TWI452305B - 電子裝置按鍵測試模組 - Google Patents

Description

電子裝置按鍵測試模組

本發明是關於一種測試模組，尤其是關於一種用於測試按鍵與電路板是否連接完好之測試模組。

隨著電子技術發展，各種電子設備廣泛地應用於人們日常生產、生活中。多數情況下，該等電子設備設置有按鍵，以供人們輸入或操作控制。一種測試按鍵是否與電路板電導通之方法，其對按鍵檢測為用手逐一按壓按鍵。該測試方法效率低，按壓有較大隨意性，工作繁瑣，易出現漏檢。

有鑒於此，有必要提供一種對按鍵與電路板是否連接完好進行測試，具有緩衝功能之測試模組。

本發明之測試模組，其用於測試按鍵與電路板之連接是否完好，該測試模組包括：一驅動組件、一夾持組件及一測試頭，該驅動組件為該測試模組提供動力並控制測試模組運動，該夾持組件固定該驅動組件及測試頭，並定位該測試頭位置；該夾持組件包括一夾持體，該夾持體具有一底座，該底座中間部開有一容置腔，該測試頭還設有一緩衝組件，該緩衝組件安裝於容置腔。

相較現有技術，本發明之測試模組，設置了緩衝組件，該緩衝組 件剛度較小，使測試頭與按鍵之接觸為柔性接觸，保護了被測試之按鍵。

100‧‧‧測試模組

10‧‧‧驅動組件

20‧‧‧夾持組件

21‧‧‧定位座

211‧‧‧頂板

2111‧‧‧安裝孔

2113‧‧‧連接孔

213‧‧‧第一側板

215‧‧‧第二側板

217‧‧‧裝夾孔

23‧‧‧夾持體

231‧‧‧底座

232‧‧‧第一端部

2321‧‧‧容置孔

2323‧‧‧裝配孔

233‧‧‧容置腔

234‧‧‧第二端部

2341‧‧‧裝配孔

235‧‧‧固定孔

237‧‧‧第一蓋體

2371‧‧‧限位孔

2373‧‧‧連接孔

239‧‧‧第二蓋體

2391‧‧‧限位孔

2393‧‧‧連接孔

30‧‧‧測試頭

31‧‧‧緩衝組件

311‧‧‧第一滑柱

3111‧‧‧連接柱

313‧‧‧第二滑柱

3131‧‧‧本體

3133‧‧‧連接柱

3135‧‧‧第一延伸柱

3137‧‧‧第二延伸柱

315‧‧‧第一彈性體

317‧‧‧第二彈性體

33‧‧‧按鍵帽

331‧‧‧盲孔

200‧‧‧測試模組

201‧‧‧驅動組件

203‧‧‧夾持組件

2031‧‧‧定位座

2033‧‧‧夾持體

2034‧‧‧容置腔

2035‧‧‧套筒

2036‧‧‧限位環

2038‧‧‧第一蓋體

2039‧‧‧第二蓋體2039

205‧‧‧測試頭

2051‧‧‧第一滑柱

2053‧‧‧第二滑柱

2054‧‧‧按鍵帽

2055‧‧‧延伸柱

圖1是本發明測試模組第一實施例立體分解圖；圖2是本發明測試模組圖1中組裝後之放大立體示意圖；圖3是本發明測試模組圖2中III-III向之剖視圖；圖4是本發明測試模組第二實施例之剖視圖。

本發明較佳實施例之測試模組應用於手機按鍵之測試機上。

請參閱圖1至圖3，本發明測試模組100包括一驅動組件10、一夾持組件20及一測試頭30。該夾持組件20用於固定該驅動組件10及測試頭30，並定位該測試頭30位置，以便測試頭30對準按鍵(圖未示)。

該驅動組件10一端與一氣缸(圖未示)連接，另一端為一階梯軸，可滑動地安裝於夾持組件20上，驅動並控制測試頭30運動。

該夾持組件20包括一定位座21及一夾持體23。該定位座21大致呈ㄇ型，其包括一頂板211及二垂直連接於頂板211一第一側板213及一第二側板215。該頂板211中部設有一貫通之安裝孔2111。該頂板211頂面上四角開有四個連接孔2113，每一連接孔2113貫通於其所在之側板。該頂板211側面上靠近第一側板213及第二側板215兩端還分別開有一個裝夾孔217，每一裝夾孔217軸線與安裝孔2111軸線垂直。

該夾持體23包括一底座231、一第一蓋體237及一第二蓋體239。該底座231大致為一長方體，其包括一第一端部232及一相對第二端部234。該底座231中間開有一貫通於第一端部232及第二端部234容置腔233，該容置腔233大致為一階梯形圓柱孔。該底座231還設有一與容置腔233配合之套筒2331，該套筒2331為一階梯形之中空筒體，其一端設有一用於抵持於容置腔233抵持部2332。由於加工套筒2331內壁比加工容置腔233內壁方便，藉由增加套筒2331，可有效地提高了底座231製造性。該抵持部2332抵靠於容置腔233上。該底座231側面上開有四個固定孔235，每一固定孔235軸線與容置腔233軸線垂直。該四個固定孔235用於將夾持體23固定地安裝於測試機(圖未示)上。該第一端部232四角各開有一容置孔2321，每一容置孔2321為一盲孔，其內壁上開有內螺紋。該底座231第一端部232上還開設有四個裝配孔2323，每一裝配孔2323為一盲孔，其內壁上開有內螺紋。該第二端部234結構大致與第一端部232相同，其上四角也分別開設有一裝配孔(圖未示)。

該第一蓋體237中間開一貫通限位孔2371，該限位孔2371大致為一圓柱孔。該第一蓋體237四個角均開有一與夾持體23上四個裝配孔2323相對應之連接孔2373。該第二蓋體239結構大致與第一蓋體237相似，該第二蓋體239中心部開設有一限位孔2391，其四個角上分別開設有一貫通之連接孔2393。

該測試頭30包括一緩衝組件31及一按鍵帽33。該緩衝組件31包括一第一滑柱311、一第二滑柱313、一第一彈性體315、一第二彈性體317。該第一滑柱311一端向外延伸形成一連接柱3111，該連 接柱3111直徑小於第一滑柱311直徑；該第二滑柱313包括一本體3131，該本體3131一端向外延伸，依次形成一連接柱3133，該連接柱3133直徑小於本體3131直徑。該本體3131另一端向外延伸，形成一第一延伸柱3135和第二延伸柱3137，本體3131、一第一延伸柱3135和第二延伸柱3137直徑依次減小。該第一彈性體315兩端分別套接於第一連接柱3111及第二連接柱3133。該第二彈性體317一端依次套接抵持於第一延伸柱3135和第二延伸柱3137內，並抵持於第二滑柱313本體3131上，另一端抵持於第二蓋體239上。該被測按鍵上還設有一用於表示按鍵身份之按鍵標識碼，該第二蓋體239上還設有一用於讀取按鍵標識碼之感測器(圖未示)，藉由該感測器讀取每一按鍵標識碼，使測試結果與每一被測試之按鍵一一對應。

該按鍵帽33為一彈性體，其中心部開有一盲孔331，其與第二延伸柱3137配合。測試時，該按鍵帽33先與按鍵接觸，由於按鍵帽33具有一定彈性，可進一步減小測試頭30與按鍵(圖未示)接觸之剛度，從而保護按鍵。

裝配時，將第二蓋體239上連接孔2393與底座231上第二端部234裝配孔(圖未示)軸線對齊，並藉由螺釘使二者固定連界。再將第二彈性體317、第二滑柱313、第一彈性體315及第一滑柱311分別裝入容置腔233中；並使第二彈性體317一端抵持於第二蓋體239，另一端依次套入第二延伸柱3137及第一延伸柱3135且抵持於第二滑柱313之本體3131上；第一彈性體315一端抵持於第一滑柱311上。接著，將第一蓋體237上連接孔2373之軸線與夾持體23上裝配孔2323之軸線對齊，裝入螺釘固定。將定位座21上連接孔 2113之軸線與夾持體23上容置孔2321之軸線對齊，並藉由螺栓使二者相對固定。再通過裝夾孔217及固定孔235將該裝有測試頭30之夾持組件20安裝於測試機(圖未示)上。最後，將驅動組件10穿過夾持組件20上定位座21之安裝孔2111，再穿過第一蓋體237之限位孔2371抵持於第一滑柱311。

測試時，驅動組件10向下運動，推動第一滑柱311，第一滑柱311壓縮第一彈性體315，第一彈性體315推動第二滑柱313滑動，第二滑柱313之第二延伸柱3137上所裝設之按鍵帽33按壓按鍵(圖未示)，此時，第二滑柱313壓縮第二彈性體317，該第二彈性體317向下運動，使按鍵(圖未示)與電路板(圖未示)電連接。當驅動組件10向上運動，於第二彈性體317彈力作用下第二延伸柱3137復位，推動第一彈性體315，第一滑柱311於第一彈性體315作用下復位，完成一個測試週期。

可以理解，該測試模組100上緩衝組件31之滑柱不限於兩個，相應地，其上彈性體不限於兩個。

可以理解，該驅動組件10不限於氣動控制，可為一數控馬達等，用於使測試頭30週期性運動。

可以理解，該夾持體23上套筒2331可省略，直接將該緩衝組件31裝設有容置腔233中。

可以理解，該驅動組件10之階梯軸一端可設有一限位螺紋，其與一螺母配合，以限定驅動組件10運動位置。

可以理解，該夾持組件20之定位座21可以省略，同時第一蓋體237之限位孔2371周圍向外延伸一定位套筒。

請參閱圖4，本發明第二實施例之測試模組200，其與測試模組100不同之處在於其緩衝藉由氣動方式實現。該測試模組200包括一驅動組件201、一夾持組件203及一測試頭205。該驅動組件201控制方式為氣動。該夾持組件203包括一定位座2031及一夾持體2033。該夾持體2033上開有一容置腔2034，該容置腔2034為一階梯軸孔，其兩端孔徑比中間部分孔徑大。該夾持組件203還包括一安裝於容置腔2034之套筒2035及安裝於夾持體2033兩端面之一第一蓋體2038和一第二蓋體2039。該套筒2035內壁上設有一限位環2036，該限位環2036控制測試頭205對按鍵按壓力大小。

該測試頭205包括一第一滑柱2051、一第二滑柱2053及一按鍵帽2054。該第一滑柱2051與驅動組件201固定連接。該第二滑柱2053一端向外延伸形成一延伸柱2055，該延伸柱2055用於安裝按鍵帽2054。該第一滑柱2051及第二滑柱2053安裝於套筒2035，且其位置被限定於第一滑柱2051與第一蓋體2038之間。該第一滑柱2051及第二滑柱2053之間構成一密閉空間，該空間內充滿氣體。

測試時，驅動組件201推動第一滑柱2051，該第一滑柱2051壓縮密閉空間之氣體，於該氣體壓力作用下帶動第二滑柱2053運動。由於套筒2035內壁上限位環2036存在，該第一滑柱2051向下運動抵持於該限位環2036時，該第一滑柱2051就不能繼續向下運動，從而該密閉空間內之氣壓不再升高，保護了被測試之按鍵。

可以理解，本發明之測試模組，其緩衝方式實現可以為第一實施例彈性件緩衝與第二實施例氣動緩衝結合。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上 述實施例為限，舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

10‧‧‧驅動組件

20‧‧‧夾持組件

21‧‧‧定位座

211‧‧‧頂板

2111‧‧‧安裝孔

213‧‧‧第一側板

215‧‧‧第二側板

217‧‧‧裝夾孔

23‧‧‧夾持體

232‧‧‧第一端部

233‧‧‧容置腔

234‧‧‧第二端部

235‧‧‧固定孔

237‧‧‧第一蓋體

239‧‧‧第二蓋體

30‧‧‧測試頭

31‧‧‧緩衝組件

311‧‧‧第一滑柱

313‧‧‧第二滑柱

3135‧‧‧第一延伸柱

3137‧‧‧第二延伸柱

315‧‧‧第一彈性體

317‧‧‧第二彈性體

33‧‧‧按鍵帽

331‧‧‧盲孔

Claims (8)

1. 一種電子裝置按鍵測試模組，其用於測試按鍵與電路板之連接是否完好，該測試模組包括：一驅動組件、一夾持組件及一測試頭，該驅動組件為該測試模組提供動力並控制測試模組運動，該夾持組件固定該驅動組件及測試頭，並定位該測試頭位置，其改良在於：該夾持組件包括一夾持體，該夾持體具有一底座及一第二蓋體，該底座中間部開有一容置腔，該測試頭設有一緩衝組件，該緩衝組件包括至少兩根滑柱，至少一根滑柱延伸設有一延伸柱，該測試模組還包括一按鍵帽，該按鍵帽中部開有一盲孔，該盲孔與延伸柱相配合，該緩衝組件安裝於容置腔，該延伸柱穿過第二蓋體。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電子裝置按鍵測試模組，其中該夾持體還包括一安裝緩衝組件之套筒，該套筒裝設於容置腔中。
3. 如申請專利範圍第2項所述之電子裝置按鍵測試模組，其中該容置腔為一階梯形圓柱孔，該套筒為一與容置孔配合之階梯形筒體。
4. 如申請專利範圍第2項所述之電子裝置按鍵測試模組，其中該緩衝組件包括至少兩根滑柱，該滑柱間構成一密閉空間，該密閉空間內裝有氣體；該套筒內壁上設有一限位環，該限位環藉由控制滑柱位置而控制測試頭對按鍵按壓力大小。
5. 如申請專利範圍第1項所述之電子裝置按鍵測試模組，其中該夾持體還包括一第一蓋體，該底座包括一第一端部及一與第一端部相對設置的第二端部，該第一蓋體固接於第一端部，第二蓋體固接於第二端部，該緩衝組件一端抵持於第一蓋體上，另一端抵持於第二蓋體上。
6. 如申請專利範圍第5項所述之測試模組，其中該緩衝組件包括至少一彈性 體，該彈性體裝設於滑柱之間。
7. 如申請專利範圍第5項所述之電子裝置按鍵測試模組，其中該測試模組還包括一用於讀取按鍵標識碼之感測器，該感測器安裝於第二蓋體上。
8. 如申請專利範圍第5項所述之電子裝置按鍵測試模組，其中該緩衝組件包括一第一彈性體、一第二彈性體、一第一滑柱及一第二滑柱，該第一彈性體一端抵持於第一滑柱，另一端抵持於第二滑柱；該第二彈性體一端抵持於第二滑柱，另一端抵持於第二蓋體上。