KR101299291B1 - 측정 장치 및 측정 방법 - Google Patents

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Abstract

[과제] 동작 전류 측정과 정지 전류 측정을 고속으로 전환한다.
[해결수단] 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치에 있어서, 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와, 전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와, 정류 방향이 서로 반대로 되도록 전원 출력 단자와 전원 전압 출력부와의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하되, 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 전자 디바이스가 소비하는 전류를 전원 출력 단자와 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 다이오드 스위치부와, 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 전원 출력 단자의 전압이 전원 전압과 같은 전압으로 유지되도록 전자 디바이스가 소비하는 전류를 전원 출력 단자에 공급하는 정지시 구동부와, 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 정지시 전류 측정부를 포함하는 측정 장치를 제공한다.
Figure R1020060111258
반도체, 시험, 전원부

Description

측정 장치 및 측정 방법{MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD}
도 1은 시험 장치 10의 구성 및 전자 디바이스 100을 도시한 도면이다.
도 2는 전원부 12의 구성 및 전자 디바이스 100을 도시한 도면이다.
도 3은 전원 전압 출력부 22의 일예로서의 회로 구성을 도시한 도면이다.
[부호의 설명]
10: 시험 장치
11: 패턴 발생부
12: 전원부
13: 시험 신호 입력부
14: 판정부
21: 전원 출력 단자
22: 전원 전압 출력부
23: 다이오드 스위치부
24: 정지시 구동부
25: 정지시 전류 측정부
26: 동작시 전류 측정부
31: 순방향 다이오드
32: 역방향 다이오드
41: 제1 전압 팔로워(follower) 회로
42: 제1 개폐 스위치
43: 제1 전류 검출용 저저항
44: 제2 전류 검출용 저저항
51: 디지털/아날로그 변환기
52: 증폭 회로
53: 귀환 회로
61: 연산 증폭기
62: 입력 저항
63: 귀환 저항
64: 제2 전압 팔로워 회로
65: 제2 개폐 스위치
66: 귀환 전압용 저항
100: 전자 디바이스
[비특허 문헌 1]
橋本好弘, 伊澤憲治, "아도반테스토 LSI 테스터의 Iddg 테스트를 20배 고속으로", 니케이일렉트로닉스 1997.7.7.자호, 니케이BP사, 1997년 7월, P85
[비특허 문헌 2]
Nobuhiro Sato, Yoshihiro Hashimoto, "A High Precision Iddg Measurement System with Improve Dynamic Load Regulation", USA, ITC2003, 2003년, P410 Paper 15, 2
[비특허 문헌 3]
Rachit Rajsman, "Iddg Testing For CMOS VLSI", USA, Artech Ho use INC., 1995, P141 Chapter5
본 발명은 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것이다. 특히 본 발명은 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것이다.
종래, 시험 장치는 피시험 디바이스의 정지시에 있어서의 소비 전류를 측정하는 기능을 구비한다(예를 들어 비특허 문헌 1~3 참조). 시험 장치는, 피시험 디바이스의 전원용 증폭기로서 대전류를 출력할 수 있는 증폭기를 사용한다. 그러나, 대전류가 출력될 수 있는 증폭기를 사용해서는 정밀도 높은 정지 소비 전류를 측정할 수 없다. 여기서, 종래의 시험 장치는, 전류 공급 능력은 낮지만 높은 정밀도로 전류를 측정할 수 있는 증폭기를 별도로 준비하여 두고, 정지 전류의 측정 시에 있어서 정지 전류 시험용의 증폭기로 전환함으로써 정지 전류 측정의 고정밀도화를 추구하였다.
그런데, 전원 전압을 공급하는 증폭기를 피시험 디바이스의 동작시와 정지시에 전환하기 위하여, 시험 장치는 피시험 디바이스의 동작시에 있어서의 대전류를 흘릴 수 있는 대 전류용 스위치를 구비한다. 그러나, 대전류용 스위치는 동작 속도가 느리다. 이때문에, 피시험 디바이스를 동작 상태로부터 정지 상태로 전환하는 경우, 안정된 전류의 공급이 가능할 때까지의 시간이 길어지고, 그 결과, 측정 개시가 늦어지고 있다.
여기서 본 발명은, 상기의 과제를 해결할 수 있는 측정 장치 및 측정 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 이 목적은 특허 청구 범위에 있어서의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의하여 달성된다. 또한, 종속항은 본 발명의 더욱 유리한 구체예를 규정한다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 제1의 형태에 있어서는, 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치에 있어서, 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와, 전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와, 정류 방향이 서로 반대로 되도록 전원 출력 단자와 전원 전압 출력부와의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하되, 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 전자 디바이스가 소비하는 전류를 전원 출력 단자와 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 다이오드 스위치부와, 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 전원 출력 단자의 전압이 전원 전압과 같은 전압으로 유지되도록 전자 디바이스가 소비하는 전류를 전원 출력 단자에 공급하는 정지시 구동부와, 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 정지시 전류 측정부를 포함하는 측정 장치를 제공한다.
정지시 구동부는, 출력 전류 변화에 대한 응답 속도가 전원 전압 출력부보다 고속이어도 좋다.
정지시 구동부는, 전원 전압 출력부로부터 출력된 전원 전압이 입력되는 연산 증폭기의 전압 팔로워(voltage follower) 회로와, 전압 팔로워 회로의 출력단과 전원 출력 단자와의 사이에 설치되며, 전자 디바이스의 정지시에는 닫히고, 전자 디바이스의 동작시에는 열리는 개폐 스위치를 포함하여도 좋다.
전원 전압 출력부는, 귀환 전압에 따라 입력 전압을 부귀환 증폭함으로써, 당해 입력 전압을 소정의 이득(gain)으로 증폭한 전원 전압을 출력하는 증폭 회로와, 귀환 전압을 상기 증폭 회로에 공급하는 귀환 회로를 포함하며, 귀환 회로는, 전자 디바이스의 정지시에는, 증폭 회로의 출력 전압을 귀환 전압으로서 당해 증폭 회로에 공급하고, 전자 디바이스의 동작시에는, 전원 출력 단자의 전압을 귀환 전압으로서 증폭 회로에 공급하여도 좋다.
동작시에 있어서 전원 전압 출력부의 출력 전류값을 측정하는 동작시 전류 측정부를 더 포함하여도 좋다.
전자 디바이스에 대하여 시험 신호를 입력하는 시험 신호 입력부와, 시험 신호에 따른 전자 디바이스의 출력 신호에 기초하여, 당해 전자 디바이스를 판정하는 판정부를 더 포함하여도 좋다.
본 발명의 제2의 형태에 있어서는, 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 방법에 있어서, 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와, 전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와, 정류 방향이 서로 반대로 되도록 전원 출력 단자와 전원 전압 출력부의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하는 다이오드 스위치부와, 전원 출력 단자의 전압을 전원 전압과 같은 전압으로 유지하는 정지시 구동부를 포함하는 전원 장치에 의하여, 전자 디바이스에 전원 전압을 공급하는 단계와, 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 전자 디바이스가 소비하는 전류를 다이오드 스위치부를 거쳐 전원 출력 단자와 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 단계와, 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 정지시 구동부로부터 전자 디바이스가 소비하는 전류를 전원 출력 단자에 공급함과 함께, 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 단계를 포함하는 측정 방법을 제공한다.
또한, 상기의 발명의 개요는, 본 발명의 필요한 특징의 전부를 열거한 것은 아니며, 이들의 특징군의 서브컴비네이션도 또한 발명이 될 수 있다.
이하, 발명의 실시 형태를 통하여 본 발명을 설명하는데, 이하의 실시 형태는 특허 청구 범위에 의한 발명을 한정하는 것은 아니며, 또한 실시 형태 중에서 설명되어 있는 특징의 조합 전부가 발명의 해결 수단으로 필수적인 것으로 한정되지는 않는다.
도 1은 시험 장치 10의 구성 및 전자 디바이스 100을 도시한다. 시험 장치 10은, 반도체 디바이스 등의 전자 디바이스 100을 시험한다. 또한, 시험 장치 10은, 본 발명의 측정 장치의 일예이며, 동작 전류 측정과 정지 전류 측정을 고속으로 전환할 수 있다.
시험 장치 10은, 패턴 발생부 11과, 전원부 12와, 시험 신호 입력부 13과, 판정부 14를 포함한다. 패턴 발생부 11은, 전자 디바이스 100에 공급되는 시험 신호 파형의 패턴 등을 가리키는 시험 패턴을 발생시킨다. 전원부 12는, 전자 디바이스 100에 대하여 전원 전압을 공급한다. 시험 신호 입력부 13은, 시험 패턴에 따른 파형 성형을 수행함으로써 시험 신호를 생성하고, 생성된 시험 신호를 전자 디바이스 100에 대하여 입력한다. 판정부 14는, 공급된 시험 신호에 따라 전자 디바이스 100이 출력하는 출력 신호에 기초하여 당해 전자 디바이스 100의 양부 등을 판정한다.
도 2는, 전원부 12의 구성 및 전자 디바이스 100을 도시한다. 전원부 12는, 전자 디바이스 100에 대하여 전원 전압을 공급함과 함께, 정지시에 있어서의 전자 디바이스 100의 소비 전류를 고속으로 측정한다. 또한, 전자 디바이스 100의 정지시라는 것은, 예를 들면 클록 공급의 정지 등에 의하여 많은 내부 회로의 동작이 정지됨으로써, 당해 전자 디바이스 100의 소비 전류가 극히 적어지는 상태인 때를 말한다. 예를 들면, 정지시에는, 슬립시, 전력 절약 모드시 등도 포함되어도 좋다. 당해 전자 디바이스 100의 동작시라는 것은, 정지시가 아닌, 예를 들어 클록이 공급되어 당해 전자 디바이스 100이 통상적으로 동작하고 있는 상태인 때를 말 한다.
전원부 12는, 전원 출력 단자 21과, 전원 전압 출력부 22와, 다이오드 스위치부 23과, 정지시 구동부 24와, 정지시 전류 측정부 25와, 동작시 전류 측정부 26을 포함한다.
전원 출력 단자 21은, 전자 디바이스 100과 접속되며, 당해 전원부 12가 출력하는 전원을 전자 디바이스 100의 전원 단자에 공급한다. 전원 전압 출력부 22는, 예를 들면 네거티브 피드백(negative feedback) 제어에 의하여 소정값으로 안정화된 전원 전압 Vdd를 출력한다. 다이오드 스위치부 23은, 정류 방향이 서로 반대로 되도록 전원 전압 출력부 22와 전원 출력 단자 21의 출력단 사이에 병렬로 접속된 순방향 다이오드 31 및 역방향 다이오드 32를 포함한다. 다이오드 스위치부 23은, 전원 전압 출력부 22와 전원 출력 단자 21의 사이에 역치 전압(예를 들어, 0.6V) 이상의 전위차가 발생한 경우에 온(on)으로 되고, 역치 전압보다 작은 전위차인 경우에 오프(off)로 되는 쌍방향 다이오드 스위치로서 기능한다.
정지시 구동부 24는, 전자 디바이스 100의 정지시에 있어서, 전원 출력 단자 21의 전압이 전원 전압 Vdd와 같은 전압으로 유지되도록 전자 디바이스 100이 소비하는 전류를 전원 출력 단자 21에 공급한다. 정지시 구동부 24는, 전자 디바이스 100의 동작시에 있어서는, 전원 출력 단자 21과 단절되기 때문에, 전원 출력 단자 21의 전압 및 전원 출력 단자 21에 흐르는 전류에 영향을 주지 않는다. 정지시 구동부 24는, 예를 들면 시험 패턴에 의해 지시되는 타이밍에 따라 동작시 및 정지시의 전환이 이루어진다.
또한, 정지시 구동부 24는, 전원 전압 출력부 22와 비교한 경우에, 출력 전류 변화에 대한 응답 속도가 고속인 회로로 구성되어 있다. 이에 의하여, 정지시 구동부 24는, 정지시에 있어서의 응답 속도를 빠르게 할 수 있으며, 정지시에 있어서의 소비 전류의 측정을 높은 정밀도로 수행할 수 있다.
일예로서, 정지시 구동부 24는, 전원 전압 Vdd가 입력된 제1 전압 팔로워 회로 41과, 제1 전압 팔로워 회로 41의 출력단과 전원 출력 단자 21의 사이에 설치된 제1 개폐 스위치 42를 포함하여도 좋다. 제1 전압 팔로워 회로 41은, 연산 증폭기에 의하여 구성된 전압 팔로워 회로이다. 이 전압 팔로워 회로는 연산 증폭기의 반전 입력 단자에 출력 전압을 직접 파드백함으로써, 비반전 입력 단자에 입력된 전압과 같은 전압을 부하 변동에 관계 없이 안정화하여 출력하는 회로이다. 제1 전압 팔로워 회로 41은, 비반전 입력 단자에 전원 전압 Vdd와 같은 전압을 출력단으로부터 발생시킨다. 제1 개폐 스위치 42는, 전자 디바이스 100의 정지시에는 닫히고, 전자 디바이스 100의 동작시에는 열리도록 제어된다. 이러한 구성의 정지시 구동부 24에 의하면, 제1 개폐 스위치 42를 개폐 제어함으로써, 동작시와 정지시의 전환을 수행할 수 있다.
여기서, 제1 개폐 스위치 42는, 정지시에 있어서의 소비 전류를 흐르게 하며, 동작시에 있어서의 전류는 흐르게 하지 않는다. 즉, 제1 개폐 스위치 42는, 대전류가 흐르지 않으므로, 고속 응답이 가능한 스위치로 할 수 있다. 따라서, 이러한 구성의 정지시 구동부 24에 의하면, 동작시로부터 정지시로 고속으로 전환할 수 있으며, 정지시의 전원 전류의 측정을 단시간에 개시할 수 있다.
정지시 전류 측정부 25는, 전자 디바이스 100의 정지시에 있어서, 정지시 구동부 24로부터 출력되는 출력 전류값을 측정한다. 정지시 전류 측정부 25는, 일예로서, 제1 전압 팔로워 회로 41을 구성하는 연산 증폭기의 출력단에 설치된 제1 전류 검출용 저저항 43의 단자간 전압을 검출함으로써, 출력 전류값을 측정한다. 정지시 전류 측정부 25는, 당해 출력 전류값을 측정함으로써, 전자 디바이스 100의 정지시에 있어서의 소비 전류를 측정할 수 있다.
동작시 전류 측정부 26은, 전자 디바이스 100의 정지시에 있어서, 전원 전압 출력부 22로부터 출력되는 출력 전류값을 측정한다. 동작시 전류 측정부 26은, 일예로서, 전원 전압 출력부 22의 출력단에 설치된 제2 전류 검출용 저저항 44의 단자간 전압을 검출함으로써, 출력 전류값을 측정한다. 동작시 전류 측정부 26은, 당해 출력 전류값을 측정함으로써, 전자 디바이스 100의 동작시에 있어서의 소비 전류를 측정할 수 있다.
이상과 같은 구성의 전원부 12는, 전자 디바이스 100의 동작시에 있어서는, 전원 전압 출력부 22로부터 출력된 전류를 다이오드 스위치부 23을 거쳐 전원 출력 단자 21에 공급한다. 즉, 전자 디바이스 100의 동작시에 있어서는, 정지시 구동부 24로부터 전원 출력 단자 21에 대하여 전압이 인가되지 않고 다이오드 스위치부 23이 온이 되기 때문에, 전자 디바이스 100이 소비하는 전류는 다이오드 스위치부 23을 거쳐 전원 전압 출력부 22와 전원 출력 단자 21의 사이에 흐른다.
한편, 전원부 12는, 전자 디바이스 100의 정지시에 있어서는, 정지시 구동부 24로부터 출력된 전류를 전원 출력 단자 21에 공급한다. 즉, 전자 디바이스 100의 정지시에 있어서는, 정지시 구동부 24에 의하여 전원 출력 단자 21에 대하여 전원 전압 Vdd가 인가되며, 다이오드 스위치부 23의 입출력 사이가 같은 전위가 되어 다이오드 스위치부 23이 오프가 되기 때문에, 전자 디바이스 100이 소비하는 전류는 다이오드 스위치부 23에 흐르지 않는다.
이렇게 전원부 12는, 전원 전압 출력부 22와 전원 출력 단자 21과의 사이에 설치된 다이오드 스위치부 23에 의하여, 정지시에 있어서의 전원 전압 출력부 22로부터의 전원 공급을 정지시킨다. 이에 의하여, 전원부 12에 의하면, 대전류가 흐르는 개폐 스위치를 설치하지 않고 전환할 수 있기 때문에 고속이 된다. 따라서, 정지시의 전원 전류의 측정을 단시간에 개시할 수 있다.
도 3은, 전원 전압 출력부 22의 일예로서의 회로 구성을 도시한다.
전원 전압 출력부 22는, 일예로서, 디지털/아날로그 변환기 51과, 증폭 회로 52와, 귀환 회로 53을 포함하여도 좋다.
디지털/아날로그 변환기 51은, 예를 들면 미리 설정된 디지털 값이 입력되고, 디지털 값으로 지시된 아날로그 전압(이하, '입력 전압'이라 한다.)을 발생시킨다.
증폭 회로 52는, 귀환 회로 53을 거쳐 귀환된 전압(이하, '귀환 전압'이라 한다.)에 따라, 디지털/아날로그 변환기 51로부터 출력된 입력 전압을 부귀환 증폭함으로써, 당해 입력 전압을 소정의 이득(gain)으로 증폭한 전원 전압 Vdd를 출력한다. 예를 들면, 증폭 회로 52는, 연산 증폭기 61과, 입력 저항 62와, 귀환 저항 63을 포함하는 반전 증폭 회로로 구성되어도 좋다. 당해 반전 증폭 회로에 의하 면, 입력 저항 62에 대한 귀환 저항 63의 비(比)에 의하여 상기 소정의 이득이 결정된다.
귀환 회로 53은, 귀환 전압을 증폭 회로 52에 공급한다. 귀환 회로 53은, 일예로서, 반전 증폭 회로에 있어서의 귀환 저항 63에 귀환 전압을 공급한다. 귀환 회로 53은, 전자 디바이스 100의 동작시 및 정지시에, 귀환 전압을 전환한다. 구체적으로는, 귀환 회로 53은, 동작시에는, 전자 디바이스 100에 공급되는 전압을 안정시키므로, 전원 출력 단자 21의 전압을 귀환 전압으로서 증폭 회로 52에 공급한다. 귀환 회로 53은, 정지시에는, 정지시 구동부 24에 의한 전압 강하가 극히 작기 때문에, 증폭 회로 52의 출력 전압인 전원 전압 Vdd를 귀환 전압으로서 증폭 회로 52에 공급한다.
귀환 회로 53은, 일예로서, 제2 전압 팔로워 회로 64와, 제2 개폐 스위치 65와, 귀환 전압용 저항 66을 포함한다.
제2 전압 팔로워 회로 64는, 연산 증폭기에 의하여 구성된 전압 팔로워 회로이다. 제2 전압 팔로워 회로 64의 비반전 입력 단자에는, 귀환 전압용 저항 66을 거쳐 전원 출력 단자 21의 전압이 입력되며, 제2 개폐 스위치 65를 거쳐 전원 전압 Vdd가 입력된다. 귀환 전압용 저항 66은, 전원 전압 Vdd 및 측정 전류 등에 영향을 미치지 않는 저항값으로 한다. 또한, 제2 개폐 스위치 65는, 동작시에는 닫히고, 정지시에는 열리도록 제어된다. 이에 의하여, 귀환 회로 53은, 동작시에는 전원 출력 단자 21의 전압을 귀환 전압으로 하고, 정지시에는 전원 전압 Vdd를 귀환 전압으로 하는 스위칭을 할 수 있다. 또한, 제2 개폐 스위치 65는, 귀환 전압을 받아 대전류가 흐르지 않으므로, 고속 응답이 가능한 스위치로 할 수 있다. 따라서, 이러한 구성의 귀환 회로 53에 의하면 고속으로 전환할 수 있으며, 단시간에 정지시의 전원 전류의 측정을 개시할 수 있다.
이상, 본 발명의 실시의 형태를 이용하여 설명하였으나, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시의 형태에 기재된 범위로는 한정되지 않는다. 상기 실시의 형태에, 다양한 변경 또는 개량을 추가하는 것이 가능하다는 것이 당업자에게 명백하다. 그러한 변경 또는 개량을 추가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 속할 수 있다는 것이, 특허 청구 범위의 기재로부터 명백하다.
본 발명에 의하면, 동작 전류 측정과 정지 전류 측정을 고속으로 변환시킬 수 있다.

Claims (8)

  1. 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치에 있어서,
    상기 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와,
    전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와,
    정류 방향이 서로 반대로 되도록 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하되, 상기 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 다이오드 스위치부와,
    상기 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 상기 전원 출력 단자의 전압이 상기 전원 전압과 같은 전압으로 유지되도록 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자에 공급하는 정지시 구동부와,
    상기 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 정지시 전류 측정부
    를 포함하고,
    상기 정지시 구동부는,
    상기 전원 전압 출력부로부터 출력된 상기 전원 전압이 입력되는 연산 증폭기의 전압 팔로워(voltage follower) 회로와,
    상기 전압 팔로워 회로의 출력단과 상기 전원 출력 단자와의 사이에 설치되며, 상기 전자 디바이스의 정지시에는 닫히고, 상기 전자 디바이스의 동작시에는 열리는 개폐 스위치를 포함하는
    측정 장치.
  2. 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치에 있어서,
    상기 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와,
    전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와,
    정류 방향이 서로 반대로 되도록 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하되, 상기 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 다이오드 스위치부와,
    상기 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 상기 전원 출력 단자의 전압이 상기 전원 전압과 같은 전압으로 유지되도록 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자에 공급하는 정지시 구동부와,
    상기 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 정지시 전류 측정부
    를 포함하고,
    상기 정지시 구동부는, 출력 전류 변화에 대한 응답 속도가 상기 전원 전압 출력부보다 고속인
    측정 장치.
  3. 삭제
  4. 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치에 있어서,
    상기 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와,
    전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와,
    정류 방향이 서로 반대로 되도록 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하되, 상기 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 다이오드 스위치부와,
    상기 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 상기 전원 출력 단자의 전압이 상기 전원 전압과 같은 전압으로 유지되도록 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자에 공급하는 정지시 구동부와,
    상기 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 정지시 전류 측정부
    를 포함하고,
    상기 전원 전압 출력부는, 귀환 전압에 따라 입력 전압을 부귀환 증폭함으로써, 당해 입력 전압을 소정의 이득(gain)으로 증폭한 상기 전원 전압을 출력하는 증폭 회로와, 상기 귀환 전압을 상기 증폭 회로에 공급하는 귀환 회로를 포함하며,
    상기 귀환 회로는, 상기 전자 디바이스의 정지시에는, 상기 증폭 회로의 출력 전압을 귀환 전압으로서 당해 증폭 회로에 공급하고, 상기 전자 디바이스의 동작시에는, 상기 전원 출력 단자의 전압을 귀환 전압으로서 상기 증폭 회로에 공급하는
    측정 장치.
  5. 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 장치에 있어서,
    상기 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와,
    전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와,
    정류 방향이 서로 반대로 되도록 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하되, 상기 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 다이오드 스위치부와,
    상기 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 상기 전원 출력 단자의 전압이 상기 전원 전압과 같은 전압으로 유지되도록 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자에 공급하는 정지시 구동부와,
    상기 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 정지시 전류 측정부와,
    동작시에 있어서 상기 전원 전압 출력부의 출력 전류값을 측정하는 동작시 전류 측정부
    를 포함하는 측정 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 전자 디바이스에 대하여 시험 신호를 입력하는 시험 신호 입력부와,
    상기 시험 신호에 따른 상기 전자 디바이스의 출력 신호에 기초하여, 당해 전자 디바이스를 판정하는 판정부를 더 포함하는 측정 장치.
  7. 전자 디바이스가 소비하는 전류를 측정하는 측정 방법에 있어서,
    상기 전자 디바이스와 접속되는 전원 출력 단자와, 전원 전압을 출력하는 전원 전압 출력부와, 정류 방향이 서로 반대로 되도록 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부의 사이에 병렬로 접속된 두 개의 다이오드를 포함하는 다이오드 스위치부와, 상기 전원 출력 단자의 전압을 상기 전원 전압과 같은 전압으로 유지하는 정지시 구동부를 포함하는 전원 장치에 의하여, 상기 전자 디바이스에 전원 전압을 공급하는 단계와,
    상기 전자 디바이스를 동작시킨 경우에, 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 다이오드 스위치부를 거쳐 상기 전원 출력 단자와 상기 전원 전압 출력부와의 사이에서 흐르게 하는 단계와,
    상기 전자 디바이스를 정지시킨 경우에, 상기 정지시 구동부로부터 상기 전자 디바이스가 소비하는 전류를 상기 전원 출력 단자에 공급함과 함께, 상기 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 단계
    를 포함하되,
    상기 정지시 구동부는,
    연산 증폭기의 전압 팔로워(voltage follower) 회로, 및
    상기 전압 팔로워 회로의 출력단과 상기 전원 출력 단자와의 사이에 설치되는 개폐 스위치를 포함하고,
    상기 정지시 구동부의 출력 전류값을 측정하는 단계는, 상기 전원 전압 출력부로부터 출력된 상기 전원 전압을 상기 전압 팔로워 회로에 입력하는 단계를 포함하며,
    상기 개폐 스위치는, 상기 전자 디바이스의 정지시에는 닫히고, 상기 전자 디바이스의 동작시에는 열리는,
    측정 방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 전자 디바이스에 공급되는 시험 신호의 패턴을 나타내는 시험 패턴을 발생시키는 패턴 발생부를 더 포함하고,
    상기 정지시 구동부는, 상기 시험 패턴에 의해 지시되는 타이밍에 따라 동작시 및 정지시의 전환을 행하는,
    측정 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000055978A (ja) 1998-08-06 2000-02-25 Sharp Corp Ｃｍｏｓ集積回路の電源電流測定装置
KR20030048695A (ko) * 2001-12-12 2003-06-25 한국전기연구원 정지상태 전류값 검사를 위한 내장형 전류감지회로
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