KR20080026678A - 디스플레이 패널의 테스트 장치 및 테스트 방법 - Google Patents

디스플레이 패널의 테스트 장치 및 테스트 방법 Download PDF

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KR20080026678A
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삼성전자주식회사
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Abstract

디스플레이 패널 상의 배선 불량을 사전에 파악할 수 있는 디스플레이 패널의 테스트 장치 및 테스트 방법이 제공된다. 디스플레이 패널의 테스트 장치는, 디스플레이 패널 상에 형성된 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하는 영상부와, 영상부로부터 제공된 스캐닝된 영상 데이터와 기준 영상 테이터를 비교 분석하는 비교 제어부와, 비교 제어부로부터 비교 분석한 결과를 표시하는 디스플레이부를 포함한다.
Figure P1020060091474
디스플레이 패널, 테스트, 카메라, 스캐닝

Description

디스플레이 패널의 테스트 장치 및 테스트 방법{Apparatus of testing display panel and method of testing display panel}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 단계를 나타낸 순서도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 제조 과정을 나타낸 순서도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치의 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 방법을 순차적으로 나타낸 공정 순서도이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
10: 영상부 20: 제1 레일
25: 제2 레일 30: 비교 제어부
40: 디스플레이부 100: 테스트 장치
210: 액정 패널 212: 하부기판
214: 상부기판 220: 테스트용 데이터 PCB
222: 테스트용 데이터 구동 IC 230: 게이트 구동 신호 전송선
232: 게이트선 234: 데이터선
240: 테스트용 게이트 PCB 242: 테스트용 게이트 구동 IC
본 발명은 테스트 장치 및 테스트 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 디스플레이 패널의 표면을 검사하는 테스트 장치 및 테스트 방법에 관한 것이다.
액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 외부에서 인가되는 전압에 의해 배열 방향이 변화되는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 가진 액정층을 포함한다. 액정 표시 장치는 액정층에 전압을 인가하고, 이 전압의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 문자, 숫자, 임의의 아이콘 등의 화상을 표시한다.
액정 표시 장치는 TFT 어레이(array) 기판과 컬러 필터(color filter) 기판으로 구성된 액정 패널, 액정 패널에 소정의 화상이 표시되도록 제어 신호를 제공하는 구동 IC(Integrated Circuit), 액정 패널에 빛을 제공하는 백라이트 유닛(Back Light Unit; BLU) 등으로 구성된다.
이러한 액정 표시 장치는 다수 개의 공정 단계를 거쳐 제조되며, 각 공정 단계마다 반제품 또는 완성품의 품질을 판정하는 테스트가 진행된다. 특히, 액정 패널 테스트는 다수 개의 게이트선 및/또는 데이터선이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 게이트선 및/또는 데이터선의 불량 여부를 검사하는 비쥬얼 인스펙션(visual inspection)과, 액정 패널에 구동 IC들을 실장하기 전의 상 태에서 액정 패널에 구동 IC들이 실장된 것과 같은 환경에서 액정 패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 그로스 테스트(gross test)를 포함한다.
액정 표시 장치가 소형화됨에 따라 게이트선에 게이트 구동 신호를 제공하는 게이트 PCB(Printed Circuit Board)가 없어지고 그 대신 액정 패널 상에 게이트 구동 신호를 전달하기 위한 게이트 구동 신호 전송선이 형성되어 있다. 앞서 언급한 액정 패널 테스트에서는 이러한 게이트 구동 신호 전송선을 이용하지 않고 테스트용 게이트 PCB를 이용하여 게이트선 및 데이터선의 불량 여부를 검사한다. 따라서 액정 패널 테스트 과정을 거치더라도 게이트 구동 신호 전송선의 불량 여부를 판단할 수 없게 된다.
게이트 구동 신호 전송선의 불량 여부는 액정 패널에 편광판을 부착하고 구동 IC를 실장한 후에서야 비로서 파악할 수 있으므로 액정 패널 테스트를 하는 과정에서 게이트 구동 신호 전송선의 불량 여부를 테스트할 필요가 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 디스플레이 패널 상의 배선 불량을 사전에 파악할 수 있는 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 디스플레이 패널 상의 배선 불량을 사전에 파악할 수 있는 테스트 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하 게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치는, 디스플레이 패널 상에 형성된 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하는 영상부와, 상기 영상부로부터 제공된 스캐닝된 영상 데이터와 기준 영상 테이터를 비교 분석하는 비교 제어부와, 상기 비교 제어부로부터 비교 분석한 결과를 표시하는 디스플레이부를 포함한다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 방법은, 디스플레이 패널 상에 형성된 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하는 단계와, 스캐닝된 영상 데이터와 기준 영상 테이터를 비교 분석하는 단계와, 비교 분석한 결과를 표시하는 단계를 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 발명에서 사용되는 디스플레이 패널(display panel)은 액정 패널(liquid crystal panel), PDP(Plasma Display Panel) 또는 유기 EL(Organic Electro Luminescence) 등의 표시장치가 사용될 수 있으나, 이는 예시적인 것에 불과하다. 다만 설명의 편의를 위하여 액정 패널을 구비한 액정 표시 장치를 이용하여 본 발명을 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 단계를 나타낸 순서도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트는 액정 표시 장치의 제조 과정에 따라 TFT 어레이 테스트(S10), 액정 패널 테스트(S20), 모듈 테스트(S30)로 구분할 수 있다.
TFT 어레이 테스트(S10)는 TFT 어레이 기판의 제조 공정에서의 결함을 검출하여 리페어(repair) 여부 및 다음 공정으로의 진행 여부를 결정한다. 일반적으로, TFT 어레이 테스트(S10)는 제조 원가의 절감을 위해서 가능한 제조 공정의 앞단에서 행한다. 이로써 액정 패널의 원가에 큰 비중을 차지하는 컬러 필터가 결함이 있는 TFT 어레이 기판과 합착되어 낭비되는 일없이 유효하게 사용될 수 있다.
액정 패널 테스트(S20)는 모듈 제조 단계로의 진행 여부를 결정하며, 액정 표시 장치의 총원가의 1/2 내지 1/3을 점하는 구동 IC(Integrated Circuit)와 백 라이트 유닛(Back Light Unit; BLU)의 손실을 방지할 수 있다. 액정 패널 테스트(S20)는 TFT 어레이 테스트(S10) 중 전기적 테스트를 위해 사용되는 쇼팅바를 이용하여 액정 패널에 흑백 화상을 디스플레이하는 테스트와, 쇼팅바를 제거한 후 모 든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이하는 테스트 등으로 이루어진다.
모듈 테스트(S30)는 모듈화된 액정 패널 즉, 액정 표시 장치의 최종 테스트로서 완제품의 출하 전 그 품질을 마지막으로 담보한다는 의미에서 이전의 테스트와는 다른 중요성을 갖는다. 모듈 테스트(S30)는 백라이트 유닛 등이 조립되기 전 OLB(Out Lead Bonding), 탭 솔더링(tab soldering) 후 구동 IC 등이 장착된 상태에서 풀 컬러를 디스플레이하는 테스트와, 초기 불량 검출 목적의 에이징(aging)과, 액정 표시 장치의 완성품에 대해 최종적으로 풀컬러를 디스플레이하는 테스트 등으로 이루어진다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 제조 과정을 나타낸 순서도이다.
도 2를 참조하면, 액정 패널의 제조 공정은 배향막(alignment layer) 인쇄 공정(S110, S111), 러빙(rubbing) 공정(S115, S116), 스페이싱(spacing) 공정(S120), 실링(sealing) 공정(S125), 쇼팅(shorting) 공정(S130), 기판 어셈블리(assembly) 공정(S140), 커팅(cutting) 공정(S145), 액정 주입 및 주입구 봉지 공정(S150), 비쥬얼 인스펙션(visual inspection) 공정(S160), 외관 테스트(S170), 편광판 부착 공정(S175), 에지 그라인드(edge grind) 공정(S180), 그로스 테스트(gross test; S185) 등의 세부 공정 단계를 포함한다.
배향막 인쇄 공정(S110, S111)은 TFT 어레이 기판 및 컬러 필터 기판의 화소 전극 및 공통 전극 상에 균일한 배향막을 형성시키는 공정이다. 배향막 인쇄(S110, S111)와 후술할 러빙 공정(S115, S116)에 의한 표면 처리 상태에 따라 액정 패널의 전기광학적 특성이 좌우된다. 배향막은 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 등의 투명 도전층과 우수한 접착 특성을 가져야 하고, 200℃ 이하에서 1,000Å 이하의 균일한 두께로 형성되어야 한다. 또한, 화학적 안정성이 높아 액정과의 반응이 없어야 하고, 전기적 특성은 차지 트랩(charge trap)이 없어야 하며, 비저항이 충분히 높아 액정 셀의 동작에 영향이 없어야 한다.
배향막 인쇄 공정(S110, S111) 후에는 배향막 상에 핀홀(pinhole)이 발생했는지 여부와 배향막의 두께를 측정하는 테스트를 하는 것이 바람직하다.
러빙 공정(S115, S116)은 면이나 나일론계의 섬유가 식모된 부드러운 천으로 배향막을 한방향으로 러빙하여 이후 주입되는 액정의 분자들이 배향막 표면에서 일정 방향으로 배열되도록 한다.
러빙 공정(S115, S116) 후에는 쓸림 현상이 발생했는지 여부를 확인하는 테스트를 하는 것이 바람직하다. 배향막이 불균일하게 배향되면, 국소적으로 서로 다른 전기 광학적 특성이 나타나 액정 표시 장치의 화면에서 얼룩으로 나타나기 때문이다.
스페이싱 공정(S120)은 TFT 어레이 기판 및 컬러 필터 기판 사이의 셀 갭(cell gap)을 일정하게 유지시키기 위해 TFT 어레이 기판(또는 컬러 필터 기판) 상에 스페이서(spacer)를 산포하는 공정이다. 스페이서의 산포는 용매에 스페이서를 혼합하여 분사하는 습식법과 공기 또는 질소 가스등을 이용하는 건식법을 사용할 수 있다.
스페이싱 공정(S120) 후에는 스페이서의 산포도, 밀도를 측정하는 것이 바람직하다.
실링 공정(S125)은 컬러 필터 기판 상에 실 패턴(seal pattern)을 화상이 표시되는 액티브(active) 영역 주변에 열 경화성 수지를 이용하여 주머니 형태로 형성하는 공정이다. 실 패턴의 형성 방법은 스크린 마스크(screen mask)로 인쇄하는 방법과 이동할 수 있는 실런트 디스펜서(sealant dispenser)를 이용하는 방법이 있다.
실링 공정(S125) 후에는 실 패턴의 폭(width)과 두께(height)를 측정하는 것이 바람직하다.
쇼팅 공정(S130)은 실버 페이스트(silver paste)와 같은 쇼팅용 도전 물질로 디스펜서(dispenser)를 이용하여 실 패턴의 외부에 쇼트(short)를 형성하는 공정이다. 여기서, 쇼트는 컬러 필터 기판의 공통 전극과 TFT 어레이 기판의 패드 사이에 형성되어 TFT 어레이 기판으로부터 공급되는 공통 전극 구동 신호를 공통 전극에 전달하기 위한 전기적인 연결 통로로 사용된다. 쇼팅 공정(S130)에서는 쇼트의 크기가 중요한 측정 요소이다. 쇼팅용 도전 물질은 액정을 오염시킬 수 있기 때문에 가급적 그 크기를 작게 형성하는 것이 바람직하다.
기판 어셈블리 공정(S140)은 TFT 어레이 기판과 컬러 필터 기판을 정렬시킨 후 열 압착(hot press)에 의해 실 패턴(seal pattern)을 형성하고 있는 실런트(sealant)를 경화시켜 두 기판을 합착시키는 공정이다. 두 기판의 합착에 허용되는 정렬(alignment) 오차는 각 기판의 설계시 주어지는 마진(margin) 등에 의해 결 정되고, 통상적으로 셀 갭 수준이 5um 정도이다.
기판 어셈블리 공정(S140) 후에는 미스얼라인(missalign)되었는지 여부를 테스트하는 것이 바람직하다.
커팅 공정(S145)은 실런트의 경화에 의해 합착됨으로써 형성된 기판 어셈블리를 제품 단위로 절단하는 공정이다. 다이아몬드 재질의 펜으로 글래스 표면에 절단선(cutting line)을 형성하는 스크라이브(scribe) 공정과 기판 어셈블리에 물리적 충격을 가해 이를 제품 단위로 분리하는 브레이크(break) 공정으로 나뉘어 진다.
커팅 공정(S145) 후에는 커팅 상태를 테스트하는 것이 바람직하다.
액정 주입 및 주입구 봉지 공정(S150)은 액정 패널을 구성하는 TFT 어레이 기판과 컬러 필터 사이의 셀갭(cell gap)에 액정을 주입한 후, 주입된 액정이 유출되지 않도록 주입구를 봉지하는 공정이다. 이로써, 동작 가능한 액정 패널이 완성된다. 액정의 주입에는 셀 내부를 진공으로 만든 후 외부와의 압력 차를 이용하여 액정을 주입하는 진공 주입법이 가장 널리 이용된다. 주입구 봉지는 자외선 경화 수지를 디스펜서(dispenser)로 사용하여 주입구에 주입하고 자외선 조사하여 이루어진다. 본 실시예에서는 셀갭에 액정을 주입하는 방법을 이용하여 설명하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며 실 패턴 내에 액정을 적하한 후 실런트를 경화하여 두 기판을 합착하는 액정 적하 공정을 이용할 수도 있다.
액정 주입 및 주입구 봉지 공정(S150)은 액정이 주입되지 않는 영역이 있는지 여부를 테스트하고, 자외선 경화 수지의 침투 거리, 셀 갭 등이 주된 측정 요소 이다.
비쥬얼 인스펙션(visual inspection) 공정(S160)은 액정 패널에 컬러 또는 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트선 및/또는 데이터선의 불량 여부를 검사하는 공정이다. 여기서, 컬러 또는 흑백 상태의 화상은 다수 개의 게이트선 및/또는 데이터선이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 컬러 또는 흑백 화상은 CCD(Charge-Coupled Device) 카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부를 확인하는데 이용된다. 비쥬얼 인스펙션 공정(S160)에서 사용되는 쇼팅바는 후에 레이저 등에 의해 제거될 수 있다.
액정 표시 장치가 소형화됨에 따라 게이트선에 게이트 구동 신호를 제공하는 게이트 PCB(Printed Circuit Board)가 없어지고 그 대신 액정 패널 상에 게이트 구동 신호를 전달하기 위한 게이트 구동 신호 전송선이 형성되어 있다. 이러한 비쥬얼 인스펙션 공정(S160)은 게이트선 및 데이터선에 연결된 쇼팅바를 이용하여 테스트를 실시함으로써 게이트 구동 신호 전송선의 불량여부를 판단할 수 없다. 따라서 후술할 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치와 같이 비쥬얼 인스펙션 공정(S160) 동안 영상부를 이용하여 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하여 기준 영상과 비교함으로써 게이트 구동 신호 전송선의 불량여부를 파악할 수 있다. 이에 대해서는 후에 자세히 설명한다.
외관 테스트(S170)는 액정 패널의 외관의 파손 여부 등을 검사하는 단계이다.
편광판 부착 공정(S175)은 비쥬얼 인스펙션 공정(S180) 및 외관 테스트(S170) 등을 통과한 양품의 액정 패널의 양쪽면에 편광판을 부착하는 공정이다. 편광판 부착 공정(S175)은 편광판의 접착제면의 보호막을 제거하고, 액정 패널의 정해진 위치에 편광판을 얼라인(align)하여 부착하고 압력을 가해 문지르는 공정으로 이루어진다.
편광판 부착 공정(S175) 후에는 공정 중에 발생될 수 있는 정전기에 의한 액정 패널의 손상 여부 및 이물질의 혼입 여부를 측정하는 것이 바람직하다.
에지 그라인드 공정(S180)은 액정 패널의 절단된 면을 연마하여 부드럽게 하는 공정이다. 에지 그라인드 공정(S180)에서는 연마량을 측정한다.
그로스 테스트(S185)는 액정 패널에 구동 IC들을 실장하기 전의 상태에서 액정 패널에 구동 IC들이 실장된 것과 같은 환경에서 액정 패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 공정이다. 그로스 테스트(S185)에서는 도트/화소의 불량 여부를 판단하기 위해 주로 R(red), G(green), B(blue), W(white) 패턴(pattern)을 사용한다. 그로스 테스트(S185)에서는 테스트용 게이트 구동 IC 및 테스트용 데이터 구동 IC가 각각 실장된 테스트용 게이트 PCB 및 테스트용 데이터 PCB를 이용하여 액정 패널에 이러한 테스트용 게이트 구동 IC 및 테스트용 데이터 구동 IC을 접속하여 액정 패널에 구동 IC들이 실제로 실장된 것과 같은 환경을 조성한다.
앞서 언급한 바와 같이 액정 표시 장치가 소형화됨에 따라 게이트선에 게이트 구동 신호를 제공하는 게이트 PCB가 없어지고 그 대신 액정 패널 상에 게이트 구동 신호를 전달하기 위한 게이트 구동 신호 전송선이 형성되어 있다. 이러한 그로스 테스트(S185)는 테스트용 게이트 구동 IC 및 테스트용 데이터 구동 IC가 각각 실장된 테스트용 게이트 PCB 및 테스트용 데이터 PCB를 테스트를 실시함으로써 게이트 구동 신호 전송선의 불량여부를 판단할 수 없다. 따라서 후술할 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치와 같이 그로스 테스트(S185) 동안 영상부를 이용하여 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하여 기준 영상과 비교함으로써 게이트 구동 신호 전송선의 불량여부를 파악할 수 있다. 이에 대해서는 후에 자세히 설명한다.
이하 도 3을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치에 대하여 자세히 설명한다. 여기서 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치의 개략도이다. 앞서 언급한 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치는 비쥬얼 인스펙션 공정 및 그로스 테스트 공정에서 사용될 수 있다. 이하 설명의 편의를 위하여 그로스 테스트 공정을 이용하여 본 발명의 일 실시예를 설명한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 액정 패널(210)은 게이트선(232), 데이터선(234), 박막 트랜지스터, 화소전극 등을 구비하는 하부기판(212)과, 이 하부기판(212)보다 작은 크기로 하부기판(212)에 대향하도록 적층되며 블랙 매트릭스, 컬러필터, 공통전극 등을 구비하는 상부기판(214)으로 구성된다. 그리고, 상부기판(214)과 하부기판(212) 사이에는 액정층(도시 안됨)이 개재된다. 액정 표시 장치가 소형화됨에 따라 게이트선(232)에 게이트 구동 신호를 제공하는 게이트 PCB가 없어지고 그 대신 하부기판(212) 상에 게이트 구동 신호를 전달하기 위한 게이트 구동 신호 전송 선(230)이 형성되어 있다. 여기서 게이트 구동 신호 전송선(230)은 액정 패널(210) 상에 형성되어, 후속 모듈 공정에 의하여 액정 패널(210)에 접속하는 게이트 구동 IC 간을 연결하거나 액정 패널(210)에 접속하는 데이터 구동 IC와 게이트 구동 IC를 연결하게 된다. 따라서 후속 모듈 공정을 거쳐 완성된 액정 패널(210)이 구동될 때에는 게이트선(232)이 접속되는 게이트 구동 IC는 게이트 구동 신호 전송선(230)으로부터 구동 신호를 인가받게 된다.
그로스 테스트 장치는 테스트용 게이트 구동 IC(242)가 실장된 테스트용 게이트 PCB(240)와, 테스트용 데이터 구동 IC(222)가 실장된 테스트용 데이터 PCB(220)와, 이들에 제어 신호를 제공하는 신호 제어부(미도시)를 포함한다.
테스트용 게이트 구동 IC(242)는 하부기판(212)에 형성된 게이트선(232)과 접속되고, 테스트용 데이터 구동 IC(222)는 하부기판(212)에 형성된 데이터선(234)과 접속된다.
테스트용 데이터 및 게이트 PCB(220, 240)는 다수개의 구동 부품들을 실장하고 있는데, 테스트용 데이터 구동 IC(222) 및 테스트용 게이트 구동 IC(242)에 각각 데이터 구동신호 및 게이트 구동신호를 입력시킬 수 있다. 즉 그로스 테스트 장치에서는 게이트선(232)에 접속하는 테스트용 게이트 구동 IC(242)에 구동 신호를 제공하는 테스트용 게이트 PCB(240)가 별도로 마련되어 있다. 따라서 그로스 테스트 과정에서는 게이트 구동 신호 전송선(230)을 사용하지 않으므로 그로스 테스트 만으로는 게이트 구동 신호 전송선(230)의 불량 여부를 판단하기 어렵다.
그리고 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치(100)는 영상부(10), 비교 제어부(30) 및 디스플레이부(40)를 포함한다. 이러한 테스트 장치(100)는 그로스 테스트 장치 및 비쥬얼 인스펙션 장치 등과 같은 기존의 설비에 탈부착이 가능한다.
여기서 영상부(10)는 액정 패널(210)의 표면, 특히 게이트 구동 신호 전송선(230)을 스캐닝한다. 영상부(10)의 스캐닝이 원활하게 이루어지도록 영상부(10)는 서로 실질적으로 수직하게 배치되는 제1 레일(20) 및 제2 레일(25)에 의해 이동될 수 있다. 이러한 영상부(10)는 고정밀 화상을 스캐닝하기 위하여 CCD(Charge Coupled Device) 카메라 등으로 구성될 수 있다.
영상부(10)로부터 스캐닝된 고정밀 영상 데이터는 비교 제어부(30)로 전송된다. 비교 제어부(30)는 기준 영상 데이터를 로딩하여 영상부(10)로부터 전송된 스캐닝된 영상 데이터와 비교 분석을 한다. 비교 제어부(30)는 이러한 데이터 분석을 위한 전용 소프트웨어가 탑재될 수 있다. 비교 제어부(30) 내에는 기준 영상 데이터, 스캐닝된 영상 데이터 및 이들의 비교 분석한 데이터가 저장될 수 있는 저장 장소가 마련될 수 있다.
이와 같이 비교 제어부(30)는 기준 영상 데이터와 스캐닝된 영상 데이터를 비교하여 게이트 구동 신호 전송선(230)의 불량 여부를 판단하여 디스플레이부(40)에 그 결과를 전송한다. 디스플레이부(40)는 게이트 구동 신호 전송선(230)의 불량 여부에 대한 결과를 표시하여 사용자에게 알리는 역할을 수행한다. 경우에 따라서는 게이트 구동 신호 전송선(230)에 불량이 발생한 경우 비교 제어부(30)는 인터락(interlock)을 통하여 비교 결과를 알릴 수도 있다.
비교 제어부(30)는 실시간으로 비교 분석이 가능한 프로세싱 모듈을 구비할 수 있다. 비교 제어부(30)는 게이트 구동 신호 전송선(230)의 색깔, 모양, 무늬와 같은 스캐닝 영상 데이터를 기준 영상 데이터와 비교 분석하는 하는 방법을 사용할 수 있다.
이하 도 4를 이용하여 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 방법에 대하여 설명한다. 여기서 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 방법을 순차적으로 나타낸 공정 순서도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 우선 액정 패널 상의 게이트 구동 신호 전송선을 영상부를 이용하여 스캐닝한다(S210). 스캐닝된 영상 데이터는 게이트 구동 신호 전송선의 색깔, 모양, 무늬 등으로 구성될 수 있다.
이어서 스캐닝된 영상 데이터는 비교 제어부에 전송되고, 비교 제어부는 스캐닝된 영상 데이터와 기준 영상 데이터를 비교 분석하여 게이트 구동 신호 전송선의 불량 여부를 판단한다(S220).
마지막으로 비교 제어부는 이러한 비교 결과를 디스플레이부에 전송하고, 디스플레이부는 불량여부에 대한 결과를 디스플레이한다(S230).
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해되어야만 한다.
상술한 바와 같이 본 발명의 디스플레이 패널의 테스트 장치 및 테스트 방법에 따르면, 액정 패널에 구동 IC를 실장하기 전에 액정 패널 상의 배선 패턴(예를 들어, 게이트 구동 신호 전송선)의 불량 여부를 판단함으로써 구동 IC 등과 같은 부품의 손실을 방지할 수 있다. 또한 본 발명의 테스트 장치는 기존의 테스트 설비에 탈부착이 가능하기 때문에 공간을 효율적으로 활용할 수 있다.

Claims (12)

  1. 디스플레이 패널 상에 형성된 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하는 영상부;
    상기 영상부로부터 제공된 스캐닝된 영상 데이터와 기준 영상 테이터를 비교 분석하는 비교 제어부; 및
    상기 비교 제어부로부터 비교 분석한 결과를 표시하는 디스플레이부를 포함하는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 게이트 구동 신호 전송선은 상기 디스플레이 패널에 접속하는 게이트 구동 IC 간을 연결하거나 상기 디스플레이 패널에 접속하는 데이터 구동 IC와 상기 게이트 구동 IC 사이를 연결하는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 스캐닝된 영상 데이터는 상기 게이트 구동 신호 전송선의 색깔, 모양 또는 무늬로 이루어진 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 영상부는 CCD 카메라로 이루어진 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    서로 실질적으로 수직하게 배치되어 상기 영상부를 이동시키는 제1 레일 및 제2 레일을 더 포함하는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 테스트 장치는 그로스 테스트 장치 또는 비쥬얼 인스펙션 장치에 탈부착되는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널은 액정 패널인 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  8. 디스플레이 패널 상에 형성된 게이트 구동 신호 전송선을 스캐닝하는 단계;
    스캐닝된 영상 데이터와 기준 영상 테이터를 비교 분석하는 단계; 및
    비교 분석한 결과를 표시하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 게이트 구동 신호 전송선은 상기 디스플레이 패널에 접속하는 게이트 구동 IC 간을 연결하거나 상기 디스플레이 패널에 접속하는 데이터 구동 IC와 상기 게이트 구동 IC 사이를 연결하는 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 스캐닝된 영상 데이터는 상기 게이트 구동 신호 전송선의 색깔, 모양 또는 무늬로 이루어진 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  11. 제8 항에 있어서,
    상기 스캐닝하는 단계는 CCD 카메라를 이용하는 디스플레이 패널의 테스트 방법.
  12. 제8 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널은 액정 패널인 디스플레이 패널의 테스트 방법.
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