FIG. 8 (c).
  • the nozzle plate 8 is configured to include the discharge layer 14, the first nozzle layer 1, the stopper layer 3, and the second nozzle layer 2.
  • Discharge layer 1 4 force Material with high resistance to etching means of liquid repellent film 4
  • the shape of the discharge port 1 1c does not change. Deterioration of processing accuracy can be prevented.
  • the rigidity of the discharge layer 14, which is a thin layer, can be maintained by the first nozzle layer 1. At the time of discharge, deformation of the discharge port 11c can be minimized, and discharge stability is improved.
  • the thickness of the nozzle plate 8 can be kept to the minimum necessary, the liquid inlet 12 of the nozzle plate 8 can be reduced, thereby improving the degree of integration of the nozzle holes 11. be able to. Along with this, it becomes possible to draw high-resolution images.
  • the size of the liquid material to be discharged is controlled.
  • the discharge port 11c is not affected.
  • FIGS. 13 (a) to 13 (g) are diagrams illustrating the steps of manufacturing the nozzle plate according to the present embodiment.
  • FIG. 14 is a modified example of the step shown in FIG. 13 (c).
  • a sacrificial layer 5 is formed on a substrate 6 made of Si, glass, or the like for temporary holding of an arbitrary thickness by wet plating using Ni (see FIG. 13 (a)).
  • the thickness of the sacrificial layer 5 is 10 ⁇ .
  • a Ti film having a thickness of 0.5 ⁇ is formed on the sacrificial layer 5 by vapor deposition or the like, and is formed into a substantially square shape with a side of 7 zm using photolithography.
  • a resist pattern having an outer shape of 4 and a shape of a circular discharge port 11 c having a diameter is formed. Thereafter, the outer shape of the discharge layer 14 and the opening 11ci serving as the discharge port 11c are simultaneously processed by a dry etching method (discharge layer forming step).
  • Dry etching using plasma containing a mixed gas of CF 4 and oxygen was employed for the processing of the outer shape and the opening 11 ci of the ejection layer 14 described above.
  • the Ti film can be processed at high speed and with high accuracy, and the etching selectivity with Ni constituting the sacrificial layer 5 is high (N i is hardly etched).
  • the processing can prevent the sacrificial layer 5 from being significantly damaged and prevent the flatness of the surface of the sacrificial layer 5 from significantly deteriorating.
  • a coating type polyimide resin is formed to a thickness of 1 ⁇ m on the sacrificial layer 5 to form a first nozzle layer 1 (first nozzle layer forming step, FIG. 13B).
  • the coating type polyimide resin was applied on the sacrificial layer 5 by spin coating, and baked at 350 ° C. for 2 hours.
  • the opening 11 ci serving as the discharge port 11 c formed in the discharge layer 14 is filled with polyimide resin (see 11 c 2).
  • shielding layer forming step FIG. 13 (c)
  • a stopper layer 3 having a thickness of 0.5 ⁇ (500 5) is formed by a sputtering method using a material mainly containing T i.
  • the stopper layer 3 is formed into a substantially square shape having a side of 20 ⁇ m by dry etching using Ar ions such as ion milling. Process into shape.
  • one opening 11 di (second opening) having a diameter of 3 zm is formed inside the above-described substantially square.
  • the opening 11 d is a pattern for forming a first nozzle hole 11 a (first nozzle hole lid) described later, and forms a part of the first nozzle hole 11 d.
  • the second nozzle layer 2 is formed with a thickness of 20 wm on the first nozzle layer 1 and the stopper layer 3 (second nozzle hole forming step, FIG. 13 (d)).
  • the second nozzle layer 2 was formed by applying a coating type polyimide resin by a spin coat method in the same manner as the first nozzle layer 1, and baked at 350 ° C. for 2 hours to have a thickness of 20 m.
  • the opening 11 d; L of the stopper layer 3 is also filled with the polyimide resin (see 11 d 2 ).
  • a resist pattern 7 is formed on the second nozzle layer 2 by photolithography, and dry etching is performed using a gas containing oxygen as a main component.
  • the dry etching can be stopped at the stopper layer 3. That is, dry etching does not proceed further in the portion where the stop layer 3 is exposed except for the opening 11 d i of the stop layer 3.
  • the etch rate of the resist pattern 7 and the etch rate of the polyimide resin of the second nozzle layer 2 are made substantially equal, and the resist pattern is formed.
  • the resist pattern 7 was formed into a taper shape by subjecting 7 to a post beta at 150 ° C. for 60 minutes, and a method of transferring this shape to the second nozzle layer 2 by etching was used.
  • a resist pattern 7 having an etch rate substantially equal to that of the polyimide resin (second nozzle layer 2) and having a tapered cross section is formed, and has the same speed as the etching of the polyimide resin.
  • the polyimide resin (the second nozzle layer 2) is also etched, and the wall surface of the etching (the wall surface of the second nozzle hole lib) has a tapered wall surface (the resist pattern) initially formed by the resist. It has the same shape as 7).
  • the resist pattern 7 and the etch rate of the second nozzle layer 2 are substantially equal, it is desirable that the resist pattern 7 be formed to be thicker than the second nozzle layer 2.
  • the first nozzle layer 1 is subjected to etching for processing the first nozzle holes 11a (the first nozzle holes 11d and the discharge ports 11c). Perform the process (first nozzle hole forming step, first removing step, see Fig. 13 (e)). At this time, the first nozzle hole 11a has a shape (substantially circular, 3 ⁇ m in diameter) determined by the opening 11 of the stopper layer 3 formed by the first nozzle hole lid in the previous step. ), And the discharge port 11 c is formed in the pattern formed in the discharge layer 14 (having the same shape as the opening 11 c (that is, the pattern existing in the opening llci of the discharge layer 14). 1. Material of nozzle layer 1 (1
  • the stopper layer 3 and the ejection layer 14 are hardly etched by the dry etching mainly containing oxygen in this step.
  • the first nozzle layer 1 is etched to have substantially the same diameter as the opening 11 d 1 of the stopper layer 3 (substantially perpendicular to the stopper layer 3), and the outlet 11 c of the discharge layer 14 is removed.
  • the dry etching is stopped when the portion to be removed is exposed, and the first nozzle hole 11d is formed.
  • the first nozzle layer 1 material present in the opening 1 1 c of the ejection layer 1 4 (see 1 1 c 2) is etched away, the discharge port 1 1 c is formed.
  • the resist pattern 7 was removed using a resist stripper, and the nozzle plate 8 was removed from the substrate 6 by immersing it in an aqueous solution mainly composed of nitric acid and water and etching only the sacrificial layer 5. Remove (Fig. 13 (f)).
  • the polyimide resin for forming the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 and the Ti for forming the stopper layer 3 or the ejection layer 14 are formed of the sacrificial layer 5 described above. Since the etching is hardly performed by the etching solution, the etching of the sacrificial layer 5 does not cause a change in shape or a decrease in structural reliability.
  • a liquid-repellent film 4 is formed on the surface of the first nozzle layer 1 (FIG. 13 (g)).
  • a fluoropolymer is used for the purpose of considering the ease of application.
  • a lyophobic film 4 was formed from a polymer film.
  • the lyophobic film 4 wrapped into the first nozzle hole 11a is dry-etched from the side of the second nozzle hole 11b using plasma containing oxygen after the lyophobic film 4 is formed. This has been removed. Thereby, the damage of the nozzle plate 8 can be minimized. The details will be described below.
  • FIGS. 17 (a) to 17 (c) are diagrams for schematically explaining the dry etching process when removing the wraparound of the liquid repellent film 4, and show the first nozzle hole 11 a and the discharge layer 1.
  • FIG. 4 is an enlarged view of a discharge port 11 c formed in FIG. That is, when the liquid-repellent film 4 is applied and baked on the liquid material ejection surface side of the nozzle plate 8, as shown in FIG. 17 (a), the liquid-repellent film 4 turns around the first nozzle hole 11a ( It is attached to the inner wall of the discharge port 11c and the first nozzle hole 11d).
  • Such wrapped liquid-repellent film 4 has to be removed because it becomes a major factor in deteriorating the shape accuracy of the first nozzle hole 11a (especially the outlet 11c).
  • the liquid-repellent film 4 that has wrapped around in this manner is removed by dry etching using an oxygen-containing plasma.
  • an organic material such as polyimide resin is formed on the first nozzle layer 1.
  • side nozzles are formed in the first nozzle layer 1 formed below the shielding layer 3 and undercuts are formed below the shielding layer 3 as shown in Fig. 17 (b).
  • a driver using oxygen-containing plasma is used.
  • the discharge layer 14 having high resistance to the dry etching is formed so as to be in contact with the liquid-repellent film 4, and the discharge layer 14 determines the shape of the discharge port 1lc. There is no change in the shape of the discharge port 11c due to this (see Fig. 17 (c)). As a result, a very high precision nozzle hole 11 (first nozzle hole 11a) can be formed. '
  • each discharge port 11 c of the nozzle plate 8 having 200 discharge ports 11 c formed using the process of the present embodiment was evaluated, the variation was ⁇ 0.15. Very high precision of ⁇ m. In addition, the warpage of nozzle plate 8 was very flat, less than 10 ⁇ .
  • the discharge port 11c (the opening 11c has a thickness of 0.
  • the discharge port 11 c can be formed with high precision.
  • the discharge layer 14 functions as an etching stopper that defines the shape of the discharge port 11c, and as the etching progresses.
  • the first nozzle hole 1 1 d is etched to etch the first nozzle layer 1 using the topper layer 3 as a mask (shielding layer). Can be formed with high precision.
  • the etching is automatically stopped at the stopper layer 3, and the etching depth of the second nozzle hole lib is defined. be able to.
  • the first nozzle hole 11d can be formed with higher precision.
  • the first nozzle layer 1 or the second nozzle layer 2 can be formed thin, the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 are not etched when the first nozzle hole 11 d and the second nozzle hole lib are etched.
  • the etching amount of the nozzle layer 2 can be reduced, and the formation error is reduced. Therefore, the nozzle holes 11 can be formed with high accuracy.
  • the stopper layer 3 is etched from one direction, the etching is performed from two directions so as to face each other. As compared with the case where the first nozzle hole 11a and the second nozzle hole 11b are aligned with each other, it is easier.
  • the etching in the first nozzle hole forming process is performed.
  • the etching of the first nozzle hole forming step and the second nozzle hole forming step can be performed using the apparatus and the etching liquid or the etching gas as they are. This simplifies the manufacturing process.
  • Ni is used as the sacrificial layer 5
  • polyimide resin and the stopper layer 3 are used as the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2.
  • T i was used for the calculation, but it is not limited to this combination.
  • the sacrificial layer 5 may be made of Al, Cu, or the like depending on the combination of the materials used for the first nozzle layer 1, the second nozzle layer 2, and the stopper layer 3. Materials that are soluble in nitric acid or KOH aqueous solution, or materials that can be etched by oxygen plasma, such as polyimide, can be used. Also, as for the method of forming the sacrificial layer 5, besides plating, a vapor deposition method, a spatter method, a coating method, or the like can be used depending on the material.
  • a material that is slightly damaged by the etching of the sacrificial layer 5 can be used.
  • a material having high resistance to the etching of the sacrificial layer 5 and the etching of the first and second nozzle holes 11a and 1lb is used. it can.
  • Table 3 shows the materials used (sacrifice layer, discharge layer, first nozzle layer, stopper layer, second nozzle layer) and processing methods (discharge layer, stopper layer, first nozzle hole, Preferred combinations are shown below for the second nozzle hole and sacrificial layer removal).
  • the first nozzle layer 1, the second nozzle layer 2 is not limited to good Una polymeric organic material Porii Mi de ⁇ fat-free machine silicon, such as S i or S i o 2
  • Porii Mi de ⁇ fat-free machine silicon such as S i or S i o 2
  • the compound can be selected.
  • the silicon compounds such as the S i 0 2 and S i wrap around the aforementioned Since it has high resistance to the etching means for removing the liquid repellent film 4, the shape change of the first nozzle hole 11a can be prevented, and the shape stability of the discharge port 11c can be further improved. improves.
  • the stop layer 3 can be patterned while keeping the thickness to a minimum.
  • the ejection layer 14 in the ejection layer forming step or the stopper layer 3 (in the shielding layer forming step) is formed in a square shape, but is not limited thereto.
  • the first nozzle hole 11a first nozzle hole lid
  • the second nozzle hole 11b Any shape and size may be used so that the nozzle holes lib reach the discharge layer 14 or the stopper layer 3, respectively, and stop the etching.
  • the shape and shape of the nozzle plate 8 can reduce the warpage of the nozzle plate 8 due to the stress of the discharge layer 14 or the stopper layer 3. And the size, that is, the minimum required size.
  • the shape of the stopper layer 3 and the opening 11 d.i serving as the pattern for forming the first nozzle hole 11 d were simultaneously formed. It can also be formed by an etching step (etching for forming the shape of the stopper layer 3 and etching for forming the opening 11 d ⁇ ).
  • the first nozzle hole lid in forming the processing pattern of the first nozzle hole lid (the opening 11 d of the stopper layer 3 in the shielding layer forming step, as shown in FIG. 14, the first nozzle hole 1
  • the first nozzle hole lid when forming the second nozzle layer 2, the first nozzle hole lid previously processed is filled with the material for forming the second nozzle layer 2. Therefore, in the first nozzle hole forming step, the relevant portion is processed again.
  • the mask material and etching conditions for processing the second nozzle hole 11b are optimized, and the side wall is formed as shown in FIGS. 8 (a) to 8 (c).
  • the second nozzle hole 11b having a bulge (curved surface) can also be formed.
  • a mask 13 is formed on the second nozzle layer 2 by using a mask 13 such as Si ⁇ 2 having high resistance to oxygen plasma etching. 8 (a)), and etch the oxygen plasma etch at a high gas pressure, eg, 500 mTorr (see FIG. 8 (b)).
  • a high gas pressure eg, 500 mTorr
  • a droplet discharge port 11c having substantially the same shape (diameter) as the opening 11Cl can be formed, and the discharge port 1 has a dramatic shape accuracy.
  • Nozzle plate 8 with 1 c can be manufactured c
  • the shape of the discharge port 11 c does not change.
  • the nozzle plate 8 with high shape accuracy can be stably manufactured.
  • the reinforcing plate 20 having the second nozzle hole 11 b may be joined to the first nozzle layer 1. That is, a liquid-repellent film 4 is formed on the liquid substance discharge side, a first nozzle layer 1 having a first nozzle hole lid is formed so as to be in contact with the liquid-repellent film 4, and has a discharge port 11c.
  • the ejection layer 14 is locally formed in the first nozzle 1 layer, and the surface of the ejection layer 14 on the liquid repellent film 4 side is flush with the surface of the first nozzle layer 1 on the liquid repellent film 4 side.
  • the first nozzle layer 1 has a local stopper layer 3 in contact with this one side.
  • the reinforcing plate 20 having the second nozzle hole lib is joined together, and the discharge port 11c, the first nozzle hole 11d and the second nozzle hole 11b communicate with each other. It may be. .
  • Embodiment 4 of the present invention is described below with reference to the drawings.
  • FIG. 15 (a) is a perspective view of a part of a nozzle plate of the present invention used in a microdot forming apparatus
  • FIG. 15 (b) is a cross-sectional view of B_B in FIG. 15 (a).
  • the nozzle plate 8 is provided with one or more liquid material discharge outlets (opening or first opening) (hereinafter referred to as discharge outlets) 11c. In FIG. The outlets 1 1c are shown.
  • a layer 2 is formed, and a discharge layer 14 is formed in the first nozzle layer 1.
  • the discharge layer 14 penetrates the liquid repellent film 4, the discharge layer 14, the first nozzle layer 1, and the second nozzle layer 2. Thus, the nozzle hole 11 is formed.
  • a liquid-repellent film 4 is formed on the liquid material discharge surface of the nozzle plate 8, and the first nozzle layer 1 is formed so as to be in contact with the liquid-repellent film 4.
  • the ejection layer 14 is locally formed in the first nozzle 1 layer, and furthermore, the surface of the first nozzle layer 1 on the liquid repellent film 4 side and the surface of the ejection layer 14 on the liquid repellent film 4 side. Are formed flush with each other.
  • the second nozzle layer 2 is formed such that one surface thereof is in contact with the surface of the first nozzle layer 1 opposite to the surface on which the liquid repellent film 4 is formed.
  • the nozzle hole 11 penetrating the liquid-repellent film 4, the ejection layer 14, the first nozzle layer 1, and the second nozzle layer 2 has the liquid-repellent film 4, the ejection layer 14, and the first nozzle layer 11. It comprises a first nozzle hole 11 a which is a penetrating part of the nozzle layer 1 and a second nozzle hole 11 b which is a penetrating part of the second nozzle layer 2. Further, the first nozzle hole 11 a is provided with a discharge port 11 c which is a penetrating part of the liquid repellent film 4 and the discharge layer 14, and a first nozzle hole 1 which is a penetrating part of the first nozzle layer 1. Consists of 1 d.
  • the discharge layer 14 is located at the interface between the liquid-repellent film 4 and the first nozzle layer 1 in the first nozzle layer 1, and comes into contact with the liquid-repellent film 4, and the discharge port 1 It is formed locally at the formation position of 1c.
  • the liquid material supplied from the opening of the second nozzle hole 11 1b formed on the back surface of the nozzle plate 8 (the surface opposite to the surface on which the liquid repellent film 4 is formed) is supplied to the second nozzle hole lib and the second nozzle hole lib.
  • the liquid is discharged as a liquid substance through the discharge port 11c through the first nozzle hole lid.
  • both the discharge port 11 c and the first nozzle hole 11 d have a cylindrical shape
  • the second nozzle hole 11 b is Nozzle hole 1 1d
  • the upper bottom 11 of the cylindrical first nozzle hole 11d is substantially annular in shape centering on the discharge port 11c, and the discharge layer 14 is formed of the upper bottom 11 ⁇ . It is exposed.
  • the discharge layer 14 is made of a metal material containing Pt as a main component, and has a thickness of 0.5 ⁇ and a side of 10 ⁇ m in order to reduce the stress of the entire nozzle plate 8. Is formed in a substantially square shape.
  • the first nozzle layer 1 of the present embodiment is a Si 2 layer having a thickness of 2 ⁇ .
  • the second nozzle layer 2 is made of an organic material containing a polyimide resin as a main component, and has a thickness of 20.
  • the diameter of the discharge port 11 c is 3 ⁇ , and the discharge port 11 c is processed perpendicularly to the film surface up to the portion communicating with the first nozzle hole 11 d.
  • the first nozzle hole lid is machined to a diameter of 4 ⁇ . ⁇ at the communication part with the discharge port 11 c, so that the lid is substantially flush with the membrane surface up to the communication part with the second nozzle hole 11 b. It is machined vertically.
  • the second nozzle hole lib is machined to a diameter of 10 ⁇ m at the communicating part with the first nozzle hole 11d, and has a tapered shape (frustoconical shape) that spreads out at the bottom. 2 Opened at the opening 12 opposite to the liquid repellent film 4 through the nozzle layer 2.
  • the ejection port 1 1 is etched by etching the first nozzle hole 11 d.
  • the shape of 1c can be prevented from being deformed.
  • the shape of the discharge port 11 c of the nozzle plate 8 that greatly affects the landing accuracy is determined by the processing accuracy of the 0.5 ⁇ m Pt film, the processing accuracy of the discharge port 11 c is improved. Very high, and with this, very high landing accuracy can be ensured.
  • the processing accuracy of the discharge port 11 c can be improved, but the rigidity of the discharge layer 14 decreases, and the structural characteristics of the discharge port 11 c are reduced. Reliability is reduced.
  • the first nozzle layer 1 is formed so as to be in contact with the ejection layer 14, The discharge layer 14 is reinforced, and the shape accuracy of the discharge port 11 c can be improved without lowering the structural reliability of the discharge layer 14.
  • the shape of the first nozzle hole 11d is formed by processing the second nozzle hole lib.
  • the first nozzle layer 1 is not completely removed due to over-etching during lib machining of the second nozzle hole, while not significantly deforming.
  • the material used for the ejection layer 14 is not limited to a metal material containing Pt as a main component.
  • Etching of the first nozzle hole 11a, etching of the second nozzle hole 11b, etching of the sacrificial layer 5 (described later), and etching of the liquid-repellent film 4 that has entered the discharge port 11c ( At this time, a material having high resistance to the etching, that is, a material having high resistance to plasma containing fluorine, plasma containing oxygen, nitric acid, potassium hydroxide aqueous solution, or the like may be used. It can be selected by a combination of the etching of the sacrificial layer 5, the processing method of the first nozzle hole 11a, and the method of processing the second nozzle hole lib.
  • a l, A u , P t, A 1 2 0 3, A 1 N a metal material or inorganic oxide mainly comprising S i 0 2, etc. Materials and inorganic nitride materials.
  • the material used for the first nozzle layer 1 is not limited to S i ⁇ 2.
  • the material used for the second nozzle layer 2 is not limited to polyimide, either. Any material that can be favorably processed by dry etching using plasma containing oxygen gas can be used. For example, an organic resin other than polyimide may be used.
  • the shape of the ejection layer 14 may be any shape as long as it is localized at the position where the ejection port 11 c is formed, and is not limited to a substantially square shape. For example, it may be circular. A circular shape is preferable because the shape is the most isotropic and the stress is reduced isotropically. Further, as shown in FIG. 15 (a), in the present embodiment, one discharge port 11c is formed for one discharge layer 14, but the present invention is not limited to this. A plurality of discharge ports 11 c may be formed in one discharge layer 14.
  • the second nozzle hole l ib is
  • the communicating part 11d with 1d has a frustoconical shape (tapered shape) with a narrowed X, but is not limited to this.
  • the side wall of the second nozzle hole 11b may be formed in a so-called straight shape (cylindrical shape) perpendicular to the surface of the nozzle plate 8.
  • the liquid inlet 12 of the second nozzle hole lib can be made smaller, and the degree of integration of the nozzles can be further increased.
  • the nozzle plate 8 is provided with the first nozzle layer 1 and the second nozzle layer 2 which are highly resistant to the etching agent of the first nozzle layer 1 and the ejection layer 14 and the second nozzle layer 2 which are resistant to the etching agent of the second nozzle layer 2.
  • the ejection layer 14 uses a material having high resistance to the etching means of the liquid-repellent film 4, the liquid-repellent film 4 that has entered the first nozzle hole 11a is removed. At this time, the shape of the discharge port 11c does not change, and it is possible to prevent the processing accuracy of the discharge port 11c from deteriorating in the manufacturing process.
  • FIGS. 16 (a) to 16 (g) show a manufacturing process of the nozzle plate according to the present embodiment.
  • a method for manufacturing the nozzle plate according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 16 (a) to 16 (g).
  • a sacrifice layer 5 is formed on a substrate 6 made of Si, glass, or the like for temporary holding of an arbitrary thickness by wet plating using Ni.
  • the thickness of the sacrificial layer 5 is 10 m.
  • a 0.5 ⁇ m-thick Pt film is formed on the sacrificial layer 5 by vapor deposition or the like, and the outer shape of the discharge layer 14 and the discharge port 11 c are formed using photolithography. A resist pattern having the shape of is formed. Thereafter, the outer shape of the discharge layer 14 and the opening 11ci serving as the discharge port 11c are simultaneously processed by dry etching (discharge layer forming step, FIG. 16 (a)).
  • the dry etching is performed by a method in which physical processing is dominant, using sputter etching using Ar. .
  • this processing is performed with very high precision, etching conditions with high anisotropy are used.
  • the first consisting of S i ⁇ 2 film on the sacrificial layer 5 or the discharge layer 1 4
  • the nozzle layer 1 is formed by the P_CVD method (first nozzle layer forming step, FIG. 16 (b)).
  • the stress of the SO 2 ⁇ film to be formed can be controlled by the composition of the gas used for the film formation, the gas pressure, and the RF power for generating the plasma, and the stepped portion can be controlled. Because of good adhesion, cracks and the like do not occur at the step portion of the discharge layer 14. Therefore, the structural reliability as a film is high, so that the structural reliability of the entire nozzle plate 8 is high.
  • a resist pattern is formed on the first nozzle layer 1 by photolithography, and an opening 11 d to become the first nozzle hole 11 d is formed by reactive ion etching (RIE) containing fluorine gas.
  • RIE reactive ion etching
  • the opening 11 ci serving as the discharge outlet 11 c are processed (first nozzle hole forming step, first removing step, Fig. 16 (c)).
  • the shape of the opening 11 di is larger than the opening 11 ci so that the etching of the first nozzle hole 11 d stops at the discharge layer 14 (and the shape of the discharge layer 14 (Smaller than the outer shape)
  • a coating type polyimide resin having a thickness of 20 ⁇ m is formed on the first nozzle layer 1 to form a second nozzle layer 2 (second nozzle layer forming step, FIG. 1). 6 (d)).
  • the coating type polyimide resin was applied onto the first nozzle layer 1 by spin coating, and was baked at 350 ° C. for 2 hours.
  • the openings 11 d and 11 c 1 are filled with polyimide resin (see 11 c 2 and 11 d 2 ).
  • a resist pattern 7 is formed on the second nozzle layer 2 by photolithography (FIG. 16 (e)).
  • the first nozzle hole 11 d and the discharge port 1 l'c are formed continuously, and the etching is stopped at the discharge layer 14 (the discharge port 11 c of the discharge layer 14).
  • dry etching stops when the discharge layer 14 is exposed.
  • the present invention is not limited to this.
  • the above etching is intentionally stopped at the first nozzle layer 1, and the formation of the discharge port 11 c (etching of the portion 11 c 2 filled with the first nozzle layer 1) is performed in another step (different method or condition). Etching is also possible.
  • the shape of the first nozzle hole 11a filled with the polyimide resin in the previous process is reproduced by the removal of the polyimide resin.
  • the previous shape 1 1 Cl is reproduced.
  • the resist pattern 7 is removed using a resist stripper.
  • the laminate to become the nozzle plate 8 is removed from the substrate 6 by dipping in an aqueous solution containing nitric acid and water as main components and etching only the sacrificial layer 5 (FIG. 16 (f)).
  • a liquid-repellent film 4 is formed on the surface of the first nozzle layer 1 (see FIG. 16 (g) BS).
  • a fluoropolymer was used for the purpose of considering the ease of application, and this was applied to the surface of the first nozzle layer 1 by a method such as a stamp, and the liquid-repellent film 4 was formed by a polymer film. .
  • the lyophobic film 4 wrapping into the first nozzle hole 11a is dry-etched from the side of the second nozzle hole 11b using plasma containing oxygen after the lyophobic film 4 is formed. This was removed, and nozzle plate 8 was completed. Thereby, the damage of the nozzle plate 8 can be minimized.
  • N i the sacrificial layer 5, S i 0 2 to the ejection layer 1 4 P i :, first nozzle layer 1, polyimide resin in the second nozzle layer 2, was used, It is not limited to this combination.
  • the sacrificial layer 5 may be composed of a nitric acid solution such as Al, Cu, etc. Can be used.
  • a vapor deposition method, a sputtering method, a coating method, or the like can be used depending on the material other than the plating.
  • the second nozzle layer 2 can be made of a material that is slightly damaged by the etching of the sacrificial layer 5.
  • an organic resin that can be etched using a plasma containing oxygen is preferable.
  • an organic resin having a molecular structure in which molecular chains are crosslinked with each other is used, the heat resistance and the environmental resistance of the second nozzle layer 2 are high, and the reliability of the nozzle plate 8 can be improved.
  • the ejection layer 14 and the first nozzle layer 1 can be made of a material having high resistance to etching of the sacrificial layer 5 and etching of the second nozzle hole 11b. +
  • a material having high resistance to the etching of the sacrificial layer 5, the etching of the second nozzle holes 11b, and the etching of the first nozzle holes 11a can be used for the ejection layer 14.
  • Table 4 shows the materials used (sacrifice layer, ejection layer, first nozzle layer, second nozzle layer, nozzle layer) and processing methods (ejection port, first nozzle hole, second nozzle hole, removal of sacrificial layer). Preferred combinations are shown.
  • the first nozzle layer 1 is not limited to the S i Compound Do you Yo of S i ⁇ 2, if it is possible to use a concentrated nitric acid to the etching of the sacrificial layer 5, the surface not It is possible to use a material such as A1 that works. It is possible to work with a high selectivity to the S io 2 by dry etching using a plasma containing A 1 Haji first gas can be increased to the al machining accuracy of the discharge ports 1 1 c.
  • the liquid-repellent film 4 is not limited to a fluoropolymer, but may be a silicon-based polymer film, DLC (diamond-like carbon), or the like.
  • the liquid-repellent film 4 that has turned into the first nozzle hole 11a is removed, and at this time, the discharge port 11c is removed. Since the shape does not change, the nozzle plate 8 having the first nozzle holes 11a with high forming accuracy can be stably manufactured.
  • the first nozzle hole 11a or the second nozzle hole 11b is processed by etching having high anisotropy. 2
  • the nozzle hole lib can be machined with high machining accuracy.
  • the manufacturing method of the nozzle plate 8 in the above embodiment is that the processing of the discharge port 1.1c, the first nozzle hole 11a or the second nozzle hole 11b is performed by dry etching. It can also be a feature.
  • the ejection layer 14 or the first nozzle layer 1 is formed on the sacrificial layer 5 formed on the substrate 6, TO
  • the ejection layer 14 provided with the ejection port 11c which requires high shape accuracy, is protected by the sacrificial layer 5 and the substrate 6 until the final stage of the nozzle manufacturing process.
  • the outlet 1 1c will not be damaged by the handling of.
  • the nozzle plate 8 can be easily manufactured while maintaining the high accuracy of the shape of the discharge port 11 c, so that the nozzle plate 8 having the high-precision discharge port 11 c can be stably manufactured. As a result, the production yield of the nozzle plate 8 can be improved.
  • a configuration in which the liquid-repellent film 4 is not formed can be adopted.
  • the shape accuracy of the ejection port 11c is further improved.
  • the present invention relates to an electrophotographic developing device and an image forming device for visualizing an electrostatic latent image formed on an image carrier using a developer, and PT / JP2004 / 006226
  • the present invention can be used for applications such as a developing device and an image forming device that transport a developer to a developing position on an image carrier using a traveling wave electric field.

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Abstract

 本発明のノズルプレートは、液状物質を吐出する第1ノズル穴(オリフィス)(11a)を有する第1ノズル層(1)と、第1ノズル穴(11a)と連通し、上記液状物質の供給を受ける第2ノズル穴(11b)を有する第2ノズル層(2)との間に、第1ノズル層(1)よりエッチングに対する耐性が高い遮蔽層(3)を介在させたノズルプレート(8)において、上記遮蔽層(3)は、第1ノズル穴(11a)および第2ノズル穴(11b)が連通する連通部の周囲に、局所的に形成されている。これにより、このノズルプレートは、高い形成精度の第1ノズル穴を備え、かつ、反り等の変形のおそれが少ない。

Description

明 細 書 ノズルプレー ト及びその製造方法 技術分野 .
本発明は、 微小 ドッ トによる微細パターンを形成する、 微小ドッ ト形 成装置に用いるノズルプレー トの構造とその製造方法に関するものであ る。 . ― 背景技術
従来においては、 インクジエツ トプリ ンタ一は専ら紙を媒体と し、 文 字通りプリ ンタ一と して利用されてきた。 ところが、 近年イ ンクジヱッ トプリ ンター技術の汎用性おょぴ低コス ト性に着目 し、 従来フォ ト リ ソ グラフィ技術で加工されていた、 液晶表示装置用の力ラーフィルタ等の 微細パターンの形成や、 プリ ン ト配線板の導体パターンの形成などへの インクジェッ トプリ ンターの応用が注目 されている。 そこで、 近年、' 微 小なイ ンク ドッ トを描画対象 (例えば、 液晶表示用のカラーフィルタや プリ ン ト配線板等) に直接描画することによ り微細パターンを高い精度 で形成することができる微小 ドッ ト形成装置の開発が活発となっている ( このよ う な微小 ドッ ト形成装置においては、 吐出安定性や高度の着弾 精度など高い吐出特性をもつノ ズルプレー トが必要となる。
以下に従来のノズルプレー トの構成と製造方法を説明する。 日本国公 開公報 「特開平 9 - 2 1 6 3 6 8号公報」 (公開日 : 1 9 9 7年 8月 1 9 日) には ドライエッチングと湿式エッチングによってノズルプレー トを 形成する技術が開示されている。 図 1 9 ( & ) · 図 1 9 ( b ) は上記特許 文献 1に記載のノズルプレート (以下、 従来の構成と称する) の説明図 である。 +
従来のノズノレプレートは、 S O I ( S i l i c o n o n I n s u l a t o r ) 基板 2 1力、らなる。 S O I基板 2 1.は、 図 1 9 ( a ) * 図 1 9 ( b ) に示すように、 支持体である S i層 2 5上の全域にわたってェ ツチングス トップ層である S i 02層 2 6を有し、 さらにこの S i 02層 2 6上に活性層である S i層 2 4を有する。 そして、 S i層 2 4にはォ リフィ ス 2 2が形成され、 S i層 2 5にはテーパ部 2 3が形成されてお り、 このオリフィ ス 2 2およびテーパ部 2 3が連通されている。
従来のノ ズルプレート製造方法 (以下、 従来の方法と称する) は以下 の通りである。 まず、 活性層である S i層 2 4の表面を酸化し、 酸化膜 (図示せず) を形成する。 そして、 この酸化膜 2 8に所定のパターンを 形成し、 このパターンをマスクと して ドライエッチングを行い、 エッチ ングス トップ層である S i 〇2層 2 6でエッチングをとめ、 オリ フィ ス 2 2を形成する。 次に、 支持層である S i層 2 5の表面を酸化し、 酸化 膜 (図示せず) を形成する。 この酸化膜に所定のパターンを形成し、 こ のパターンをマスク として、 アンダーカツ トを生じる条件でドライエツ チングを行い、 S i O 2層 2 6でエッチングをとめ、 テーパ部 2 3を形 成する。 最後に、 オリ フィ ス 2 2 とテーパ部 2 3 との間の S i 〇2層 2 6や表面の酸化膜をフッ酸系のエッチング液で除去する。
しかしながら、 従来の構成には以下のような問題がある。
( 1 ) エッチングス トップ層である S i 〇2層 2 6が S i層 2 4 · S i層 2 5間の全域にわたって形成されているため、 S i と S i O 2 の線 膨張率の差に起因する応力によってノズルプレー トに大きな反りが発生 するおそれがある。 このノズルプレー トの反り は、 ノズルプレー ト とィ ンクジエツ トへッ ドとの接合精度の低下のみなら.ずノズルプレー ト 自体 の構造的信頼性の低下という問題を招来する。
( 2 ) また、 従来のノズルプレー トにおいて、 .上記したよ うな S i と S i 0 2 の線膨張率の差に起因するノズルプレー トの反り を回避するた めには、 S i 層 2 4および S i 層 2 5に十分な剛性が必要となる。 した がって、 オリ フィ ス 2 2が形成される S i 層 2 4およびテーパ部 3が形 成される S i層 2 5の層厚が大きく ならざるを得ない ( S i層 2 4が 1 5 m , S i 層 2 5力 1 0 0 ^ ιη )。
これによ り、 オリ フィス 2 2やテーパ部 2 3形成時の S i のエツチン グ量が多く なり、 エッチング時の誤差が大きく なる。 すなわち、 液滴の 流路となるノズル (オリ フィ ス 2 2およぴテーパ部 2 3 ) の形成精度が 低く なる。 この点、 特許文献 1 には、 上記ノ ズルの加工精度が寸法設計 値に対して土 1 ミ クロン以内である、 との記載があるが、 微細 ドッ ト形 成装置に適用するには加工精度が低い。
本発明は、 上記問題に鑑みてなされたものであり、 その目的は、 高い 形成精度の第 1 ノズル穴を備え、 かつ、 反り等の変形のおそれの少ない ノズルプレー トおよびその製造方法を実現することにある。 発明の開示
本発明のノ ズルプレー トは、 上記目的を達成するために、 液状物質を 吐出する第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層と、第 1 ノズル穴に連通し、 上記液状物質の供給を受ける第 2 ノズル穴を有する第 2 ノズル層との間 に、 第 1 ノズル層よ りエッチングに対する耐性が高い遮蔽層を介在させ たノズルプレー トにおいて、 上記遮蔽層は、 第 1 ノズル穴および第 2 ノ ズル穴が連通する連通部の周囲に、 局所的に形成されていることを特徴 と している。
まず、 上記第 1 ノズル穴は、 第 2 ノズル穴に供給された液状物質を吐 出するためのものである。 ここで、上記液状物質とは、液体のみならず、 第 1 ノズル穴から吐出可能な程度の粘性を有する物質を含む。
また、 上記遮蔽層は、 第 1 ノズル穴および第 2 ノ ズル穴が連通する連 通部の周囲に形成されており、 第 1 ノズル穴のエッチングの際、 第 1 ノ ズル穴の開口部の形状を規定するマスク となる。
上記構成によれば、 上記遮蔽層が局所的に設けられているため、 第 1 ノズル層と遮蔽層あるいは第 2ノズル層と遮蔽層との接触部分の面積を 小さくできる。 これによ り、 第 1 ノズル層および第 2 ノズル層と遮蔽層 との線膨張率の差に起因する応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノズルプレー トに大きな反りが発生するこ とを防止できる。したがって、 ノズルプレー トを、 例えばインクジェッ トヘッ ドと接合する際に、 接合 精度を上げることができると ともに、 ノズルプレー ト 自体の構造的信頼 性を上げることができる。
さ らに、 上記のよ うな応力の発生を抑制できることで、 第 1 ノズル層 および第 2ノズル層に要求される剛性が減少し、 第 1 ノズル層おょぴ第 2 ノ.ズル層の層厚を小さくするこ とができる。 すなわち、 第 1 ノズル穴 や第 2 ノズル穴のエツチングに伴うエッチング量が少なく なり、 形成誤 差を小さく できる。 これによ り、 高い形成精度の第 1 ノズル穴および第 2ノズル穴を備えることができる。 また、 上記のよ う に第 1 ノズル層およぴ第 2 ノズル層の層厚を小さ く することができるため、 第 1 ノズル穴および第 2ノズル穴を小さく形成 することができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴の集積度を上げるこ とが でき、 ひいては描画の解像度を向上させることができる。
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記構成に加え、 上記遮蔽層の外 形は、 上記連通部における第 2ノズル穴の外形よ り大きいことが望まし い。
ここで、 上記遮蔽層の外形が上記連通部における第 2 ノズル穴の外形 と一致する状態が、 局所的に形成した遮蔽層の外形の最小限度である。 なぜなら、 遮蔽層の外形が、 形成しょ う とする第 2ノズル穴の連通部に おける外形よ り小さいと、 第 2ノズル穴のエッチングは、 遮蔽層の周囲 において第 1 ノズル層へと進行してしま うからである。
したがって、上記構成のよ うに、遮蔽層の外形をこの最小限の外形(上 記連通部における第 2 ノズル穴の外形) よ り大きくすることによって ·、 遮蔽層は第 2 ノズル穴のエッチング時のス トッパと して機能し、 第 2 ノ ズル穴のエッチングを遮蔽層で確実に止めることができる。
また、 これによ り、 第 2 ノズル層をエッチングする際、 第 2 ノズル穴 が遮蔽層を貫通することがないので、 第 1 ノズル層の厚さが一定に保た れることになり、 液状物質の流路抵抗にばらつきが生じることがない。 また、本発明のノ ズルプレー トは、上記構成に加え、第 1 ノズル穴は、 上記第 1 ノズル層の貫通部と上記遮蔽層の貫通部とから構成されている ことが望ま しい。
上記構成によれば、 遮蔽層をエッチングマスク と して、 遮蔽層の貫通 部の口径と同一口径の貫通部を第 1 ノズル層に形成することができる。 これにより、 形状精度の高い第 1 ノズル穴を備えることができる。
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記構成に加え、 上記第 2 ノズル 穴は、 第 1 ノズル穴との連通部が狭まつたテーパ形状であることが望ま しい。
上記構成によれば、 第 2ノズル穴がテーパ形状であるため、 第 2ノズ ル穴において、 供給された液状物質に乱流が発生しにく く、 液滴の吐出 安定性を高めることができる。
また、 本発明のノズルプレートは、 上記構成に加え、 上記第 1 ノズル 層および第 2 ノズル層がともに高分子有機材料で構成され、 上記遮蔽層 が金属材料、 無機酸化物材料、 無機窒化物材料のうちの少なく とも 1つ から形成されていることが望ましい。
上記構成によれば、 第 1 ノズル層および第 2ノズル層を、 酸素を用い たプラズマによる ドライエッチングで容易に加工できる。 加えて、 遮蔽 層は上記酸素を用いたプラズマによる ドライエッチングに対してエッチ ング耐性が高く、 ほとんどエッチングされない。 これにより、 より一層 高い形成精度の第 1 ノズル穴および第 2ノズル穴を備えることができる, また、 第 2 ノ ズル層に形成される第 2 ノズル穴が遮蔽層を貫通するこ ともないので、 第 1 ノズル層の厚さを一定に保つことができ、 吐出すベ き液状物質の流路抵抗にばらつきが生じることがない。
また、 本発明のノズルプレートは、 上記構成に加え、 上記第 1 ノズル 層お.よび第 2 ノ ズル層がともにポリイミ ド樹脂で形成され、 上記遮蔽層 が、 T i 、 A l 、 A u、 P t、 T a、 W、 N b、 S i 〇2、 A l 23、 S i Nから選定される少なく とも 1つの材料を主成分とすることが望まし い Q 上記構成によれば、 第 1 ノズル層および第 2 ノ ズル層を、 酸素を用い たプラズマによる ドライエッチングで容易に加工できる。 加えて、 遮蔽 層は上記酸素を用いたプラズマによる ドライエッチングに対してエッチ ング耐性が高く、 ほとんどエッチングされない。 これにより、 より一層 高い形成精度の第 1 ノズル穴おょぴ第 2ノズル穴を備えることができる c また、 第 2ノズル層に形成される第 2ノズル穴が遮蔽層を貫通するこ ともないので、 第 1 ノズル層の厚さを一定に保つことができ、 液状物質 の流路抵抗にばらつきが生じることがない。
また、 本発明のノズルプレートは、 上記構成に加え、 第 1ノズル層と 第 2ノズル層の少なく とも一方が S i 、 S i 〇2、 S i 3N 4のうちの少な く とも 1つを主成分とする材料によって形成され、上記遮蔽層が、 A 1 、 C u、 A u、 P t 、 A 1酸化物、 A 1窒化物のうちの少なく とも 1つを 主成分とする材料によって形成されていることが望ましい。
上記構成によれば、 第 1 ノズル層おょぴ第 2 ノズル層を、 フッ素を用 いたプラズマによる ドライエッチングで容易に加工できる。 加えて、 遮 蔽層は上記フッ素を用いたプラズマによる ドライエッチングに対してェ ツチング耐性が高く、 ほとんどエッチングされない。 これにより、 一層 高い形成精度の第 1 ノズル穴および第 2ノズル穴を備えることができる ( また、 第 2ノズル層に形成される第 2ノズル穴が遮蔽層を貫通するこ ともないので、 第 1 ノズル層の厚さを一定に保つことができ、 液状物質 の流路抵抗にばらつきが生じることがない。
また、第 1 ノズル層が S i 0 2または S i 3N 4で形成されている場合に は、 例えば、 液状物質の吐出面に撥液膜を形成する場合に、 該撥液膜の 付着力が向上し、 はがれや欠けを防止することができる。 また、 本発明のノズルプレートは、 上記課題を解決するために、 液状 物質を吐出する一つ以上の第 1 ノズル穴を有するノズル層と、 上記第 1 ノズル穴に連通するとともに上記液状物質の供給を受ける第 2 ノズル穴 を有し、 上記ノズル層に固着される補強板と、 ノズル層よりエッチング に対する耐性が高く、 少なく とも、 第 1 ノズル穴および第 2 ノズル穴の 連通部の周囲に形成された遮蔽層とを備えたことを特徴と している。
まず、 上記第 1 ノズル穴は、 第 2 ノズル穴に供給された液状物質を吐 出するためのものである。 ここで、上記液状物質とは、液体のみならず、 第 1 ノズル穴から吐出可能な程度の粘性を有する物質を含む。
また、 上記遮蔽層は、 第 1 ノズル穴および第 2 ノズル穴の連通部の周 囲に形成されており、 第 1 ノズル穴のエッチングの際、 第 1 ノズル穴の 開口部の形状を規定するマスクとなる。
上記構成によれば、 ノズル層に固着される構成の上記補強板を別工程 で作成することができるため、 補強板に使用する材料を選択する際の自 由度が大幅に向上する。 これによつて高剛性の補強板を使用することが でき、 ノズルプレートに反りが発生することを防止することができる。 加えて、 遮蔽層を、 補強板に形成された第 2 ノズル穴の形状に影響を 受けることなく、 必要最低限の所定の形状に加工することができる。 こ れにより、 ノズル層と遮蔽層との接触部分の面積を小さくすることがで きる。
したがって、 ノズル層および補強板と遮蔽層との線膨張率の差に起因 する応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノズルプレートに大きな 反りが発生することを防止できる。
以上により、 ノズルプレート自体の構造的信頼性を上げることができ ると ともに、 ノズルプレー トを、 例えばィンクジエツ トへッ ドと接合す る際に、 その接合精度を上げることができる。
さ らに、補強板の剛性によってノズル層に必要な剛性が低減するため、 該ノ ズル層の層厚を小さくすることができる。 すなわち、 第 1 ノズル穴 を層厚の小さなノズル層に形成することで、 吐出液滴の大きさを制御す る上記第 1 ノズル穴の形成精度を高めることができる。
また、 上記のよ うに第 1 ノズル穴を有するノズル層と第 2 ノズル穴を 有する補強板とを別の工程で加工することができる。 このため、 吐出液 滴の大きさを制御する吐出穴径を膜厚の薄いノズル層を加工することで 設定できるため、 高い形成精度の第 1 ノズル穴を備えることができる。
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記構成に加えて、 上記遮蔽層は 第 2 ノズル穴の開口範囲内に形成されていることが望ましい。
上記構成によれば、 上記遮蔽層が第 2 ノズル穴の開口範囲内に収まる ため、 遮蔽層の周囲に発生する上記応力を最小限に抑えることが可能と なると ともに、 遮蔽層をノ ズル層と補強板との間に挟み込まない構成と なるので、 ノズル層と補強板との接着精度を高めることができる。
また、 上記構成によれば、 ノズル層と遮蔽層との接触部分の面積を一 層小さくすることができる。 すなわち、 ノズル層および補強板と遮蔽層 との線膨張率の差に起因する応力の発生をさ らに抑制することができ、 ノズルプレー トに大きな反りが発生することを防止できる。
これによ り、 ノズルプレー トを、 例えばィンクジエツ トへッ ドと接合 する際に、 接合精度を上げることができる と と もに、 ノズルプレー ト 自 体の構造的信頼性を上げることができる。
また、 上記のよ うにノズル層および補強板を別の工程で加工すること ができるため、 第 1 ノズル穴および第 2 ノズル穴を小さく形成すること ができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴の集積度を上げることができ、 ひ いては描画の解像度を向上させることができる。 .
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記構成に加えて、 上記第 1 ノズ ル穴は、 上記第 1 ノズル層の貫通部と上記遮蔽層の貫通部とから構成さ れていることが望ましい。
上記構成によれば、 遮蔽層をエッチングマスク と して、 遮蔽層の貫通 部の口径と同一口径の貫通部をノズル層に形成することができる。 これ によ り、 一層形状精度の高い第 1 ノズル穴を備えることができる。
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記構成に加え、 上記ノズル層が 高分子有機材料によって形成され、 上記遮蔽層が金属材料、 無機酸化物 材料、 無機窒化物材料のうちの少なく とも 1つによって形成され、 上記 補強板が S i 、 無機酸化物材料、 高分子有機材料のうちの少なく とも 1 つによって形成されていることが望ましい。
上記構成によれば、 ノ ズル層を、 酸素を用いたプラズマによる ドライ エッチングで容易に加工できる。 加えて、 遮蔽層は上記酸素を用いたプ ラズマによる ドライエッチングに対してエツチング耐性が高く、 ほとん どエッチングされない。 これによ り、 一層高い形成精度の第 1 ノズル穴 を備えることができる。
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記構成に加え、 上記ノズル層がポ リイ ミ ド樹脂で構成され、 上記遮蔽層が T i 、 A 1 、 A u、 P t 、 W、 N b、 S i 0 2、 A l 2〇3、 S i Nから選定される少なく とも 1つの材料 で構成され、 補強板が S i 、 ガラス、 A 1 2〇3 の少なく とも 1つを主成 分とするセラミ ツク材料あるいはポリイ ミ ド樹脂から構成されているこ とが望ましい。
上記構成によれば、 ノズル層を、 酸素を用いたプラズマによる ドライ エッチングで容易に加工できる。 加えて、 遮蔽層は上記酸素を用いたプ ラズマによる ドライエッチングに対してエツチング耐性が高く、 ほとん どエッチングされない。 これによ り、 一層高い形成精度の第 1 ノズル穴 を備えることができる
また、 本発明のノズルプレートは、 上記構成に加え、 上記ノズル層が S i 、 S i 〇2、 S i 3N 4のうちの少なく とも 1つを主成分とする材料に よって構成され、 上記遮蔽層が A 1 、 C u、 A u、 P t、 A 1酸化物、 A 1窒化物のうちの少なく とも 1つを主成分とする材料で構成され、 上 記補強板が、 S i、 ガラス、 A 1 20 3のうちの少なく とも 1つを主成分 とするセラミ ツク材料あるいはポリイ ミ ド樹脂によって形成されている ことが望ましい。
上記構成によれば、 ノ ズル層を、 フッ素を用いたプラズマによる ドラ ィエッチングで容易に加工できる。 加えて、 遮蔽層は上記フッ素を用い たプラズマによる ドライエッチングに対してエツチング耐性が高く、 ほ とんどエッチングされない。 これによ り、 一層高い形成精度の第 1 ノズ ル穴を備えることができる。
また、 ノズル層が S i 0 2または S i 3N 4で形成されている場合には、 例えば、 液状物質の吐出面に撥液膜を形成する場合に、 該撥液膜の付着 力が.向上し、 はがれや欠けを防止することができる。
また、 本発明のノ ズルプレー トの製造方法は、 上記課題を解決するた めに、 液状物質を吐出する第 1 ノズル穴を有するノズルプレートの製造 方法であって、 上記第 1 ノズル穴を形成するためのノズル層を形成する 工程と、 上記第 1 ノ ズル穴の一部となる開口部を有し、 第 1 ノ ズル穴を 形成する際のエッチングマスク となる遮蔽層を、 上記ノズル層上に局所 的に形成する工程と、 上記遮蔽層をエッチングマスク と して、 上記開口 部からノズル層をエッチングし、 上記開口部からノズル層を貫通する第 1 ノズル穴を形成する工程とを含むことを特徴と している。
上記方法によれば、 遮蔽層をエッチングマスク と して、 遮蔽層の開口 部の口径と同一口径の第 1 ノズル穴をノズル層に形成することができる c これによ り、 第 1 ノズル穴を高精度に形成することができる。
また、 遮蔽層の材料に、 第 1 ノズル穴のエッチングマスクと して、 あ るいは、第 1 ノズル穴の側壁と して最適な材料を選択することができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴をよ り高精度に形成できる。
また、 上記遮蔽層を局所的に形成するため、 ノズル層と遮蔽層との接 触部分の面積を小さ く できる。 これによ り、 ノズル層と遮蔽層との線膨 張率の差に起因する応力の発生を抑制することができ、 ノズルプレ ト に大きな反りが発生することを防止できる。 したがって、 ノズルプレー トを、 例えばィンクジヱッ トへッ ドと接合する際に、 接合精度を上げる ことができると と もに、 ノズルプレート 自体の構造的信頼性を上げるこ とができる。
さ らに、 上記のよ うな応力の発生を抑制できることで、 ノズル層に要 求される剛性が減少し、 ノズル層の層厚を小さくすることができる。 す なわ.ち、 第 1 ノズル穴のエッチングに伴うエッチング量が少なく なり、 形成誤差を小さく できる。 これによ り、 第 1 ノズル穴を高い精度で形成 することができる。
また、 上記のよ うにノズル層の層厚を小さくすることができるため、 第 1ノズル穴を小さく形成することができる。 これにより、 第 1 ノズル 穴の集積度を上げることができ、 ひいては描画の解像度を向上させるこ とができる。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法は、 上記方法に加え、 上記 の 3つの工程に続いて、別途形成された第 2ノズル穴を有する補強板を、 上記ノズル層上に設けられた遮蔽層が上記第 2ノズル穴の内部に位置す るように上記ノズル層に接合する工程を行うことが望ましい。
上記方法によれば、 上記遮蔽層は、 第 1 ノズル穴形成時のエッチング マスクとなる大きさでさえあれば、 第 2ノズル穴の内部に位置するよう な小さな形状に形成することができる。 これに加え、 上記遮蔽層は第 2 ノズル穴の開口範囲内に位置するため、遮蔽層と補強板とは接触しない。 これにより、 ノズル層おょぴ補強板と遮蔽層との線膨張率の差に起因す る応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノズルプレートに大きな反 りが発生することを防止できる。
また、 補強板をノズル層とは別に形成することで、 製造工程の簡略化 や製造コス トの低減化が可能となる。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法は、 上記課題を解決するた めに、 液体を吐出するためのノズル穴を有するノズルプレートの製造方 法であって、 第 1 ノズル穴を加工するための第 1 ノズル層を形成する第 1工程と、 上記第 1 ノズル穴の一部となる開口部を有し、 該第 1 ノ ズル 穴のエッチング時の遮蔽層となるエッチングマスクを、 上記ノズル層上 に局所的に形成する工程と、 上記第 1 ノ ズル層おょぴ遮蔽層の上に、 第 2ノズル穴を加工するための第 2 ノズル層を形成する第 3工程と、 上記 第 2ノズル層をエッチングすることで、 該第 2ノズル層を貫通し、 上記 遮蔽層に達する第 2 ノズル穴を加工する第 4工程と、 上記遮蔽層をエツ チングマスク と して、 上記開口部から第 1 ノズル層をエッチングするこ とで該第 1 ノズル層を貫通する第 1 ノズル穴を加工する第 5工程とを含 むことを特徴と している。
上記方法によれば、 遮蔽層をエッチングマスク と して、 遮蔽層の開口 部の口径と同一口径の第 1 ノズル穴を第 1 ノズル層に形成することがで きる。 これによ り、 第 1 ノズル穴を高精度に形成することができる。 また、遮蔽層は第 2 ノズル穴のェツチング時のス トツパと して機能し、 第 2ノズル穴のェツチングを遮蔽層で確実に止めることができる。 すな わち、 第 2 ノズル層をエッチングする際、 第 2 ノズル穴が遮蔽層を貫通 することがない。 これによ り、 第 1 ノズル層の厚さが一定に保たれるこ とになり、 液状物質の流路抵抗にばらつきが生じることがない。
また、遮蔽層の材料に、第 1 ノズル穴のエッチング時の遮蔽層と して、 あるいは、 第 1 ノズル穴の側壁と して最適な材料を選択することができ る。 これによ り、 第 1 ノズル穴をよ り高精度に形成することができる。
さらに、 第 1 ノ ズル穴おょぴ第 2 ノズル穴をエッチングする際、 遮蔽 層に対して 1方向からエッチングを行うため、 従来の方法のよ うに、 向 かい合う よ うに 2方向からエッチングを行う場合に比較して、 第 1 ノズ ル穴と第 2 ノズル穴の位置合わせが容易である。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法は、 上記方法に加えて、 上 記第 4工程と第 5工程とを連続して行う ことが望ましい。
上記方法によれば、 第 4工程におけるエッチング装置およびェッチン グ液またはエッチングガスをそのまま使って、 第 5工程のエッチングを 行う こ とができる。 これによ り、 製造プロセスを簡略化できる。
また、 本発明のノズルプレー トは、 上記課題を解決するために、 液状物 質を吐出するための第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層と、 第 1 ノズル 穴に連通し、 上記液状物質の供給を受けるための第 2 ノズル穴を有する 第 2 ノズル層とを備えたノズルプレー トにおいて、 開口部を有し、 第 1 ノズル層よ りエッチングに対する耐性の高い吐出層が、 第 1 ノズル層の 液状物質吐出側の面に接するよ う.に形成されており、 上記第 1 ノズル穴 は、 第 1 ノズル層を貫通して上記開口部に連通していることを特徴と し ている。
まず、 上記第 1 ノズル穴は、 第 2 ノズル穴に供給された液状物質を吐 出するためのものであり、 その第 1 ノズル穴に連通した開口部は、 液状 物質の吐出方向や吐出量の制御に大きく寄与する吐出特性寄与部分であ る。 ここで、 上記液状物質とは、 液体のみならず、 第 1 ノズル穴から吐 出可能な程度の粘性を有する物質を含む。
上記構成によれば、第 1 ノズル層よ りェツチング耐性の高い吐出層に、 上記開口部と しての吐出特性寄与部分が形成されている。
したがって、 第 1 ノズル穴を形成するために第 1 ノズル層をエツチン グする場合に、 吐出層は、 そのエッチングに対する耐性が高いので、 吐 出層の開口部の形状が変形する等のおそれを小さくすることができる。 例えば、 予め形成された吐出層の開口部をー且第 1 ノズル層の構成材 料で埋め、 しかる後に第 1 ノズル層をエッチングして第 1 ノズル穴を形 成し、上記開口部を開口させて吐出特性寄与部分とする場合であっても、 吐出層のエッチング耐性が第 1 ノズル層よ り高いために、 吐出層が露出 した時点で第 1 ノズル層のエッチングが確実にス ト ップする。 すなわち、 上記吐出特性寄与部分は予め形成された開口部と同一形状 となる。
この結果、 第 1 ノズル層に吐出層を設けることなく上記第 1 ノズル穴 の吐出特性寄与部分を第 1 ノズル層に直接形成する場合と比較して、 上 記吐出特性寄与部分の形成精度を飛躍的に向上させることができる。
これにより、 液状物質の吐出方向や吐出量が安定し、 解像度の高い描 画が可能となる。
また、 本発明のノズルプレートにおいては、 上記吐出層は、 第 1 ノズ ル層内に形成されていることが好ましい。
上記構成によれば、 上記吐出層の厚みは、 第 1 ノズル層の厚みより小 さくなる。 吐出層が薄い程、 開口部を形成するためのエッチング量を小 さくできるので、 上記開口部の形成精度を高くすることができる。
したがって、 上記のように、 第 1 ノズル穴の吐出特性寄与部分を予め 形成された開口部と同一形状に形成した場合、 上記吐出特性寄与部分の 形成精度は一層高まることになる。
これにより、 液状物質の吐出方向や吐出量がさらに安定し、 解像度の 一層高い描画が可能となる。
また、 本発明のノズルプレートにおいては、 上記吐出層の主成分が無 機材料であることが好ましい。
上記構成によれば、 上記吐出層が無機材料で構成されているため、 上 記吐.出層上に例えば撥液膜を形成した場合にも、 上記吐出層に形成され た開口部の形状を維持することができる。
すなわち、 撥液膜の形成時に際して吐出層上に撥液材料を塗布した場 合に、 たとえ該撥液材料が上記開口部内に回り こんだと しても、 酸素を 含有するプラズマを用いた ドライエッチング法等で簡便に除去でき、 ま た該ドライエッチングによつて上記開口部が損傷を受けることもなく 、 その形状が変化するこ とがないからである。
これによ り、 液状物質の吐出方向や吐出量がさ らに安定し、 解像度の 一層高い描画が可能となる。
また、 本発明のノズルプレー トにおいては、 第 1 ノズル穴における第 1 ノズル層の貫通部を第 1 ノズル穴部と したとき、上記吐出層の外形は、 吐出層と第 1 ノズル層との境界面における第 1 ノズル穴部の外形よ り大 きいこ とが望ましい。
上記構成によれば、 吐出層は、 第 1 ノズル層のエッチングにおけるス トツパ層と して機能する。 すなわち、 第 1 ノズル穴を形成するため第 2 ノズル層側から第 1 ノズル層をエッチングした場合、 該エッチングは吐 出層にていわば自動的にス ト ップし、 第 1 ノズル穴部が形成される。
これによ り、 第 1 ノズル層のオーバーエッチを防止でき、 所定の形状 の第 1 ノズル穴部を容易に形成することができる。
また、 本発明のノズルプレー トにおいては、 上記吐出層は上記開口部 の周囲に、 局所的に形成されていることが好ましい。
上記構成によれば、 吐出層と第 1 ノズル層との接触面積を小さくする ことができる。 これによ り、 吐出層と第 1 ノズル層との線膨張率の差に 起因する応力め発生を大幅に抑制することができ、 ノ ズルプレー トに大 きな反りが発生することを防止できる。したがって、ノズルプレー トを、 例えばインクジエツ トへッ ドと接合する際に、 接合精度を上げることが できる と ともに、 ノズルプレー ト自体の構造的信頼性を上げることがで きる。 さ らに、 上記のよ うな応力の発生を抑制できることで、 第 1およぴ第 2 ノズル層に要求される剛性が減少し、 第 1およぴ第 2 ノズル層の層厚 を小さ くすることができる。 すなわち、 第 1 ノズル穴や第 2 ノズル穴の エッチングに伴うエッチング量が少なく なり、形成誤差を小さく できる。 これによ り、 高い形成精度の第 1および第 2 ノズル穴を備えることがで さる。
また、 上記のよ う に第 1および第 2 ノズル層の層厚を小さくすること ができるため、第 1およぴ第 2 ノズル穴を小さく形成することができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴の集積度を上げることができ、 ひいては描画 の解像度を向上させることができる。
また、 本発明のノズルプレー トにおいては、 上記第 1 ノズル層と第 2 ノズル層との間に第 1 ノズル層よ りェツチングに対する耐性が高い遮蔽 層が局所的に介在し、 上記第 1 ノズル穴は遮蔽層を貫通して第 2 ノズル 穴に連通していることが好ま しい。
上記構成によれば、 上記遮蔽層は、 第 1 ノズル層をエッチングして第
1 ノズル穴を形成する際、 第 1 ノズル穴の開口部の形状を規定するマス ク となる。
これによ り、 遮蔽層の貫通部の口径と同一口径の貫通部を第 1 ノズル 層に形成することができる。 これによ り、 形状精度の高い第 1 ノズル穴 を備えることができる。
また、 上記遮蔽層が局所的に設けられているため、 第 1 ノズル層と遮 蔽層あるいは第 2 ノズル層と遮蔽層との接触部分の面積を小さく できる < これによ り 、 第 1および第 2 ノズル層と遮蔽層との線膨張率の差に起因 する応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノズルプレー トに大きな 反りが発生することを防止できる。 したがって、 ノズルプレー トを、 例 えばィンクジエツ トへッ ドと接合する際に、 接合精度を上げることがで きると ともに、 ノズルプレー ト 自体の構造的信頼性を上げることができ る。
さ らに、 上記のよ うな応力の発生を抑制できることで、 第' 1および第
2ノズル層に要求される剛性が減少し、 第 1およぴ第 2ノズル層の層厚 を小さ くすることができる。 すなわち、 第 1 ノズル穴や第 2ノズル穴の エッチングに伴うエッチング量が少なく なり、形成誤差を小さくできる。 これによ り、 高い形成精度の第 1および第 2 ノズル穴を備えることがで さる。
また、 上記のよ う に第 1および第 2 ノズル層の層厚を小さくすること ができるため、第 1およぴ第 2 ノズル穴を小さく形成することができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴の集積度を上げることができ、 ひいては描画 の解像度を向上させることができる。
また、 本発明のノズルプレー トにおいては、 上記遮蔽層は、 第 2 ノズ ル層よ りエッチングに対する耐性が高く 、 上記遮蔽層の外形は、 第 1 ノ ズル穴と第 2 ノズル穴との連通部における第 2 ノズル穴の外形よ り大き いことが好ましい。
上記構成のよ うに、 遮蔽層のエッチング耐性を第 2ノズル層よ り高く し、 遮蔽層の外形を第 1および第 2 ノズル穴の連通部における第 2 ノズ ル穴の外形よ り大きくすることによって、 遮蔽層は第 2 ノズル穴のエツ チング時のス トッパと して機能し、 第 2 ノズル穴のェツチングを遮蔽層 で確実に止めることができる。また、第 2 ノズル層をエッチングする際、 第 2 ノズル穴が遮蔽層を貫通することがないので、 第 1 ノズル層の厚さ が一定に保たれる。
換言すれば、 遮蔽層によって第 2 ノズル穴加工の終点を、 遮蔽層の表 面に精度良く設定するこ とができるので、 第 1 ノ.ズル層が第 2 ノ ズル穴 加工時のオーバーエッチによって損傷を受けることがなく 、 このため第 1 ノズル穴の長さを第 1 ノズル層の層厚で制御することができる。 これ によって流路抵抗が安定し、 液滴の吐出安定性が安定し、 着弾精度と解 像度が向上する。
また、 本発明のノズルプレー トにおいて.は、 上記第 1 ノズル層は第 2 ノズル層よ りエッチングに対する耐性が高いことが好ましい。
上記構成によれば、 第 1 ノズル層自体を、 第 2 ノ ズル穴のエッチング 時のス トッパと して機能させることができ、 第 2ノズル穴のエッチング を第 1 ノズル層で止めることができる。
このよ う に、 遮蔽層を設けることなく 、 第 2 ノズル穴のエッチングを 第 1 ノズル層で止めることができるため、 上記した第 1および第 2 ノズ ル層と遮蔽層との間の応力が発生せず、 ノズルプレー トに反りが発生す ることを一層効果的に防止できる。
また、 本発明のノズルプレー トにおいては、 第 1 ノズル層の貫通部で ある第 1 ノズル穴部は、 上記開口部との連通部が狭まつたテーパ形状で あることが好ましい。
上記構成によれば、 第 1 ノズル穴部がテーパ形状であるため、 該第 1 ノズル穴部に供給された液状物質に乱流が発生しにく く 、 液滴の吐出安 定性を高めることができる。
また、 本発明のノズルプレー トにおいては、 上記第 2ノズル穴は、 第 1 ノズル穴との連通部が狭まつたテーパ形状であることが好ましい。 上記構成によれば、 第 2 ノ ズル穴がテーパ形状であるため、 第 2ノズ ル穴において、 供給された液状物質に乱流が発生しにく く、 液滴の吐出 安定性を高めることができる。
また、 本発明のノズルプレートにおいては、 少なく とも、 上記吐出層 の液状物質吐出側の面に撥液膜が形成されていることが好ましい。
上記構成によれば、 少なく とも、 上記吐出層の液状物質吐出側の面に 撥液膜が形成されているため、 開口部に形成される液状物質のメニスカ ス形状が安定し、これに伴い液状物質の吐出方向が安定する。すなわち、 着弾精度が向上し描画解像度が向上する。
ただし、 上記撥液膜を形成する際、 該撥液膜が開口部の内部 (内壁) に回り こまないように形成することが望ましく、 例えばドライエツチン グ等によつて上記開口部内に回り込んだ撥液膜を除去しても良い。
また、 本発明のノズルプレートは、 上記課題を解決するために、 液状 物質を吐出する第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層と、 上記第 1 ノズル 穴に連通するとともに上記液状物質の供給を受ける第 2ノズル穴を有し. 上記第 1 ノズル層に固着される補強板と、 第 1 ノズル層よりエッチング に対する耐性が高く、 少なく とも、 第 1 ノズル穴および第 2 ノ ズル穴の 連通部の周囲に形成された遮蔽層と、 開口部を有し、 第 1 ノズル層より ェツチングに対する耐性が高く、 第 1 ノズル層の液状物質吐出側の面に 接するように形成された吐出層とを備え、 上記第 1 ノズル穴は第 1 ノズ ル層を貫通して上記開口部に連通していることを特徴と している。
上記構成によれば、第 1 ノズル層よ りエッチング耐性の高い吐出層に、 上記開口部と しての吐出特性寄与部分が形成されている。
したがって、 第 1 ノズル穴を形成するために第 1 ノズル層をエツチン グする場合に、 吐出層は、 そのエッチングに対する耐性が高いので、 吐 出層の開口部の形状が変形する等のおそれを小さくすることができる。 例えば、 予め形成された吐出層の開口部を一旦.第 1 ノズル層の構成材 料で埋め、 しかる後に第 1 ノズル層をエッチングして第 1 ノズル穴を形 成し、上記開口部を開口させて吐出特性寄与部分とする場合であつても、 吐出層のエツチング耐性が第 1 ノズル層より高いために、 吐出層が露出 した時点で第 1 ノズル層のエッチングが確実にス トツプする。
すなわち、 上記吐出特性寄与部分は予め形成された開口部と同一形状 となる。
この結果、 第 1 ノズル層に吐出層を設けることなく上記第 1 ノ ズル穴 の吐出特性寄与部分を第 1 ノズル層に直接形成する場合と比較して、 上 記吐出特性寄与部分の形成精度を飛躍的に向上させることができる。
これにより、 液状物質の吐出方向や吐出量が安定し、 解像度の高い描 画が可能となる。
また、 上記遮蔽層は、 第 1 ノズル穴のエッチングの際、 第 1 ノズル穴 の開口部の形状を規定するマスクとなり、 精度の高い第 1 ノズル穴を形 成することができる。
さらに、 上記遮蔽層を、 補強板に形成された第 2ノズル穴の形状に影 響を受けることなく、必要最低限の所定の形状に加工することができる。 これにより、 第 1ノズル層と遮蔽層との接触部分の面積を小さくするこ とができる。
また、 第 1 ノ ズル層に固着される構成の上記補強板を別工程で作成す ることができるため、 補強板に使用する材料を選択する際の自由度が大 幅に向上する。 これによつて高剛性の補強板を使用することができ、 ノ ズルプレートに反りが発生することを防止することができる。
したがって、 第 1ノズル層および補強板と遮蔽層との線膨張率の差に 起因する応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノズルプレートに大 きな反りが発生することを防止できる。
さらに、 補強板の剛性によって第 1ノズル層に必要な剛性が低減する ため、 第 1 ノズル層の層厚を小さくするこ とができる。 すなわち、 第 1 ノズル穴を層厚の小さな第 1 ノズル層に形成することで、 第 1 ノズル穴 の形成精度をより高めることができる。
また、本発明のノズルプレートにおいては、上記吐出層が A 1 、 P t 、 A u、 A 1 20 3、 A 1 Nのうちの少なく とも 1つを主成分とする材料に よって構成され、 上記第 1 ノズル層がシリ コン化合物から構成され、 上 記第 2ノズル層が有機樹脂で構成されていることが好ましい。
上記構成によれば、 前記吐出層を構成する材料は、 第 1 ノズル層を構 成するシリ コン化合物のエッチング (例えば、 フッ素を含有するプラズ マを用いたドライエッチング)、あるいは第 2ノズル層を構成する有機樹 脂のエッチング (例えば、 酸素を含有するプラズマを用いたドライエツ チ) に対して、 高いエッチング耐性を有している。
したがって、 第 1およぴ第 2ノズル穴加工の際に吐出層が損傷を受け ることがない。 すなわち、 ノズル (第 1および第 2ノズル穴) 作成プロ セスにおいて開口部が変形することがなく、 非常に高い加工精度で加工 された開口部を有するノズルプレートを構成することができる。 これに より、 着弾精度が向上し、 描画解像度が向上する。
さらに、 第 1 ノズル層を構成するシリ コン化合物は、 第 2 ノズル層を 構成する有機樹脂のエッチング (例えば、 酸素を含有するプラズマを用 いたドライエッチ) に対して、 高いエッチング耐性を有しているため、 第 2ノズル穴加工の際にオーバーェツチによって、 第 1 ノズル層が大き な損傷を受けることがない。
このため、 第 1 ノズル層の層厚が減少することで第 1 ノズル穴の長さ (深さ) ひいては流路抵抗が変化することを抑制でき、 これによつて液 滴の吐出安定性の劣化を抑制することができる。
また、 本発明のノズルプレートにおいては、 上記吐出層がシリ コン化 合物から構成され、 上記第 1 ノズル層が A 1 を主成分とする金属材料で 構成され、 上記第 2ノズル層が有機樹脂で構成されることが好ましい。 上記構成によれば、 上記吐出層を構成する材料が、 第 1 ノズル層を構 成する A 1 を主成分とする金属材料のエッチング (例えば塩素を含有す るプラズマを用いたドライエッチング)、あるいは第 2ノズル層を構成す る有機樹脂のエッチング (例えば酸素を含むプラズマを用いたドライエ ツチ) に対して、 高いエツチング耐性を有している。
したがって、 第 1およぴ第 2 ノ ズル穴加工の際に開口部が損傷を受け ることがない。 すなわち、 ノ ズル (第 1および第 2 ノ ズル穴) 作成プロ セスにおいて開口部が変形することがなく、 非常に高い加工精度で加工 された開口部を有するノズルプレー トを構成することができる。 これに よって、 着弾精度が向上し、 描画解像度が向上する。
さらに、 第 1 ノ ズル層を構成する A 1 を主成分とする金属材料は、 第
2ノズル層を構成する有機樹脂のエッチング (例えば酸素を含有するプ ラズマを用いたドライエッチ) に対して、 高いエッチング耐性を有して いる。 したがって、 第 2ノズル穴加工の際にオーバーエッチによって、 第 1 ノズル層が大きな損傷を受けることがない。 このため、 第 1 ノズル層の層厚が減少することで第 1 ノズル穴の長さ (深さ) が変化しひいては流路抵抗が変化することを抑制でき、 これに より、 液滴の吐出安定性の劣化を抑制することができる。
また、 本発明のノズルプレートにおいては、 上記第 1 ノズル層が有機 樹脂で形成され、 上記吐出層が、 T i 、 A l 、 A u、 P t、 T a、 W、 N b、 S i 0 2、 A 1 2〇3、 S i 3 N 4、 A 1 Nから選定される少なく とも 1つの材料を主成分とすることが好ましい。
上記構成によれば、 第 1 ノズル層を酸素を用いたプラズマによる ドラ ィエッチングで容易に加工できる。 加えて、 吐出層は上記酸素を用いた プラズマによる ドライエッチングに対してエッチング耐性が高く、 ほと んどエッチングされない。 これによ り、 より一層高い形成精度の開口部 を備えることができる。
また、 上記構成において、 遮蔽層についても吐出層と同様の材料を使 用することができる。 この場合、 第 1 ノズル層をエッチングして第 1.ノ ズル穴を形成する際、 上記遮蔽層を第 1 ノズル穴の開口部の形状を規定 するマスクと して用いることができるので、 レジス トによるパターニン グに比べ第 1 ノズル穴の加工精度を向上させることができる。
さらに、 第 2 ノズル層を第 1 ノズル層と同様に有機樹脂で構成した場 合、 上記遮蔽層は、 第 2 ノズル穴を加工する際の酸素を用いたプラズマ による ドライエッチングに対してエッチング耐性が高く、 したがって、 第 2ノズル穴の加工を精度良く遮蔽層で停止することができる。
これによつて、.第 1 ノ ズル穴の長さ (深さ) が安定し、 ひいては流路 抵抗が安定するため液滴の吐出安定性が向上する。 この結果、 着弾精度 が向上し、 高解像度描画が可能になる。 また、本発明のノズルプレー トにおいては、上記第 1 ノズル層が S i 、 S i 0 2、 S i 3N 4のうちの少なく とも 1つを主成分とする材料によって 形成され、 上記吐出層が、 A l 、 N i 、 F e、 C o、 C u、 A u、 P t、 A 1 酸化物、 A 1 窒化物のうちの少なく とも 1つを主成分とする材料に よって形成されていることが望ましい。
上記構成によれば、 第 1 ノズル層を、 フッ素を用いたプラズマによる ドライエッチングで容易に加工できる。 加えて、 吐出層は上記フッ素を 用いたプラズマによる ドライエッチングに対してエツチング耐性が高く、 ほとんどエッチングされない。 これによ り、 よ り一層高い形成精度の開 口部を備えることができる。
また、 上記構成において、 遮蔽層についても吐出層と同様の材料を使 用することができる。 この場合、 第 1 ノズル層をエッチングして第 1 ノ ズル穴を形成する際、 上記遮蔽層を第 1 ノズル穴の開口部の形状を規定 するマスク と して用いることができるので、 レジス トによるパターニン グに比べ第 1 ノズル穴の加工精度を向上させることができる。
さ らに、 第 2 ノズル層を第 1 ノズル層と同様に S i または S i化合物 で構成した場合、 上記遮蔽層は第 2ノズル穴を加工するフッ素を用いた プラズマによる ドライエッチングに対するエッチング耐性が高いので、 第 2 ノズル穴の加工を精度良く遮蔽層で停止することができる。
また、 第 2 ノズル層を有機樹脂で構成した場合でも、 上記遮蔽層は第 2ノス'ル穴を加工する酸素を用いたプラズマによる ドライエッチングに 対するエッチング耐性が高いので、 第 2ノズル穴の加工を精度良く遮蔽 層で停止することができる。 これによつて、 第 1 ノズル穴の長さが安定 し、 流路抵抗が安定するので、 吐出安定性が向上する。 これによつて着 弾精度が向上し、 高解像度描画が可能になる。
すなわち、 上記構成では第 2 ノ ズル層に有機樹脂または S i あるいは S i化合物のいずれをも使用することができ、材料選択の範囲が広がり、 ノズルプレートの製造が容易となる。
また、 本発明のノ ズルプレー トの製造方法は、 .上記課題を解決するた めに、 液状物質を吐出するための、 第 1開口部おょぴ第 1 ノズル穴部を 有する第 1 ノズル穴と、 該第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層とを備え たノズルプレー トの製造方法であって、 上記第 1開口部を有し、 第 1 ノ ズル層よりエッチングに対する耐性が高い吐出層を形成する吐出層形成 工程と、 上記第 1開口部を埋めるとともに吐出層を覆う ような第 1 ノズ ル層を形成する第 1 ノズル層形成工程と、 上記第 1開口部の形成位置に 対応して、 上記第 1 ノズル層に上記第 1 ノズル穴部を形成する第 1 ノズ ル穴部形成工程と、 上記第 1 ノズル穴部から第 1.ノズル層をエッチング し、 上記第 1開口部内の第 1 ノズル層を除去する第 1除去工程とを含む ものである。
まず、 上記第 1開口部は、 液状物質の吐出方向や吐出量の制御に大き く寄与する吐出特性寄与部分である。 ここで、 上記液状物質とは、 液体 のみならず、 第 1 ノズル穴から吐出可能な程度の粘性を有する物質を含 む。
上記方法によれば、 上記吐出層が第 1 ノズル層よ りエッチングに対す る耐性が高いため、 第 1開口部内の第 1 ノズル層を除去する第 1除去ェ 程において、 第 1 ノズル層がエッチングされ、 吐出層が露出した時点で 当該エッチングは確実にス トツプする。
すなわち、 上記吐出特性寄与部分は予め形成された第 1開口部と同一 形状となる。
この結果、 第 1 ノズル層に吐出層を設けることなく上記第 1 ノズル穴 の吐出特性寄与部分を第 1 ノズル層に直接形成する場合と比較して、 上 記吐出特性寄与部分の形成精度を飛躍的に向上させることができる。
これによ り、 液状物質の吐出方向や吐出量が安定し、 解像度の高い描 画が可能となる。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法においては、 上記第 1除去 工程の後に、 第 1 ノズル層よ りエッチングに対する耐性が低い第 2 ノズ ル層を、 上記第 1 開口部および第 1 ノズル穴部を埋めると ともに第 1 ノ ズル層を覆う よ う に形成する第 2 ノズル層形成工程と、 該第 2ノズル層 をエッチングすることで、 該第 2ノズル層を貫通する第 2 ノズル穴を加 ェする第 2 ノズル穴形成工程と、 を含むことが望ましい。
上記方法によれば、 第 1 ノズル層は第 2 ノズル穴のェツチング時のス トッパと して機能し、 遮蔽層等のエッチングス トッパを形成することな く 、 第 2ノズル穴形成時の第 2 ノズル層のエッチングを第 1 ノズル層に て止めることができる。
したがって、 上記遮蔽層等のエッチングス トツパと第 1およぴ第 2 ノ ズル層とのとの線膨張率の差に起因する応力が発生することがない。
この結果、 ノズルプレートに大きな反りが発生することを防止でき、 ノズルプレー トを、 例えばイ ンクジェッ トヘッ ドと接合する際に、 接合 精度.を上げることができると ともに、 ノズルプレー ト 自体の構造的信頼 性を上げることができる。 '
さ らに、 上記のよ うな応力の発生を回避できることで、 第 1 ノズル層 に要求される剛性が減少し、 第 1 ノズル層の層厚を小さ くするこ とがで きる。 すなわち、 第 1 ノズル穴部のエッチングに伴うエッチング量が少 なく なり、 形成誤差を小さく できる。 これによ り、 第 1 ノズル穴部を高 い精度で形成することができる。 .
さ らに、 第 1 ノズル穴および第 2 ノズル穴をエッチングする際、 吐出 層に対して 1方向からエッチングを行うため、 従来の方法のよ うに、 向 かい合う よ うに 2方向からエッチングを行う場合に比較して、 第 1 ノズ ル穴と第 2 ノズル穴の位置合わせが容易である。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法においては、 上記第 1 ノズ ル層形成工程と第 1 ノズル穴部形成工程との間に、 第 2開口部を有し、 第 1および第 2 ノズル層よ りエッチングに対する耐性が高い遮蔽層を、 形成された第 1 ノズル層上に、 上記第 1 開口部に対応して局所的に形成 する遮蔽層形成工程と、 上記第 2開口部を埋める と ともに第 1 ノズル層 を覆う よ う に第 2 ノズル層を形成し、 しかる後に第 2 ノズル層をエッチ ングするこ とで、 該第 2 ノズル層を貫通し、 上記遮蔽層に達する第 2 'ノ ズル穴を加工する第 2 ノズル穴形成工程と、 を含むことが好ましい。 上記方法によれば、 遮蔽層は第 2 ノズル穴のエッチング時のス ト ッパ と して機能し、 第 2 ノズル穴のエッチングを遮蔽層で確実に止めること ができる。 また、 第 2 ノズル層をエッチングする際、 第 2ノズル穴が遮 蔽層を貫通することがないので、第 1 ノズル層の厚さが一定に保たれる。 換言すれば、' 遮蔽層によって第 2 ノズル穴加工の終点を、 遮蔽層の表 面に精度良く設定することができるので、 第 1 ノズル層が第 2 ノズル穴 加工時のオーバーエッチによって損傷を受けることがなく 、 このため第 1 ノズル穴の長さを第 1 ノズル層の層厚で制御することができる。 これ によって流路抵抗が安定し、 液状物質の吐出安定性が安定し、 着弾精度 と解像度が向上する。 '
また、 上記遮蔽層を局所的に形成するため、 第 1 ノズル層と遮蔽層と の接触部分の面積を小さくできる。 これによ り、 第 1 ノズル層と遮蔽層 との線膨張率の差に起因する応力の発生を抑制することができ、 ノズル プレー トに大きな反りが発生することを防止できる。
さ らに、 第 1 ノズル穴および第 2 ノズル穴をエッチングする際、 遮蔽 層に対して 1方向からエッチングを行うため、 従来の方法のよ うに、 向 かい合う よ うに 2方向からエッチングを行う場合に比較して、 第 1 ノズ ル穴と第 2 ノズル穴の位置合わせが容易である。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法においては、 上記第 2 ノズ ル穴形成工程に連続して、 上記第 1 ノズル穴部内の第 2ノズル層を除去 する第 2除去工程と、 上記第 1開口部内の第 2 ノズル層を除去する第 3 除去工程とを行う ことが好ましい。
上記方法によれば、 第 2 ノズル穴の加工工程におけるェツチング装置 およびエッチング液またはエッチングガスをそのまま使って、 第 1 ノズ ル穴のエッチングを行う ことができる。
これによ り、 製造プロセスを簡略化できる。
また、 本発明のノズルプレー トの製造方法においては、 上記第 2 ノズ ル穴形成工程に連続して、 上記第 1 ノズル穴部形成工程および第 1 除去 工程を行う ことが好ましい。
上記方法によれば、 第 2 ノズル穴の加工工程におけるエッチング装置 およびエッチング液またはエッチングガスをそのまま使って、 第 1 ノズ ル穴のエッチングを行う ことができる。
これによ り、 製造プロセスを簡略化できる。 また、 本発明のノズルプレー トの製造方法においては、 少なく とも、 上記吐出層表面に、 上記吐出層よ りェツチングに対する耐性の低い撥液 膜を形成する工程と、 上記第 1開口部の反対側からエッチングを行い、 第 1 ノズル穴内の撥液膜を除去する工程とを含むことが好ましい。
上記方法は、 吐出層の表面から第 1開口部の内部 (内壁) に回り込ん だ撥液膜を、 第 1開口部の反対側からエッチングすることで除去するも のである。
ここで、 上記吐出層は上記撥液膜のエッチングに対して高いェッチン グ耐性を有しているため、 第 1開口部内に回り込んだ撥液膜を除去する エッチング過程において、 第 1開口部が変形することがない。
これによ り、 上記回り込んだ撥液膜を除去するエッチングを行う余裕 度が大きくなり、 十分なエッチングによって、 上記回り込んだ撥液膜を ほぼ完全に除去することができる。
この結果、 第 1開口部の内部 (内壁) における撥液膜の残留を回避で きるため、 第 1開口部表面の吐出液との濡れ性の安定化ひいては吐出液 滴の着弾精度を向上させることができ、 したがって、 描画解像度の高い ノズルプレートを安定して製造することができる。
本発明のさらに他の目的、 特徴、 および優れた点は、 以下に示す記載 によって十分わかるであろう。 また、 本発明の利益は、 添付図面を参照 した次の説明で明白になるであろう。 図面の簡単な説明
図 1 ( a ) は、 本発明の実施の形態 1にかかるノズルプレートを示す 斜視図、 図 1 ( b ) は、 図 1 ( a ) の A— A ' 矢視断面を示す説明図で ある。
図 2は、 上記ノズルプレー トの変形例を断面の構成によ り示す説明図 である。 .
図 3 ( a ) 〜図 3 ( g ) は、 本発明の実施の形態 1 にかかるノズルプ レー トの製造方法を断面の構成によ り示す説明図.である。
図 4は、 上記ノズルプレー トの製造方法の変形例を断面の構成によ り 示す説明図である。
図 5 ( a ) は、 本発明の実施の形態 2にかかるノズルプレー トを示す 斜視図、 図 5 ( b ) は、 図 5 ( a ) における B— B ' 矢視断面を示す説 明図である。
図 6 ( a ) 〜図 6 ( g ) は、 本発明の実施の形態 2にかかるノズルプ レー トの製造方法を断面の構成によ り示す説明図である。
図 7は、実施の形態 2にかかる捕強板の構成を説明する斜視図である。 図 8 ( a ) 〜図 8 ( c ) は、 本発明の実施の形態 1 にかかるノズルプ レートの他の製造方法を断面の構成によ り示す説明図である。
図 9は、 本発明の実施の形態 1 にかかるノズルプレー トの他の製造方 法を断面の構成によ り示す説明図である。
図 1 0 ( a )、 図 1 0 ( b ) は、 ノズル層と補強板との接合方法を説明 する模式図である。
図 1 1 ( a ) は、 本発明の実施の形態 3にかかるノ ズルプレー トを示 す斜視図、 図 1 1 ( b ) は、 図 1 1 ( a ) の A— A' 矢視断面を示す説 明図である。
図 1 2は、 上記ノズルプレー トの変形例を断面の構成によ り示す説明 図である。 図 1 3 ( a ) 〜図 1 3 ( g ) は、 本発明の実施の形態 3にかかるノズ ルプレー トの製造方法を断面の構成により示す説明図である。
図 1 4は、 上記ノズルプレー トの製造方法の変形例を断面の構成によ り示す説明図である。
図 1 5 ( a ) は、 本発明の実施の形態 4にかかるノズルプレートを示 す斜視図、 図 1 5 ( b ) は、 図 1 5 ( a ) における B— B ' 矢視断面を 示す説明図である。
図 1 6 ( a ) 〜図 1 6 ( g ) は、 本発明の実施の形態 4にかかるノズ ルプレートの製造方法を断面の構成により示す説明図である。
図 1 7 ( a ) 〜図 1 7 ( c ) は、 撥液膜のエッチング除去工程を説明 する説明図である。
図 1 8は、 実施の形態 3にかかるノズルプレートの変形例を断面の構 成により示す説明図である。
図 1 9 ( a ) は、 従来のノ ズルプレートを示す斜視図、 図 1 9 ( b ) は、 図 1 9 ( a ) における C— C ' 矢視断面を示す説明図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、実施例おょぴ比較例により、本発明をさらに詳細に説明するが、 本発明はこれらにより何ら限定されるものではない。
〔実施の形態 1〕
本発明の実施の形態 1について、 図面に基づいて説明すれば、 以下の 通りである。
(ノ ズルプレー ト)
図 1 ( a ) は、 微小ドッ ト形成装置に用いられる、 本発明のノズルプ O 2005/000590
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レー トの一部の斜視図であり、 図 1 ( b ) は、 図 1 ( a ) の A— A' 矢 視断面図である。 ノ ズルプレー トには 1個以上の液体 (液状物質) 吐出 口 9が形成されており、 図 1 ( a ) においては 2個の液体吐出口 9が示 されている。
図 1 ( a ) . 図 1 ( b ) に示すよ うに、 ノズルプレー ト 8は、 第 1 ノズ ル層 1、 第 2 ノズル層 2、 ス トッパ層 3 (遮蔽層)、 撥液膜 4、 ノズル穴 1 1 を備えている。 第 1 ノズル肩 1の液体吐出面側には撥液膜 4が形成 され、 その反対側には第 2ノズル層 2が形成されている。 ス ト ッパ層 3 は、 第 2ノズル層 2内にて、 第 1 ノズル層 1 と第 2ノズル層 2 との界面 に位置し、 第 1 ノズル層 1 に接すると ともに、 上記液体吐出口 9 を開口 部とする第 1 ノズル穴 1 1 a の形成位置に局所的に形成されている。 す なわち、 第 1 ノズル穴 1 1 a は、 撥液膜 4、 第 1 ノズル層 1 を貫通し、 さ らに局所的に形成されたス ト ツパ層 3の中心部を貫通している。
また、 第 2 ノズル穴 1 1 bは、 上記第 1 ノズル穴 1 1 a と ともにノズ ル穴 1 1 を構成し、 円筒形状の第 1 ノズル穴 1 1 a との連通部から裾広 がり に拡開するテーパ形状 (円錐台形状) であり、 第 2 ノズル層 2を通 つて、 撥液膜 4の反対側の面 2 bにて開口 している。
なお、 円錐台形状の第 2ノズル穴 l i bの上底 1 1 yは、 第 1 ノズル 穴 1 1 a を中心とする円環形状であり、 ス トッパ層 3が当該上底 1 1 y を成して露出している。 したがって、 第 1 ノズル穴 1 1 a と第 2 ノズル 穴 1 1 bの連通部 1 1 x (略円 ) の口径は、 第 2 ノズル穴 l i bの -上 底 1 1 y の外口径 (上記連通部 1 1 Xにおける第 2ノズル穴 1 1 b の外 形) よ り小さい。 ここで、 すでに説明したとおり、 第 1 ノズル穴 1 1 a の略円形の開口部が液体吐出口 9 となっている。 また、 第 2ノズル穴 1 1 bの略円形の開口部が液体供給口 1 2 となっている。
以下、 各部のサイズや材質の具体例を説明するが、 本発明がその具体 例に限定されるものではない。
第 1 ノズル層 1 には厚さが約 Ι ΠΙのポリイ ミ ド膜が用いられ、 第 2 ノズル層 2には厚さが約 2 0 mのポリイ ミ ド膜が用いられている。 ス トッパ層 3は T i を主成分とする金属材料からなり ノズルプレート
8全体の応力による反り を低減するため、 1辺約 2 0 μ mの略正方形形 状となっている。
第 1 ノズル穴 1 1 a の開口部 (液体吐出口 9 ) の口径は約 3 μ mであ る。また、第 2 ノ ズル穴 1 1 b の上底 1 1 yの外口径は 1 O ^ mであり、 開口部 (液体流入口 1 2 ) の口径は 3 0 πιである。
また、 第 1 ノズル層 1上の撥液膜 4は、 フッ素重合もしくはシリ コン 系の高分子膜によ り形成されている。
本実施の形態によれば、 上記ス トッパ層 3はノ ズル穴 1 1の形成位置 ごとに局所的に設けられているため、 従来のように第 1 ノズル層と第 2 ノズル層との界面の全体にわたってス トッパ層を形成する構成と比較し て、 第 1 ノズル層 1およぴ第 2 ノズル層 2 とス トッパ層 3 との線膨張率 の差に起因する応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノ ズルプレー ト 8に大きな反りが発生するこ'とを防止できる。
また、 上記のような応力の発生を抑制できるため、 第 1 ノズル層 1お よび第 2ノズル層 2に要求される剛性が小さくてすむ。 これにより、 第 1 ノズル層 1 あるいは第 2 ノズル層 2の層厚を、 従来の構成 (図 1 9 ( a ) ·図 1 9 ( b ) に示す S i層 2 4力 1 5 111、 S i層 2 5力 S 1 0 0 μ m ) に比較して、 小さくすることができる。 (本実施の形態では、 第 1 ノズル層 1が 1 μ mN 第 2 ノズル層 2力 2 0 μ πι)。 これにより、 第 1 ノ ズル穴 1 1 aおよぴ第 2 ノズル穴 1 1 bの後述するエッチングの際、 第 1 ノズル層 1および第 2 ノズル層 2のェツチング量が少なくてすみ、 形 成誤差が小さく なる。 したがって、 形成精度の高いノズル穴 1 1 を備え ることができる。
また、 第 2 ノズル穴 l i bがテーパ形状であるため、 第 2ノズル穴 1 l b内部において、 液体の乱流が発生しにく く なり、 液滴の吐出安定性 を向上させることができる。
また、 上記のよ う に第 2 ノズル層 2 を従来の構成に比較して薄くする ことができるため、 第 2 ノズル穴 1 1 b をテーパ形状に形成しても、 液 体流入口 1 2を従来の構成に比較して小さくすることができる。 これに よ り、 ノズル穴 1 1 の集積度を上げることができる。
また、 撥液膜 4によって、 液滴が第 1 ノズル穴 1 1 a近傍の第 1 ノズ ル層 1 に付着することを防止することができる。
なお、第 1 ノズル層 1 に用いられる材料はポリイ ミ ドに限定されない。 ポリイ ミ ド以外の高分子有機材料であっても良いし、 S i o2、 S i 3N4 といった S i化合物材料、 あるいは S i であっても良い。
また、 ス トツバ層 3に用いる材料も T i を主成分とする金属材料に限 定されない。 第 1 ノズル層 1および第 2 ノズル層 2のエツチング加工お ょぴ後述する犠牲層 5のエッチングの際、 当該エッチングに対して高い 耐性を有する材料、 すなわち、 エッチングガス (酸素を含有するプラズ マ、 フッ素を含有するプラズマ等)、 または、 エツチャン ト (硝酸、 水酸 化カ リ ウム水溶液等) に対する耐性の高い材料であればよい。 具体的に は、 T i 、 A l 、 C u、 A u、 P t、 T a、 W、 N b等を主成分とする 金属材料、 S i 〇2、 A 1 20 3等を主成分とする無機酸化物材料、 S i 3 N 4等を主成分とする無機窒化物材料等が挙げられる。
また、第 2ノズル層 2に用いられる材料もポリィ ミ ドに限定されない。 第 1 ノズル層 1 と同様に、 ポリイミ ド以外の高分子有機材料であっても 良いし、 S i 〇2、 S i 3N 4とレヽつた S i化合物材料、 あるいは S i であ つても い。
また、 ス トッパ層 3 の形状もノズル穴 1 1 の形成位置に局在する形状 であり さえすればよく、 略正方形形状に限定されない。 例えば円形であ つても良い。 円形は形状の等方性が最も高いので応力の低減も等方的と なり好ましい。 また、 図 1 ( a ) に示すように、 本実施の形態では 1個 のス トツパ層 3に対して 1個のノズル穴 1 1が形成されているがこれに 限定されない。 従来の構成より応力を抑えることが可能であれば、 1個 のス トッパ層 3に複数個のノズル穴 1 1を形成しても良い。
また、 本実施の形態では、 図 1 ( b ) に示すように、 第 1 ノズル穴 1 1 a と第 2ノズル穴 l i bの連通部 1 1 Xの口径は、 第 2ノズル穴 1 1 b の上底 1 1 yの口径より小さいがこれに限定されない。 上記連通部 1 1 Xの口径が上記当接部 1 1 yの口径と同じであっても構わない。また、 本実施の形態では、 第 2ノズル穴 1 1 bは、 第 1 ノズル穴 1 1 a との連 通部 1 1 Xが狭まった円錐台形状 (テーパ形状) であるがこれに限定さ れない。 例えば、 図 2に示すよ うに、 第 2ノズル穴 1 1 b の側壁がス ト ッパ層 3 と垂直の、 いわゆるス ト レート形状 (円筒形状) に形成するこ ともできる。 この場合、 第 2 ノズル穴 l i bの液体流入口 1 2をより小 さくすることができ、 ノズルの集積度をさらに高めることができる。 さ らに、 第 2 ノ ズル穴 l i bを、 図 8 ( c ) に示すような膨らみのあるテ ーパ形状と してもよい。
上記のよ う に、 ノズルプレー トを第 1 ノズル層 1、 ス トッパ層 3、 第 2 ノズル層 2を備える構成にすることによって、 .
( 1 ) 液体吐出口 9の形状を、 厚さ 1 μ mの第 1 ノズル層 1の加工精度 が支配するため、 液体吐出口 9の形状精度を向上することができる。
( 2 ) ノズルプレー ト 8の剛性は第 2 ノズル層 2で維持できるため、 ノ ズルプレー ト 8全体の剛性が高く なり、 取り扱いが容易になる。
( 3 ) ス トッパ層 3の形状を必要最小限に設定するこ とができるので、 応力によるノズルプレー ト 8の反り を低減することができる。
( 4 ) ノズルプレー ト 8の厚さを必要最小限にと どめることができるの で、 ノズルプレー ト 8の液体流入口 1 2を小さくすることができ、 これ によってノズル穴 1 1 の集積度を向上することができる。 これに伴って 解像度の高い画像を描画することができるよ うになる。
( 5 ) 膜厚の厚い第 2ノズル層 2によつて補強されているためノズルプ レー ト 8全体の剛性が高く反りが発生しにく く なると ともに取り极いが 容易になる。
( 6 ) 膜厚の厚い第 2 ノズル層 2に加工された第 2ノズル穴 l i bの加 ェ精度がたとえ悪く とも、 第 2 ノズル穴 l i bの加工時にはス トッパ層 3でエッチングが止まるため、 吐出される液滴の大きさを制御する第 1 ノズル穴 1 1 a に影響を及ぼすことがない。
( 7 ) ノズルプレー ト 8は、 ス トッパ層 3が第 1 ノズル層 1 よ り も薄く 設定されているため、 前記ス ト ツパ層 3 をフォ ト リ ソグラフィ技術を用 いてエッチング加工を行う際、 ス ト ツパ層 3 を用いることなく第 1 ノズ ル層 1 を直接フォ ト リ ソグラフィ技術を用いて加工する場合に比べ、 加 ェの形状精度が高く、 このス トツパ層 3をマスク と してエッチング選択 性の高い加工方法で第 1ノズル層 1を加工することができるので、 吐出 される液滴の大きさを制御する第 1ノズル穴 1 l.aを高精度で形成する ことができる。
( 8 ) 第 1 ノズル層 1に S i 02あるいは S i 3N 4を使用した'場合、 第 1 ノズル層 1上に撥液膜 4を形成する際、 撥液膜 4の付着力が向上するた め、 撥液膜 4のはがれや欠けが防止されるため、 吐出される液滴の吐出 方向が安定し、 描画画像の解像度が向上する。
(ノズルプレー トの製造方法)
次に、本実施の形態にかかるノズルプレートの一製造方法を説明する。 図 3 ( a ) 〜図 3 ( g ) は本実施の形態にかかるノズルプレートの製造 工程を説明する図である。 また、 図 4は、 図 3 ( c ) に示される工程の 変形例である。
まず、 S iやガラスなどからなる任意の厚さの一時保持のための基板 6に、 犠牲層 5を、 N i を用いた湿式鍍金によつて形成する (図 3 ( a ) 参照)。 犠牲層 5の厚さは 1 0 mとする。
次に、 上記犠牲層 5の上に塗布型のポリイ ミ ド榭脂を厚さ 1 μ mで成 膜し、 第 1 ノズル層 1を形成する (第 1の工程、 図 3 ( b ))。 ここで、 上記塗布型ポリイ ミ ド樹脂は犠牲層 5上にス ピンコー トによつて塗布し. 3 5 0 °Cで 2時間焼成した。
次に、 上記第 1 ノズル層 1上に、 ス トッパ層 3を形成する 〈第 2のェ 程、 図 3 ( c ))0 まず、 T i を主成分とする材料を用い、 スパッタ法に て厚さ 0. 5 ;u m ( 5 0 0 0 A) のス トッパ層 3を形成する。 そして、 このス トッパ層 3を、 フォ ト リ ソグラフィによ り所定の形状のレジス ト パターンを形成した後、 イオンミ リ ングのよ うな A rイオンによる ドラ ィエッチングによつて一辺 2 0 mの略正方形形状に加工する。 この ド ライエッチングの際に、 上記略正方形の内部に口径 3 μ mの開口部 1 1 a を 1個形成する。 この開口部 1 1 a iは後述する第 1 ノズル穴 1 1 a の形成パターンであ 第 1 ノズル穴 1 1 aの一部となる。 '
次に、第 2 ノズル層 2を上記第 1 ノズル層 1およぴス トッパ層 3上に、 2 0 μ πιの厚さで形成する (第 3の工程、 図 3 ( d ))。 第 2ノズル層 2 は、 第 1 ノズル層 1 と同様に塗布型ポリイ ミ ド榭脂をスビンコ一ト法に て塗布し、 3 5 0 °Cで 2時間焼成し 2 0 mの厚さと した。 ここで、 ス ト ツパ層 3の開口部 1 1 a もポリイ ミ ド樹脂にて埋められることにな る。
次に、 上記第 2ノ ズル層 2上にフォ ト リ ソグラフィによってレジス ト パターン 7を形成し、 酸素を主成分とするガスを用いた ドライエツチン グを行い、 第 2 ノ ズル層 2にテーパ形状 (円錐台形状) の第 2ノズル穴 l i b を形成した (第 4の工程、 図 3 ( e ))。 なお、 上記ドライエッチ ングはス ト ッパ層 3で止めることができる。 すなわち、 ス トッパ層 3の 上記開口部 1 1 a i を除いてス ト ツパ層 3が露出した部位では、 ドライ ェツチングがそれ以上進行しない。
第 2ノズル穴 l i bのテーパ形状の加工に際しては、 上記ェツチング において、 レジス ターン 7のエッチレー ト と第 2 ノズル層 2のポリ ィ ミ ド樹脂のエッチレー トを概ね等しく し、 該レジス トパターン 7を 1 5 0 °Cで 6 0分ポス トベータすることによってレジス トパターン 7をテ ーパ形状と し、 ェツチングによってこの形状を第 2ノズル層 2に転写す る手法を用いた。 すなわち、 図 9に示すよ うに、 エッチレー トがポリイ ミ ド樹脂 (第 2 ノズル層 2 ) と概ね等しくテーパー断面を有するレジス トパターン 7を 形成し、 ポリイ ミ ド榭脂のエッチングと同じス ピー ドでレジス トパター ン 7をエッチングし、 レジス トパターン 7のエッジを広げる。 このとき ポリイ ミ ド榭脂 (第 2 ノズル層 2 ) もエッチングされることになり、 ェ ツチングの壁面 (第 2 ノズル穴 l i bの壁面) が当初レジス トで形成し たテーパーを有する壁面 (レジス トパターン 7 ) と同じ形状になる。 なお、 レジス トパターン 7 と第 2 ノズル層 2のエッチレー ト とが概ね 等しいことから、 レジス トパターン 7の厚さは第 2 ノズル層 2の厚さよ り厚く形成することが望ましい。
次に、 第 4の工程に連続して、 第 1 ノズル層 1 に第 1 ノズル穴 1 1 a を加工するエッチングを行う (第 5の工程、 図 3 ( e ) 参照)。 このとき 第 1 ノズル穴 1 1 aは、 先の工程で加工したス トッパ層 3の開口部 1 1 aェ によって決定される形状 (略円形であり、 口径が 3 /z m ) に加工さ れる。 このとき、 ス トッパ層 3は本工程の酸素を主成分とする ドライエ ツチングではほとんどエッチングされないので、 ス ト ツパ層 3 に形成さ れたパターンが変化することなく 、 第 1 ノズル穴 1 1 aは図 3 ( e ) に 示すよ うにほぼ垂直に加工され、 これによつて第 1 ノズル穴 1 1 a を高 い精度で形成することができる。
次に、 上記レジス トパターン 7をレジス ト剥離液を用いて除去し、 硝 酸と水が主成分である水溶液に浸漬し犠牲層 5のみをエッチングするこ とで、 ノズルプレー ト 8 を基板 6からと り はずす (図 3 ( f ) ) 0 先に述 ベたよ うに、 第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2を形成するポリイ ミ ド樹 脂ゃス トッパ層 3を形成する T i は、 上記犠牲層 5のエッチング液によ つてほとんどエッチングされることがないので、 犠牲層 5のエッチング によって、 形状の変化や構造的信頼性の低下を招来することがない。 次に、 第 1 ノズル層 1 の表面に撥液膜 4を形成する (図 3 ( g ) )。 こ こでは、 塗布の容易さを考慮する趣旨でフッ素重合体を用い、 これをス タンプなどの方法によ り第 1 ノズル層 1 の表面に塗布し、 高'分子膜にて 撥液膜 4を形成した。 なお、 第 1 ノズル穴 1 1 a内に回り込んだ撥液膜 については、 撥液膜形成後に、 酸素を含有するプラズマを用い、 第 2ノ ズル穴 1 1 b側から ドライエッチングすることで、 これを除去した。 こ れによ り、 ノズルプレー ト 8のダメージを最小限にすることができる。 本実施の形態によれば、 第 1 ノズル穴 1 1 a をエッチングする際、 ス トッパ層 3 をマス ク (遮蔽層) と して、 第 1 ノズル穴 1 1 a をエツチン グするため、 第 1 ノズル穴 1 1 a を高精度に形成できる。
また、 第 2 ノズル層 2をエッチングする際、 ス トッパ層 3で自動的に ェツチングがとま り、 第 2 ノズル穴 l i bのェツチング深さを規定する ことができる。
また、 ス トッパ層 3の材料に、 第 1 ノズル穴 1 1 aのエッチング時の 遮蔽層と して、 あるいは、 第 1 ノズル穴 1 1 aの側壁と して最適な材料 を選択することができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴 1 1 a をよ り高精 度に形成することができる。 また、 第 1 ノズル層 1 あるいは第 2 ノズル 層 2 を薄く形成できるため、 第 1 ノズル穴 1 1 aおよぴ第 2ノズル穴 1 1 bのエッチングの際、 第 1 ノズル層 1および第 2 ノズル層 2のエッチ ング量が少なくてすみ、 形成誤差が小さく なる。 したがって、 ノズル穴 1 1 を高い精度で形成できる。
具体的には、 本実施の形態の工程を用いて作成した 2 0 0個の液体吐 出口 9 を有するノズルプレー ト 8 の各液体吐出口 9の形状を評価したと ころ、 ばらつきは ± 0 . 2 μ m と非常に高精度に加工できた。 また、 ノ ズルプレー ト 8の反り も Ι Ο μ ιη以下と非常に平坦であつた。
さ らに、 第 1 ノズル穴 1 1 aおよび第 2 ノズル穴 1 1 b をエッチング する際、 ス トッパ層 3に対して 1方向からエッチングを行うため、 従来 の方法のよ うに、 向かい合う よ う に 2方向からエッチングを行う場合に 比較して、 第 1 ノズル穴 1 1 a と第 2 ノズル穴 l i b の位置あわせが容 易である。
さ らに、第 1 ノズル穴 1 1 aおよぴ第 2ノズル穴 l i bの形成工程(第 4工程および第 5工程) において、 第 4工程におけるエッチング装置お よびエッチング液またはエッチングガスをそのまま使って、 第 5工程の エッチングを行う ことができる。 これによ り、 製造プロセスを簡略化で きる。
なお、 本実施の形態では、 犠牲層 5 と して N i 、 第 1 ノズル層 1およ び第 2 ノズル層 2 と してと してポリイ ミ ド樹脂、 ス ト ッパ層 3 と して T i を用いたが、 この組み合わせに限定されない。
犠牲層 5 には、 N i のほかに、 第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2、 ス ト ツパ層 3に用いる材料との組み合わせによって、 A l 、 C u、 などの 硝酸、 あるいは K O H水溶液に可溶な材料、 またはポリイ ミ ドのよ うな 酸素プラズマによってエッチングできる材料を用いることができる。 ま た、 犠牲層 5 の形成方法についても鍍金以外に蒸着法、 スパッタ法、 塗 布法などを材料に応じて用いることができる。
第 1 ノズル層 1 、 第 2 ノズル層 2には、 犠牲層 5のエッチングによる ダメージが軽微な材料を用いるこ とができる。また、ス ト ッパ層 3には、 44
犠牲層 5のエッチングおよぴ第 1ノズル穴 1 1 aおよび第 2 ノズル穴 1 1 bのエッチングに対して耐性の高い材料を用いることができる。
ここで、 表 1 に、 使用材料 (犠牲層、 第 1 ノズル層、 ス ト ッパ層、 第 2 ノズル層) および加工方法 (ス トッパ層、 第 1 ノズル穴、 第 2 ノ ズル 穴、 犠牲層除去) について好ましい組み合わせを示す。
Figure imgf000046_0001
表 1に示すよ うに、 第 1 ノズル層 1、 第 2ノズル層 2はポリイ ミ ド樹 脂のよ うな高分子有機材料に限定されず、 S i または S i o 2などの無 機シリ コン化合物を選択することができる。 ただし、 S i 0 2や S i を ドライエッチングするためには、 Fを含有する反応ガスを使用する必要 があり、 このエッチングに対して本実施の形態で用いた T i は耐性が低 いため、 A uなどのエツチング耐性を有する材料をス トツパ層 3 と して 利用することが望ましい。
また、 ス トッパ層 3にも、 T i以外に、 表 1に示す組み合わせに応じ て、 同表に記載の材料を使用するこ とができる。 なお、 ス トッパ層 3の 材料である T i は C F 4 と酸素の混合ガスを用いたプラズマでもエッチ ングすることができる。 しかし、 T i の下に形成された第 1 ノズル層 1 (ポリイ ミ ド) が、 上記ガスのプラズマによって T i よ り も高速にエツ チングされ、 大きなダメージを受ける。 したがって、 本実施の形態では ス トツパ層 3のパターユングには A rイオンによる ドライエッチング法 を採用している。 このよ うに、 ス ト ッパ層 3のエッチレー トと第 1 ノズ ル層 1 のエッチレー ト との差が少ない A rイオンによる ドライエツチン グ法を採用することで、 第 1 ノズル層 1 のダメージを最小限に抑えつつ ス トッパ層 3をパターユングすることができる。
また工程 2において、 上記ス ト ッパ層 3は正方形形状に形成したがこ れに限定されない。 第 2 ノズル穴 l i b を形成する際、 該第 2 ノズル穴 1 1 bがス ト ッパ層 3に到達し、 ェツチングの進行が止まるよ うな形状 および大きさであれば何でもよい。 ただし、 ス トッパ層 3の応力による ノズルプレー ト 8の反り をよ り低減できるよ うな形状および大きさ (必 要最小限の大きさ) であることが望ましい。
さ らに、 工程 2においては、 ス ト ッパ層 3の形状と第 1 ノズル穴 1 1 aの形成パターンとなる開口部 1 1 a 丄 を同時に作成したが、 2回のェ ツチング工程によつて作成することも可能である。さ らに、工程 2では、 図 4に示すよ 'うに、 ノズル穴加工パターン (開口部 1 1 a i を有するス トツバ層 3 )の作成時に、第 1 ノズル穴 1 1 a を加工することもできる。 ただしこの場合は、 第 2 ノズル層 2 を形成する際に (工程 3 )、 先に加工 した開口部 1 1 a 丄 が埋められてしま うため、 工程 5 において、 再度当 該部位を加工する。 また、 工程 4においては、 第 2 ノズル穴 1 1 bを加工する際のマスク 材とェツチング条件を適正化し、 図 8 ( a ) 〜図 8 ( c ) に示すよ う に、 側壁に膨らみ (曲面) をもった第 2 ノズル穴 1 1. b を形成すること もで きる。
すなわち、 に示すよ うに第 2 ノズル層 2上に酸素のプラズマエッチに 対する耐性の高い S i 〇2 などをマスク 1 3 と して形成し (図 8 ( a ) 参照)、酸素のプラズマエッチを高いガス圧たとえば 5 0 0 m T o r r で エッチングする (図 8 ( b ) 参照)。 これによ り、 マスク 1 3の下にも、 アンダーカツ トが生じ、 ふく らみのあるテーパーを形成することができ る (図 8 ( c ) 参照)。
ただし、 上記エッチングがオーバーエッチングになると、 第 2 ノズル 穴 1 1 b とス トッパ層 3の接触部において第 2ノズル穴 1 1 bの口径 d が広がり、 大面積のス トッパ層 3が必要となるため、 上記エッチングを 適性に制御することが好ま しい。
また、 撥液膜 4 と しては、 フッ素重合体に限定されず、 シリ コン系の 高分子膜、 D L C (ダイヤモンドライクカーボン) などを用いることも できる。
以上の加工工程を用いることによって、
( 1 ) 第 1 ノズル穴 1 1 a をス ト ッパ層 3 の開口部 1 1 a i をマスク と して選択性の高い加工手段で加工するため、 加工中の開口部 1 1 a i形 状の変化が少なく 、 オーバーェツチや第 1 ノズル層 1 の厚さのばらつき などによる、 第 1 ノズル穴 1 1 aの加工形状の変動が少なく 、 形状精度 が高く再現性のよい加工を行う ことができる。
( 2 ) 上記第 2 ノズル穴 1 1 b を上記ス ト ッパ層 3に対して選択性の高 い加工手段によって加工するため、 第 2 ノズル穴 l i bの加工を再現性 よくス トツパ層 3で止めることができる。 このため、 第 2 ノズル穴 1 1 b の加工精度が第 1 ノズル穴 1 1 a の加工精度に及ぼす影響が軽微であ り、 液体吐出口 9の形状精度が高く 、 層厚の厚いノズルプレー ト 8を安 定して製造することができる。
〔実施の形態 2〕
本発明の実施の形態 2について、 図面に基づいて説明すれば、 以下の 通りである。
(ノズノレプレー ト)
図 5 ( a ) は、 微小 ドッ ト形成装置に用いられる、 本発明のノズルプ レー トの一部の斜視図であり、 図 5 ( b ) は、 図 5 ( a ) の B— B ' 矢 視断面図である。 ノズルプレー トには 1個以上の液体 (液状物質) 吐出 口 9 0が形成されており、 図 5 ( a ) においては 2個の液体吐出口 9 0 が示されている。
図 5 ( a ) に示すよ うに、 ノズルプレー ト 8 0は、 ノズル層 1 0、 ス トッパ層 3 0 (遮蔽層)、 捕強板 2 0、 ノズル穴 1 1 0 を備えている。 ノ ズル層 1 0の液体吐出面側には撥液膜 4 0が形成され、 その反対側には 捕強板 2 0が接合されている。 ス ト ッパ層 3 0は、 ノズル層 1 0 と補強 板 2 0 の界面に位置し、 上記液体吐出口 9 0を開口部とする第 1 ノズル 穴 1 1 0 a の形成位置に局所的に形成されている。 すなわち、 第 1 ノズ ル穴.1 1 0 a は、 撥液膜 4 0、 ノズル層 1 0を貫通し、 局所的に形成さ れたス ト ッパ層 3 0の中心部を貫通している。
また、 直方体形状の第 2 ノズル穴 1 1 0 bは、 補強板 2 0を貫通して おり、 円筒形状の上記第 1 ノズル穴 1 1 0 a と ともにノズル穴 1 1 0を 構成する。
ここで、 上記ス トツパ層 3 0は、 ノズル層 1 0 と補強板 2 0 との界面 において第 2ノズル穴 1 1 0 bの内部 (開口範囲内) に位置している。 したがって、 上記第 2ノズル穴 1 1 0 bの開口部にあたる底面 (略正方 形) が液体供給口 1 2 0 となっており、 第 2ノズル穴 1 1 0 bの奥壁に あたる底面 1 1 O y (略正方形) の内側に、 ノ ズル層 1 0 とス トッパ層 3 0 との接触'面 (穴付略正方形) が位置している。 なお、 この接触面の 内側 (中心部) には、 第 1 ノズル穴 1 1 0 a と第 2ノズル穴 1 1 0 b と の連通部 1 1 O x (略円形) が位置している。
ノズル層 1 0は、 本実施の形態では厚さが 1 μ mのポリイ ミ ド膜で形 成されている。
ス トッパ層 3 0は、 T i を主成分とする金属材料が用いられ、 ノ ズル プレート 8 0全体の応力による反りを低減するため、 1辺 1 Ο μ ηιの略 正方形形状に形成されている。
第 1 ノズル穴 1 1 0 aの開口部 (液体吐出口 9 0 ) の口径は 3 μ mと なっている。
撥液膜 4 0は、フッ素重合体を有する高分子材料から形成されている。 補強板 2 0は厚さ δ θ μ ηιの S i からなり、 上記した略正方形の第 2 ノズル穴 1 1 0 bの開口部 (液体供給口 1 2 0 ) は、 一辺が 3 0 μ mと なっている。 '
本実施の形態によれば、 ス トッパ層 3 0は、 後述する第 1 ノズル穴 1 1 0 aのエッチング時に遮蔽層となれば足り ることから、 第 2 ノ ズル穴 1 1 0 bの内部に位置するよ う、 小さい形状にて形成されている。
このよ う に、 ノズル層 1 0 とス トッパ層 3 0 との接触面を最小限にす ることができ、 加えて、 補強板 2 0 とス トッパ層 3 0 との接触面をなく すことができるため、 ノズル層 1 0および捕強板 2 0 とス トツパ層 3 0 との線膨張率の差に起因する応力の発生を、 従来や実施の形態 1の構成 に比較して大幅に抑制することができる。 これにより、 ノズルプレー ト 8 0に大きな反りが発生することを防止できる。 .
なお、 ノズル層 1 0に用いられる材料はポリイ ミ ドに限定されない。 ポリイ ミ ド以外の高分子有機材料であっても良いし、 s i o 2、 S i 3N4 といった S i化合物材料、 あるいは S i であっても良い。
また、 ス トッパ層 3 0に用いる材料も T i を主成分とする金属材料に 限定されない。 ノズル層 1 0のエッチングおよび後述する犠牲層 5 0の エッチングの際、 当該エッチングに対して高い耐性を有する材料、 すな わち、 酸素を含有するプラズマ、 フッ素を含有するプラズマ、 硝酸、 水 酸化カリ ウム水溶液等に耐性の高い材料であればよい。 具体的には、 τ i 、 A l 、 C u、 A u、 P t、 T a、 W、 N b、 S i 〇2、 A 12〇3、 S i 3N4等を主成分とする金属材料あるいは無機酸化物材料や無機窒化物 材料等が挙げられる。
また、 補強板 2 0に用いられる材料も S i に限定されない。 S i 02、 S i 3N4といった S i化合物材料であっても良い。
また、 ス トッパ層 3 0の形状もノズル穴 1 1 0の形成位置に局在する 形状であり さえすればよく、 略正方形形状に限定されない。 例えば円形 であっても良い。 円形は形状の等方性が最も高いので応力の低減も等方 的となり好ましい。 また、 図 5 ( a ) に示すように、 本実施の形態では 1個のス トツパ層 3 0に対して 1個のノズル穴 1 1 0が形成されている がこれに限定されない。 従来の構成より応力を抑えることが可能であれ ば、 1個のス トツパ層 3 0に複数個のノズル穴 1 1 0を形成しても良い。 また、補強板 2 0に設けられた第 2 ノズル穴 1 1 0 b も直方体形状(断 面が正方形形状) に限定されない。 円筒形状やテーパ形状 (円錐台形状) であっても良い。
上記のよ うに、 ノズルプレー トをノズル層 1 0、 ス トッパ層 3 0、 補 強板 2 0を備える構成にすることによって、
( 1 ) 液体吐出口 9 0の形状を、 厚さ 1 μ mのノズル層 1 0の加工精度 が支配するため、液体吐出口 1 2 0の形状精度を向上することができる。
( 2 ) ノズルプレー ト 8 0の剛性は捕強板 2 0で維持できるため、 ノズ ルプレー ト 8 0全体の剛性が高く なり、 取り扱いが容易になる。
( 3 ) ス トッパ層 3 0の形状をさ らに小さくすることができるので、 応 力によるノズルプレー ト 8 0の反り を低減するこ とができる。
( 4 ) ノズルプレー ト 8 0の厚さを必要最小限にと どめることができる ので、ノズルプレー ト 8 0の液体流入口 1 2 0 を小さ くすることができ、 これによつてノズル穴 1 1 0の集積度を向上することができる。 これに 伴って解像度の高い画像を描画することができるよ う になる。
( 5 ) また、 ス ト ッパ層 3 0は補強板 2 0に形成された第 2 ノズル穴 1 1 0 bの形状に影響を受けることなく 、 必要最低限の所定の形状に加工 できるため、 線膨張率の差によるノズルプレー ト 8 0の反り をさ らに低 減することができる。
( 6 .) ノズルプレー ト 8 0は、 ス ト ッパ層 3 0がノズル層 1 0 よ り も薄 く設定されているため、 前記ス トツバ層 3 0をフォ ト リ ソグラフィ技術 を用いてエッチング加工を行う際、 ス トツパ層 3 0 を用いることなく ノ ズル層 1 0 を直接フォ ト リ ソグラフィ技術を用いて加工する場合に比べ. 加工の形状精度が高く、 このス トッパ層 3 0をマスク と してエッチング 選択性の高い加工方法でノズル層 1 0 を加工することができるので、 吐 出される液滴の大きさを制御する第 1 ノズル穴 1 1 0 a を高精度で形成 することができる。
(ノズルプレー トの製造方法)
図 6 ( a ) 〜図 6 ( g ) は、 本実施の形態にかかるノズルプレー トの 製造工程を示している。 以下に、.同図を用いて本実施の形態にかかるノ ズルプレー トの製造方法を説明する。
まず、 S iやガラスなどからなる任意の厚さの一時保持のための基板 6 0に、 犠牲層 5 0を、 N i を用いた湿式鍍金によって形成する (図 6 ( a ))。 犠牲層 5 0 の厚さは 1 0 μ mとする。
次に、 上記犠牲層 5 0の上に塗布型のポリイ ミ ド樹脂を厚さ 1 μ mで 成膜し、 ノズル層 1 0を形成する (図 6 ( b ))。 こ こで、 上記塗布型ポ リイ ミ ド樹脂は犠牲層 5 0上にス ピンコー トによつて塗布し、 3 5 ひ。 C で 2時間焼成した。
次に、 上記ノズル層 1 0上に、 ス トッパ層 3 0 (遮蔽層) を形成する (図 6 ( c ))。 まず、 T i を主成分とする材料を用い、 スパッタ法にて 厚さ 5 0 0 0 Aのス トッパ層 3 0を形成する。 そして、 このス トッパ層 3 0を、 フォ ト リ ソグラフィによ り所定の形状のレジス トパターンを形 成した後、 イオンミ リ ングのよ うな A rイオンによる ドライエッチング によって一辺 1 0 μ mの略正方形形状に加工する。 この ドライエツチン グの際に、 上記略正方形の内部に口径 3 μ πιの開口部 1 1 0 a i を 1個 形成する。 この開口部 1 1 0 a i は後述する第 1 ノズル穴 1 1 0 a の形 成パターンであり、 第 1 ノズル穴 1 1 0 a の一部となる。 次に、 上記ス トッパ層 3 0の開口部 l l O a i に対応するパターンを 有するレジス トパターン 7 0を形成する。 すなわち、 レジス トパターン 7 ◦の開口部 7 0 a にス ト ツパ層 3 0の開口部 1 1 0 a i が位置する よ うに形成される。 しかる後に、 ス トッパ層 3 0をマスクとして、 その開 口部 l l O a i力 らノズル層 1 0をエッチングし、 第 1 ノズル穴 1 1 0 aを形成する。 このエッチングには、 酸素を主成分とするガスを用いた ドライエッチングによる。 (図 6 ( d ) )。
続いて、 レジス ト 7 0を剥離液などを用いて除去する。 ここで、 ス ト ッパ層 3 0は本工程の酸素を主成分とする ドライエッチングではほとん どエッチングされないので、 ス トッパ層 3 0に形成されたパターンが変 ィ匕することなく、 第 1 ノズル穴 1 1 0 aは図 6 ( d ) に示すようにほぼ 垂直に加工される。
このため、 オーバーエッチによる加工形状の変化がなく、 フォ ト リ ソ グラフィのパターン精度に近い土 0. 1 mの極めて高い加工精度で第 1 ノズル穴 1 1 0 aを形成することができる。 また、 上記レジス ト 7 0 の厚さは、 上記ノズル層 1 0の厚さより も大きいことが望ましく、 本実 施の形態では上記レジス ト厚を 2 μ mと した。
次に、 一辺 1 5 μ mの直方体形状の第 2ノズル穴 1 1 O bを有する補 強板 2 0を、 第 2ノズル穴 1 1 0 b内に上記ス トッパ層 3 0が配置する ように位置決めして接着する (図 6 ( e ) 参照)。 ここでは各部材 (ノズ ル層.1 0 と補強板 2 0 ) の接着面をカメラ等で観察し、 観察位置から上 記各部材を所定量移動し、 機械的に接合する方法を用いた。
図 1 0 ( a ) はこの方法における、 位置決め (ァライメントフエイズ) を示し、 図 1 0 ( b ) は接合 (接合フェイズ) を示している。 まず、 図 1 0 ( a ) に示すように、 補強板位置測定エリア 6 5におい て、 カメラ 6 1によつて捕強板 2 0の接合面を観察し、 第 2ノズル穴 1 1 0 bの輪郭パターンを測定する。 同様に、 ノズル層位置測定エリア 6 7において、 カメラ 6 2によってノズル層 1 0の接合面を観察し、 ス ト ッパ一層 3 0の輪郭パターンを測定する。
次に、 図 1 0 ( b ) に示すように、 上記測定結果からノズル層 1 0お よび補強板 2 0の適正移動量を算出し、 この適正移動量に従い上記ノズ ル層 1 0 と補強板 2 0 とを接合ェリア 6 6における適性位置に移動させ る (ァライメ ン トフエイズ)。
そして、 接合ェリア 6 6において、 接合面をリ アルタイムで観察する ことなく上下に圧着し、 捕強板 2 0 とノズル層 1 0 とを接合する。
なお、 補強板 2 0は S iからなり、 接着剤には、 耐薬品性の高いェポ キシ系を用いる。 接着の際には、 接着剤とノズル層 1 0あるいは捕強板 2 0の線膨張係数の差から、 ノズルプレート 8 0に反りが発生しないよ う、 常温にて硬化することが望ましい。
次に、 硝酸と水が主成分である水溶液に浸漬し犠牲層 5 0のみをエツ チングすることで、 ノズルプレート 8 0を基板 6 0カゝらと りはずす (図 6 ( f ) 参照)。 このとき、 ノズル層 1 0を形成するポリイミ ド樹脂ゃス トッパ層 3 0を形成する T i ならぴに捕強板 2 0を形成する S i は、 上 記犠牲層 5 0めエッチング液によってほとんどエッチングされることが ないので、 犠牲層 5 0のエッチングによって、 形状の変化や構造的信頼 性の低下を招来することがない。
次に、 ノズル層 1 0の表面に撥液膜 4 0を形成する (図 6 ( g ) )。 こ こでは、 塗布の容易さを考慮する趣旨によりフッ素重合体を用い、 これ をスタンプなどの方法でノズル層 1 0の表面に塗布す'ることで、 高分子 膜にて撥液膜 4 0を形成した。 なお、 第 1 ノズル穴 1 1 0 a内に回り込 んだ撥液膜 4 0については、 撥液膜 4 0形成後に、 酸素を含有するブラ ズマを用レ、、第 2ノズル穴 1 1 0 b側から ドライエッチングすることで、 これを除去した。 これにより、 ノズルプレート 8 .0のダメージを最小限 にすることができる。
ここで補強板 2 0の製造方法について図 7を用いて簡単に説明する。 まず、 図中矢印 D方向の厚さ 2 0 0 πιの S i基板 3 1に、 第 2ノズ ル穴 1 1 0 b となる幅 1 5 t ni、 深さ 1 5 μ mの溝をダイシング装置に よって所定の間隔に形成する。 次に、 矢印 D方向の厚さ 1 0 0 u mの S i基板 3 2を上記溝を加工した S i基板 3 1の溝を配設した面 3 3にェ ポキシ系の接着剤を用いて接合する。 次に、 ダイシング装置によって溝 に直交する方向 (図中矢印 D方向) に切断する。 これにより、 図中矢印 E方向に沿った、 第 2ノズル穴 1 1 0 b (断面が一辺 1 5 ;u mの略正方 形) の列を 1列有する、 矢印 F方向の厚さ 5 0 mの補強板 2 0を複数 枚切り出すことができる。
ここで、 上記方法は補強板 2 0の製造方法の単なる一例に過ぎず、 例 えば、 図中矢印 E方向に沿った第 2ノズル穴 1 1 0 b (断面が一辺 1 5 μ mの略正方形) の列を図中矢印 D方向に複数列有する補強板 2 0を製 造することもできる。 この場合、 溝を加工した S i基板 3 1を複数枚用 いればよい。 なお、 溝を加工した上記 S i基板 3 1 を複数枚用い、 溝の 位置あるいは接合位置を調整すれば、 千鳥配列された第 2ノズル穴 1 1 0 bを形成することもできる。
本実施の形態によれば、 ス トッパ層 3 0は第 1 ノズル穴 1 1 0 aのェ ツチング時に遮蔽層 (マスク) となる大きさであればよい。 よって、 ス トッパ層 3 0を実施の形態 1に比較して、 より小さい形状にて形成する ことができる。 ·
また、 補強板 2 0 とノ ズル層 1 0 とを別個に形成できるため、 ノ ズル プレート 8 0を簡略に、 また、 安定して製造することができる。
以上のプロセスを用いて作成した 2 0 0個の液体吐出口 9 0を有する ノズルプレート 8 0の各吐出口の形状を評価したところ、 ばらつきは士 0 . 2 m と非常に高精度に加工できた。 また、 ノズルプレート 8 0 の 反り も 5 μ m以下と非常に平坦であった。
なお、 本実施の形態では、 犠牲層 5 0に N i 、 ノズル層 1 0にポリイ ミ ド樹脂、 補強板 2 0に S i 、 ス トッパ層 3 0に T i を用いたが、 この 組み合わせに限定されない。
犠牲層 5 0には、 N i のほかに、 ノズル層 1 0、 補強板 2 0 、 ス ト ツ パ層 3 0に用いる材料との組み合わせによって、 A l 、 C u、 などの硝 酸、 あるいは K O H水溶液に可溶な材料、 またはポリイ ミ ドのよ うな酸 素プラズマによってエッチングできる材料を用いることができる。また、 犠牲層 5 0 の形成方法についても鍍金以外に蒸着法、 スパッタ法、 塗布 法などを材料に応じて用いることができる。
ノズル層 1 0、 補強板 2 0には、 犠牲層 5 0 のエッチングによるダメ ージが軽微な材料を用いることができる。 また、 ス トッパ層 3 0には、 犠牲層 5 0のェツチングおよぴ第 1 ノズル穴 1 1 0 aのェツチングに対 して耐性の高い材料を用いることができる。
ここで、 表 2に使用材料 (犠牲層、 ノズル層、 ス トッパ層、 補強板) および加工方法 (ス トッパ層、 第 1 ノズル穴、 犠牲層除去) について好 ましい組み合わせを示す,
表 2
Figure imgf000058_0001
表 2に示すよ うに、 ノズル層 1 0はポリイ ミ ド樹脂のよ うな高分子有 機材料に限定されず、 S i または S i 0 2 などの無機シリ コン化合物を 用いることができる。 また、 補強板 2 0についても、 S i 以外にガラス や A 1 2〇3などを主成分とするセラミ ックあるいはポリイ ミ ド樹脂とい つた材料を使用することができる。
なお、 ス トッパ層 3 0の材料である T i は C F 4 と酸素の混合ガスを 用いたプラズマでもエッチングすることができる。 しかし、 T i の下に 形成.されたノズル層 1 0 (ポリイ ミ ド) が、 上記ガスのプラズマによつ て T i よ り も高速にエッチングされ、 大きなダメージを受ける。 したが つて、 本実施の形態ではス トツパ層 3 0のパターユングには A rイオン による ドライエッチング法を採用している。 このよ うに、 ス トッパ層 3 0およびノズル層 1 0 とのエッチレー トの差が少ない A rイオンによる ドライエッチング法を採用することで、 ノズル層 1 0のダメージを最小 限に抑えつつス トツパ層 3 0をパターニングすることができる。
また、 撥液膜 4 0 と しては、 フッ素重合体に限定されず、 シリ コン系 の高分子膜、 D L C (ダイヤモン ドライクカーボン) などを用いること もできる。
また、 本実施の形態では補強板 2 0は、 S i 板に第 2 ノズル穴 1 1 0 bを加工しただけである力 補強板 2 0の厚さを変更することによって、 液滴吐出機構や液滴吐出信号伝達手段を配置することが可能である。 以上の加工工程を用いることによって、
( 1 ) 液体吐出口 9 0の形状を、 厚さ 1 mのノズル層 1 0の加工精度 が支配するため、 液体吐出口 9 0の形状精度を向上することができる。
( 2 ) ノズルプレー ト 8 0の剛性は補強板 2 0で維持できるため、 ノズ ルプレート 8 0全体の剛性が高く なり、 取り扱いが容易になる。
( 3 ) ス ト ッパ層 3 0の形状をさ らに小さ くすることができるので、 応 力によるノズルプレー ト 8 0の反り を低減することができる。
( 4 ) ノズルプレー ト 8 0の厚さを必要最小限にと どめることができる ので、ノズルプレー ト 8 0の液体流入口 1 2 0を小さくすることができ、 これによつてノズル穴 1 1 0の集積度を向上することができる。 これに 伴って解像度の高い画像を描画することができるよ う になる。
( 5 ) ノズルプレー ト 8 0を簡便に、 安定して製造することができる。 なお、 上記実施の形態のノズルプレー ト 8 ( 8 0 ) は、 上記ス ト ッパ 層 3 ( 3 0 ) の膜厚が第 1 ノズル層 1 (ノズル層 1 0 ) よ り も薄いこと を特徴とすることもできる。 上記構成のノズルプレー ト 8 ( 8 0 ) は、 ス ト ッパ層 3 ( 3 0 ) が第 1 ノズル層 1 (ノズル層 1 0 ) よ り も薄く設定されているため、 前記ス トツパ層 3 ( 3 0 ) をフォ ト リ ソグラフィ技術を用いてエッチング加工 を行う際、 ス トッパ層 3 ( 3 0 ) を用いることなく第 1 ノズル層 1 (ノ ズル層 1 0 ) を直接フォ ト リ ソグラフィ技術を用いて加工する場合に比 ベ、 加工の形状精度が高く、 このス ト ッパ層 3 ( 3 0 ) をマスク と して エッチング選択性の高い加工方法で第 1 ノズル層 1 (ノズル層 1 0 ) を 加工することができるので、 吐出される液滴の大きさを制御する第 1 ノ ズル穴 1 1 a ( 1 1 0 a ) を高精度で形成することができる。
なお、 上記実施の形態のノズルプレー ト 8は、 第 1 ノズル層 1 または 第 2ノズル層 2は、 高分子有機材料または S i あるいは無機シリ コン化 合物から選定される材料によってそれぞれ形成され、 上記ス トツパ層 3 は第 1 ノズル層 1 または第 2 ノズル層 2の加工手段に対して、 耐性の高 い材料によつて形成されることを特徴とすることもできる。
上記構成のノズルプレー ト 8は、 第 1 ノズル穴 1 1 aがス トッパ層 3 を貫通する形状で第 1 ノズル層 1 に形成されているため、 第 1 ノズル穴 1 1 a の形状精度が高い。 また、 第 2 ノズル層 2に形成された第 2 ノズ ル穴 1 1 bがス ト ッパ層 3 を貫通することがないので第 1 ノズル層 1 の 厚さが一定で、 流路抵抗のばらつきがない。
なお、 上記実施の形態におけるノズルプレー ト 8 ( 8 0 ) の製造方法 は、 第 1 ノズル層 1 (ノズル層 1 0 )' を添着する工程と、 第 1 ノズル層 1 (ノズル層 1 0 ) 上にス ト ッパ層 3 ( 3 0 ) を形成する工程と、 ス ト ッパ層 3 ( 3 0 ) に開口部を形成する工程と、 ス トッパ層 3 ( 3 0 ) に 形成した開口部形状をマスク と して、 第 1 ノズル穴 1 1 a ( 1 1 0 a ) を加工する工程と、 第 1ノズル層 1 (ノズル層 1 0 ) と支持基板を離間 する工程を備えることもできる。
上記構成のノズルプレート 8 ( 8 0 ) の製造方法では、 第 1 ノズル穴 1 1 a ( 1 1 0 a ) のマスク となるス トッパ層 3 ( 3 0 ) の開口部を作 成する際、 第 1 ノズル層 1 (ノズル層 1 0 ) が支持基板によって支持さ れているため、 上記開口部の加工を精度よく行うことができ、 このため この開口部をマスク と して加工する第 1 ノズル穴 1 1 a ( 1 1 0 a ) が 高精度に形成される。
なお、 上記実施の形態におけるノズルプレー トの製造方法は、 上記第 1 ノズル穴 1 1 aまたは第 2ノズル穴 1 1 bの加工をドライエッチング を用いて行うことを特徴とすることもできる。
上記構成のノズルプレート 8の製造方法では、 高い異方性を有するェ ツチングで第 1 ノズル穴 1 1 a又は第 2ノズル穴 1 1 bを加工するため. 第 1 ノズル穴 1 1 aまたは第 2ノズル穴 l i bを高い加工精度で加工す ることができる。
また、 上述したすべての実施の形態を通して、 上記遮蔽層は液滴吐出 信号伝達手段を兼ねることができる。
さらに、 本発明にかかるノズルプレートは、 バブルジェッ ト (登録商 標) 方式、 圧電吐出方式、 静電吐出方式のいずれの方式のインクジエツ トにおいても適用可能である。
本発明は上述した各実施の形態に限定されるものではなく、 請求項に 示した範囲で種々の変更が可能であり、 異なる実施の形態にそれぞれ開 示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本 発明の技術的範囲に含まれる。 〔実施の形態 3〕
本発明の実施の形態 3について、 図面に基づいて説明すれば、 以下の 通りである。
(ノズルプレー ト )
図 1 1 ( a ) は、 微小ドッ ト形成装置に用いられる、 本発明のノズル プレートの一部の斜視図であり、 図 1 1 ( b ) は、 図 1 1 ( a ) の A— A ' 矢視断面図である。 ノズルプレート 8には 1個以上の液状物質の吐 出口 (開口部または第 1開口部) (以下、 吐出口と称する) 1 1 cが形成 されており、 図 1 1 ( a ) においては 2個の吐出口 1 1 cが示されてい る。
図 1 1 ( a ) '図 1 1 ( b ) に示すように、 ノズルプレート 8の液状物 質吐出側には撥液膜 4を有する第 1 ノズル層 1、 液状物質供給側には第 2ノズル層 2が形成され、 この第 1 ノズル層 1内に吐出層 1 4、 第 2ノ ズル層 2内にス トッパ層 3 (遮蔽層) が形成され、 これら (撥液膜 4·、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1、 ス トッパ層 3、 第 2ノズル層 2 ) を貫く ようにノズル穴 1 1が形成されている。
より具体的には、 ノズルプレート 8の液状物質吐出面には撥液膜 4が 形成され、 撥液膜 4 と接するように第 1 ノズル層 1が形成されている。 吐出層 1 4は第 1 ノズル 1層内にて局所的に形成され、 さらに第 1 ノ ズ ル層 1の撥液膜 4側の面と吐出層 1 4の撥液膜 4側の面とは面一状に形 成されている。 第 2 ノ ズル層 2は、 その片面が第 1 ノズル層 1 の撥液膜 4形成面の反対側の面に接するように形成されている。 ス トッパ層 3は 第 2ノズル 2層内にて、 その片面が第 1ノズル層 1 と接するように局所 的に形成されている。 . また、 撥液膜 4、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1、 および第 2ノズル層 2を貫通するノズル穴 1 1 は、 撥液膜 4、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1 およびス ト ッパ層 3の貫通部である第 1 ノズル穴 1 1 a と、 第 2ノズル 層 2の貫通部である第 2ノズル穴 1 1 bカゝら構成される。 さ らに第 1 ノ ズル穴 1 1 a は、 撥液膜 4およぴ吐出層 1 4の貫通部である吐出口 1 1 c と、 第 1 ノズル層 1およびス ト ッパ層 3の貫通部である第 1 ノズル穴 部 1 1 d力 らなる。
換言すれば、 吐出層 1 4は、 第 1 ノズル層 1内にて、 撥液膜 4 と第 1 ノズル層 1 との界面に位置し、 撥液膜 4に接すると ともに、 吐出口 1 1 cの形成位置に局所的に形成されていることになり、 また、 ス トッパ層 3は、 第 2ノズル層 2内にて、 第 1 ノズル層 1 と第 2 ノズル層 2 との界 面に位置し、 第 1 ノズル層 1 に接する と ともに、 第 1 ノズル穴部 l i d の形成位置に局所的に形成されていることになる。
そして、 ノズルプレー ト 8の裏面 (撥液膜 4形成面の反対側の面) 'に 形成された第 2ノズル穴 l i bの入口開口部から供給された液状物質が 第 2 ノズル穴 1 1 bおよび第 1 ノズル穴部 l i dを介して吐出口 1 1 c から例えば、液滴と して吐出される。 なお、液状物質の吐出時の形状は、 液滴形状に限定されない。
ここで、 吐出口 1 1 cおよぴ第 1 ノズル穴部 l i dは、 図 1 1 ( a ) に示すよ うに、' と もに円筒形状を有しており、 第 2 ノズル穴 1 1 bは、 第 1 ノズル穴部 1 1 d との連通部から裾広が り に拡開するテーパ形状
(円錐台形状) である。
さ らに、 円筒形状の第 1 ノズル穴部 1 1 dの上底 1 1 aは、 略吐出口 1 1 c を中心とする円環形状であり、 吐出層 1 4が当該上底 1 1 を成 して露出している。 したがって吐出口 1 1 c と第 1 ノ ズル穴部 1 1 d と の連通部 1 1 jS (略円形) の口径は、 第 1 ノズル穴部 l i dの上底 1 1 αの外口径 (上記連通部 1 1 βにおける第 1 ノズル穴部 1 1 dの外形) よ り小さい。
さらに、 円錐台形状の第 2ノズル穴 l i bの上底 1 1 yは、 略第 1 ノ ズル穴部 1 1 dを中心とする円環形状であり、 ス トツバ層 3が当該上底 1 1 yを成して露出している。 したがって第 1 ノズル穴部 1 1 d と第 2 ノズル穴 l i b の連通部 1 1 X (略円形) の口径は、 第 2 ノズル穴 1 1 bの上底 1 1 yの外口径 (上記連通部 1 1 Xにおける第 2 ノズル穴 1 1 bの外形) よ り小さい。
以下、 各部のサイズや材質の具体例を説明するが、 本発明がその具体 例に限定されるものではない。
吐出層 1 4には T i を主成分とする 0. 5 μ πιの T i膜が用いられて いる。 また、 第 1 ノズル層 1 には厚さが約 l mのポリイ ミ ド膜が用い られ、 第 2 ノズル層 2には厚さが約 2 0 111のポリイ ミ ド膜が用いられ ている。
ス ト ッパ層 3は T i を主成分とする金属材料からなり ノズルプレー ト 8全体の応力による反り を低減するため、 1辺約 2 0 μ mの略正方形形 状となっている。
第 1 ノズル穴 1 1 aの開口部にあたる吐出口 1 1 c の口径は約 3 μ m である。 また、 第 2 ノズル穴 1 1 bの上底 1 1 yの外口径は 1 O /^ mで あり、 入口開口部 (液体流入口 1 2 ) の口径は 3 0 μ πιである。
また、吐出層 1 4および第 1 ノズル層 1上の撥液膜 4は、厚さが約 0 - 0 5 mのフッ素重合も しく はシリ コン系の高分子膜によ り形成されて いる。 上記撥液膜 4は、 後述するように吐出口 1 1 cに回り込んだ余分 な領域が、 ドライエッチによって除去されるが、 このドライエッチによ つて吐出 P i l e の形状が大幅に変形しないように、 その膜厚は吐出口 1 1 cの膜厚より薄いことが望ましい。
本実施の形態によれば、 着弾精度に大きな影響を与えるノズルプレー ト 8の吐出口 1 1 cの形状が、 上記 0 . 5 mの T i膜の加工精度で決 定されるので、 該吐出口 1 1 c の加工精度が非常に高く、 これに伴って 非常に高い着弾精度を確保することができる。
一方で、 吐出口 1 1 cの加工精度を高めるためには、 吐出層 1 4の膜 厚を薄くすればよい。 これにより、 吐出層 1 4のエッチング量が小さく なるので、 吐出層 1 4をエッチング剤に曝す時間を短くすることができ る。 ここで、 吐出層 1 4の膜厚を薄くすることによって、 吐出層 1 4の 剛性が低下し、 吐出口 1 1 cの構造的な信頼性が減少するおそれがある 、 本実施の形態では、 吐出層 1 4が第 1 ノズル層 1の撥液膜 4側の面 に接するように、 かつ第 1 ノズル層 1の内部に形成されているため、 吐 出層 1 4が補強されている。 したがって、 吐出口 1 1 cの構造的信頼性 を担保しつつも吐出口 1 1 c の形状精度を向上することができる。
また、 上記ス トッパ層 3はノズル穴 1 1 (第 1 ノズル穴部 1 1 d ) の 形成位置ごとに局所的に設けられているため、 第 1 ノズル層 1 と第 2ノ ズル層 2 との界面の全体にわたってス トツパ層 3を形成する構成と比較 して.、 第 1 ノズル層 1および第 2ノズル層 2 とス トツパ層 3 との線膨張 率の差に起因する応力の発生を大幅に抑制することができ、 ノズルプレ ート 8に大きな反りが発生することを防止できる。
また、 第 2 ノズル穴 l i bがテーパ形状であるため、 第 2ノズル穴 1 1 b内部において、 液体の乱流が発生しにく くなり、 液状物質の吐出安 定性を向上させることができる。
また、 撥液膜 4によって、 液状物質が吐出口 1. 1 c近傍の吐出層 1 4 に付着することを防止できる。
なお、 吐出層 1 4に用いられる材料は T i を主成分とする金属材料に 限定されない。 第 1 ノズル層 1および第 2ノズル層 2のエッチング工程 および後述する犠牲層 5 (図 1 3 ( f ) 参照) のエッチングおよび吐出 口 1 1 c内に回り込んだ撥液膜 4のエッチング工程の際、 これらのエツ チングに対して高い耐性を有する材料、 すなわち、 エッチングガス (酸 素を含有するプラズマ、 フッ素を含有するプラズマ等)、 または、 エッチ ヤント (硝酸、 水酸化カリ ウム水溶液等) に対する耐性の高い材料であ ればよい。
具体的には、 T i 、 A l 、 C u、 C o、 F e、 N i 、 A u、 P t、 T a、 W、 N b等を主成分とする金属材料、 S i 0 2、 A 1 20 3等を主成分 とする無機酸化物材料、 S i 3N 4、 A 1 N等を主成分とする無機窒化物 材料等が挙げられ、 上記ェツチングガスあるいはェッチャン トとの組み 合わせで選択することができる。
また、第 1 ノズル層 1に用いられる材料はポリイ ミ ドに限定されない。 ポリイ ミ ド以外の高分子有機材料であっても良いし、 s i o 2、 S i 3N 4 といった S i化合物材料、 あるいは S i であっても良い。
また、 ス トッパ層 3に用いる材料も T i を主成分とする金属材料に 定されない。 第 1 ノズル層 1およぴ第 2ノズル層 2のエッチング工程お ょぴ後述する犠牲層 5のエッチング工程の際、 これらのエッチングに対 して高い耐性を有する材料、 すなわち、 エッチングガス (酸素を含有す るプラズマ、 フッ素を含有するプラズマ等)、 または、 エツチャン ト (硝 酸、 水酸化カリ ウム水溶液等) に対する耐性の高い材料であればよい。 具体的には、 T i 、 A l 、 C u、 C o、 F e 、. N i 、 A u、 P t、 T a、 W、 N b等を主成分とする金属材料、 S i 〇2、 A 1 203等を主成分 とする無機酸化物材料、 S i 3N4、 A 1 N等を主成分とする無機窒化物 材料等が挙げられる。
また、第 2ノズル層 2に用いられる材料もポリイ ミ ドに限定されない。 第 1ノズル層 1 と同様に、 ポリイ ミ ド以外の高分子有機材料であっても 良いし、 S i 02、 S i 3N4といった S i化合物材料、 あるいは S i であ つても良い。
また、 吐出層 1 4の形状も吐出口 1 1 cの形成位置に局在する形状で あり さえすればよく、 略正方形形状に限定されない。 例えば円形であつ ても良い。 円形は形状の等方性が最も高いので応力の低減も等方的とな り好ましい。
また、 図 1 1 ( a ) に示すように、 本実施の形態では 1個の吐出層 1
4に対して 1個の吐出口 1 1 cが形成されているがこれに限定されない c 従来の構成より応力を抑えることが可能であれば、 1個の吐出層 1 4に 複数個の吐出口 1 1 cを形成しても良い。
また、 ス トッパ層 3の形状もノズル穴 1 1 の形成位置に局在する形状 であり さえすればよく、 略正方形形状に限定されない。 例えば円形であ つても良い。 円形は形状の等方性が最も高いので応力の低減も等方的と なり好ましい。 また、 図 1 1 ( a ) に示すよ うに、 本実施の形態では 1 個のス トッパ層 3に対して 1個のノズル穴 1 1 (第 1 ノズル穴部 l i d ) が形成されているがこれに限定されない。 '従来の構成より応力を抑える ことが可能であれば、 1個のス ト ッパ層 3に複数個のノズル穴 1 1 (第 1 ノズル穴部 l i d ) を形成しても良い。
また、 本実施の形態では、 図 1 1 ( b ) に示すよ うに、 吐出口 1 1 c の口径が第 1 ノズル穴部 1 1 dの口径よ り も、 わずかに小さく設定した 力 S、 これに限定されず、 本発明の目的から考えると、 吐出口' 1 1 c と第 1 ノズル穴部 1 1 dの口径が同一であってもよい。
また、 本実施の形態では、 図 1 1 ( b ) に示すよ う に、 第 1 ノズル穴 部 1 1 d と第 2ノズル穴 l i bの連通部 1 1 Xの口径は、 第 2ノズル穴 l i bの上底 1 1 yの口径よ り小さいがこれに限定されない。
上記連通部 1 1 Xの口径が上記当接部 1 1 yの口径と同じであっても 構わない。 また、 本実施の形態では、 第 2ノズル穴 l i bは、 第 1 ノズ ル穴 1 1 a (第 1 ノズル穴部 l i d ) との連通部 1 1 Xが狭まった円錐 台形状 (テーパ形状) であるがこれに限定されない。 例えば、 図 1 2に 示すよ う に、 第 2 ノズル穴 l i bの側壁がス トッパ層 3 と垂直の、 いわ ゆるス ト レー ト形状 (円筒形状) に形成することもできる。 この場合、 第 2 ノズル穴 l i bの液体流入口 1 2をよ り小さくすることができ、' ノ ズル 1 1 の集積度をさ らに高めることができる。 さ らに、 第 2 ノズル穴 l i b を、 図 8 ( c ) に示すよ うな膨らみのあるテーパ形状と してもよ レヽ
以上のよ うに、 ノズルプレー ト 8を吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1 、 ス トッパ層 3、 第 2 ノズル層 2を備える構成にすることによって、
( 1 ) 吐出口 1 1 cの形状を、 厚さ 0 . 5 μ πιの吐出層 1 4の加工精度 が支配するため、 吐出 P i l eの形状精度を向上することができる。
( 2 ) 吐出層 1 4力 撥液膜 4のエッチング手段に対して耐性の高い材 料を使用しているため、 吐出口 1 1 c内部に回りこんだ撥液膜 4を除去 する際、 吐出口 1 1 cの形状が変化することがなく、 製造工程における 吐出口 1 1 cの加工精度劣化を防止することができる。
( 3 ) 吐出層 1 4に接して第 1 ノズル層 1を配置することによって、 薄 層である吐出層 1 4の剛性を第 1 ノズル層 1で保持するこどができるの で、 液状物質の吐出に際して吐出口 1 1 cの変形を最小限に抑えること ができ、 吐出安定性が向上する。
( 4 ) ノズルプレート 8の剛性は第 2 ノズル層 2で維持できるため、 ノ ズルプレート 8全体の剛性が高くなり、 取り扱いが容易になる。
( 5 ) ス トッパ層 3の形状を必要最小限に設定することができるので、 応力によるノズルプレート 8の反りを低減することができる。
( 6 ) ノズルプレート 8の厚さを必要最小限にとどめることができるの で、 ノズルプレー ト 8の液体流入口 1 2を小さくすることができ、 これ によってノズル穴 1 1の集積度を向上することができる。 これに伴って 解像度の高い画像を描画することができるよ うになる。
( 7 ) 膜厚の厚い第 2ノズル層 2によつて補強されているためノズルプ レート 8全体の剛性が高く反りが発生しにく くなるとともに取り扱いが 容易になる。
( 8 ) 膜厚の厚い第 2ノズル層 2に加工された第 2 ノズル穴 l i bの加 ェ精度がたとえ悪く とも、 第 2 ノ ズル穴 1 1 b の加工時にはス トツパ層
3でェツチングが止まるため、 吐出される液状物質の大きさを制御する 吐出口 1 1 cに影響を及ぼすことがない。
(ノズルプレー トの製造方法)
次に、本実施の形態にかかるノズルプレートのー製造方法を説明する。 図 1 3 ( a ) 〜図 1 3 ( g ) は本実施の形態にかかるノズルプレートの 製造工程を説明する図である。 また、 図 1 4は、 図 1 3 ( c ) に示され る工程の変形例である。
まず、 S iやガラスなどからなる任意の厚さの一時保持のための基板 6に、犠牲層 5を、 N i を用いた湿式鍍金によつて形成する(図 1 3 ( a ) 参照)。 犠牲層 5の厚さは 1 0 μ ηιとする。
次に、 上記犠牲層 5上に厚さ 0. 5 μ πιの T i膜を蒸着などの方法で 成膜し、 フォ ト リ ソグラフィを用いて 1辺 7 z mの略正方形形状である 吐出層 1 4の外形形状と、 口径 である円形の吐出口 1 1 cの形状 のレジス トパターンを形成する。 しかる後に、 ドライエッチング法を用 いて吐出層 1 4の外形形状と吐出口 1 1 c となる開口部 1 1 c i を同時 に加工する (吐出層形成工程)。
上記した、 吐出層 1 4の外形形状および開口部 1 1 c iの加工には、 C F 4 と酸素の混合ガスを含有するプラズマを用いたドライエッチング を採用した。 このエッチング手法においては、 T i膜を高速に、 精度良 く加工することができるとともに、 犠牲層 5を構成する N i とのェッチ ング選択性が高いので ( N i はほとんどエッチングされない)、 上記加工 によって犠牲層 5が大きな損傷を受けることがなく犠牲層 5表面の平坦 性が大幅に劣化することを防止できる。
この結果、 犠牲層 5表面に形成されるノズルプレー ト 8の液状物質吐 出面の平坦性が劣化することがない。 また、 上記加工は非常に高い精度 が要求されるため、 異方性の高いエッチング条件を用いている。
次に、 上記犠牲層 5の上に塗布型のポリイミ ド榭脂を厚さ 1 μ mで成 膜し、第 1 ノズル層 1 を形成する(第 1 ノズル層形成工程、図 1 3 ( b ))。 ここで、 上記塗布型ポリイ ミ ド樹脂は犠牲層 5上にスピンコー トによ つて塗布し、 3 5 0 °Cで 2時間焼成した。 ここで、 吐出層 1 4に形成さ れた吐出口 1 1 c となる開口部 1 1 c i はポリイ ミ ド樹脂にて埋められ る ( 1 1 c 2参照)。
次に、 上記第 1 ノズル層 1上に、 開口部 1 1 d ]_ を有するス トツパ層
3を形成する (遮蔽層形成工程、 図 1 3 ( c ))。
ここでは、 まず、 T i を主成分とする材料を用い、 スパッタ法にて厚 さ 0. 5 μ ιη ( 5 0 0 0 Α) のス トッパ層 3を形成する。 そして、 この ス トッパ層 3を、 フォ ト リ ソグラフィによ り所定の形状のレジス トパタ ーンを形成した後、 イオンミ リ ングのよ うな A rイオンによる ドライエ ツチングによって一辺 2 0 μ mの略正方形形状に加工する。 この ドライ エッチングの際に、 上記略正方形の内部に口径 3 z mの開口部 1 1 d i (第 2開口部) を 1個形成する。 この開口部 1 1 d は後述する第 1 ノ ズル穴 1 1 a (第 1 ノズル穴部 l i d ) の形成パターンであり、 第 1 ノ ズル穴部 1 1 dの一部となる。
次に、第 2 ノズル層 2を上記第 1 ノズル層 1およぴス ト ッパ層 3上に、 2 0 w mの厚さで形成する (第 2 ノズル穴形成工程、 図 1 3 ( d ))。 第 2 ノズル層 2は、 第 1 ノズル層 1 と同様に塗布型ポリイ ミ ド樹脂を スピンコー ト法にて塗布し、 3 5 0 °Cで 2時間焼成し 2 0 mの厚さと した。 これによ り、 ス ト ッパ層 3の開口部 1 1 d ;L もポリイ ミ ド樹脂に て埋められることになる ( 1 1 d 2参照)。
次に、 上記第 2 ノズル層 2上にフォ ト リ ソグラフィによってレジス ト パターン 7を形成し、 酸素を主成分とするガスを用いた ドライエツチン グを行い、 第 2 ノズル層 2にテーパ形状 (円錐台形状) の第 2 ノズル穴 l i b を形成する (第 2 ノズル穴形成工程、 図 1 3 ( e ) )。
なお、 上記ドライエッチングはス トッパ層 3で止めることができる。 すなわち、 ス ト ツパ層 3 の上記開口部 1 1 d i を除いてス トツパ層 3が 露出した部位では、 ドライエッチングがそれ以上進行しない。
第 2 ノズル穴 1 1 bのテーパ形状の加工に際しては、 上記エッチング において、 レジス トパターン 7のエッチレー ト と第 2ノズル層 2のポリ ィ ミ ド樹脂のエッチレー トを概ね等しく し、 該レジス トパターン 7を 1 5 0 °Cで 6 0分ポス トベータすることによってレジス トパターン 7をテ ーパ形状と し、 エッチングによってこの形状を第 2ノズル層 2に転写す る手法を用いた。
すなわち、 図 9 に示すよ う に、 エッチレー トがポリイ ミ ド樹脂 (第 2 ノズル層 2 ) と概ね等しくテーパ断面を有するレジス トパターン 7を形 成し、 ポリイ ミ ド樹脂のエッチングと同じスピー ドでレジス トパターン 7をエッチングし、 レジス トパターン 7のエッジを広げる。 このときポ リイ ミ ド樹脂 (第 2 ノズル層 2 ) もエッチングされることになり、 エツ チングの壁面 (第 2 ノズル穴 l i bの壁面) が当初レジス トで形成した テーパを有する壁面 (レジス トパターン 7 ) と同じ形状になる。
なお、 レジス トパターン 7 と第 2 ノズル層 2のエツチレ一トとが概ね 等しいことから、 レジス トパターン 7の厚さは第 2 ノズル層 2の厚さよ り厚く形成するこ とが望ましい。
次に、 上記第 2 ノズル穴形成工程に連続して、 第 1 ノズル層 1 に第 1 ノズル穴 1 1 a (第 1 ノズル穴部 1 1 dおよび吐出口 1 1 c ) を加工す るエッチングを行う (第 1 ノズル穴部形成工程、 第 1除去工程、 図 1 3 ( e ) 参照)。 このとき、 第 1 ノズル穴 1 1 aは、 第 1 ノズル穴部 l i dが先の工程 で加工したス トッパ層 3 の開口部 1 1 によって決定される形状 (略 円形であり、 口径が 3 μ m) に加工され、 吐出口 1 1 cが吐出層 1 4に 形成されたパターン (開口部 1 1 c と同一形状に加工される (すなわ ち、 吐出層 1 4の開口部 l l c iに存在する第 1.ノズル層 1の材料 ( 1
1 C 2参照) がエッチング除去される)。
ここで、 ス トッパ層 3および吐出層 1 4は当該工程の酸素を主成分と する ドライエッチングではほとんどエッチングされない。
したがって、 第 1 ノズル層 1はス トッパ層 3の開口部 1 1 d 1 とほぼ 同一口径に (ス トッパ層 3に対してほぼ垂直に) エッチングされ、 吐出 層 1 4 の吐出口 1 1 c を除く部位が露出した時点で該ドライエッチング が停止し、 第 1 ノズル穴部 1 1 dが形成される。 これに続いて、 吐出層 1 4 の開口部 1 1 c に存在する第 1 ノズル層 1 の材料 ( 1 1 c 2参照) がエッチング除去され、 吐出口 1 1 cが形成される。
次に、 上記レジス トパターン 7をレジス ト剥離液を用いて除去し、 硝 酸と水が主成分である水溶液に浸漬し犠牲層 5のみをエッチングするこ とで、 ノズルプレート 8を基板 6からと りはずす (図 1 3 ( f ))。
先に述べたように、 第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2を形成するポリ ィ ミ ド樹脂や、 ス トッパ層 3あるいは吐出層 1 4を形成する T i は、 上 記犠牲層 5のエッチング液によってほとんどエッチングされることがな いので、 犠牲層 5のエッチングによって、 形状の変化や構造的信頼性の 低下を招来することがない。
次に、 第 1 ノ ズル層 1 の表面に撥液膜 4を形成する (図 1 3 ( g ))。 ここでは、 塗布の容易さを考慮する趣旨でフッ素重合体を用い、 これ をスタンプなどの方法によ り第 1 ノズル層 1 の表面に塗布し、 高分子膜 にて撥液膜 4を形成した。 なお、 第 1 ノズル穴 1 1 a 内に回り込んだ撥 液膜 4については、撥液膜 4形成後に、酸素を含有するプラズマを用い、 第 2 ノズル穴 1 1 b側から ドライエッチングすることで、 これを除去し た。 これによ り、 ノズルプレー ト 8のダメージを最小限にすることがで きる。 その詳細を以下に説明する。
図 1 7 ( a ) 〜図 1 7 ( c ) は上記撥液膜 4の回り込みを除去する際 の ドライエッチングプロセスを模式的に説明する図であり、 第 1 ノズル 穴 1 1 aおよび吐出層 1 4に形成した吐出口 1 1 cの拡大図である。 すなわち、 ノ ズルプレー ト 8 の液状物質吐出面側に撥液膜 4を塗布焼 成すると、 図 1 7 ( a ) に示すよ うに、 撥液膜 4の回り込みが第 1 ノズ ル穴 1 1 a (吐出口 1 1 cおよび第 1 ノズル穴部 1 1 d ) の内壁面に付 着する。 このよ うな回り込んだ撥液膜 4は第 1 ノズル穴 1 1 a (特に吐 出口 1 1 c ) の形状精度を劣化させる大きな要因となるため除去する必 要がある。
本実施の形態では、 このよ うに回り込んだ撥液膜 4を、 酸素含有のプ ラズマを用いた ドライエッチングでエッチング除去するが、 このとき第 1 ノズル層 1 にポリイ ミ ド樹脂などの有機材料を使用していると、 図 1 7 ( b ) に示すよ うに、 遮蔽層 3 の下に形成した第 1 ノズル層 1 にサイ ドエツチが生じ、 遮蔽層 3 の下にアンダーカッ トが生じてしま う。
こ.のとき、 図 1 7 ( c ) に示すよ うに吐出層 1 4がない場合には、 上 記アンダー力ッ トは液状物質吐出面まで到達し、 結果と して液状物質の 吐出口 1 1 eの形状を変形させてしま う (点線が本来の形状)。
しかし、 本実施の形態においては、 酸素含有のプラズマを用いた ドラ ィエッチングに対して高い耐性を有する吐出層 1 4が撥液膜 4 と接する よ う に形成されており、 この吐出層 1 4が吐出口 1 l c の形状を決定し ているため、 上記ドライエッチングによって吐出口 1 1 c の形状が変化 する (図 1 7 ( c ) 参照) ことがない。 この結果、 非常に高精度のノズ ル穴 1 1 (第 1 ノズル穴 1 1 a ) を形成することができる。 '
なお、 本実施の形態の工程を用いて作成した 2 0 0個の吐出口 1 1 c を有するノズルプレー ト 8の各吐出口 1 1 c の形状を評価したところ、 ばらつきは ± 0. 1 5 μ m と非常に高精度に加工できた。 また、 ノズル プレー ト 8の反り も 1 0 μ ιη以下と非常に平坦であった。
本実施の形態によれば、 吐出口 1 1 c (開口部 1 1 c を、 厚さ 0 .
5 μ πιの吐出層 1 4に加工するため、 吐出口 1 1 c を高精度に形成でき る。
また、 第 1 ノズル層 1 をエッチングして吐出口 1 1 c を形成する際、 吐出層 1 4は吐出口 1 1 c の形状を画するエッチングス トツパと しで機 能し、 エッチングの進行によって吐出口 1 1 c の側壁が露出した時点で 確実かつ正確に該ェツチングが停止し、 吐出口 1 1 cが形成される。' この結果、 吐出口 1 1 cの形状精度は、 第 1 ノズル層 1 自体に吐出口 1 1 c を形成した場合 (吐出口 1 1 c の形状を画するエッチングス ト ッ パが第 1 ノ ズル層 1 にない場合) に比較して、 飛躍的に向上する。
また、 第 1 ノズル穴部 1 1 dをェツチングする際、 トッパ層 3をマ スク . (遮蔽層) と して、 第 1 ノズル層 1 をエッチングするため、 第 1 ノ ズル穴部 1 1 dを高精度に形成できる。
また、 第 2 ノズル層 2をエッチングする際、 ス トッパ層 3で自動的に ェツチングが止ま り、 第 2 ノズル穴 l i bのェツチング深さを規定する ことができる。
また、 ス トツパ層 3の材料に、 第 1 ノズル穴部 1 1 dのエツチング時 の遮蔽層と して、 あるいは、 第 1 ノズル穴部 l i dの側壁と して最適な 材料を選択することができる。 これによ り、 第 1 ノズル穴部 1 1 dをよ り高精度に形成することができる。 また、 第 1 ノ.ズル層 1 あるいは第 2 ノズル層 2を薄く形成できるため、 第 1 ノズル穴部 1 1 dおよび第 2 ノ ズル穴 l i bのエッチングの際、 第 1 ノズル層 1およぴ第 2ノズル層 2 のエッチング量が少なく てすみ、 形成誤差が小さく なる。 したがって、 ノズル穴 1 1 を高い精度で形成できる。
さ らに、 第 1 ノズル穴 1 1 aおよび第 2 ノズル穴 1 1 b をエッチング する際、 ス トッパ層 3に対して 1方向からエッチングを行うため、 向か い合う よ うに 2方向からエッチングを行う場合に比較して、 第 1 ノズル 穴 1 1 a と第 2 ノ ズル穴 1 1 b の位置あわせが容易である。
さ らに、 第 1 ノズル穴部 1 1 dおよび第 2ノズル穴 l i bの形成工程 (第 1 ノ ズル穴部形成工程、 第 2 ノズル穴形成工程) において、 第 1 ノ ズル穴部形成工程におけるエツチング装置およぴェッチング液またはェ ツチングガスをそのまま使って、 第 1 ノズル穴部形成工程おょぴ第 2 ノ ズル穴形成工程のエッチングを行う ことができる。 これによ り、 製造プ ロセスを簡略化できる。
なお、 本実施の形態では、 犠牲層 5 と して N i 、 第 1 ノズル層 1およ ぴ第. 2 ノズル層 2 と してと してポリイ ミ ド榭脂、 ス ト ッパ層 3 と して T i を用いたが、 この組み合わせに限定されない。
犠牲層 5には、 N i のほかに、 第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2 、 ス トツパ層 3に用いる材料との組み合わせによって、 A l 、 C u、 などの 硝酸、 あるいは K O H水溶液に可溶な材料、 またはポリイミ ドのような 酸素プラズマによってエッチングできる材料を用いることができる。 ま た、 犠牲層 5の形成方法についても鍍金以外に蒸着法、 ス.パッタ法、 塗 布法などを材料に応じて用いることができる。
第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2には、 犠牲層 5 のエッチングによる ダメージが軽微な材料を用いることができる。 また、 吐出層 1 4、 ス ト ッパ層 3には、 犠牲層 5のエッチング並びに第 1およぴ第 2ノズル穴 1 1 a · 1 l bのエッチングに対して耐性の高い材料を用いることができ る。
ここで、 表 3に、 使用材料 (犠牲層、 吐出層、 第 1 ノズル層、 ス トツ パ層、 第 2 ノ ズル層) および加工方法 (吐出層、 ス トッパ層、 第 1 ノ ズ ル穴、第 2ノズル穴、犠牲層除去) について好ましい組み合わせを示す。
表 3
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表 3に示すよ う に、 第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2はポリイ ミ ド榭 脂のよ うな高分子有機材料に限定されず、 S i または S i ο 2 などの無 機シリ コン化合物を選択することができる。
ただし、 S i Ο 2や S i を ドライエッチングするためには、 Fを含有 する反応ガスを使用する必要があり、 このエッチングに対して本実施の 形態で用いた T i は耐性が低いため、 A u 、 P t などのエッチング耐性 を有する材料を吐出層 1 4あるいはス トツパ層 3 と して利用するこ とが 望ましい。
また、 上記 S i 0 2や S i などのシリ コン化合物は上述した回り込ん だ撥液膜 4を除去するエッチング手段に対して高い耐性を有しているた め、 第 1 ノズル穴 1 1 a の形状変化を防止でき、 吐出口 1 1 cの形状安 定性がさ らに向上する。
また、 吐出層 1 4あるいはス トッパ層 3にも、 T i 以外に、 表 1 に示 す組み合わせに応じて、 同表に記載の材料を使用することができる。 な お、 ス ト ツパ層 3の材料である T i は、 ス トツパ層 3のパターニングの 際、 C F 4 と酸素の混合ガスを用いたプラズマでもエッチングすること ができる。 し力、し、 T i の下に形成された第 1 ノズル層 1 (ポリイ ミ ド) 力 上記混合ガスのプラズマによって T i よ り も高速にェツチングされ、 大きなダメージを受ける。 したがって、 本実施の形態ではス トッパ層 3 のパターニングには A r イオンによる ドライエッチング法を採用してい る。
このよ うに、 ス ト ツパ層 3のエッチレー トと第 1 ノズノレ層 1 のエッチ レー トとの差が少ない A rイオンによる ドライエッチング法を採用する ことで、 第 1 ノズル層 1 のダメージを最小限に抑えつつス トツパ層 3 を パターニングすることができる。
また、 上記工程においては、 吐出層 1 4 (吐出層形成工程にて) ある いはス ト ッパ層 3 (遮蔽層形成工程にて) を正方形形状に形成したが.こ れに限定されない。 第 1 ノズル穴 1 1 a (第 1 ノズル穴部 l i d ) ある いは第 2 ノズル穴 1 1 b を形成する際、 該第 1 ノズル穴 1 1 a (第 1 ノ ズル穴部 l i d ) あるいは第 2 ノズル穴 l i bがそれぞれ吐出層 1 4ま たはス トッパ層 3に到達し、 ェツチングの進行が止まるよ うな形状およ び大きさであれば何でもよい。 ただし、 吐出層 1 4あるいはス ト ッパ層 3の応力によるノズルプレー ト 8の反り をより低減できるよ う な形状お よび大きさ、 すなわち必要最小限の大きさであることが望ましい。
さ らに、 遮蔽層形成工程においては、 ス ト ッパ層 3 の形状と第 1 ノズ ル穴部 1 1 dの形成パターンとなる開口部 1 1 d . iを同時に作成したが、 2回のエッチング工程 (ス ト ッパ層 3の形状を形成するためのエツチン グおよび開口部 1 1 d丄 を形成するエッチング) .によって作成すること も可能である。
さ らに、 遮蔽層形成工程において第 1 ノズル穴部 l i dの加工パター ン(ス トツパ層 3 の開口部 1 1 d を作成する際、図 1 4に示すよ う に、 第 1 ノズル穴部 1 1 dを加工することもできる。 ただしこの場合は、 第 2 ノズル層 2を形成する際に、 先に加工した第 1 ノズル穴部 l i dが第 2ノズル層 2の形成材料によつて埋められてしま うため、 第 1 ノズル穴 部形成工程において、 当該部位を再度加工する。
また、 第 2 ノズル穴形成工程においては、 第 2 ノズル穴 1 1 b を加工 する際のマスク材とエッチング条件を適正化し、 図 8 ( a ) 〜図 8 ( c ) に示すよ うに、 側壁に膨らみ (曲面) をもった第 2 ノ ズル穴 1 1 b を形 成することもできる。
すなわち、 図 8 ( a ) 〜図 8 ( c ) に示すよ う に、 第 2 ノズル層 2上 に酸素のプラズマェツチに対する耐性の高い S i 〇2 などをマスク 1 3 と して形成し (図 8 ( a ) 参照)、 酸素のプラズマエッチを高いガス圧た とえば 5 0 0 m T o r r でエッチングする (図 8 ( b ) 参照)。 これによ り、 マスク 1 3の下にも、 アンダーカッ トが生じ、 ふく らみのあるテー パを形成することができる (図 8 ( c ) 参照)。
ただし、 上記エッチングがオーバーエッチングになると、 第 2 ノズル 穴 1 1 b とス トツパ層 3の接触部において第 2 ノズル穴 1 1 bの口径 d が広がり、 大面積のス トッパ層 3が必要となるため、 上記エッチングを 適性に制御することが好ましい。
また、 撥液膜 4 としては、 フッ素重合体に限定されず、 シリ コン系の 高分子膜、 D L C (ダイヤモンドライクカーボン) などを用いることも できる。
以上の製造工程のように、 吐出口 1 1 cを第 1 ノズル層 1 (および撥 液膜 4 ) よりェツチングに対する耐性が高い吐出層 1 4に形成すること によって、
( 1 ) 吐出層 1 4をエッチングス トッパと して、 その開口部 1 1 C l と略同一形状 (口径) の滴吐出口 1 1 cを形成でき、 飛躍的に形状精度 の高い吐出口 1 1 cを有するノズルプレート 8を製造することができる c
( 2 ) さらに、 ノズルプレート 8の製造工程の最終段階における、 第 1 ノズル穴 1 1 a内に回りこんだ撥液膜 4のェツチング除去において、 吐出口 1 1 cの形状変化が生じないため、 安定して形状精度の高いノズ ルプレート 8を製造することができる。
なお、 本実施の形態においては、 第 1ノズル層 1の液状物質供給側に 第 2 ノズル層 2を形成する構成を説明したが、 これに限定されない。 例 えば、 図 1 8に示すよ うに、 第 1 ノズル層 1 に第 2ノズル穴 1 1 bを有 する補強板 2 0を接合した構成であってもよい。 すなわち、 液状物質吐 出側に撥液膜 4が形成され、 該撥液膜 4と接するように第 1 ノ ズル穴部 l i dを有する第 1 ノズル層 1が形成され、 吐出口 1 1 cを有する吐出 層 1 4が第 1 ノズル 1層内にて局所的に形成され、 この吐出層 1 4 の撥 液膜 4側の面と第 1ノズル層 1の撥液膜 4側の面とが面一状であり、 さ らに第 1 ノズル層 1には、 この片面と接する局所的なス トッパ層 3が形 成される と ともに第 2ノズル穴 l i b を有する補強板 2 0が接合され、 上記吐出口 1 1 c と第 1 ノズル穴部 1 1 d と第 2ノズル穴 1 1 b とが連 通している構成であってもよい。 .
〔実施の形態 4〕
本発明の実施の形態 4について、 図面に基づいて説明すれば、 以下の 通りである。
(ノズルプレー ト)
図 1 5 ( a ) は、 微小ドッ ト形成装置に用いられる、 本発明のノズル プレー トの一部の斜視図であり、 図 1 5 ( b ) は、 図 1 5 ( a ) の B _ B ' 矢視断面図である。 ノズルプレー ト 8には 1個以上の液状物質の吐 出口 (開口部または第 1 開口部) (以下、 吐出口 と称する) 1 1 cが形成 されており、 図 1 5 ( a ) においては 2個の吐出口 1 1 cが示されてい る。
図 1 5 ( a ) . 図 1 5 ( b ) に示すよ うに、 ノズルプレート 8の液状物 質吐出側には撥液膜 4を有する第 1 ノズル層 1、 液状物質供給側には第 2ノズル層 2が形成され、 この第 1 ノズル層 1 内に吐出層 1 4が形成さ れ、 これら (撥液膜 4、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1、 第 2 ノズル層 2 ) を貫く よ うにノズル穴 1 1 が形成されている。
よ り具体的には、 ノズルプレー ト 8 の液状物質吐出面には撥液膜 4が 形成され、 撥液膜 4 と接するよ うに第 1 ノズル層 1が形成されている。 吐出層 1 4は第 1 ノ ズル 1層内にて局所的に形成され、 さ らに第 1 ノズ ル層 1 の撥液膜 4側の面と吐出層 1 4の撥液膜 4側の面とが面一状に形 成されている。 第 2 ノ ズル層 2は、 その片面が第 1 ノズル層 1の撥液膜 4形成面の反対側の面に接するよ う に形成されている。 また、 撥液膜 4、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1、 およぴ第 2 ノズル層 2を貫通するノズル穴 1 1は、 撥液膜 4、 吐出層 1 4、 およぴ第 1 ノズ ル層 1の貫通部である第 1 ノズル穴 1 1 a と、 第 2 ノズル層 2の貫通部 である第 2ノズル穴 1 1 bから構成される。 さ らに第 1 ノズル穴 1 1 a は、 撥液膜 4および吐出層 1 4の貫通部である吐出口 1 1 c と、 第 1 ノ ズル層 1 の貫通部である第 1 ノズル穴部 1 1 dからなる。
換言すれば、 吐出層 1 4は、 第 1 ノズル層 1 内にて、 撥液膜 4 と第 1 ノズル層 1 との界面に位置し、 撥液膜 4に接すると と もに、 吐出口 1 1 cの形成位置に局所的に形成されていることになる。
そして、 ノズルプレー ト 8の裏面 (撥液膜 4形成面の反対側の面) に 形成された第 2ノズル穴 1 1 bの開口部から供給された液状物質が第 2 ノズル穴 l i bおよぴ第 1 ノズル穴部 l i dを介して吐出口 1 1 c力、ら 液状物質と して吐出される。
ここで、 吐出口 1 1 cおよび第 1 ノズル穴部 1 1 dは、 図 1 5 ( a ) に示すよ うに、 ともに円筒形状を有しており 、 第 2 ノズル穴 1 1 b は、 第 1 ノズル穴部 1 1 d との連通部から裾広が り に拡開するテーパ形状
(円錐台形状) である。
さ らに、 円筒形状の第 1 ノズル穴部 1 1 dの上底 1 1 ひは、 略吐出口 1 1 c を中心とする円環形状であり、 吐出層 1 4が当該上底 1 1 αを成 して露出している。
こ.こで、 吐出層 1 4は、 P t を主成分とする金属材料が用いられ、 ノ ズルプレー ト 8全体の応力を低減するために、 厚さ 0. 5 μ πι、 一辺 1 0 μ mの略正方形形状に形成されている。
また、 本実施の形態の第 1 ノズル層 1 は、 厚さが 2 μ πιの S i 〇2膜 で形成され、 第 2ノズル層 2は、 ポリイミ ド樹脂を主成分とする有機材 料からなり、 厚さ 2 0 に形成されている。
吐出口 1 1 c の口径は 3 μ πιとなっており、 第 1ノズル穴部 1 1 d と の連通部まで膜面に対して垂直に加工されている。 また、 第 1 ノズル穴 部 l i dは吐出口 1 1 c との連通部において 4 μ.ηιの口径に加工されて おり、 第 2ノズル穴 1 1 b との連通部まで、 膜面に対して略垂直に加工 されている。 また第 2ノズル穴 l i bは第 1 ノズル穴部 1 1 d との連通 部において 1 0 μ mの口径に加工されており、 裾広がりに拡開するテー パ形状 (円錐台形状) であり、 第 2 ノズル層 2を貫通して撥液膜 4 の反 対側の開口部 1 2において開口している。
撥液膜 4は、 厚さが 0 . Ο δ πιのフッ素重合体を有する高分子材料 から形成されている。
本実施の形態によれば、 吐出層 1 4は第 1ノズル穴部 l i dのェッチ ング手段に対して高い耐性を有しているため、 上記第 1 ノズル穴部 1 1 dのエッチングによって吐出口 1 1 c の形状が変形することを防止でき る。
また着弾精度に大きな影響を与えるノ ズルプレー ト 8 の吐出口 1 1 c の形状が、 上記 0 . 5 μ mの P t膜の加工精度で決定されるので、 吐出 口 1 1 c の加工精度が非常に高く、 これに伴って非常に高い着弾精度を 確保することができる。
なお、 吐出層 1 4 の膜厚を減少させると吐出口 1 1 c の加工精度を高 めることができる反面、 吐出層 1 4の剛性が低下し、 吐出口 1 1 cの構 造的な信頼性が減少する。 しかしながら、 本実施の形態では、 吐出層 1 4に接するよ うに第 1 ノズル層 1が形成されているため、 これによつて 吐出層 1 4が補強され、 吐出層 1 4の構造的信頼性を低下させることな く吐出口 1 1 cの形状精度を向上させることが可能となっている。
また、 第 1 ノズル層 1は第 2ノズル穴 1 1 bのエツチング手段に対し て、 高い耐性を有しているので、 第 2ノズル穴 l i bの加工によって第 1 ノズル穴部 1 1 dの形状が大幅に変形することがないとともに、 第 2 ノズル穴 l i b加工時のオーバーェツチによって、 第 1 ノズル層 1が完 全に除去されることがない。
なお、 吐出層 1 4に用いる材料も P tを主成分とする金属材料に限定 されない。 第 1 ノズル穴 1 1 aのエッチング、 第 2ノズノレ穴 1 1 bのェ ツチング、 犠牲層 5のエッチング (後述)、 およぴ吐出口 1 1 c内に回り 込んだ撥液膜 4のエッチング (後述) の際、 当該エッチングに対して高 い耐性を有する材料、 すなわち、 フッ素を含有するプラズマ、 酸素を含 有するプラズマ、 硝酸、 水酸化カリ ウム水溶液等に耐性の高い材料であ ればよく、 犠牲層 5のエッチング、 第 1 ノズル穴 1 1 aの加工手法、 'お よぴ第 2ノズル穴 l i bの加工手法との組み合わせによつて選択するこ とができる。
具体的には、 吐出層 1 4に用いる材料と して、 A l 、 A u、 P t 、 A 1203、 A 1 N、 S i 02等を主成分とする金属材料あるいは無機酸化物 材料や無機窒化物材料等が挙げられる。
また、 第 1 ノズル層 1 に用いられる材料は S i 〇2に限定されない。
S i 02以外の S i 3N 4といった S i'化合物材料、あるいは S i であって も良い。 また、 吐出層 1 4、 第 2ノズル層 2 との組み合わせに応じて A 1 を主成分とする材料を使用することができる。
また、 第 2ノズル層 2に用いられる材料もポリイミ ドに限定されず、 酸素ガスを含有するプラズマを用いたドライエッチングによって良好に 加工される材料であれば使用可能であり、 たとえばポリイ ミ ド以外の有 機樹脂であっても良い。
また吐出層 1 4 の形状も吐出口 1 1 c の形成位置に局在する形状であ り さえすればよく、 略正方形形状に限定されない。 例えば円形であって も良い。 円形は形状の等方性が最も高いので応力の低減も等方的となり 好ましい。 また、 図 1 5 ( a ) に示すように、 本実施の形態では 1個の 吐出層 1 4に対して 1個の吐出口 1 1 c形成されているがこれに限定さ れない。 1個の吐出層 1 4に複数個の吐出口 1 1 cを形成しても良い。
また、 本実施の形態では、 第 2 ノ ズル穴 l i bは、 第 1 ノズル穴部 1
1 d との連通部 1 1 Xが狭まった円錐台形状 (テーパ形状) であるがこ れに限定されない。 例えば、 第 2 ノ ズル穴 1 1 b の側壁がノズルプレー ト 8表面に対して垂直の、 いわゆるス ト レー ト形状 (円筒形状) に形成 することもできる。 この場合、 第 2ノズル穴 l i bの液体流入口 1 2を より小さくすることができ、 ノズルの集積度をさらに高めることができ る。
上記のよ うに、 ノズルプレート 8を第 1 ノズル層 1のエッチング剤に 対して耐性の高い吐出層 1 4、 第 2ノズル層 2のエッチング剤に対して 耐性の高い第 1 ノズル層 1、 第 2ノズル層 2を備える構成にすることに よって、
( 1. ) 吐出口 1 1 c の形状を、 厚さ 0 . 5 μ πχの吐出層 1 4 の加工精度 が支配するため、 吐出口 1 1 cの形状精度を向上することができる。
( 2 ) ス トッパ層を形成しないので、 プロセスを簡略化することができ ると ともに、 ス トッパ層に起因する応力を低減することができるので、 応力によるノズルプレート 8の反りを制御しゃすくなる。
( 3 ) ノズルプレート 8の剛性は第 2ノズル層 2で維持できるため、 ノ ズルプレー ト 8全体の剛性が高くなり、 取り扱いが容易になる。
(4 ) 吐出層 1 4が、 撥液膜 4のエッチング手段に対して耐性の高い材 料を使用しているため、 第 1 ノズル穴 1 1 a内に回り込んだ撥液膜 4を 除去する際、 吐出口 1 1 cの形状が変化することがなく、 製造工程にお いて吐出口 1 1 cの加工精度が劣化することを防止できる。
(ノズルプレートの製造方法)
図 1 6 ( a ) 〜図 1 6 ( g ) は、 本実施の形態にかかるノズルプレー トの製造工程を示している。 以下に、 図 1 6 ( a ) 〜図 1 6 ( g ) を用 いて本実施の形態にかかるノズルプレートの製造方法を説明する。
まず、 S iやガラスなどからなる任意の厚さの一時保持のための基板 6に、 犠牲層 5を、 N i を用いた湿式鍍金によつて形成する。 犠牲層 5 の厚さは 1 0 mとする。
次に、 上記犠牲層 5上に厚さ 0. 5 μ mの P t膜を蒸着などの方法で 成膜し、 フォ ト リ ソグラフィを用いて吐出層 1 4の外形形状と吐出口 1 1 cの形状のレジス トパターンを形成する。 しかる後に、 ドライエッチ ング法を用いて上記吐出層 1 4の外形形状と吐出口 1 1 c となる開口部 1 1 c iを同時に加工する (吐出層形成工程、 図 1 6 ( a ))。
上記 P t膜は化学的に比較的不活性な材料であるため、 本実施の形態 においては上記ドライエッチングは A r を用いたスパッタエッチングを 用い、 物理的な加工が支配的な方法によって加工した。 また、 本加工は 非常に高い精度で行うため、異方性の高いエッチング条件を用いている。 次に、 上記犠牲層 5あるいは吐出層 1 4上に S i 〇2膜からなる第 1 ノズル層 1を P _ C V D法によって成膜する (第 1 ノズル層形成工程、 図 1 6 ( b ) )。
この P— C V D法によると、 成膜する S O 2·膜の有する応力を、 成 膜に用いるガスの組成、 ガス圧、 プラズマを発生するための R Fパワー によって制御することができると ともに、 段差部のつき周りが良好であ るため、 上記吐出層 1 4の段差部においてクラックなどが発生すること がない。 したがって、 いわば膜 しての構造的な信頼性が高く、 このた め、 ノズルプレート 8全体の構造的な信頼性が高くなる。
次に、 上記第 1 ノズル層 1上にフォ トリ ソグラフィによってレジス ト パターンを作成し、 フッ素ガスを含有する反応性ィオンェツチング ( R I E ) によって、 第 1 ノズル穴部 1 1 d となる開口部 1 1 d ]_および吐 出口 1 1 c となる開口部 1 1 c iを加工する(第 1 ノズル穴部形成工程、 第 1除去工程、 図 1 6 ( c ) )。
ここで、 第 1 ノズル穴部 1 1 dのエッチングが吐出層 1 4にて停止す るよう、 開口部 1 1 d iの形状は、 開口部 1 1 c iより も大きく (かつ吐 出層 1 4の外形より小さく) 加工する。
当該エッチング方法では、 プラズマによって活性化されたフッ素が選 択的に S i原子と反応するため、 S i 〇2 のエッチング速度が非常に高 い。 これに対して、 上述したように P tは化学的に安定な材料であるた め、 前記活性化されたフッ素とはほとんど反応しない。 このため P tの エツ.チング速度が遅く、 これによつて、 本エッチングは吐出層 1 4 と第 1 ノズル層 1の界面で精度よく止めることができる。
次に上記第 1 ノズル層 1の上に塗布型のポリイミ ド樹脂を厚さ 2 0 μ mで成膜し、 第 2 ノズル層 2を形成する (第 2 ノズル層形成工程、 図 1 6 ( d ) )。
ここで、 上記塗布型ポリイ ミ ド樹脂は第 1 ノズル層 1上にスピンコー トによつて塗布し、 3 5 0 °Cで 2時間焼成した。 ここで、 開口部 1 1 dェ および開口部 1 1 c 1 はポリイ ミ ド樹脂にて埋められることになる ( 1 1 c 2、 1 1 d 2参照)。
次に、 上記第 2 ノズル層 2上にフォ ト リ ソグラフィによってレジス ト パターン 7を形成する (図 1 6 ( e ) ) o
次いで、 酸素を主成分とするガスを用いた ドライエッチングを行い、 第 2 ノズル層 2にテーパ形状 (円錐台形状) の第 2 ノズル穴 1 1 b を形 成し (第 2 ノズル穴形成工程、 図 1 6 ( f ) )、 続いて、 第 1 ノズル層 1 に第 1 ノズル穴部 l i dを加工するェツチングおよび、 吐出層 1 4に吐 出口 1 1 c を加工するエッチングを行う (第 1 ノズル穴部形成工程、 第 1除去工程、 図 1 6 ( f ) 参照)。
なお、 本実施の形態では、 第 1 ノズル穴部 1 1 dおよび吐出口 1 l ' c を連続して形成し、 吐出層 1 4でエッチングを止めた (吐出層 1 4の吐 出口 1 1 c を除いて吐出層 1 4が露出した時点でドライエツチングは停 止する) がこれに限定されない。 上記エッチングを意図的に第 1 ノズル 層 1 で止め、 吐出口 1 1 c の形成 (第 1 ノズル層 1で埋められた部分 1 1 c 2 のエッチング) を別工程 (別の方法あるいは条件) でエッチング すること も可能である。
なお、 第 2 ノズル穴 1 1 b をテーパ形状に加工する工程については、 上記実施の形態と同様であるため説明を省略する。
このとき第 1 ノズル穴 1 1 a は、 先の工程でポリイ ミ ド樹脂によって 埋められた形状が、 ポリイ ミ ド樹脂が除去されることによって再現され る。 吐出口 1 1 c についても、 吐出層 1 4の開口部 1 1 C l を埋める第 2 ノズル層 2の材料 ( 1 1 c 2参照) が除去され、 先の工程でポリイ ミ ド樹脂によって埋められる前の形状 1 1 C lが再現される。
次に、 上記レジス トパターン 7をレジス ト剥離液を用いて除去する。 次いで、 硝酸と水が主成分である水溶液に浸漬し犠牲層 5のみをエツ チングすることで、 ノズルプレー ト 8 となるべき積層体を基板 6からと りはずす (図 1 6 ( f ) )。
先に述べたよ うに、 第 1 ノズル層 1 を形成する S i 0 2、 第 2ノズル層 2を形成するポリイ ミ ド榭脂や吐出層 1 4を形成する P t は、 上記犠牲 層 5のエッチング液によってほとんどエッチングされることがないため. 犠牲層 5のエッチングによって、 ノズル穴 1 1 の形状変化ゃノズルプレ ー ト 8の構造的信頼性の低下を招来することがない。
次に、 第 1 ノズル層 1の表面に撥液膜 4を形成する (図 1 6 ( g ) 参 BS )
ここでは、 塗布の容易さを考慮する趣旨でフッ素重合体を用い、 これ をスタンプなどの方法によ り第 1 ノズル層 1の表面に塗布し、 高分子膜 にて撥液膜 4を形成した。 なお、 第 1 ノズル穴 1 1 a 内に回り込んだ撥 液膜 4については、撥液膜 4形成後に、酸素を含有するプラズマを用い、 第 2ノズル穴 1 1 b側から ドライエッチングすることで、これを除去し、 ノズルプレー ト 8が完成した。 これによ り、 ノズルプレー ト 8のダメー ジを.最小限にすることができる。
本実施の形態では、 第 1 ノズル穴 1 1 a 内に回り込んだ撥液膜 4を酸 素を含有するプラズマを用いた ドライエッチングでエッチング除去する t ここで、 本実施の形態においては、 上述したよ う に液状物質吐出面に酸 素を含有するプラズマを用いたドライエッチングに対して高い耐性を有 する吐出層 1 4が存在しており、 この吐出層 1 4が吐出口 1 1 c の形状 を決定しているため、 上記ドライエッチングによって吐出口 1 1 cの形 状が変化することがない。 このため非常に高精度のノズル穴を形成する ことができる。 .
本実施の形態の製造工程を用いて作成した 2 0 0個の吐出口 1 1 cを 有するノズルプレート 8の各吐 ί±1 P i l eの形状を評価したところ、 ば らつきは ± 0 . 1 5 μ m と非常に高精度に加工できた。 また、 ノズルプ レー ト 8 の反り も 1 0 μ ηι以下と非常に平坦であった。
なお、 本実施の形態では、 犠牲層 5に N i、 吐出層 1 4に P i:、 第 1 ノズル層 1に S i 0 2、 第 2ノズル層 2にポリイミ ド樹脂、 を用いたが、 この組み合わせに限定されない。
犠牲層 5には、 N i のほかに、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1、 および 第 2 ノズル層 2に用いる材料との組み合わせによって、 A l 、 C u、 な どの硝酸、 あるいは K O H水溶液に可溶な材料を用いることができる。 また、犠牲層 5 の形成方法についても鍍金以外に蒸着法、スパッタ法、 塗布法などを材料に応じて用いることができる。
第 2 ノズル層 2には、 犠牲層 5 のエッチングによるダメージが軽微な 材料を用いることができる。 ただし、 後述する第 1ノズル層 1 あるいは 吐出層 1 4 とのエッチングの選択性を考慮したとき、 酸素を含有するプ ラズマを用いたエッチングが可能な有機樹脂が望ましい。 さらに、 分子 鎖同士が架橋反応している分子構造を有する有機樹脂を用いると、 第 2 ノズル層 2 の耐熱性、 耐環境性が高く、 ノ ズルプレート 8 の信頼性を向 上することができる。 また、 吐出層 1 4、 第 1 ノズル層 1 には、 犠牲層 5のエッチングおよ ぴ第 2 ノズル穴 1 1 bのェツチングに対して耐性の高い材料を用いるこ とができる。 +
さらに吐出層 1 4には、 犠牲層 5のェツチング並びに第 2 ノズル穴 1 1 bのエッチングおよび第 1 ノズル穴 1 1 aのエッチングに対して耐性の 高い材料を用いることができる。
ここで、 表 4に使用材料 (犠 ½層、 吐出層、 第 1 ノズル層、 第 2 ノス、 ル層) および加工方法 (吐出口、 第 1 ノズル穴、 第 2 ノズル穴、 犠牲層 除去) について好ましい組み合わせを示す。
表 4
Figure imgf000092_0001
表 4に示すよ う に、 第 1 ノズル層 1 は S i 〇2 のよ う な S i化合物に 限定されず、 犠牲層 5のエッチングに濃硝酸を使用することができる場 合、 表面が不働体化する A 1 のよ う な材料を使用することができる。 A 1 はじ 1 ガスを含有するプラズマを用いた ドライエッチングで S i o 2 に対して高い選択比で加工することができるので、 吐出口 1 1 c の加工 精度をさ らに高めることができる。 また、 撥液膜 4 と しては、 フッ素重合体に限定されず、 シリ コン系の 高分子膜、 D L C (ダイヤモン ドライクカーボン) などを用いることも できる。
以上の製造工程を用いることによって、
( 1 ) 膜厚の薄い吐出層 1 4を加工して吐出口 1 1 cの形状 (開口部
1 1 c i) を形成するため、 飛躍的に形状精度の高い吐出口 1 1 c を有す るノズルプレー ト 8を製造することができる。
( 2 ) さ らに、 ノズルプレー ト 8の加工工程の最終段階において、 第 1 ノズル穴 1 1 a内に回り こんだ撥液膜 4を除去し、 加えて、 この時に 吐出口 1 1 c の形状変化が生じないため、 高い形成精度の第 1 ノズル穴 1 1 a を備えたノズルプレート 8 を安定して製造することができる。
( 3 ) ス トッパ層 (遮蔽層) を形成しないので、 プロセスを簡略化す ることができると ともに、 ス トツバ層 (遮蔽層) に起因する応力を低減 することができるので、 応力によるノズルプレー ト 8の反り を制御しや すく なる。
上記構成のノズルプレー ト 8の製造方法では、 高い異方性を有するェ ツチングで第 1 ノズル穴 1 1 a又は第 2ノズル穴 1 1 b を加工するため. 第 1 ノズル穴 1 1 aまたは第 2 ノズル穴 l i b を高い加工精度で加工す ることができる。
なお、 上記実施の形態におけるノズルプレー ト 8の製造方法は、 吐出 口 1 . 1 c、 第 1 ノズル穴 1 1 aまたは第 2 ノズル穴 1 1 bの加工を ドラ ィエッチングを用いて行う ことを特徴とすることもできる。
また、 本発明のノズルプレー ト 8の製造方法においては、 上記吐出層 1 4または第 1 ノズル層 1 を、 基板 6 に形成した犠牲層 5上に形成し、 TO
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第 1 ノズル穴 1 1 aおよび第 2ノズル穴 l i bを加工した後、 犠牲層 5 をエッチングすることによって、 ノズルプレート 8 と基板 6 とを離間す ることが望ましい。
このようにすると、 高い形状精度が要求される吐出口 1 1 cを備えた 吐出層 1 4が、 ノズル製造プロセスの最終段階まで、 犠牲層' 5 と基板 6 によって保護されているため、 プロセス中の取り扱いによって、 吐出口 1 1 cが損傷を受けることがない。 このため、 吐出口 1 1 cが高い形状 精度を維持したまま簡便にノズルプレート 8を製造することができるの で、 安定して高精度の吐出口 1 1 cを有するノズルプレート 8を製造す ることができ、 ノズルプレート 8の製造における歩留まりを向上させる ことができる。
また、 上記実施の形態 3、 4においても、 撥液膜 4を形成しない構成 を採用することができる。 撥液膜 4を吐出層 1 4あるいは第 1 ノズル層 1上に形成しないことによって、 吐出口 1 1 cの形状精度がさらに向上 する。
尚、 発明を実施するための最良の形態の項においてなした具体的な実 施態様または実施例は、 あくまでも、 本発明の技術内容を明らかにする ものであって、 そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべき ものではなく、 本発明の精神と次に記載する特許請求の範囲内で、 いろ いろと変更して実施することができるものである。 産業上の利用の可能性
本発明は、 現像剤を用いて像担持体上に形成された静電潜像を顕像化 する電子写真方式の現像装置及び画像形成装置に関するものであり、 特 P T/JP2004/006226
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に、 進行波電界を用いて像担持体上の現像位置に現像剤を搬送する現像 装置及び画像形成装置のような用途に使用可能である。

Claims

求 の 範 囲
1 . 液状物質を吐出する第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層と、 第 1 ノ ズル穴と連通し、 上記液状物質の供給を受ける第 2ノズル穴を有する第 2ノズル層との間に、 第 1 ノズル層よ りエッチングに対する耐性が高い 遮蔽層を介在させたノズルプレートにおいて、
上記遮蔽層は、 第 1 ノズル穴および第 2ノズル穴が連通する連通部の 周囲に、 局所的に形成されていることを特徴と _するノズルプレー ト.。
2 . 上記遮蔽層は、 第 2 ノ ズル層よりエッチングに対する耐性が高く、 その外形は上記連通部における第 2ノズル穴の外形より大きいことを特 徴とする請求の範囲 1に記載のノ ズルプレート。
3 . 上記第 1 ノズル穴は、 上記第 1 ノズル層の貫通部と上記遮蔽層の貫 通部とから構成されていることを特徴とする請求の範囲 1または 2に記 載のノズルプレー ト。
4 . 上記第 2 ノズル穴は、 第 1 ノズル穴との連通部が狭まったテーパ形 状であることを特徴とする請求の範囲 1から 3のいずれか 1項に記載の ノズノレプレー ト。
5 . 上記第 1 ノズル層および第 2ノズル層がともに高分子有機材料で構 成され、 上記遮蔽層が金属材料、 無機酸化物材料、 無機窒化物材料のう ちの少なく とも 1つから形成されていることを特徴とする請求の範囲 1 から 4のいずれか 1項に記載のノズルプレート。
6 . 上記第 1 ノ ズル層および第 2 ノズル層がともにポリイ ミ ド樹脂で形 成され、 上記遮蔽層が、 T i 、 A l 、 A u、 P t、 T a、 W、 N b、 S i 〇2、 A 1 20 3、 S i Nから選定される少なく とも 1つの材料を主成分 とすることを特徴とする請求の範囲 1から 5のいずれか 1項に記載のノ ズルプレー ト。
7 . 第 1 ノズル層と第 2ノズル層の少なく とも一方が S i 、 S i 0 2、 S i 3N 4のうちの少なく とも 1つを主成分とする材料によって形成され、 上記遮蔽層が、 A l 、 C u、 A u、 P t、 A 1酸化物、 A 1窒化物のう ちの少なく とも 1つを主成分とする材料によって形成されていることを 特徴とする請求の範囲 1から 6のいずれか 1項に記載のノズルプレート。
8 . 液状物質を吐出する一つ以上の第 1 ノズル穴を有するノズル層と、 上記第 1ノズル穴に連通するとともに上記液状物質の供給を受ける第 2 ノズル穴を有し、 上記ノズル層に固着される補強板と、 ノズル層よ りェ ツチングに対する耐性が高く、 少なく とも、 第 1 ノ ズル穴おょぴ第 2ノ ズル穴の連通部の周囲に形成された遮蔽層とを備えたことを特徴とする ノズノレプレート。
9 . 上記遮蔽層は第 2ノズル穴の開口範囲内に形成されていることを特 徴とする請求の範囲 8に記載のノズルプレート。
1 0 . 上記第 1 ノズル穴は、 上記第 1 ノズル層の貫通部と上記遮蔽層の 貫通部とから構成されていることを特徴とする請求の範囲 8または 9に 記载のノズルプレート。
1 1 . 上記ノズル層が高分子有機材料によって形成され、 上記遮蔽層が 金属材料、 無機酸化物材料、 無機窒化物材料のうちの少なく とも 1つに よって形成され、 上記補強板が S i 、 無機酸化物材料、 高分子有機材料 のうちの少なく とも 1つによって形成されていることを特徴とする請求 の範囲 8から 1 0のいずれか 1項に記載のノズルプレー ト。
1 2 . 上記ノズル層がポリイ ミ ド樹脂で構成され、 上記遮蔽層が T i 、 A l 、 A u、 P t、 W、 N b、 S i 02、 A l 2〇3、 S i Nから選定され る少なく とも 1つの材料で構成され、 補強板が S i 、 ガラス、 A 1 203 の少なく とも 1つを主成分とするセラミ ック材料あるいはポリイ ミ ド樹 脂から構成されていることを特徴とする請求の範囲 8から 1 1のいずれ 力 1項に記載のノズルプレート。 .
1 3. 上記ノズル層が S i 、 S i 〇2、 S i 3N4のうちの少なく とも 1つ を主成分とする材料によって構成され、上記遮蔽層が A 1 、 C u、 A u、 P t、 A 1酸化物、 A 1窒化物のうちの少なく とも 1つを主成分とする 材料で構成され、 上記補強板が、 S i 、 ガラス、 A 1203の う ちの少な く とも 1つを主成分とするセラミ ック材料あるいはポリイミ ド樹脂によ つて形成されていることを特徴とする請求の範囲 8から 1 0のいずれか 1項に記載のノズルプレート。
1 4. 液状物質を吐出する第 1 ノズル穴を有するノズルプレートの製造 方法であって、
上記第 1 ノズル穴を形成するためのノズル層を形成する工程と、 上記第 1 ノズル穴の一部となる開口部を有し、 第 1 ノズル穴を形成す る際のエッチングマスクとなる遮蔽層を、 上記ノズル層上に局所的に形 成する工程と、
上記遮蔽層をエッチングマスク と して、 上記開口部からノズル層をェ ツチングし、 上記開口部からノズル層を貫通する第 1 ノ ズル穴を形成す る工程とを含むことを特徴とするノズルプレートの製造方法。
1 5. 上記の 3つの工程に続いて、 別途形成された第 2 ノズル穴を有す る補強板を上記ノズル層に接合する工程を行う ことを特徴とする請求の 範囲 1 4に記载のノズルプレートの製造方法。
1 6 . 液体を吐出するためのノズル穴を有するノズルプレー トの製造方 法であって、
第 1 ノズル穴を加工するための第 1 ノズル層を形成する第 1工程と、 上記第 1 ノズル穴の一部となる開口部を有し、 該第 1 ノズル穴のエツ チング時のエッチングマスク となる遮蔽層を、 上記ノズル層上に局所的 に形成する第 2工程と、
上記第 1 ノズル層おょぴ遮蔽層の上に、 第 2 ノズル穴を加工するため の第 2 ノズル層を形成する第 3工程と、
上記第 2 ノズル層をエッチングすることで、該第 2 ノズル層を貫通し、 上記遮蔽層に達する第 2 ノズル穴を加工する第 4工程と、
上記遮蔽層をエッチングマスク と して、 上記開口部から第 1 ノズル層 をエッチングすることで該第 1 ノズル層を貫通する第 1 ノズル穴を加工 する第 5工程とを含むこ とを特徴とするノズルプレー トの製造方法。
1 7 . 上記第 4工程と第 5工程とを連続して行う ことを特徴とする請求 の範囲 1 6 に記載のノズルプレー トの製造方法。
1 8 .液状物質を吐出するための第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層と、 第 1 ノズル穴に連通し、 上記液状物質の供給を受けるための第 2 ノズル 穴を有する第 2 ノズル層とを備えたノズルプレー トにおいて、 開口部を 有し、 第 1 ノズル層よ りエッチングに対する耐性の高い吐出層が、 第 1 ノズル層の液状物質吐出側の面に接するよ うに形成されており、 上記第 1 ノズル穴は、 第 1 ノズル層を貫通して上記開口部に連通しているこ と を特徴とするノズルプレー ト。
1 9 . 上記吐出層は、 第 1 ノズル層内に形成されていることを特徴とす る請求の範囲 1 8に記載のノズルプレー ト。
2 0 . 上記吐出層の主成分が無機材料であることを特徴とする請求の範 囲 1 8に記載のノズルプレート。
2 1 . 第 1 ノズル穴における第 1 ノズル層の貫通部を第 1 ノズル穴部と したとき、
上記吐出層の外形は、 吐出層と第 1 ノズル層との境界面における第 1 ノズル穴部の外形よ り大きいこ とを特徴とする請求の範囲 1 8に記載の ノズルプレー ト。
2 2 . 上記吐出層は開口部の周囲に、 局所的に形成されていることを特 徴とする請求の範囲 1 8に記載のノズルプレー ト。
2 3 . 上記第 1 ノズル層と第 2 ノズル層との間に第 1 ノズル層よ りエツ チングに対する耐性が高い遮蔽層が局所的に介在し、 上記第 1 ノズル穴 は遮蔽層を貫通して第 2 ノズル穴に連通していることを特徴とする請求 ' の範囲 1 8に記載のノズルプレー ト。
2 4 .上記遮蔽層は、第 2 ノズル層よ りェツチングに対する耐性が高く'、 上記遮蔽層の外形は、 第 1 ノズル穴と第 2 ノズル穴との連通部における 第 2 ノズル穴の外形よ り大きいことを特徴とする請求の範囲 2 3 に記載 のノズノレプレー ト。
2 5 . 上記第 1 ノズル層は第 2 ノズル層よ りエツチングに対する耐性が 高いことを特徴とする請求の範囲 1 8に記載のノズルプレート。
2 6 . 第 1 ノ ズル層の貫通部である第 1 ノズル穴部は、 上記開口部との 連通部が狭まつたテーパ形状であることを特徴とする請求の範囲 1 8に 記載のノズルプレー ト。
2 7 . 上記第 2 ノズル穴は、 第 1 ノズル穴との連通部が狭まったテーパ 形状であることを特徴とする請求の範囲 1 8に記载のノズルプレー ト。
2 8. 少なく とも、 上記吐出層の液状物質吐出側の面に撥液膜が形成さ れていることを特徴とする請求の範囲 1 8に記載のノズルプレート。
2 9. 液状物質を吐出する第 1 ノズル穴を有する第 1 ノ ズル層と、 上記 第 1 ノズル穴に連通するとともに上記液状物質の供給を受ける第 2ノズ ル穴を有し、 上記第 1 ノ ズル層に固着される補強板と、 第 1'ノ ズル層よ りェツチングに対する耐性が高く、 少なく とも、 第 1 ノズル穴および第
2ノズル穴の連通部の周囲に形成された遮蔽層と、 開口部を有し、 第 1 ノズル層よりェツチングに対する耐性が高く、 第 1 ノズル層の液状物質 吐出側の面に接するように形成された吐出層とを備え、 上記第 1 ノズル 穴は第 1 ノズル層を貫通して上記開口部に連通していることを特徴とす るノズルプレー ト。
3 0. 上記吐出層が A 1 、 P t 、 A u、 A l 2〇3、 A 1 Nのうちの少な く とも 1つを主成分とする材料によって構成され、 上記第 1 ノズル層が シリ コン化合物から構成され、 上記第 2 ノズル層が有機樹脂で構成され ていることを特徴とする請求の範囲 1 8に記載のノズルプレート。
3 1. 上記吐出層がシリ コン化合物から構成され、 上記第 1 ノズル層が A 1 を主成分とする金属材料で形成され、 上記第 2ノズル層が有機樹脂 で構成されることを特徴とする請求の範囲 1 8に記載のノズルプレー ト( 3 2. 上記第 1 ノ ズル層が有機樹脂で形成され、 上記吐出層が、
T i 、 A l 、 A u、 P t 、 T a、 W、 N b、 S i 〇2、 A 1 203、 S i 3 N4、.A 1 Nから選定される少なく とも 1つの材料を主成分とすることを 特徴とする請求の範囲 2 3に記載のノズルプレート。
3 3. 上記第 1 ノズル層が S i 、 S i 02、 S i 3N 4のうちの少なく とも 1つを主成分とする材料によって形成され、上記吐出層が、 A 1 、 N i 、 F e、 C o、 C u、 A u、 P t 、 A l酸化物、 A 1窒化物のうちの少な く とも 1つを主成分とする材料によつて形成されていることを特徴とす る請求の範囲 2 3に記載のノズルプレート。 .
3 4 . 液状物質を吐出するための、 第 1開口部おょぴ第 1 ノズル穴部を 有する第 1 ノズル穴と、 該第 1 ノズル穴を有する第 1 ノズル層とを備え たノズルプレートの製造方法であって、
上記第 1開口部を有し、 第 1 ノズル層よりェツチングに対する耐性が 高い吐出層を形成する吐出層形成工程と、
上記第 1開口部を埋めるとともに吐出層を覆う ような第 1 ノズル層を 形成する第 1 ノズル層形成工程と、
上記第 1開口部の形成位置に対応して、 上記第 1ノズル層に上記第 1 ノズル穴部を形成する第 1 ノズル穴部形成工程と、
上記第 1 ノズル穴部から第 1 ノズル層をエッチングし、 上記第 1開口 部内の第 1 ノズル層を除去する第 1除去工程とを含むことを特徴とする ノズルプレー トの製造方法。
3 5 . 上記第 1除去工程の後に、
第 1 ノズル層よりエッチングに対する耐性が低い第 2ノズル層を、 上 記第 1開口部おょぴ第 1 ノズル穴部を埋めるとともに第 1 ノズル層を覆 う ように形成する第 2 ノズル層形成工程と、
該第 2 ノズル層をエッチングするこ とで、 該第 2 ノズル層を貫通する 第 2ノズル穴を加工する第 2ノズル大形成工程と、
を含むことを特徴とする請求の範囲 3 4のノズルプレートの製造方法。 3 6 . 上記第 1 ノズル層形成工程と第 1 ノズル穴部形成工程との間に、 第 2開口部を有し、 第 1および第 2 ノズル層よりエッチングに対する 耐性が高い遮蔽層を、 形成された第 1 ノズル層上に、 上記第 1開口部に 対応して局所的に形成する遮蔽層形成工程と、
上記第 2開口部を埋める と と もに第 1 ノズル層を覆う よ うに第 2 ノズ ル層を形成し、 しかる後に第 2 ノズル層をエッチングすることで、 該第
2ノズル層を貫通し、 上記遮蔽層に達する第 2 ノ.ズル穴を加工する第 2 ノズル穴形成工程と、
含むこと特徴とする請求の範囲 3 4のノズルプレー トの製造方法。
3 7 . 上記第 2ノズル穴形成工程に連続して、 上記第 1 ノズル穴部内の 第 2 ノズル層を除去する第 2除去工程と、 上記第 1開口部内の第 2 ノズ ル層を除去する第 3除去工程とを行う ことを特徴とする請求の範囲 3 5 に記載のノズルプレ'ー トの製造方法。 -
3 8 . 上記第 2 ノ ズル穴形成工程に連続して、 上記第 1 ノズル穴部形成 工程および第 1除去工程を行う ことを特徴とする請求の範囲 3 6 に記載 のノズルプレー トの製造方法。
3 9 . 上記一連の工程の後に、 少なく とも、 上記吐出層表面に、 上記吐 出層よ りェツチングに対する耐性の低い撥液膜を形成する工程と、 上記 第 1 開口部の反対側からエッチングを行い、 第 1 ノズル穴内の撥液膜を 除去する工程とを含むことを特徴とする請求の範囲 3 4に記载のノ ズル プレー トの製造方法。
PCT/JP2004/006226 2003-06-27 2004-04-28 ノズルプレート及びその製造方法 WO2005000590A1 (ja)

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