TWI465737B - 老化測試系統 - Google Patents

Description

老化測試系統

本發明係有關於一種測試系統，特別是有關於一種可對不同種類的待測物進行老化測試的測試系統。

一般而言，任何產品在出廠前，必需經過多道的測試程式，而老化測試(burn in)就是產品的測試項目之一。老化測試的方式是將產品置於測試箱(chamber)中，藉由控制測試箱的溫度變化，以模擬產品的老化現象，並作為後續的老化分析。然而，老化測試與其它測試項目，如傳輸率測試、訊號強度測試等，是分開進行的。通常需等到老化測試完成後，才會進行其它測試項目，或是其它測試項目完成後，才進行老化測試。

再者，習知的測試箱僅能針對單一種產品進行測試，若有多種產品欲進行老化測試時，必需輪流測試。然而，由於每一產品的老化測試時間很長，因此，大幅增加產品出廠前的測試時間。此外，對產品進行老化測試及對產品進行指定的測試時，必須依據規劃的老化測試行程及各種指定測試項目分別進行參數設定，而增加控制人員的工作時間及成本。

本發明提供一種測試系統，包括一測試箱、一客戶端以及一伺服器端。測試箱設置至少一待測物。客戶端具有一控制裝置。控制裝置耦接待測物，用以令待測物執行一測試程式。伺服器端具有一主機裝置，用以控制測試箱的 溫度，並根據一預設訊息，提供一設定資訊檔予客戶端。控制裝置根據設定資訊檔，決定待測物執行測試程式的次數。

為讓本發明之特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

第1圖為本發明實施例之測試系統之示意圖。如圖所示，測試系統100包括，一測試箱110、客戶端CI₁ ~CI₆ 以及一伺服器端SV。伺服器端SV透過測試箱110，對待測物進行老化測試。在本實施例中，測試箱110具有測試架FM₁ ~FM₆ ，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，測試箱110具有其它數量的測試架。

測試箱110內之每一測試架FM₁ ~FM₆ 具有至少一待測物。本發明並不限定每一測試架的待測物的數量及種類。在一實施例中，測試架FM₁ ~FM₆ 之一者的待測物數量可能相同或不同於測試架FM₁ ~FM₆ 之另一者的待測物數量。另外，在本實施例中，同一測試架具有相同種類的待測物，而不同測試架具有不同種類的待測物。在其它實施例中，同一測試架具有不同種類的待測物。

在本實施例中，測試系統100具有客戶端CI₁ ~CI₆ ，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，測試系統100具有至少一客戶端。在本實施例中，相同種類的待測物係置放於同一測試架上。因此，客戶端CI₁ ~CI₆ 分別耦接一相對應的測試架FM₁ ~FM₆ ，用以控制測試架FM₁ ~FM₆ 的待測物。在其它實施例中，同一測試架可能具有不同種類的待 測物。在此例中，多個客戶端將耦接同一測試架，不過，不同客戶端控制不同種類的待測物。

在本實施例中，客戶端CI₁ ~CI₆ 各自具有一控制裝置以及一連接裝置。在一可能實施例中，控制裝置可以是電腦、控制器、控制電路、處理器等，但不用以限定本發明。每一控制裝置透過相對應的連接裝置，控制相對應的測試架上的待測物。以客戶端CI₂ 為例，客戶端CI₂ 具有一控制裝置PC₂ 以及一連接裝置CN₂ 。控制裝置PC₂ 透過連接裝置CN₂ 控制測試架FM₂ 上的所有待測物。

在本實施例中，控制裝置PC₂ 令測試架FM₂ 上的所有待測物執行同一測試程式。在其它實施例中，控制裝置PC₁ ~PC₆ 可透過同一連接裝置，耦接測試架FM₁ ~FM₆ 。

本發明實施例不限定待測物所執行的測試程式。在一可能實施例中，測試架FM₁ ~FM₆ 之一者的待測物所執行測試程式可能相同或不同於測試架FM₁ ~FM₆ 之另一者的待測物所執行測試程式。在不同的測試程式中，測試的項目、時間、順序並不相同。

本發明實施例並不限制連接裝置CN₁ ~CN₆ 與待測物之間的傳輸介面的種類。在一可能實施例中，連接裝置CN₁ ~CN₆ 係透過有線方式(如RS-232、USB)或是無線方式(如紅外線、藍芽)的傳輸介面，傳送信號予測試架FM₁ ~FM₆ 上的待測物。在其它實施例中，連接裝置CN₁ ~CN₆ 之一者耦接待測物的傳輸介面不同於連接裝置CN₁ ~CN₆ 之另一者耦接待測物的傳輸介面。

伺服器端SV具有一主機裝置HS。主機裝置HS根據 一預設訊息控制測試箱110的溫度，並對應該預設訊息，提供一設定資訊檔S_SET 予客戶端CI₁ ~CI₆ 。需說明的是，在本實施例中，預設訊息在伺服器端SV的作用是控制測試箱，而設定資訊檔S_SET 在客戶端CI₁ ~CI₆ 則是用來定義老化期間及在各老化期間中測試程式的執行次數。

本發明並不限定預設訊息的來源。在一可能實施例中，預設訊息係由一規劃人員事先規劃，再輸入至主機裝置HS。另外，本發明亦不限定主機裝置HS如何根據該預設訊息，提供一設定資訊檔S_SET 予客戶端CI₁ ~CI₆ 。在一可能實施例中，只要與主機裝置HS的供電時間有關的訊息，均可作為設定資訊檔S_SET 。在另一可能實施例中，主機裝置HS係直接將預設訊息作為一設定資訊檔S_SET ，再提供予控制裝置PC₁ ~PC₆ 。

在本實施例中，主機裝置HS根據預設訊息，決定是否供電予測試箱110內的待測物。在一可能實施例中，主機裝置HS係同時供電予測試箱110內的所有待測物，或是同時不供電予測試箱110內的所有待測物。在主機裝置HS供電後，客戶端CI₁ ~CI₆ 令待測物執行相對應的測試程式。因此，在本實施例中，可同時對待測物進行一老化測試以及其它項目的測試。

本發明不限定伺服器端SV與客戶端CI₁ ~CI₆ 或是與測試箱110間的傳輸介面。在本實施例中，主機裝置HS係透過切換裝置120，以線材(cable)的方式，提供設定資訊檔S_SET 予客戶端CI₁ ~CI₆ ，或是透過切換裝置120，接收來自客戶端CI₁ ~CI₆ 的訊息。在一可能實施例中，切換裝置120 是乙太網路交換器，因此伺服器端SV可透過乙太網路(Ethernet)與測試箱110及切換裝置120進行通訊。在其它實施例中，切換裝置120可以是無線存取裝置，例如無線路由器或無線存取點，因此主機裝置HS與切換裝置120間的傳輸方式係為無線通訊傳輸，或是切換裝置120與客戶端CI₁ ~CI₆ 間的傳輸方式係為無線通訊傳輸，如依據IEEE802.11或WI-FI無線通訊標準的無線通訊傳輸技術。

控制裝置PC₁ ~PC₆ 根據主機裝置HS所告知的設定資訊檔S_SET ，決定相對應待測物執行測試程式的次數。舉例而言，由於待測物131及133係為相同種類的待測物，但不同於待測物132，因此，控制裝置PC₂ 根據設定資訊檔S_SET ，決定待測物131及133執行一第一測試程式的次數，控制裝置PC₆ 根據設定資訊檔S_SET ，決定待測物132執行一第二測試程式的次數。

在本實施例中，雖然待測物131及132執行不同的測試程式，但待測物131及132執行測試程式的次數可能相同或不同，其係依照測試程式執行一次測試行程的時間長短而定。在其它實施例中，待測物131及133係屬相同種類的產品，但因其內部元件的效能不同，故待測物131與133執行測試程式的次數不一定相同。

第2A圖為伺服器端所接收到的預設訊息的一可能實施例。主機裝置HS根據預設訊息200，設定測試箱110的溫度，並供電或不供電予待測物。在一可能實施例中，預設訊息200係由一規劃人員提供予主機裝置HS。在本實施例中，預設訊息200包括參數資訊組0~7，但並非用以 限制本發明。在其它實施例中，參數資訊組的數量可能大於或小於8。

在本實施例中，每一參數資訊組包括一供電狀態參數P(n)、一溫度參數T(n)、一等待時間參數WT(n)以及一維持時間參數MT(n)，其中0≦n≦7。於本實施例中，該供電狀態參數P(n)包括第一及第二狀態，第一狀態為供電狀態；第二狀態為停止供電狀態。舉例而言，由於參數資訊組0中的供電狀態參數P(0)為第一狀態，因此，主機裝置HS供電予待測物，並且根據溫度參數T(0)，將測試箱110的溫度控制在25℃。主機裝置HS根據等待時間參數WT(0)，等待60分鐘，再根據維持時間參數MT(0)，將測試箱110的溫度維持在25℃，並維持120分鐘。

在其它實施例中，當主機裝置HS根據參數資訊組0控制測試箱的溫度時，控制裝置PC₁ ~PC₆ 令待測物執行相對應的測試程式，用以擷取待測物執行測試程式所需的行程時間。在另一實施例中，待測物執行測試程式所需的行程時間係為事先預設，並且主機裝置HS藉由設定資訊檔S_SET ，將待測物執行測試程式所需的行程時間告知控制裝置PC₁ ~PC₆ 。在其它實施例中，控制裝置PC₁ ~PC₆ 在未取得設定資訊檔S_SET 前，先令待測物依據測試程式執行至少一次的測試行程，並計時該測試行程的執行時間，用以得知待測物執行測試程式所需的行程時間。

另外，請參考第2A圖，參數資訊組1中的供電狀態參數P(1)為第二狀態，因此，主機裝置HS停止供電予待測物，並且根據溫度參數T(1)，令測試箱110的溫度由25℃ 變化至-40℃。當測試箱110的溫度開始變化時，主機裝置HS根據等待時間參數WT(1)，等待40分鐘，並在40分鐘後，根據維持時間參數MT(1)，令測試箱110的溫度維持在-40℃，並維持30分鐘。

在一可能實施例中，當測試箱110的溫度太快或太慢到達-40℃時，表示測試箱110不穩定，因此，主機裝置HS將發出一警示訊息，用以提醒測試人員。舉例而言，當主機裝置HS依據溫度參數T(1)，控制測試箱110的溫度由25℃變化至-40℃時，主機裝置HS將等待40分鐘，並在40分鐘後，判斷測試箱110的溫度是否已達-40℃。若測試箱110的溫度不等於預設溫度，表示測試箱110發生異常，主機裝置HS發出一警示訊息，用以提醒測試人員，並發出一中斷訊息予控制裝置PC₁ ~PC₆ ，用以令所有待測物停止執行相對應的測試程式，並且主機裝置HS立即停止供電予所有待測物。在另一可能實施例中，當主機裝置HS控制測試箱110的溫度由25℃變化至-40℃時，若於一預定時間之內，測試箱溫度超過一預設溫度時，判定測試箱110發生異常，例如爆炸事件發生，主機裝置HS發出一警示訊息，用以提醒測試人員，並發出一中斷訊息予控制裝置PC₁ ~PC₆ ，用以令所有待測物停止執行相對應的測試程式，並立即停止供電予所有待測物，其中，該預定時間係由等待時間參數WT(1)乘以一預設百分比(例如10%)取得；而該預設溫度係由溫度參數T(1)乘以一預設數值(例如5)取得，需說明的是，該預設數值係可依測試箱內的容許溫度做適當調整。於另一實施例中，測試箱溫度只要測 試箱110的溫度一達到-40℃，主機裝置HS不再等待，並立即維持測試箱110的溫度。

在本實施例中，藉由第2A圖所示的預設訊息200，便可推測出每一老化期間的持續時間。舉例而言，當主機裝置HS接收到參數資訊組0時，供電予待測物並維持120分鐘。由於當主機裝置HS接收到參數資訊組1時，不再供電予待測物，因此，第一老化期間的長度係為120分鐘。

同樣地，請參考參數資訊組2及3，由於主機裝置HS供電予待測物的總維持時間為MT(2)+MT(3)=290分鐘，因此，第二老化期間的長度係為290分鐘。在參數資訊組5及6中，由於主機裝置HS供電予待測物的總維持時間為MT(5)+MT(6)=425分鐘，因此，第三老化期間的持續時間係為425分鐘。在另一實施例中，上述主機裝置HS推測每一老化期間的持續時間係由控制裝置PC₁ ~PC₆ 執行，因此，伺服器端SV的主機裝置HS將預設訊息200作為設定資訊檔S_SET (預設訊息200等同設定資訊檔S_SET )傳送至客戶端CI₁ ~CI₆ ，控制裝置PC₁ ~PC₆ 可取得每一老化期間的持續時間，具體實施方式請參考第3圖及其說明。

在上述實施例中，老化期間並未包含等待時間。然而，在其它實施例中，老化期間更包含等待時間。舉例而言，第一老化期間的持續時間為WT(0)+MT(0)=180分鐘。第二老化期間的持續時間為MT(2)+WT(3)+MT(3)=350分鐘。第三老化期間的持續時間為MT(5)+WT(6)+MT(6)=525分鐘。

主機裝置HS根據預設訊息200，產生一設定資訊檔S_SET 予控制單元PC₁ ~PC₆ ，用以告知供電時間，好讓控制 單元PC₁ ~PC₆ 決定待測物執行測試時間的次數。

第2B圖為設定資訊檔S_SET 之一可能實施例。在本實施例中，設定資訊檔S_SET 在客戶端CI₁ ~CI₆ 的作用則是用來定義老化期間的長度及待測物執行測試程式的次數。於本實施例中，控制裝置PC₁ ~PC₆ 根據主機裝置HS所告知的設定資訊檔S_SET ，可推得溫度曲線210，再由溫度曲線210，便可得知老化期間CT₁ ~CT₃ 的持續時間，也就是主機裝置HS供電的時間。

控制裝置PC₁ ~PC₆ 根據老化期間CT₁ ~CT₃ 的持續時間，決定相對應待測物執行相對應測試程式的次數。舉例而言，假設，待測物131執行測試程式所需的行程時間為TP₁₃₁ 。控制裝置PC₂ 將老化期間CT₁ 的持續時間除以待測物131的行程時間TP₁₃₁ ，便可得知在老化期間CT₁ 內，待測物131可執行1次測試程式。

由於老化期間CT₂ 的持續時間大於老化期間CT₁ 的持續時間，因此，在老化期間CT₂ 中，待測物131執行測試程式的次數(4次)大於在老化期間CT₁ 中，待測物131執行測試程式的次數(1次)。其它的待測物的測試次數依此類推。

本發明並不限定每一待測物執行測試程式的次數。在一可能實施例中，針對同一待測物(如131)而言，在不同的老化期間(CT₁ ~CT₃ )中，執行不同次數的測試程式(如1次、4次、6次)。在另一可能實施例中，針對不同種類的待測物(如131、132)而言，在同一老化期間(CT₂ )中，執行不同次數的測試程式(4次、2次)。在其它實施例中，針對相同 種類的待測物(如131、133)而言，在同一老化期間(CT₂ )中，執行不同次數的測試程式(4次、3次)。

由於測試系統100具有複數客戶端，因此，可自動且同時對複數不同類型的機種產品進行老化測試，而不需測試人員再重新設定。另外，在進行老化測試的同時，亦可一併對待測物進行其它的測試項目，以達到單位時間內進行多項測試，縮短待測物所需的測試時間，並提供簡單的行程規劃方法。

第3圖為本發明之客戶端的一可能操作示意圖。請配合本案第1圖，由於客戶端CI₁ ~CI₆ 的操作原理均相同，故以下係以客戶端CI₂ 為例。如第3圖所示，首先，接收一設定資訊檔S_SET (步驟S310)。本發明並不限定設定資訊檔S_SET 的接收方式。舉例而言，客戶端CI₁ ~CI₆ 可利用有線或無線方式，接收設定資訊檔S_SET 。本發明亦不限定設定資訊檔S_SET 的內容。只要能夠讓客戶端CI₁ ~CI₆ 得知主機裝置HS供電時間的資訊，均可作為設定資訊檔S_SET 。

在另一可能實施例中，在接收設定資訊檔S_SET 前，客戶端CI₂ 先判斷是否接收到一開機訊息(boot-up message)。若否，則再繼續判斷是否接收到開機訊息，直到確實接收到開機訊息。在一可能實施例中，開機訊息係由待測物131所提供，客戶端根據此開機訊息，接收設定資訊檔S_SET 。另外，客戶端CI₁ 亦可在開機訊息後，擷取待測物131執行測試程式的行程時間TP₁₃₁ 。在其它實施例中，待測物131的行程時間亦含括在設定資訊檔S_SET 中。

計算待測物131執行測試程式的次數(步驟S320)。在 一可能實施例中，客戶端CI₂ 根據設定資訊檔S_SET ，便可得知主機裝置HS供電的時間，即老化期間CT₁ ~CT₃ 的持續時間。

在本實施例中，只要根據老化期間CT₁ ~CT₃ 的持續時間以及待測物131的行程時間TP₁₃₁ ，便可決定出待測物131在老化期間CT₁ ~CT₃ 執行測試程式的次數。在一可能實施例中，將老化期間CT₁ 的持續時間除以行程時間TP₁₃₁ ，便可得知待測物131在老化期間CT₁ 內的執行次數。在其它實施例中，亦可利用其它的運算公式，計算化期間CT₁ 的持續時間以及行程時間TP₁₃₁ 。

依據設定的行程規劃，執行測試程式(步驟S330)。在一可能實施例中，客戶端CI₂ 的控制裝置PC₂ 具有一測試軟體，根據設定資訊檔S_SET ，便可設定測試軟體的參數，用以規劃待測物131的測試行程，因此，當控制裝置PC₂ 執行測試軟體後，便可令待測物131執行測試程式。

在本實施例中，待測物131執行測試程式的同時，待測物131亦同時接受老化測試。因此，大幅降低測試時間。再者，當待測物131進行測試時，另一種類的待測物(132)亦同時進行測試，因此，測試人員不需等待測物131完成測試後，再能開始進行待測物132的測試。

第4圖為步驟S320的一可能實施方式。首先，初始化係數n、i及CT_i (步驟S410)。在本實施例中，經初始化後，n=0，i=1，CT_i =0。

判斷供電狀態參數P(n)是否為一第一狀態(步驟S420)。如第2A圖所示，供電狀態參數P(0)為第一狀態， 即供電狀態，因此，執行步驟S421。在步驟S421中，CT₁ =CT_i +MT(0)=0+120=120。接著，判斷供電狀態參數P(1)是否為一第一狀態(步驟S430)。

如第2A圖所示，供電狀態參數P(1)為第二狀態，即不供電狀態，因此，執行步驟S440，計算待測物在老化期間CT₁ 中，執行測試程式的次數N_i 。在本實施例中，步驟S440係將老化期間CT₁ 除以待測物執行測試程式的時間TP，用以得到一第一計算結果N₁ 。

接著，判斷供電狀態參數P(1)是否為空值(步驟S450)。由第2A圖可知，供電狀態參數P(1)並非為空值，因此，執行步驟S452，將係數i設定成2，以及執行步驟S423，將係數n設定成1，再回到步驟S420。

步驟S420判斷供電狀態參數P(1)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(1)為一第二狀態(即不供電狀態)，因此，執行步驟S422，判斷供電狀態參數P(2)是否為空值。由第2A圖可知，供電狀態參數P(2)並非空值，因此，執行步驟S423，將n設定成2，再回到步驟S420。

在步驟S420中，判斷供電狀態參數P(2)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(2)為第一狀態，因此，執行步驟S421，CT₂ =CT_i +MT(2)=0+90=90。接著，判斷供電狀態參數P(3)是否為第一狀態(步驟S430)。由第2A圖可知，供電狀態參數P(3)為第一狀態，因此，執行步驟S423，將係數n設定成3，再執行步驟S420。

在步驟S420中，判斷供電狀態參數P(3)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(3)為第一狀態，因 此，執行步驟S421，將先前所計算出的CT₂ 再加上參數MT(3)，便求得新的老化期間CT₂ 。因此新CT₂ =先前CT₂ +MT(3)=90+200=290。

接著，判斷供電狀態參數P(4)是否為第一狀態(步驟S430)。由第2A圖可知，供電狀態參數P(4)為一第二狀態(即不供電狀態)，因此，執行步驟S440，將老化期間CT₂ 除以待測物執行測試程式的時間TP，用以得到一第二計算結果N₂ 。接著，判斷供電狀態參數P(4)是否為空值(步驟S450)。由第2A圖可知，參數P(4)並非為空值，因此，執行步驟S452，將係數i設定成3，並將n係數設定成4(步驟S423)，再執行步驟S420。

步驟S420判斷供電狀態參數P(4)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(4)為一第二狀態(即不供電狀態)，因此，執行步驟S422，判斷供電狀態參數P(5)是否為空值(步驟S422)。由第2A圖可知，供電狀態參數P(5)並非空值，因此，執行步驟S423，將係數n設定成5，再執行步驟S420。

在步驟S420中，判斷供電狀態參數P(5)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(5)為第一狀態，因此，執行步驟S421，CT₃ =CT_i +MT(5)=0+150=150。接著，判斷供電狀態參數P(6)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(6)為第一狀態，因此，執行步驟S423，將係數n設定成6，再執行步驟S420。

在步驟S420中，判斷供電狀態參數P(6)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(6)為第一狀態，因 此，執行步驟S421，將先前所計算出的CT₃ 再加上參數MT(6)，便求得新的老化期間CT₃ 。在本實施例中，新CT₃ =先前CT₃ +MT6=150+275=425。

接著，判斷供電狀態參數P(7)是否為第一狀態(步驟S430)。由第2A圖可知，供電狀態參數P(7)為一第二狀態(即不供電狀態)，因此，執行步驟S440，將老化期間CT₃ 除以待測物執行測試程式的時間TP，用以得到一第三計算結果N₃ 。接著，判斷供電狀態參數P(7)是否為空值(步驟S450)。由第2A圖可知，供電狀態參數P(7)並非為空值，因此，執行步驟S452，將係數i設定成4，然後再執行步驟S423，將n設定成7，再執行步驟S420。

在步驟S420中，判斷供電狀態參數P(7)是否為第一狀態。由第2A圖可知，供電狀態參數P(7)為第二狀態，因此，執行步驟S422，判斷供電狀態參數P(8)是否為空值。由於第2A圖並未具有供電狀態參數P(8)，因此，判定供電狀態參數P(8)空值，並執行步驟S451，結束測試次數的計算。

綜上所述，由於本發明可同時對不同種類的產品同時地進行老化測試及各種指定測試項目，因此，可大幅降低產品出廠前的測試時間。此外，對產品進行老化測試及指定的測試時，只需依據規劃的老化測試行程，進行參數設定，不需再對各種指定測試項目的測試次數進行參數設定，因此，可降低控制人員的工作時間及成本。

除非另作定義，在此所有詞彙(包含技術與科學詞彙)均屬本發明所屬技術領域中具有通常知識者之一般理解。 此外，除非明白表示，詞彙於一般字典中之定義應解釋為與其相關技術領域之文章中意義一致，而不應解釋為理想狀態或過分正式之語態。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧測試系統

110‧‧‧測試箱

131~133‧‧‧待測物

120‧‧‧切換裝置

200‧‧‧預設訊息

210‧‧‧溫度曲線

CI₁ ~CI₆ ‧‧‧客戶端

SV‧‧‧伺服器端

FM₁ ~FM₆ ‧‧‧測試架

PC₁ ~PC₆ ‧‧‧控制裝置

CN₁ ~CN₆ ‧‧‧連接裝置

HS‧‧‧主機裝置

S_SET ‧‧‧設定資訊檔

S0~S7‧‧‧期間

CT₁ 、CT₂ ‧‧‧老化期間

TP₁₃₁ ~TP₁₃₃ ‧‧‧行程時間

S310~S330‧‧‧步驟

第1圖為本發明之測試系統之示意圖。

第2A圖為本發明之預設訊息的一可能實施例。

第2B圖為本發明之設定資訊檔之一可能實施例。

第3圖為本發明之客戶端的一可能操作示意圖。

第4圖為步驟S320的一可能實施例。

100‧‧‧測試系統

110‧‧‧測試箱

131~133‧‧‧待測物

120‧‧‧切換裝置

CI₁ ~CI₆ ‧‧‧客戶端

SV‧‧‧伺服器端

FM₁ ~FM₆ ‧‧‧測試架

PC₁ ~PC₆ ‧‧‧控制裝置

CN₁ ~CN₆ ‧‧‧連接裝置

HS‧‧‧主機裝置

S_SET ‧‧‧設定資訊檔

Claims (10)

1. 一種老化測試系統，包括：一測試箱，設置至少一待測物；一客戶端，具有一控制裝置，耦接該待測物，用以令該待測物執行一測試程式；以及一伺服器端，具有一主機裝置，用以控制該測試箱的溫度，並根據一預設訊息，提供一設定資訊檔予該客戶端；其中該控制裝置根據該設定資訊檔，決定該待測物執行該測試程式的次數；其中該設定資訊檔包括一第一參數資訊組、一第二參數資訊組以及一第三參數資訊組；該控制裝置判斷該第一參數資訊組中之一第一供電狀態參數是否為一預設狀態。
2. 如申請專利範圍第1項所述之老化測試系統，其中該主機裝置根據該預設訊息，決定一老化期間的持續時間，並在該老化期間，透過該測試箱，供電予該待測物。
3. 如申請專利範圍第2項所述之老化測試系統，其中當該第一供電狀態參數為該預設狀態，該控制裝置擷取該第一參數資訊組中之一第一維持時間參數，並判斷該第二參數資訊組中之一第二供電狀態參數是否為該預設狀態。
4. 如申請專利範圍第3項所述之老化測試系統，其中當該第二供電狀態參數不為該預設狀態，該控制裝置將該第一維持時間參數作為該老化期間的持續時間。
5. 如申請專利範圍第3項所述之老化測試系統，其中當該第一供電狀態參數為該預設狀態，該控制裝置更擷取該第一參數資訊組中之一第一等待時間參數，當該第二供 電狀態參數不為該預設狀態，該控制裝置將該第一維持時間參數及該第一等待時間參數的一總合做為該老化期間的持續時間。
6. 如申請專利範圍第3項所述之老化測試系統，其中當該第二供電狀態參數為該預設狀態時，該控制裝置擷取該第二參數資訊組中之一第二維持時間參數，並判斷該第三參數資訊組中之一第三供電狀態參數是否為該預設狀態。
7. 如申請專利範圍第6項所述之老化測試系統，其中當該第三供電狀態參數不為該預設狀態，該控制裝置將該第一及第二維持時間參數的一總合作為該老化期間的持續時間。
8. 如申請專利範圍第7項所述之老化測試系統，其中當該第一供電狀態參數為該預設狀態，該控制裝置更擷取該第一參數資訊組中之一第一等待時間參數，當該第二供電狀態參數為該預設狀態，該控制裝置更擷取該第二參數資訊組中之一第二等待時間參數，當該第三供電狀態參數不為該預設狀態時，該控制裝置將該第一維持時間參數、該第一等待時間參數、該第二維持時間參數、該第二等待時間參數的一總合做為該老化期間的持續時間。
9. 如申請專利範圍第2項所述之老化測試系統，其中該控制裝置根據該設定資訊檔，得知該待測物執行該測試程式所需的一測試時間，並將該老化期間的持續時間除以該測試時間，用以決定該待測物執行該測試程式的次數。
10. 如申請專利範圍第2項所述之老化測試系統，其中 在一啟始期間，該控制裝置令該待測物執行該測試程式，並擷取該待測物執行該測試程式所需的一測試時間，並將該老化期間的持續時間除以該測試時間，用以決定該待測物在該老化期間內，執行該測試程式的次數。