CN112612660A - 规格信息数据库创建方法、芯片挑选方法及装置和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明的实施例公开一种规格信息数据库创建方法、芯片挑选方法及装置和系统，包括：获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据，并基于待划分芯片的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足每个产品规格的芯片规格信息，以及在规格信息数据库中存储待划分芯片的芯片规格信息。采用本方案，提高了芯片挑选的便利性。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域中的芯片技术领域，尤其涉及一种规格信息数据库创建方法、芯片挑选方法及装置和系统。
背景技术
随着计算机技术以及芯片技术的快速发展，对于芯片的使用越来越广泛，且芯片的使用需求也是多种多样，因此，在实际应用中，针对出厂的各种芯片，需要按照使用需求选择出满足条件的芯片。
通常，针对中央处理器(Central Processing Unit，CPU)或图形处理器(GraphicsProcessing Unit，GPU)，可以按照用户需求，在芯片测试阶段按照核心数/功耗/频率进行产品性能的分类，以便用户挑选出满足自身需求的芯片。
目前，用户每次按照需求挑选芯片时，均要按照需求对芯片进行一次测试，导致用户挑选芯片很不方便。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供一种规格信息数据库创建方法、芯片挑选方法及装置和系统，用以解决目前存在的挑选芯片不够方便的问题。
第一方面，本发明实施例提供一种芯片的规格信息数据库创建方法，应用于规格划分服务器，所述方法包括：
获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据；
基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的芯片规格信息；
在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，在所述在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息之后，还包括：
当存在新增的产品规格时，基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照所述新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，在所述在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息之后，还包括：
获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的新的测试数据；
基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的新的芯片规格信息；
在所述规格信息数据库中，使用所述待划分芯片的所述新的芯片规格信息，更新所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，在所述在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息之后，还包括：
获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的表示新指标的新的测试数据；
基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，所述待划分芯片为经过所述芯片测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试和所述芯片测试后选出的非功能次品。
第二方面，本发明实施例提供一种芯片挑选方法，包括：
获取用于挑选芯片的规格要求；
按照所述规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，得到满足所述规格要求的芯片，所述规格信息数据库中存储的芯片的所述芯片规格信息，表示该芯片是否满足多个产品规格中的每个所述产品规格。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，还包括：
基于所述规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，从所述规格信息数据库中，查询出对于每个所述产品规格均不满足的芯片。
第三方面，本发明实施例提供一种芯片的规格信息数据库创建装置，应用于规格划分服务器，所述装置包括：
数据获取模块，用于获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据；
规格划分模块，用于基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的芯片规格信息；
信息存储模块，用于在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，所述规格划分模块，还用于当存在新增的产品规格时，基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照所述新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
所述信息存储模块，还用于在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，所述数据获取模块，还用于获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的新的测试数据；
所述规格划分模块，还用于基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的新的芯片规格信息；
所述信息存储模块，还用于在所述规格信息数据库中，使用所述待划分芯片的所述新的芯片规格信息，更新所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，所述数据获取模块，还用于获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的表示新指标的新的测试数据；
所述规格划分模块，还用于基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
所述信息存储模块，还用于在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，所述待划分芯片为经过所述芯片测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试和所述芯片测试后选出的非功能次品。
第四方面，本发明实施例提供一种芯片挑选装置，包括：
要求获取模块，用于获取用于挑选芯片的规格要求；
芯片挑选模块，用于按照所述规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，得到满足所述规格要求的芯片，所述规格信息数据库中存储的芯片的所述芯片规格信息，表示该芯片是否满足多个产品规格中的每个所述产品规格。
根据本发明实施例的一种具体实现方式，所述芯片挑选模块，还用于基于所述规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，从所述规格信息数据库中，查询出对于每个所述产品规格均不满足的芯片。
第五方面，本发明实施例提供一种芯片的规格信息数据库创建系统，包括：测试机和上述任一芯片的规格信息数据库创建装置中的规格划分服务器，其中：
所述测试机，用于对待划分芯片进行芯片测试，得到测试数据，并将所述测试数据上传至所述规格划分服务器。
第六方面，本发明实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述任一实现方式所述的方法。
第七方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现前述任一实现方式所述的方法。
第八方面，本发明的实施例还提供一种应用程序，所述应用程序被执行以实现本发明任一实施方式所述的方法。
本发明实施例提供的芯片的规格信息数据库创建方法，获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据，并基于待划分芯片的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足每个产品规格的芯片规格信息，在规格信息数据库中存储待划分芯片的芯片规格信息，即实现芯片的规格信息数据库的创建。由于数据库中存储有每个芯片的芯片规格信息，且该芯片规格信息能够表示芯片是否满足每个产品规格，从而使得在挑选芯片时，每个用户可以按照多个产品规格设置规格要求，并挑选出满足自身规格要求的芯片，不再需要每次挑选时均按照要求进行一次芯片测试，提高了芯片挑选的便利性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的芯片的规格信息数据库创建方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的芯片挑选方法的流程图；
图3为本发明实施例提供的一种芯片规格信息更新流程的流程图；
图4为本发明实施例提供的另一种芯片规格信息更新流程的流程图；
图5为本发明实施例提供的另一种芯片规格信息更新流程的流程图；
图6为本发明实施例提供的对芯片进行规格划分以及芯片挑选的示意图；
图7为本发明实施例提供的芯片的规格信息数据库创建装置的结构示意图；
图8为本发明实施例提供的芯片挑选装置的结构式会议图；
图9为本发明实施例提供的芯片的规格信息数据库创建系统的结构示意图；
图10为本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
目前，在一些芯片测试的相关技术中，可以基于测试对芯片性能进行检测，并将芯片划分为不同的各种产品规格，可以先针对制作芯片的晶圆进行晶圆测试，并将通过晶圆测试的非功能次品，按照规格划分需求进行测试。
在一个测试流程中，将产品规格划分为规格一、规格二和规格三，且规格一、规格二和规格三是线性排序的，即性能是从高到低排序的，满足规格一即满足规格二和规格三，满足规格二即满足规格三，所以，在测试过程中，针对封装得到的芯片，可以按照顺序依次测试芯片是否满足规格一、规格二和规格三，对于满足前一规格的芯片，不再需要进行后续的测试，而三个规格均不满足的可以划分为性能次品。
然而，在实际应用中，基于用户的需求所划分的规格之间，可能不是线性排序的，即不同规格之间可能是针对芯片不同的性能角度区分的，也可能是针对芯片不同的性能要求区分的，且两者之间不存在必然的高低联系，因此，在另一个测试流程中，将产品规格划分为规格四和规格五，且规格四和规格五是线性排序的，满足规格四即满足规格五，但规格四和规格五，与规格一至规格三之间，不存在必然的高低联系，即满足规格一，不必然满足规格四或规格五，满足规格四也不必然满足规格一、规格二或规格三，那么，此时即需要针对芯片按照规格四和规格五进行新的测试，得出是否满足规格四和规格五的划分结果。
当再需要针对新增的规格对芯片进行划分时，还需要再次进行测试，并挑选出满足需求的芯片，导致芯片挑选很不方便。
为解决上述问题，本发明实施例提供一种芯片的规格信息数据库创建方法，应用于规格划分服务器，如图1所示，该方法包括：
步骤11、获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据。
步骤12、基于待划分芯片的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足每个产品规格的芯片规格信息。
步骤13、在规格信息数据库中存储待划分芯片的芯片规格信息。
相应的，本发明实施例还提供一种芯片挑选方法，如图2所示，包括：
步骤21、获取用于挑选芯片的规格要求。
步骤22、按照该规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，得到满足该规格要求的芯片，规格信息数据库中存储的芯片的芯片规格信息，表示该芯片是否满足多个产品规格中的每个产品规格。
采用本发明实施例提供的上述图1和图2所示的方法，由于数据库中存储有每个芯片的芯片规格信息，且该芯片规格信息能够表示芯片是否满足每个产品规格，从而使得在挑选芯片时，每个用户可以按照多个产品规格设置规格要求，并挑选出满足自身规格要求的芯片，不再需要每次挑选时均按照要求进行一次芯片测试，提高了芯片挑选的便利性。
本发明实施例中，待划分芯片为经过芯片测试后选出的非功能次品；或者
待划分芯片为封装前经过晶圆测试后选出的非功能次品；或者
待划分芯片为封装前经过晶圆测试和芯片测试后选出的非功能次品。
也就是说，进行规格划分的待划分芯片，可以在划分之前，先在封装之前进行晶圆测试，筛选出功能次品，针对非功能次品的晶圆封装为芯片，然后进行芯片测试，得到测试数据，并筛选出功能次品，针对非功能次品的芯片，确定为待划分芯片，其中，晶圆测试和芯片测试可以由测试机完成，并针对待划分芯片，将其测试数据上传至规格划分服务器。
本发明实施例中，对芯片进行芯片测试所得到的测试数据，可以包括各种性能指标的测试数据，例如，功耗、频率和核心数等，还可以基于实际需要包括各种其他性能指标，在此不再进行详细的举例描述。
本发明实施例中，在挑选芯片时，除了基于规格信息数据库挑选出满足设置的规格要求的芯片，还可以基于规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，从规格信息数据库中，查询出对于每个产品规格均不满足的芯片，将其划分为性能次品。
本发明实施例中，在创建规格信息数据库之后，基于实际应用的需要，还可以对规格信息数据库中存储的芯片规格信息进行增加或更新，如图3所示为一种芯片规格信息更新流程，具体可以包括如下步骤：
步骤31、当存在新增的产品规格时，基于待划分芯片的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息。
步骤32、在规格信息数据库中存储待划分芯片的新增的芯片规格信息。
例如，目前规格信息数据库中存储的芯片规格信息包括规格一至规格五，基于实际需要，现在需要针对新增的规格六对芯片进行划分，并且，规格六的产品规格定义仍然是基于已经测试得到的测试数据设置的，那么此时即可以基于已存储的芯片的测试数据，按照规格六的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足新增的规格六的芯片规格信息，并将其存储到规格信息数据库中，以便后续用户可以基于对规格六的要求挑选芯片。
基于上述图3所示的更新流程，在出现新增的产品规格后，并不需要对芯片重新进行芯片测试，即可以实现针对新增的产品规格对芯片进行规格划分，相比现有技术，减少了芯片测试的次数，即进一步提升了芯片挑选的便利性。
本发明实施例中，如图4所示为另一种芯片规格信息更新流程，具体可以包括如下步骤：
步骤41、获取对待划分芯片进行新的芯片测试得到的新的测试数据。
本步骤中所得到的新的测试数据，可以是采用新的芯片测试方法对芯片测试得到的，也可以是采用原有的芯片测试方法对芯片进行重新测试得到的，也可以是采用新的测试机对芯片进行重新测试得到的，其目的是为了更新测试数据，得到更准确的测试数据，以便使得后续基于测试数据进行规格划分的结果更准确、更客观。
步骤42、基于待划分芯片的新的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足每个产品规格的新的芯片规格信息。
步骤43、在规格信息数据库中，使用待划分芯片的新的芯片规格信息，更新待划分芯片的芯片规格信息。
基于上述图4所示的更新流程，能够实现基于新的测试数据，对规格信息数据库中存储的原有芯片规格信息进行更新，以便所更新的芯片规格信息更准确、更客观，进而使得后续用户按照自身的规格要求所挑选的芯片也更符合其要求。
本发明实施例中，如图5所示为另一种芯片规格信息更新流程，具体可以包括如下步骤：
步骤51、获取对待划分芯片进行新的芯片测试得到的表示新指标的新的测试数据。
在实际应用中，可能需要针对芯片的新的性能进行规格划分，并且所基于的测试数据为表示新指标的测试数据，例如，规格划分所针对的芯片的新的性能为功耗性能，则所基于的新指标可以为功耗，此时，则可以由测试机对芯片进行新的芯片测试，得到表示该新指标的新的测试数据，并上传至规格划分服务器。
步骤52、基于待划分芯片的新的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对待划分芯片进行规格划分，得到表示待划分芯片是否满足新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息。
例如，新指标为功耗，所针对的芯片的新的性能为功耗性能，则该新增的产品规格为表示芯片功耗性能的产品规格。
步骤53、在规格信息数据库中存储待划分芯片的新增的芯片规格信息。
基于上述图5所示的更新流程，可以进一步的完善规格信息数据库中所存储的测试数据的种类，相应的，也进一步的完善规格信息数据库中所存储的芯片规格信息的种类，从而更进一步的方便用户设置自身需要的规格要求，更精细化的挑选出自身需要的芯片。
图6为本发明实施例提供的上述方法的示意图，从中可见，测试的工作由测试机完成，测试机完成晶圆测试和芯片测试，并筛选出非功能次品作为待划分芯片，以及将芯片测试得到的测试数据上传至规格划分服务器，规格划分服务器存储接收的测试数据，并基于测试数据对芯片进行规格划分，得到芯片规格信息，例如，图6中所示的一个芯片的芯片规格信息为不满足规格一，满足规格二和规格三，不满足规格四，满足规格五。
相应的，在芯片挑选环节，可以按照预先设置的规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，挑选出满足该规格要求的芯片，例如，规格要求为满足规格二和规格四，即可以基于规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，挑选出满足规格二和规格四的芯片。
在芯片挑选环节，还可以挑选出对于每个产品规格均不满足的芯片，将其确定为性能次品。
图7为本发明实施例提供的芯片的规格信息数据库创建装置，应用于规格划分服务器，该装置包括：
数据获取模块71，用于获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据；
规格划分模块72，用于基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的芯片规格信息；
信息存储模块73，用于在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
进一步的，规格划分模块72，还用于当存在新增的产品规格时，基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照所述新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
信息存储模块73，还用于在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
进一步的，数据获取模块71，还用于获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的新的测试数据；
规格划分模块72，还用于基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的新的芯片规格信息；
信息存储模块73，还用于在所述规格信息数据库中，使用所述待划分芯片的所述新的芯片规格信息，更新所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
进一步的，数据获取模块71，还用于获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的表示新指标的新的测试数据；
规格划分模块72，还用于基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
信息存储模块73，还用于在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
进一步的，所述待划分芯片为经过所述芯片测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试和所述芯片测试后选出的非功能次品。
本发明实施例还提供一种芯片挑选装置，如图8所示，包括：
要求获取模块81，用于获取用于挑选芯片的规格要求；
芯片挑选模块82，用于按照所述规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，得到满足所述规格要求的芯片，所述规格信息数据库中存储的芯片的所述芯片规格信息，表示该芯片是否满足多个产品规格中的每个所述产品规格。
进一步的，芯片挑选模块，还用于基于所述规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，从所述规格信息数据库中，查询出对于每个所述产品规格均不满足的芯片。
本发明实施例还提供一种芯片的规格信息数据库创建系统，如图9所示，包括：测试机91和上述任一实施例中的规格划分服务器92，其中：
测试机91，用于对待划分芯片进行芯片测试，得到测试数据，并将所述测试数据上传至所述规格划分服务器。
本实施例的上述装置和系统，可以用于执行图1-图5所示方法实施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。
本发明实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包含前述任一实施例所述的装置。
图10为本发明电子设备一个实施例的结构示意图，可以实现本发明图1-5所示实施例的流程，如图10所示，上述电子设备可以包括：壳体101、处理器102、存储器103、电路板114和电源电路105，其中，电路板104安置在壳体101围成的空间内部，处理器102和存储器103设置在电路板104上；电源电路105，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器103用于存储可执行程序代码；处理器102通过读取存储器103中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述任一实施例所述的方法。
处理器102对上述步骤的具体执行过程以及处理器102通过运行可执行程序代码来进一步执行的步骤，可以参见本发明图1-5所示实施例的描述，在此不再赘述。
该电子设备以多种形式存在，包括但不限于：
(1)移动通信设备：这类设备的特点是具备移动通信功能，并且以提供话音、数据通信为主要目标。这类终端包括：智能手机(例如iPhone)、多媒体手机、功能性手机，以及低端手机等。
(2)超移动个人计算机设备：这类设备属于个人计算机的范畴，有计算和处理功能，一般也具备移动上网特性。这类终端包括：PDA、MID和UMPC设备等，例如iPad。
(3)便携式娱乐设备：这类设备可以显示和播放多媒体内容。该类设备包括：音频、视频播放器(例如iPod)，掌上游戏机，电子书，以及智能玩具和便携式车载导航设备。
(4)服务器：提供计算服务的设备，服务器的构成包括处理器、硬盘、内存、系统总线等，服务器和通用的计算机架构类似，但是由于需要提供高可靠的服务，因此在处理能力、稳定性、可靠性、安全性、可扩展性、可管理性等方面要求较高。
(5)其他具有数据交互功能的电子设备。
本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现本发明任一实施例提供的方法。
本发明的实施例还提供一种应用程序，所述应用程序被执行以实现本发明任一实施例提供的方法。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。
尤其，对于装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
为了描述的方便，描述以上装置是以功能分为各种单元/模块分别描述。当然，在实施本发明时可以把各单元/模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (17)
1.一种芯片的规格信息数据库创建方法，应用于规格划分服务器，其特征在于，所述方法包括：
获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据；
基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的芯片规格信息；
在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息之后，还包括：
当存在新增的产品规格时，基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照所述新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息之后，还包括：
获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的新的测试数据；
基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的新的芯片规格信息；
在所述规格信息数据库中，使用所述待划分芯片的所述新的芯片规格信息，更新所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息之后，还包括：
获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的表示新指标的新的测试数据；
基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述待划分芯片为经过所述芯片测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试和所述芯片测试后选出的非功能次品。
6.一种芯片挑选方法，其特征在于，包括：
获取用于挑选芯片的规格要求；
按照所述规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，得到满足所述规格要求的芯片，所述规格信息数据库中存储的芯片的所述芯片规格信息，表示该芯片是否满足多个产品规格中的每个所述产品规格。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：
基于所述规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，从所述规格信息数据库中，查询出对于每个所述产品规格均不满足的芯片。
8.一种芯片的规格信息数据库创建装置，应用于规格划分服务器，其特征在于，所述装置包括：
数据获取模块，用于获取对待划分芯片进行芯片测试得到的测试数据；
规格划分模块，用于基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的芯片规格信息；
信息存储模块，用于在规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述规格划分模块，还用于当存在新增的产品规格时，基于所述待划分芯片的所述测试数据，按照所述新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
所述信息存储模块，还用于在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述数据获取模块，还用于获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的新的测试数据；
所述规格划分模块，还用于基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照预设的多个产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足每个所述产品规格的新的芯片规格信息；
所述信息存储模块，还用于在所述规格信息数据库中，使用所述待划分芯片的所述新的芯片规格信息，更新所述待划分芯片的所述芯片规格信息。
11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述数据获取模块，还用于获取对所述待划分芯片进行新的芯片测试得到的表示新指标的新的测试数据；
所述规格划分模块，还用于基于所述待划分芯片的所述新的测试数据，按照新增的产品规格的产品规格定义，对所述待划分芯片进行规格划分，得到表示所述待划分芯片是否满足所述新增的产品规格的芯片规格信息，作为新增的芯片规格信息；
所述信息存储模块，还用于在所述规格信息数据库中存储所述待划分芯片的所述新增的芯片规格信息。
12.根据权利要求8-11任一所述的装置，其特征在于，所述待划分芯片为经过所述芯片测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试后选出的非功能次品；或者
所述待划分芯片为封装前经过晶圆测试和所述芯片测试后选出的非功能次品。
13.一种芯片挑选装置，其特征在于，包括：
要求获取模块，用于获取用于挑选芯片的规格要求；
芯片挑选模块，用于按照所述规格要求，查询规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，得到满足所述规格要求的芯片，所述规格信息数据库中存储的芯片的所述芯片规格信息，表示该芯片是否满足多个产品规格中的每个所述产品规格。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述芯片挑选模块，还用于基于所述规格信息数据库中存储的各芯片的芯片规格信息，从所述规格信息数据库中，查询出对于每个所述产品规格均不满足的芯片。
15.一种芯片的规格信息数据库创建系统，其特征在于，包括：测试机和如权利要求8-14任一项所述的规格划分服务器，其中：
所述测试机，用于对待划分芯片进行芯片测试，得到测试数据，并将所述测试数据上传至所述规格划分服务器。
16.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述1-7任一权利要求所述的方法。
17.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现前述1-7任一权利要求所述的方法。
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