TWI381181B - 顯示模組的老化測試裝置 - Google Patents

Description

顯示模組的老化測試裝置

本發明有關於一種顯示模組之老化測試裝置。更特別的是，本發明有關於能夠同時執行顯示模組老化與測試之顯示模組老化測試裝置。

在顯示模組之製造處理期間中，使用藉由施加電壓與訊號給予模組一段預定的時間週期以測試每個模組的操作狀態與耐用性之處理，而該處理被指稱為一種老化測試。

就顯示模組而言，於切開每個模組之前，在模組架置於其上的母板單元之上，執行老化測試。由於具有測試便於執行而且能夠透過發生故障的映射位置簡易地檢測到故障之優點，因此經常使用如此的母板單元老化測試。然而，由於要在串聯耦合且彼此並聯的諸多模組上執行測試，因此串聯或並聯迴路會存在於線路中。如此的迴路會在訊號中產生雜訊，並且產生會影響周邊模組的漏電流。所以，並不能夠執行準確的測試。再者，當母板的某些模組發生問題時，周邊的模組與線路可能會受到該問題的影響，致使整體母板的老化測試不能夠順暢地執行。

其間，根據顯示器尺寸的增加，而增大了模組之尺寸。然而，當每個模組的尺寸增加，傳統測試整體母板的方法便會有所不利。例如，增大每個模組的尺寸，將致使某一母板中所包含的模組數目減少。從而生產力會下降。此外，隨著模組尺寸增大，因應模組的改變，測試裝置應該要有所改變。然而，在傳統母板單元測試方法中，根據模組的改變而改變測試裝置乃是困難的。

在此先前技術段落中，以上所揭露的資訊僅為增強了解本發明之背景，因而可能包含並非來自本國熟知該項技術者已知的習知技術資訊。

已從事本發明，藉以盡力提供一種具有同時執行每個顯示模組單元老化測試優點之裝置。

根據本發明典範實施例之顯示模組老化測試裝置包含：以彼此相距固定距離所配置的兩個或者多個框架、一可轉動地架置於框架上之轉動支撐單元、一由轉動支撐單元與每個皆與一個顯示模組組合的測試模組所支撐之測試單元、一將轉動電力傳輸至轉動支撐單元的電力傳輸單元、一將電力供應至電力傳輸單元與測試單元的電源供應單元、一配置於轉動支撐單元的空心軸上並且電連接至電源供應單元與測試單元的第一連接單元、以及一控制著電力傳輸單元與電源供應單元並且分析測試單元所量測到的資料之控制器。

顯示模組老化測試裝置可進一步包含一圍繞著顯示模組老化測試裝置之測試室。

該測試室可以包含一將顯示模組架置或者卸除於測試單元之出入口。

該測試單元於其中心可以包含一空心軸，以為相對於轉動支撐單元的轉動之用。

顯示模組老化測試裝置可以進一步包含一電連接至第一連接單元並且配置於轉動支撐單元之上藉以相應於測試單元的空心軸之第二連接單元。

該顯示模組老化測試裝置可以進一步包含一傳輸電力藉以保持測試單元水平位置之輔助電力傳輸單元。

該轉動支撐單元具有一圓形或橢圓形的形狀。

該模組電連接至電源供應單元或第一連接單元。

該測試單元可以包含一其中設有顯示模組之組合單元、一將電力供應至顯示模組之電源供應單元、一將訊號供應至顯示模組之訊號供應單元、以及一將所產生的資料從顯示模組傳輸至控制器之訊號傳輸單元。

該測試單元可以配置於轉動支撐單元之轉動預定尺寸的半徑上。

該測試單元可以相距轉動支撐單元一固定距離來配置之。

該第一連接單元配置於轉動支撐單元的轉動中心上，並且可以包含電訊號之輸入與輸出單元，用於電訊號透過轉動軸之傳輸。

透過第一連接單元，將從控制器所產生的電訊號以及從電源供應單元所供應的電力傳輸至測試單元，並且透過第一連接單元，將從顯示模組所產生的資料傳輸至控制器。

根據本發明典範實施例之老化測試系統可以包含兩個或多個上述的顯示模組老化測試裝置。

由於在其中設有測試單元之轉動支撐單元轉動的同時，執行測試，是以根據本發明典範實施例的顯示模組老化測試裝置能夠連續地執行測試。因此，能夠改善測試效率。

此外，並不需要線路，因此線路所產生的雜訊干擾便能夠降低，而且訊號延遲能夠減小。所以，能夠準確地執行測試。

此外，由於針對每個模組執行測試，因此失效的模組並不會影響其他的模組。所以，能夠更為迅速及有效地執行測試。

由於測試裝置並不需要裝配架，因此該裝置能夠簡化。因此，易於將測試處理自動化，而且裝置的維護簡單。特別的是，當設有複數個測試單元時，藉由自動加載一測試單元至模組所架置之處，便能夠簡易地使整體測試裝置自動化。

此後將參照顯示本發明典範實施例之附圖更為完整地說明本發明。熟知該項技術者將會了解所說明的實施例可以不違反本發明的精神或範疇之各種方式修改之。

所以，咸認為圖示與說明本質僅為闡述之用，且非限制之。整個說明書中，相似的參考數字指示相似的組件。

在整個說明書以及以下的申請專利範圍中，當說明某一組件”耦合”至另一組件時，則該組件可以是”直接耦合”至其他組件、或者經由第三組件”電耦合”至其他組件。此外，除非明確說明為相反之事物，否則將會了解字詞”包含”與其變化形意指所敘述的組件之內涵物，而非其他任何組件之內涵物。

將參照圖1至圖5來說明根據本發明典範實施例的顯示模組老化測試裝置詳細的配置。

圖1至圖3顯示根據本發明典範實施例的顯示模組老化測試裝置。圖1為顯示模組老化測試裝置之概要透視圖，而圖2則為除了測試室190之外的部分之概要前視圖。在圖1中，測試室190圖解為透明的，以為說明內部裝置之用。圖3為說明第一與第二連接單元160與180的架構之概要側視圖。

參照圖1，根據本發明典範實施例的顯示模組老化測試裝置包含一框架110、複數個測試單元120、一轉動支撐單元130、一電力傳輸單元140、一電源供應單元150、一第一連接單元160(觀看圖3)、一控制器170、一第二連接單元180(觀看圖3)、以及一測試室190。

框架110固定與支撐著其中所安裝之構成組件。兩個或者多個框架110可以彼此固定的距離配置之，以為同時執行模組的老化與測試之用。由於框架110應該耐得住每個構成組件之重量，因此較佳藉由使用金屬基材質或者剛硬的高分子聚合體材質來製造之。此外，較佳的是，框架110具有固體的六面體形狀，用以穩定地支撐每個構成組件。然而，只要沒有功能性的問題，框架110可以具有角錐體形狀或者四邊形的六面體形狀，而且框架110並不需要一定是固體的。

轉動支撐單元130為一種會轉動同時支撐複數個測試單元120的架構，其並且透過第一連接單元160而連接至框架110。儘管未必如此，然轉動支撐單元130可使用鏈條或扣鏈齒輪之間的連接線而以框架110圍繞著轉動支撐單元130中心輪轂之方式，連接至框架100，其間的該連接方法並不受限於此。轉動支撐單元130為一種用以轉動測試單元120之構成組件，因而較佳的的是，轉動支撐單元130具有一中心輪轂，其具有相同於第一連接單元160的空心軸之形狀，而為原形或者橢圓形。然而，轉動支撐單元130可以具有各種不同的其他架構，能夠允許其轉動，同時支撐測試單元120。例如，轉動支撐單元130可以具有八面體或者六面體之架構，或者可以使僅具有一框架之架構，使鏈條可以直接連接至框架。轉動支撐單元130接收來自電力傳輸單元140的電力，並且相對於第一連接單元160之空心軸而轉動。較佳的是，電力傳輸單元140與轉動支撐單元130具有簡單的架構，其中電力傳輸單元140的轉動面直接接觸著轉動支撐單元130之邊緣，以為電力傳輸之用。然而，諸如鏈條、扣鏈齒輪、或者傳動帶之輔助裝置可替代地使用於電力傳輸，端視環境而定，例如，在電力傳輸單元140與轉動支撐單元130定位於彼此難以直接接觸之位置時。

測試單元120為一種其中設有顯示模組並且執行測試之單元，其透過空心軸連接至轉動支撐單元130，並且執行轉動老化測試所需的一段時間週期。可以從轉動支撐單元130算起的相等或隨機距離來設置複數個測試單元120，該單元並且具有充分的尺寸，藉以在其中組合具有預定尺寸的複數個模組。較佳的是，測試單元120包含複數個以彼此相同距離配置在相對於轉動支撐單元130中心的轉動半徑上之測試裝置。

將參照圖4說明測試單元120詳細的配置。測試單元120能夠相對於其空心軸而轉動，藉以在轉動支撐單元130之轉動期間中保持其水平位置。測試單元120可以直接連接至轉動支撐單元130，或者可以透過連接構件111連接至轉動支撐單元130，而測試單元120與轉動支撐單元130之間的連接方法能夠改變，只要連接能夠致能測試單元120藉以和轉動支撐單元130一起轉動即可。此外，測試單元120可以包含一輔助電力傳輸單元(並無顯示)，藉以傳輸電力進而保持其水平位置。

第一連接單元160透過第二連接單元180電連接至測試單元120，並且包含電訊號之輸入單元161以及輸出單元163。第一連接單元160設於框架110上，並且將轉動支撐單元130連接至框架110，同時將其空心軸吻合於轉動支撐單元130之中心輪轂。此外，第一連接單元160會透過電訊號的輸入單元161接收從控制器170所產生的訊號以及從電源供應單元150所產生的電力，並且透過電訊號的輸出單元163，將所接收到的訊號與電力傳輸至測試單元120。經由第一連接單元160的輸出單元163與輸入單元161，將從測試單元120所產生的訊號傳輸至控制器170。

第二連接單元180設置於轉動支撐單元130之中，以便與測試單元120分享空心軸，致使將測試單元120強健地連接至轉動支撐單元130，並且電連接著第一連接單元160與測試單元120。

第一與第二連接單元160與180可以一種透過轉動軸來傳輸電訊號的滑環形成之。此外，在本發明中，滑環可以鍍銅(Cu)的銀(Ag)所製作之材質來形成之。

電源供應單元150會將電力供應至測試單元120、電力傳輸單元140、以及控制器170，並且可以根據測試單元的電容量而使用典型的電源供應單元。

控制器170會提供一測試訊號給予測試單元120，並且控制電力傳輸單元140。此外，控制器170會接收測試單元120所量測到的資料，並且判斷執行測試是否沒有錯誤。控制器170可以包含一個額外的顯示裝置(並無顯示)，以為使用者直接檢查測試處理之用。

電力傳輸單元140提供轉動支撐單元130轉動之電力，並且包含DC或AC馬達以及傳輸電力之工具，例如傳動帶、鏈條、傳動裝置或者扣鏈齒輪。根據電力傳輸單元140與轉動支撐單元130的相對位置與形狀，有所選擇地應用電力傳輸工具。

形成測試室190，藉以圍繞著框架110以及每個構成組件，並且包含一出入口191，用以將顯示模組附加/分離於測試單元120。設置測試室190用以保護每個構成組件，並且可以具有執行所需功能的各種不同之形狀。

圖4為測試單元120詳細的概要透視圖。根據本發明典範實施例之測試單元120包含一組合單元123、一終端單元121、一電源供應單元(並無顯示)、一訊號供應單元(並無顯示)、以及一訊號傳輸單元(並無顯示)。

組合單元123會組合顯示模組與測試單元120，並且根據測試目標模組的形狀，可以具有各種不同的形狀。測試目標模組通常形成為六面體形狀，因而組合單元123可以由圖4所示的組合凹槽所形成，而測試目標模組則可以置於其中。

終端單元121由用以連接模組與電力傳輸單元的第一終端1211、用以連接模組與訊號供應單元的第二終端1213、以及用以連接模組與訊號傳輸單元的第三終端1215所形成。

傳導性材質所製作的墊片可以用來充當每個終端1211、1213與1215，而且可以根據模組的架構而使用諸如接腳或傳導橡膠之各種不同介面。

電源供應單元與訊號供應單元分別由處理及整流訊號之電路所形成，並且重新處理與整流從控制器170與電源供應單元150所提供的訊號與電力，藉以提供已重新處理與整流後的訊號與電力給予每個模組。訊號傳輸單元由一訊號處理電路所形成，並且根據測試而將模組所產生的資料傳輸至控制器170。

如所說明的，由於能夠將電力與訊號分離地供應至每個模組，因此能夠將輸入訊號中所產生的不必要雜訊最小化。所以，測試能夠更為準確。此外，不像母板單元測試一般，由於當模組中發生錯誤時，能夠選擇具有錯誤的模組，因此能夠進一步改善測試的效率。

此時將說明根據本發明典範實施例的顯示模組老化測試裝置之操作方法以及其相關優點。

首先，透過測試室190的出入口191，將測試目標模組依序地架置於測試單元120。接著，當電力透過控制器170而供應至電源供應單元150時，將電力與訊號輸入至模組，同時轉動支撐單元130會透過電力傳輸單元140以固定的速度轉動。在預定時間週期內通過老化測試的模組則經由出入口191退出，並且輸送至下一個製造處理，並且透過出入口191，將新的模組架置於測試單元120上。由於將每個模組架置於測試單元120上的次數互不相同，因此測試完成的次數同樣互不相同。因此，除了將模組初始架置於整個測試單元120上的狀況之外，輸送已測試完成模組以及架置新模組之全部處理為連續的，致使能夠明顯地改善模組測試效率。此外，不似母板的是，老化與測試模組會同時轉動，而且由於每個模組的尺寸不會大於母板的尺寸，故而使根據本發明典範實施例的測試裝置值夠安裝於相對較小的區域中，因此模組能夠垂直地轉動。

將參照圖5來說明由根據本發明典範實施例的顯示模組老化測試裝置所形成的系統。

圖5顯示由根據本發明典範實施例的最小單元所形成的老化測試系統100之概要透視圖。

根據本發明典範實施例的老化測試系統200由兩個或者更多顯示模組老化測試裝置100所形成。每個顯示模組老化測試裝置100傾斜地重疊於另一者，致使能夠外部開啟出入口191。由於每個模組皆能夠透過出入口191附加與分離，是以顯示模組老化測試裝置100彼此能夠整個重疊，除了出入口191之外，因而在小空間中能夠提供大量的測試裝置。因此，能夠進一步有效地執行同時的老化測試。

實驗範例

傳統的母板單元測試方法與根據本發明典範實施例的測試方法能夠比較如下。

首先，在傳統母板單元測試方法之狀況下，一個母板的老化行為平均耗費2.5小時，而測試已老化完成的母板平均需0.5小時。換言之，老化與測試一個母板耗費三小時，而當連續執行測試24小時，一個測試裝置中能夠測試8個母板。當設備操作率設為85%，而工作天數為30，則每個測試裝置在一個月內能夠進行204個母板之老化與測試。

接著，將說明藉由使用根據本發明典範實施例的模組規格老化測試裝置之老化測試方法。將架置於一個測試單元的模組老化平均耗費30分鐘，而測試與重新放置架置於一個測試單元的模組平均需10分鐘。因此，儘管第一測試單元的測試行為要耗費40分鐘，但在第一測試單元之後，連續地執行之後的測試單元之測試與架置，因此應該認為僅需10分鐘，此時間乃是用以測試與架置。儘管測試單元的數目與架置於測試單元的模組數目可能會導致某種差異，然而在行動裝置中廣泛使用的1.6至4英吋的模組用作參考。一般而言，測試裝置包含7個測試單元，而來自一個母板的模組能夠架置於一個測試單元，因而處理該模組耗費1.67小時。因此，當設備操作率設為85%，而工作天數為30，則在一個月內，一個裝置大約能夠處理500個母板。特別的是，相較於母板單元測試方法，根據本發明典範實施例的模組規格老化測試裝置佔據較小的空間，因而當藉由連接複數個測試裝置來形成系統時，能夠進一步有效執行其測試。

儘管不考慮計算，不像其中具有故障的模組會影響周邊模組之傳統方法，能夠各別地供應每個模組之電力與訊號，致使當藉由使用根據本發明典範實施例的裝置來執行測試時，能夠執行測試而沒有錯誤或延遲。

在已經連結目前所認為的實際典範實施例說明了本發明的同時，所要了解的是，本發明並不受限於所揭露的實施例，但相反的是預期涵蓋各種不同的修改與等效佈置，其包含於所附的申請專利範圍之精神與範疇之內。

100．．．顯示模組老化測試裝置

110．．．框架

111．．．連接構件

120．．．測試單元

121．．．終端單元

1211．．．第一終端

1213．．．第二終端

1215．．．第三終端

123．．．組合單元

130．．．轉動支撐單元

140．．．電力傳輸單元

150．．．電源供應單元

160．．．第一連接單元

161．．．輸入單元

163．．．輸出單元

170．．．控制器

180．．．第二連接單元

190．．．測試室

191．．．出入口

200．．．老化測試系統

圖1為根據本發明典範實施例用於顯示模組的顯示模組老化測試裝置之概要透視圖。

圖2為根據本發明典範實施例的顯示模式老化測試裝置之概要前視圖。

圖3為根據本發明典範實施例的顯示模式老化測試裝置之概要側視圖。

圖4為測試單元之概要透視圖。

圖5為根據本發明典範實施例的老化測試系統之概要透視圖。

110．．．框架

111．．．連接構件

120．．．測試單元

130．．．轉動支撐單元

140．．．電力傳輸單元

150．．．電源供應單元

170．．．控制器

190．．．測試室

Claims (14)

1. 一種顯示模組老化測試裝置，包含：兩個或者多個框架，以彼此相距固定距離配置；一轉動支撐單元，可轉動地架置於框架上；一測試單元，由轉動支撐單元與每個皆與一顯示模組組合的測試模組所支撐；一電力傳輸單元，將轉動電力傳輸至轉動支撐單元；一電源供應單元，將電力供應至電力傳輸單元與測試單元；一第一連接單元，配置於轉動支撐單元的空心軸上，並且電連接至電源供應單元與測試單元；以及一控制器，控制著電力傳輸單元與電源供應單元，並且分析測試單元所量測到的資料。
2. 如申請專利範圍第1項之顯示模組老化測試裝置，進一步包含一圍繞著顯示模組老化測試裝置之測試室。
3. 如申請專利範圍第2項之顯示模組老化測試裝置，其中的測試室包含一將顯示模組架置或者卸除於測試單元之出入口。
4. 如申請專利範圍第2項之顯示模組老化測試裝置，其中的測試單元於其中心可以包含一空心軸，以為相對於轉動支撐單元的轉動之用。
5. 如申請專利範圍第4項之顯示模組老化測試裝置，進一步包含一第二連接單元，該第二連接單元電連接至第一連接單元並且配置於轉動支撐單元之上藉以相應於測試單元的空心軸。
6. 如申請專利範圍第4項之顯示模組老化測試裝置，進一步包含一傳輸電力藉以保持測試單元水平位置之輔助電力傳輸單元。
7. 如申請專利範圍第1項之顯示模組老化測試裝置，其中的轉動支撐單元具有一圓形或橢圓形的形狀。
8. 如申請專利範圍第1項之顯示模組老化測試裝置，其中的模組電連接至電源供應單元或第一連接單元。
9. 如申請專利範圍第1項之顯示模組老化測試裝置，其中至少一個測試單元包含：一組合單元，其中設有顯示模組；一電源供應單元，將電力供應至顯示模組；一訊號供應單元，將訊號供應至顯示模組；以及一訊號傳輸單元，將所產生的資料從顯示模組傳輸至控制器。
10. 如申請專利範圍第1項之顯示模組老化測試裝置，其中的測試單元配置於轉動支撐單元之轉動預定尺寸的半徑上。
11. 如申請專利範圍第10項之顯示模組老化測試裝置，其中的測試單元以相距轉動支撐單元一固定距離來配置之。
12. 如申請專利範圍第2項之顯示模組老化測試裝置，其中的第一連接單元配置於轉動支撐單元的轉動中心上，並且包含電訊號之輸入與輸出單元，用於電訊號透過轉動軸之傳輸。
13. 如申請專利範圍第12項之顯示模組老化測試裝置，其中透過第一連接單元，將從控制器所產生的電訊號以及從電源供應單元所供應的電力傳輸至測試單元，並且透過第一連接單元，將從顯示模組所產生的資料傳輸至控制器。
14. 一種老化測試系統，包含如申請專利範圍第1至13任何一項之兩個或者多個顯示模組老化測試裝置。