KR101149049B1 - 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 평판 디스플레이 패널에 발생된 불량화소를 레이저를 이용하여 리페어하기 위한 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치는 단계적으로 회전하면서 리페어 작업이 이루어지는 회전스테이지(110);
리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널(P)을 회전스테이지(110)에 올려놓는 제1픽커(120);
회전스테이지(110)의 상부로 출몰을 반복하면서 제1픽커(120)가 올려놓은 평판 디스플레이패널(P)을 일정위치로 정렬시키는 얼라인부재(130);
1단계 회전된 회전스테이지(110)에 놓여진 얼라인된 평판 디스플레이패널(P)의 위치를 정밀검색하는 얼라인카메라(140);
얼라인카메라(140)로부터 평판 디스플레이패널(P)의 위치 보정정보를 부여받아 평판 디스플레이패널(P)의 컨택위치에 대응되도록 위치가 미세조정되며, 2단계 회전된 회전스테이지(110)에 놓여진 상기 평판 디스플레이패널(P)에 레이저를 조사하여 이물이 존재하는 영역을 암점화하는 레이저 리페어유닛(150);
상기 레이저 리페어 유닛(150)으로부터 평판 디스플레이패널(P)의 정보를 부여받아 3단계 회전된 회전스테이지(110)에 놓여진 리페어된 평판 디스플레이패널(P)을 양품과 불량품으로 선별하여 배출하는 제2픽커(160)를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.

Description

평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치{Apparatus for repairing flat panel display}
본 발명은 평판 디스플레이 패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 평판 디스플레이 패널에 발생된 불량화소를 레이저를 이용하여 리페어하기 위한 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치에 관한 것이다.
일반적으로 평판 디스플레이 패널(FDP)은 사용되는 물질을 기준으로 하여 무기물을 사용하는 패널과 유기물을 사용하는 패널로 구분된다. 무기물을 사용하는 패널에는 형광체로 PL(Photo Luminescence)을 이용하는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, Plasma Display Panel)과 CE(Cathode Luminescence)를 이용한 전계방출 표시패널(FED, Field Emission Display) 등이 있고, 유기물을 사용하는 패널에는 평판 디스플레이패널(LCD, Liquid CrystalDisplay) 및 유기발광 표시패널(OLED, Organic Light Emitting Display) 등이 있다.
이러한 평판 디스플레이 패널은 액체의 유동성과 결정의 광학적 성질을 겸비하는 액정에 전계를 가하여 광학적 이방성을 변화시키는 것으로서, 종래 음극선관(CRT, Cathode Ray Tube)에 비해 소비전력이 낮고, 부피가 작으며 대형화가 가능하여 널리 사용되고 있다.
상기와 같은 평판 디스플레이패널은 보통 기판 세정, 패턴 형성, 배향막 형성, 기판 합착, 액정 주입 및 테스트 공정에 의해서 제조된다.
구체적으로 살펴보면, 기판 세정 공정에서는 기판에 발생하는 이물질을 세정 제거하여 기판을 준비하고, 패턴형성 공정에서는 상부 기판상에 블랙 매트릭스, 컬러필터층 및 공통전극을 형성함과 함께 하부 기판상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막 트랜지스터 및 화소 전극을 형성한다.
그리고, 배향막 형성, 기판 합착 및 액정 주입 공정에서는 상, 하부 기판의 각종 패턴 상에 배향막을 인쇄하고 러빙처리하며, 실런트를 이용하여 상, 하부 기판을 합착한 후, 상,하부 기판 사이에 액정을 주입하고 액정주입구를 봉지한다.
마지막으로, 테스트 공정에서는 기판상의 게이트 배선 및 데이터 배선을 구동시키기 위한 드라이브 IC의 동작상태를 테스트하고 불량 화소를 검출하게 된다.
평판 디스플레이패널은 상기와 같은 공정에 의해 계속되는 제조라인을 따라 진행하게 되는데, 상기 테스트 공정에서 평판 디스플레이패널이 불량으로 판정되는 경우가 있다. 특히, 화소의 불량에는 화소 영역별 색상 불량, 항상 백색을 표시하는 휘점 불량, 항상 블랙을 표시하는 암점불량 등의 포인트 디펙트(point defect)와, 인접한 데이터 배선 간의 단락으로 인해 발생하는 라인 디펙트(linedefect) 등이 있다.
만일, 포인트 디펙트가 발견되면 포인트 디펙트가 발견된 단위 화소를 암점화시키는 리페어 과정을 수행하여 제품을 양품화시킬 수 있다. 이는, 레이저를 이용하여 배선을 단락시켜 플로팅시켜 화소 전극에 데이터 신호가 인가되지 않도록 함으로써 해당 화소를 암점화시키는 방법으로서, 하나의 단위 화소에 불량이 발생할 경우 그 점이 암점(흑)이면 주위 화소가 백(白)표시인 경우 눈에 띄지 않지만, 그 점이 휘점(백)이면 주위 화소가 흑(黑)표시인 경우 심하게 눈에 띄게 되므로 불량 화소에 대해서 암점화시키는 것이 유리한 것에 착안한 것이다.
종래의 불량화소를 암점화시켜 리페어하는 방법은 평판 디스플레이패널에 대하여 이물질에 의한 휘점 불량을 검사한 다음 상기 이물질이 확인된 부분에서 상기 편광판에 대하여 레이저를 조사하고 편광판의 국부적인 부분을 불투명영역으로 형성함으로써, 휘점 불량이 발생된 부분의 편광판을 불투명영역, 즉 암점으로 만들어 평판 디스플레이패널의 휘점 불량을 리페어하도록 하고 있다.
이를 위한 종래의 레이저 리페어장치는 수평방향으로의 투형시 X축 및 Y축 방향으로 이동가능하며 평판 디스플레이패널이 놓여지는 스테이지와, 레이저빔을 통해 스테이지에 놓여진 평판 디스플레이패널을 리페어하는 레이저 조사기와, 스테이지의 하부에 마련되어 레이저 조사기로 빛을 전달하는 광공급부로 이루어져 있다.
이에, 로봇에 의해 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널이 스테이지 상에 안착되면, 고정된 레이저 조사기의 수직 방향 하부로 평판 디스플레이패널의 불량영역이 배치될 수 있도록 스테이지는 X축 및 Y축 방향으로 이동하여 그 위치를 결정한다. 이때는, 광공급부로부터 전달된 빛에 의해 레이저 조사기에서 평판 디스플레이패널의 불량영역을 모니터링 함으로써 스테이지의 이동위치를 조절한다.
이와 같이 스테이지의 X-Y 방향 이동에 의해 리페어 대상의 평판 디스플레이패널의 위치가 정해지면, 레이저 조사기에서 투사된 레이저빔에 의해 불량영역(A)의 일정부위가 절단되면서 불량인 평판 디스플레이패널은 양품으로 리페어된다.
그러나, 이러한 종래의 평면디스플레이 리페어장치는 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널이 이동하면서 리페어되기 때문에 다음 평판 디스플레이패널이 스테이지에 올려질 때마다 스테이지의 위치를 매번 원위치시켜야 하므로, 스테이지의 이동 영역이 커지게 되면서 검사시간이 많이 소요되고 소비전력도 크다는 문제점이 있다.
아울러 정확성도 떨어질 수밖에 없다. 더욱이 이러한 문제는 평판 디스플레이패널의 크기가 커질수록 심화된다.
또한, 종래의 평면디스플레이 리페어장치는 평판 디스플레이패널을 공급받아 리페어하고 리페어된 평판 디스플레이패널을 후공정으로 이송하는 일련의 작업들이 연속적으로 이루어지지 못해 생산량이 크게 떨어지는 문제가 있다. 즉, 평판 디스플레이패널의 공급 공정에서부터 레이저를 통한 리페어 공정과, 리페어된 평판 디스플레이패널을 후공정으로 이송되기 위하여 스테이지로부터 픽업하는 공정과, 원래 위치로 스테이지가 복귀하는 공정까지 모두 완료된 이후라야 비로소 다음 리페어 공정이 개시될 수 있게 되므로 연속적인 공정진행이 이루어지지 못하는 것이다.
본 발명은 상기한 문제점들을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 연속공정을 통해 신속 정확하게 리페어 검사를 수행할 수 있도록 하는 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치는 단계적으로 회전하면서 리페어 작업이 이루어지는 회전스테이지; 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널을 회전스테이지에 올려놓는 제1픽커; 회전스테이지의 상부로 출몰을 반복하면서 제1픽커가 올려놓은 평판 디스플레이패널을 일정위치로 정렬시키는 얼라인부재; 1단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 얼라인된 평판 디스플레이패널의 위치를 정밀검색하는 얼라인카메라; 상기 얼라인카메라로부터 평판 디스플레이패널의 위치 보정정보를 부여받아 평판 디스플레이패널의 컨택위치에 대응되도록 위치가 미세조정되며 2단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 상기 평판 디스플레이패널에 레이저를 조사하여 이물이 존재하는 영역을 암점화할 수 있도록, 상기 회전스테이지와 독립적으로 설치되는 수평회전판과, 상기 수평회전판에 승강가능하게 설치된 커넥터와 상기 커넥터의 위치를 보정해 주는 어레이부재들로 구성된 컨택부와, 상기 2단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 평판 디스플레이패널의 상부로부터 일정거리 이격된 상태로 일정구간을 수평왕복 이동하면서 상기 평판 디스플레이패널의 이물질 존재영역을 검색하는 스캐너부와, 상기 스캐너부가 검색한 이물질 존재 영역에 레이저를 조사하는 레이저 조사부로 구성된 레이저 리페어유닛; 및 상기 레이저 리페어 유닛으로부터 평판 디스플레이패널의 정보를 부여받아 3단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 리페어된 평판 디스플레이패널을 양품과 불량품으로 선별하여 배출하는 제2픽커를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
이 경우, 상기 수평회전판은 단계적으로 회동되며, 상기 커넥터는 평판 디스플레이패널의 종류별로 수평회전판의 가장자리에 수평회전판의 회동단계별로 다중 배치되도록 하는 것이 바람직하다.
삭제
한편, 상기 제1픽커는 회전스테이지 전방 일측에 배치된 카세트에 적재된 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널을 인출시키는 인출픽커와, 인출픽커로부터 상기 평판 디스플레이패널(P)을 전달받아 회전스테이지에 올려놓는 공급픽커로 구성될 수 있다.
또한, 상기 제2픽커는 회전스테이지에 올려진 리페어가 완료된 평판 디스플레이패널을 배출시키는 배출픽커와, 배출픽커로부터 상기 평판 디스플레이패널을 전달받아 회전스테이지의 전방 타측에 배치된 양품 적재카세트 또는 불량품 적재카세트의 내부로 적재시키는 적재픽커로 구성될 수 있다.
상기와 같이 구성된 본 발명은 회전스테이지가 회전하면서 리페어 작업이 단계적으로 연속하여 이루어지므로 연속공정을 통해 신속 정확한 리페어 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 서로 다른 규격의 평판 디스플레이패널이 공급되더라도 이에 맞는 커넥터로 교체하기 위하여 작업을 중지한 상태에서 적절한 커넥터를 재장착하고 위치셋팅하는 번거로움 없이, 단지 수평회전판이 회전하면서 적절한 커넥터로 위치가 교대되므로 신속한 작업대응이 가능해지는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치의 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치의 평면도로서, 본 발명을 구성하는 리페어 유닛이 제거된 상태를 나타내는 도면.
도 3은 본 발명을 구성하는 제1픽커의 동작상태를 나타내는 평면도.
도 4는 본 발명을 구성하는 회전스테이지에 놓여진 디스플레이패널을 얼라인부재가 얼라인 하는 상태를 나타내는 평면도.
도 5는 본 발명을 구성하는 얼라인카메라가 회전스테이지에 놓여진 디스플레이패널을 얼라인 하는 상태를 나타내는 평면도.
도 6은 본 발명을 구성하는 리페어유닛이 회전스테이지에 놓여진 디스플레이패널을 리페어하는 상태를 나타내는 평면도.
도 7은 도 6의 측면도.
도 8은 본 발명을 구성하는 제2픽커의 배출픽커가 회전스테이지에 놓여진 리페어된 디스플레이패널을 배출시키기 직전상태를 나타내는 평면도.
도 9는 본 발명을 구성하는 제2픽커가 리페어된 디스플레이패널을 배출시키는 상태를 나타내는 평면도.
도 10은 본 발명을 구성하는 제2픽커가 리페어된 디스플레이패널을 양품카세트에 적재하는 상태를 나타내는 평면도.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 바람직한 실시예에 대한 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
이하, 본 발명의 일 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명함에 있어, 동일한 구성에 대해서는 동일한 부호를 사용하며, 명료성을 위하여 가능한 중복되지 않게 상이한 부분만을 주로 설명한다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치는 리페어작업이 이루어지는 회전스테이지(110)와, 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널(P)을 회전스테이지(110)에 올려놓는 제1픽커(120)와, 평판 디스플레이패널(P)을 정렬시키는 얼라인부재(130)와, 얼라인된 평판 디스플레이패널(P)을 정밀하게 정렬시키는 얼라인카메라(140)와, 정밀하게 얼라인된 평판 디스플레이패널(P)을 레이저를 이용하여 리페어하는 리페어유닛(150)과, 리페어된 평판 디스플레이패널(P)을 외부로 배출시키는 제2픽커(160)로 크게 구성된다.
상기 회전스테이지(110)는 작업장 바닥으로부터 일정높이에 수평상태로 단계적으로 회전하도록 설치된 수평판으로서, 리페어 작업이 이루어지는 공간이 된다. 본 실시예에서는 상기 회전스테이지(110)가 중앙에 설치된 회전축을 중심으로 90도씩 4단계로 회전되도록 구성하였다.
상기 회전스테이지(110)의 전방에는 제1픽커(120)가 설치된다. 상기 제1픽커(120)는 회전스테이지(110)의 전방에 좌우로 수평설치된 제1레일(101)과 회전스테이지(110)의 정중앙 전방에 전후방향으로 설치된 제2레일(102)을 따라 이동가능하게 설치되어, 회전스테이지(110)의 전방에 위치된 카세트에 적재된 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널(P)들을 한 장씩 인출시켜 회전스테이지(110)에 차례대로 올려놓는다.
이를 위하여 상기 제1픽커(120)는 회전스테이지(110) 전방 일측에 배치된 공급카세트(A)에 적재된 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널(P) 인출시키는 인출픽커(121)와, 인출픽커(121)로부터 상기 평판 디스플레이패널(P)을 전달받아 회전스테이지(110)에 올려놓는 공급픽커(122)로 구성된다.
상기 인출픽커(121)는 제1레일(101)을 따라 수평이동하도록 설치된 몸체부와 상기 몸체부로부터 전방으로 인출되는 진공흡착부로 이루어진다. 이와 같이 구성된 상기 인출픽커(121)는 도 2에 도시된 바와 같이, 몸체부가 상기 제1레일(101)을 따라 좌우로 수평이동하여 회전스테이지(110)의 전방 일측에 위치된 공급카세트(A)의 전방에서 멈추면 진공흡착부가 전방으로 인출되고 공급카세트(A)에 적재된 평판 디스플레이패널(P)의 저면을 진공흡착한 상태로 원위치로 복귀하면 몸체부가 제1레일(101)을 따라서 공급픽커(122)측으로 이동하는 동작을 수행하게 된다.
상기 공급픽커(122)는 인출픽커(121)보다 높은 곳에 설치되며, 상기 제2레일(102)을 따라 수평이동하도록 설치된 몸체부와 상기 몸체부로부터 상하로 인출되는 진공흡착부로 이루어진다. 이와 같이 구성된 상기 공급픽커(122)는 도 3에 도시된 바와 같이, 인출픽커(121)가 평판 디스플레이패널(P)을 가지고 연직하부에 위치되면 진공흡착부가 하강하여 평판 디스플레이패널(P)의 상면을 진공흡착한 다음, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 몸체부가 제2레일(102)을 따라 후방으로 이동하여 회전스테이지(110)상에 평판 디스플레이패널(P)을 올려놓는 동작을 수행하게 된다.
상기 제1픽커(120)에 의해 평판 디스플레이패널(P)이 올려지는 지점의 회전스테이지(110) 하부에는 얼라인부재(130)가 설치된다. 상기 얼라인부재(130)는 작업장 바닥에 설치되어 회전스테이지(110)의 회전과는 상관없이 항상 일정한 위치에서 승강되도록 설치된다. 상기 회전스테이지(110)에는 상기 얼라인부재(130)들이 회전스테이지(110)에 출몰되도록 관통홀(111)이 형성된다. 본 실시예에서의 상기 관통홀(111)은 회전스테이지(110)의 회전각도에 따라 회전스테이지(110)의 전후좌우에 총 4군데에 형성된다.
상기 얼라인부재(130)는 이격간격이 가변되는 십자형태로 배치된 두 쌍의 얼라인바로 구성된다. 이 얼라인바들은 각각 상기 십자형태의 관통홀(111)을 통해 회전스테이지(110)의 상부로 돌출된 다음 이격간격을 좁히도록 상기 관통홀(111)을 따라 동시에 이동되면서 제1픽커(120)가 회전스테이지(110)에 올려놓은 평판 디스플레이패널(P)을 일정위치로 정렬시키는 동작을 수행하게 된다. 한편, 회전스테이지(110)가 회전되기 전에 상기 얼라인부재(130)는 회전스테이지(110)의 하부로 하강한다.
도 5에 도시된 바와 같이, 얼라인카메라(140)는 1단계 회전된 회전스테이지(110)에(도면상 좌측) 놓여진 얼라인된 평판 디스플레이패널(P)이 연직하부에 위치되도록 작업장 바닥에 고정설치된다. 상기 얼라인카메라(140)는 상기 얼라인부재(130)에 의해 1차로 얼라인된 평판 디스플레이패널(P)을 촬영하고 평판 디스플레이패널(P)에 미리 마킹된 고유의 위치시그널을 판독하여 이후 설명할 레이저 리페어 유닛(150)를 구성하는 커넥터(151b)의 위치보정값을 계산한다. 상기 레이저 리페어 유닛(150)은 평판 디스플레이패널(P)의 위치 보정정보를 부여받아 평판 디스플레이패널(P)의 컨택위치에 대응되도록 커넥터(151b)의 위치를 미세조정한다.
이와 같이 얼라인부재(130)와 얼라인카메라(140)를 통해 2중으로 얼라인시키는 이유는 평판 디스플레이패널(P)의 구조상 가장자리부가 항상 일정한 규격으로 제작되기 힘드므로 각각의 평판 디스플레이패널(P) 마다 얼라인되는 위치가 미세하게 다르기 때문이다. 따라서, 얼라인부재(130)를 통해 평판 디스플레이패널(P)이 얼라인카메라(140)의 촬영위치에 위치되도록 1차로 얼라인한 다음 얼라인카메라(140)를 통해 평판 디스플레이패널(P)을 기준으로 커넥터(151b)의 위치가 미세조정되도록 2차로 얼라인해야 할 필요가 있는 것이다.
도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 레이저 리페어유닛(150)은 2단계 회전된 회전스테이지(110)(도면상 후방)에 놓여진 평판 디스플레이패널(P)에 전기적으로 접속되는 컨택부(151)와, 상기 평판 디스플레이패널(P)의 이물질 존재영역을 검색하는 스캐너부(152)와, 스캐너부(152)가 검색한 이물질 존재 영역에 레이저를 조사하는 레이저 조사부(153)로 구성된다.
상기 컨택부(151)는 회전스테이지(110)와 독립적으로 설치되는 수평회전판(151a)과, 상기 수평회전판(151a)에 승강가능하게 설치된 커넥터(151b)와, 상기 얼라인카메라(140)로부터 전송받은 위치보정값에 따라 상기 커넥터(151b)의 위치가 보정되도록 커넥터(151b)의 위치를 조정해 주는 어레이부재(151c)들로 구성된다. 상기 수평회전판(151a)은 2단계 회전된 회전스테이지(110)에 놓여진 평판 디스플레이패널(P)의 정면에 위치하도록 작업장 바닥에 일정높이로 설치된다. 상기 수평회전판(151a)은 단계적으로 수평회동되도록 구성된다. 상기 커넥터(151b)는 평판 디스플레이패널(P)의 종류별로 수평회전판(151a)의 가장자리에 수평회전판(151a)의 회동단계별로 다중배치된다. 이렇게 하면, 수평회전판(151a)이 단계적으로 회전할 때 마다 서로 다른 규격의 커넥터(151b)가 2단계 회전된 회전스테이지(110)에 놓여진 평판 디스플레이패널(P)의 정면에 위치하게 된다. 따라서, 서로 다른 규격의 평판 디스플레이패널(P)이 공급되더라도 이에 맞는 커넥터(151b)로 교체하기 위하여 작업을 중지한 상태에서 적절한 커넥터(151b)를 재장착하고 위치셋팅하는 번거로움 없이, 작업자가 수평회전판(151a)을 회전시키면서 적절한 커넥터(151b)로 위치를 교대시켜주기만 하면 되므로 신속한 작업대응이 가능해진다. 상기 커넥터(151b)는 회전스테이지(110)가 2단계 회전하여 평판 디스플레이패널(P)이 정면에 위치되면 하강하여 평판 디스플레이패널(P)의 커낵터 단자에 컨택된다. 이때, 평판 디스플레이패널(P)의 커넥터(151b) 단자에 컨택되는 커넥터(151b)는 회전스테이지(110)가 2단계 회전하는 동안 얼라인카메라(140)로부터 전송받은 위치보정값을 통해 어레이부재(151c)들에 의해 이미 그 위치가 정밀하게 보정된 상태이므로 평판 디스플레이패널(P)의 정렬위치가 각각 일정하지 않다고 하더라도 항상 정확한 컨택이 가능하다.
상기 스캐너부(152)는 상기 2단계 회전된 회전스테이지(110)에 놓여진 평판 디스플레이패널(P)의 상부로부터 일정거리 이격된 상태로 일정구간을 수평왕복 이동하도록 상기 회전스테이지(110)와 독립적으로 설치된다. 상기 스캐너부(152)는 일정구간을 수평왕복이동하면서 평판 디스플레이패널(P)의 이물질 존재영역을 검색하고, 이물질 존재영역이 발견되면 레이저 조사부(153)로 동작신호를 보낸다.
상기 레이저 조사부(153)는 상기 스캐너부(152)와 함께 이동하며 스캐너로부터 동작신호를 받아 스캐너부(152)와는 독립적으로 이동하면서 스캐너부(152)가 검색한 이물질 존재 영역으로 레이저를 조사하여 이물이 존재하는 영역을 암점화시킨다.
도 8 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 제2픽커(160)는 상기 레이저 리페어 유닛(150)으로부터 평판 디스플레이패널(P)의 정보를 부여받아 3단계 회전된 회전스테이지(110)(도면상 우측)에 놓여진 리페어된 평판 디스플레이패널(P)을 양품과 불량품으로 선별하여 배출한다.
이를 위하여 상기 제2픽커(160)는 상기 제2레일(102)에 설치되어 회전스테이지(110)에 올려진 리페어가 완료된 평판 디스플레이패널(P)을 배출시키는 배출픽커(161)와, 상기 제1레일(101)에 설치되어 배출픽커(161)로부터 상기 평판 디스플레이패널(P)을 전달받아 회전스테이지(110)의 전방 타측에 배치된 양품 적재카세트(B) 또는 불량품 적재카세트(C)의 내부로 선별하여 적재시키는 적재픽커(162)를 구비한다. 상기 양품 적재카세트(B)와 불량품 적재카세트(C)는 회전스테이지(110)의 전방 타측에 각각 설치된다.
상기 배출픽커(161)는 상기 제2레일(102)을 따라 수평이동하도록 설치된 몸체부와 상기 몸체부로부터 상하로 인출되는 진공흡착부로 이루어진다. 이와 같이 구성된 상기 배출픽커(161)는 회전스테이지(110)가 3단계 회전되어 리페어된 평판 디스플레이패널(P)이 연직하부에 위치되면 진공흡착부가 하강하여 평판 디스플레이패널(P)의 상면을 진공흡착한 다음 몸체부가 제2레일(102)을 따라 전방으로 이동하여 회전스테이지(110)로부터 리페어된 평판 디스플레이패널(P)을 배출시키는 동작을 수행하게 된다.
상기 적재픽커(162)는 배출픽커(161)보다 높은 곳에 설치되며, 제1레일(101)을 따라 수평이동하도록 설치된 몸체부와 상기 몸체부로부터 전방으로 인출되는 진공흡착부로 이루어진다. 이와 같이 구성된 상기 적재픽커(162)는 배출픽커(161)가 리페어된 평판 디스플레이패널(P)을 가지고 연직하부에 위치되면 진공흡착부가 하강하여 리페어된 평판 디스플레이패널(P)의 상면을 진공흡착한 다음 몸체부가 제1레일(101)을 따라 좌우로 수평이동하여 양품 적재카세트(B) 또는 불량품 적재카세트(C)의 전방에서 멈추면 진공흡착부가 전방으로 인출되고 해당 카세트의 내부로 리페어된 평판 디스플레이패널(P)을 적재시킨다. 적재가 완료된 카세트는 컨베어(미도시)를 따라 후속공정으로 이송된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치는 인출픽커(121)가 회전스테이지(110) 전방 일측에 배치된 공급카세트(A)에 적재된 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널(P)을 인출시킨 다음 제1레일(101)을 따라서 공급픽커(122)측으로 이동하면, 공급픽커(122)가 인출픽커(121)로부터 평판 디스플레이패널(P)을 전달받은 다음 제2레일(102)을 따라 후방으로 이동하여 회전스테이지(110)상에 평판 디스플레이패널(P)을 올려놓는다.
회전스테이지(110)상에 평판 디스플레이패널(P)이 놓여지면, 얼라인부재(130)들이 회전스테이지(110)의 관통홀(111)을 통해 회전스테이지(110)의 상부로 돌출되며, 관통홀(111)을 따라 이격간격이 좁아지도록 동작되면서 회전스테이지(110)에 올려진 평판 디스플레이패널(P)을 일정위치로 정렬시킨다. 평판 디스플레이패널(P)의 정렬이 완료되면, 상기 회전스테이지(110)가 90도로 시계반대 방향으로 1단계 회전되며 상기 얼라인부재(130)는 회전스테이지(110)가 회전하기 직전에 회전스테이지(110)의 하부로 하강한다.
회전스테이지(110)가 1단계 회전되면, 얼라인 카메라가 평판 디스플레이패널(P)의 위치를 정밀검색한 후, 레이저 리페어 유닛(150)측에 위치보정 신호를 출력하게 되고, 이 신호를 받은 레이저 리페어 유닛(150)은 어레이부재(151c)들이 커넥터(151b) 위치를 보정한다. 이와 동시에 제1픽커(120)는 새로운 평판 디스플레이패널(P)을 회전스테이지(110)상에 올려놓는 작업을 수행한다.
그리고 상기 회전스테이지(110)는 90도로 시계반대 방향으로 2단계 회전한다. 회전스테이지(110)가 2단계 회전되면, 레이저 리페어 유닛(150)의 커넥터(151b)가 하강하여 아래에 위치된 평판 디스플레이패널(P)의 커넥터(151b) 단자와 컨택이 이루어지며, 제1픽커(120)는 또 다른 새로운 평판 디스플레이패널(P)을 회전스테이지(110)상에 올려놓는 작업을 수행하고, 얼라인 카메라는 이전단계에서 제1픽커(120)가 올려놓았던 평판 디스플레이패널(P)의 위치를 정밀검색한다.
이때 레이저 리페어 유닛(150)은 이미 얼라인카메라(140)로부터 평판 디스플레이패널(P)의 정보를 전달받아 수평회전판(151a)에 설치된 커넥터(151b)들 중 평판 디스플레이패널(P)에 적합한 커넥터(151b)가 작업위치에 위치되도록 수평회전판(151a)을 적절하게 회전시킨 상태이며, 상기 커넥터(151b)는 얼라인 카메라를 통해 평판 디스플레이패널(P)의 위치를 기준으로 그 위치가 정밀하게 보정된 상태이다. 따라서, 커넥터(151b)는 평판 디스플레이패널(P)의 규격과는 상관없이 항상 정확한 컨택이 가능하다.
이와 같이 커넥터(151b)와 평판 디스플레이패널(P)과의 컨택이 이루어지면 평판 디스플레이패널(P)이 점등되고 이와 같이 점등된 상태에서 스캐너부(152)가 일정구간을 왕복이동하면서 평판 디스플레이패널(P) 상에 존재하는 이물질존재영역을 탐색한다.
스캐너부(152)가 이물질존재영역을 감지하면 레이저조사부(153)가 해당 이물질존재영역에 레이저를 조사하게 되고 이로 인해 이물이 존재하는 영역이 암점화되면서 평판 디스플레이패널(P)은 리페어된다.
리페어 작업이 완료되면, 수평회전판(151a)이 90도로 시계반대 방향으로 3단계 회전한다. 상기 회전스테이지(110)가 3단계 회전되면, 리페어가 완료된 평판 디스플레이패널(P)은 제2픽커(160)에 의해 양품 적재카세트(B) 또는 불량품 적재카세트(C)로 분리배출된다.
즉, 정상적으로 리페어된 평판 디스플레이패널(P)은 양품으로 분류되고, 스캐너부(152)가 이물질존재영역을 허용한도 이상으로 다수 감지하면 리페어 자체가 불가한 것으로 판단하여 리페어작업이 생략되면서 불량품으로 분류되는 것이다. 불량품으로 분류된 평판 디스플레이패널(P)은 제2픽커(160)에 의해 불량품 적재카세트(C)에 적재된다.
이와 같이, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상술하였으나 본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자가 본 발명의 사상을 벗어나지 않고 변형 가능하며, 이러한 변형은 본 발명의 권리범위에 속할 것이다.
101...제1레일 102...제2레일
110...회전스테이지 120...제1픽커
121...인출픽커 122...공급픽커
130...얼라인부재 140...얼라인카메라
150...레이저 리페어유닛 151...컨택부
151a...수평회전판 151b...커넥터
151c...어레이부재 152...스캐너부
153...레이저 조사부 160...제2픽커
161...배출픽커 162...적재픽커
A...공급카세트 B...양품 적재카세트
C...불량품 적재카세트 P...평판 디스플레이패널

Claims (5)

  1. 단계적으로 회전하면서 리페어 작업이 이루어지는 회전스테이지;
    리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널을 회전스테이지에 올려놓는 제1픽커;
    회전스테이지의 상부로 출몰을 반복하면서 제1픽커가 올려놓은 평판 디스플레이패널을 일정위치로 정렬시키는 얼라인부재;
    1단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 얼라인된 평판 디스플레이패널의 위치를 정밀검색하는 얼라인카메라;
    상기 얼라인카메라로부터 평판 디스플레이패널의 위치 보정정보를 부여받아 평판 디스플레이패널의 컨택위치에 대응되도록 위치가 미세조정되며 2단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 상기 평판 디스플레이패널에 레이저를 조사하여 이물이 존재하는 영역을 암점화할 수 있도록, 상기 회전스테이지와 독립적으로 설치되는 수평회전판과, 상기 수평회전판에 승강가능하게 설치된 커넥터와 상기 커넥터의 위치를 보정해 주는 어레이부재들로 구성된 컨택부와, 상기 2단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 평판 디스플레이패널의 상부로부터 일정거리 이격된 상태로 일정구간을 수평왕복 이동하면서 상기 평판 디스플레이패널의 이물질 존재영역을 검색하는 스캐너부와, 상기 스캐너부가 검색한 이물질 존재 영역에 레이저를 조사하는 레이저 조사부로 구성된 레이저 리페어유닛; 및
    상기 레이저 리페어 유닛으로부터 평판 디스플레이패널의 정보를 부여받아 3단계 회전된 회전스테이지에 놓여진 리페어된 평판 디스플레이패널을 양품과 불량품으로 선별하여 배출하는 제2픽커를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치.
  2. 삭제
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 수평회전판은 단계적으로 회동되며,
    상기 커넥터는 평판 디스플레이패널의 종류별로 수평회전판의 가장자리에 수평회전판의 회동단계별로 다중 배치된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 제1픽커는 회전스테이지의 전방 일측에 배치된 카세트에 적재된 리페어 대상이 되는 평판 디스플레이패널을 인출시키는 인출픽커와, 인출픽커로부터 상기 평판 디스플레이패널을 전달받아 회전스테이지에 올려놓는 공급픽커를 구비한 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 제2픽커는 회전스테이지에 올려진 리페어가 완료된 평판 디스플레이패널을 배출시키는 배출픽커와, 배출픽커로부터 상기 평판 디스플레이패널을 전달받아 회전스테이지의 전방 타측에 배치된 양품 적재카세트 또는 불량품 적재카세트의 내부로 적재시키는 적재픽커를 구비한 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치.
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CN105372854B (zh) * 2014-08-27 2018-08-21 北京兆维电子(集团)有限责任公司 液晶模组屏检测设备
CN104834114B (zh) * 2015-05-15 2018-07-03 武汉精测电子集团股份有限公司 Opencell屏检测装置
JP6754557B2 (ja) 2015-09-11 2020-09-16 パナソニック株式会社 表示装置とその輝度欠陥修正方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060081295A (ko) * 2005-01-08 2006-07-12 삼성전자주식회사 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및테스트 방법
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Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060081295A (ko) * 2005-01-08 2006-07-12 삼성전자주식회사 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및테스트 방법
KR20080105656A (ko) * 2007-05-31 2008-12-04 엘지전자 주식회사 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법

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