CN101634683B - 测试模组 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种测试模组,其用于测试按键与电路板的连接是否完好,该测试模组包括:一驱动组件、一夹持组件及一测试头。该驱动组件用于为测试模组提供动力并控制其运动,该夹持组件用于固定该驱动组件及测试头,并定位该测试头的位置,以便测试头对准按键。该缓冲组件使其按压时与电路板的接触为柔性接触。由于该测试模组设置了缓冲组件,保护了被测试的按键。

Description

测试模组
技术领域
本发明是关于一种测试模组,尤其是关于一种用于测试按键与电路板是否连接完好的测试模组。
背景技术
随着电子技术的发展,各种电子设备广泛地应用于人们日常的生产、生活中。多数情况下,这些电子设备设置有按键,以供人们输入或操作控制。一种测试按键是否与电路板电导通的方法,其对按键的检测为用手逐一按压按键。该测试方法效率低,按压有较大的随意性,工作繁琐,易出现漏检。
一种测试按键与电路板是否连接完好的测试机,其上设有一按键测试模组,该按键测试模组用于对按键的按压。该按键测试模组包括一气动组件、一用于固持该气动组件的夹持机构及一按压块;该按压块与气动组件连接,按压块在气动组件的作用下对按键进行按压。采用该测试模组,由于其刚性较大,测试过程中容易引起按键的损坏。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种对按键与电路板是否连接完好进行测试,具有缓冲功能的测试模组。
本发明的测试模组,其包括一驱动组件、一夹持组件及一测试头。该驱动组件用于控制测试模组的运动;该夹持组件用于固定该驱动组件及测试头,并确定该测试头的位置,以便测试头对准按键。该夹持组件包括一夹持体,该夹持体具有一底座,该底座的中间部开有一设有套筒的容置腔,该测试头还设有安装于套筒的一缓冲组件,该缓冲组件包括至少两根滑柱,该两根滑柱间于套筒内构成一密闭空间,该密闭空间内装有气体;该套筒内壁上设有一限位环,该限位环通过控制滑柱的位置而控制测试头对按键按压力的大小。该缓冲组件用于使该测试模组按压时与按键的接触为柔性接触。
相较现有技术,本发明的测试模组,设置了缓冲组件,该缓冲组件的刚度较小,使测试头与按键的接触为柔性接触,保护了被测试的按键。
附图说明
图1是本发明测试模组第一实施例立体分解图;
图2是本发明测试模组图1中组装后的放大立体示意图;
图3是本发明测试模组图2中III-III向的剖视图;
图4是本发明测试模组第二实施例的剖视图。
具体实施方式
本发明较佳实施例的测试模组应用于手机按键的测试机上。
请参阅图1至图3,本发明测试模组100包括一驱动组件10、一夹持组件20及一测试头30。该夹持组件20用于固定该驱动组件10及测试头30,并定位该测试头30的位置,以便测试头30对准按键(图未示)。
该驱动组件10一端与一气缸(图未示)连接,另一端为一阶梯轴,可滑动地安装于夹持组件20上,驱动并控制测试头30的运动。
该夹持组件20包括一定位座21及一夹持体23。该定位座21大致呈ㄇ型,其包括一顶板211及二垂直连接于顶板211的一第一侧板213及一第二侧板215。该顶板211的中部设有一贯通的安装孔2111。该顶板211顶面上的四角开有四个连接孔2113,每一连接孔2113贯通于其所在的侧板。该顶板211侧面上靠近第一侧板213及第二侧板215的两端还分别开有一个装夹孔217,每一装夹孔217的轴线与安装孔2111的轴线垂直。
该夹持体23包括一底座231、一第一盖体237及一第二盖体239。该底座231大致为一长方体,其包括一第一端部232及一相对的第二端部234。该底座231的中间开有一贯通于第一端部232及第二端部234的容置腔233,该容置腔233大致为一阶梯形圆柱孔。该底座231还设有一与容置腔233配合的套筒2331,该套筒2331为一阶梯形的中空筒体,其一端设有一用于抵持于容置腔233的抵持部2332。由于加工套筒2331内壁比加工容置腔233的内壁方便,通过增加套筒2331,可有效地提高了底座231的制造性。该抵持部2332抵靠于容置腔233上。该底座231侧面上开有四个固定孔235,每一固定孔235的轴线与容置腔233的轴线垂直。该四个固定孔235用于将夹持体23固定地安装在测试机(图未示)上。该第一端部232的四角各开有一容置孔2321,每一容置孔2321为一盲孔,其内壁上开有内螺纹。该底座231的第一端部232上还开设有四个装配孔2323,每一装配孔2323为一盲孔,其内壁上开有内螺纹。该第二端部234的结构大致与第一端部232相同,其上四角也分别开设有一装配孔(图未示)。
该第一盖体237的中间开一贯通的限位孔2371,该限位孔2371大致为一圆柱孔。该第一盖体237的四个角均开有一与夹持体23上的四个装配孔2323相对应的连接孔2373。该第二盖体239的结构大致与第一盖体237相似,该第二盖体239的中心部开设有一限位孔2391,其四个角上分别开设有一贯通的连接孔2393。
该测试头30包括一缓冲组件31及一按键帽33。该缓冲组件31包括一第一滑柱311、一第二滑柱313、一第一弹性体315、一第二弹性体317。该第一滑柱311的一端向外延伸形成一连接柱3111,该连接柱3111的直径小于第一滑柱311的直径;该第二滑柱313包括一本体3131,该本体3131的一端向外延伸,依次形成一连接柱3133,该连接柱3133的直径小于本体3131的直径。该本体3131的另一端向外延伸,形成一第一延伸柱3135和第二延伸柱3137,本体3131、一第一延伸柱3135和第二延伸柱3137的直径依次减小。该第一弹性体315的两端分别套接于第一连接柱3111及第二连接柱3133。该第二弹性体317的一端依次套接抵持于第一延伸柱3135和第二延伸柱3137内,并抵持于第二滑柱313的本体3131上,另一端抵持于第二盖体239上。该被测按键上还设有一用于表示按键身份的按键标识码,该第二盖体239上还设有一用于读取按键标识码的传感器(图未示),通过该传感器读取每一按键标识码,使测试结果与每一被测试的按键一一对应。
该按键帽33为一弹性体,其中心部开有一盲孔331,其与第二延伸柱3137配合。在测试时,该按键帽33先与按键接触,由于按键帽33具有一定的弹性,可进一步减小测试头30与按键(图未示)接触的刚度,从而保护按键。
装配时,将第二盖体239上的连接孔2393与底座231上第二端部234的装配孔(图未示)的轴线对齐,并通过螺钉使二者固定连界。再将第二弹性体317、第二滑柱313、第一弹性体315及第一滑柱311分别装入容置腔233中;并使第二弹性体317的一端抵持于第二盖体239,另一端依次套入第二延伸柱3137及第一延伸柱3135且抵持于第二滑柱313的本体3131上;第一弹性体315的一端抵持于第一滑柱311上。接着,将第一盖体237上的连接孔2373的轴线与夹持体23的装配孔2323的轴线对齐,装入螺钉固定。将定位座21的连接孔2113的轴线与夹持体23上的容置孔2321的轴线对齐,并通过螺栓使二者相对固定。再通过装夹孔217及固定孔235将该装有测试头30的夹持组件20安装于测试机(图未示)上。最后,将驱动组件10穿过夹持组件20上定位座21的安装孔2111,再穿过第一盖体237的限位孔2371抵持于第一滑柱311。
测试时,驱动组件10的向下运动,推动第一滑柱311,第一滑柱311压缩第一弹性体315,第一弹性体315推动第二滑柱313上的第二延伸柱3137上的按键帽33按压按键(图未示),此时,第二滑柱313压缩第二弹性体317,该第二弹性体317向下运动,使按键(图未示)与电路板(图未示)电连接。当驱动组件10向上运动,在第二弹性体317弹力作用下第二延伸柱3137复位,推动第一弹性体315,第一滑柱311在第一弹性体315的作用下复位,完成一个测试周期。
可以理解,该测试模组100上的缓冲组件31的滑柱不限于两个,相应地,其上的弹性体不限于两个。
可以理解,该驱动组件10不限于气动控制,可为一数控马达等,用于使测试头30周期性运动。
可以理解,该夹持体23上的套筒2331可省略,直接将该缓冲组件31装设有容置腔233中。
可以理解,该驱动组件10的阶梯轴一端可设有一限位螺纹,其与一螺母配合,以限定驱动组件10运动的位置。
可以理解,该夹持组件20的定位座21可以省略,同时在第一盖体237的限位孔2371周围向外延伸一定位套筒。
请参阅图4,本发明的第二实施例的测试模组200,其与测试模组100不同之处在于缓冲方式的实现。该测试模组200包括一驱动组件201、一夹持组件203及一测试头205。该驱动组件201的控制方式为气动。该夹持组件203包括一定位座2031及一夹持体2033。该夹持体2033上开有一容置腔2034,该容置腔2034为一阶梯轴孔,其两端的孔径比中间部分的孔径大。该夹持组件203还包括一安装于容置腔2034的套筒2035及安装于夹持体2033两端面的一第一盖体2038和一第二盖体2039。该套筒2035的内壁上设有一限位环2036,该限位环2036控制测试头205对按键按压力的大小。
该测试头205包括一第一滑柱2051、一第二滑柱2053及一按键帽2054。该第一滑柱2051与驱动组件201固定连接。该第二滑柱2053的一端向外延伸形成一延伸柱2055,该延伸柱2055用于安装按键帽2054。该第一滑柱2051及第二滑柱2053安装于套筒2035,且其位置被限定于第一滑柱2051与第一盖体2038之间。该第一滑柱2051及第二滑柱2053之间构成一密闭空间,该空间内充满气体。
测试时,驱动组件201推动第一滑柱2051,该第一滑柱2051压缩密闭空间内的气体,在该气体压力的作用下带动第二滑柱2053运动。由于套筒2035内壁上限位环2036的存在,该第一滑柱2051向下运动抵持于该限位环2036时,该第一滑柱2051就不能继续向下运动,从而该密闭空间内的气压不再升高,保护了被测试的按键。
可以理解,本发明的测试模组,其缓冲方式的实现可以为第一实施例弹性件缓冲与第二实施例气动缓冲的结合。
另外,本领域技术人员还可在本发明权利要求公开的范围和精神内做其它形式和细节上的各种修改、添加和替换。当然,这些依据本发明精神所做的各种修改、添加和替换等变化,都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (6)

1.一种测试模组,其用于测试按键与电路板的连接是否完好,该测试模组包括:一驱动组件、一夹持组件及一测试头,该驱动组件为该测试模组提供动力并控制测试模组的运动,该夹持组件固定该驱动组件及测试头,并定位该测试头的位置,其特征在于:该夹持组件包括一夹持体,该夹持体具有一底座,该底座的中间部开有一设有套筒的容置腔,该测试头还设有安装于套筒的一缓冲组件,该缓冲组件包括至少两根滑柱,该两根滑柱间于套筒内构成一密闭空间,该密闭空间内装有气体;该套筒内壁上设有一限位环,该限位环通过控制滑柱的位置而控制测试头对按键按压力的大小。
2.如权利要求1所述的测试模组,其特征在于该容置腔为一阶梯孔,该套筒为一与容置孔配合的阶梯形筒体。
3.如权利要求2所述的测试模组,其特征在于:该夹持体还包括一第一盖体及一第二盖体,该第一盖体及第二盖体分别固接于底座的两端,该缓冲组件的两个滑柱的远离密封空间的端部分别抵持于第一盖体上及第二盖体上。
4.如权利要求3所述的测试模组,其特征在于:该至少两根滑柱中有一根上延伸设有一延伸柱,该测试头还包括一按键帽,该按键帽与延伸柱相配合。
5.如权利要求4所述的测试模组,其特征在于:该按键帽由弹性材料制成。
6.如权利要求5所述的测试模组,其特征在于:该测试模组还包括一用于读取按键标识码的传感器,该传感器安装在第二盖体上。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102411109A (zh) * 2010-09-21 2012-04-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试装置
CN102650680A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试装置
CN106353676A (zh) * 2016-10-13 2017-01-25 歌尔股份有限公司 可穿戴设备按键测试装置
CN109752575A (zh) * 2019-03-13 2019-05-14 深圳市艺盛科五金电子有限公司 一种可更换式结构不锈钢金属探针模组及其制备方法
CN110794295A (zh) * 2019-11-05 2020-02-14 东莞市微克检测设备有限公司 一种可调力量测试头

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW575181U (en) * 2003-06-20 2004-02-01 Chin-Chuan Lu Micro probe cylinder for both positive and negative voltages
EP1518127A2 (de) * 2002-07-01 2005-03-30 Infineon Technologies AG Testvorrichtung für bauteile integrierter schaltungen
KR100588234B1 (ko) * 2005-01-24 2006-06-09 주식회사 프로텍 리니어 가이드 모듈아이씨 테스트 핸들러
CN1841038A (zh) * 2005-04-01 2006-10-04 深圳富泰宏精密工业有限公司 按键自动测试装置及方法
CN2852137Y (zh) * 2005-11-01 2006-12-27 深圳富泰宏精密工业有限公司 测试用载具
CN101094588A (zh) * 2006-06-21 2007-12-26 深圳富泰宏精密工业有限公司 检测治具

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2565737B3 (fr) * 1984-06-12 1986-09-19 Feinmetall Gmbh Element de contact pour adaptateur de controle pour effectuer des controles electriques de pieces a controler notamment de circuits imprimes
US5189364A (en) * 1990-07-30 1993-02-23 Nhk Spring Co., Ltd. Contact probe
JP2723871B2 (ja) * 1995-12-21 1998-03-09 山形日本電気株式会社 電気接続ユニット
TW459135B (en) * 1999-05-28 2001-10-11 Nhk Spring Co Ltd Conductive contact device
US20070018666A1 (en) * 2005-07-22 2007-01-25 Nasser Barabi Spring contact pin for an IC chip tester

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1518127A2 (de) * 2002-07-01 2005-03-30 Infineon Technologies AG Testvorrichtung für bauteile integrierter schaltungen
TW575181U (en) * 2003-06-20 2004-02-01 Chin-Chuan Lu Micro probe cylinder for both positive and negative voltages
KR100588234B1 (ko) * 2005-01-24 2006-06-09 주식회사 프로텍 리니어 가이드 모듈아이씨 테스트 핸들러
CN1841038A (zh) * 2005-04-01 2006-10-04 深圳富泰宏精密工业有限公司 按键自动测试装置及方法
CN2852137Y (zh) * 2005-11-01 2006-12-27 深圳富泰宏精密工业有限公司 测试用载具
CN101094588A (zh) * 2006-06-21 2007-12-26 深圳富泰宏精密工业有限公司 检测治具

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