CN101369463B

CN101369463B - 闪存检测分类方法

Info

Publication number: CN101369463B
Application number: CN 200710075784
Authority: CN
Inventors: 范勤
Original assignee: SHENZHEN CHIPSBANK TECHNOLOGY Co Ltd
Current assignee: SHENZHEN CHIPSBANK TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date: 2007-08-17
Filing date: 2007-08-17
Publication date: 2012-12-12
Anticipated expiration: 2027-08-17
Also published as: CN101369463A

Abstract

本发明公开了一种闪存检测分类方法，其包括：按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级；将闪存中预留一组好块作为替换块；通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换；由于该方法在现有的静态分类法前采用了特殊的扫描方法，比只利用静态方法分类，更为准确；另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿，可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。

Description

闪存检测分类方法

技术领域

本发明涉及闪存存储领域，尤指一种闪存检测分类方法，其可将闪存精确分类，充分利用闪存容量。

背景技术

闪存：闪存是Flash Ram的音译。闪存作为一种非挥发性(简单说就是在不加电的情况下数据也不会丢失，区别于目前常用的计算机内存)的半导体存储芯片，具有体积小、功耗低、不易受物理破坏的优点，是移动数码产品的理想存储介质，目前，其普遍应用在数码电视、数码便携式摄像机、移动电话、数码相机、掌上电脑(PDA)、游戏机、MP3播放器等设备中，闪存的种类大致分为：储存容量大的数据存储型(NAND)和处理速度快的代码存储型(NOR)两种。

闪存的结构特点，其是由很多个块(block)组成，每个块(block)包括64页(page)，每一个页(page)包括4个扇区(sector)。

闪存的特定不是很稳定，其一般来说，都会有坏块，所以，要在使用前，将坏块数找出来，屏蔽坏块数，防止写文件时写到坏块区，造成文件丢失。

另外，为了充分利用不同容量的闪存，现有的办法是根据闪存的坏块数来为闪存分类，将闪存分为不同的级别，以将不同级别的闪存作不同的用处。

如图1所示，现有的检测分类方法，主要包括以下步骤：

步骤101：将闪存设于控制芯片厂家生产的测试架上；

步骤102：将测试架连接到测试单元上，一个测试单元可连接多个测试架；

步骤103：通过安装在测试单元中的量产模块，可以扫描出闪存的好坏块；

步骤104：根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。

其中，安装在测试单元中的量产模块，是用来提供给卡生产厂商批量生产存储卡的，功能包括：卡扫描、格式化和生产选项配置。在进行每种卡产品前，首先要配置好参数，然后量产模块根据参数扫描、格式化卡，并将需要的文件写入到卡，完成生产。

利用上述的分类方法，是可以根据扫描结果，将闪存分为不同的级别，但是，由于闪存本身的特性所限，其本质是不稳定的，即本次扫描的坏块，下次再扫描不一定是坏块，而本次扫描的好块，下次再扫描不一定还是好块，因此，这种静态分类方法较为粗略，不精确。

另外，根据扫描结果，将闪存分为不同的等级，不同等级的闪存用于不同地方。

即使这样，由于闪存的不稳定性，扫描时的好块，如果在使用过程中发现是坏块的话，将会影响闪存的使用。

发明内容

本发明的主要目的是提供了一种闪存检测分类方法，其可克服现有检测方法的缺陷，对闪存进行精确分类。

本发明的次要目的在于提供一种闪存的动态补偿方法，其可对存在坏块的闪存进行动态补偿，确保数据安全。

为了实现上述发明的目的，本发明所采用的技术方案为：

一种闪存检测分类方法，其包括

按照闪存类别抽出部分闪存样品；

用读、写操作模式扫描闪存样品；

根据扫描结果，找出闪存特性；

将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；

通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；

根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。

所述的闪存检测分类方法，其在扫描闪存中，找出的闪存特性为，奇数块的坏块比例较偶数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时，其对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。

所述的闪存检测分类方法，其在扫描闪存中，其找出的闪存特性为，偶数块的坏块比例较奇数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时，对奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。

所述的闪存检测分类方法，其在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其闪存按顺序写入是正确的，但随机写入会出错。

所述的闪存检测分类方法，其还包括以下步骤：

将闪存中预留一组好块作为替换块；

通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换。

所述的闪存检测分类方法，其还包括以下步骤：将坏块放在该组好块后面。

采用上述方法后，由于该方法在现有的静态分类法前采用了特殊的扫描方法，即读写操作模式扫描闪存样品，这种先利用前期的扫描总结出闪存特性，再利用静态的分类方法针对特性来分，比只利用静态方法分类，更为准确；另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿，可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。

附图说明

图1为现有技术中闪存的分类方法流程图；

图2为本发明方法的流程图。

具体实施方式

本发明提供一种闪存检测分类方法，包括步骤：按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；将测试架连接到电脑主机上；通过安装在电脑中的量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。

在该检测分类方法中，其主要是在静态分类前，先采用特殊的扫描方法，即读写操作模式扫描闪存样品，每种闪存都有它的特性，本领域的技术人员都知道，如果能先利用前期的扫描总结出闪存特性，再利用静态的分类方法针对特性来分，比只利用静态方法分类，更为准确。

另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿，可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和实施方式对本发明作进一步的详细说明。

图2出示了本发明的流程图，如图所示，包括：

步骤201：按照闪存类别抽出部分闪存样品；

闪存的类型主要有：Nor flash、AG-AND flash、Nand flash。每种闪存都具有不同的特性。

NOR的特点是芯片内执行(XIP，eXecute In Place)，这样应用程序可以直接在flash闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中。NOR的传输效率很高，在1～4MB的小容量时具有很高的成本效益，但是很低的写入和擦除速度大大影响了它的性能。

NAND结构能提供极高的单元密度，可以达到高存储密度，并且写入和擦除的速度也很快。应用NAND的困难在于flash的管理和需要特殊的系统接口。

AG-AND Flash，拥有高速写入的特性，不但组件大小和NAND型接近，而且拥有高速写入的速度10MB/s，比起一般NAND型4MB/s快上2.5倍。

即使为同一种类型的闪存，其不同的批次，可能特性都不相同，所以，首先要一个批次中抽出闪存样品。

步骤202：用读、写操作模式扫描闪存样品；

在闪存未初始化之前，只能通过读或写的操作模式扫描闪存，了解其内部的特性。

步骤203：根据扫描结果，找出闪存特性；

比如扫描闪存的结果发现：奇数块的坏块比例较偶数块高；或者是发现：偶数块的坏块比例较奇数块高；

步骤204：将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；

一个测试架可以设一个闪存，在测试时，可以同时使用一组测试架，一般是16个，但为了节约成本和时间，最好是将特性相同的闪存一起设在测试架上，如一组全是奇数块的坏块比例较偶数块高的闪存，或全是偶数块的坏块比例较奇数块高的闪存，这样，测试时，可采用相同的测试方法。

步骤205：通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；

比如，若扫描的闪存特性是奇数块的坏块比例较偶数块高；则在扫描时，对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。

若扫描的闪存特性是偶数块的坏块比例较奇数块高，则在扫描时，对奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。

在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其闪存按顺序写入是正确的，但随机写入会出错，对于这种类型的闪存，就要重点多次扫描。

步骤206：根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。

一般来说，会将几乎没有坏块的闪存定义为I级；将只有少数的坏块的闪存定义为II级；依次累推。

虽然按照扫描结果将闪存分为了不同的等级，但是，由于闪存的不稳定性，扫描时的好块，如果在使用过程中发现是坏块的话，将会影响闪存的使用。

因此，为了更好地使用闪存芯片，将在分类的基础上，再对其进行动态补偿，以确保数据安全。

步骤207：首先在闪存中预留一组好块，将其定义为替换块。

步骤208：通过EDC(误码检测单元)及ECC(纠错单元)对闪存进行扫描，然后将信息反馈回来，将两种信息进行对比，即可发现其中是否有坏块，如果有，则用该组好块中的一个替换该坏块。

步骤209：被替换后的坏块，其可放置在该组好块后面。

若不断发现有坏块，当所有的好块替换完后，再将第一次被替换的坏块当作好块去替换。

采用这种方法，因为该闪存芯片已被精确分过类，因此其坏块数并不会很多，只是为了应付突然发现在的坏块数，并且，因为闪存本来的性能不稳定，有时其发现的坏块并不是真正的坏块，只是在扫描时认为的坏块，所以将坏块放在替换块后面，当下次有坏块时，就可以当作好块使用。

虽然通过实施例描绘了本发明，本领域普通技术人员知道，本发明有许多变形和变化而不脱离本发明的精神，希望所附的权利要求包括这些变形和变化而不脱离本发明的精神。

Claims

1.一种闪存检测分类方法，其特征在于：包括

按照闪存类别抽出部分闪存样品；

用读、写操作模式扫描闪存样品；

根据扫描结果，找出闪存特性；

将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；

通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；

根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。

2.如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于：在扫描闪存中，找出的闪存特性为，奇数块的坏块比例较偶数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时，其对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。

3.如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于：在扫描闪存中，其找出的闪存特性为，偶数块的坏块比例较奇数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时，对奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。

4.如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于：在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其闪存按顺序写入是正确的，但随机写入会出错。

5.如权利要求1～4中任意一项所述的闪存检测分类方法，其特征在于：其还包括以下步骤：

将闪存中预留一组好块作为替换块；

6.如权利要求5所述的闪存检测分类方法，其特征在于：其还包括以下步骤：将坏块放在该组好块后面。