WO2000073805A1 - Contact conducteur - Google Patents

Contact conducteur Download PDF

Info

Publication number
WO2000073805A1
WO2000073805A1 PCT/JP2000/003414 JP0003414W WO0073805A1 WO 2000073805 A1 WO2000073805 A1 WO 2000073805A1 JP 0003414 W JP0003414 W JP 0003414W WO 0073805 A1 WO0073805 A1 WO 0073805A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
hole
transmission line
needle
signal transmission
diameter
Prior art date
Application number
PCT/JP2000/003414
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Shigeki Ishikawa
Yoshio Yamada
Original Assignee
Nhk Spring Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nhk Spring Co., Ltd. filed Critical Nhk Spring Co., Ltd.
Priority to US09/979,669 priority Critical patent/US6655983B1/en
Priority to AU47819/00A priority patent/AU4781900A/en
Publication of WO2000073805A1 publication Critical patent/WO2000073805A1/ja

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Definitions

  • the present invention relates to a conductive contact having a signal transmission line for transmitting an electric signal taken out by bringing a protruding end of a needle-shaped body into contact with a contacted body to an external circuit.
  • conductive contacts used for contact probes for conducting electrical inspections of conductor patterns on printed wiring boards, electronic elements, etc. include conductive needles and the needles that can be freely extended and retracted in the axial direction. And a holder for supporting the needle-like body. The projecting end of the needle-like body is elastically urged by a coil spring in such a direction as to protrude from the front end (the end in the negative axial direction) of the holder. In some cases, the object to be inspected is resiliently contacted.
  • Fine pitching is in progress. When conducting an electrical test on them, it is necessary to contact each conductive contact arranged corresponding to each electrode (land 'TAB lead') as a contacted object arranged at a fine pitch There is.
  • a narrow pitch between the conductive contacts for example, a pitch of 0.2 to 0.15 mm has been required.
  • FIG. 7 A conventional lead wire mounting structure for a conductive contact is shown in FIG. 7, for example.
  • the enlarged diameter body 21a of the conductive needle-shaped body 21 and the compression coil spring 22 that elastically urges the needle 21b in the protruding direction (downward in the figure). It is coaxially received in a through hole 23 a provided in the intermediate layer member 23.
  • the upper and lower layer members 24 and 25 are laminated so as to sandwich the intermediate layer member 23, and the lower layer member 25 has a small-diameter hole 2 through which only the needle portion 21b of the needle-like body 21 can pass.
  • a small-diameter hole 24a through which only the lead wire 27 connected through 6 can pass is provided to prevent the coil spring 22 from coming off.
  • needle-shaped bodies 2 1 ⁇ 28 are respectively connected to both coil ends of the coil spring 22, and the needles 2 1 b of each needle-shaped body 2 1 ⁇ 28 are connected.
  • Each body 21 a is projected so that 28 b projects in opposite directions.
  • ⁇ 28 a is elastically urged to come into contact with the object to be contacted.
  • the needle portion 28b of the other needle-like body 28 protrudes upward through the small-diameter hole 24a of the upper layer member 24, and is connected to the wiring plate 29 further laminated on the upper surface of the upper layer member 24.
  • a resilient contact is made so as to be inserted into the embedded pipe-shaped connector 26.
  • each of the above connectors when a covered wire is used for the lead wire 27, it is formed into a pipe having a hole 26a into which the core wire 27a can be inserted. Is formed.
  • the purpose of using the pipe-shaped connector 26 is to facilitate the connection work with the lead wire 27, but the outer diameter of the pipe-shaped connector 26 must be adjusted to correspond to the above-mentioned pitch of 0.15 mm or less. If is set to 0.11 mm or less, the wall thickness is required to be 0.04 mm, and the inner diameter of the pipe hole is about 0.07 mm. Therefore, the diameter of the core wire 27a inserted into the hole 26a is about 0.07 mm.
  • the resistance of a wire having a diameter of about 0.07 mm as described above is 2 ⁇ or more at a length of 30 O mm, so that electrical It is not suitable as a wiring material for an inspection probe.
  • the use of special low-resistance wires raises the cost of parts. Disclosure of the invention
  • the present invention relates to a conductive needle. And a holder for supporting the needle-like body so that the needle-like body can be protruded and retracted in the axial direction, and for transmitting an electric signal taken out by bringing a protruding end of the needle-like body into contact with a contacted body to an external circuit.
  • a signal transmission line wherein the signal transmission line is a single wire, one end of the signal transmission line is received in the holder, and a part of the one end is flat.
  • the end of the holder is opened to a size that allows the signal transmission line to pass through but prevents the flattened portion from falling off.
  • the signal transmission line can be prevented from coming off at the end of the holder only by forming the flat-shaped formation portion at one end of the signal transmission line made of a single wire, and there is no need to use a pipe-shaped connector, and fine pitch
  • the signal transmission line to be inserted into the hole of the pipe-shaped connector, which has been reduced in diameter does not need to be made thinner than necessary. And fine pitching becomes possible.
  • an end of the holder has a large-diameter hole for receiving the flat portion, and a small-diameter hole large enough to allow the signal transmission line to pass therethrough but to prevent the flat portion from coming off.
  • the through-hole is preferably formed by a member provided with a through hole having a continuous portion, and the flat formed portion is received by the perforated member and is prevented from coming off. Processing and assembling of the end portion of the retaining holder can be easily performed.
  • an end portion of the holder is provided with a first laminated body provided with a large-diameter through hole for receiving the flat portion, and a portion where the signal transmission line passes but the flat portion is formed. And a second laminated body provided with a small-diameter through-hole having a size to prevent the hole from coming off. Is formed on each of the separate laminates, so that each hole can be easily formed.
  • FIG. 1 is a fragmentary sectional side view showing a conductive contact in a probe unit to which the present invention is applied
  • FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main part showing an end shape of a lead wire
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of a main part showing a second example of a wiring plate
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of a main part cut away corresponding to FIG.
  • FIG. 5 is a cross-sectional side view of a main part showing a conductive contact using a pipe body
  • FIG. 6 is a cross-sectional side view of a main part showing a conductive contact using another pipe body.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view of an essential part showing an example of a conventional conductive contact
  • FIG. 8 is a sectional view of an essential part showing another example of a conventional conductive contact
  • FIG. 9 is a cross-sectional view
  • FIG. 9 is an enlarged perspective view of a main part showing a lead wire connector used in a conventional conductive contact.
  • FIG. 1 is a fragmentary sectional side view showing a conductive contact 1 in a probe unit to which the present invention is applied.
  • the probe unit to which the present invention is applied is suitable for a probe unit in which a plurality of conductive contacts 1 are vertically and horizontally arranged at a predetermined pitch.
  • a lower layer member 2, an intermediate layer member 3, and an upper layer member 4 are laminated in this order, and the intermediate layer member 3 is provided with a through hole 3a in its thickness direction.
  • a conductive compression coil spring 5 and a pair of conductive needles 6 67 coupled to both coil ends are coaxially and reciprocally received in the axial direction. Have been.
  • the conductive needle-shaped body 6 ⁇ 7 is formed by connecting the enlarged-diameter body 6a ⁇ 7a formed into a diameter that can be moved while being guided into the through hole 3a, and the coil end of the compression coil spring 5.
  • the lower layer member 2 is provided with a needle through hole 2a whose diameter is increased from the needle portion 6c as an inspection needle of one conductive needle 6 and is reduced in diameter from the body portion 6a.
  • the needle portion 6c projects outward from the lower layer member 2 through the needle insertion hole 2a.
  • the upper layer member 4 is also provided with a needle hole 4a large enough to allow the needle 7c of the other conductive needle 7 to be inserted therethrough but to prevent the body 7a from slipping off. Needle part 7c protrudes into needle hole 4a.
  • Each of the three members 2-3-3 has a hole 2a-3a-4a to form the main part of the holder.
  • a wiring plate 8 as an end of the holder is laminated on the upper surface of the upper layer member 4 to form a holder.
  • the wiring plate 8 is provided with a holding hole 8a as a large-diameter hole at a predetermined depth in a portion facing the needle hole 4a.
  • a substantially circular flat portion 9a formed at the end of a single lead wire 9 such as an enamel wire is received as a signal transmission line in the holding hole 8a.
  • the flat portion 9a may be formed by plastically deforming the end of the lead wire 9 in a direction perpendicular to the axis by press working.
  • the outer diameter (outer diameter of the enamel wire) d of the lead wire 9 is formed in a substantially circular shape which is larger in diameter (d + h) than d.
  • the lead wire 9 extends outward through a lead wire through hole 8b as a small-diameter hole portion provided in the wiring plate 8 so as to be continuous with and penetrate the holding hole 8a. It is connected to an external circuit 10 which may be a measuring instrument or the like.
  • the lead wire through hole 8b is formed to have a size to prevent the flat portion 9a from coming off, and to be opened with a diameter that allows the lead wire 9 to pass through. Therefore, the flat portion 9a received in the holding hole 8a is prevented from falling off in the extending direction of the lead wire 9 by the stepped portion of the holding hole 8a and the lead wire through hole 8b. Is done.
  • the needle portion 7c of the needle body 7 resiliently contacts the end surface 9b.
  • the protruding end of the needle portion 6c of the lower needle body 6 as the inspection needle resiliently contacts the electrode 11a as the contacted body.
  • the electric signal taken out by the needle 6 passes from the upper needle 7 via the conductive coil spring 5 to the end face 9b of the lead wire 9 as one end of the signal transmission line, and the lead 9 Transmitted to the external circuit 10 via the
  • a conductor having a diameter of 0.08 mm or more can be used without using a conductor having a diameter of 0.07 mm or less so that the conductor resistance becomes 2 ⁇ or more.
  • the width (d + h) of the flat portion 9a becomes about 0.10 to 0.11 mm. Even if the pitch becomes about 0.15 mm, the holding hole 8a can be formed without interference between the adjacent conductive contacts.
  • the relationship between the flat portion 9a and the holding hole 8a is preferably as close as possible without displacing the flat portion 9a, but may be fixed with an adhesive. Also, even if the flat portion 9a moves slightly within 8a due to processing error, the needle-like body 7 is resiliently urged and the contact state is secured, so there is no problem. There is no.
  • the holding hole 8a and the lead wire through hole 8b are formed in one wiring plate 8 in the shape of a stepped hole, but as shown in FIG. 4, the two plates 1 2 and 1 3 as the first laminate and the second laminate are laminated, and the lower plate 12 has a large-diameter through hole 1 2 a corresponding to the holding hole 8 a.
  • a lead wire through hole 13a may be formed in the upper plate 13 as a small diameter through hole corresponding to the lead wire through hole 8b. The effect in this case is the same as the above, and the drilling for each plate only needs to be performed once, which facilitates the processing.
  • the structure of the conductive contact may be as shown in FIG.
  • the same parts as those in the above-mentioned illustrated example are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
  • the needle-shaped body 6 is connected to only one coil end of the compression coil spring 5, and the other coil end 5a is directly connected to the end face 9b of the lead wire 9. Abuts.
  • the end shape of the lead wire according to the present invention can be applied, and the effect is the same as that in the above illustrated example.
  • the shape of the coil end to be brought into contact with the end surface 9a of the lead wire 9 is not limited to the straight shape shown in the above-described example, but may be a conical wound shape having a sharpened contact end. Alternatively, the conical top may be brought into contact with the end face 9 a of the lead wire 9.
  • the present invention is also applicable to a conductive contact in which a holder is formed by a pipe body, an example of which is shown in FIGS. 5 to 6.
  • a conductive contact in which a holder is formed by a pipe body, an example of which is shown in FIGS. 5 to 6.
  • the same parts as those in the illustrated example are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
  • a pipe 14 is embedded in the intermediate layer member 3, and the compression coil spring 5 and the biconductive needles 6 67 are received in the pipe 14 so that the biconductive needle is formed.
  • both axial ends of the pipe body 14 are bent inward in the radial direction to form an inward flange portion.
  • the conductive contact thus configured can achieve the same effects as described above, and also handles the compression coil spring 5 and the conductive needles 6 ⁇ 7 before assembly to the intermediate layer member 3. Performance can be improved.
  • the flat portion 9a of the lead wire 9 is further received in the pipe body 15.
  • an inward convex part 15a is formed by drawing a corresponding part of the middle part of the pipe body 15 inward in the radial direction.
  • the flat portion 9a is bent inward in the radial direction at the receiving end to form an inward flange portion 15b, thereby preventing the flat portion 9a from falling off.
  • the same effect as that of FIG. 5 can be obtained, and it can be used alone.
  • the pipe body 15 is formed of a non-conductive material, it is possible to arrange adjacent pipes in close contact with each other, which can cope with a narrow pitch. Industrial applicability
  • the signal transmission line can be prevented from coming off by a simple process of forming a flat-shaped portion at one end of the signal transmission line formed of a single wire, and there is no need to use a pipe-shaped connector. Therefore, it is not necessary to make the signal transmission line thinner than necessary, so that an increase in the resistance of the conductor can be prevented and a fine pitch can be obtained.
  • the end of the holder can be easily processed and assembled. By separately forming the laminated body and forming the end portion of the retaining holder, each hole can be easily formed.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

明 細 書 導電性接触子 技術分野
本発明は、 針状体の突出端を被接触体に接触させることにより取り出した電気信 号を外部回路に伝送するための信号伝送線を有する導電性接触子に関する。 背景の技術
従来、 プリント配線板の導体パターンや電子素子などの電気的検査を行うための コンタク トプローブに用いられる導電性接触子には、 導電性針状体と、 その針状体 を軸線方向に出没自在に支持するホルダとを有し、 針状体の突出端をホルダの前端 (—方の軸線方向端) から突出させる向きにコイルばねにて弾発付勢しておき、 針 状体の突出端を検査対象の被接触体に弾発的に接触させるようにしたものがある。 そのような導電性針状体を用いて電気検査を行う対象として、 近年、 半導体チッ プ搭載用基板や T A Bにあっては、 処理速度の高速化やチップの小型化■薄型化に 伴って、 ファインピッチ化が進んでいる。 それらに対して電気検査を行う場合には、 ファインピッチにて配置された被接触体としての各電極 (ランド ' T A Bのリード) にそれぞれ対応して配設した各導電性接触子を接触させる必要がある。
上記したようなファインピッチ化された被接触体に対応するためには、 各導電性 接触子同士のピッチも狭くなリ、 例えば 0 . 2〜0 . 1 5 m mピッチのものが要求 されてきた。 また、 導電性接触子から外部回路に電気信号を伝送するためには信号 伝送線としてのリード線を設ける必要があるが、 上記したような 0 . 2 m m以下の ピッチでの配設状態にあっては、 リード線を各導電性接触子毎に隣り合うものとの 間で干渉することなく設けることが困難である。
導電性接触子における従来のリード線取付構造としては、 例えば第 7図に示され るものがある。 図に示されるように、 導電性針状体 2 1の拡径胴部 2 1 aと、 針部 2 1 bを突出方向(図の下方)に弾発付勢する圧縮コイルばね 2 2とを、 中間層部材 2 3に設けた貫通孔 2 3 a内に同軸的に受容している。 そして、 中間層部材 2 3を 挟持するように上下の各層部材 2 4 ■ 2 5を積層し、 下層部材 2 5には針状体 2 1 の針部 2 1 bのみを揷通し得る小径孔 2 5 aを設けて胴部 2 1 aを衝当させて針状 体 2 1を抜け止めすると共に、 上層部材 2 4には、 貫通孔 2 3 a内で針状体 2 1に パイプ状コネクタ 2 6を介して接続されたリ一ド線 2 7のみを揷通し得る小径孔 2 4 aを設けてコイルばね 2 2を抜け止めしている。
また、 第 8図に示されるように、 コイルばね 2 2の両コイル端部にそれぞれ針状 体 2 1 ■ 2 8を結合して、 各針状体 2 1 ■ 2 8の針部 2 1 b ■ 2 8 bを互いに相反 する向きに突出させるように各胴部 2 1 a ■ 2 8 aを弾発付勢し、 被接触体に接触 させる一方の針状体 2 1とは相反する側である他方の針状体 2 8の針部 2 8 bを、 上層部材 2 4の小径孔 2 4 aを介して上方に突出させ、 上層部材 2 4の上面にさら に積層した配線プレート 2 9に埋め込まれたパイプ状コネクタ 2 6に差し込むよう に弾発的に接触させるようにしたものがある。
しかしながら上記各コネクタにあっては、 第 9図に示されるように、 リード線 2 7に被覆線を用いた場合に、 その芯線 2 7 aを差し込み可能な孔 2 6 aを有するパ イブ状に形成されている。 パイプ状コネクタ 2 6を用いるのは、 リード線 2 7との 接続作業を容易にするためであるが、 上記した 0 . 1 5 m m以下のピッチに対応さ せるべくパイプ状コネクタ 2 6の外径を 0 . 1 1 m m以下にすると、 その肉厚が 0 . 0 4 m m必要になり、 そのパイプ孔の内径は 0 . 0 7 mm程度になる。 したがって、 その孔 2 6 aに差し込む芯線 2 7 aの径は 0 . 0 7 m m程度になる。
しかしながら、 リード線 2 7に適しかつ入手し易い導線にあっては、 上記したよ うな 0 . 0 7 m m程度の径のものにおける抵抗は長さ 3 0 O m mで 2 Ω以上になる ため、 電気検査プローブ用配線材としては不向きである。 一方、 特殊な低抵抗線材 を使用すると部品コストが高騰化するという問題がある。 発明の開示
このような課題を解決して、 リード線の径を極端に細径化することなく、 フアイ ンピッチ化に対応可能な導電性接触子を実現するために、 本発明に於いては、 導電 性針状体と、 前記針状体を軸線方向に出没自在に支持するホルダと、 前記針状体の 突出端を被接触体に接触させることにより取リ出した電気信号を外部回路に伝送す るための信号伝送線とを有する導電性接触子であって、 前記信号伝送線が単線から なリ、 前記信号伝送線の一端部が前記ホルダ内に受容されかつ当該一端部の一部が 扁平状に形成されていると共に、 前記ホルダの端部が、 前記信号伝送線を通すが前 記扁平状に形成された部分を抜け止めする大きさに開口しているものとした。
これによれば、 単線からなる信号伝送線の一端部に扁平状形成部を形成するのみ で信号伝送線をホルダ端部に抜け止めすることができ、 パイプ状コネクタを用いる 必要が無く、 ファインピツチ化に対応するべく細径化したパイプ状コネクタの孔内 に揷入させるベく信号伝送線を必要以上に細くしなくて良いため、 信号伝送線の細 径化による導線抵抗の増大を防止することができると共に、 ファインピッチ化が可 能になる。
特に、前記ホルダの端部が、前記扁平状に形成された部分を受容する大径孔部と、 前記信号伝送線を通すが前記扁平状に形成された部分を抜け止めする大きさの小径 孔部とを連続して有する貫通孔を設けられた部材により形成されていると良く、 こ れによれば、 孔明け加工した部材により扁平状形成部を受容しかつ抜け止めするこ とから、 抜け止め用ホルダ端部の加工や組付けを容易に行うことができる。
または、 前記ホルダの端部が、 前記扁平状に形成された部分を受容する大径貫通 孔を設けられた第 1積層体と、 前記信号伝送線を通すが前記扁平状に形成された部 分を抜け止めする大きさの小径貫通孔を設けられた第 2積層体とを積層して形成さ れていると良く、 これによれば、 扁平状形成部を受容する孔と抜け止めする孔とを それぞれ別体の各積層体に形成することから、各孔加工を容易に行うことができる。 図面の簡単な説明
第 1図は、 本発明が適用されたプローブュニッ卜における導電性接触子を示す要 部破断側断面図であり、 第 2図は、 リード線の端部形状を示す要部拡大斜視図であ リ、 第 3図は、 配線プレートの第 2の例を示す要部側断面図であり、 第 4図は、 片 側可動針状体を用いた第 1図に対応する要部破断側断面図であり、 第 5図は、 パイ プ体を用いた導電性接触子を示す要部破断側断面図であり、 第 6図は、 別のパイプ 体を用いた導電性接触子を示す要部破断側断面図であり、 第 7図は、 従来の導電性 接触子における一例を示す要部破断側断面図であり、 第 8図は、 従来の導電性接触 子における他の例を示す要部破断側断面図であり、 第 9図は、 従来の導電性接触子 に用いられたリ一ド線接続用コネクタを示す要部拡大斜視図である。 発明を実施するための最良の形態
以下に添付の図面に示された具体例に基づいて本発明の実施の形態について詳細 に説明する。
第 1図は、 本発明が適用されたプローブュニッ卜における導電性接触子 1を示す 要部破断側断面図である。 なお、 本発明が適用されるプローブユニットは、 複数の 導電性接触子 1が所定のピッチにて縦横に並列に配設されているものに好適である。 第 1図に示されるように、 下層部材 2と中間層部材 3と上層部材 4とがこの順に 積層され、 中間層部材 3にはその厚さ方向に貫通孔 3 aが設けられている。 その貫 通孔 3 a内には、 導電性圧縮コイルばね 5と、 その両コイル端部に結合された一対 の導電性針状体 6 ■ 7とが同軸的かつ軸線方向に往復動自在に受容されている。 導電性針状体 6 ■ 7は、 貫通孔 3 a内にガイドされつつ移動可能な程度の径に形 成された拡径胴部 6 a ■ 7 aと、 圧縮コイルばね 5のコイル端部を巻き付け可能な 径にて胴部 6 a · 7 aに突設された結合ボス部 6 b ■ 7 bと、 結合ポス部 6 b ■ 7 bとは相反する側に突出するように拡径胴部 6 a ■ 7 aに突設された針部 6 c - 7 cとからなる。 下層部材 2には、 一方の導電性針状体 6の検査針としての針部 6 c よリは拡径され胴部 6 aよりは縮径された針揷通孔 2 aが設けられておリ、 針挿通 孔 2 aを介して針部 6 cが下層部材 2から外方に突出している。
また、 上層部材 4にも、 他方の導電性針状体 7の針部 7 cを挿通し得るが胴部 7 aを抜け止めする大きさの針揷通孔 4 aが設けられており、 その針揷通孔 4 a内に 針部 7 cが突入している。 これら 3つの部材 2 - 3 ■ 4に各孔 2 a ■ 3 a ■ 4 aを 設けてホルダの主部が構成されている。
その上層部材 4の上面にはホルダの端部としての配線プレート 8が積層されてお り、 ホルダを形成している。 その配線プレー卜 8には、 上記針揷通孔 4 aに対向す る部分に大径孔部としての保持孔 8 aが所定の深さにて設けられている。 保持孔 8 a内には、 信号伝送線としてエナメル線などの単線からなるリード線 9の端部に形 成された略円形扁平部 9 aが受容されている。 この扁平部 9 aは、 第 2図に示され るように、 リード線 9の端部を軸線に直交する向きにプレス加工により塑性変形さ せて加工したものであって良く、 それにより、 図に示されるようにリード線 9の外 径 (エナメル線の外径) dよりも拡径 (d +ひ) された略円形形状に形成されてい る。
なお、 リード線 9は、 配線プレート 8に上記保持孔 8 aに連続しかつ貫通するよ うに設けられた小径孔部としてのリード線揷通孔 8 bを介して外方に延出されて、 測定器などであって良い外部回路 1 0に接続されている。 そのリード線揷通孔 8 b は、 上記扁平部 9 aを抜け止めする大きさであってリード線 9を揷通可能な程度の 径にて開口するように形成されている。 したがって、 上記保持孔 8 a内に受容され た扁平部 9 aが、 保持孔 8 aとリード線揷通孔 8 bとの段部によリ、 リード線 9の 延出方向に対して抜け止めされる。
そして、 保持孔 8 a内に扁平部 9 aを受容された状態のリード線 9の軸線方向端 面 9 bが、 保持孔 8 a内から針揷通孔 4 a内に向けて臨むように位置するようにな リ、 その端面 9 bに針状体 7の針部 7 cが弾発的に当接する。 このようにして構成された複数の導電性接触子を縦横に並列に所定ピッチにて配 設してなるプローブュニッ トを用い、 そのプローブュニッ トを検査対象としての例 えば半導体チップ搭載用基板 1 1に近接させることにより、 検査針としての下側針 状体 6の針部 6 cの突出端が、 被接触体としての電極 1 1 aに弾発的に当接する。 その針状体 6にて取り出した電気信号は、 導電性コイルばね 5を介して、 上側針状 体 7から信号伝送線の一端部としてのリード線 9の端面 9 bに達し、 リード線 9を 介して外部回路 1 0に伝送される。
このようにしてなる導電性針状体にあっては、 従来例で示したようなパイプ状コ ネクタを用いた場合にその細径のパイプ内に挿入させる細径のリード線を用いる必 要がないため、 リード線 9を必要以上に細いものにしなくて良い。 したがって、 導 線抵抗が 2 Ω以上になるような直径 0 . 0 7 m m以下の導線を用いずに、 直径 0 . 0 8 m m以上の導線を使用することができる。 例えば直径 0 . 0 8〜0 . 0 9 m m の導線の場合には、 扁平部 9 aの幅 (d +ひ) は 0 . 1 0〜0 . 1 1 m m程度にな リ、 ファインピッチ化によりピッチが 0 . 1 5 m m程度になっても、 隣り合う導電 性接触子間で干渉することなく保持孔 8 aを形成することができる。
なお、 扁平部 9 aと保持孔 8 aとの関係は、 扁平部 9 aが変位しない程度のしま リぱめが望ましいが、 接着剤で固定しても良い。 また、 加工誤差により保持 ¾ 8 a 内で扁平部 9 aが多少動いても、 針状体 7が弾発付勢されていることから、 接触状 態は確保されるため、 何ら問題が生じることがない。
また、 上記図示例では 1枚の配線プレート 8に保持孔 8 aとリ一ド線揷通孔 8 b とを段付き孔形状にて形成したが、 第 3図に示されるように、 上層部材 4に第 1積 層体及び第 2積層体としての 2枚のプレート 1 2 ■ 1 3を積層するようにし、 下側 プレート 1 2に上記保持孔 8 aに対応する大径貫通孔 1 2 aを形成し、 上側プレー ト 1 3に上記リ一ド線挿通孔 8 bに対応する小径貫通孔としてのリード線揷通孔 1 3 aを形成しても良い。 この場合の効果は、 上記と同様であると共に、 各プレート に対する孔明け加工が 1回で済むため、 加工が容易である。 また、 上記図示例では、 圧縮コイルばね 5の両コイル端部にそれぞれ針状体 6 - 7を設けた両端可動型針状体による導電性接触子の構造にしたが、 片側可動型針状 体による導電性接触子の構造であっても良く、 その一例を第 4図に示す。 なお、 前 記図示例と同様の部分については同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。 第 4図のものにあっては、 圧縮コイルばね 5の一方のコイル端部のみに上記針状 体 6が結合されており、 他方のコイル端部 5 aが直接リード線 9の端面 9 bに当接 している。 この場合であっても、 本発明に基づくリード線の端部形状を適用するこ とができ、 その効果は上記図示例と同一である。 なお、 リード線 9の端面 9 aに当 接させるコイル端部の形状にあっても、 上記図示例のストレ一ト形状に限るもので はなく、 当接端を先鋭にした円錐巻き形状にしても良く、 その円錐状の頂部をリ一 ド線 9の端面 9 aに当接させるようにしても良い。
また、 本発明はホルダをパイプ体によリ形成した導電性接触子にも適用可能であ リ、 その一例を第 5図■第 6図に示す。 なお、 前記図示例と同様の部分については 同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。
第 5図のものでは、 中間層部材 3内にパイプ体 1 4を埋め込み、 そのパイプ体 1 4内に圧縮コイルばね 5及び両導電性針状体 6 ■ 7を受容し、 両導電性針状体 6 - 7を抜け止めするべくパイプ体 1 4の軸線方向両端部を半径方向内向きに曲折して 内向フランジ部を形成している。 このようにして構成した導電性接触子にあっては、 前記と同様の効果を奏し得ると共に、 圧縮コイルばね 5及び両導電性針状体 6 ■ 7 の中間層部材 3への組み付け前の取り扱い性を向上することができる。
第 6図のものでは、 パイプ体 1 5内にさらにリード線 9の扁平部 9 aも受容する ようにしたものである。 なお、 リード線側針状体 7の位置決め及び抜け止めのため に、 パイプ体 1 5の中間部の該当部分を半径方向内向きに絞り加工した内向凸部 1 5 aを設け、 パイプ体 1 5の扁平部 9 a受容側端部を半径方向内向きに曲折して内 向フランジ部 1 5 bを形成して、 扁平部 9 aを抜け止めしている。 この場合にあつ ては、 第 5図のものと同様の効果を奏し得ると共に、 単独で使用可能である。 なお、 複数配設する場合には、 パイプ体 1 5を非導電性材により形成すれば、 隣り合うも の同士を密接させて配設することができ、 狭ピッチ化に対応し得る。 産業上の利用可能性
このように本発明によれば、 単線からなる信号伝送線の一端部に扁平状形成部を 形成するという簡単な加工により信号伝送線の抜け止めを行い得ると共に、 パイプ 状コネクタを用いる必要がないことから信号伝送線を必要以上に細くしなくて良い ため、 導線抵抗の増大を防止しかつファインピッチ化が可能になる。 特に、 大小径 の ¾明け加工を行った部材により扁平状形成部を受容しかつ抜け止めすることによ リ、 ホルダ端部の加工や組付けを容易に行うことができ、 または、 各孔毎に積層体 を別々にして抜け止め用ホルダ端部を形成することにより、 各孔加工を容易に行う ことができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 導電性針状体と、 前記針状体を軸線方向に出没自在に支持するホルダと、 前記 針状体の突出端を被接触体に接触させることにより取リ出した電気信号を外部回路 に伝送するための信号伝送線とを有する導電性接触子であつて、 前記信号伝送線が 単線からなリ、 前記信号伝送線の一端部が前記ホルダ内に受容されかつ当該一端部 の一部が扁平状に形成されていると共に、 前記ホルダの端部が、 前記信号伝送線を 通すが前記扁平状に形成された部分を抜け止めする大きさに開口していることを特 徴とする導電性接触子。
2 . 前記ホルダの端部が、 前記扁平状に形成された部分を受容する大径孔部と、 前 記信号伝送線を通すが前記扁平状に形成された部分を抜け止めする大きさの小径孔 部とを連続して有する貫通 ¾を設けられた部材によリ形成されていることを特徴と する請求の範囲第 1項記載の導電性接触子。
3 . 前記ホルダの端部が、 前記扁平状に形成された部分を受容する大径貫通孔を設 けられた第 1積層体と、 前記信号伝送線を通すが前記扁平状に形成された部分を抜 け止めする大きさの小径貫通孔を設けられた第 2積層体とを積層して形成されてい ることを特徴とする請求の範囲第 1項記載の導電性接触子。
PCT/JP2000/003414 1999-05-28 2000-05-26 Contact conducteur WO2000073805A1 (fr)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/979,669 US6655983B1 (en) 1999-05-28 2000-05-26 Electrical test probe provided with a signal transmitting wire having an enlarged portion for preventing the wire from coming out of the probe
AU47819/00A AU4781900A (en) 1999-05-28 2000-05-26 Conductive contact

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11/149383 1999-05-28
JP14938399 1999-05-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2000073805A1 true WO2000073805A1 (fr) 2000-12-07

Family

ID=15473937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2000/003414 WO2000073805A1 (fr) 1999-05-28 2000-05-26 Contact conducteur

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6655983B1 (ja)
KR (1) KR100664422B1 (ja)
CN (1) CN1231764C (ja)
AU (1) AU4781900A (ja)
TW (1) TW459135B (ja)
WO (1) WO2000073805A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004533094A (ja) * 2001-05-15 2004-10-28 株式会社荏原製作所 Tdi検出装置、フィードスルー機器、これらを利用した電子線装置、並びに、該電子線装置を用いた半導体デバイス製造法
JP2007327854A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Nidec-Read Corp 基板検査用治具及び基板検査装置
US7677901B1 (en) 2008-12-26 2010-03-16 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electric connecting apparatus for semiconductor devices and contact used therefor
JP2012057995A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Hideo Nishikawa 検査治具及び接触子
WO2016188418A1 (zh) * 2015-05-28 2016-12-01 成都宏明双新科技股份有限公司 一种密集小孔检测方法

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW589723B (en) * 2001-09-10 2004-06-01 Ebara Corp Detecting apparatus and device manufacturing method
JP2004071240A (ja) * 2002-08-02 2004-03-04 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP3768183B2 (ja) * 2002-10-28 2006-04-19 山一電機株式会社 狭ピッチicパッケージ用icソケット
JP2004325306A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Yokowo Co Ltd 検査用同軸プローブおよびそれを用いた検査ユニット
US7626408B1 (en) * 2005-02-03 2009-12-01 KK Technologies, Inc. Electrical spring probe
JP4173145B2 (ja) * 2005-02-28 2008-10-29 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン コンタクトアッセンブリおよびこれを用いた半導体パッケージ用ソケット
JP4905876B2 (ja) * 2005-10-31 2012-03-28 日本発條株式会社 導電性接触子ホルダの製造方法および導電性接触子ホルダ
US7601009B2 (en) * 2006-05-18 2009-10-13 Centipede Systems, Inc. Socket for an electronic device
US9042978B2 (en) * 2007-05-11 2015-05-26 Neurometrix, Inc. Method and apparatus for quantitative nerve localization
WO2009067592A1 (en) * 2007-11-20 2009-05-28 Neurometrix, Inc. Disposable needle electrode with identification, and alterable, connector interface
WO2009096318A1 (ja) * 2008-02-01 2009-08-06 Nhk Spring Co., Ltd. プローブユニット
CN101634683B (zh) * 2008-07-25 2012-11-21 深圳富泰宏精密工业有限公司 测试模组
TWI452305B (zh) * 2008-08-01 2014-09-11 Fih Hong Kong Ltd 電子裝置按鍵測試模組
CN102668253B (zh) * 2009-11-24 2015-10-14 日本发条株式会社 连接构件
JP2012220451A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Seiken Co Ltd 検査ユニット
US9702905B2 (en) * 2011-08-02 2017-07-11 Nhk Spring Co., Ltd. Probe unit
JP2013190270A (ja) * 2012-03-13 2013-09-26 Nidec-Read Corp プローブ及び接続治具
JP5952626B2 (ja) * 2012-04-19 2016-07-13 矢崎総業株式会社 基板コネクタ
US9379465B2 (en) * 2012-09-14 2016-06-28 Nhk Spring Co., Ltd. Connection terminal having a press-fitting part inserted into a hollow part of a holding member
US8936495B2 (en) * 2013-01-08 2015-01-20 Honeywell Federal Manufacturing & Technologies, Llc Dual contact pogo pin assembly
CN106574937B (zh) * 2014-08-08 2020-06-23 日本发条株式会社 连接端子
JP7008529B2 (ja) * 2018-02-15 2022-01-25 東京特殊電線株式会社 検査装置用リード線、リード線装着部品及び検査用治具
EP3807656A4 (en) 2018-06-14 2022-03-02 FormFactor, Inc. ELECTRICAL TEST PROBES WITH DECOUPLED ELECTRICAL AND MECHANICAL CONSTRUCTION
DE102018124028A1 (de) * 2018-09-28 2020-04-02 Lisa Dräxlmaier GmbH Sensorvorrichtung, spannungsversorgungssystem und verfahren
CN113035731A (zh) * 2019-04-17 2021-06-25 彭鸿琦 一种弹簧针测试连接器及使用方法
US11215642B2 (en) * 2020-03-04 2022-01-04 Winway Technology Co., Ltd. Electronic test device
CN113504399A (zh) * 2020-12-31 2021-10-15 宁波三星医疗电气股份有限公司 一种电表箱底座的安装结构及其电表箱的电气连接结构

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0329388A (ja) * 1989-06-26 1991-02-07 Mita Ind Co Ltd 電子部品装置
JPH06180328A (ja) * 1992-12-14 1994-06-28 Ibiden Co Ltd プリント配線板の検査治具
JPH06317624A (ja) * 1993-05-10 1994-11-15 Hitachi Ltd 電極の接続装置
JPH0972932A (ja) * 1995-09-04 1997-03-18 Hosiden Corp コンタクトプローブ及びその製造方法
JPH1019930A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4454473A (en) * 1981-07-13 1984-06-12 Magnaflux Corporation Spinning probe apparatus for inspection of bolt holes and the like
CN1257410C (zh) * 1997-07-14 2006-05-24 日本发条株式会社 导电测头

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0329388A (ja) * 1989-06-26 1991-02-07 Mita Ind Co Ltd 電子部品装置
JPH06180328A (ja) * 1992-12-14 1994-06-28 Ibiden Co Ltd プリント配線板の検査治具
JPH06317624A (ja) * 1993-05-10 1994-11-15 Hitachi Ltd 電極の接続装置
JPH0972932A (ja) * 1995-09-04 1997-03-18 Hosiden Corp コンタクトプローブ及びその製造方法
JPH1019930A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004533094A (ja) * 2001-05-15 2004-10-28 株式会社荏原製作所 Tdi検出装置、フィードスルー機器、これらを利用した電子線装置、並びに、該電子線装置を用いた半導体デバイス製造法
US7285010B2 (en) 2001-05-15 2007-10-23 Ebara Corporation TDI detecting device, a feed-through equipment and electron beam apparatus using these devices
US7521692B2 (en) 2001-05-15 2009-04-21 Ebara Corporation TDI detecting device, a feed-through equipment, an electron beam apparatus using these device and equipment, and a semiconductor device manufacturing method using the same electron beam apparatus
JP2007327854A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Nidec-Read Corp 基板検査用治具及び基板検査装置
US7677901B1 (en) 2008-12-26 2010-03-16 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electric connecting apparatus for semiconductor devices and contact used therefor
JP2012057995A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Hideo Nishikawa 検査治具及び接触子
WO2016188418A1 (zh) * 2015-05-28 2016-12-01 成都宏明双新科技股份有限公司 一种密集小孔检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100664422B1 (ko) 2007-01-04
US6655983B1 (en) 2003-12-02
CN1231764C (zh) 2005-12-14
KR20020010677A (ko) 2002-02-04
AU4781900A (en) 2000-12-18
TW459135B (en) 2001-10-11
CN1372643A (zh) 2002-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2000073805A1 (fr) Contact conducteur
US11521919B2 (en) Flex-foil package with coplanar topology for high-frequency signals
CN104880658B (zh) 用于加速度传感器的测试装置
JP2005010147A (ja) 検査機能付きモジュール及びその検査方法。
US10541479B2 (en) Interconnection including a cable assembly and a board assembly, a board assembly for an interconnection and a method for making an interconnection
JP5766573B2 (ja) Usbアプリケーションデバイスの組立て方法
TW202134662A (zh) 測試插座組裝體
JP2007234258A (ja) プリント基板ユニット
JP2006010678A (ja) コンタクトプローブ、そのコンタクトプローブに用いる測定用パッド、及びそのコンタクトプローブの作製方法
US9545002B2 (en) Multilayer circuit board
JP4933170B2 (ja) プリント回路基板アセンブリー
JP2009176893A (ja) プリント配線板
TW200811444A (en) Vertical high frequency probe card
CN109587933B (zh) 一种电路转接板以及测试装置
CN103167722A (zh) 柔性电路板及制造具有端子的柔性电路板的方法
CN202216977U (zh) 四线治具
WO2002103373A1 (fr) Contacteur conducteur et ensemble de sondes electriques
JP4767004B2 (ja) プリント配線基板の導通形成方法
CN113853059B (zh) 刚挠结合板及电路连接器
CN218677668U (zh) 一种镀金针的连接装置
KR101531767B1 (ko) 프로브 카드
CN201018144Y (zh) 同轴连接器
WO2023184729A1 (zh) 埋设线路的pcb制作方法及埋设线路的pcb
JP2010216991A (ja) プローブカード
JP2007285980A (ja) プローブ装置

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 00807899.8

Country of ref document: CN

AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY CA CH CN CR CU CZ DE DK DM DZ EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO NZ PL PT RO RU SD SE SG SI SK SL TJ TM TR TT TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE BF BJ CF CG CI CM GA GN GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2001 500874

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 09979669

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020017015291

Country of ref document: KR

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1020017015291

Country of ref document: KR

REG Reference to national code

Ref country code: DE

Ref legal event code: 8642

122 Ep: pct application non-entry in european phase
WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 1020017015291

Country of ref document: KR