CN101750557B - 显示模块的老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种显示模块的老化测试装置。根据本发明的显示模块老化测试装置包括:两个或多个框架,彼此按照恒定距离布置;旋转支撑单元,可旋转地安装在框架上;测试单元,被旋转支撑单元支撑并且测试模块,所述模块的每个结合有一个显示模块;功率传输单元,将旋转功率传输到旋转支撑单元;功率供应单元,将功率供应到功率传输单元和测试单元;第一连接单元,被设置在旋转支撑单元的中空轴上,并且电连接到功率供应单元和测试单元;控制器,控制功率传输单元和功率供应单元,并分析测试单元测量的数据。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于显示模块的老化测试装置(aging test device)。更具体地说,本发明涉及一种能够同时执行显示模块的老化和测试的显示模块老化测试装置。
背景技术
在显示模块的制造过程中,使用一种用于通过将电压和信号施加到模块并持续预定时间段以测试每个模块的操作状态和耐久性(durability)的工艺,该工艺被称作老化测试。
对于显示模块,老化测试是在母基底单元上执行的,其中,每个模块在彼此切分之前被安装在母基底单元上。由于具有方便地执行测试并且可通过映射缺陷(defect)出现的位置来容易地检测缺陷的优点,因此这种母基底单元老化测试被频繁使用。但是,由于测试在串联并互相平行地结合的许多模块上执行,因此在布线中存在串联或平行的回路。这种回路在信号中产生噪声,并且产生影响周围模块的漏电流。因此,不能执行准确的测试。此外,当在母基底的一些模块中发生问题时,周围的模块和布线会受到问题的影响,从而不能顺利地执行整个母基底的老化测试。
同时,模块的尺寸随着显示器的尺寸增加而增加。但是,当每个模块的尺寸增加时,测试整个母基底的传统方法变得不好。例如,每个模块的尺寸增加使得在一个母基底中包括的模块的数量减少。因此,生产率降低。此外,随着模块的尺寸增加,测试装置应该根据模块的改变而改变。但是,在传统的母基底单元测试方法中,难以根据模块的改变来改变测试装置。
以上在背景技术部分中公开的信息只是用于提高对本发明的背景的理解,因此,其可包括没有形成作为已经被该国家的普通技术人员公知的现有技术的信息。
发明内容
努力提出本发明以提供一种具有对每个显示模块单元同时执行老化测试的优点的装置。
根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置包括:两个或多个框架,彼此按照恒定距离布置;旋转支撑单元,可旋转地安装在框架上;测试单元,被旋转支撑单元支撑并且测试模块,所述测试单元的每个与一个显示模块结合;功率传输单元,将旋转功率传输到旋转支撑单元;功率供应单元,将功率供应到功率传输单元和测试单元;第一连接单元,被设置在旋转支撑单元的中空轴上,并且电连接到功率供应单元和测试单元;控制器,控制功率传输单元和功率供应单元,并分析测试单元测量的数据。
所述显示模块老化测试装置还可包括包围显示模块老化测试装置的室腔。
所述室腔可包括将显示模块安装到测试单元和从测试单元拆下显示模块的开口。
测试单元可包括在其中心的中空轴,用于相对于旋转支撑单元进行相对旋转运动。
所述显示模块老化测试装置还可包括第二连接单元,第二连接单元电连接到第一连接单元,并且设置在旋转支撑单元上,以对应于测试单元的中空轴。
所述显示模块老化测试装置还可包括辅助功率传输单元,该辅助功率传输单元传输功率,以保持测试单元的水平姿态。
旋转支撑单元具有圆形或椭圆形形状。
所述模块被电连接到功率传输单元或第一连接单元。
所述测试单元可包括:结合单元,显示模块被放置在所述结合单元中;功率供应单元,将功率供应到显示模块;信号供应单元,将信号提供给显示模块;信号传输单元,将显示模块产生的数据传输到控制器。
测试单元可被设置在旋转支撑单元的预定大小的旋转半径上。
测试单元可与旋转支撑单元隔开恒定距离地设置。
第一连接单元被设置在旋转支撑单元的旋转中心上,并且可包括电信号的输入单元和输出单元,以通过旋转轴传输电信号。
控制器产生的电信号和功率供应单元供应的功率通过第一连接单元被传输到测试单元,并且显示模块产生的数据通过第一连接单元被传输到控制器。
一种根据本发明的示例性实施例的老化测试系统可包括两个或多个上述显示模块老化测试装置。
由于测试在设置有测试单元的旋转支撑单元旋转的同时被执行,因此根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置可连续执行测试。因此,测试效率可被提高。
此外,不需要布线,因此由于布线产生的噪声和干扰可被减小,并且信号延迟可被减小。因此,可准确地执行测试。
此外,由于针对每个模块执行测试,因此,具有缺陷的模块不影响其它模块。因此,可更快速和有效地执行测试。
由于测试装置不需要夹具,因此,装置可被简化。因此,容易自动进行测试处理,并且装置的维护可被简化。
尤其是,当提供多个测试单元时,通过自动地装载安装有模块的测试单元,整个测试装置可容易地自动操作。
附图说明
图1是根据本发明的示例性实施例的用于显示模块的显示模块老化测试装置的示意性透视图;
图2是根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置的示意性主视图;
图3是根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置的示意性侧视图;
图4是测试单元的示意性透视图;
图5是根据本发明的示例性实施例的老化测试系统的示意性透视图。
具体实施方式
以下将参照附图更加完全地描述本发明,图中显示了本发明的示例性实施例。本领域技术人员应该理解,在完全不脱离本发明的精神或范围的情况下,可按照多种不同的方式对所描述的实施例进行修改。
因此,附图和描述实质上被认为是阐述性而不是限制性的。相同的标号在说明书中始终指代相同的元件。
在整个说明书和权利要求书中,当描述到一个元件“结合到”另一个元件时,所述元件可“直接结合到”所述另一元件或通过第三元件“电结合到”所述另一元件。另外,除非明确地进行了相反的描述,否则,词语“包括”将被理解为意味着包含所陈列的元件,但是不排除任何其它元件。
将参照图1至图5描述根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置的详细构造。
图1至图3显示了根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置。图1是显示模块老化测试装置的示意性透视图,图2是除了室腔190之外的部分的示意性主视图。在图1中,室腔190被显示为透明的,以描述内部的装置。图3是用于描述第一连接单元160和第二连接单元180的结构的示意性侧视图。
参照图1,根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置包括:框架110、多个测试单元120、旋转支撑单元130、功率传输单元140、功率供应单元150、第一连接单元160(见图3)、控制器170、第二连接单元180(见图3)和室腔190。
框架110固定并支撑安装在其中的组成元件。两个或多个框架110可彼此隔开恒定距离地设置,以同时执行模块的老化和测试。由于框架110应该承受每个组成元件的重量,所以优选地,框架110通过使用金属类材料或刚性聚合物材料制成。此外,优选地,框架110具有实心六面体形状,以稳定地支撑每个组成元件。但是,只要没有功能性问题,框架110可具有锥体形状或四棱六面体形状,并且框架110不必要是实心的。
旋转支撑单元130是一种在支撑多个测试单元120的同时旋转的结构,并且其通过第一连接单元160连接到框架110。虽然不必要这样,但是旋转支撑单元130可按照框架110通过(例如)在链条和链轮之间的连接包围旋转支撑单元130的中心突起的方式被连接到框架110,并且它们之间的连接方式不限于此。旋转支撑单元130是用于测试单元120的旋转运动的组成元件,因此,优选地,旋转支撑单元130具有中心突起,并且是圆形或椭圆形的,中心突起的形状与第一连接单元160的中空轴的形状相同。但是,旋转支撑单元130可具有允许其在支撑测试单元120的同时旋转的任何其它结构。例如,旋转支撑单元130可具有八面体或六面体结构,或者可以是仅具有框架的结构,从而链条可直接连接到框架。旋转支撑单元130从功率传输单元140接收功率并且绕第一连接单元160的轴旋转。优选地,功率传输单元140和旋转支撑单元130具有简单的结构,其中,功率传输单元140的旋转表面直接接触旋转支撑单元130的边缘,以传输功率。但是,例如链条、链轮或者皮带的辅助装置可根据情况(例如,当功率传输单元140和旋转支撑单元130位于彼此难以直接接触的位置时)被选择性地用于功率传输。
测试单元120是在其中放置有显示模块并执行测试的单元,测试单元120通过其中空轴被连接到旋转支撑单元130并且执行老化测试所需的一定时间段的旋转运动。测试单元120可被设置为与旋转支撑单元130隔开相等或随意距离的多个,并且具有足以将具有预定尺寸的多个模块结合在其中的大小。优选地,测试单元120包括绕旋转支撑单元130的中心在旋转半径上彼此按照等距离设置的多个测试装置。
将参照图4描述测试单元120的详细构造。测试单元120可绕其中空轴旋转,以在旋转支撑单元130旋转运动期间保持其水平姿态。测试单元120可直接连接到旋转支撑单元130或者可通过连接构件111连接到旋转支撑单元130,并且测试单元120和旋转支撑单元130之间的连接方法可改变,只要所述连接能够使得测试单元120与旋转支撑单元130一起旋转即可。此外,测试单元120可包括用于传输功率以保持其水平姿态的辅助功率传输单元(未示出)。
第一连接单元160通过第二连接单元180被电连接到测试单元120,并且包括电信号的输入单元161和输出单元163。第一连接单元160被设置在框架110上并且将旋转支撑单元130连接到框架110,同时将其中空轴与旋转支撑单元130的中心突起安装在一起。此外,第一连接单元160通过电信号的输入单元161接收从控制器170产生的信号和从功率供应单元150供应的功率,并且通过电信号的输出单元163将接收到的信号和功率传输到测试单元120。测试单元120产生的信号通过第一连接单元160的输出单元163和输入单元161被传输到控制器170。
第二连接单元180被设置在旋转支撑单元130中,以与测试单元120共享中空轴,从而第二连接单元180可牢固地将测试单元120连接到旋转支撑单元130,并且将第一连接单元160与测试单元120电连接。
第一连接单元160和第二连接单元180可由通过旋转轴传输电信号的集电环(slip-ring)形成。此外,在本发明中,集电环可由通过涂敷有铜(Cu)的银(Ag)制成的材料形成。
功率供应单元150将功率供应到测试单元120、功率传输单元140和控制器170,根据测试装置的电容量,可使用普通的功率供应器。
控制器170提供为测试单元120提供的用于测试的信号,并且控制功率传输单元140。此外,控制器170接收测试单元120测量的数据,并且确定测试是否无差错地进行。控制器170可包括额外的显示装置(未示出),以便于用户直接检查测试过程。
功率传输单元140供应用于旋转支撑单元130的旋转运动的功率,并且包括DC或AC电机和用于传输功率的器件,例如,皮带、链条、齿轮或链轮。功率传输器件根据功率传输单元140和旋转支撑单元130的相对位置和形状被选择性地使用。
室腔190形成为包围框架110以及每个组成元件,并且包括用于将显示模块安装到测试单元120上或者从测试单元120上拆下显示模块的开口191。室腔190被设置为用于保护每个组成元件,并且可具有执行需要的功能的任何形状。
图4是测试单元120的详细示意性透视图。根据本发明的示例性实施例的测试单元120包括结合单元123、端子单元121、功率提供单元(未示出)、信号供应单元(未示出)和信号传输单元(未示出)。
结合单元123将显示模块与测试单元120结合,并且根据目标测试模块的形状,结合单元123可具有各种形状。目标测试模块通常形成为六面体形状,因此,结合单元123可形成为图4所示的结合凹槽,并且目标测试模块可放置于其中。
端子单元121由第一端子1211、第二端子1213和第三端子1215形成,其中,第一端子1211用于连接模块和功率传输单元,第二端子1213用于连接所述模块和信号供应单元,第三端子1215用于连接所述模块和信号传输单元。
由导电材料制成的焊盘可被用作每个端子1211、1213和1215,并且根据模块的结构可使用例如插脚(pin)或导电橡胶的各种接口。
功率提供单元和信号供应单元分别由用于对信号进行处理和整流的电路形成,并且对控制器170和功率供应单元150供应的信号和功率进行重新处理和整流,并且将重新处理和整流后的信号和功率供应到每个模块。信号传输单元由信号处理电路形成,并且根据测试将模块产生的数据传输到控制器170。
如上所述,由于功率和信号可被分别供应到每个模块,因此在输入信号中产生的不必要的噪声可被最小化。因此,测试可更加准确。此外,与母基底单元测试不同,由于当模块中产生错误时,可选出具有错误的模块,因此,该测试的效率可被进一步提高。
现在将描述根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置的操作方法以及其相关优点。
首先,目标测试模块通过室腔190的开口191依次被安装在测试单元120上。接着,当功率通过控制器170被供应到功率供应单元150时,功率和信号在旋转支撑单元130以恒定的速度旋转的同时通过功率输送单元140被输入到模块。在预定时间段内经过老化测试的模块通过开口191退出并且被输送到下一制造工序,并且新的模块通过开口191被安装在测试单元120上。由于用于将每个模块安装在测试单元120上的时间互不相同,因此测试完成时间也互不相同。因此,除了一开始模块被安装在整个测试单元120上之外,输送完成测试的模块和安装新模块的整个过程是连续的,从而模块测试效率可被显著地提高。因此,与母基底不同,模块在旋转的同时进行老化和测试,并且因为每个模块的尺寸不大于母基底的尺寸,所以模块可被竖直旋转,从而根据本发明的示例性实施例的测试装置可被安装在相对小的区域内。
将参照图5描述根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置形成的系统。
图5显示了根据本发明的示例性实施例的由最小化的单元形成的老化测试系统的示意性透视图。
根据本发明的示例性实施例的老化测试系统200由两个或多个显示模块老化测试装置100形成。每个显示模块老化测试装置100彼此错开地叠置,使得开口191可向外敞开。由于每个模块可通过开口191安装和拆卸,所以除了开口191之外,显示模块老化测试装置100可彼此完全叠置,因此,在小空间中可设置大量测试装置。因此,可进一步有效地执行同步老化测试。
实验示例
以下,可以将传统母基底单元测试方法与根据本发明的示例性实施例的测试方法进行对比。
首先,在传统母基底单元测试方法的情况下,老化一个母基底平均需要2.5小时,而对老化完成后的母基底进行测试平均需要0.5小时。也就是说,老化和测试一个母基底需要3小时,而当连续进行24小时测试时,在一个测试装置中可测试8个母基底。当设备利用率被设置为85%并且工作日被设置为30时,一个月每个测试装置可老化和测试204个母基底。
接着,将描述通过使用根据本发明示例性实施例的模块专用老化测试装置进行的老化测试方法。老化安装到一个测试单元上的模块平均需要30分钟,而测试和更换安装到一个测试单元上的模块平均需要10分钟。因此,虽然测试第一测试单元需要40分钟,而在第一测试单元之后,后续的测试单元的测试和安装被连续地执行,因此,应该明白用于测试和安装的时间仅为10分钟。虽然测试单元的数量和安装到一个测试单元上的模块的数量会导致不同,但是以在移动装置中广泛使用的1.6至4英寸的模块作为参照。通常,测试装置包括7个测试单元,并且一个母基底的模块可被安装到一个测试单元上,因此,处理模块需要1.67小时。因此,当设备利用率被设置为85%并且工作日被设置为30时,一个月一个测试装置可处理大约500个母基底。尤其是,与母基底单元测试方法相比,根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置占据更小的空间,因此,当通过连接多个测试装置来形成系统时,测试可更加有效地被执行。
虽然与考虑具有缺陷的模块影响周围的模块的传统方法不同,在所述计算中没有考虑这些,但是每个模块可被独立地供应功率和信号,因此,当通过利用根据本发明的示例性实施例的装置来执行测试时,测试可无差错或延迟地被执行。
虽然已经结合当前被认为是实际的示例性实施例描述了本发明,但是应该理解本发明不限于所公开的实施例,而是,相反地,本发明意图覆盖权利要求的精神和范围中包括的各种修改和等同布置。
Claims (14)
1.一种显示模块老化测试装置,包括:
两个或多个框架,彼此按照恒定距离布置;
旋转支撑单元,可旋转地安装在框架上;
测试单元,被旋转支撑单元支撑并且测试模块,所述测试单元的每个与一个显示模块结合;
功率传输单元,将旋转功率传输到旋转支撑单元;
功率供应单元,将功率供应到功率传输单元和测试单元;
第一连接单元,被设置在旋转支撑单元的中空轴上,并且电连接到功率供应单元和测试单元;
控制器,控制功率传输单元和功率供应单元,并分析测试单元测量的数据,
其中,测试单元与旋转支撑单元一起旋转。
2.如权利要求1所述的显示模块老化测试装置,还包括包围显示模块老化测试装置的室腔。
3.如权利要求2所述的显示模块老化测试装置,其中,所述室腔包括将显示模块安装到测试单元和从测试单元拆下显示模块的开口。
4.如权利要求2所述的显示模块老化测试装置,其中,测试单元包括在其中心的中空轴,从而相对于旋转支撑单元进行相对旋转运动。
5.如权利要求4所述的显示模块老化测试装置,还包括第二连接单元,第二连接单元电连接到第一连接单元,并且设置在旋转支撑单元上,以对应于测试单元的中空轴。
6.如权利要求4所述的显示模块老化测试装置,还包括辅助功率传输单元,该辅助功率传输单元传输功率,以保持测试单元的水平姿态。
7.如权利要求1所述的显示模块老化测试装置,其中,旋转支撑单元具有圆形或椭圆形形状。
8.如权利要求1所述的显示模块老化测试装置,其中,所述模块被电连接到功率传输单元或第一连接单元。
9.如权利要求1所述的显示模块老化测试装置,其中,至少一个测试单元包括:
结合单元,显示模块被放置在所述结合单元中;
功率提供单元,将功率供应到显示模块;
信号供应单元,将信号提供给显示模块;
信号传输单元,将显示模块产生的数据传输到控制器。
10.如权利要求1所述的显示模块老化测试装置,其中,测试单元被设置在旋转支撑单元的预定大小的旋转半径上。
11.如权利要求10所述的显示模块老化测试装置,其中,测试单元与旋转支撑单元隔开恒定距离地设置。
12.如权利要求2所述的显示模块老化测试装置,其中,被设置在旋转支撑单元的旋转中心上的第一连接单元包括电信号的输入单元和输出单元,以通过旋转轴传输电信号。
13.如权利要求12所述的显示模块老化测试装置,其中,控制器产生的电信号和功率供应单元供应的功率通过第一连接单元被传输到测试单元,并且显示模块产生的数据通过第一连接单元被传输到控制器。
14.一种包括两个或多个如权利要求1至13的任一项所述的显示模块老化测试装置的老化测试系统。
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