CN113770054B - 一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种存储设备品质等级自动测试挑选装置及方法，装置包括：容器、位置信息标签、上料单元、测试单元、信息关联及保存单元和分类单元；位置信息标签设置于容器，容纳了存储设备在容器内的放置位置数据；上料单元、测试单元和分类单元均根据位置信息标签所容纳的放置位置数据对存储设备进行选取或放置操作；信息关联及保存单元用于将测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在容器的放置位置数据相关联并保存；分类单元根据信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将存储设备放置到多个分装盘中。本发明针对不同尺寸的存储设备的测试分选时可提高操作便捷性，降低设备成本。

Description

一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法

技术领域

本发明涉及存储设备生产技术领域，尤其是一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法。

背景技术

存储设备容量等级的挑选通常采用产线上的测试分选设备自动完成。由于存储设备外型大小不一，盛放在同样的托盘时放置位置和放置数目不相同，如图1所示，托盘盛放了SD卡001、eMMC 002和TF卡003。

现有技术下，对于不同尺寸存储设备的自动测试分选主要采用两种方式实现：方案一、对每一种尺寸的存储设备都特别设置专门的自动测试分选装置，用于选取该特定尺寸的存储设备；方案二、自动测试分选装置在对不同尺寸的存储设备进行测试和分选之前，先经过调试，以便能自动选取当前尺寸的存储设备。通过比较可发现，方案一能够灵活地执行对不同尺寸存储设备的自动测试分选，执行效率高，但相应地，需要多套投入自动测试分选装置，设备成本高；方案二能够节约设备成本，但是在对不同尺寸的存储设备进行测试和分选之前需要特别的调试过程，对存储设备的测试分选不够便捷，执行效率低。

因此，在对不同尺寸存储设备的进行自动测试分选时，如何同时提高操作便捷性并降低设备成本，成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于对不同尺寸存储设备的进行自动测试分选时，如何同时提高操作便捷性并降低设备成本。

为此，根据第一方面，本发明实施例公开了一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，包括：

容器，用于盛放存储设备；

位置信息标签，设置于所述容器，容纳了所述存储设备在所述容器内的放置位置数据；

上料单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据将存储设备放置到所述容器；

测试单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元，用于将所述测试单元对存储设备的测试结果与所述存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；以及，

分类单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中。

可选的，对所述存储设备的测试结果包括所述存储设备是否为不良品以及存储设备的品质等级，测试结果存储于所述信息关联及保存单元中。

可选的，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式。

可选的，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器中存储设备的位置文件在所述信息关联及保存单元中的存放路径。

可选的，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元中的索引。

可选的，所述位置信息标签为二维码，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述二维码的摄像设备。

可选的，所述位置信息标签为NFC电子标签，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述NFC电子标签的NFC电子标签读取设备。

可选的，所述存储设备为SD卡、eMMC或TF卡。

可选的，所述容器为托盘。

根据第二方面，本发明实施例公开了一种存储设备容量等级自动挑选方法，利用第一方面的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置执行，包括如下步骤：

上料单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据将存储设备放置到所述容器内；

测试单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元将所述测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；

分类单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中。

本发明具有以下的有益效果：

针对不同尺寸的存储设备的测试分选，本发明实施例无需为每一尺寸的存储设备单独设置测试分选装置，也无需在操作前特意调试测试分选装置以便选取和放置特定尺寸的存储设备，可提高操作便捷性，降低设备成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是托盘放置不同种类存储设备示意图；

图2为本发明实施例一结构示意图；

图3为本发明实施例一容器和位置信息标签示意图；

图4为本发明实施例二流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例一

参见图2和图3，本发明提供一种存储设备品质等级自动测试挑选装置实施例，包括：容器100、位置信息标签200、上料单元300、测试单元400、信息关联及保存单元500和分类单元600。容器100用于盛放存储设备，在一些实施例中，容器100为托盘。在一些实施例中，存储设备为SD卡、eMMC或TF卡，放置于托盘时，因不同的存储设备外形尺寸不同，放置的实际位置和数目会不相同。位置信息标签200设置于容器100，位置信息标签200容纳了存储设备在容器100内的放置位置数据。上料单元300用于根据位置信息标签200所容纳的放置位置数据将存储设备放置到容器100。测试单元400用于根据位置信息标签200所容纳的放置位置数据逐一对容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作。信息关联及保存单元500用于将测试单元400对存储设备的测试结果与存储设备在容器100内的放置位置数据相关联并保存。分类单元700用于根据位置信息标签200所容纳的放置位置数据逐一选取容器100内的存储设备，并根据信息关联及保存单元500所关联及保存的测试结果数据将存储设备放置到多个分装盘700中。

在本实施例中，上料单元300、测试单元400和分类单元600均根据位置信息标签200所容纳的放置位置数据对存储设备进行选取或放置操作，因而，针对不同尺寸的存储设备的测试分选，本实施例无需为每一尺寸的存储设备单独设置测试分选装置，也无需在操作前特意调试测试分选装置以便选取和放置特定尺寸的存储设备，可提高操作便捷性，降低设备成本。

在可选的实施例中，对存储设备的测试结果包括存储设备是否为不良品以及存储设备的品质等级，测试结果存储于信息关联及保存单元500中。

以存储设备标准容量为16GB为例，通过测试单元400对存储设备进行测试以判断其品质标准，当存储设备的闪存芯片坏块较多时，剔除坏块后容量通常无法达到标准容量，这样就必须将标准容量往下降一个等级，比如降到8GB，如果坏块还是太多，8GB也达不到，则继续降低到4GB或2GB等。

除了容量，还有其它多项判断存储设备品质标准的参数，比如所有frame errorbit(帧错误位)的均值，闪存的操作时序是否符合SPEC(Standard PerformanceEvaluation Corporation，标准性能评估组织)规范等。

下面以16GB作为该存储设备的标准容量为例，选取容量范围及frame error bit均值作为品质等级的判断指标，如表一所示，通过容量范围及frame error bit均值可得出存储设备的品质等级。

表一

相应地，分类单元600在对存储设备进行分类时，也会按照存储设备是否为不良品以及存储设备的品质等级将存储设备分入不同的分装盘700中。

在可选的实施例中，位置信息标签200容纳的数据包括容器100所容纳的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式。

以BGA153为例，其尺寸为11.5mm*13mm，容器按16*16共放置256个芯片设计，则前两行的坐标位置如表二所示：

表二

上述位置所对应公式为：

X_{slot_no}＝25+16.5*((slot_no+15)％16) (1)

Y_{slot_no}＝20+(slot_no/16)*18 (2)

公式(1)、(2)中，slot_no为容器中各芯片序号。公式(1)中的“％”为取余计算符，公式(2)中的“/”为取整计算符。

当存储设备为不同的封装形式，则对应不同的尺寸，可以制作出如上类似的坐标表格或公式。上料单元300、测试单元400和分类单元600可通过读取容器100上位置信息标签200中的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式信息，经过计算获得各个存储设备的位置坐标，进而对各个存储设备进行选取或放置操作。

在可选的实施例中，位置信息标签200容纳的数据包括容器100中存储设备的位置文件在信息关联及保存单元500中的存放路径。作为一种示例，存储设备的位置文件内容如上述表二所示，该位置文件存放于信息关联及保存单元500中，位置信息标签200容纳了该位置文件的存放路径。上料单元300、测试单元400和分类单元600可通过读取容器100上位置信息标签200得到位置文件的存放路径，进而在信息关联及保存单元500获取位置文件，依据位置文件的坐标指示对各个存储设备进行选取或放置操作。

在可选的实施例中，位置信息标签200容纳的数据包括容器100所容纳的存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元500中的索引。在信息关联及保存单元500中，通过该索引能够获取存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元500中的存放路径。作为一种示例，索引可为容器100的ID编码。作为一种示例，如表三所示，测试报告文件的内容包括存储设备在容器内的位置序号(slot_no)，以及存储设备的品质等级。

表三

在本实施例中，测试单元400可通过读取容器100上位置信息标签200，获取存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元500中的索引，进而获取存储设备的测试报告文件，测试单元400根据测试结果填写测试报告文件。分类单元600可通过可通过读取容器100上位置信息标签200，获取存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元500中的索引，进而获取存储设备的测试报告文件，分类单元600根据测试报告文件将每个存储设备放入各个分装盘700中。

需要说明的是，信息关联及保存单元500分别与测试单元400和分类单元600连接。信息关联及保存单元500接收测试单元400对各个容器中每一存储设备的测试结果，并以MapFile的形式，将容器ID编码和存储设备在容器的放置位置做为索引，关联及保存各个容器中每一存储设备的测试结果。分类单元600可通过MapFile的索引读取信息关联及保存单元500中对各个容器中每一存储设备的测试结果，以此为依据对存储设备进行分类。

在可选的实施例中，位置信息标签200为二维码，上料单元300、测试单元400和分类单元600均设有用于读取二维码的摄像设备。本实施例中，上料单元300、测试单元400和分类单元600均通过摄像设备读取容器100中二维码形式的位置信息标签200所容纳的数据，并依据存储设备在容器100内的放置位置数据选取和放置存储设备。

在可选的实施例中，位置信息标签200为NFC电子标签，上料单元300、测试单元400和分类单元600均设有用于读取NFC电子标签的NFC电子标签读取设备。本实施例中，上料单元300、测试单元400和分类单元600均通过NFC电子标签读取设备读取容器100中NFC电子标签形式的位置信息标签200所容纳的数据，并依据存储设备在容器100内的放置位置数据选取和放置存储设备。

实施例二

参见图4，本发明还提供一种存储设备容量等级自动挑选方法实施例，利用实施例一的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置执行，包括如下步骤：

S100：上料单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在容器的放置位置数据，根据放置位置数据将存储设备放置到容器内；

S200：测试单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在容器的放置位置数据，根据放置位置数据逐一对容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

S300：信息关联及保存单元将测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在容器的放置位置数据相关联并保存；

S400：分类单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在容器的放置位置数据，根据放置位置数据逐一选取容器内的存储设备，并根据信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将存储设备放置到多个分装盘中。

需要说明的是，针对不同尺寸的存储设备的测试分选，本实施例无需为每一尺寸的存储设备单独设置测试分选装置，也无需在操作前特意调试测试分选装置以便选取和放置特定尺寸的存储设备，可提高操作便捷性，降低设备成本。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这些也应该视为本发明的保护范围，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准，说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (9)

1.一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，包括：

容器，用于盛放存储设备；

位置信息标签，设置于所述容器，容纳了所述存储设备在所述容器内的放置位置数据；

上料单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据将存储设备放置到所述容器；

测试单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元，用于将所述测试单元对存储设备的测试结果与所述存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；以及，

分类单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中；所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式；

上述位置所对应公式为：

X_{slot_no}＝25+16.5*((slot_no+15)％16)

Y_{slot_no}＝20+(slot_no/16)*18

公式中，slot_no为容器中各芯片序号，公式中的“％”为取余计算符，公式中的“/”为取整计算符。

2.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，对所述存储设备的测试结果包括所述存储设备是否为不良品以及存储设备的品质等级，测试结果存储于所述信息关联及保存单元中。

3.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器中存储设备的位置文件在所述信息关联及保存单元中的存放路径。

4.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元中的索引。

5.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签为二维码，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述二维码的摄像设备。

6.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签为NFC电子标签，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述NFC电子标签的NFC电子标签读取设备。

7.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述存储设备为SD卡、eMMC或TF卡。

8.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述容器为托盘。

9.一种存储设备容量等级自动挑选方法，利用如权利要求1-8中任一项所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置执行，其特征在于，包括如下步骤：

上料单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据将存储设备放置到所述容器内；

测试单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元将所述测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；

分类单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中；所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式；

上述位置所对应公式为：

X_{slot_no}＝25+16.5*((slot_no+15)％16)

Y_{slot_no}＝20+(slot_no/16)*18

公式中，slot_no为容器中各芯片序号，公式中的“％”为取余计算符，公式中的“/”为取整计算符。