JP2007127568A - 測定装置及び測定方法 - Google Patents

測定装置及び測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007127568A
JP2007127568A JP2005321855A JP2005321855A JP2007127568A JP 2007127568 A JP2007127568 A JP 2007127568A JP 2005321855 A JP2005321855 A JP 2005321855A JP 2005321855 A JP2005321855 A JP 2005321855A JP 2007127568 A JP2007127568 A JP 2007127568A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
electronic device
voltage
unit
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005321855A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4729384B2 (ja
Inventor
Tadasuke Sato
忠亮 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2005321855A priority Critical patent/JP4729384B2/ja
Priority to TW95141530A priority patent/TWI387758B/zh
Publication of JP2007127568A publication Critical patent/JP2007127568A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4729384B2 publication Critical patent/JP4729384B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

【課題】動作電流測定と静止電流測定とを高速に切り換える。
【解決手段】電子デバイスが消費する電流を測定する測定装置であって、電子デバイスと接続される電源出力端子と、電源電圧を出力する電源電圧出力部と、整流方向が互いに逆となるように電源出力端子と電源電圧出力部との間に並列接続された2つのダイオードを有し、電子デバイスを動作させた場合に、電子デバイスが消費する電流を電源出力端子と電源電圧出力部との間に流すダイオードスイッチ部と、電子デバイスを静止させた場合に、電源出力端子の電圧を電源電圧と同電圧に維持するように電子デバイスが消費する電流を電源出力端子に供給する静止時駆動部と、静止時駆動部の出力電流値を測定する静止時電流測定部とを備える測定装置を提供する。
【選択図】図2

Description

本発明は、測定装置及び測定方法に関する。特に本発明は、電子デバイスが消費する電流を測定する測定装置及び測定方法に関する。
従来より、試験装置は、被試験デバイスの静止時における消費電流を測定する機能を備える(例えば非特許文献1〜3参照。)。試験装置は、被試験デバイスの電源用増幅器として大電流を出力できる増幅器を用いる。しかし、大電流が出力できる増幅器を用いたのでは精度良く静止消費電流を測定できない。そこで、従来の試験装置は、電流供給能力は低いが高精度で電流を測定できる増幅器を別途用意しておき、静止電流の測定時において静止電流試験用の増幅器に切り換えることにより、静止電流測定の高精度化をしていた。
橋本好弘,伊澤憲治、「アドバンテスト LSIテスタのIddgテストを20倍高速に」、日経エレクトロニクス 1997年7月7日号、日経BP社、1997年7月、P85 Nobuhiro Sato, Yoshihiro Hashimoto , "A High Precision Iddg Measurement System with Improve Dynamic Load Regulation", USA, ITC2003, 2003年, P 410 Paper15,2 Rachit Rajsman, "Iddg Testing For CMOS VLSI", USA, Artech House INC. ,1995 ,P141 Chapter5
ところで、電源電圧を供給する増幅器を被試験デバイスの動作時と静止時とで切り換えるために、試験装置は、被試験デバイスの動作時における大電流を流すことができる大電流用スイッチを備える。しかしながら、大電流用スイッチは動作速度が遅い。このため、被試験デバイスを動作状態から静止状態に切り換える場合、安定した電流供給ができるまでの時間が長くなり、その結果、測定開始が遅くなっていた。
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
上記課題を解決するために、本発明の第1の形態においては、電子デバイスが消費する電流を測定する測定装置であって、電子デバイスと接続される電源出力端子と、電源電圧を出力する電源電圧出力部と、整流方向が互いに逆となるように電源出力端子と電源電圧出力部との間に並列接続された2つのダイオードを有し、電子デバイスを動作させた場合に、電子デバイスが消費する電流を電源出力端子と電源電圧出力部との間に流すダイオードスイッチ部と、電子デバイスを静止させた場合に、電源出力端子の電圧を電源電圧と同電圧に維持するように電子デバイスが消費する電流を電源出力端子に供給する静止時駆動部と、静止時駆動部の出力電流値を測定する静止時電流測定部とを備える測定装置を提供する。
静止時駆動部は、出力電流変化に対する応答速度が、電源電圧出力部より高速であってよい。
静止時駆動部は、電源電圧出力部から出力された電源電圧が入力される演算増幅器のボルテージフォロア回路と、ボルテージフォロア回路の出力端と電源出力端子との間に設けられ、電子デバイスの静止時には閉じ、電子デバイスの動作時には開く開閉スイッチとを有してよい。
電源電圧出力部は、帰還電圧に応じて入力電圧を負帰還増幅することにより、当該入力電圧を所定ゲインで増幅した電源電圧を出力する増幅回路と、帰還電圧を増幅回路に供給する帰還回路とを有し、帰還回路は、電子デバイスの静止時には、増幅回路の出力電圧を帰還電圧として当該増幅回路に供給し、電子デバイスの動作時には、電源出力端子の電圧を帰還電圧として増幅回路に供給してよい。
動作時において電源電圧出力部の出力電流値を測定する動作時電流測定部を更に備えてよい。
電子デバイスに対して試験信号を入力する試験信号入力部と、試験信号に応じた電子デバイスの出力信号に基づき、当該電子デバイスを判定する判定部とを更に備えてよい。
本発明の第2の形態においては、電子デバイスが消費する電流を測定する測定方法であって、電子デバイスと接続される電源出力端子と、電源電圧を出力する電源電圧出力部と、整流方向が互いに逆となるように電源出力端子と電源電圧出力部との間に並列接続された2つのダイオードを含むダイオードスイッチ部と、電源出力端子の電圧を電源電圧と同電圧に維持する静止時駆動部とを有する電源装置により、電子デバイスに電源電圧を供給する段階と、電子デバイスを動作させた場合に、電子デバイスが消費する電流をダイオードスイッチ部を介して電源出力端子と電源電圧出力部との間に流す段階と、電子デバイスを静止させた場合に、静止時駆動部から電子デバイスが消費する電流を電源出力端子に供給するとともに、静止時駆動部の出力電流値を測定する段階とを備える測定方法を提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
本発明によれば、動作電流測定と静止電流測定とを高速に切り換えることができる。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、試験装置10の構成及び電子デバイス100を示す。試験装置10は、半導体デバイス等の電子デバイス100を試験する。また、試験装置10は、本発明の測定装置の一例であり、動作電流測定と静止電流測定とを高速に切り換えることができる。
試験装置10は、パターン発生部11と、電源部12と、試験信号入力部13と、判定部14とを備える。パターン発生部11は、電子デバイス100に供給する試験信号波形のパターン等を示す試験パターンを発生する。電源部12は、電子デバイス100に対して電源電圧を供給する。試験信号入力部13は、試験パターンに従った波形成形を行うことにより試験信号を生成し、生成した試験信号を電子デバイス100に対して入力する。判定部14は、供給された試験信号に応じて電子デバイス100が出力する出力信号に基づき、当該電子デバイス100の良否等を判定する。
図2は、電源部12の構成及び電子デバイス100を示す。電源部12は、電子デバイス100に対して電源電圧を供給するとともに、静止時における電子デバイス100の消費電流を高速に測定する。なお、電子デバイス100の静止時とは、例えばクロック供給の停止等により多くの内部回路の動作が停止することにより、当該電子デバイス100の消費電流が非常に小さくなっている状態の時である。例えば、静止時には、スリープ時、省電力モード時等も含んでよい。当該電子デバイス100の動作時とは、静止時ではなく、例えばクロックが供給され、当該電子デバイス100が通常に動作している状態の時である。
電源部12は、電源出力端子21と、電源電圧出力部22と、ダイオードスイッチ部23と、静止時駆動部24と、静止時電流測定部25と、動作時電流測定部26とを有する。
電源出力端子21は、電子デバイス100と接続され、当該電源部12が出力する電圧を電子デバイス100の電源端子に供給する。電源電圧出力部22は、例えばネガティブフィードバック制御により所定値に安定化された電源電圧Vddを出力する。ダイオードスイッチ部23は、整流方向が互いに逆となるように電源電圧出力部22と電源出力端子21の出力端との間に並列接続された順方向ダイオード31及び逆方向ダイオード32を有する。ダイオードスイッチ部23は、電源電圧出力部22と電源出力端子21との間に閾値電圧(例えば0.6V)以上の電位差が発生した場合にオンとなり、閾値電圧より小さい電位差の場合にオフとなる双方向のダイオードスイッチとして機能する。
静止時駆動部24は、電子デバイス100の静止時において、電源出力端子21の電圧を電源電圧Vddと同電圧に維持するように、電子デバイス100が消費する電流を電源出力端子21に供給する。静止時駆動部24は、電子デバイス100の動作時においては、電源出力端子21と切り離されるので、電源出力端子21の電圧及び電源出力端子21に流れる電流に影響を与えない。静止時駆動部24は、例えば試験パターンに示されたタイミングに従って、動作時及び静止時の切り替えがされる。
また、静止時駆動部24は、電源電圧出力部22と比較した場合に、出力電流変化に対する応答速度が高速な回路で構成されている。これにより、静止時駆動部24は、静止時における応答速度を早くすることができるとともに、静止時における消費電流の測定を高精度で行うことができる。
一例として、静止時駆動部24は、電源電圧Vddが入力される第1ボルテージフォロア回路41と、第1ボルテージフォロア回路41の出力端と電源出力端子21との間に設けられた第1開閉スイッチ42とを含んでよい。第1ボルテージフォロア回路41は、演算増幅器により構成されたボルテージフォロア回路である。このボルテージフォロア回路は、演算増幅器の反転入力端子に出力電圧を直接フィードバックすることにより、非反転入力端子に入力された電圧と同電圧を負荷変動に関わらず安定化して出力する回路である。第1ボルテージフォロア回路41は、非反転入力端子に電源電圧Vddが入力されるので、電子デバイス100の負荷変動に関わらず、電源電圧Vddと同電圧を出力端から発生する。第1開閉スイッチ42は、電子デバイス100の静止時には閉じ、電子デバイス100の動作時には開くように制御される。このような構成の静止時駆動部24によれば、第1開閉スイッチ42を開閉制御することにより、動作時と静止時との切り替えを行うことができる。
ここで、第1開閉スイッチ42は、静止時における消費電流が流れ、動作時における電流は流れない。すなわち、第1開閉スイッチ42は、大電流が流れないので、高速応答が可能なスイッチとすることができる。従って、このような構成の静止時駆動部24によれば、動作時から静止時へ高速に切り替えでき、静止時の電源電流の測定を短時間で開始できる。
静止時電流測定部25は、電子デバイス100の静止時において、静止時駆動部24から出力される出力電流値を測定する。静止時電流測定部25は、一例として、第1ボルテージフォロア回路41を構成する演算増幅器の出力端に設けられた第1電流検出用低抵抗43の端子間電圧を検出することにより、出力電流値を測定する。静止時電流測定部25は、当該出力電流値を測定することにより、電子デバイス100の静止時における消費電流を測定することができる。
動作時電流測定部26は、電子デバイス100の静止時において、電源電圧出力部22から出力される出力電流値を測定する。動作時電流測定部26は、一例として、電源電圧出力部22の出力端に設けられた第2電流検出用低抵抗44の端子間電圧を検出することにより、出力電流値を測定する。動作時電流測定部26は、当該出力電流値を測定することにより、電子デバイス100の動作時における消費電流を測定することができる。
以上のような構成の電源部12は、電子デバイス100の動作時においては、電源電圧出力部22から出力された電流をダイオードスイッチ部23を介して電源出力端子21に供給する。つまり、電子デバイス100の動作時においては、静止時駆動部24から電源出力端子21に対して電圧が印加されずにダイオードスイッチ部23がオンとなるので、電子デバイス100が消費する電流はダイオードスイッチ部23を介して電源電圧出力部22と電源出力端子21の間に流される。
一方、電源部12は、電子デバイス100の静止時においては、静止時駆動部24から出力された電流を電源出力端子21に供給する。つまり、電子デバイス100の静止時においては、静止時駆動部24によって電源出力端子21に対して電源電圧Vddが印加され、ダイオードスイッチ部23の入出力間が同電位となりダイオードスイッチ部23がオフとなるので、電子デバイス100が消費する電流はダイオードスイッチ部23を流れない。
このように電源部12は、電源電圧出力部22と電源出力端子21との間に設けられたダイオードスイッチ部23によって、静止時における電源電圧出力部22からの電流供給を停止している。これにより、電源部12によれば、大電流が流れる開閉スイッチを設けずに切り替えできるので、高速となる。従って、静止時の電源電流の測定を短時間で開始できる。
図3は、電源電圧出力部22の一例としての回路構成を示す。
電源電圧出力部22は、一例として、デジタル/アナログコンバータ51と、増幅回路52と、帰還回路53とを含んでよい。
デジタル/アナログコンバータ51は、例えば予め設定されたデジタル値が入力され、デジタル値で示されたアナログ電圧(以下、入力電圧という。)を発生する。
増幅回路52は、帰還回路53を介して帰還された電圧(以下、帰還電圧という。)に応じて、デジタル/アナログコンバータ51から出力された入力電圧を負帰還増幅することにより、当該入力電圧を所定ゲインで増幅した電源電圧Vddを出力する。例えば、増幅回路52は、演算増幅器61と、入力抵抗62と、帰還抵抗63とを有する反転増幅回路で構成してよい。当該反転増幅回路によれば、入力抵抗62に対する帰還抵抗63の比により上記所定ゲインが決定される。
帰還回路53は、帰還電圧を増幅回路52に供給する。帰還回路53は、一例として、反転増幅回路における帰還抵抗63に帰還電圧を供給する。帰還回路53は、電子デバイス100の動作時及び静止時で、帰還電圧を切り換える。具体的には、帰還回路53は、動作時には、電子デバイス100に供給する電圧を安定させるので、電源出力端子21の電圧を帰還電圧として増幅回路52に供給する。帰還回路53は、静止時には、静止時駆動部24による電圧降下が非常に小さいので、増幅回路52の出力電圧である電源電圧Vddを帰還電圧として増幅回路52に供給する。
帰還回路53は、一例として、第2ボルテージフォロア回路64と、第2開閉スイッチ65と、帰還電圧用抵抗66とを有する。
第2ボルテージフォロア回路64は、演算増幅器により構成されたボルテージフォロア回路である。第2ボルテージフォロア回路64の非反転入力端子には、帰還電圧用抵抗66を介して電源出力端子21の電圧が入力されるとともに、第2開閉スイッチ65を介して電源電圧Vddが入力される。帰還電圧用抵抗66は、電源電圧Vdd及び測定電流等に影響を及ぼさない抵抗値とされる。また、第2開閉スイッチ65は、動作時には閉じ、静止時には開くように制御される。これにより、帰還回路53は、動作時には電源出力端子21の電圧を帰還電圧とし、静止時には電源電圧Vddを帰還電圧とするスイッチングができる。また、第2開閉スイッチ65は、帰還電圧を受け大電流が流れないので、高速応答が可能なスイッチとすることができる。従って、このような構成の帰還回路53によれば、高速に切り替えることができ、短時間で静止時の電源電流の測定を開始できる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
試験装置10の構成及び電子デバイス100を示す。 電源部12の構成及び電子デバイス100を示す。 電源電圧出力部22の一例としての回路構成を示す。
符号の説明
10 試験装置
11 パターン発生部
12 電源部
13 試験信号入力部
14 判定部
21 電源出力端子
22 電源電圧出力部
23 ダイオードスイッチ部
24 静止時駆動部
25 静止時電流測定部
26 動作時電流測定部
31 順方向ダイオード
32 逆方向ダイオード
41 第1ボルテージフォロア回路
42 第1開閉スイッチ
43 第1電流検出用低抵抗
44 第2電流検出用低抵抗
51 デジタル/アナログコンバータ
52 増幅回路
53 帰還回路
61 演算増幅器
62 入力抵抗
63 帰還抵抗
64 第2ボルテージフォロア回路
65 第2開閉スイッチ
66 帰還電圧用抵抗
100 電子デバイス

Claims (7)

  1. 電子デバイスが消費する電流を測定する測定装置であって、
    前記電子デバイスと接続される電源出力端子と、
    電源電圧を出力する電源電圧出力部と、
    整流方向が互いに逆となるように前記電源出力端子と前記電源電圧出力部との間に並列接続された2つのダイオードを有し、前記電子デバイスを動作させた場合に、前記電子デバイスが消費する電流を前記電源出力端子と前記電源電圧出力部との間に流すダイオードスイッチ部と、
    前記電子デバイスを静止させた場合に、前記電源出力端子の電圧を前記電源電圧と同電圧に維持するように前記電子デバイスが消費する電流を前記電源出力端子に供給する静止時駆動部と、
    前記静止時駆動部の出力電流値を測定する静止時電流測定部と
    を備える測定装置。
  2. 前記静止時駆動部は、出力電流変化に対する応答速度が、前記電源電圧出力部より高速である
    請求項1記載の測定装置。
  3. 前記静止時駆動部は、
    前記電源電圧出力部から出力された前記電源電圧が入力される演算増幅器のボルテージフォロア回路と、
    前記ボルテージフォロア回路の出力端と前記電源出力端子との間に設けられ、前記電子デバイスの静止時には閉じ、前記電子デバイスの動作時には開く開閉スイッチとを有する
    請求項1に記載の測定装置。
  4. 前記電源電圧出力部は、帰還電圧に応じて入力電圧を負帰還増幅することにより、当該入力電圧を所定ゲインで増幅した前記電源電圧を出力する増幅回路と、前記帰還電圧を前記増幅回路に供給する帰還回路とを有し、
    前記帰還回路は、前記電子デバイスの静止時には、前記増幅回路の出力電圧を帰還電圧として当該増幅回路に供給し、前記電子デバイスの動作時には、前記電源出力端子の電圧を帰還電圧として前記増幅回路に供給する
    請求項1に記載の測定装置。
  5. 動作時において前記電源電圧出力部の出力電流値を測定する動作時電流測定部
    を更に備える請求項1記載の測定装置。
  6. 前記電子デバイスに対して試験信号を入力する試験信号入力部と、
    前記試験信号に応じた前記電子デバイスの出力信号に基づき、当該電子デバイスを判定する判定部と
    を更に備える請求項1に記載の測定装置。
  7. 電子デバイスが消費する電流を測定する測定方法であって、
    前記電子デバイスと接続される電源出力端子と、電源電圧を出力する電源電圧出力部と、整流方向が互いに逆となるように前記電源出力端子と前記電源電圧出力部との間に並列接続された2つのダイオードを含むダイオードスイッチ部と、前記電源出力端子の電圧を前記電源電圧と同電圧に維持する静止時駆動部とを有する電源装置により、前記電子デバイスに電源電圧を供給する段階と、
    前記電子デバイスを動作させた場合に、前記電子デバイスが消費する電流を前記ダイオードスイッチ部を介して前記電源出力端子と前記電源電圧出力部との間に流す段階と、
    前記電子デバイスを静止させた場合に、前記静止時駆動部から前記電子デバイスが消費する電流を前記電源出力端子に供給するとともに、前記静止時駆動部の出力電流値を測定する段階と
    を備える測定方法。
JP2005321855A 2005-11-07 2005-11-07 測定装置及び測定方法 Expired - Fee Related JP4729384B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005321855A JP4729384B2 (ja) 2005-11-07 2005-11-07 測定装置及び測定方法
TW95141530A TWI387758B (zh) 2005-11-07 2006-11-09 測量裝置以及測量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005321855A JP4729384B2 (ja) 2005-11-07 2005-11-07 測定装置及び測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007127568A true JP2007127568A (ja) 2007-05-24
JP4729384B2 JP4729384B2 (ja) 2011-07-20

Family

ID=38150341

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005321855A Expired - Fee Related JP4729384B2 (ja) 2005-11-07 2005-11-07 測定装置及び測定方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP4729384B2 (ja)
TW (1) TWI387758B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009128160A1 (ja) * 2008-04-17 2009-10-22 株式会社アドバンテスト 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置
US7973543B2 (en) 2008-07-11 2011-07-05 Advantest Corporation Measurement apparatus, test apparatus and measurement method
CN110441584A (zh) * 2019-08-26 2019-11-12 珠海格力电器股份有限公司 设备运行状态监测方法、装置、存储介质和系统

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104330606B (zh) * 2013-07-22 2018-03-20 技嘉科技股份有限公司 量测电源的电压及电流的治具及其量测方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0212066A (ja) * 1988-06-30 1990-01-17 Hitachi Electron Eng Co Ltd 測定用電源装置
JPH05126899A (ja) * 1991-10-31 1993-05-21 Fujitsu Ltd 半導体論理回路の待機時電流測定装置
JPH06258382A (ja) * 1993-03-08 1994-09-16 Advantest Corp 電圧印加電流測定回路
JPH085676A (ja) * 1994-06-15 1996-01-12 Advantest Corp 電圧印加電流測定回路
JPH1164410A (ja) * 1997-08-26 1999-03-05 Ando Electric Co Ltd デカップリング容量測定機能付きプログラム電源装置
JPH11101846A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Toshiba Corp 電源静止電流(iddq)測定回路
JPH11174127A (ja) * 1997-12-09 1999-07-02 Hitachi Electron Eng Co Ltd 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびicテスタ
JP2002139539A (ja) * 2000-10-30 2002-05-17 Advantest Corp 半導体デバイスの電源電流測定方法・電源電流測定装置
JP2002181852A (ja) * 2000-12-08 2002-06-26 Advantest Corp 電流電圧測定装置
JP2002277505A (ja) * 2001-03-21 2002-09-25 Advantest Corp Dc特性測定用電源装置及び半導体試験装置
JP2004347421A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Advantest Corp 電流測定装置及び試験装置
JP2005201721A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Seiko Epson Corp Ic試験装置及びic試験方法、半導体装置の製造方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0212066A (ja) * 1988-06-30 1990-01-17 Hitachi Electron Eng Co Ltd 測定用電源装置
JPH05126899A (ja) * 1991-10-31 1993-05-21 Fujitsu Ltd 半導体論理回路の待機時電流測定装置
JPH06258382A (ja) * 1993-03-08 1994-09-16 Advantest Corp 電圧印加電流測定回路
JPH085676A (ja) * 1994-06-15 1996-01-12 Advantest Corp 電圧印加電流測定回路
JPH1164410A (ja) * 1997-08-26 1999-03-05 Ando Electric Co Ltd デカップリング容量測定機能付きプログラム電源装置
JPH11101846A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Toshiba Corp 電源静止電流(iddq)測定回路
JPH11174127A (ja) * 1997-12-09 1999-07-02 Hitachi Electron Eng Co Ltd 電子デバイスへの負荷電流出力回路およびicテスタ
JP2002139539A (ja) * 2000-10-30 2002-05-17 Advantest Corp 半導体デバイスの電源電流測定方法・電源電流測定装置
JP2002181852A (ja) * 2000-12-08 2002-06-26 Advantest Corp 電流電圧測定装置
JP2002277505A (ja) * 2001-03-21 2002-09-25 Advantest Corp Dc特性測定用電源装置及び半導体試験装置
JP2004347421A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Advantest Corp 電流測定装置及び試験装置
JP2005201721A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Seiko Epson Corp Ic試験装置及びic試験方法、半導体装置の製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009128160A1 (ja) * 2008-04-17 2009-10-22 株式会社アドバンテスト 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置
JPWO2009128160A1 (ja) * 2008-04-17 2011-08-04 株式会社アドバンテスト 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置
US8466701B2 (en) 2008-04-17 2013-06-18 Advantest Corporation Power supply stabilizing circuit, electronic device and test apparatus
JP5291703B2 (ja) * 2008-04-17 2013-09-18 株式会社アドバンテスト 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置
US7973543B2 (en) 2008-07-11 2011-07-05 Advantest Corporation Measurement apparatus, test apparatus and measurement method
CN110441584A (zh) * 2019-08-26 2019-11-12 珠海格力电器股份有限公司 设备运行状态监测方法、装置、存储介质和系统

Also Published As

Publication number Publication date
TW200821587A (en) 2008-05-16
TWI387758B (zh) 2013-03-01
JP4729384B2 (ja) 2011-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7268523B2 (en) Constant voltage power supply circuit and method of testing the same
US20080224675A1 (en) Voltage regulator and voltage regulation method
JP4034279B2 (ja) 電流検出回路、負荷駆動回路、及び記憶装置
JP4729384B2 (ja) 測定装置及び測定方法
JP5186925B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
US7928719B2 (en) Zero current detector for a DC-DC converter
JP4882710B2 (ja) 負荷駆動装置の故障検出装置および負荷駆動用ic
JP2006222770A5 (ja)
US9312850B2 (en) Testable power-on-reset circuit
JP2008083850A (ja) レギュレータ回路
JP2000099172A (ja) 内部降圧電源回路
KR101299291B1 (ko) 측정 장치 및 측정 방법
JP3677767B1 (ja) ヒータ電力制御回路およびこれを用いたバーイン装置
JP2007040771A (ja) ノイズ測定用半導体装置
US7501846B2 (en) Measurement apparatus and measurement method
JP2007303986A (ja) 直流試験装置
KR100728572B1 (ko) 반도체 메모리 장치
JP2005050055A (ja) 電源供給装置
JP4034278B2 (ja) 電流検出回路、負荷駆動回路、及び記憶装置
KR100807592B1 (ko) 반도체기억장치의 안정된 전압을 공급하기 위한 전압 다운컨버터
JP2004347421A (ja) 電流測定装置及び試験装置
CN212989977U (zh) 用于驱动背对背功率开关的功率开关控制器和电子电路
US11803203B2 (en) Current sensor with multiple channel low dropout regulator
US9035642B2 (en) Circuits for detecting AC- or DC-coupled loads
JP4350575B2 (ja) 電圧検出回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080825

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091225

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110113

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110121

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110405

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110418

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140422

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140422

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees