TWI387758B - 測量裝置以及測量方法 - Google Patents

測量裝置以及測量方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI387758B
TWI387758B TW95141530A TW95141530A TWI387758B TW I387758 B TWI387758 B TW I387758B TW 95141530 A TW95141530 A TW 95141530A TW 95141530 A TW95141530 A TW 95141530A TW I387758 B TWI387758 B TW I387758B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
power supply
voltage
electronic component
output
unit
Prior art date
Application number
TW95141530A
Other languages
English (en)
Chinese (zh)
Other versions
TW200821587A (en
Inventor
Tadaaki Satoh
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of TW200821587A publication Critical patent/TW200821587A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI387758B publication Critical patent/TWI387758B/zh

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
TW95141530A 2005-11-07 2006-11-09 測量裝置以及測量方法 TWI387758B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005321855A JP4729384B2 (ja) 2005-11-07 2005-11-07 測定装置及び測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200821587A TW200821587A (en) 2008-05-16
TWI387758B true TWI387758B (zh) 2013-03-01

Family

ID=38150341

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW95141530A TWI387758B (zh) 2005-11-07 2006-11-09 測量裝置以及測量方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP4729384B2 (ja)
TW (1) TWI387758B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5291703B2 (ja) * 2008-04-17 2013-09-18 株式会社アドバンテスト 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置
US7973543B2 (en) 2008-07-11 2011-07-05 Advantest Corporation Measurement apparatus, test apparatus and measurement method
CN104330606B (zh) * 2013-07-22 2018-03-20 技嘉科技股份有限公司 量测电源的电压及电流的治具及其量测方法
CN110441584B (zh) * 2019-08-26 2020-11-17 珠海格力电器股份有限公司 设备运行状态监测方法、装置、存储介质和系统

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0212066A (ja) * 1988-06-30 1990-01-17 Hitachi Electron Eng Co Ltd 測定用電源装置
JPH05126899A (ja) * 1991-10-31 1993-05-21 Fujitsu Ltd 半導体論理回路の待機時電流測定装置
JPH06258382A (ja) * 1993-03-08 1994-09-16 Advantest Corp 電圧印加電流測定回路
JP3390533B2 (ja) * 1994-06-15 2003-03-24 株式会社アドバンテスト 電圧印加電流測定回路
JPH1164410A (ja) * 1997-08-26 1999-03-05 Ando Electric Co Ltd デカップリング容量測定機能付きプログラム電源装置
JPH11101846A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Toshiba Corp 電源静止電流(iddq)測定回路
JP3599988B2 (ja) * 1997-12-09 2004-12-08 日立ハイテク電子エンジニアリング株式会社 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびicテスタ
JP2002139539A (ja) * 2000-10-30 2002-05-17 Advantest Corp 半導体デバイスの電源電流測定方法・電源電流測定装置
JP4511717B2 (ja) * 2000-12-08 2010-07-28 株式会社アドバンテスト 電流電圧測定装置
JP2002277505A (ja) * 2001-03-21 2002-09-25 Advantest Corp Dc特性測定用電源装置及び半導体試験装置
JP4412917B2 (ja) * 2003-05-21 2010-02-10 株式会社アドバンテスト 電流測定装置及び試験装置
JP2005201721A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Seiko Epson Corp Ic試験装置及びic試験方法、半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW200821587A (en) 2008-05-16
JP4729384B2 (ja) 2011-07-20
JP2007127568A (ja) 2007-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4735976B2 (ja) 電源装置およびこれを用いた半導体試験システム
JP5314686B2 (ja) 試験装置およびドライバ回路
TWI387758B (zh) 測量裝置以及測量方法
US20110109377A1 (en) Semiconductor integrated circuit
TW200923378A (en) Systems and methods for an open circuit current limiter
JP4034279B2 (ja) 電流検出回路、負荷駆動回路、及び記憶装置
JP2007309859A (ja) 測定回路及び試験装置
JP4977013B2 (ja) 電力印加回路、及び試験装置
JP4081089B2 (ja) 電源装置、試験装置及び電源電圧安定化装置
JP2006222770A5 (ja)
US8466701B2 (en) Power supply stabilizing circuit, electronic device and test apparatus
JP2005315729A (ja) 直流試験装置
JP4936134B2 (ja) 電圧印加電流測定回路
KR101299291B1 (ko) 측정 장치 및 측정 방법
JP3677767B1 (ja) ヒータ電力制御回路およびこれを用いたバーイン装置
JP2007040771A (ja) ノイズ測定用半導体装置
JPWO2008059766A1 (ja) 測定回路及び試験装置
JP2007303986A (ja) 直流試験装置
US7501846B2 (en) Measurement apparatus and measurement method
JP4412917B2 (ja) 電流測定装置及び試験装置
JP4034278B2 (ja) 電流検出回路、負荷駆動回路、及び記憶装置
KR100807592B1 (ko) 반도체기억장치의 안정된 전압을 공급하기 위한 전압 다운컨버터
JPH0212074A (ja) Ic試験装置における測定用電源装置
JP2006276013A (ja) ダイナミック・ロジック信号の出力電圧特性測定装置
JP2011117790A (ja) 半導体試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees