WO2000075943A1 - Materiau d'electrode pour condensateur et condensateur l'utilisant - Google Patents

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WO2000075943A1
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compound
capacitor
tantalum
electrode material
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PCT/JP2000/003771
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Nobuyuki Nagato
Kazumi Naito
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Showa Denko Kabushiki Kaisha
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    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/0029Processes of manufacture
    • H01G9/0032Processes of manufacture formation of the dielectric layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D11/00Electrolytic coating by surface reaction, i.e. forming conversion layers
    • C25D11/02Anodisation
    • C25D11/26Anodisation of refractory metals or alloys based thereon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/004Details
    • H01G9/04Electrodes or formation of dielectric layers thereon
    • H01G9/042Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by the material

Definitions

  • the present invention relates to a capacitor electrode material having a large capacity per unit weight and good leakage current characteristics, and a capacitor using the same. Background technology
  • Capacitors used in electronic devices such as mobile phones and personal computers are desired to be small and large in capacity.
  • tantalum capacitors are preferred because of their large capacity for their size and good performance.
  • a sintered body of tantalum powder is generally used as the anode body of the tantalum capacitor.
  • a sintered body using niobium having a higher dielectric constant than tantalum as a material has been proposed.
  • a capacitor is obtained by forming an oxide film on the surface of these tantalum and niobium sintered bodies as a dielectric by a commonly used electrolytic oxidation method.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-34917 discloses a method of manufacturing a capacitor having a large capacity by reacting a metal foil or a metal rod having pores or spaces in an alkaline solution.
  • a method of forming a perovskite oxide film on a metal electrode material and a capacitor using the same as a dielectric are disclosed.
  • Capacitors using a tantalum or niobium sintered body as an electrode material and a tantalum or niobium oxide formed on the surface as a dielectric layer as described above, or capacitors directly using a perovskite acid compound as a dielectric Has the following problems, and it is impossible to provide a capacitor with a larger capacity than required.
  • a dielectric oxide film for a capacitor is manufactured by the electrolytic oxidation method generally used in the past, it is necessary to make the dielectric oxide film "extremely thin" in order to increase the capacitance. W
  • a tantalum or niobium acid compound could not be produced by a conventional direct reaction method for forming an acid compound film as a dielectric having a higher dielectric constant.
  • an object of the present invention is to provide a capacitor having a large capacitance per unit weight without significantly deteriorating the leakage current characteristic value of the capacitor.
  • the present inventor succeeded in developing an electrode material for a capacitor having an extremely large capacitance per unit weight without specially reducing the thickness of the entire dielectric.
  • the present invention has been completed.
  • a capacitor electrode material comprising a dielectric layer formed on a surface of at least one kind of metal selected from tantalum metal, niobium metal and tantalum-niobium composite metal
  • the dielectric layer may be formed by reacting an alkaline solution with the metal having a surface layer made of an oxide of at least one metal to form at least a part of the oxide constituting the surface layer.
  • At least one selected from a tantalate compound, a niobium oxide compound, and a tantalate compound / niobate compound complex An electrode material for a capacitor, which is converted into a kind of metal acid compound, is provided.
  • the metal having a surface layer made of at least one kind of metal oxide is electrolytically oxidized using at least one kind of metal selected from tantalum metal, niobium metal and tantalum-niobium composite metal as an anode. It is preferably formed.
  • the dielectric layer formed by the reaction between the metal oxide and the solution forming the surface layer is selected from (i) a tantalate compound, a niobate compound, and a tantalate compound / niobate compound complex.
  • a tantalate compound a niobate compound, and a tantalate compound / niobate compound complex.
  • tantalum metal, niobium metal and tantalum at least one metal oxide selected from niobium composite metals; and tantalum metal. It may be composed of at least one metal acid compound selected from an acid compound, a niobate compound and a tantalate compound / niobate compound complex.
  • an electrode material for a capacitor comprising a dielectric layer formed on a surface of at least one metal selected from tantalum metal, niobium metal and tantalum-niob composite metal.
  • the body layer is formed of a tantalate compound, a niobate compound, and a tantalate compound / niobium oxide composite formed on the surface of the metal by electrolytic oxidation in an alkaline solution using the at least one metal as an anode.
  • an electrode material for a capacitor comprising at least one metal acid compound selected from among them.
  • a capacitor comprising an electrode made of the first or second electrode material and the other electrode formed on a dielectric of the electrode.
  • the surface layer of the capacitor electrode material is formed by reacting an alkali solution with an oxide of at least one metal selected from tantalum metal, niobium metal, and tantalum-niobium composite metal. At least a part of the oxide is in a tantalate compound, a niobate compound and a tantalate compound / niobate compound complex It has been converted to at least one kind of metal acid compound selected from these.
  • the surface layer of the electrode material for the capacitor reacts at least one metal selected from tantalum metal, niobium metal and tantalum-niobium composite metal with an alkaline solution
  • the first invention which is directly converted into at least one kind of metal acid compound selected from tantalum metal, niobium metal and tantalum / niobium composite metal
  • At least a part of the dielectric layer formed by the reaction is converted into at least one kind of metal acid compound selected from a tantalate compound, a niobate compound, and a tantalate compound / niobate compound complex. It must be converted.
  • substantially all of the dielectric layer is converted into (i) at least one metal acid compound selected from a tantalate compound, a niobate compound, and a tantalate compound / niobate compound complex.
  • tantalum metal and niobium metal include not only simple substances of each metal but also alloys.
  • the term “tantalum-niobium composite metal” refers to a complex of tantalum and niobium in some form, and includes a wide range from those forming a solid solution or an intermetallic compound to mixtures. Alloys are included. As the alloy, or each metal or composite metal, and at least one selected from the group consisting of Group 3A, 4A, 3B, 4B, and 5B elements in the periodic table And an alloy consisting of the above elements.
  • at least one metal acid compound selected from the tantalate compound / niobate compound complex are tantalic acid, niobate and tantalum / niobate complex acid, and the alkaline solution used in the reaction.
  • these metals and 3A or 4A in the periodic table A compound with at least one element selected from the group consisting of Group 3, 3B, 4B and 5B.
  • the tantalum and / or niobium of these tantalic acids and / or niobic acids have a valence of pentavalent or tetravalent, or a mixture of both valences may be present.
  • the tantalum compound and the niobate compound include a perovskite compound. Since this perovskite compound has a high dielectric constant and good characteristics such as stability as a dielectric, when a capacitor is manufactured from these materials, the capacitance per unit weight is large and the withstand voltage characteristics are high. Because it is good, a capacitor having good leakage current characteristics can be obtained. In addition, these dielectrics can be fired after molding to increase the crystallinity and further increase the dielectric constant. On the other hand, when used in a state of amorphous or low crystallinity, the leakage current characteristics of a capacitor manufactured using the dielectric in this state become better.
  • the dielectric layer is an oxide of at least one metal selected from a tantalum metal, a niobium metal, and a tantalum-niobium composite metal; a tantalate compound and a niobate compound And at least one metal acid compound selected from the tantalate compound / niobate compound complex, the metal oxide and the metal compound constitute a two-layer structure. That is, the latter metal oxide compound layer is formed on the former metal oxide layer.
  • This two-layer dielectric can be thought of as two types of dielectrics in series.
  • the overall permittivity is estimated to be determined by the permittivity of at least one metal oxide selected from dielectrics having a small permittivity, that is, tantalum metal, niobium metal and tantalum-niobium composite metal.
  • the thickness of the oxide can be reduced as compared with the conventional single-layer structure of only the oxide, the capacitance per unit weight of the capacitor using the electrode material having the structure of the present invention is as follows. , It can be larger than the conventional one-layer structure.
  • the thickness of the dielectric itself is the entire thickness of the two-layer structure, deterioration of the leakage current characteristics of the capacitor can be suppressed.
  • the dielectric constant of a metal acid compound selected from a tantalate compound, a niobate compound, and a tantalate compound is selected from the dielectric constant of tantalum, niobium metal, and / or an oxide of a tantalum-niobium composite metal. Since it can be made much larger, a capacitor with a large capacitance can be obtained by using an electrode material using these.
  • the oxide film having a uniform film thickness by electrolysis when the oxide film having a uniform film thickness by electrolysis is replaced with an acid compound film by alkali treatment, a uniform and thin acid compound film is formed, so that the leakage current is not deteriorated. Capacity can be increased.
  • an oxide film having a uniform film thickness can be directly formed by electrolysis using an electrolytic solution containing aluminum oxide, so that the capacity can be increased without deteriorating the leakage current. it can.
  • the shape of the tantalum metal and Z or niobium metal or the alloy of the tantalum metal and / or niobium metal used in the present invention may be any of a foil, a plate, and a rod. It may be a sintered body molded from powder of tantalum metal and Z or niobium metal or an alloy thereof.
  • etching is performed from the surface to the center or to a predetermined position in the interior using a conventionally known method such as electrolytic etching to increase the surface area. Is also good.
  • a powder (average particle size is about 0.5 to 10 // ⁇ ) is obtained from a tantalum metal and / or a niobium metal or an alloy thereof, and Can be made.
  • pulverization can be performed using hydrogen embrittlement by introducing hydrogen into the above-mentioned metals or alloys thereof.
  • the pulverization can be performed by a conventionally known method such as a ball mill or a jet mill. Even when wet grinding using a solvent such as water or alcohol during grinding Good.
  • the pulverization can also be performed in an atmosphere using an inert gas such as argon or nitrogen.
  • the powder In order to produce a sintered body from the prepared powder, the powder is pressed into a predetermined shape and then pressed for about 1 to 10— S Torr for several minutes to several hours, and the powder particle size and alloy Heat in a temperature range that considers the melting point, for example, 400 to 2,000 ° C. From the viewpoint of reducing the heating cost and maintaining the strength of the sintered body to a certain extent, the heating is preferably performed at 500 to 1,500 ° C.
  • the metal or alloy may be partially nitrided at a predetermined shape stage, at a powder stage, at a stage after molding, or at a stage after sintering, for example, by heating in nitrogen. Good.
  • nitriding treatment method for example, the method disclosed by the present inventors in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-242004 can be adopted. By partially nitriding, the leakage current characteristics of the capacitor manufactured using the material are further improved.
  • the alloys used as one embodiment of the present invention include Group 3A (Sc, Y, lanthanide, actinide), Group 4A (Ti, Zr, Hf), and Group 3B ( B, Al, Ga, In, T1), 4B (C, Si, Ge, Sn, Pb), 5B (N, P, As, Sb, Bi) )
  • Group 3A Sc, Y, lanthanide, actinide
  • Group 4A Ti, Zr, Hf
  • Group 3B B, Al, Ga, In, T1
  • 4B C, Si, Ge, Sn, Pb
  • 5B N, P, As, Sb, Bi
  • the proportion of tantalum and / or niobium in the alloy is preferably 15 to 98 mol%. From the viewpoint of increasing the capacity, 50 to 93 mol% is more preferable.
  • the alloy can be produced by a conventionally known method such as an arc melting method.
  • the oxide of the tantalum metal and the oxide of the tantalum metal or the niobium metal or the oxide of an alloy thereof can be formed, for example, in an oxidizing medium or by electrolytic oxidation in an electrolytic solution.
  • an oxidizing medium for example, a method of oxidizing in an oxidizing atmosphere such as air or oxygen gas or a method of oxidizing with an oxidizing agent can be used.
  • oxidizing agents inorganic and organic oxidizing agents such as water peroxide
  • examples include persulfates such as sulfuric acid, ammonium persulfate, potassium persulfate, and sodium persulfate; perphosphates such as ammonium persulfate and potassium persulfate; peracetic acid; and hydroxy peroxide.
  • the oxidizing agent is formed by dissolving the oxidizing agent in water or a polar organic solvent such as alcohol-dimethylformamide and then immersing the metal or alloy in the solution. be able to.
  • a method of oxidizing in air a method of oxidizing with an oxygen gas, a method of oxidizing with an oxidizing agent, and the like can be used in combination. Also, two or more oxidizing agents may be used in combination.
  • the above-mentioned metal or an alloy thereof is used as an anode to form an anode having a high conductivity without being corroded by the electrolytic solution. It can be formed by applying a constant voltage method, a constant current method, a pulse method, or a combination of these methods with an electrolytic solution interposed therebetween, and applying a current.
  • a conventionally known electrolyte such as a solution in which an inorganic acid such as sulfuric acid, hydrochloric acid, or phosphoric acid or an organic acid such as benzoic acid or adipic acid is dissolved can be used.
  • the oxide may be produced by using both the method of forming in an oxidizing medium and the method of forming by electrolytic oxidation.
  • a method of treating in an oxidizing medium and then performing electrolytic oxidation is preferable.
  • the tantalate compound and / or niobate compound constituting the dielectric layer formed on the surface of the capacitor electrode material of the present invention are tantalum acid and / or niobate and an alkali metal element, an alkaline earth metal or A compound with a group 3A element such as lanthanide, or at least one element selected from the group 3A, 4A, 3B, 4B and 5B in the periodic table, and tantalum It is a compound of an acid of an alloy consisting of and or niobium and a Group 3A element such as an alkali metal element, alkaline earth metal or lanthanide.
  • These tantalum acids and Z or The valence of tantalum or niobium of niobate is pentavalent or tetravalent, or a mixture of both valences may be present.
  • Perovskite compounds are preferred examples of the above-mentioned tantalic acid compound and no or niobate compound. Since this perovskite compound has a high dielectric constant and good characteristics such as stability as a dielectric, when a capacitor is made from these materials, the capacitance per unit weight is large and the withstand voltage characteristics are high. As a result, a capacitor having good leakage current characteristics can be obtained. In addition, these dielectrics can be fired after molding to increase the crystallinity and further increase the dielectric constant. On the other hand, when used in a state of being amorphous or having low crystallinity, the leakage current characteristics of a capacitor manufactured using the dielectric in this state are improved.
  • the conventionally known direct reaction method cannot form a dielectric layer containing a tantalum compound and / or a niobate compound, it can be formed by the method disclosed in the present invention.
  • the electrode material of the second invention in order to form a tantalum compound and a Z or a niobium compound directly on the surface of a tantalum metal and / or a niobium metal or an alloy thereof, Alternatively, a method of electrolytically oxidizing these alloys in an alkaline solution containing an alkali metal compound and Z or an alkaline earth metal compound can be mentioned. Depending on the conditions of electrolytic oxidation, etc., it is possible to form an acid compound of any thickness on the surface of tantalum metal and Z or niobium metal or their alloys on the surface of tantalum metal and Z or niobium metal or their alloys.
  • the manufactured dielectric layer can have a sufficiently thin single-layer structure of a tantalum oxide compound and a Z or niobate compound.
  • the tantalum metal and Z having an oxide formed on the surface or the niobium metal or an alloy thereof are mixed with an Al metal compound and an Z metal or an Al earth metal compound.
  • the oxide of the tantalum metal and / or niobium metal or their alloys on the surface of the tantalum metal and / or niobium metal or their alloys may be removed depending on the reaction conditions.
  • the resulting dielectric layer is composed of a sufficiently thin oxide layer of tantalum metal and / or niobium metal or an alloy thereof and a layer of tantalum oxide and / or niobate compound. It can have a two-layer structure.
  • the thickness of the dielectric layer is the thickness of an oxide compound alone, and the thickness of an oxide and an acid compound is the total thickness of both, but the thickness of the dielectric layer is large. Capacitors with a high withstand voltage can be obtained with a high thickness, and capacitors with a high capacitance can be obtained with a small thickness. Therefore, it is advisable to control the film thickness by preliminary experiments according to the purpose of the capacitor to be manufactured. For example, when chemical conversion is performed at 20 [V], the thickness of the entire acid compound dielectric can be 500 to 1, 000 A, which is sufficiently thin to obtain a larger capacitance.
  • the two layers are arranged in series.
  • the overall dielectric constant is determined by the dielectric constant of the oxide layer. Since the thickness of the layer is small, the capacity of the manufactured capacitor becomes large. In other cases, the acid compound is the dominant factor in determining the overall dielectric constant, and the capacity of the manufactured capacitor is larger.
  • the thickness of the entire dielectric is 500 to 100 A, of which the thickness of the oxide having a two-layer structure is sufficient to obtain a larger capacitance. It can be as thin as 5-10 OA.
  • each dielectric layer vary depending on the reaction temperature, reaction time, pH of the reaction solution, applied voltage during electrolysis, and applied current density when forming the dielectric layer. Decide and use them according to your purpose.
  • the method for preparing an alkaline solution and the method for forming a dielectric film used in preparing the electrode material for a capacitor of the present invention will be further described.
  • an aluminum solution prepared in the same manner can be used.
  • An alkaline solution containing an alkaline metal compound and / or an alkaline earth metal compound is a part or all of a compound containing at least one of an alkali metal element and Z or an alkaline earth metal element.
  • the pH of the solution is preferably from 10 to 14, more preferably from the viewpoint of increasing the reactivity. Or 12 to 14. If the pH is too low, the reactivity to the above-mentioned tantalum compound and the compound of no or niobate decreases, and the stability of the product decreases. When the pH is low only by dissolving the compound, or when the solubility of the compound is low, the pH can be adjusted and used together with a strong alkali compound.
  • the solvent of the alkaline solution is usually water, but a polar solvent such as alcohol may be used.
  • Examples of compounds containing an alkali metal element include hydroxides, oxides, alcoholates of elements belonging to Group A of the periodic table (L i, Na, K, R b, C s, and F r). Salts of weak acids can be mentioned.
  • the alkaline earth metal elements are group 2A (Be, Mg, Ca, Sr, Ba, Ra) and group 2B (Zn, Cd, Hg) in the periodic table.
  • groups of compounds containing alkaline earth metal elements include hydroxides, oxides, alcoholates, and salts of weak acids of these elements.
  • a salt of a weak acid is used as the compound containing an alkaline earth metal element, it may be used in combination with a modified alkali such as sodium hydroxide or potassium hydroxide.
  • a compound containing an alkaline earth metal element having low solubility is used, a saturated solution of the compound may be prepared and used, or powder of an oxide or hydroxide of the compound may be used. A suspension may be used.
  • the powder When a powder suspension is used, the powder clogs the pores of the dielectric layer being formed on the surface of the tantalum metal and Z or niobium metal or an alloy thereof, thereby preventing the reaction inside the pores. It is necessary to devise a way to avoid contact between the powder and the metal or their alloy so as not to interfere. For example, the metal or an alloy thereof is immersed in the supernatant of the liquid, and the precipitated powder is not stirred up while stirring only the supernatant, or the powder precipitated in the supernatant is prevented from entering. A filter can be placed between the supernatant and the precipitated powder.
  • a dielectric film When a dielectric film is formed in an alkaline solution containing an alkaline metal compound and Z or an alkaline earth metal compound, it reacts with carbon dioxide in the air to lower the pH in the solution, To prevent the formation of precipitates and the incorporation of carbonate compounds into the dielectric film, It is preferable to carry out the reaction treatment in a gas atmosphere such as oxygen gas, nitrogen gas or argon gas.
  • a gas atmosphere such as oxygen gas, nitrogen gas or argon gas.
  • the reaction temperature for forming the dielectric film can be 30 to 250 ° C., but when the temperature exceeds the boiling point of the solvent, the reaction is preferably performed in a pressurized system.
  • the temperature is preferably 30 to 98 ° C. From the viewpoint of increasing solubility and preventing evaporation of water, 60 to 95 is more preferable.
  • a method of forming a dielectric film by electrolytic oxidation in an alkaline solution containing an alkali metal compound and / or an alkaline earth metal compound includes, for example, a method in which tantalum metal and Z or niobium metal or an alloy thereof are used as an anode.
  • the consumed alkaline metal compound and / or an alkaline earth metal compound is only the amount consumed by the electrolytic oxidation, and the entire raw material liquid for the reaction does not react.
  • Dielectrics can be formed continuously without replacing the raw material solution each time, that is, without the need for batch processing.
  • a capacitor can be manufactured by combining the capacitor electrode material obtained by the above method with one electrode having a dielectric layer formed on the surface and combining the other electrode with the other electrode.
  • the other electrode of the capacitor is not particularly limited, and includes, for example, at least one compound selected from an electrolytic solution, an organic semiconductor, and an inorganic semiconductor known in the aluminum electrolytic capacitor industry.
  • an electrolytic solution isobutyltripropylammoniumborotetrafluoride electrolyte is quinoline 0 /.
  • a mixed solution such as propylene carbonate ne one preparative and ethylene da recall can be mentioned that 7 wt 0/0 dissolved Tetorae chill ammonium Niu arm rag tetrafluoropropoxy O Lai de.
  • the organic semiconductor examples include an organic semiconductor composed of benzopyrroline tetramer and kulanilanil, an organic semiconductor composed mainly of tetrathiotetracene, an organic semiconductor composed mainly of tetracyanoquinodimethane, and the following general formula (1)
  • an organic semiconductor mainly composed of a conductive polymer obtained by doping the polymer represented by (2) with a dopant can be used.
  • the inorganic semiconductor include an inorganic semiconductor containing lead dioxide or manganese dioxide as a main component, and an inorganic semiconductor containing triiron tetroxide. Such semiconductors may be used alone or in combination of two or more.
  • scale 1 to 11 4 are hydrogen, an alkyl group or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms having 1 to 6 carbon atoms, it is different even they are identical to each other well, X represents oxygen, Iou or nitrogen atom, R 5 is X is present and the Yellow Sea to the nitrogen atom represent hydrogen or an alkyl group having a carbon number. 1 to 6, R 1 and R 2 and R 3 and R 4 May combine with each other to form a ring.
  • Examples of the polymer represented by the formula (1) or (2) include, for example, polyaniline, polyoxyphenylene, polyphenylene sanololefide, polythiophene, polyfuran, polypyrrolineole, polymethinolepyrrole, and the like. Derivatives and the like.
  • conductivity 1 0- 2 ⁇ 1 0 3 [ S ⁇ cm "1] As the organic semiconductor and an inorganic semiconductor, conductivity 1 0- 2 ⁇ 1 0 3 [ S ⁇ cm "1]
  • the use of a capacitor in the range of (1) makes the impedance value of the manufactured capacitor smaller, and the capacitance at high frequencies can be further increased.
  • the other electrode when the other electrode is solid, for example, a carbon paste and a silver paste are sequentially laminated on the other electrode and sealed with a material such as an epoxy resin to form a capacitor.
  • the capacitor may have niobium or tantalum leads molded integrally with the capacitor electrode material or welded back and forth.
  • the other electrode is a liquid, the capacitor composed of the two electrodes is housed in, for example, a can electrically connected to the other electrode to form a capacitor.
  • the electrode side of the capacitor electrode material is designed to be led out to the outside through the above-mentioned niobium or tantalum lead, and to be insulated from the can by insulating rubber or the like. .
  • % is based on weight.
  • the capacitor electrode material prepared in the specific example was evaluated by the value of the capacitance measured at 120 Hz while immersed in 3 °% sulfuric acid at room temperature.
  • the leakage current of the fabricated capacitor is the value after 1 minute of continuous application of voltage 4 [V] at room temperature, and the capacitance is the value at room temperature of 120 Hz.
  • the types of elements present in the dielectric layer were determined by Auger analysis.
  • Tantalum foil (thickness 0.12 mm, size l OmmX l Omm) was thoroughly washed with hydrofluoric / nitric acid (a mixture of hydrofluoric acid and nitric acid) and then repeatedly washed with ion exchanged water.
  • This foil was used as an anode, immersed in a 0.1% phosphoric acid aqueous solution, and platinum was used as a cathode.
  • a voltage of 10 [V] was applied at 80 ° C. for 30 minutes for electrolytic formation. After the completion of the electrolytic formation, the substrate was sufficiently washed with ion-exchanged water from which carbon dioxide was removed by boiling.
  • Example 1 a niobium plate (thickness 0.2 mm, size 10 mm X 1 O mm) was used instead of tantalum foil, and sodium hydroxide 2 mo 1/1 was used instead of sodium hydroxide.
  • the electrode material for the capacitor was obtained in the same manner as in Example 1 except that the concentration of the hydroxide hydroxide was set to 0.1 mo 1 Z1, the solution temperature was set to 85 ° C, and the reaction was performed for 1 hour.
  • the metal elements present in the niobate compound formed on the niob plate were confirmed to be barium, sodium, and niobium.
  • this electrode material showed that the layer made of niobium oxide was approximately 80 A on the niobium plate and that the niobate compound layer was approximately 35 OA, which was confirmed by SIMS (secondary ion mass) in the thickness direction. (Analysis) Confirmed by analysis port file. Table 2 shows the capacitance values of the electrode materials.
  • An alloy having a composition of 86% by weight of niobium and 14% by weight of zirconium was hydrogenated and then pulverized to obtain an alloy powder (average particle size 5.2 ⁇ ). 0.03 g of this powder is molded into a size of 2 mm X 3 mm X 1.2 mm together with a niobium rod of 0.2 mm ⁇ , and then at 100 — 5 Torr for 100 minutes at 100 ° C. Vacuum sintering was performed to obtain a sintered body.
  • the temperature was kept at 85 ° C after removing carbon dioxide by boiling the ion-exchanged water in a Teflon container prepared separately.
  • High-purity oxidized barium obtained by igniting barium carbonate in the ion-exchanged water in this container was dissolved to prepare a 0.4 mo 1/1 solution.
  • the solution was allowed to stand under an argon atmosphere, and electrolytic oxidation was performed by applying a voltage of 20 [V] for 100 minutes using the sintered body as an anode and platinum as a cathode.
  • the electrode was sufficiently washed with ion-exchanged water from which carbon dioxide had been removed to obtain a capacitor electrode material. It was confirmed that the types of metal elements present in the niobate compound formed on the surface of the sintered body of this electrode material were barium, zirconium, and niobium.
  • This Table 2 shows the capacitance values of the electrode materials.
  • Example 4 An electrode material for a capacitor was obtained in the same manner as in Example 3, except that the type and composition of the alloy, the type and concentration of the compound giving the alkaline solution, and the electrolysis conditions were changed as shown in Table 1. .
  • Example 4 it was confirmed that the types of metal elements present in the niobate compound formed on the surface of the sintered body of this electrode material were strontium, bismuth, and niobium.
  • Example 5 it was confirmed that the types of metal elements present in the niobate compound formed on the surface of the sintered body of this electrode material were sodium, barium, yttrium, and niobium.
  • Example 6 it was confirmed that the types of metal elements present in the niobate compound formed on the surface of the sintered body of this electrode material were barium, tin, and niobium. Table 2 shows the capacitance values of these electrode materials.
  • Example 2 Except that no niobate compound was formed on the surface in Example 2, that is, no reaction treatment was performed in sodium hydroxide and barium hydroxide solutions, the same procedure as in Example 2 was repeated for a capacitor. An electrode material was produced. Table 2 shows the capacitance values of the electrode materials.
  • An electrode material for a capacitor was prepared in the same manner as in Example 3, except that the electrolytic oxidation treatment was performed in a 0.1% aqueous phosphoric acid solution instead of performing the electrolysis in an alkaline solution.
  • Table 2 shows the capacitance values of the electrode materials.
  • Example 3 40 capacitor electrode materials prepared in the same manner as in Example 3 were prepared. At this time, the oxide was continuously formed on 40 electrode materials without replacing the prepared solution of the oxide barrier. Thereafter, the other electrode was formed by the method shown in Table 3. Further, a carbon layer and a silver paste layer are sequentially laminated thereon, and then placed on a lead frame. Then, except for a part of the lead, the entire chip is sealed with epoxy resin to form a chip capacitor. 0 were produced. Table 4 shows the evaluation results. Table 3
  • Comparative Example 3 when a capacitor is manufactured using the electrode material for the capacitor, the leakage current value is somewhat deteriorated, but the capacitance is increased 3 to 6 times. You can see that it expands. Industrial availability
  • the capacitor electrode material of the present invention When the capacitor electrode material of the present invention is used for a capacitor, a capacitor having a large capacity per unit weight can be manufactured without significantly deteriorating the leakage current value of the capacitor.
  • a dielectric film formed by electrolytic oxidation in an alkaline solution a dielectric can be continuously formed without replacing the raw material solution each time, and a batch process is performed. It can be produced efficiently without any need.

Description

明 細 書 コンデンサ用電極材料およびそれを用いたコンデンサ 技 術 背 景
本発明は、 単位重量あたりの容量が大きく、 漏れ電流特性の良好なコ 'サ 用電極材料、 およびそれを用いたコンデンサに関する。 背 景 技 術
携帯電話やパーソナルコンピュータ一等の電子機器に使用されるコンデンサは、 小型大容量のものが望まれている。
このようなコンデンサの中でもタンタルコンデンサは、 大きさの割には容量が 大きく、 しかも性能が良好なため、 好んで使用されている。 このタンタルコンデ ンサの陽極体としてタンタル粉の焼結体が一般的に使用されている。 また、 タン タルより誘電率の大きいニオブを材料として用いた焼結体も提案されている。 こ れらタンタルおよびニオブの焼結体表面に、 誘電体として、 従来一般に用いられ ている電解酸化法により酸化物膜を形成し、 コンデンサを得ている。
一方、 特開昭 6 3— 3 4 9 1 7号公報には、 大きな容量のコンデンサを製造す る方法として細孔あるいは空間部を有する金属箔または金属棒をアル力リ溶液中 で反応して、 ぺロブスカイ ト型酸化皮膜をその金属電極材料上に形成する方法、 およびそれを誘電体として利用したコンデンサが開示されている。
上記のようなタンタルまたはニオブの焼結体を電極材料としてその表面にタン タルもしくはニオブの酸化物を誘電体層として形成したコンデンサ、 または誘電 体として直接べロブスカイ ト型酸化合物を利用したコンデンサには、 以下のよう な問題があり、 求められているより容量の大きいコンデンサの提供は実現できな かつ 7こ。 従来一般に用いられている電解酸化の方法でコンデンサの誘電体酸化物膜を作 製した場合、 容量をより大きくするためには誘電体の酸化物膜の 「極」 薄膜化が W
2 必要だが、 「極」 薄膜化すると膜のより薄い局部で漏れ電流が悪化するため実用 的な 「極」 薄膜を得ることができず、 結果としてより大きな容量を得ることがで きなかった。 より大きい誘電率を有する誘電体として、 酸化合物膜を形成する従来一般に用 いられた直接反応法では、 タンタルまたはニオブの酸化合物を作製することがで きなかった。
また、 他の金属を電極材料として、 特開昭 6 3— 3 4 9 1 7号公報に記載され ているような反応方法にて酸化合物膜を形成した場合、 生成する誘電体膜の厚み にムラができ、 薄いところが漏れ電流の発生の原因となるため、 漏れ電流が所定 値以下になるまでその最も薄い箇所を厚くする必要があった。 そのため、 膜全体 の平均膜厚が厚くなり、 容量をより大きくすることができなかった。
また、 生産上の問題としては、 製造工程に上記のような反応法を含む場合には 反応用原料液全体が反応してしまい、 その都度原料溶液を入れ替えなければなら ず、 バッチ処理になり、 生産性が悪かった。 発 明 の 開 示
以上のような従来技術の状況に鑑み、 本発明の目的は、 コンデンサの漏れ電流 特性値を大きく悪化させることなく、 単位重量あたりの容量が大きいコンデンサ を提供することにある。
本発明者は、 上記目的を達成すべく鋭意検討した結果、 誘電体全体の厚みを特 別に薄くすることをせず、 単位重量あたりの容量が極めて大きいコンデンサ用電 極材料を開発することに成功し、 本発明を完成するに至った。
本発明によれば、 第一の発明として、 タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタ ル ·ニオブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の金属の表面に誘電体層が 形成されてなるコンデンサ用電極材料において、 該誘電体層は、 上記少なく も一 種の金属の酸化物からなる表面層を有する該金属にアル力リ溶液を反応させて、 表面層を構成する該酸化物の少なく とも一部をタンタル酸化合物、 ニオブ酸化合 物およびタンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも 一種の金属酸化合物に変換したものであるコンデンサ用電極材料が提供される。 上記少なく も一種の金属の酸化物からなる表面層を有する該金属は、それぞれ、 タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル ·ニオブ複合金属の中から選ばれた少 なくも一種の金属を陽極として電解酸化により形成されたものであることが好ま しい。
また、 表面層を構成する金属酸化物とアル力リ溶液との反応によって生成する 誘電体層は、 ( i )タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 · ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物からなつ ていてもよく、 また、 (i i )タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル .ニオブ複 合金属の中から選ばれた少なく とも一種の金属の酸化物と、 タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれ た少なく とも一種の金属酸化合物とからなつていてもよい。
さらに、 第二の発明として、 タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル ·ニォ ブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の金属の表面に誘電体層が形成され てなるコンデンサ用電極材料において、 該誘電体層が、 上記少なく も一種の金属 を陽極として、 アルカリ溶液中で電解酸化することによって該金属の表面に形成 されたタンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 · ニオブ酸化 合物複合体の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物からなるコンデンサ 用電極材料が提供される。
さらに、 第三の発明として、 上記第一または第二の電極材料からなる電極と、 該電極の誘電体上に形成された他方の電極とで構成されたコンデンサが提供され る。 発明を実施するための最良の形態
第一の発明において、 コンデンサ用電極材料の表面層は、 タンタル金属、 ニォ ブ金属およびタンタル ·ニオブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の金属 の酸化物にアルカリ溶液を反応させて、 該酸化物の少なく とも一部をタンタル酸 化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中か ら選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物に変換したものである。 また、 第二の 発明において、 コンデンサ用電極材料の表面層は、 タンタル金属、 ニオブ金属お よびタンタル · ニオブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の金属をアル力 リ溶液と反応させて、 直接、 タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル .ニオブ 複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物に変換したものである 第一の発明において、 表面層を構成する金属酸化物とアルカリ溶液との反応に よって生成する誘電体層は、 その少なく とも一部が、 タンタル酸化合物、 ニオブ 酸化合物およびタンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少な く とも一種の金属酸化合物に変換されていることが必須である。 すなわち、 誘電 体層は、 実質的にその全てが、 ( i )タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタ ンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なくとも一種の金属 酸化合物に変換されていることからなっていてもよく、 また、 (ii )タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル 'ニオブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の 金属の酸化物と、 タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 . ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物とからな つていてもよレヽ。
「タンタル金属」 および 「ニオブ金属」 とは、 それぞれの金属の単体のみなら ず合金をも包含する。 「タンタル ' ニオブ複合金属」 とは、 タンタルとニオブと が何らかの形態で複合したものを指し、 固溶体ないし金属間化合物を形成するも のから混合物に至る広い範囲のものが包含され、 代表的には合金が含まれる。 合 金としては、 またはそれぞれぞの金属または複合金属と、 周期律表中の 3 A族、 4 A族、 3 B族、 4 B族、 5 B族の元素からなる群より選ばれた少なくとも一種 の元素とからなる合金が挙げられる。
タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル ' ニオブ複合金属の中から選ばれた 金属の酸化物とは、 通常、 T a 25、 T a 2 O n ( n = 5未満の正数) 、 N b 2 0 5、 N b 2m (m == 5未満の正数) およびこれらに対応するタンタルとニオブ との複合金属の酸化物が挙げられる。
コンデンサ用電極材料の表面層を構成する、 タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合 物およびタンタル酸化合物 · ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも 一種の金属酸化合物とは、 タンタル酸、 ニオブ酸およびノまたはタンタル .ニォ ブ複合酸と、 反応に用いられたアルカリ溶液中に含まれるアルカリ金属、 アル力 リ土類金属もしくはランタニドなどの 3 A族元素との化合物、 および、 合金を用 いた場合は、 さらにこれらの金属と周期律表中の 3 A族、 4 A族、 3 B族、 4 B 族、 5 B族の中から選ばれた少なく とも一種の元素との化合物のことである。 こ れらのタンタル酸および/またはニオブ酸のタンタルまたはニオブの価数は 5価 または 4価であり、 または両方の価数のものが混在していてもよい。
前記したタンタル酸化合物およびニオブ酸化合物の代表例として、 ぺロブス力 ィ ト型化合物が挙げられる。 このべロブスカイ ト型化合物は高い誘電率を有し、 また誘電体としての安定性等の特性も良好なため、 これらの材料からコンデンサ を作製すると単位重量あたりの容量が大きく、 しかも耐電圧特性が良好なため、 漏れ電流特性の良好なコンデンサを得ることができる。 また、 これらの誘電体は 成型後焼成して結晶性を上げて、 さらに誘電率を上昇させることもできる。一方、 非晶もしくは結晶性が低い状態で使用した場合には、 この状態の誘電体を用いて 作製したコンデンサの漏れ電流特性は良好になる。
第一の発明のコンデンサ用電極材料において、 その誘電体層がタンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル · ニオブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の 金属の酸化物と、 タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 · ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物とからな る場合、 該金属の酸化物と該金属化合物とは、 2層構造を構成している。 すなわ ち、 前者の金属酸化物の層の上に後者の金属酸化合物の層が形成されている。 こ の誘電体の 2層構造は 2種の誘電体が直列になっていると考えることができる。 この場合全体の誘電率は、 小さな誘電率をもつ誘電体、 すなわちタンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル ' ニオブ複合金属の中から選ばれた少なく とも一種の 金属の酸化物の誘電率で決まると推定される。 しかしながら、 従来の酸化物のみ の一層構造のものに比較して、 該酸化物の厚みを薄くすることができるため、 本 発明の構造をもった電極材料を使用したコンデンサの単位重量あたりの容量は、 従来の一層構造のものより大きなものとすることができる。 他方、 誘電体自体の 厚みは 2層構造全体分となるために、 コンデンサの漏れ電流特性が悪化すること を抑えることができる。
タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 .ニオブ酸化合物 複合体の中から選ばれた金属酸化合物の誘電率は、 タンタル、 ニオブ金属および /またはタンタル ·ニオブ複合金属の酸化物の誘電率よりはるかに大きくするこ とができるため、 これらを用いた電極材料を使用することにより、 容量の大きな コンデンサを得ることができる。
さらに、 第一の発明の電極材料では、 電解による均一な膜厚を有する酸化物膜 をアルカリ処理により酸化合物膜に置換すると、 均一で薄い酸化合物膜ができる ため、 漏れ電流を悪化させずにより容量が大きくできる。 また、 第 2の発明の電 極材料では、 アル力リを含む電解液を用いる電解により均一な膜厚を有する酸化 合物膜を直接に形成できるため、 漏れ電流を悪化させずにより容量を大きくでき る。
本発明のコンデンサ用電極材料の製造方法の一実施形態をより具体的に説明す る。
本発明に使用するタンタル金属および Zまたはニオブ金属、 もしくは、 タンタ ル金属および/またはニオブ金属の合金の形状は、 箔、 板、 棒状のいずれであつ てもよい。 タンタル金属および Zまたはニオブ金属もしくはそれらの合金の粉末 から成型した焼結体であってもよい。 形状が、 箔、 板、 棒状のいずれかとした場 合、 表面積を増すために、 電解エッチングなどの従来公知の方法を用いて、 表面 から中心まであるいは内部の所定の所までエッチング処理を行っていてもよい。 前述した焼結体を得るためには、 例えば、 タンタル金属および/またはニオブ 金属、 もしくはこれらの合金から粉末 (平均粒径は約 0 . 5〜1 0 // ιη) を得て、 この粉末から作製することができる。 該粉末を得るには、 前記した金属もしくは それらの合金に水素を投入して水素脆性を利用して、 粉砕をおこなうことができ る。 粉砕は、 例えば、 ボールミルやジェッ トミルなど従来公知の方法でおこなう こともできる。 粉砕時に水やアルコールなどの溶媒を用いて湿式でおこなっても よい。 またアルゴンや窒素などの不活性ガスを使用した雰囲気中で粉砕をおこな うこともできる。
調製された粉末から焼結体を製造するには、 前記粉末を所定の形状に加圧成型 した後に、 約 1〜 1 0— ST o r rで数分〜数時間、 粉末の粒径や合金の融点を考 慮した温度範囲、 例えば 400〜2, 000°Cで加熱する。 加熱コス トを下げ、 またある程度の焼結体の強度を維持する点から、好ましくは 5 00〜 1, 500°C に加熱する。
前記金属や合金の所定形状の段階で、 または粉末の段階、 成型後の段階、 ある いは焼結後の段階で、 例えば窒素中で加熱する方法などによって、 一部窒化処理 しておいてもよい。 窒化処理方法は、 例えば本発明者らが特開平 1 0— 24 20 04号公報で開示した方法を採用することができる。 一部窒化処理することによ つて該材料を用いて作製したコンデンサの漏れ電流特性が一層改善される。
本発明の一実施形態として使用される合金は、 周期律表中の 3 A族 (S c、 Y、 ランタニド、 ァクチニド) 、 4 Α族 (T i、 Z r、 H f ) 、 3 B族 (B、 A l、 G a、 I n、 T 1 ) 、 4 B族 (C、 S i、 G e、 S n、 P b ) 、 5 B族 (N、 P、 A s、 S b、 B i ) の中から選ばれた少なく とも一種の元素とタンタル金属およ び Zまたはニオブ金属とからなるものが好ましい。 合金中のタンタルおよびノま たはニオブの比率は、 1 5〜 9 8モル%が好ましい。 容量をより大きなものにす る点から、 より好ましくは 5 0〜9 3モル%がよい。 1 5モル0 /0未満では、 該合 金を使用してコンデンサを形成した場合、 コンデンサの単位重量あたりの容量が 期待したほど大きくならず、 好ましくない。 98モル%を越えるものは、 少量の 金属の偏析が生じ易くなり、 合金の作成が困難である。 合金は、 アーク溶解法な ど従来公知の方法によって作製することができる。
前記、 タンタル金属およびノまたはニオブ金属の酸化物もしくはそれらの合金 の酸化物は、 例えば酸化性媒体中で形成する、 あるいは電解液中で電解酸化して 形成することができる。 酸化物を酸化性媒体中で形成するには、 例えば空気や酸 素ガスなどの酸化性雰囲気中で酸化する方法、 あるいは酸化剤で酸化する方法を 用いることができる。 酸化剤として、 無機および有機の酸化剤、 例えば過酸化水 素、 過硫酸アンモニゥム、 過硫酸カリ ウム、 過硫酸ナトリ ウムなどの過硫酸塩、 過りん酸アンモニゥム、 過りん酸カリなどの過りん酸塩、 過酢酸、 ヒ ドロキシパ ーォキサイ ドなどが挙げられる。 これらの酸化剤を使用して酸化物を形成する場 合、 酸化剤を水またはアルコールゃジメチルホルムアミ ドなどの極性有機溶媒に 溶解した後、 前記金属または合金を溶液中に浸すことによって形成することがで きる。 また、 酸化物を酸化雰囲気中で形成するには、 空気中で酸化する方法、 酸 素ガスで酸化する方法、 酸化剤で酸化する方法などを組み合わせて併用して用い ることができる。 また、 酸化剤も 2種以上を併用してもよい。
一方、 前記酸化物を電解液中で電解酸化して形成するには、.前記した金属もし くはそれらの合金を陽極として、 電解液に腐食されず高導電率を有する適当な陰 極との間に電解液を介在せしめて、 定電圧法、 定電流法、 パルス法もしくはこれ らの方法を併用した方法で、 通電することによって形成することができる。 電解 液としては、 硫酸、 塩酸、 りん酸などの無機酸や、 安息香酸、 アジピン酸などの 有機酸が溶解した溶液など従来公知の電解液が使用できる。
また、 前記酸化物は前述した酸化性媒体中で形成する方法と電解酸化で形成す る手法を併用して作製してもよい。 特に、 酸化性媒体中で処理し、 次いで電解酸 化を行う方法が好ましい。
形成された該酸化物の一例として、 前記した金属を用いた場合、 T a 25、 T a 2 O n ( n = 5未満の正数) 、 N b 2 0 5、 N b 2 O m (m = 5未満の正数) およ びこれらの組成物が挙げられる。 また前記した合金を用いた場合は各合金の組成 の元素を含んだ酸化物となる。
本発明のコンデンサ用電極材料の表面に形成されている誘電体層を構成するタ ンタル酸化合物および またはニオブ酸化合物とは、 タンタル酸および/または ニオブ酸と、 アルカリ金属元素、 アルカリ土類金属もしくはランタニド等の 3 A 族元素との化合物、 または周期律表中の 3 A族、 4 A族、 3 B族、 4 B族、 5 B 族の中から選ばれた少なく とも一種の元素と、 タンタルおよび またはニオブと からなる合金の酸と、 アルカリ金属元素、 アルカリ土類金属もしくはランタニド などの 3 A族元素との化合物のことである。 これらのタンタル酸および Zまたは ニオブ酸のタンタルまたはニオブの価数は 5価または 4価であり、 または両方の 価数のものが混在していてもよい。
前記したタンタル酸化合物およびノまたはニオブ酸化合物の好ましい例として、 ぺロブスカイ ト型化合物が挙げられる。 このべロブスカイ ト型化合物は高い誘電 率を有し、 また誘電体としての安定性等の特性も良好なため、 これらの材料から コンデンサを作製すると単位重量あたりの容量が大きく、 しかも耐電圧特性が良 好なため、 漏れ電流特性の良好なコンデンサを得ることができる。 また、 これら の誘電体は成型後焼成して結晶性を上げて、 さらに誘電率を上昇させることもで きる。 一方、 非晶もしくは結晶性が低い状態で使用した場合には、 この状態の誘 電体を用いて作製したコンデンサの漏れ電流特性は良好になる。
従来知られている直接反応法では、 タンタル酸化合物および またはニォブ酸 化合物を含んだ誘電体層を形成することができなかつたが、 本発明の開示方法に より形成ができる。
第二の発明の電極材料の製造において、 タンタル金属および/またはニオブ金 属もしくはそれらの合金の表面に直接タンタル酸化合物および Zまたはニオブ酸 化合物を形成するには、 前記タンタル金属および Zまたはニオブ金属もしくはそ れらの合金をアル力リ金属化合物および Zまたはアル力リ土類金属化合物を含有 するアルカリ溶液中で電解酸化させる方法があげられる。 電解酸化の条件などに より、 タンタル金属および Zまたはニオブ金属もしくはそれらの合金の表面にタ ンタル金属および Zまたはニオブ金属もしくはそれらの合金上に酸化合物を任意 の膜厚に形成することが可能で、 その結果、 作製した誘電体層はタンタル酸化合 物および Zまたはニオブ酸化合物の十分に薄い単層構造とすることができる。 第一の発明の電極材料の製造において、 表面に形成された酸化物を有するタン タル金属および Zまたはニオブ金属もしくはそれらの合金を、 アル力リ金属化合 物および Zまたはアル力リ土類金属化合物を含有するアル力リ溶液で反応させる と、 反応の条件により、 タンタル金属および /またはニオブ金属もしくはそれら の合金の表面にタンタル金属および またはニオブ金属もしくはそれらの合金の 酸化物をすベて酸化合物に置換したり、 酸化物の一部を未反応のまま任意に残さ せたりすることが可能で、 その結果、 作製した誘電体層はタンタル金属およびノ またはニオブ金属もしくはそれらの合金の十分に薄い酸化物層とタンタル酸化合 物および /またはニオブ酸化合物の層との 2層構造とすることができる。
誘電体層の膜厚は、 酸化合物のみからなるものはその厚さ、 また、 酸化物と酸 化合物とからなるものは両者を合わせた厚さであるが、 この誘電体層の膜厚が大 きいと高耐電圧のコンデンサ、 膜厚が小さいと高容量のコンデンサを得ることが できる。 このため作製するコンデンサの目的に合わせて膜厚を予備実験によりコ ントロールしておく とよい。 例えば、 2 0 [ V ] で化成した場合、 酸化合物誘電 体全体の膜厚はより大きな容量を得るのに十分に薄い 5 0 0〜 1 , 0 0 0 Aとす ることができる。
また、 誘電体層が 2層構造の場合 2層が直列に配置されているため、 例えば酸 化物層が極端に薄い場合は全体としての誘電率は酸化物層の誘電率で決まるが、 酸化物層の厚みが薄いため作製したコンデンサの容量は大きなものとなる。 それ 以外の場合は、 酸化合物の方が全体の誘電率を決定する支配要因となり、 作製し たコンデンサの容量は大きなものとなる。 例えば、 2 0 [ V] で化成した場合、 誘電体全体の膜厚は 5 0 0〜 1 0 0 0 A、 そのうち 2層構造の酸化物の膜厚は、 より大きな容量を得るのに十分に薄い 5〜 1 0 O Aとすることができる。
それぞれの誘電体層の組成および厚みは、 誘電体層を形成する時の反応温度、 反応時間、 反応溶液の p H、 電解時の印加電圧、 印加電流密度によって変化する のであらかじめ予備実験により条件を決定し、 目的に応じて使い分ければよい。 本発明のコンデンサ用電極材料を作製する場合に用いられるアルカリ溶液の作 成方法、 および誘電体膜の形成方法について、 さらに説明する。 タンタル金属お よび またはニオブ金属、 それらの合金もしくはそれらの焼結体をアル力リ溶液 と反応させる場合もアル力リ溶液は同様に調製したものを用いることができる。 アル力リ金属化合物および またはアル力リ土類金属化合物を含有するアル力 リ溶液とは、 アルカリ金属元素および Zまたはアルカリ土類金属元素の少なく と も 1種を含んだ化合物の一部または全部が溶解したアルカリ性の溶液のことであ る。 溶液の p Hは 1 0〜 1 4が好ましく、 さらに反応性を高める点からより好ま しくは 1 2〜 1 4である。 p Hが低すぎると、 前述したタンタル酸化合物および ノまたはニオブ酸化合物への反応性が低下したり、 生成物の安定性が低下する。 前記化合物を溶解したのみでは p Hが低かったり、 あるいは化合物の溶解度が低 い場合には、 強アルカリ化合物を併用して p H調整して用いることができる。 了 ルカリ性溶液の溶媒は、 通常水であるがアルコールなどの極性溶媒を用いてもよ レ、。
アルカリ金属元素を含んだ化合物の例として、 周期律表 1 A族 (L i 、 N a、 K、 R b、 C s、 F r ) に属する元素の水酸化物、 酸化物、 アルコラ一ト、 弱酸 の塩などを挙げることができる。
ここで、 アルカリ土類金属元素とは周期律表の 2 A族 (B e、 M g、 C a、 S r、 B a、 R a ) 、 2 B族 (Z n、 C d、 H g ) に属する元素と定義する。 アル 力リ土類金属元素を含んだ化合物の例として、 これらの元素の水酸化物、酸化物、 アルコラート、 弱酸の塩などを挙げることができる。 アルカリ土類金属元素を含 んだ化合物として弱酸の塩を用いる場合には、 変性アルカリ、 例えば水酸化ナト リウム、 水酸化カリなどと組み合わせて用いてもよい。 また溶解度の低いアル力 リ土類金属元素を含んだ化合物を用いる場合は、 該化合物の飽和溶液を調製して これを用いてもよいし、 または該化合物の酸化物や水酸化物の粉末のけん濁液を 用いてもよい。 粉末のけん濁液を用いた場合、 該粉末が前記タンタル金属および Zまたはニオブ金属もしくはそれらの合金の表面に形成しつつある誘電体層の細 孔の目を詰まらせて細孔内部の反応を阻害しないように、 該粉末と前記金属もし くはそれらの合金との接触を避ける工夫が必要である。 例えば、 前記金属もしく はそれらの合金を液の上澄み部に浸漬し、 沈殿した該粉末が舞い上がらないよう にしながら上澄み部のみ攪拌するか、 または上澄み部に沈殿した該粉末が進入し ないように上澄み部と沈殿した該粉末の間にフィルターを入れておく ことができ る。
アル力リ金属化合物および Zまたはアル力リ土類金属化合物を含有するアル力 リ溶液中で誘電体膜を形成させる場合は、 空気中の二酸化炭素と反応して溶液中 の p Hの低下、沈殿物の生成、誘電体膜中への炭酸化合物の混入などを防ぐため、 酸素ガス、 窒素ガスアルゴンガスなどのガス雰囲気中で反応処理を行うのが好ま しい。
誘電体膜を形成させる反応温度は、 3 0〜2 5 0 °Cとすることができるが、 溶 媒の沸点を越える場合は、 加圧系で行うのが好ましい。 例えば、 反応溶媒として 水を使用して常圧で行う時は、 3 0〜9 8 °Cが好ましい。 溶解度を大きく水の蒸 発を防止する点から、 より好ましくは 6 0〜 9 5。Cで誘電体層を形成する。 アルカリ金属化合物および/またはアルカリ土類金属化合物を含有するアル力 リ溶液中で、 電解酸化により誘電体膜を形成させる方法は、 例えばタンタル金属 および Zまたはニオブ金属もしくはそれらの合金を陽極として、 電解液に腐食さ れず高導電率を有する適当な陰極との間に電解液を介在せしめて、 定電圧法、 定 電流法、 パルス法もしくはこれらの方法を併用した方法で通電する方法が挙げら れる。
また、 アル力リ金属化合物および/またはアル力リ土類金属化合物を含有する アルカリ溶液中で電解酸化により、 誘電体膜を形成させる方法では、 消費される アル力リ金属化合物およびノまたはアル力リ土類金属化合物は、 電解酸化により 消費される量だけであり、 反応用原料液全体が反応してしまうことがない。 その 都度原料溶液を入れ替えることなく、 すなわち、 バッチ処理にする必要がなく、 連続的に誘電体を形成させることができる。
上述した方法で得たコンデンサ用電極材料を、 表面に誘電体層が形成された一 方の電極とし、 他方の電極と組み合わせることによってコンデンサを作製するこ とができる。
本発明において、 コンデンサの他方の電極は格別限定されるものではなく、 例 えば、 アルミ電解コンデンサ業界で公知である電解液、 有機半導体および無機半 導体から選ばれた少なく とも一種の化合物が挙げられる。 電解液の具体例として はィソブチルトリプロピルアンモニゥムボロテトラフルォライ ド電解質を 5重 量0 /。溶解したジメチルホルムアミ ドとエチレングリコールの混合溶液、 テトラエ チルアンモニゥムボロテトラフルォライ ドを 7重量0 /0溶解したプロピレンカーボ ネ一トとエチレンダリコールの混合溶液等が挙げられる。 有機半導体の具体例としては、 ベンゾピロリン四量体とク口ラニルからなる有 機半導体、 テトラチォテトラセンを主成分とする有機半導体、 テトラシァノキノ ジメタンを主成分とする有機半導体、 下記一般式 ( 1) または (2) で表される 高分子にドーパントをドープした電導性高分子を主成分とした有機半導体が挙げ られる。 無機半導体の具体例としては二酸化鉛または二酸化マンガンを主成分と する無機半導体、 四三酸化鉄からなる無機半導体などが挙げられる。 このような 半導体は単独でも、 または二種以上組み合わせて使用しても良い。
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式 ( 1 ) および (2) において、 尺1〜114は水素、 炭素数 1〜6のアルキル基 または炭素数 1〜6のアルコキシ基を表し、 これらは互いに同一であっても相違 してもよく、 Xは酸素、 ィォゥまたは窒素原子を表し、 R5は Xが窒素原子のと きのみ存在して水素または炭素数 1〜 6のアルキル基を表し、 R1と R2および R 3と R4は互いに結合して環を形成していてもよい。 式 (1 ) または (2) で表さ れる高分子としては、 例えば、 ポリア二リン、 ポリオキシフヱ二レン、 ポリフエ 二レンサノレフアイ ド、 ポリチオフユン、 ポリフラン、 ポリ ピロ一ノレ、 ポリメチノレ ピロール、 およびこれらの高分子の誘導体などが挙げられる。
上記有機半導体および無機半導体として、 電導度 1 0—2〜 1 03 [S · c m"1] の範囲のものを使用すると、 作製したコンデンサのインピーダンス値がより小さ くなり、 高周波での容量をさらに一層大きくすることができる。
さらに他方の電極が固体の場合には、例えば他方の電極上にカーボンペース ト、 銀ペース トを順次積層し、 エポキシ樹脂のような材料で封口してコンデンサが構 成される。 このコンデンサは、 コンデンサ用電極材料と一体に成型された、 また は前後で溶接されたニオブまたはタンタルリードを有していてもよい。 また他方 の電極が液体の場合には、 前記両極から構成されたコンデンサを、 例えば、 他方 の電極と電気的に接続した缶に収納してコンデンサが形成される。 この場合、 コ ンデンサ用電極材料の電極側は、 前記したニオブまたはタンタルリードを介して 外部に導出されると同時に、 絶縁性ゴムなどにより、 缶との絶縁がはかられるよ うに設計されている。
以下、 本発明の具体例についてさらに詳細に説明する。
具体例において、 %は重量基準である。
なお、 具体例で作成したコンデンサ用電極材料は、 室温で 3◦%硫酸中に浸漬し た状態で、 1 20 H zで測定した容量の値で評価した。 また作製したコンデンサ の漏れ電流値は室温で電圧 4 [V] 印加し続けて 1分間経過後の値であり、 容量 は室温 1 20 H zでの値である。 また、 誘電体層中に存在する元素の種類はォー ジェ分析により求めた。
実施例 1
タンタル箔 (厚さ 0. 1 2 mm, 大きさ l OmmX l Omm) をフッ硝酸 (フ ッ酸と硝酸の混合物) で充分に洗浄した後、 イオン交換水で繰り返し洗浄した。 この箔を陽極として、 0. 1 %りん酸水溶液中に浸し白金を陰極として用いて、 80°Cで電圧 1 0 [V] を 30分間印加し電解化成した。 電解化成終了後、 沸騰 させることにより二酸化炭素を除去したイオン交換水を用いて充分に洗浄した。 一方、 別途用意したテフロン製容器中で水酸化ス トロンチウムと水酸化バリゥム の高純度結晶を二酸化炭素を完全に除去したイオン交換水 1 00m l に溶かし、 各々 40 0 mm o 1 / 2 5. 5 m ο 1 / 1 になるように調製した後、 各溶液 をアルゴンバブリングさせながら 9 0°Cに保った。 前記した電解化成済みのタン タル箔をこのアルゴンパブリングさせている溶液に浸漬し 4時間反応させた後、 二酸化酸素を除去したィオン交換水で洗浄してコンデンサ用電極材料を得た。 作 製した電極材料の表面に形成されたタンタル酸化合物中に存在する金属元素の種 類が、 ス トロンチウム、 バリ ウム、 タンタルであることを確認した。 この電極材 料の容量値を表 2に示した。
実施例 2
実施例 1でタンタル箔の代わりにニオブ板 (厚さ 0. 2 mm、 大きさ 1 0 mm X 1 O mm) を使用し、 水酸化ス ト口ンチウムの代わりに水酸化ナトリ ウム 2 m o 1 / 1 を使用し、 水酸化バリゥムの濃度を 0. 1 m o 1 Z 1 にし、 溶液温度を 8 5 °Cにして 1時間反応させた以外は、 実施例 1 と同様にしてコンデンサ用電極 材料を得た。 ニォブ板上に形成されたニオブ酸化合物中に存在する金属元素はバ リウム、 ナトリウム、 ニオブであることを確認した。 また、 この電極材料はニォ ブ板上にニオブの酸化物からなる層がおおよそ 8 0 A、 ニオブ酸化合物層がおお よそ 3 5 O Aであることを、 厚さ方向の S I MS (二次イオン質量分析) 分析プ 口ファイルにより確認した。 この電極材料の容量値を表 2に示した。
実施例 3
ニオブ 8 6重量%ジルコニウム 1 4重量%の組成の合金を水素化した後粉砕し て合金粉末 (平均粒径 5. 2 μ τα) を得た。 この粉末 0. 0 3 gを、 0. 2 mm φのニオブ棒とともに大きさ 2 mm X 3 mmX 1. 2 mmに成型し、 さらに 1 0 —5T o r rで 1 0 0 0 °C 2 0分真空焼結し焼結体を得た。
—方、 別途用意したテフロン製容器に入れたイオン交換水を沸縢させて二酸化 炭素を除去した後、 温度を 8 5°Cに保った。 この容器中のイオン交換水に炭酸バ リゥムを強熱して得た高純度の酸化バリゥムを溶解し 0. 4 m o 1 / 1の溶液を 調製した。 引き続きこの溶液をアルゴン雰囲気下に放置し前記焼結体を陽極、 白 金を陰極として、 電圧 2 0 [V] を 1 0 0分間印加して電解酸化を行った。 その 後、 二酸化炭素を除去したイオン交換水で充分に洗浄しコンデンサ用電極材料を 得た。 この電極材料の焼結体表面に形成されているニオブ酸化合物中に存在する 金属元素の種類が、 バリウム、 ジルコニウム、 ニオブであることを確認した。 こ の電極材料の容量値を表 2に示した。
実施例 4〜 6
実施例 3において、 合金の種類と組成、 アルカリ溶液を与える化合物の種類と 濃度および電解条件を表 1に示したように変えた以外は実施例 3と同様にして、 コンデンサ用電極材料を得た。 実施例 4では、 この電極材料の焼結体表面に形成 されているニオブ酸化合物中に存在する金属元素の種類が、 ス トロンチウム、 ビ スマス、 ニオブであるを確認した。 実施例 5では、 この電極材料の焼結体表面に 形成されているニオブ酸化合物中に存在する金属元素の種類がナトリウム、 バリ ゥム、 イッ トリ ウム、 ニオブであることを確認した。 実施例 6では、 この電極材 料の焼結体表面に形成されているニォブ酸化合物中に存在する金属元素の種類が バリ ウム、 スズ、 ニオブであることを確認した。 これらの電極材料の容量値を表 2に示した。
Figure imgf000018_0001
比較例 1
実施例 2で表面にニオブ酸化合物を形成しなかった以外、 すなわち水酸化ナト リゥムおよび水酸化バリ ゥム溶液中での反応処理を実施しなかった以外は、 実施 例 2と同様にしてコンデンサ用電極材料を作製した。 この電極材料の容量値を表 2に示した。
比較例 2
実施例 3において、 アルカリ溶液中で電解する代わりに 0 . 1 %りん酸水溶液 中で電解酸化処理を実施した以外は実施例 3と同様にしてコンデンサ用電極材料 を作製した。 この電極材料の容量値を表 2に示した。 表 2
Figure imgf000019_0001
実施例 7〜: 1 0
実施例 3と同様にして作製したコンデンサ用電極材料を 4 0個用意した。 この 時、 調製した酸化バリ ゥムの溶液を入れ換えることなく 4 0個の電極材料に酸化 合物を連続的に形成した。 その後、 他方の電極を表 3に示した方法で形成した。 さらにその上に力一ボン層銀ペース ト層を順次積層し次にリ一ドフレームに載せ た後、 リ一ドの一部を除いて全体をエポキシ樹脂で封口してチップ状コンデンサ を各 1 0個作製した。 評価結果を表 4に示した。 表 3
他方の電極 電極形成方法
実施例 7 二酸化鉛と硫酸鉛の混合物 酢酸鉛溶液での酸化反応の
繰り返し
実施例 8 二酸化マンガン 硫酸マンガンの熱分解反応
の繰り返し
実施例 9 テトラチ才テトラセンの 左記化合物溶液中への浸漬
クロラニル錯体 乾燥の繰り返し 実施例 1 0 ポリピロ一ルの芳香族 ピ口ール液での酸化反応の
スルフォン酸ドープ 繰り返し 比較例 3
比較例 2と同様な方法で作製したコンデンサ用電極材料を 1 0個用意した後、 実施例 7と同様にしてチップ状コンデンサを作製した。評価結果を表 4に示した c 表 4
Figure imgf000020_0001
表中の数値は、 各実施例及び比較例に関し試料数 n = 1 0の平均値である。
表 2に示した実施例 1および実施例 2と比較例 1、 実施例 3と比較例 2を比べ ると、 本発明のコンデンサ用電極材料は容量が大きく取れる材料であることが分 かる。 また、 表 4に示した実施例 7〜 1 0と比較例 3を比べると該コンデンサ用 電極材料を使用してコンデンサを作製すると、 漏れ電流値が幾分悪化するが容量 が 3〜 6倍に拡大することが分かる。 産業の利用可能性
本発明のコンデンサ用電極材料をコンデンサに利用すると、 コンデンサの漏れ 電流値をそれほど悪化させずに、 単位重量あたりの容量が大きなコンデンサを製 造することができる。 また、 アルカリ溶液中で電解酸化により誘電体膜を形成さ せた電極材料を使用することにより、 その都度原料溶液を入れ替えることなく連 続的に誘電体を形成させることができ、 バッチ処理にする必要が無く効率良く生 産できる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 · タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル ' ニオブ複合金属の中から選ば れた少なく とも一種の金属の表面に誘電体層が形成されてなるコンデンサ用電極 材料において、 該誘電体層は、 上記少なくも一種の金属の酸化物からなる表面層 を有する該金属にアル力リ溶液を反応させて、 表面層を構成する該酸化物の少な く とも一部をタンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 . ニォ ブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物に変換したも のであるコンデンサ用電極材料。
2 . アル力リ溶液がアル力リ金属およびアル力リ土類金属からなる群より選ば れた少なく とも 1種の元素を含む溶液である請求項 1に記載のコンデンサ用電極 材料。
3 . 上記少なくも一種の金属の酸化物からなる表面層を有する該金属は、 それ ぞれ、 タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル 'ニオブ複合金属の中から選ば れた少なくも一種の金属を陽極として電解酸化により形成されたものである請求 項 1記載のコンデンサ用電極材料。
4 . 誘電体層が、タンタル酸化合物、ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 · ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも一種の金属酸化合物からなる 請求項 1記載のコンデンサ用電極材料。
5 . 誘電体層が、 タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル 'ニオブ複合金属 の中から選ばれた少なく とも一種の金属と、 タンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物 およびタンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれた少なく とも一 種の金属酸化合物とからなる請求項 1記載のコンデンサ用電極材料。
6 . タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル ·ニオブ複合金属が、 それぞれ の金属の単体、 またはそれぞれぞの金属と、 周期律表中の 3 Α族、 4 A族、 3 B 族、 4 B族、 5 B族の元素からなる群より選ばれた少なく とも一種の元素との合 金である請求項 1に記載のコンデンサ用電極材料。
7 . 金属の単体および合金が焼結体である請求項 6に記載のコンデンサ用電極 材料。
8 . タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル 'ニオブ複合金属の中から選ば れた少なく とも一種の金属の表面に誘電体層が形成されてなるコンデンサ用電極 材料において、 該誘電体層は、 上記少なくも一種の金属を陽極として、 アルカリ 溶液中で電解酸化することによって該金属の表面に形成されたタンタル酸化合物、 ニオブ酸化合物およびタンタル酸化合物 ·ニオブ酸化合物複合体の中から選ばれ た少なく とも一種の金属酸化合物からなるコンデンサ用電極材料。
9 . アル力リ溶液がアル力リ金属およびアル力リ土類金属からなる群より選ば れた少なく とも 1種の元素を含む溶液である請求項 8に記載のコンデンサ用電極 材料。
1 0 . タンタル金属、 ニオブ金属およびタンタル 'ニオブ複合金属が、 それぞ れの金属の単体、 またはそれぞれぞの金属と、 周期律表中の 3 A族、 4 A族、 3
B族、 4 B族、 5 B族の元素からなる群より選ばれた少なく とも一種の元素との 合金である請求項 8に記載のコンデンサ用電極材料。
1 1 . 金属の単体および合金が焼結体である請求項 1 0に記載のコンデンサ用 電極材料。
1 2 . 請求項 1に記載の電極材料からなる電極と、 該電極上の誘電体層上に形 成された他方の電極とで構成されたコンデンサ。
1 3 . 請求項 8に記載の電極材料からなる電極と、 該電極上の誘電体層上に形 成された他方の電極とで構成されたコンデンサ。
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