CN107705819A - 一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统，所述方法包括：获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，然后根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于是根据待测存储芯片的标识信息来获取对应的检测指令，从而加快了待测存储芯片的质量检测过程，提高了检测效率，同时由于是根据获取到的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类并确定待测存储芯片对应的质量等级，从而保证了检测结果的高准确性，避免了后续返工增加的额外成本，提高了经济效益。

Description

一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统

技术领域

本发明属于芯片测试技术领域，尤其涉及一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统。

背景技术

一般芯片在使用之前都需要进行质量检测，并根据检测结果来确定芯片的应用方向，以存储芯片为例，质量等级高的存储芯片可以用来制作例如：固态硬盘(Solid StateDrives，SSD)、安全数码卡(Secure Digital Card，SD card)、USB3.0高速U盘等一类的存储设备，而一些质量等级相对较高的存储芯片则可以用来制作普通U盘，但有些质量较差的存储芯片则并不适合投入到市场上。

目前，常用的芯片检测及分类方法大致是将待测芯片放置在检测装置上，并将检测装置连接到储存有芯片检测程序的测试主机(例如个人电脑)，通过运行测试主机上的检测程序来显示待测芯片的容量等级，然后由操作员根据芯片对应的容量等级来确定其应用方向。

现有的芯片检测及分类方法存在以下缺点：

检测装置与测试主机在芯片检测过程中数据通信频繁，耗时较长，一方面，较长的检测时间会导致生产成本的增加；而另一方面，芯片放置在特定的检测环境下可能会导致芯片损坏；

只能检测待测芯片的容量等级，检测内容单一，导致检测结果不准确。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供了一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统，旨在解决现有芯片检测装置存在的检测效率低，检测结果准确性不佳的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种存储芯片分类方法，所述方法包括以下步骤:

获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令；

根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

优选地，所述根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数，具体包括：

对所述检测指令进行解析，获取所述检测指令中包含的检测数据和检测命令；

根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数。

优选地，所述检测命令包括：数据擦除、数据写入和数据读取；

相应地，所述根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，具体包括：

根据所述检测数据，对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；

获取对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；

每隔预设时间周期对所述待测存储芯片进行采样，获取采样数据；

根据所述操作数据以及所述采样数据，生成所述检测结果参数。

优选地，所述根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级，具体包括：

根据所述检测结果参数计算出所述待测存储芯片的性能参数；

根据所述性能参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级；所述性能参数包括：数据读取正确率、数据写入速率以及数据读取速率。

优选地，所述检测结果参数包括：写入的数据内容、读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长以及数据纠错时长。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储芯片分类装置，所述存储芯片分类装置包括：

检测芯片、处理器及存储在所述检测芯片上的存储芯片分类程序，所述存储芯片分类程序被所述处理器执行时实现如上文所述的存储芯片分类方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储芯片分类系统，所述存储芯片分类系统包括：测试主机和检测芯片，所述测试主机和所述检测芯片连接；

所述测试主机，用于获取待测存储芯片的标识信息，根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，并根据所述检测指令生成目标指令；

所述检测芯片，用于获取所述目标指令，对所述目标指令进行解析，并根据解析结果对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

所述测试主机，还用于根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

优选地，所述测试主机，还用于获取待测存储芯片的标识码，根据所述标识码在映射关系中查找所述标识码对应的检测指令，并对所述检测指令进行压缩，获得所述目标指令；所述映射关系中包括存储芯片标识码与检测指令之间的对应关系。

优选地，所述检测芯片，还用于对所述检测结果参数进行压缩获得目标数据，并将所述目标数据保存至本地存储空间；

相应地，所述测试主机，还用于从所述检测芯片的所述存储空间中获取所述目标数据，并对所述目标数据进行解压缩获得所述检测结果参数，并根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

优选地，所述测试主机，还用于根据所述待测存储芯片对应的质量等级，生成所述待测存储芯片对应的应用方向参考信息。

本发明通过获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，然后根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于是根据待测存储芯片的标识信息来获取对应的检测指令，从而加快了待测存储芯片的质量检测过程，提高了检测效率，同时由于是根据获取到的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类，并确定其对应的质量等级，从而保证了质量检测结果的高准确性，避免了后续返工增加的额外成本，提高了经济效益。

附图说明

图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的存储芯片分类装置结构示意图；

图2为本发明一种存储芯片分类方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明一种存储芯片分类方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明一种存储芯片分类系统的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的存储芯片分类装置结构示意图。

如图1所示，该装置可以包括：处理器1001，例如CPU，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，检测芯片1005，检测接口1006。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。检测芯片1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。检测芯片1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。检测接口1006配置为装载或放置待测存储芯片。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对存储芯片分类装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，所述检测芯片1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及存储芯片分类程序。

在本实施例中，所述存储芯片分类装置是可以能够实现网络通信、程序运行以及数据处理的检测设备，其具体的硬件结构可根据实际情况设定，本实施例对此不加以限制。

在图1所示的存储芯片分类装置中，网络接口1004主要用于连接服务器，与服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接用户终端，与终端进行数据通信，检测接口1006主要用于放置待测存储芯片，所述存储芯片分类装置通过处理器1001调用检测芯片1005中储存的存储芯片分类程序，并执行以下操作：

获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令；

根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

进一步地，处理器1001可以调用检测芯片1005中存储的存储芯片分类程序，还执行以下操作：

对所述检测指令进行解析，获取所述检测指令中包含的检测数据和检测命令；

根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数。

进一步地，处理器1001可以调用检测芯片1005中存储的存储芯片分类程序，还执行以下操作：

根据所述检测数据，对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；

获取对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；

每隔预设时间周期对所述待测存储芯片进行采样，获取采样数据；

根据所述操作数据以及所述采样数据，生成所述检测结果参数。

进一步地，处理器1001可以调用检测芯片1005中存储的存储芯片分类程序，还执行以下操作：

根据所述检测结果参数计算出所述待测存储芯片的性能参数；

根据所述性能参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级；所述性能参数包括：数据读取正确率、数据写入速率以及数据读取速率。

本实施例通过获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，然后根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于是根据待测存储芯片的标识信息来获取对应的检测指令，从而加快了不同待测存储芯片的质量检测过程，提高了检测效率，同时由于是根据获取到的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类，并确定其对应的质量等级，从而保证了质量检测结果的高准确性，避免了后续返工增加的额外成本，提高了经济效益。

基于上述硬件结构，提出本发明存储芯片分类方法实施例。

参照图2，图2为本发明一种存储芯片分类方法第一实施例的流程示意图。

本实施例中，所述存储芯片分类方法包括以下步骤：

步骤S10：获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令；

需要说明的是，本实施例中，所述存储芯片分类方法的执行主体为上述存储芯片分类装置。所述标识信息为所述待测存储芯片的身份识别信息，例如身份标识号、标识码、出厂序列号等，本实施例对此不加以限制。

在具体实现中，所述存储芯片分类装置通过芯片检测接口检测到所述待测存储芯片时，获取所述待测存储芯片对应的标识信息，查找并获取与所述标识信息对应的检测指令，所述检测指令中包括有将要执行的检测命令以及与所述检测命令相关的检测数据等，具体的所述检测指令还可以包括其他种类的命令和数据，本实施例对此不加以限制。

当然，需要说明的是，不同的存储芯片生产厂商有不同的生产工艺，相应的其生产的存储芯片的结构也不相同，因此，为了更有效地提升存储芯片的检测及分类效率，在本实施例中，可先研究不同存储芯片的结构特性，然后针对芯片的特性来设计具有针对性的检测流程(即所述检测指令)，并将设计好的检测指令保存到所述存储芯片分类装置中。

进一步地，为了实现对所述检测指令的快速获取，可预先建立一个待测存储芯片的标识信息(例如：标识码)与检测指令之间对应的映射关系，使得所述待测存储芯片的标识信息被确定时，可通过所述映射关系快速查找并获取所述标识信息对应的检测指令，从而提高存储芯片的分类效率。

步骤S20：根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

在具体实现中，所述存储芯片分类装置在获取到所述待测存储芯片对应的检测指令后，会对所述检测指令进行解析，获取所述检测指令中包含的检测数据和检测命令，并根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数。所述检测结果参数包括：写入的数据内容、读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长以及数据纠错时长。

步骤S30：根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

需要说明的是，所述存储芯片分类装置在获取到所述检测结果参数后，可根据所述检测结果参数计算出所述待测存储芯片的性能参数，所述性能参数包括：数据读取正确率、数据写入速率以及数据读取速率等，然后根据所述性能参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

下面结合具体例子对根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类的过程进行说明，例如：存储芯片分类装置根据写入和读取的数据内容计算出数据读取正确率，然后将计算出的数据读取正确率与预先设定的基准正确率进行比较，若所述数据读取正确率超过所述基准正确率，则判定所述待测存储芯片的质量合格，否则判定质量不合格。

当然，在本实施例中，对于质量合格的待测存储芯片，为更进一步地确定其质量等级，还可以根据数据写入时长、数据读取时长和/或数据纠错时长等数据计算待测存储芯片的数据写入速率、数据读取速率和/或数据纠错速率等，然后来确定质量合格的待测存储芯片的性能等级，也可以根据数据纠错失败的结果信息来确定质量合格的待测存储芯片的容量等级。所述存储芯片分类装置在检测所述待测存储芯片是否合格，并获取其对应的性能等级和/或容量等级后，即可确定所述待测存储芯片对应的质量等级，完成对待测存储芯片的分类。

本实施例存储芯片分类装置通过获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，然后根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于是根据待测存储芯片的标识信息来获取对应的检测指令，从而加快了不同待测存储芯片的质量检测过程，提高了检测效率，同时由于是根据获取到的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类并确定其对应的质量等级，从而保证了质量检测结果的高准确性，避免了后续返工增加的额外成本，提高了经济效益。

参考图3，图3为本发明一种存储芯片分类方法第二实施例的流程示意图。基于上述第一实施例，本实施例中，所述步骤S20具体包括：

步骤S201：对所述检测指令进行解析，获取所述检测指令中包含的检测数据和检测命令；

步骤S202：根据所述检测数据，对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；

步骤S203：获取对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；

步骤S204：每隔预设时间周期对所述待测存储芯片进行采样，获取采样数据；

步骤S205：根据所述操作数据以及所述采样数据，生成所述检测结果参数。

需要说明的是，在本实施例中所述检测命令可包括：数据擦除、数据写入和数据读取等命令；所述检测数据可以是类似于“全零”、“全一”或其他二进制随机数等数据。具体的检测命令的种类和检测数据的内容可根据实际需求设定，本实施例对此不加以限制。

应理解的是，所述存储芯片分类装置在对所述检测指令进行解析获取到所述检测命令及检测数据时，先根据数据擦除命令对待测存储芯片进行数据擦除，然后根据数据写入命令将所述检测数据写入到完成数据擦除后的待测存储芯片中，再根据数据读取命令对写入到所述待测存储芯片中的检测数据进行读取，并获取上述操作过程中的操作数据；所述操作数据包括：写入的数据内容、读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长以及数据纠错时长等，本实施例对此不加以限制。

此外，为了使所述质量检测结果更加准确，本实施例中，可通过预设一个检测周期来实现对上述数据擦除、数据写入以及数据读取操作对应的操作数据进行采样，获取采样数据。所述采样数据可包括：写入和读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长、数据纠错时长以及待测存储芯片的引脚(pin脚)的电平状态变化时间等数据，所述预设时间周期以及采样数据的类别均可以根据实际情况设定，本实施例对此不加以限制。

在具体实现中，所述存储芯片分类装置在获取到所述操作数据和采样数据后，根据所述操作数据以及采样数据生成待测存储芯片对应的检测结果参数。

本实施例存储芯片分类装置根据所述检测数据，对待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；获取对待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；每隔预设时间周期对待测存储芯片进行采样，获取采样数据；根据操作数据以及采样数据，生成所述检测结果参数。由于增加了对待测存储芯片的采样区域，能够使单次采样操作获取到的采样数据维度更广，从而提高了后续对储存芯片质量等级计算或评估的准确性。

此外，本发明还提供一种存储芯片分类系统。

参照图4，图4为本发明一种存储芯片分类系统的结构框图，如图4所示，所述存储芯片分类系统包括：测试主机101和检测芯片102，所述测试主机101和所述检测芯片102连接，且所述测试主机101与所述检测芯片102的通信方式可以是有线通信方式，也可以是无线通信方式，本实施例对此不加以限制。

需要说明的是，所述检测芯片102可设置于特定的检测装置(图中未示出)上，所述检测装置可以是能够实现网络通信、程序运行以及数据处理并设有芯片检测接口的芯片检测设备。

在本实施例中，所述测试主机101用于获取待测存储芯片的标识信息，根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，并根据所述检测指令生成目标指令；

所述检测芯片102，用于获取所述目标指令，对所述目标指令进行解析，并根据解析结果对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

所述测试主机101，还用于根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

在具体实现中，所述测试主机101通过检测所述检测装置的芯片检测接口是否存在待测存储芯片；在检测到存在待测存储芯片时，通过获取所述待测存储芯片对应的标识信息(例如：例如身份标识号、标识码、出厂序列号等)查找并获取与所述标识信息对应的检测指令，并将所述检测指令发送至所述检测芯片102。

在本实施例中，所述检测指令包括有所述检测芯片102将要执行的检测命令以及与所述检测命令相关的检测数据等，为了提高所述测试主机101与所述检测芯片102之间的通信效率，减少通信次数与耗时，本实施例中，所述测试主机101还用于对获取到的所述检测指令进行压缩，获得所述目标指令；具体可表现为对所述检测指令中包含的多个命令进行分类并打包，从而能够使单次通信传输多个命令，减少通信的总次数；又或是对需要传输到所述检测芯片102的数据(例如：所述检测数据)进行压缩；也可以是将可由固定算法在所述测试主机101内生成的数据改换为由所述检测芯片102生成，从而减少每次通信的数据传输量。

进一步地，为了实现所述测试主机101对所述检测指令的快速获取，还可预先建立一个待测存储芯片的标识信息(例如：标识码)与检测指令之间对应的映射关系，使得所述待测存储芯片的标识信息被确定时，可通过所述映射关系快速查找并获取所述标识信息对应的检测指令，从而提高存储芯片的分类效率，所述映射关系可保存在所述测试主机本地。

此外，需要说明的是，在本实施例中，所述检测芯片102可采用USB3.0或串行高级技术附件等高速数据传输接口来进行数据传输，进而提高数据传输速度，减少数据传输时间，其中，所述串行高级技术附件(Serial Advanced Technology Attachment，SATA)，是一种基于行业标准的串行硬件驱动器接口。

在具体实现中，当所述检测芯片102获取到被压缩后的所述目标指令后，对所述目标指令进行解压缩，并从解压缩后的目标指令中提取将要执行的检测命令以及与所述检测命令相关的检测数据等，当然具体的所述检测指令还可以包括其他种类的命令和数据，本实施例对此不加以限制。

在本实施例中，所述检测命令可包括：数据擦除、数据写入和数据读取等命令；所述检测数据可以是类似于“全零”、“全一”或其他二进制随机数等数据。具体的检测命令的种类和检测数据的内容可根据实际需求设定，本实施例对此不加以限制

相应地，所述检测芯片102，还用于根据所述检测数据，对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；获取对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；每隔预设时间周期对所述待测存储芯片进行采样，获取采样数据；根据所述操作数据以及所述采样数据，生成所述检测结果参数。

应理解的是，所述检测芯片102在提取到所述检测命令及检测数据后，会先根据数据擦除命令对待测存储芯片进行数据擦除，然后根据数据写入命令将所述检测数据写入到完成数据擦除后的待测存储芯片中，再根据数据读取命令对写入到所述待测存储芯片中的检测数据进行读取，并获取上述操作过程中的操作数据；所述操作数据包括：写入的数据内容、读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长以及数据纠错时长等，本实施例对此不加以限制。

此外，为了使所述分类结果更加准确，可通过设置一个检测周期来实现对上述数据擦除、数据写入以及数据读取操作对应的操作数据进行定时采样，获取采样数据。所述采样数据可包括：写入和读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长、数据纠错时长以及待测存储芯片的引脚(pin脚)的电平状态变化时间等数据，所述预设时间周期以及采样数据的种类均可以根据实际情况设定，本实施例对此不加以限制。

在具体实现中，所述检测芯片102在获取到所述操作数据和采样数据后，一方面会根据所述操作数据以及采样数据生成待测存储芯片对应的检测结果参数，另一方面还会对所述检测结果参数进行压缩获得目标数据，并将所述目标数据保存至本地存储空间，例如：检测芯片中的缓存区域等。

为了进一步提高芯片分类效率，所述测试主机101可定时检测所述检测芯片102的存储空间以查找是否存在所述目标数据，当存在所述目标数据时立即获取所述目标数据，并对所述目标数据进行解压缩，获得所述检测结果参数，然后根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

为了实现对所述待测存储芯片更准确的分类，所述测试主机101还用于在获取到所述检测结果参数后，根据所述检测结果参数计算出所述待测存储芯片的性能参数，所述性能参数包括：数据读取正确率、数据写入速率以及数据读取速率等，然后根据所述性能参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。例如：所述测试主机101根据写入和读取的数据内容计算出数据读取正确率，然后将计算出的数据读取正确率与预先设定的基准正确率进行比较，若所述数据读取正确率超过所述基准正确率，则判定所述待测存储芯片的质量合格。

当然，在本实施例中，对于质量合格的待测存储芯片，为更进一步地确定其质量等级，还可以根据写入时长、读取时长和/或纠错时长等数据计算待测存储芯片的数据写入速率、数据读取速率和/或数据纠错速率等，然后来确定质量合格的待测存储芯片的性能等级，也可以根据数据纠错失败结果信息来确定质量合格的待测存储芯片的容量等级。所述测试主机101在检测所述待测存储芯片是否合格，并获取待测存储芯片对应的性能等级和/或容量等级后，即可确定待测存储芯片对应的质量等级，完成对待测存储芯片的分类。

在本实施例中，所述测试主机101还用于根据所述待测存储芯片对应的质量等级，生成所述待测存储芯片对应的应用方向参考信息。例如，将数据读取正确率、数据写入速率、数据读取速率、数据纠错速率以及可用容量均达到第一类应用标准的存储芯片作为SSD、SD或USB3.0高速U盘的备选芯片；将数据读取正确率、数据写入速率、数据读取速率、数据纠错速率以及可用容量均达到第二类应用标准的存储芯片作为普通U盘的备选芯片，本实施例中所述第二类应用标准低于所述第一类应用标准。当然，具体的存储芯片的分类标准和应用标准的制定以及这些标准所参考的性能参数类别与数目均可根据实际情况而定，本实施例对此不加以限制。

本实施例中，测试主机通过获取待测存储芯片的标识信息，根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，并根据所述检测指令生成目标指令；检测芯片通过获取所述目标指令，对所述目标指令进行解析，并根据解析结果对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；测试主机再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于测试主机是根据待测存储芯片对应的标识信息获取检测指令，从而加快了不同待测存储芯片的质量检测过程，提高了检测效率，同时由于测试主机是根据检测芯片发送的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类并确定其对应的质量等级，从而在保证质量检测结果高准确性的同时，避免了后续返工增加的额外成本，提高了经济效益。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种存储芯片分类方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令；

根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数，具体包括：

对所述检测指令进行解析，获取所述检测指令中包含的检测数据和检测命令；

根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测命令包括：数据擦除、数据写入和数据读取；

相应地，所述根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，具体包括：

根据所述检测数据，对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；

获取对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；

每隔预设时间周期对所述待测存储芯片进行采样，获取采样数据；

根据所述操作数据以及所述采样数据，生成所述检测结果参数。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级，具体包括：

根据所述检测结果参数计算出所述待测存储芯片的性能参数；

根据所述性能参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级；所述性能参数包括：数据读取正确率、数据写入速率以及数据读取速率。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述检测结果参数包括：写入的数据内容、读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长以及数据纠错时长。

6.一种存储芯片分类装置，其特征在于，所述存储芯片分类装置包括：检测芯片、处理器及存储在所述检测芯片上的存储芯片分类程序，所述存储芯片分类程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的存储芯片分类方法的步骤。

7.一种存储芯片分类系统，其特征在于，所述存储芯片分类系统包括：测试主机和检测芯片，所述测试主机和所述检测芯片连接；

所述测试主机，用于获取待测存储芯片的标识信息，根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，并根据所述检测指令生成目标指令；

所述检测芯片，用于获取所述目标指令，对所述目标指令进行解析，并根据解析结果对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

所述测试主机，还用于根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

8.如权利要求7所述的存储芯片分类系统，其特征在于，所述测试主机，还用于获取待测存储芯片的标识码，根据所述标识码在映射关系中查找所述标识码对应的检测指令，并对所述检测指令进行压缩，获得所述目标指令；所述映射关系中包括存储芯片标识码与检测指令之间的对应关系。

9.如权利要求8所述的存储芯片分类系统，其特征在于，所述检测芯片，还用于对所述检测结果参数进行压缩获得目标数据，并将所述目标数据保存至存储空间；

相应地，所述测试主机，还用于从所述检测芯片的所述存储空间中获取所述目标数据，并对所述目标数据进行解压缩获得所述检测结果参数，并根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

10.如权利要求9所述的存储芯片分类系统，其特征在于，所述测试主机，还用于根据所述待测存储芯片对应的质量等级，生成所述待测存储芯片对应的应用方向参考信息。