CN105807157B - 高温老化测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种高温老化测试系统，所述高温老化测试系统包括存储设备、高温箱，还包括供电板、控制电路；所述存储设备，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后自动执行所述老化测试程序；所述供电板，用于对连接其上的所述存储设备进行供电；所述高温箱，用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热，以提供高温环境；所述控制电路，用于控制对所述供电板的供电。本发明实现了在高温老化测试中降低对资源的占用。

Description

高温老化测试系统
技术领域
本发明涉及老化测试领域，尤其涉及一种高温老化测试系统。
背景技术
现有高温老化测试中，老化时需要在PC(个人计算机)机上执行老化程序，通过与存储设备的数据交互对存储设备进行老化处理，然而，一个PC机上可连接的存储设备个数较少，对大批量的存储设备进行高温老化测试时，就需要分配较多的PC机，受PC机性能的影响，使得大批量的工业生产变的异常麻烦，这样不仅导致测试效率低下，还导致在高温老化测试中占用较多资源，如PC机资源、电力资源。
发明内容
本发明提供一种高温老化测试系统，旨在解决采用PC机进行高温老化测试时占用较多资源的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种高温老化测试系统，包括存储设备、高温箱，还包括供电板、控制电路；所述存储设备，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后自动执行所述老化测试程序；所述供电板，用于对连接其上的所述存储设备进行供电；所述高温箱，用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热，以提供高温环境；所述控制电路，用于控制对所述供电板的供电。
优选地，所述供电板还用于：
对连接其上的多个所述存储设备进行集中供电。
优选地，所述供电板上连接的所述存储设备的个数的上限，根据所述高温箱的容纳程度而定。
优选地，所述存储设备还用于：
将所述测试结果存储在所述存储设备上指定的存储区域。
优选地，所述存储设备具体用于：
上电后，根据预置的读写数据进行有限次的读写操作，并在每一次的写操作后检测写入的数据与写入之前读取的数据是否一致；
在检测到写入的数据与读取的数据不一致时，将存在不一致数据的块的标识信息作为测试结果保存在所述存储设备上指定的存储区域。
优选地，所述存储设备还用于：
对存在不一致数据的块，在下一次读写操作时，跳过对所述块的写操作。
优选地，所述控制电路用于：
在供电开关打开时，通过电源直接向所述供电板供电。
现有的高温老化测试系统中，采用PC机(个人计算机)对连接其上的存储设备进行老化测试，由于本发明高温老化测试系统在测试时不需要借助于PC机，而是由所述存储设备对自身执行老化测试，因而无需厂家为高温老化测试分配较多的PC机资源，减少了对资源的占用，进一步的也就减少了对电力的消耗，降低了测试成本。
附图说明
图1为本发明高温老化测试系统一实施例的结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种高温老化测试系统，如图1所示，示出了本发明高温老化测试系统一实施例的结构示意图。所述高温老化测试系统包括存储设备10、高温箱20，还包括供电板30、控制电路40；所述存储设备10，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后自动执行所述老化测试程序；所述供电板30，用于对连接其上的所述存储设备10进行供电；所述高温箱20，用于对放置在其内部且连接在所述供电板30上的所述存储设备10进行加热，以提供高温环境；所述控制电路40，用于控制对所述供电板30的供电。
在进行高温老化测试时，测试人员先将写入有老化测试程序的所述存储设备10连接在所述供电板30上；然后将连接有所述存储设备10的所述供电板30放置在所述高温箱20内；之后，通过所述控制电路40对所述供电板30进行供电，以使上电后的所述存储设备10自动执行所述老化测试程序。
所述老化测试程序由厂家提供，用于根据预置程序对存储设备10进行反复的读操作和写操作，且读操作和写操作的次数由所述老化测试程序控制。在对存储设备10进行量产时，将所述老化测试程序写入各个存储设备10中。所述存储设备10可以为优盘、EMMC(Embedded Multi Media Card，内嵌式多媒体卡)、SSD(Solid State Drives，固态硬盘)等。
进一步地，所述供电板30还用于：
对连接其上的多个所述存储设备10进行集中供电。
所述供电板30可根据实际测试需求设置多个接口，用于将相应个数的所述存储设备10连接在所述供电板30上。在通过所述控制电路40给所述供电板30供电时，上电后的所述供电板30即给连接其上的所有所述存储设备10进行供电，以实现所述供电板30对连接其上的所有所述存储设备10进行集中供电。
进一步地，所述供电板30上连接的所述存储设备10的个数的上限，根据所述高温箱20的容纳程度而定。
在实际测试中，为了提高测试效率，一般会根据所使用的高温箱20的容纳程度来确定一个供电板30最多可连接多少个所述存储设备10，然后将确定出个数的所述存储设备10连接在所述供电板30上，并一起放置在所述高温箱20内。所述高温箱20用于为老化测试提供高温环境，其温度根据实际测试需求而定。所述高温箱20和所述供电板30可由各自的供电开关进行供电控制，也可以由共同的供电开关进行供电控制。
进一步地，所述存储设备10还用于：
将所述测试结果存储在所述存储设备10上指定的存储区域。
所述供电板30接通电源后，连接在所述供电板30上的各个所述存储设备10在上电后立刻启动，以执行所述老化测试程序。在所述老化测试程序中，设置有保存测试结果的指定的存储区域，在所述指定的存储区域内，不进行老化测试。
进一步地，所述存储设备10具体用于：
上电后，根据预置的读写数据进行有限次的读写操作，并在每一次的写操作后检测写入的数据与写入之前读取的数据是否一致；
在检测到写入的数据与读取的数据不一致时，将存在不一致数据的块的标识信息作为测试结果保存在所述存储设备10上指定的存储区域。
在检测到写入的数据与读取的数据不一致时，表示存在不一致数据的块是不稳定的，需对所述块进行后期的处理，此时，会将所述块的标识信息作为测试结果记录下来。
进一步地，所述存储设备10还用于：
对存在不一致数据的块，在下一次读写操作时，跳过对所述块的写操作。
由于存在不一致数据的块是需要进行后期处理的，所以在检测到某个块出现问题(读的数据与写的数据不一致)时，不再对该块继续进行读写操作。
进一步地，所述控制电路40用于：
在供电开关打开时，通过电源直接向所述供电板30供电。
采用能够由电源直接供电的供电板30，对大量所述存储设备10进行集中供电，便于在高温箱20内集中管理，使得测试环境简介有序，降低了测试过程中的不可控因素。
在高温老化测试结束并切掉电源后，取出所述供电板30和各个所述存储设备10，然后将所述存储设备10连接在PC机上读取所述存储设备10中的测试结果，根据所述测试结果，对所述存储设备10进行开卡处理，以筛选出不合格产品。
现有的高温老化测试系统中，采用PC机(个人计算机)对连接其上的存储设备10进行老化测试，但可连接的存储设备10的个数较少，一般最多有几十个。而采用本发明高温老化测试系统中所述供电板30，可连接的所述存储设备10的个数可达到几百个，因而能够大大地提高高温老化测试效率。另一方面，由于本发明高温老化测试系统在测试时不需要借助于PC机，而是由所述存储设备10对自身执行老化测试，因而无需厂家为高温老化测试分配较多的PC机资源，减少了对资源的占用，进一步的也就减少了对电力的消耗，降低了测试成本。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (4)

1.一种存储设备的高温老化测试系统，包括存储设备、高温箱，其特征在于，所述高温老化测试系统还包括供电板、控制电路；
所述存储设备，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后对所述存储设备自动执行所述老化测试程序；所述存储设备还用于将测试结果存储在所述存储设备上指定的存储区域；
所述存储设备具体用于：
上电后，根据预置的读写数据进行有限次的读写操作，并在每一次的写操作后检测写入的数据与写入之前读取的数据是否一致；
在检测到写入的数据与读取的数据不一致时，将存在不一致数据的块的标识信息作为所述测试结果保存在所述存储设备上指定的存储区域；
所述存储设备还用于：
对存在不一致数据的块，在下一次读写操作时，跳过对所述块的写操作；
所述供电板，用于对连接其上的所述存储设备进行供电；
所述高温箱，用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热，以提供高温环境；
所述控制电路，用于控制对所述供电板的供电。
2.如权利要求1所述的存储设备的高温老化测试系统，其特征在于，所述供电板还用于：
对连接其上的多个所述存储设备进行集中供电。
3.如权利要求2所述的存储设备的高温老化测试系统，其特征在于，所述供电板上连接的所述存储设备的个数的上限，根据所述高温箱的容纳程度而定。
4.如权利要求1所述的存储设备的高温老化测试系统，其特征在于，所述控制电路用于：
在供电开关打开时，通过电源直接向所述供电板供电。
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