CN112579382A - 一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质,对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。本发明实现读写压力坏块的解析,坏块表中包含全部坏块的信息,且包含地址等信息,实现全部坏块的扫描定位,可以快速定位故障颗粒位置,减少故障盘维修时间和测试成本。

Description

一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质
技术领域
本发明涉及NVMe固态硬盘领域,具体涉及一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质。
背景技术
随着NVMe(Non-Volatile Memory express,是一种建立在M.2接口上的类似AHCI的一种协议,是专门为闪存类存储设计的协议)硬盘在服务器领域的广泛应用, NVMe标准可以带来多方面的性能提升,而NVMe硬盘作为PCIe通道的SSD(固态硬盘),其规范势必在未来慢慢取代现在的AHCI标准SSD。
针对高性能NVMe固态硬盘需要经过多个工站的测试后方可出货,其中对于坏块的解析和识别,一般是在某个工站对固态硬盘部件nand(计算机闪存设备)和ddr(双倍速率同步动态随机存储器)进行老化,对nand和ddr进行筛选,对于不符合测试标准的nand颗粒标记为坏块,将记录的坏块信息存入到eeprom(带电可擦可编程只读存储器)中,然后再下一个工站中从eeprom中提取坏块信息进行解析和汇总。这种方式不能识别读写压力产生的坏块,无法扫描遍历和识别全部坏块和定位坏块位置。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质,可识别并定位全部坏块,方便维修更换。
本发明的技术方案为:一种NVMe固态硬盘坏块解析方法,包括以下步骤:
对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;
将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;
基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。
进一步地,预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。
进一步地,所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。
进一步地,该方法还包括,
将获得的坏块信息进行可视化显示,并存入数据库。
本发明的技术方案还包括一种NVMe固态硬盘坏块解析装置,包括,
坏块表导出模块:对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;
坏块表转换模块:将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;
坏块表解析模块:基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。
进一步地,预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。
进一步地,所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。
进一步地,该装置还包括,
信息显示模块:将获得的坏块信息进行可视化显示;
信息保存模块:将所获得的坏块信息存入数据库。
本发明的技术方案还包括一种终端,包括:
处理器;
用于存储处理器的执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行上述任一项所述的方法。
本发明的技术方案还包括一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,该程序被处理器执行时实现上述任一项所述的方法。
本发明提供的一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质,在对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后导出坏块表,从坏块表中解析坏块信息,实现读写压力坏块的解析,坏块表中包含全部坏块的信息,且包含地址等信息,实现全部坏块的扫描定位,可以快速定位故障颗粒位置,减少故障盘维修时间和测试成本。
附图说明
图1是本发明具体实施例一方法流程示意图;
图2是本发明具体实施例二结构示意框图。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施例对本发明进行详细阐述,以下实施例是对本发明的解释,而本发明并不局限于以下实施方式。
实施例一
如图1所示,本实施例提供一种NVMe固态硬盘坏块解析方法,适用于高性能NVMe固态硬盘,基于高性能NVMe固态硬盘坏块表结构,该方法具体包括以下步骤:
S1,对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;
S2,将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;
S3,基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。
本实施例的方法对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后导出坏块表,可实现读写压力产生坏块的扫描解析,与现有技术中从eeprom中获取坏块信息不同,本实施例从坏块表中获得坏块信息,可实现全部坏块的扫描和地址定位。
需要说明的是,开始导出的坏块表为二进制形式,为实现坏块信息的解析,首先将二进制形式坏块表转换成文本形式的坏块表,然后根据预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。
本实施例的预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。需要说明的是,文本形式坏块表中第一列为坏块逻辑地址,每行后续的数据为坏块信息,坏块信息包含多种,因此需要先划分出解析单元,例如每行由4个U32(表示无符号int基本整数类型)组成,一个U32由4个16进制数组成,一个U32为一个解析单元,包含坏块信息的一个信息(如通道信息)。划分出解析单元后,根据数据解析规则对数据进行解析,数据解析规则是指每种数据代表的信息含义。
本实施例通过上述解析后,所获得的坏块信息包括坏块逻辑地址、通道(channel)、逻辑单元(lun)、片选信号(ce)、擦除块(block,指闪存的最小擦除单位)。
进一步地,本实施例获得坏块信息后,将坏块信息进行可视化呈现,供用户查看,且保存到数据库,供后续分析使用。
实施例二
如图2所示,本实施例提供一种NVMe固态硬盘坏块解析装置,执行后可运行实施例一的方法。
该装置包括以下功能模块:
坏块表导出模块101:对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;
坏块表转换模块102:将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;
坏块表解析模块103:基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息;
信息显示模块104:将获得的坏块信息进行可视化显示;
信息保存模块105:将所获得的坏块信息存入数据库。
其中,预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则,所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。
实施例三
本实施例提供一种终端,该终端包括处理器和存储器。
存储器用于存储处理器的执行指令。
处理器为存储终端的控制中心,利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分,通过运行或执行存储在存储器内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(IntegratedCircuit,简称IC) 组成,例如可以由单颗封装的IC 所组成,也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。
实施例四
本实施例提供一种计算机存储介质,其中,该计算机存储介质可存储有程序,该程序执行时可包括本发明提供的各实施例中的部分或全部步骤。
上述实施例,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或其他任意组合来实现。当使用软件实现时,上述实施例可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令或计算机程序。在计算机上加载或执行所述计算机指令或计算机程序时,全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以为通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线或无线方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集合的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质。半导体介质可以是固态硬盘。
以上公开的仅为本发明的优选实施方式,但本发明并非局限于此,任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化,以及在不脱离本发明原理前提下所作的若干改进和润饰,都应落在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种NVMe固态硬盘坏块解析方法,其特征在于,包括以下步骤:
对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;
将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;
基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。
2.根据权利要求1所述的NVMe固态硬盘坏块解析方法,其特征在于,预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。
3.根据权利要求1或2所述的NVMe固态硬盘坏块解析方法,其特征在于,所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。
4.根据权利要求3所述的NVMe固态硬盘坏块解析方法,其特征在于,该方法还包括,
将获得的坏块信息进行可视化显示,并存入数据库。
5.一种NVMe固态硬盘坏块解析装置,其特征在于,包括,
坏块表导出模块:对NVMe固态硬盘进行老化和读写压力测试后,导出二进制坏块表;
坏块表转换模块:将二进制坏块表转换成文本形式坏块表;
坏块表解析模块:基于预存规则对文本形式坏块表内的数据进行解析,获得坏块信息。
6.根据权利要求5所述的NVMe固态硬盘坏块解析装置,其特征在于,预存规则包括解析单元划分规则和数据解析规则。
7.根据权利要求5或6所述的NVMe固态硬盘坏块解析装置,其特征在于,所获得坏块信息包括坏块逻辑地址、通道、逻辑单元、片选信号、擦除块。
8.根据权利要求7所述的NVMe固态硬盘坏块解析装置,其特征在于,该装置还包括,
信息显示模块:将获得的坏块信息进行可视化显示;
信息保存模块:将所获得的坏块信息存入数据库。
9.一种终端,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储处理器的执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-4任一项所述的方法。
10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4任一项所述的方法。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113299335A (zh) * 2021-05-24 2021-08-24 长江存储科技有限责任公司 一种存储器件的测试方法、测试系统及测试设备
CN113704020A (zh) * 2021-10-29 2021-11-26 苏州浪潮智能科技有限公司 固态硬盘的出错现场数据的解析方法以及装置
CN113823350A (zh) * 2021-09-23 2021-12-21 山东华芯半导体有限公司 一种固态存储设备坏块表的生成与维护方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113299335A (zh) * 2021-05-24 2021-08-24 长江存储科技有限责任公司 一种存储器件的测试方法、测试系统及测试设备
CN113823350A (zh) * 2021-09-23 2021-12-21 山东华芯半导体有限公司 一种固态存储设备坏块表的生成与维护方法
CN113823350B (zh) * 2021-09-23 2024-03-12 山东华芯半导体有限公司 一种固态存储设备坏块表的生成与维护方法
CN113704020A (zh) * 2021-10-29 2021-11-26 苏州浪潮智能科技有限公司 固态硬盘的出错现场数据的解析方法以及装置
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