TWI631441B - 複合式產品測試系統及其測試方法 - Google Patents

Abstract

一種複合式產品測試系統，包括主管理程式、測試設備及老化設備，其中測試設備及老化設備設置於複合式產品測試系統的老化房內。首先將待測產品分別插上老化房中的多個治具，並啟動老化程序以提供老化環境。主管理程式控制其中一組治具連接至測試設備，以由測試設備對所連接的治具上的待測產品進行測試。於測試完成後，主管理程式控制治具脫離與測試設備的連接並恢復與老化設備的連接。接著主管理程式在所有待測產品皆測試完畢前，依序控制下一組治具與老化設備以及測試設備的連接與脫離，以在老化程序同時完成各待測產品的測試程序。

Description

複合式產品測試系統及其測試方法

本發明涉及產品的測試系統，尤其涉及複合式產品測試系統，以及其測試方法。

在產品的生產過程中，確保生產後的產品能夠正常運作是相當重要的。因此，各類產品在生產完成後，通常會通過一或多個的測試設備來進行產品的各種能力的測試動作(以電子產品為例，可例如為雜訊測試、保護測試、高壓測試等)。並且，部分產品還會藉由老化設備來縮短產品老化的時間，藉此測試產品在長時間的使用後是否會發生改變。

請參閱圖1，為相關技術的測試環境示意圖。一般來說，產品生產完成後，生產者會先將產品放進一第一測試設備(Automotive Test System,ATS)11中進行測試。具體地，該第一測試設備11是對產品進行如前述的雜訊測試、保護測試、高壓測試等測試，以判斷所生產的產品是否為良品。

待該第一測試設備11測試完成後，生產者接著將產品放進一產品老化設備12，以對產品執行一老化程序。具體地，該產品老化設備12可為一老化房(Burn-in Chamber)，該老化房中的溫度、溼度等可經過調整而提供一老 化環境。該老化環境可使得產品老化的時間縮短，進而在短時間內得到產品在經過長時間的使用後的狀態。

待該老化程序完成後，生產者再接著將產品放進一第二測試設備13中再次進行測試。藉此，可測試產品在長時間的使用(即，經過該老化程序)之後，是否仍可維持正常運作。

如上所述，於相關技術的測試方式中，產品必須依序經過生產後的第一次測試、老化程序、以及老化程序後的第二次測試，因此，整個測試過程實相當耗時。

舉例來說，該第一測試設備11與該第二測試設備13的治具一次可插入兩個產品同時進行測試，且一次測試需耗時三分鐘，而該產品老化設備12(即，老化房)的治具一次可插入一百個產品同時進行該老化程序，且該老化程序一次需耗時兩小時。

於上述實施例中，一百個產品所需的完整測試時間將為：(100/2)*3+60*2+(100/2)*3=420分鐘。由於該第一測試設備11一次只能對兩個產品進行測試，因此必須等到所有產品的第一次測試都完成後，才能進行該老化程序。如此一來，將會耗費許多不必要的等待時間。

再者，於實際測試過程中，每一個產品皆需依序進行下列動作：(1)插入該第一測試設備11的治具；(2)於第一次測試完成後，從該第一測試設備11的治具上卸下；(3)插入該產品老化設備12的治具；(4)於老化程序完成後，從該產品老化設備12的治具上卸下；(5)插入該第二測試設備13的治具；及(6)於第二次測試完成後，從該第二測試設備13的治具上卸下。

由上述說明可看出，為了進行測試，每一個產品皆需上/下治具三次，如此不但需額外浪費產品上/下治具的時間，且上/下治具的次數過多還可能會增加產品或治具受損的風險，不但徒增成本，還容易使測試結果不準確。

本發明的主要目的，在於提供一種複合式產品測試系統及其測試方法，可在進行老化(Burn-in)程序的同時完成待測產品所需的測試程序。

為了達成上述的目的，本發明的複合式產品測試系統主要包括一主管理程式、一測試設備及一老化設備，其中該測試設備及該老化設備共同設置於該複合式產品測試系統的一老化房(Burn-in Chamber)內。

首先，係將複數待測產品分別插上該老化房中的多個治具，並啟動一老化程序以於該老化房中提供老化環境，該老化環境因為溫度、溼度等的改變，使得產品老化的時間縮短，進而在短時間內得到產品在經過長時間的使用後的狀態。該主管理程式接著控制其中一治具連接至該測試設備，以由該測試設備對該治具上的複數待測產品進行測試。於測試完成後，該主管理程式控制所述治具脫離與該測試設備的連接並恢復與該老化設備的連接。接著，該主管理程式在所有待測產品皆測試完畢前，依序控制下一組治具與該老化設備以及該測試設備的連接與脫離，以在該老化程序的同時完成該複數待測產品必要的一測試程序。

本發明可在產品進行老化程序的過程中，同時執行必要的測試程序，有別於相關技術中，必須先對各個產品依序進行測試，等一定數量的產品測試完成後，再將多個測試完成的產品集體放入老化房以進行老化程序的測試方式。因此，本發明實可有效避免測試時間的浪費，以提高測試效率。

11‧‧‧第一測試設備

12‧‧‧產品老化設備

13‧‧‧第二測試設備

2‧‧‧複合式產品測試系統

20‧‧‧老化房

3‧‧‧軟體層

31‧‧‧製造執行程式

32‧‧‧主管理程式

33‧‧‧測試管理程式

34‧‧‧老化管理程式

4‧‧‧硬體層

40‧‧‧治具

41‧‧‧測試設備

42‧‧‧老化設備

43‧‧‧供電設備

44‧‧‧能源回收系統

441‧‧‧DC-to-DC轉換器

442‧‧‧逆變器

5‧‧‧待測產品

S10~S32‧‧‧測試步驟

S40~S50‧‧‧測試步驟

圖1為相關技術的測試環境示意圖。

圖2為本發明的第一具體實施例的測試系統方塊圖。

圖3為本發明的第二具體實施例的測試系統方塊圖。

圖4A為本發明的第一具體實施例的第一測試流程圖。

圖4B為本發明的第一具體實施例的第二測試流程圖。

圖5為本發明的第一具體實施例的能源回收系統示意圖。

圖6為本發明的第二具體實施例的測試流程圖。

茲就本發明之一較佳實施例，配合圖式，詳細說明如後。

首請參閱圖2，為本發明的第一具體實施例的測試系統方塊圖。本發明揭露了一種複合式產品測試系統(下面將簡稱為該測試系統2)，該測試系統2用以同時對複數待測產品(或可簡稱為產品)進行測試程序以及老化(Burn-in)程序，藉以判斷所生產的產品是否為良品而可進行販售。

如圖2所示，該測試系統2主要包括一軟體層3及一硬體層4。具體地，該軟體層3包括複數應用程式，該硬體層4包括複數硬體設備，該軟體層3中的該複數程式分別用以控制該硬體層4內的複數硬體設備。

該硬體層4主要包括一老化房(Burn-in Chamber)20、一測試設備(Test Equipment)41及一老化設備(Burn-in apparatus)42，其中該測試設備41與該老化設備42共同設置於該老化房20內。於進行測試時，該測試系統2 對該老化房20啟動一老化程序，以於該老化房20中提供一老化環境，使得產品老化的時間縮短，進而在短時間內得到產品在經過長時間的使用後的狀態。

該測試設備41用以對所連接的一或多個待測產品(如圖3所述的待測產品5)進行各項能力的測試動作。於一實施例中，該些待測產品5為電子產品，而該測試動作包括雜訊測試、保護測試、高壓測試、效率測試、電源特性測試、通訊測試等，但不加以限定。

該老化設備42用以監控並搜集所連接的一或多個待測產品5的各項數據。於一實施例中，該些待測產品5為電子產品，該老化設備42係監控並搜集該些待測產品5的電壓數據或/及電流數據，以判斷該些待測產品5是否於該老化程序中產生變化。

值得一提的是，該測試系統2可僅於該老化房20內設置一組該測試設備41及一組該老化設備42，也可設置多組的該測試設備41及/或多組的該老化設備42，不加以限定。

具體地，該測試設備41僅用以測試固定的能力，因此若要測試該些待測產品5的多種能力，則該老化房20中可同時設置多組不同類型的該測試設備41。再者，該老化設備42係用以監控並搜集該些待測產品5於該老化程序中的各項數據，因此視該些待測產品5的體積大小以及數量而定，該老化房20中可同時設置多組該老化設備42。為便於說明，下面說明將以單一組該測試設備41與單一組該老化設備42為例但不以此為限。

該軟體層3包括一製造執行程式(Manufacturing Execution System,MES)31，該製造執行程式31用以監控、獲取並儲存該測試系統2的所有測試數據，藉此管理所有待測產品5的完整生產程序。

該軟體層3還包括一主管理程式(Main Management System)32、一測試管理程式33及一老化管理程式(Burn-In Management System,BIMS)34。具體地，該測試管理程式33用以控制該測試設備41，藉此該測試設備41可對所連接的一或多個該待測產品5進行該測試程序。該老化管理程式34用以控制該老化設備42，藉此該老化設備42可監控並搜集所連接的一或多個該待測產品5於該老化程序中的各項數據，以判斷該些待測產品5於長時間的使用後是否可維持正常運作。

該主管理程式32係連接該測試管理程式33及該老化管理程式34，依據一特定排程對該測試管理程式33及該老化管理程式34進行控制。藉此，該主管理程式32可通過該測試管理程式33及該老化管理程式34來分別對該測試設備41與該老化設備42進行控制，並且使得該測試設備41與該老化設備42的運作符合該特定排程。

請同時參閱圖3，為本發明的第二具體實施例的測試系統方塊圖。本發明的其中一主要技術特徵在於，將該測試設備41與該老化設備42共同設置於該老化房20內，藉此令該些待測產品5在進行該老化程序的同時，可依序進行該測試程序。如此一來，可有效避免在相關技術中需要等待一定數量的產品測試完成後，才能集體進入老化環境以進行老化程序所需耗費的等待時間。

如圖3所示，該測試系統2中還包括有複數治具40，該複數治具40設置於該老化房20內，並且各該治具40分別用以插接一或多個該待測產品5。於一實施例中，各該治具40可分別用以插接至少四個該待測產品5，但不加以限定。

具體地，該測試系統2是通過該主管理程式32依據一排程順序來控制該測試設備41與該老化設備42的運作，並且該些治具40是預設連接該老化設備42，以由該老化設備42來監控並搜集該些治具40上的該些待測產品5於該老化程序中的各項數據。

本發明的其中一主要技術特徵在於，該主管理程式32可依據該排程順序來控制各該治具40依序脫離與該老化設備42的連接，並轉連接至該測試設備41以進行該測試程序。並且，於該測試程序結束後，再脫離與該測試設備41的連接，並恢復與該老化設備42的連接。如此一來，本發明的該測試系統2可在該些待測產品5進行該老化程序的同時，依序完成各個待測產品5的測試動作，進而縮短測試等待時間並提高測試效率。

關於上述的該排程順序，舉例來說，該主管理程式32可預設先控制一第一治具連接至該測試設備41，以令該第一治具上的一第一待測產品進行該測試程序。當該第一待測產品完成該測試程序後，該主管理程式32再控制該第一治具脫離與該測試設備41的連接，並恢復與該老化設備42的連接。待該第一治具恢復與該老化設備42的連接後，該主管理程式32再接著控制一第二治具連接至該測試設備41，以令該第二治具上的一第二待測產品進行該測試程序，以此類推。

續請參閱圖4A及圖4B，分別為本發明的第一具體實施例的第一測試流程圖及第二測試流程圖。圖4A及圖4B揭露了本發明的一複合式產品測試方法(下面簡稱為該測試方法)，該測試方法主要是運用於如圖2及圖3所示的該測試系統2。

如圖4A所示，首先，生產人員將所生產的該些待測產品5分別插上該測試系統2的該老化房20中的該些治具40(步驟S10)，其中該些治具40係預設連接至該老化設備42，但不加以限定。

於測試開始時，該測試系統2首先由該主管理程式32控制該老化房20啟動一老化程序，以於該老化房20內提供一老化環境(步驟S12)。具體地，該老化環境具有與所在環境相異的溫度及/或溼度，使得該老化房20中的該些待測產品5可於短時間內模擬為長時間使用後的狀態。

接著，該主管理程式32依據一排程順序控制該複數治具40的其中之一脫離與該老化設備42的連接，並轉連接至該測試設備41(步驟S14)，並且，控制該測試設備41對所連接的該治具40上的該待測產品5進行一第一次測試動作(步驟S16)。具體地，該主管理程式32是連接並控制該測試管理程式33，以藉由該測試管理程式33來控制該測試設備41執行該第一次測試動作。

於一實施例中，該待測產品5為一電子產品(例如一電源供應器)，該第一次測試動作為雜訊測試、保護測試、高壓測試、效率測試、電源特性測試或通訊測試等。

於該第一次測試動作完成後，該主管理程式32接著控制該治具40脫離與該測試設備41的連接，並恢復與該老化設備42的連接(步驟S18)。藉此，由該老化設備42持續監控並搜集該治具40上的該待測產品5於該老化程序中的各項數據。於一實施例中，該老化設備42係持續監控並搜集該待測產品5的電壓數據及/或電流數據，以判斷該待測產品5是否因進行該老化程序而產生變化(例如故障或降低效率等)。

值得一提的是，於該步驟S18中，該主管理程式32是連接並控制該老化管理程式34，以藉由該老化管理程式34來控制該老化設備42進行該些數據的監控與搜集動作。

該步驟S18後，一組治具40上插接的一或多個該待測產品5已完成了該第一次測試動作。該主管理程式32接著判斷該老化房20內的所有待測產品是否皆完成該第一次測試動作(步驟S20)。具體地，該老化房20中的所有治具40皆連接至該老化設備42，並且該主管理程式32一次僅會控制一組治具40連接至該測試設備41(以該測試設備41的數量為一組為例)。若一組治具40可同時插接四個該待測產品5，則同時間僅會有四個該待測產品5接受該測試設備41的該第一次測試動作。

若該主管理程式32判斷該老化房20內的所有測試產品尚未全部完成該第一次測試動作，則該主管理程式32會重覆執行該步驟S14至該步驟S18。藉此，依照該排程順序依序控制各該治具40脫離與該老化設備42的連接並轉連接至該測試設備41，以進行該第一次測試動作，並於該第一次測試動作完成後恢復各該治具40與該老化設備42的連接，直到該老化房20內的所有待測產品皆完成該第一次測試動作為此。

於該老化房20內的所有待測產品皆完成該第一次測試動作後，該複數治具40皆維持與該老化設備42的連接，並且該主管理程式32接著判斷一流程接續條件是否符合(步驟S22)。於一實施例中，該主管理程式32可於該老化房20內的所有待測產品5皆完成該第一次測試動作後，即判斷該流程接續條件符合。於另一實施例中，該主管理程式32可於所有待測產品5皆完成該第一次測試動作(步驟S20)後，待該老化程序執行了一特定時間後，判斷該流程接 續條件符合。於該流程接續條件符合後，該測試系統2即可依照該排程順序開始對該些待測產品5進行一第二次測試動作。

具體地，該第一次測試動作的目的在於測試所生產的該些待測產品5是否為良品，而該第二次測試動作的目的在於測試老化後的該些待測產品5是否可維持正常運作，因此，該測試系統2需等待該些待測產品5進行了該老化程序一定時間後，才可進行該第二次測試動作。

舉例來說，若該老化房20中具有一百組該治具40，且該測試設備41執行該第一次測試動作需耗時3分鐘，則當所有治具40上的該待測產品5皆完成該第一次測試動作後，第一組治具40上的該待測產品5已執行了297分鐘((100-1)*3分鐘)的該老化程序。因此，在最後一組治具40上的該待測產品5完成該第一次測試動作後，該測試系統2可直接進行第一組治具40上的該待測產品5的該第二次測試動作。

如圖4B所示，於該流程接續條件符合後，該主管理程式32接著依據該排程順序控制該複數治具40的其中之一脫離與該老化設備42的連接，並再次轉連接至該測試設備41(步驟S24)。藉此，由該測試設備41對所連接的該治具40上的該待測產品5進行該第二次測試動作(步驟S26)。值得一提的是，該主管理程式32是連接並控制該測試管理程式33，以藉由該測試管理程式33來控制該測試設備41執行該第二次測試動作。

具體地，該主管理程式32是依照該排程順序控制各該治具40與該測試設備41以及該老化設備42的連接關係，因此，於該步驟S24中第一組與該測試設備41連接的治具應與該步驟S14中第一組與該測試設備41連接的治具相同(例如為一第一治具)，於該步驟S24中第二組與該測試設備41連接的 治具應與該步驟S14中第二組與該測試設備41連接的治具相同(例如為一第二治具)，以此類推。

於該第二次測試動作完成後，該主管理程式32控制該治具40脫離與該測試設備41的連接，並再次恢復與該老化設備42的連接(步驟S28)。藉此，由該老化設備42持續監控並搜集該治具40上的該待測產品5的各項數據，直到該老化程序(例如兩個小時)完成為止。值得一提的是，該主管理程式32是連接並控制該老化管理程式34，以藉由該老化管理程式34來控制該老化設備42進行該些數據的監控與搜集動作。

該步驟S28後，該主管理程式32判斷該老化房20中的所有測試產品5是否皆完成了該第二次測試動作(步驟S30)，並且，於所有測試產品5皆完成該第二次測試動作前重覆執行該步驟S24至該步驟S28，以依照相同的該排程順序控制各該治具40與該測試設備41及該老化設備42的連接關係，以依序對各該治具40上的該待測產品5進行該第二次測試動作。

如前文中所述，該第一次測試動作是要測試所生產的產品是否為良品，而該第二次測試動作是要測試該些產品於長時間使用後(即，經過該老化程序後)是否可維持正常運作，並且本實施例中，該第一次測試動作與該第二次測試動作是經由相同的該測試設備41來執行。因此，於一實施例中，該第一次測試動作的測試內容係相同於該第二次測試動作的測試內容，但不加以限定。

於該老化房20中的所有待測產品5皆完成該第二次測試動作後，生產者即可將該老化房20中的所有待測產品5分別由各該治具40上卸下，並離開該老化房20(步驟S32)，以對該些待測產品5進行後續的產品包裝、出貨程序。

於一實施例中，各該治具40可同時插接四個該待測產品5，而該測試設備41執行兩次測試動作(包括該第一次測試動作與該第二次測試動作)所需的時間為四十五秒，該老化房20中可容納六百四十個該待測產品5(即，具有一百六十個該治具40)，而該老化程序需耗時兩個小時。

於此實施例中，所有待測產品5皆執行兩次測試動作所需耗費的測試時間為(640/4)*45秒=7200秒，恰好等於該老化程序所需的時間。也就是說，通過本發明的該測試系統2及該測試方法，該些待測產品5於進行測試時不必浪費任何的等待時間，因而可有效提昇整體的測試效率。

另外，通過本發明的測試系統及測試方法，所有待測產品5僅需上/下治具40一次，即可完成第一次測試動作、老化程序及第二次測試動作，甚至是第三、第四次測試動作。因此，不但可節省待測產品5上/下治具40所需的時間，還可有效避免因插接、拔除動作而造成待測產品5或治具40損壞的風險。

參閱圖5，為本發明的第一具體實施例的能源回收系統示意圖。於一實施例中，該測試系統2進一步包括一供電設備43及一能源回收系統(Energy Recyc1e System,ERS)44。

如圖5所示，該供電設備43係電性連接該待測產品5，以提供該待測產品5運作所需的電能。於本實施例中，該待測產品5是於運作狀態下進行該第一次測試動作、該老化程序及該第二次測試動作，該測試設備41是於該待測產品5的運作狀態下測試該待測產品5的各項能力，而該老化設備42是於該待測產品5的運作狀態下測試該待測產品的各項數據。

該能源回收系統44係電性連接該待測產品5及該供電設備43，用以接收該待測產品5運作所生的電能，並將所接收的電能回饋至該供電設備43。

具體地，如圖5所示，該能源回收系統44包括一DC-toDC轉換器441及一逆變器(Inverter)442，其中該逆變器442電性連接該DC-to-DC轉換器441。該DC-to-DC轉換器441係電性連接該待測產品5(以一電源供應器為例)，以接收並處理該待測產品5運作所生的直流電能。該逆變器442由該DC-to-DC轉換器441接收該直流電能並轉換為交流電能後，將該交流電能回饋至該供電設備43。

舉例來說，該待測產品5運作需要10KW的電能(也就是說該供電設備43需提供10KW的電能給該待測產品5)，而該待測產品5(例如為上述的電源供應器)的轉換效率為85%，因此在通電運作後可生成8.5KW的直流電能。該DC-to-DC轉換器441的轉換效率為90%，因此在接收並處理該待測產品5產生的該直流電能後可生成7.65KW的直流電能。

承上，該逆變器442的轉換效率為90%，因此在由該DC-to-DC轉換器441接收了該直流電能後，可轉換並生成6.885KW的交流電能。據此，該逆變器442可回饋6.885KW的交流電能至該供電設備43。如此一來，該供電設備43係持續提供10KW的電能給該待測產品5，當該待測產品5達到工作點而可正常運作後，該供電設備43即可降低輸出電能並僅需提供3.115KW的電能(10KW-6.885KW)，即可令該待測產品5維持正常運作。由上述說明可看出，該測試系統2藉由該能源回收系統44的設置，實可大幅降低執行該測試程序與該老化程序所需的耗電量。

於上述實施例中，該能源回收系統44接收該待測產品5運作所生的電能，並將所接收的電能回饋至該供電設備43。於其他實施例中，該能源回收系統44亦可將所接收的電能供給其他設備(圖未標示)使用，並不限於回饋至該供電設備43本身。

續請參閱圖6，為本發明的第二具體實施例的測試流程圖。於一實施例中，該測試系統2可通過該老化設備42所搜集的數據來判斷該些待測產品5在該老化程序中是否發生變化，進而決定是否需對該些待測產品5進行該第一次測試動作與該第二次測試動作。

如圖6所示，首先，在各該治具40尚未開始該第一次測試動作前，或已完成該第一次測試動作後，係受該主管理程式32的控制而連接至該老化設備42(步驟S40)，藉此，該老化設備42可監控並搜集所連接的該些治具40上的該待測產品5的各項數據(步驟S42)，並且依據所搜集的數據判斷各該待測產品5是否有故障現象(步驟S44)。

若該主管理程式32判斷任一該待測產品5沒有故障現象，則將該待測產品5所對應的該治具40排入接受該第一次測試動作或該第二次測試動作的一排程(步驟S46)。反之，若該主管理程式32判斷任一該待測產品5有故障現象，表示該測試系統2不需浪費成本對該待測產品5進行測試，因此該主管理程式32將該待測產品5對應的該治具40脫離接受該第一次測試動作或該第二次測試動作的該排程(步驟S48)。

進一步，該主管理程式32判斷該老化程序是否結束(步驟S50)，並且於該老化程序結束前持續執行該步驟S42至該步驟S48，以持續監控並搜集 該些待測產品5的數據，並判斷該些待測產品5在該老化程序中是否發生變化而故障。

通過本發明的測試系統與測試方法，可以在待測產品進行老化程序的同時進行必要的測試動作，藉此省去測試的等待時間，進而大幅提昇測試效率。

以上所述僅為本發明之較佳具體實例，非因此即侷限本發明之專利範圍，故舉凡運用本發明內容所為之等效變化，均同理皆包含於本發明之範圍內，合予陳明。

Claims (20)

1. 一種產品測試系統，包括：一老化房，提供一老化環境；複數治具，設置於該老化房中，並且各該複數治具分別插接一產品；一老化設備，設置於該老化房中，該複數治具全部預設連接該老化設備；一測試設備，設置於該老化房中；及一主管理程式，控制該複數治具與該老化設備及該測試設備的連接及脫離；其中，該主管理程式於該老化房中的所有產品皆完成一第一次測試動作前，依照一排程控制各該複數治具的其中之一先脫離與該老化設備的連接後，再轉連接至該測試設備，以由該測試設備依序對各該複數治具的其中之一上的該產品進行該第一次測試動作，並於該第一次測試動作完成後脫離與該測試設備的連接並恢復與該老化設備的連接。
2. 如請求項1所述的產品測試系統，其中更包括一測試管理程式，用以控制該測試設備。
3. 如請求項2所述的產品測試系統，其中更包括一老化管理程式，用以控制該老化設備。
4. 如請求項3所述的產品測試系統，其中該主管理程式連接該測試管理程式及該老化管理程式，以控制該測試設備及該老化設備的作動。
5. 如請求項1所述的產品測試系統，其中各該治具分別插接四個該產品。
6. 如請求項1所述的產品測試系統，其中更包括： 一供電設備，提供該產品運作所需的電能；及一能源回收系統，接收該產品運作所生的電能，並將接收的電能回饋至該供電設備。
7. 如請求項6所述的產品測試系統，其中該能源回收系統包括：一DC-to-DC轉換器，接收並處理該產品運作所生的直流電能；及一逆變器，連接該DC-to-DC轉換器及該供電設備，接收該直流電能並轉換為交流電能後，將該交流電能回饋至該供電設備。
8. 如請求項1所述的產品測試系統，其中該主管理程式於一流程接續條件符合時，依照該排程依序控制各該複數治具的其中之一脫離與該老化設備的連接並轉連接至該測試設備，以由該測試設備依序對各該複數治具的其中之一上的該產品執行一第二次測試動作，並於該第二次測試動作完成後脫離與該測試設備的連接並恢復與該老化設備的連接。
9. 如請求項8所述的產品測試系統，其中該第一次測試動作的測試內容相同於該第二次測試動作的測試內容。
10. 如請求項8所述的產品測試系統，其中該流程接續條件為該老化房中的所有產品皆完成該第一次測試動作。
11. 如請求項8所述的產品測試系統，其中該老化房是執行一老化程序以提供該老化環境，該流程接續條件為該老化程序執行一特定時間。
12. 一種產品測試方法，運用於如請求項1所述的產品測試系統，並且包括：a)該主管理程式控制該老化房提供一老化環境； b)該主管理程式控制各該複數治具的其中之一先脫離與該老化設備的連接後，並轉連接至該測試設備，以由該測試設備對所連接的該治具上的該產品進行一第一次測試動作，其中該複數治具全部預設連接該老化設備；c)於該第一次測試動作完成後，該主管理程式控制各該複數治具的其中之一脫離與該測試設備的連接並恢復與該老化設備的連接；d)判斷該老化房中的所有產品是否皆完成該第一次測試動作；及e)於所有產品皆完成該第一次測試動作前重覆執行該步驟b與該步驟c，以依照一排程由該測試設備依序對各該複數治具上的該產品進行該第一次測試動作。
13. 如請求項12所述的產品測試方法，其中該產品測試系統更包括用以控制該測試設備的一測試管理程式，以及用以控制該老化設備的一老化管理程式，該步驟b與該步驟c中，主管理程式是通過對該測試管理程式與該老化管理程式以控制該測試設備及該老化設備。
14. 如請求項12所述的產品測試方法，其中更包括下列步驟：f)依據該老化設備搜集的各項數據判斷該產品是否有故障現象；g)於該產品沒有故障現象時，將該產品對應的該治具排入接受該第一次測試動作的排程；及h)於該產品有故障現象時，將該產品對應的該治具脫離接受該第一次測試動作的排程。
15. 如請求項12所述的產品測試方法，其中更包括下列步驟：i)該主管理程式判斷一流程接續條件是否符合； j)於該流程接續條件符合時，控制各該複數治具的其中之一脫離與該老化設備的連接並再次連接至該測試設備，以由該測試設備對該治具上的該產品進行一第二次測試動作；k)於該第二次測試動作完成後，控制各該複數治具的其中之一脫離與該測試設備的連接並再次恢復與該老化設備的連接，以由該老化設備搜集該治具上的該產品於該老化程序中的各項數據；l)判斷該老化房中的所有產品是否皆完成該第二次測試動作；及m)於所有產品皆完成該第二次測試動作前重覆執行該步驟j與該步驟k，以依照該排程依序對各該複數治具上的該產品進行該第二次測試動作。
16. 如請求項15所述的產品測試方法，其中該第一次測試動作的測試內容相同於該第二次測試動作的測試內容。
17. 如請求項15所述的產品測試方法，其中該流程接續條件為該老化房內的所有產品皆完成該第一次測試動作。
18. 如請求項15所述的產品測試方法，其中該步驟a是控制該老化房啟動一老化程序以提供該老化環境，該流程接續條件為該老化程序執行一特定時間。
19. 如請求項15所述的產品測試方法，其中更包括一步驟：n)該步驟m後，將該老化房中的所有產品分別由各該治具上卸下並離開該老化房。
20. 如請求項15所述的產品測試方法，其中更包括下列步驟：o)依據該老化設備搜集的各項數據判斷該產品是否有故障現象； p)於該產品沒有故障現象時，將該產品對應的該治具排入接受該第二次測試動作的排程；及q)於該產品有故障現象時，將該產品對應的該治具脫離接受該第二次測試動作的排程。