CN108535556B - 复合式产品测试系统及其测试方法 - Google Patents

Abstract

一种复合式产品测试系统，包括主管理程序、测试设备及老化设备，其中测试设备及老化设备设置于复合式产品测试系统的老化房内。首先将待测产品分别插上老化房中的多个治具，并启动老化程序以提供老化环境。主管理程序控制其中一组治具连接至测试设备，以由测试设备对所连接的治具上的待测产品进行测试。于测试完成后，主管理程序控制治具脱离与测试设备的连接并恢复与老化设备的连接。接着主管理程序控制在所有待测产品皆测试完毕前，依次控制下一组治具与老化设备以及测试设备的连接与脱离，以在老化程序同时完成各待测产品的测试程序。

Description

复合式产品测试系统及其测试方法

技术领域

本发明涉及产品的测试系统，尤其涉及复合式产品测试系统，以及其测试方法。

背景技术

在产品的生产过程中，确保生产后的产品能够正常运作是相当重要的。因此，各类产品在生产完成后，通常会通过一或多个的测试设备来进行产品的各种能力的测试动作(以电子产品为例，可例如为噪声测试、保护测试、高压测试等)。并且，部分产品还会藉由老化设备来缩短产品老化的时间，藉此测试产品在长时间的使用后是否会发生改变。

请参阅图1，为相关技术的测试环境示意图。一般来说，产品生产完成后，生产者会先将产品放进一第一测试设备(Automotive Test System,ATS)11中进行测试。具体地，该第一测试设备11是对产品进行如前述的噪声测试、保护测试、高压测试等测试，以判断所生产的产品是否为良品。

待该第一测试设备11测试完成后，生产者接着将产品放进一产品老化设备12，以对产品执行一老化程序。具体地，该产品老化设备12可为一老化房(Burn-in Chamber)，该老化房中的温度、湿度等可经过调整而提供一老化环境。该老化环境可使得产品老化的时间缩短，进而在短时间内得到产品在经过长时间的使用后的状态。

待该老化程序完成后，生产者再接着将产品放进一第二测试设备13中再次进行测试。藉此，可测试产品在长时间的使用(即，经过该老化程序)之后，是否仍可维持正常运作。

如上所述，于相关技术的测试方式中，产品必须依次经过生产后的第一次测试、老化程序、以及老化程序后的第二次测试，因此，整个测试过程相当耗时。

举例来说，该第一测试设备11与该第二测试设备13的治具一次可插入两个产品同时进行测试，且一次测试需耗时三分钟，而该产品老化设备12(即，老化房)的治具一次可插入一百个产品同时进行该老化程序，且该老化程序一次需耗时两小时。

于上述实施例中，一百个产品所需的完整测试时间将为：(100/2)*3+60*2+(100/2)*3＝420分钟。由于该第一测试设备11一次只能对两个产品进行测试，因此必须等到所有产品的第一次测试都完成后，才能进行该老化程序。如此一来，将会耗费许多不必要的等待时间。

再者，于实际测试过程中，每一个产品皆需依次进行下列动作：(1)插入该第一测试设备11的治具；(2)于第一次测试完成后，从该第一测试设备11的治具上卸下；(3)插入该产品老化设备12的治具；(4)于老化程序完成后，从该产品老化设备12的治具上卸下；(5)插入该第二测试设备13的治具；及(6)于第二次测试完成后，从该第二测试设备13的治具上卸下。

由上述说明可看出，为了进行测试，每一个产品皆需上/下治具三次，如此不但需额外浪费产品上/下治具的时间，且上/下治具的次数过多还可能会增加产品或治具受损的风险，不但徒增成本，还容易使测试结果不准确。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种复合式产品测试系统及其测试方法，可在进行老化(Burn-in)程序的同时完成待测产品所需的测试程序。

为了达成上述的目的，本发明的复合式产品测试系统主要包括一主管理程序、一测试设备及一老化设备，其中该测试设备及该老化设备共同设置于该复合式产品测试系统的一老化房(Burn-in Chamber)内。

首先，将多个待测产品分别插上该老化房中的多个治具，并启动一老化程序以于该老化房中提供老化环境，该老化环境因为温度、湿度等的改变，使得产品老化的时间缩短，进而在短时间内得到产品在经过长时间的使用后的状态。该主管理程序接着控制其中一治具连接至该测试设备，以由该测试设备对该治具上的多个待测产品进行测试。于测试完成后，该主管理程序控制所述治具脱离与该测试设备的连接并恢复与该老化设备的连接。接着，该主管理程序在所有待测产品皆测试完毕前，依次控制下一组治具与该老化设备以及该测试设备的连接与脱离，以在该老化程序的同时完成该多个待测产品必要的一测试程序。

本发明可在产品进行老化程序的过程中，同时执行必要的测试程序，有别于相关技术中，必须先对各个产品依次进行测试，等一定数量的产品测试完成后，再将多个测试完成的产品集体放入老化房以进行老化程序的测试方式。因此，本发明实可有效避免测试时间的浪费，以提高测试效率。

附图说明

图1为相关技术的测试环境示意图。

图2为本发明的第一具体实施例的测试系统方块图。

图3为本发明的第二具体实施例的测试系统方块图。

图4A为本发明的第一具体实施例的第一测试流程图。

图4B为本发明的第一具体实施例的第二测试流程图。

图5为本发明的第一具体实施例的能源回收系统示意图。

图6为本发明的第二具体实施例的测试流程图。

其中附图标记为：

11…第一测试设备

12…产品老化设备

13…第二测试设备

2…复合式产品测试系统

20…老化房

3…软件层

31…制造执行程序

32…主管理程序

33…测试管理程序

34…老化管理程序

4…硬件层

40…治具

41…测试设备

42…老化设备

43…供电设备

44…能源回收系统

441…DC-to-DC转换器

442…逆变器

5…待测产品

S10～S32…测试步骤

S40～S50…测试步骤

具体实施方式

兹就本发明之一较佳实施例，配合图式，详细说明如后。

首请参阅图2，为本发明的第一具体实施例的测试系统方块图。本发明公开了一种复合式产品测试系统(下面将简称为该测试系统2)，该测试系统2用以同时对多个待测产品(或可简称为产品)进行测试程序以及老化(Burn-in)程序，藉以判断所生产的产品是否为良品而可进行贩卖。

如图2所示，该测试系统2主要包括一软件层3及一硬件层4。具体地，该软件层3包括多个应用程序，该硬件层4包括多个硬设备，该软件层3中的该多个程序分别用以控制该硬件层4内的多个硬设备。

该硬件层4主要包括一老化房(Burn-in Chamber)20、一测试设备(TestEquipment)41及一老化设备(Burn-in apparatus)42，其中该测试设备41与该老化设备42共同设置于该老化房20内。于进行测试时，该测试系统2对该老化房20启动一老化程序，以于该老化房20中提供一老化环境，使得产品老化的时间缩短，进而在短时间内得到产品在经过长时间的使用后的状态。

该测试设备41用以对所连接的一或多个待测产品(如图3所述的待测产品5)进行各项能力的测试动作。于一实施例中，该些待测产品5为电子产品，而该测试动作包括噪声测试、保护测试、高压测试、效率测试、电源特性测试、通讯测试等，但不加以限定。

该老化设备42用以监控并搜集所连接的一或多个待测产品5的各项数据。于一实施例中，该些待测产品5为电子产品，该老化设备42监控并搜集该些待测产品5的电压数据或/及电流数据，以判断该些待测产品5是否于该老化程序中产生变化。

值得一提的是，该测试系统2可仅于该老化房20内设置一组该测试设备41及一组该老化设备42，也可设置多组的该测试设备41及/或多组的该老化设备42，不加以限定。

具体地，该测试设备41仅用以测试固定的能力，因此若要测试该些待测产品5的多种能力，则该老化房20中可同时设置多组不同类型的该测试设备41。再者，该老化设备42用以监控并搜集该些待测产品5于该老化程序中的各项数据，因此视该些待测产品5的体积大小以及数量而定，该老化房20中可同时设置多组该老化设备42。为便于说明，下面说明将以单一组该测试设备41与单一组该老化设备42为例但不以此为限。

该软件层3包括一制造执行程序(Manufacturing Execution System,MES)31，该制造执行程序31用以监控、获取并储存该测试系统2的所有测试数据，藉此管理所有待测产品5的完整生产程序。

该软件层3还包括一主管理程序(Main Management System)32、一测试管理程序33及一老化管理程序(Burn-In Management System,BIMS)34。具体地，该测试管理程序33用以控制该测试设备41，藉此该测试设备41可对所连接的一或多个该待测产品5进行该测试程序。该老化管理程序34用以控制该老化设备42，藉此该老化设备42可监控并搜集所连接的一或多个该待测产品5于该老化程序中的各项数据，以判断该些待测产品5于长时间的使用后是否可维持正常运作。

该主管理程序32连接该测试管理程序33及该老化管理程序34，依据一特定排程对该测试管理程序33及该老化管理程序34进行控制。藉此，该主管理程序32可通过该测试管理程序33及该老化管理程序34来分别对该测试设备41与该老化设备42进行控制，并且使得该测试设备41与该老化设备42的运作符合该特定排程。

请同时参阅图3，为本发明的第二具体实施例的测试系统方块图。本发明的其中一主要技术特征在于，将该测试设备41与该老化设备42共同设置于该老化房20内，藉此令该些待测产品5在进行该老化程序的同时，可依次进行该测试程序。如此一来，可有效避免在相关技术中需要等待一定数量的产品测试完成后，才能集体进入老化环境以进行老化程序所需耗费的等待时间。

如图3所示，该测试系统2中还包括有多个治具40，该多个治具40设置于该老化房20内，并且各该治具40分别用以插接一或多个该待测产品5。于一实施例中，各该治具40可分别用以插接至少四个该待测产品5，但不加以限定。

具体地，该测试系统2是通过该主管理程序32依据一排程顺序来控制该测试设备41与该老化设备42的运作，并且该些治具40是预设连接该老化设备42，以由该老化设备42来监控并搜集该些治具40上的该些待测产品5于该老化程序中的各项数据。

本发明的其中一主要技术特征在于，该主管理程序32可依据该排程顺序来控制各该治具40依次脱离与该老化设备42的连接，并转连接至该测试设备41以进行该测试程序。并且，于该测试程序结束后，再脱离与该测试设备41的连接，并恢复与该老化设备42的连接。如此一来，本发明的该测试系统2可在该些待测产品5进行该老化程序的同时，依次完成各个待测产品5的测试动作，进而缩短测试等待时间并提高测试效率。

关于上述的该排程顺序，举例来说，该主管理程序32可预设先控制一第一治具连接至该测试设备41，以令该第一治具上的一第一待测产品进行该测试程序。当该第一待测产品完成该测试程序后，该主管理程序32再控制该第一治具脱离与该测试设备41的连接，并恢复与该老化设备42的连接。待该第一治具恢复与该老化设备42的连接后，该主管理程序32再接着控制一第二治具连接至该测试设备41，以令该第二治具上的一第二待测产品进行该测试程序，以此类推。

续请参阅图4A及图4B，分别为本发明的第一具体实施例的第一测试流程图及第二测试流程图。图4A及图4B公开了本发明的一复合式产品测试方法(下面简称为该测试方法)，该测试方法主要是运用于如图2及图3所示的该测试系统2。

如图4A所示，首先，生产人员将所生产的该些待测产品5分别插上该测试系统2的该老化房20中的该些治具40(步骤S10)，其中该些治具40预设连接至该老化设备42，但不加以限定。

于测试开始时，该测试系统2首先由该主管理程序32控制该老化房20启动一老化程序，以于该老化房20内提供一老化环境(步骤S12)。具体地，该老化环境具有与所在环境相异的温度及/或湿度，使得该老化房20中的该些待测产品5可于短时间内模拟为长时间使用后的状态。

接着，该主管理程序32依据一排程顺序控制该多个治具40的其中之一脱离与该老化设备42的连接，并转连接至该测试设备41(步骤S14)，并且，控制该测试设备41对所连接的该治具40上的该待测产品5进行一第一次测试动作(步骤S16)。具体地，该主管理程序32是连接并控制该测试管理程序33，以藉由该测试管理程序33来控制该测试设备41执行该第一次测试动作。

于一实施例中，该待测产品5为一电子产品(例如一电源供应器)，该第一次测试动作为噪声测试、保护测试、高压测试、效率测试、电源特性测试或通讯测试等。

于该第一次测试动作完成后，该主管理程序32接着控制该治具40脱离与该测试设备41的连接，并恢复与该老化设备42的连接(步骤S18)。藉此，由该老化设备42持续监控并搜集该治具40上的该待测产品5于该老化程序中的各项数据。于一实施例中，该老化设备42持续监控并搜集该待测产品5的电压数据及/或电流数据，以判断该待测产品5是否因进行该老化程序而产生变化(例如故障或降低效率等)。

值得一提的是，于该步骤S18中，该主管理程序32是连接并控制该老化管理程序34，以藉由该老化管理程序34来控制该老化设备42进行该些数据的监控与搜集动作。

该步骤S18后，一组治具40上插接的一或多个该待测产品5已完成了该第一次测试动作。该主管理程序32接着判断该老化房20内的所有待测产品是否皆完成该第一次测试动作(步骤S20)。具体地，该老化房20中的所有治具40皆连接至该老化设备42，并且该主管理程序32一次仅会控制一组治具40连接至该测试设备41(以该测试设备41的数量为一组为例)。若一组治具40可同时插接四个该待测产品5，则同时间仅会有四个该待测产品5接受该测试设备41的该第一次测试动作。

若该主管理程序32判断该老化房20内的所有测试产品尚未全部完成该第一次测试动作，则该主管理程序32会重复执行该步骤S14至该步骤S18。藉此，依照该排程顺序依次控制各该治具40脱离与该老化设备42的连接并转连接至该测试设备41，以进行该第一次测试动作，并于该第一次测试动作完成后恢复各该治具40与该老化设备42的连接，直到该老化房20内的所有待测产品皆完成该第一次测试动作为此。

于该老化房20内的所有待测产品皆完成该第一次测试动作后，该多个治具40皆维持与该老化设备42的连接，并且该主管理程序32接着判断一流程接续条件是否符合(步骤S22)。于一实施例中，该主管理程序32可于该老化房20内的所有待测产品5皆完成该第一次测试动作后，即判断该流程接续条件符合。于另一实施例中，该主管理程序32可于所有待测产品5皆完成该第一次测试动作(步骤S20)后，待该老化程序执行了一特定时间后，判断该流程接续条件符合。于该流程接续条件符合后，该测试系统2即可依照该排程顺序开始对该些待测产品5进行一第二次测试动作。

具体地，该第一次测试动作的目的在于测试所生产的该些待测产品5是否为良品，而该第二次测试动作的目的在于测试老化后的该些待测产品5是否可维持正常运作，因此，该测试系统2需等待该些待测产品5进行了该老化程序一定时间后，才可进行该第二次测试动作。

举例来说，若该老化房20中具有一百组该治具40，且该测试设备41执行该第一次测试动作需耗时3分钟，则当所有治具40上的该待测产品5皆完成该第一次测试动作后，第一组治具40上的该待测产品5已执行了297分钟((100-1)*3分钟)的该老化程序。因此，在最后一组治具40上的该待测产品5完成该第一次测试动作后，该测试系统2可直接进行第一组治具40上的该待测产品5的该第二次测试动作。

如图4B所示，于该流程接续条件符合后，该主管理程序32接着依据该排程顺序控制该多个治具40的其中之一脱离与该老化设备42的连接，并再次转连接至该测试设备41(步骤S24)。藉此，由该测试设备41对所连接的该治具40上的该待测产品5进行该第二次测试动作(步骤S26)。值得一提的是，该主管理程序32是连接并控制该测试管理程序33，以藉由该测试管理程序33来控制该测试设备41执行该第二次测试动作。

具体地，该主管理程序32是依照该排程顺序控制各该治具40与该测试设备41以及该老化设备42的连接关系，因此，于该步骤S24中第一组与该测试设备41连接的治具应与该步骤S14中第一组与该测试设备41连接的治具相同(例如为一第一治具)，于该步骤S24中第二组与该测试设备41连接的治具应与该步骤S14中第二组与该测试设备41连接的治具相同(例如为一第二治具)，以此类推。

于该第二次测试动作完成后，该主管理程序32控制该治具40脱离与该测试设备41的连接，并再次恢复与该老化设备42的连接(步骤S28)。藉此，由该老化设备42持续监控并搜集该治具40上的该待测产品5的各项数据，直到该老化程序(例如两个小时)完成为止。值得一提的是，该主管理程序32是连接并控制该老化管理程序34，以藉由该老化管理程序34来控制该老化设备42进行该些数据的监控与搜集动作。

该步骤S28后，该主管理程序32判断该老化房20中的所有测试产品5是否皆完成了该第二次测试动作(步骤S30)，并且，于所有测试产品5皆完成该第二次测试动作前重复执行该步骤S24至该步骤S28，以依照相同的该排程顺序控制各该治具40与该测试设备41及该老化设备42的连接关系，以依次对各该治具40上的该待测产品5进行该第二次测试动作。

如前文中所述，该第一次测试动作是要测试所生产的产品是否为良品，而该第二次测试动作是要测试该些产品于长时间使用后(即，经过该老化程序后)是否可维持正常运作，并且本实施例中，该第一次测试动作与该第二次测试动作是经由相同的该测试设备41来执行。因此，于一实施例中，该第一次测试动作的测试内容相同于该第二次测试动作的测试内容，但不加以限定。

于该老化房20中的所有待测产品5皆完成该第二次测试动作后，生产者即可将该老化房20中的所有待测产品5分别由各该治具40上卸下，并离开该老化房20(步骤S32)，以对该些待测产品5进行后续的产品包装、出货程序。

于一实施例中，各该治具40可同时插接四个该待测产品5，而该测试设备41执行两次测试动作(包括该第一次测试动作与该第二次测试动作)所需的时间为四十五秒，该老化房20中可容纳六百四十个该待测产品5(即，具有一百六十个该治具40)，而该老化程序需耗时两个小时。

于此实施例中，所有待测产品5皆执行两次测试动作所需耗费的测试时间为(640/4)*45秒＝7200秒，恰好等于该老化程序所需的时间。也就是说，通过本发明的该测试系统2及该测试方法，该些待测产品5于进行测试时不必浪费任何的等待时间，因而可有效提升整体的测试效率。

另外，通过本发明的测试系统及测试方法，所有待测产品5仅需上/下治具40一次，即可完成第一次测试动作、老化程序及第二次测试动作，甚至是第三、第四次测试动作。因此，不但可节省待测产品5上/下治具40所需的时间，还可有效避免因插接、拔除动作而造成待测产品5或治具40损坏的风险。

参阅图5，为本发明的第一具体实施例的能源回收系统示意图。于一实施例中，该测试系统2进一步包括一供电设备43及一能源回收系统(Energy Recycle System,ERS)44。

如图5所示，该供电设备43电性连接该待测产品5，以提供该待测产品5运作所需的电能。于本实施例中，该待测产品5是于运作状态下进行该第一次测试动作、该老化程序及该第二次测试动作，该测试设备41是于该待测产品5的运作状态下测试该待测产品5的各项能力，而该老化设备42是于该待测产品5的运作状态下测试该待测产品的各项数据。

该能源回收系统44电性连接该待测产品5及该供电设备43，用以接收该待测产品5运作所生的电能，并将所接收的电能回馈至该供电设备43。

具体地，如图5所示，该能源回收系统44包括一DC-to-DC转换器441及一逆变器(Inverter)442，其中该逆变器442电性连接该DC-to-DC转换器441。该DC-to-DC转换器441电性连接该待测产品5(以一电源供应器为例)，以接收并处理该待测产品5运作所生的直流电能。该逆变器442由该DC-to-DC转换器441接收该直流电能并转换为交流电能后，将该交流电能回馈至该供电设备43。

举例来说，该待测产品5运作需要10KW的电能(也就是说该供电设备43需提供10KW的电能给该待测产品5)，而该待测产品5(例如为上述的电源供应器)的转换效率为85％，因此在通电运作后可生成8.5KW的直流电能。该DC-to-DC转换器441的转换效率为90％，因此在接收并处理该待测产品5产生的该直流电能后可生成7.65KW的直流电能。

承上，该逆变器442的转换效率为90％，因此在由该DC-to-DC转换器441接收了该直流电能后，可转换并生成6.885KW的交流电能。据此，该逆变器442可回馈6.885KW的交流电能至该供电设备43。如此一来，该供电设备43系持续提供10KW的电能给该待测产品5，当该待测产品5达到工作点而可正常运作后，该供电设备43即可降低输出电能并仅需提供3.115KW的电能(10KW-6.885KW)，即可令该待测产品5维持正常运作。由上述说明可看出，该测试系统2藉由该能源回收系统44的设置，实可大幅降低执行该测试程序与该老化程序所需的耗电量。

于上述实施例中，该能源回收系统44接收该待测产品5运作所生的电能，并将所接收的电能回馈至该供电设备43。于其他实施例中，该能源回收系统44亦可将所接收的电能供给其他设备(图未标示)使用，并不限于回馈至该供电设备43本身。

续请参阅图6，为本发明的第二具体实施例的测试流程图。于一实施例中，该测试系统2可通过该老化设备42所搜集的数据来判断该些待测产品5在该老化程序中是否发生变化，进而决定是否需对该些待测产品5进行该第一次测试动作与该第二次测试动作。

如图6所示，首先，在各该治具40尚未开始该第一次测试动作前，或已完成该第一次测试动作后，受该主管理程序32的控制而连接至该老化设备42(步骤S40)，藉此，该老化设备42可监控并搜集所连接的该些治具40上的该待测产品5的各项数据(步骤S42)，并且依据所搜集的数据判断各该待测产品5是否有故障现象(步骤S44)。

若该主管理程序32判断任一该待测产品5没有故障现象，则将该待测产品5所对应的该治具40排入接受该第一次测试动作或该第二次测试动作的一排程(步骤S46)。反之，若该主管理程序32判断任一该待测产品5有故障现象，表示该测试系统2不需浪费成本对该待测产品5进行测试，因此该主管理程序32将该待测产品5对应的该治具40脱离接受该第一次测试动作或该第二次测试动作的该排程(步骤S48)。

进一步，该主管理程序32判断该老化程序是否结束(步骤S50)，并且于该老化程序结束前持续执行该步骤S42至该步骤S48，以持续监控并搜集该些待测产品5的数据，并判断该些待测产品5在该老化程序中是否发生变化而故障。

通过本发明的测试系统与测试方法，可以在待测产品进行老化程序的同时进行必要的测试动作，藉此省去测试的等待时间，进而大幅提升测试效率。

以上所述仅为本发明的较佳具体实例，非因此即局限本发明的专利范围，故举凡运用本发明内容所为的等效变化，均同理皆包含于本发明的范围内，合予陈明。

Claims (19)

1.一种产品测试系统，包括：

一老化房，提供一老化环境；

多个治具，设置于该老化房中，并且各该多个治具分别插接一产品；

一老化设备，设置于该老化房中，连接该多个治具；

一测试设备，设置于该老化房中；及

一主管理程序，控制该多个治具与该老化设备及该测试设备的连接及脱离；

其中，该主管理程序于该老化房中的所有产品皆完成一第一次测试动作前，依照一排程控制各该多个治具的其中之一连接至该测试设备，以依序对各该多个治具的其中之一上的该产品进行该第一次测试动作，并于该第一次测试动作完成后脱离与该测试设备的连接并恢复与该老化设备的连接；且该主管理程序于一流程接续条件符合时，依照该排程依序控制各该多个治具的其中之一脱离与该老化设备的连接并转连接至该测试设备，以由该测试设备依序对各该多个治具的其中之一上的该产品执行一第二次测试动作，并于该第二次测试动作完成后脱离与该测试设备的连接并恢复与该老化设备的连接。

2.如权利要求1所述的产品测试系统，其特征在于，更包括一测试管理程序，用以控制该测试设备。

3.如权利要求2所述的产品测试系统，其特征在于，更包括一老化管理程序，用以控制该老化设备。

4.如权利要求3所述的产品测试系统，其特征在于，该主管理程序连接该测试管理程序及该老化管理程序，以控制该测试设备及该老化设备的作动。

5.如权利要求1所述的产品测试系统，其特征在于，各该治具分别插接四个该产品。

6.如权利要求1所述的产品测试系统，其特征在于，更包括：

一供电设备，提供该产品运作所需的电能；及

一能源回收系统，接收该产品运作所生的电能，并将接收的电能回馈至该供电设备。

7.如权利要求6所述的产品测试系统，其特征在于，该能源回收系统包括：

一DC-to-DC转换器，接收并处理该产品运作所生的直流电能；及

一逆变器，连接该DC-to-DC转换器及该供电设备，接收该直流电能并转换为交流电能后，将该交流电能回馈至该供电设备。

8.如权利要求1所述的产品测试系统，其特征在于，该第一次测试动作的测试内容相同于该第二次测试动作的测试内容。

9.如权利要求1所述的产品测试系统，其特征在于，该流程接续条件为该老化房中的所有产品皆完成该第一次测试动作。

10.如权利要求1所述的产品测试系统，其特征在于，该老化房是执行一老化程序以提供该老化环境，该流程接续条件为该老化程序执行一特定时间。

11.一种产品测试方法，运用于如权利要求1所述的产品测试系统，并且包括：

a)该主管理程序控制该老化房提供该老化环境；

b)该主管理程序控制各该多个治具的其中之一脱离与该老化设备的连接并转连接至该测试设备，以由该测试设备对所连接的该治具上的该产品进行一第一次测试动作；

c)于该第一次测试动作完成后，该主管理程序控制各该多个治具的其中之一脱离与该测试设备的连接并恢复与该老化设备的连接；

d)判断该老化房中的所有产品是否皆完成该第一次测试动作；及

e)于所有产品皆完成该第一次测试动作前重复执行该步骤b与该步骤c，以依照一排程由该测试设备依序对各该多个治具上的该产品进行该第一次测试动作。

12.如权利要求11所述的产品测试方法，其特征在于，该产品测试系统更包括用以控制该测试设备的一测试管理程序，以及用以控制该老化设备的一老化管理程序，该步骤b与该步骤c中，该主管理程序是通过对该测试管理程序与该老化管理程序以控制该测试设备及该老化设备。

13.如权利要求11所述的产品测试方法，其特征在于，更包括下列步骤：

f)依据该老化设备搜集的各项数据判断该产品是否有故障现象；

g)于该产品没有故障现象时，将该产品对应的该治具排入接受该第一次测试动作的排程；及

h)于该产品有故障现象时，将该产品对应的该治具脱离接受该第一次测试动作的排程。

14.如权利要求11所述的产品测试方法，其特征在于，更包括下列步骤：

i)该主管理程序判断一流程接续条件是否符合；

j)于该流程接续条件符合时，控制各该多个治具的其中之一脱离与该老化设备的连接并再次连接至该测试设备，以由该测试设备对该治具上的该产品进行一第二次测试动作；

k)于该第二次测试动作完成后，控制各该多个治具的其中之一脱离与该测试设备的连接并再次恢复与该老化设备的连接，以由该老化设备搜集该治具上的该产品于一老化程序中的各项数据；

l)判断该老化房中的所有产品是否皆完成该第二次测试动作；及

m)于所有产品皆完成该第二次测试动作前重复执行该步骤j与该步骤k，以依照该排程依序对各该多个治具上的该产品进行该第二次测试动作。

15.如权利要求14所述的产品测试方法，其中该第一次测试动作的测试内容相同于该第二次测试动作的测试内容。

16.如权利要求14所述的产品测试方法，其特征在于，该流程接续条件为该老化房内的所有产品皆完成该第一次测试动作。

17.如权利要求14所述的产品测试方法，其特征在于，该步骤a是控制该老化房启动该老化程序以提供该老化环境，该流程接续条件为该老化程序执行一特定时间。

18.如权利要求14所述的产品测试方法，其特征在于，更包括一步骤：

n)该步骤m后，将该老化房中的所有产品分别由各该治具上卸下并离开该老化房。

19.如权利要求14所述的产品测试方法，其特征在于，更包括下列步骤：

o)依据该老化设备搜集的各项数据判断该产品是否有故障现象；

p)于该产品没有故障现象时，将该产品对应的该治具排入接受该第二次测试动作的排程；及

q)于该产品有故障现象时，将该产品对应的该治具脱离接受该第二次测试动作的排程。

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