JP4936134B2 - 電圧印加電流測定回路 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 49
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 35
- 101710170230 Antimicrobial peptide 1 Proteins 0.000 description 21
- 101100464779 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CNA1 gene Proteins 0.000 description 16
- 101710129178 Outer plastidial membrane protein porin Proteins 0.000 description 14
- 102100037820 Voltage-dependent anion-selective channel protein 1 Human genes 0.000 description 14
- 101100015484 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) GPA1 gene Proteins 0.000 description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 101710170231 Antimicrobial peptide 2 Proteins 0.000 description 5
- 101100434411 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) ADH1 gene Proteins 0.000 description 5
- 101100067427 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) FUS3 gene Proteins 0.000 description 5
- 101150102866 adc1 gene Proteins 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- HODRFAVLXIFVTR-RKDXNWHRSA-N tevenel Chemical compound NS(=O)(=O)C1=CC=C([C@@H](O)[C@@H](CO)NC(=O)C(Cl)Cl)C=C1 HODRFAVLXIFVTR-RKDXNWHRSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Description
このように、反転増幅回路の増幅度は抵抗R1と抵抗R2の比によって決まり、負荷DUTに印加する電圧VDUTは、DA変換器DAC1から出力される設定電圧VDACにより制御することができる。
このように、負荷DUTを流れる電流IDUTは、電流検出抵抗R3の両端の電位差を測定することにより測定することができる。
判断部は、前記第1のスイッチを閉じて、前記コンデンサーと前記出力電圧供給線との間を接続してもよい。
(第1の実施の形態)
図1を参照して、本発明の第1の実施の形態に係わる電圧印加電流測定モジュール(デバイス電源供給部)1が備える電圧印加電流測定回路の構成を説明する。電圧印加電流測定回路は、負荷DUTに所定の出力電圧VDUTを印加し、負荷DUTに流れる電流IDUTを測定する回路であって、設定電圧VDACを出力するDA変換器(設定電圧出力部)DAC1と、設定電圧VDACとフィードバック(ネガティブフィードバック)した出力電圧VDUTとの差電圧に基づいて、出力電圧VDUTの大きさを制御する出力電圧制御部11と、出力電圧制御部11の出力端子と負荷DUTとの間を接続する出力電圧供給線12と、出力電圧供給線12上に配置された電流検出抵抗R3と、電流検出抵抗R3の両端の電位差が出力電圧制御部11から負荷DUTへ流れる電流の電流許容範囲に対応する電圧許容範囲を超えているか否かを判断する電流レンジオーバー検出部(電流許容範囲超過判断部)13と、電流レンジオーバー検出部13が電圧許容範囲を超えていると判断した時、出力電圧供給線12に電荷(正の電荷または負の電荷)を供給する電荷供給部(電荷供給手段)14とを少なくとも備える。
に接続されている。増幅器AMP1の出力端子は、出力電圧供給線12により電源ピンPvを介して負荷DUTに接続されている。増幅器AMP1の出力端子と電源ピンPvとの間には電流検出抵抗R3が接続されている。電源ピンPvには、バッファAMP2の入力端子及びバイパスコンデンサCLの一方の電極が接続されている。なお、増幅器AMP1の非反転入力端子及びバイパスコンデンサCLの他方の電極には基準電圧(例えば、接地電圧)が印加されている。
Vlow=G×VLO ・・・(4)
また、電流検出抵抗R3の抵抗値をR3、出力電圧制御部11と負荷DUTの間を流れる電流の「電流許容範囲」が上側電流IHI〜下側電流ILOで定まるものとすると、上側電流IHI及び下側電流ILOは、(5)式及び(6)式により求めることができる。
ILO=VLO/R3=Vlow/(G×R3) ・・・(6)
電荷供給部14は、コンデンサーC1と、コンデンサーC1に出力電圧VDUTを印加して電荷を蓄積する電源部DAC4と、コンデンサーC1と出力電圧供給線12との間に接続された第1のスイッチSW1とを有する。コンデンサーC1の一方の電極は第1のスイッチSW1に接続され、他方の電極は接地されている。第1のスイッチSW1は、コンデンサーC1の一方の電極が出力電圧供給線12に接続されている状態(スイッチが閉じた状態:オン状態)と、コンデンサーC1の一方の電極が出力電圧供給線12に接続されていない状態(スイッチが開いた状態:オフ状態)の少なくとも2つの状態を切替える。ウィンドウコンパレータCMP1の出力信号(SW1制御信号)は第1のスイッチSW1に入力され、第1のスイッチSW1のオン/オフ制御は、ウィンドウコンパレータCMP1の出力信号(SW1制御信号)にしたがって行われる。
(第2の実施の形態)
図2に示すように、第2の実施の形態では、図1の電荷供給部14の代わりに、電荷供
給手段が、所定の電流が流れる電流源(第1の電流源I1及び第2の電流源I2)と、電流源と出力電圧供給線12との間に接続された第2のスイッチSW2、SW3とを有する電流供給部32である場合について説明する。
出力電圧VDUTの降下を抑制することができる。したがって、負荷DUTの消費電流の急変があっても所定の入力信号パターンを形成することができ、負荷DUTの実使用状態と同じ条件でテストを行うことができる。
2…制御部
11…出力電圧制御部
12…出力電圧供給線
13…電流レンジオーバー検出部(電流許容範囲超過判断部)
14…電荷供給部(電荷供給手段)
21…差動オペアンプ
32…電流供給部(電荷供給手段)
C1…コンデンサー
CL…バイパスコンデンサ
CMP1…ウィンドウコンパレータ
D1,D2…ダイオード
DUT…負荷
DAC1…設定電圧出力部
DAC4…電源部
I1…第1の電流源
I2…第2の電流源
IDUT…電流
Pv…電源ピン
R1、R2、R4、R41、R42、R51、R52…抵抗
R3…電流検出抵抗
SW1…第1のスイッチ
SW2、SW3…第2のスイッチ
VDUT…出力電圧
Claims (1)
- 負荷に所定の出力電圧を印加する電圧印加電流測定回路であって、
設定電圧を出力する設定電圧出力部と、
前記設定電圧とフィードバックした前記出力電圧との差電圧に基づいて、前記出力電圧の大きさを制御する出力電圧制御部と、
前記出力電圧制御部の出力端子と前記負荷との間を接続する出力電圧供給線と、
前記出力電圧供給線上に配置された電流検出抵抗と、
前記電流検出抵抗の両端の電位差が、前記出力電圧制御部から負荷へ流れる電流の電流許容範囲に対応する電圧許容範囲を超えているか否かを判断する電流許容範囲超過判断部と、
コンデンサーと、前記コンデンサーに前記出力電圧を印加して電荷を蓄積する電源部と、前記コンデンサーと前記出力電圧供給線との間に接続された第1のスイッチとを有する電荷供給手段とを備え、
前記電流検出抵抗の両端の電位差が前記電圧許容範囲を超えていると前記電流許容範囲超過判断部が判断した時、前記電荷供給手段は、前記第1のスイッチを閉じて前記コンデンサーと前記出力電圧供給線との間を接続することにより、前記出力電圧供給線に電荷を供給することを特徴とする電圧印加電流測定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007243687A JP4936134B2 (ja) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | 電圧印加電流測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007243687A JP4936134B2 (ja) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | 電圧印加電流測定回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009074900A JP2009074900A (ja) | 2009-04-09 |
JP4936134B2 true JP4936134B2 (ja) | 2012-05-23 |
Family
ID=40610021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007243687A Active JP4936134B2 (ja) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | 電圧印加電流測定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4936134B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7952361B2 (en) | 2009-07-14 | 2011-05-31 | Advantest Corporation | Test apparatus |
WO2011010349A1 (ja) * | 2009-07-23 | 2011-01-27 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
US8558560B2 (en) | 2009-07-23 | 2013-10-15 | Advantest Corporation | Test apparatus, additional circuit and test board for judgment based on peak current |
US8558559B2 (en) | 2009-07-23 | 2013-10-15 | Advantest Corporation | Test apparatus, additional circuit and test board for calculating load current of a device under test |
JP7304299B2 (ja) * | 2020-01-29 | 2023-07-06 | 株式会社アドバンテスト | 電源モジュール |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01169371A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-07-04 | Hitachi Ltd | 電圧電流制御回路 |
JPH07248353A (ja) * | 1994-03-11 | 1995-09-26 | Sony Tektronix Corp | 電源電流測定装置 |
JP3390533B2 (ja) * | 1994-06-15 | 2003-03-24 | 株式会社アドバンテスト | 電圧印加電流測定回路 |
JP3599256B2 (ja) * | 1996-02-29 | 2004-12-08 | 株式会社アドバンテスト | 電圧印加電流測定回路 |
JP4598645B2 (ja) * | 2005-10-13 | 2010-12-15 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 試験方法および試験装置 |
-
2007
- 2007-09-20 JP JP2007243687A patent/JP4936134B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009074900A (ja) | 2009-04-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20180302 Year of fee payment: 6 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20180302 Year of fee payment: 6 |
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S201 | Request for registration of exclusive licence |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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