KR20060081295A - 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및테스트 방법 - Google Patents

공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및테스트 방법 Download PDF

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KR20060081295A
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Abstract

공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비가 제공된다. 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비는 액정 패널을 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지로 이동시키는 로더, 이동된 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션 유닛과 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍 유닛을 포함하는 인-시츄(in-situ) 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지, 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지에 위치하는 액정 패널을 외부로 이동시키는 언로더를 포함한다.
또한, 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 방법이 제공된다.
액정 표시 장치, 테스트, 비쥬얼 인스펙션, 레이저 트리밍

Description

공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및 테스트 방법{Apparatus for testing liquid crystal display to simplify process and method thereof}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 단계를 나타낸 순서도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 제조 과정을 나타낸 순서도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비의 블록도이다.
도 4는 도 3의 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지의 사시도이다.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)
200 : 액정 표시 장치의 테스트 설비 202 : 로더
204 : 제1 카세트
210 : 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지
220, 260 : 로딩/언로딩 테이블 230 : 비쥬얼 인스펙션 유닛
240 : 레이터 트리밍 유닛 250 : 외관 테스트 유닛
272 : 언로더 274 : 제2 카세트
본 발명은 액정 표시 장치의 테스트 설비 및 테스트 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 공정을 단순화할 수 있는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및 테스트 방법을 제공하는 것이다.
액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 외부에서 인가되는 전압에 의해 배열 방향이 변화되는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 가진 액정층을 포함한다. 액정 표시 장치는 액정층에 전압을 인가하고, 이 전압의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 문자, 숫자, 임의의 아이콘 등의 화상을 표시한다.
액정 표시 장치는 평판 표시 장치(Flat Panel Display; FPD) 중에서 대표적인 것으로서, 음극선관에 비해 소형, 경량화 및 저소비전력 등과 같은 장점이 있다. 따라서, 액정 표시 장치는 이와 같은 특유의 장점으로 인하여 산업 전반 예를 들어, 컴퓨터 산업, 전자 산업, 정보 통신 산업 등에 폭넓게 응용되고 있다. 또한, 액정 표시 장치는 휴대용 컴퓨터의 디스플레이 장치 및 데스크 톱 컴퓨터의 모니터, 고화질 영상 기기의 모니터 등의 폭넓은 분야에도 다양하게 적용되고 있다.
구동방식을 기준으로 구분하면 액정 표시 장치는 스위칭 소자 및 TN(Twisted Nematic) 액정을 이용한 액티브 매트릭스(active matrix) 표시 방식과 STN(Super-Twisted Nematic) 액정을 이용한 패시브 매트릭스(passive matrix) 표시 방식이 있다. 액티브 매트릭스 표시 방식은 TFT(Thin Film Transistor)를 스위치로 이용하여 LCD를 구동하는 방식이며, 패시브 매트릭스 표시방식은 트랜지스터를 사용하지 않기 때문에 이와 관련한 복잡한 회로가 불필요하다. 최근에는 휴대용 컴퓨터의 보급에 따라 액티브 매트릭스 표시 방식이 널리 사용되고 있다.
액티브 매트릭스 표시 방식의 액정 표시 장치는 TFT 어레이(array) 기판과 컬러 필터(color filter) 기판으로 구성된 액정 패널, 액정 패널에 소정의 화상이 표시되도록 제어 신호를 제공하는 구동 IC(Integrated Circuit), 액정 패널을 백라이트(backlight)하는 백라이트 유닛(Back Light Unit; BLU) 등으로 구성된다.
이러한 액정 표시 장치는 다수 개의 공정 단계를 거쳐 제조되며, 각 공정 단계마다 반제품 또는 완성품의 품질을 판정하는 테스트가 진행된다. 일반적으로 액정 표시 장치의 테스트는 크게 TFT 어레이(array) 테스트, 액정 패널 테스트, 모듈(module) 테스트 단계로 나눌 수 있다. 특히, 액정 패널 테스트는 다수 개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 게이트 라인 및/또는 데이터 라인의 불량 여부를 검사하는 비쥬얼 인스펙션(visual inspection) 단계와 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍(laser trimming) 단계를 포함한다. 비쥬얼 인스펙션 단계는 ATS(Auto Test System)를 이용하여 테스트를 자동으로 실시하며, 레이저 트리밍 단계는 ATS와는 별도로 레이저 트리머(laser trimmer)를 이용하여 쇼팅바를 제거하게 된다.
이와 같이 테스트를 다수 회 실시하게 되면 양질의 액정 표시 장치를 제조할 수 있으나, 설비 투자비가 증가하고 설비 공간의 확보가 필요하게 된다. 또한, 설비의 증가로 작업 인력이 증가되고, 인건비 상승으로 인해 전체 제조 원가가 상승 된다. 뿐만 아니라, 인력 증가에 따른 인력 관리의 어려움도 증가하게 된다. 따라서, 테스트의 수준은 유지하면서도 테스트의 단계를 줄일 필요가 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 공정을 단순화할 수 있는 액정 표시 장치의 테스트 설비를 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 공정을 단순화할 수 있는 액정 표시 장치의 테스트 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비는 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비는 액정 패널을 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지로 이동시키는 로더, 이동된 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션 유닛과 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍 유닛을 포함하는 인-시츄(in-situ) 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지, 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지에 위치하는 액정 패널을 외부로 이동시키는 언로더를 포함한다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은 액정 패널을 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스 테이지로 이동시키는 로더, 이동된 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션 유닛과 상기 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍 유닛을 포함하는 인-시츄(in-situ) 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지, 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지에 위치하는 액정 패널을 외부로 이동시키는 언로더를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 설비를 제공하는 단계, 비쥬얼 인스펙션 유닛을 이용하여 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션을 수행하는 단계, 레이저 트리밍 유닛을 이용하여 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍을 수행하는 단계를 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 단계를 나타낸 순서도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트는 액정 표시 장치의 제조 과정에 따라 TFT 어레이 테스트(S10), 액정 패널 테스트(S20), 모듈 테스트(S30)로 구분할 수 있다.
TFT 어레이 테스트(S10)는 TFT 어레이 기판의 제조 공정에서의 결함을 검출하여 리페어(repair) 여부 및 다음 공정으로의 진행 여부를 결정한다. 일반적으로, TFT 어레이 테스트(S10)는 제조 원가의 절감을 위해서 가능한 제조 공정의 앞단에서 행한다. 이로써 액정 패널의 원가에 큰 비중을 차지하는 컬러 필터가 결함이 있는 TFT 어레이 기판과 합착되어 낭비되는 일없이 유효하게 사용될 수 있다.
액정 패널 테스트(S20)는 모듈 제조 단계로의 진행 여부를 결정하며, 액정 표시 장치의 총원가의 1/2 내지 1/3을 점하는 구동 IC(Integrated Circuit)와 백 라이트 유닛(Back Light Unit; BLU)의 손실을 방지할 수 있다. 액정 패널 테스트(S20)는 TFT 어레이 테스트(S10) 중 전기적 테스트를 위해 사용되는 쇼팅바를 이용하여 액정 패널에 흑백 화상을 디스플레이하는 테스트와, 쇼팅바를 제거한 후 모든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이하는 테스트 등으로 이루어진다.
모듈 테스트(S30)는 모듈화된 액정 패널 즉, 액정 표시 장치의 최종 테스트로서 완제품의 출하 전 그 품질을 마지막으로 담보한다는 의미에서 이전의 테스트와는 다른 중요성을 갖는다. 모듈 테스트(S30)는 백라이트 유닛 등이 조립되기 전 OLB(Out Lead Bonding), 탭 솔더링(tab soldering) 후 구동 IC 등이 장착된 상태에서 풀 컬러를 디스플레이하는 테스트와, 초기 불량 검출 목적의 에이징(aging)과, 액정 표시 장치의 완성품에 대해 최종적으로 풀컬러를 디스플레이하는 테스트 등으 로 이루어진다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 제조 과정을 나타낸 순서도이다.
도 2를 참조하면, 액정 패널의 제조 공정(20)은 배향막(alignment layer) 인쇄 공정(S110, S111), 러빙(rubbing) 공정(S115, S116), 스페이싱(spacing) 공정(S120), 실링(sealing) 공정(S125), 쇼팅(shorting) 공정(S130), 기판 어셈블리(assembly) 공정(S140), 커팅(cutting) 공정(S145), 액정 주입 및 주입구 봉지 공정(S150), 비쥬얼 인스펙션 및 레이저 트리밍(visual inspection & laser trimming) 공정(S160), 외관 테스트(S170), 편광판 부착 공정(S175), 에지 그라인드(edge grind) 공정(S180), 그로스 테스트(gross test; S185) 등의 세부 공정 단계를 포함한다.
배향막 인쇄 공정(S110, S111)은 TFT 어레이 기판 및 컬러 필터 기판의 화소 전극 및 공통 전극 상에 균일한 배향막을 형성시키는 공정이다. 배향막 인쇄(S110, S111)와 후술할 러빙 공정(S115, S116)에 의한 표면 처리 상태에 따라 액정 패널의 전기광학적 특성이 좌우된다. 배향막은 ITO(Indium Tin Oxide) 등과 우수한 접착 특성을 가져야 하고, 200℃ 이하에서 1000Å 이하의 균일한 두께로 형성되어야 한다. 또한, 화학적 안정성이 높아 액정과의 반응이 없어야 하고, 전기적 특성은 차지 트랩(charge trap)이 없어야 하며, 비저항이 충분히 높아 액정 셀의 동작에 영향이 없어야 한다.
배향막 인쇄 공정(S110, S111) 후에는 배향막 상에 핀홀(pinhole)이 발생했 는지 여부와 배향막의 두께를 측정하는 테스트를 하는 것이 바람직하다.
러빙 공정(S115, S116)은 면이나 나일론계의 섬유가 식모된 부드러운 천으로 배향막을 한방향으로 러빙하여 이후 주입되는 액정의 분자들이 배향막 표면에서 일정 방향으로 배열되도록 한다.
러빙 공정(S115, S116) 후에는 쓸림 현상이 발생했는지 여부를 확인하는 테스트를 하는 것이 바람직하다. 배향막이 불균일하게 배향되면, 국소적으로 서로 다른 전기 광학적 특성이 나타나 액정 표시 장치의 화면에서 얼룩으로 나타나기 때문이다.
스페이싱 공정(S120)은 TFT 어레이 기판 및 컬러 필터 기판 사이의 셀 갭(cell gap)을 일정하게 유지시키기 위해 TFT 어레이 기판(또는 컬러 필터 기판) 상에 스페이서(spacer)를 산포하는 공정이다. 스페이서의 산포는 용매에 스페이서를 혼합하여 분사하는 습식법과 공기 또는 질소 가스등을 이용하는 건식법을 사용할 수 있다.
스페이싱 공정(S120) 후에는 스페이서의 산포도, 밀도를 측정하는 것이 바람직하다.
실링 공정(S125)은 컬러 필터 기판 상에 실 패턴(seal pattern)을 화상이 표시되는 액티브(active) 영역 주변에 열 경화성 수지를 이용하여 주머니 형태로 형성하는 공정이다. 실 패턴의 형성 방법은 스크린 마스크(screen mask)로 인쇄하는 방법과 이동할 수 있는 실런트 디스펜서(sealant dispenser)를 이용하는 방법이 있다.
실링 공정(S125)후에는 실 패턴의 폭(width)과 두께(height)를 측정하는 것이 바람직하다.
쇼팅 공정(S130)은 실버 페이스트(silver paste)와 같은 쇼팅용 도전 물질로 디스펜서(dispenser)를 이용하여 실 패턴의 외부에 쇼트(short)를 형성하는 공정이다. 여기서, 쇼트는 공통 화소 전극과 TFT 어레이 기판의 패드 사이에 형성되어 액정 패널의 구동 신호가 TFT 어레이 기판으로 공급되도록 하기 위한 전기적인 연결 통로로 사용된다.
쇼팅 공정(S130)에서는 쇼트의 크기가 중요한 측정 요소이다. 쇼팅용 도전 물질은 액정을 오염시킬 수 있기 때문에 가급적 그 크기를 작게 형성하는 것이 바람직하다.
기판 어셈블리 공정(S140)은 TFT 어레이 기판과 컬러 필터 기판을 정렬시킨 후 열 압착(hot press)에 의해 실 패턴(seal pattern)을 형성하고 있는 실런트(sealant)를 경화시켜 두 기판을 합착시키는 공정이다. 두 기판의 합착에 허용되는 정렬(alignment) 오차는 각 기판의 설계시 주어지는 마진(margine) 등에 의해 결정되고, 통상적으로 셀 갭 수준이 5um 정도이다.
기판 어셈블리 공정(S140)후에는 미스얼라인(missalign)되었는지 여부를 테스트하는 것이 바람직하다.
커팅 공정(S145)은 실런트의 경화에 의해 합착됨으로써 형성된 기판 어셈블리를 제품 단위로 절단하는 공정이다. 다이아몬드 재질의 펜으로 글래스 표면에 절단선(cutting line)을 형성하는 스크라이브(scribe) 공정과 기판 어셈블리에 물리 적 충격을 가해 이를 제품 단위로 분리하는 브레이크(break) 공정으로 나뉘어 진다.
커팅 공정(S145)후에는 커팅 상태를 테스트하는 것이 바람직하다.
액정 주입 및 주입구 봉지 공정(S150)은 액정 패널을 구성하는 TFT 어레이 기판과 컬러 필터 사이의 공간(cell gap)에 액정을 주입한 후, 주입된 액정이 유출되지 않도록 주입구를 봉지하는 공정이다. 이로써, 동작 가능한 액정 패널이 완성된다. 액정의 주입에는 셀 내부를 진공으로 만든 후 외부와의 압력 차를 이용하여 액정을 주입하는 진공 주입법이 가장 널리 이용된다. 주입구 봉지는 자외선 경화 수지를 디스펜서(dispenser)로 사용하여 주입구에 주입하고 자외선 조사하여 이루어진다.
액정 주입 및 주입구 봉지 공정(S150)은 액정이 주입되지 않는 영역이 있는지 여부를 테스트하고, 자외선 경화 수지의 침투 거리, 셀 갭 등이 주된 측정 요소이다.
비쥬얼 인스펙션 및 레이저 트리밍 공정(S160)은 액정 패널에 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트 라인 및/또는 데이터 라인의 불량 여부를 검사(비쥬얼 인스펙션(visual inspection))하고, 레이저를 이용하여 쇼팅바를 제거(레이저 트리밍(laser trimming))하는 공정이다. 여기서, 흑백 상태의 화상은 다수 개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 흑백 화상은 CCD(Charge-Coupled Device) 카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부을 확인하는 데 이용된다.
종래의 경우에는 액정 표시 장치의 테스트 설비, 가령 ATS(Auto Test System)을 이용하여 비쥬얼 인스펙션을 실시하고, 이후 후술할 편광판 부착 공정, 에지 그라인드 공정 후에 레이저 트리머(laser trimmer)를 이용한 레이저 트리밍 공정을 순차적으로 실시하였다. 여기서, 종래의 ATS 설비는 액정 패널의 로딩(loading), 액정 패널의 OCR(Optical Character Reader) 리딩(reading), 비쥬얼 인스펙션, 외관 테스트, 언로딩(unloading)의 순서로 테스트한다. 여기서, OCR 리딩의 경우에는 해상도가 낮은 CCD(Charge Coupled Device) 카메라를 사용하고, 비쥬얼 인스펙션은 해상도가 높은 CCD 카메라를 사용한다. 또한, 레이저 트리머는 액정 패널의 로딩, 레이저와 액정 패널과의 얼라인(align), 레이저 트리밍, 언로딩의 순서로 테스트한다. 이와 같이, 종래의 경우에는 비쥬얼 인스펙션과 레이저 트리밍 공정이 별개의 설비에서 진행되었다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비, 가령 ATS는 종래의 그것보다 구조 및 기능이 효율적으로 개선되어 비쥬얼 인스펙션 후에 바로 레이저 트리밍 공정을 할 수 있다. 보다 구체적으로는, ATS 설비에서 OCR 리딩용 CCD 카메라를 제거하고, 비쥬얼 인스펙션용 CCD 카메라로 OCR 리딩 및 비쥬얼 인스펙션을 진행하고, 레이저를 이용하여 쇼팅바를 제거한다. 이러한 경우, 레이저 트리밍을 위한 별도의 로딩, 얼라인(align), 언로딩 과정이 생략되므로, 즉 인-시츄(in-situ) 상태에서 공정이 진행되므로 공정 시간이 줄어들고, 설비 공간이 줄어들게 된다. 또한, 인력 감소로 인한 인건비 절감 효과가 발생하고, 택트 타임(tact time)의 감소 및 적절한 LIPAS(Line Item Performance Against Schedule) 대응이 가능하다. 여기서, 택트 타임은 하나의 액정 패널이 제조되는 시간이고, LIPAS는 입고 계획에 대한 라인 항목별 성과로써 테스트 계획의 종목(item)별 입고 적중률을 의미한다.
외관 테스트(S170)는 액정 패널의 외관의 파손 여부 등을 검사하는 단계이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비는 외관 테스트 유닛을 더 포함할 수 있다.
편광판 부착 공정(S175)은 비쥬얼 인스펙션 및 레이저 트리밍(S180) 및 외관 테스트(S170) 등을 통과한 양품의 액정 패널의 양쪽면에 편광판을 부착하는 공정이다. 편광판 부착 공정(S175)은 편광판의 접착제면의 보호막을 제거하고, 액정 패널의 정해진 위치에 편광판을 얼라인(align)하여 부착하고 압력을 가해 문지르는 공정으로 이루어진다.
편광판 부착 공정(S175)후에는 공정 중에 발생될 수 있는 정전기에 의한 액정 패널의 손상 여부 및 이물질의 혼입 여부를 측정하는 것이 바람직하다.
에지 그라인드 공정(S180)은 액정 패널의 절단된 면을 연마하여 부드럽게 하는 공정이다. 에지 그라인드 공정(S180)에서는 연마량을 측정한다.
그로스 테스트(S185)는 백라이트 유닛 및 구동 IC들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정 패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 것을 의미한다. 그로스 테스트(S185)에서는 도트/화소의 불량 여부를 판단하기 위해 주로 R(red), G(green), B(blue), W(white) 패턴(pattern)을 사용한 다.
그로스 테스트(S185)에서는 컬러(color) 상태의 화질을 테스트하고, 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부을 검사하게 된다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비의 블록도이다. 도 4는 도 3의 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지(210)의 사시도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비(200)는 로더(loader; 202), 인-시츄(in-situ) 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지(210), 언로더(unloader; 272) 를 포함한다.
로더(202)는 다수 개의 액정 패널이 위치하는 제1 카세트(202)에서 액정 패널을 꺼내 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지(210)로 이동시킨다.
인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지(210)는 비쥬얼 인스펙션, 레이저 트리밍, 외관 테스트를 진행한다. 이들 공정을 수행하기 위해, 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지(210)는 턴 테이블(215) 상부에 로딩/언로딩 테이블(220, 260), 비쥬얼 인스펙션 유닛(230), 레이저 트리밍 유닛(240), 외관 테스트 유닛(250)이 구비된다.
로더(202)에 의해 로딩/언로딩 테이블(220)에 올려진 액정 패널은 턴 테이블(215)이 회전되면서 비쥬얼 인스펙션 유닛(230)로 이동된다. 비쥬얼 인스펙션 유닛(230)는 우선 OCR을 리딩하고, 쇼팅바에 소정의 전압을 인가한 상태에서 흑백의 화질을 테스트하는 비쥬얼 인스펙션을 수행한다. 그 후, 레이저 트리밍 유닛(240)를 이용하여 비쥬얼 인스펙션에서 사용된 쇼팅바를 제거한다. 마지막으로 외관 테스트 유닛(250)은 액정 패널 외관의 손상 여부를 검사한다.
여기서, 비쥬얼 인스펙션 유닛(230)은 CCD(Charge Coupled Device) 카메라를 포함하고, 레이저 트리밍 유닛(240)은 레이저를 포함한다.
언로더(272)는 테스트를 마친 액정 패널을 외부로 이동시킨다. 여기서, 언로더(272)는 액정 패널을 제2 카세트(274)로 이동시켜, 동시에 다수 개의 액정 패널을 외부로 이동할 수 있도록 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비의 경우에는 비쥬얼 인스펙션 후에 바로 레이저 트리밍 공정을 할 수 있다. 즉, 테스트 설비는 OCR 리딩용 CCD 카메라를 별도로 설치하지 않고 비쥬얼 인스펙션용 CCD 카메라로 OCR 리딩 및 비쥬얼 인스펙션을 진행하고, 레이저를 이용하여 쇼팅바를 제거한다. 즉, 비쥬얼 인스펙션 및 레이저 트리밍 공정을 동일한 설비 내에서 인-시츄(in-situ) 상태에서 수행할 수 있다. 이러한 경우, 레이저 트리밍을 위한 별도의 로딩, 얼라인(align), 언로딩 과정이 생략되므로 공정 시간이 줄어들고, 설비 공간이 줄어들게 된다. 또한, 인력 감소로 인한 인건비 절감 효과가 발생하고, 택트 타임(tact time)의 감소 및 LIPAS(Line Item Performance Against Schedule) 대응이 가능하다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 테스트 설비에 따르면 다음과 같은 효과가 하나 혹은 그 이상 있다.
첫째, 비쥬얼 인스펙션과 레이저 트리밍을 하나의 설비로 진행함으로써, 공정 시간 및 설비 공간을 줄일 수 있다.
둘째, 인력 감소로 인한 인건비 절감 효과가 발생한다.
셋째, 택트 타임의 감소 및 적절한 LIPAS 대응이 가능하다.

Claims (5)

  1. 액정 패널을 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지로 이동시키는 로더;
    상기 이동된 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션 유닛과 상기 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍 유닛을 포함하는 인-시츄(in-situ) 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지; 및
    상기 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지에 위치하는 상기 액정 패널을 외부로 이동시키는 언로더를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 설비.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 비쥬얼 인스펙션 유닛은 CCD(Charge Coupled Device) 카메라를 포함하고, 상기 레이저 트리밍 유닛은 레이저를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 설비.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지는 액정 패널의 외관의 손상 여부를 검사하는 외관 테스트 유닛을 더 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 설비.
  4. 액정 패널을 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지로 이동시키는 로더, 상기 이동된 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션 유닛과 상기 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍 유닛을 포 함하는 인-시츄(in-situ) 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지, 상기 인-시츄 테스트 및 레이저 트리밍 스테이지에 위치하는 상기 액정 패널을 외부로 이동시키는 언로더를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 설비를 제공하는 단계;
    상기 비쥬얼 인스펙션 유닛을 이용하여 액정 패널의 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 흑백 상태의 화질을 검사하는 비쥬얼 인스펙션을 수행하는 단계; 및
    상기 레이저 트리밍 유닛을 이용하여 상기 쇼팅바를 제거하는 레이저 트리밍을 수행하는 단계를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 비쥬얼 인스펙션 유닛은 액정 패널의 OCR(Optical Character Reader) 리딩을 더 수행하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.
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