CN112631842B - 一种系统内存识别测试方法、系统及电子设备 - Google Patents

一种系统内存识别测试方法、系统及电子设备 Download PDF

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Abstract

本发明的实施例公开一种系统内存识别测试方法及系统，属于系统内存技术领域，用于解决目前操作系统命令比较粗糙，无法判断芯片哪个内存通道存在问题的问题。本发明的方法，包括：获取内存识别请求；通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存。本发明通过底层访问芯片内存控制器寄存器来判断内存是否被识别，可以精确判定芯片上的每个内存通道是否有问题。

Description

一种系统内存识别测试方法、系统及电子设备
技术领域
本发明涉及系统内存技术领域，尤其涉及一种系统内存识别测试方法、系统及电子设备。
背景技术
在芯片使用过程中，内存和主板不存在问题情况下，常常出现系统内存识别不全的现象，如服务器内存有512G物理内存，但通过操作系统命令(如Linux系统中的free命令，此命令用于显示系统内存的使用情况，包括物理内存、交换内存和内核缓冲区内存)，查看内存发现远远少于512G，而未识别到的内存大小正好是单个物理内存的倍数。如物理内存一共有32根16G，通过操作系统命令发现只有480G，丢失了32G，正好是两根16G物理内存的大小。目前，操作系统命令比较粗糙，只能通过检查内存总量大小来判断内存有没有被识别完全，根本无法判断芯片哪个内存通道存在问题。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供一种系统内存识别测试方法、系统及电子设备，通过底层访问芯片内存控制器寄存器来判断内存是否被识别，可以精确判定芯片上的每个内存通道是否有问题。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
第一方面，本发明提供一种系统内存识别测试方法，包括：
获取内存识别请求；
通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存。。
结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存，包括：
测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道；
判断当前的内存通道是否测试通过；
若当前的内存通道测试通过，则确定当前的内存通道对应内存识别成功，并获取所述内存控制器的寄存器中记录的相应内存参数。
结合第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第二种实施方式中，所述测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道，包括：
通过预先设置的内存控制器测试用例测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道。
结合第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第三种实施方式中，所述测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道，还包括：
获取以下至少一项参数：所述内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
结合第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第四种实施方式中，所述判断当前的内存通道是否测试通过步骤之后，还包括：
若当前的内存通道测试不通过，则确定当前的内存通道对应内存识别失败，停止测试并提示识别失败的内存通道信息。
第二方面，本发明提供一种系统内存识别测试系统，包括：包括：
请求获取模块，用于获取内存识别请求；
识别内存模块，用于通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存。
结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，所述识别内存模块，包括：
通道测试子模块，用于测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道；
判断子模块，用于判断当前的内存通道是否测试通过；
内存参数获取子模块，用于若当前的内存通道测试通过，则确定当前的内存通道对应内存识别成功，并获取所述内存控制器的寄存器中记录的相应内存参数。
结合第二方面的第一种实施方式，在第二方面的第二种实施方式中，所述通道测试子模块，还用于通过预先设置的内存控制器测试用例测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道。
结合第二方面的第一种实施方式，在第二方面的第三种实施方式中，所述通道测试子模块，还用于获取以下至少一项参数：所述内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
结合第二方面的第一种实施方式，在第二方面的第四种实施方式中，所述识别内存模块，还包括：
识别失败提示模块，用于若当前的内存通道测试不通过，则确定当前的内存通道对应内存识别失败，停止测试并提示识别失败的内存通道信息。
第三方面，本发明提供一种电子设备，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述任一实施例所述的系统内存识别测试方法。
本发明实施例提供的系统内存识别测试方法、系统及电子设备，通过底层访问芯片内存控制器寄存器来判断内存是否被识别，可以精确判定芯片上的每个内存通道是否有问题，使得测试更加直接和精确。工程师直接查看测试结果即可定位到具体通道，而目前内存识别技术方案还需要将芯片重新装载到主板，上电检查，相比较而言，本发明能节省大量调试时间。进一步的，本发明提供的系统内存识别测试方法，还可以测试内存控制器相关其他功能，如当前最大内存频率支持，设计最大内存频率，当前的内存频率等。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试方法实施例一的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试方法实施例二的流程示意图；
图3为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试系统实施例一的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试系统实施例二的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试系统实施例三的结构示意图；
图6为本发明电子设备一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试方法实施例一的流程示意图。参见图1，该方法包括以下步骤：
步骤S101，获取内存识别请求；
本实施例中，预先编写自动化测试程序，此测试程序中包括了内存控制器测试用例，用于测试内存通道上内存识别情况。当自动化测试程序启动后，则就会执行到内存控制器测试用例，即就能获取到内存识别请求。
步骤S102，通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存。
本实施例中，内存控制器是系统内部控制内存并且负责内存与CPU之间数据交换的重要组成部分。内存控制器决定了系统所能使用的最大内存容量、内存BANK数、内存类型和速度、内存颗粒数据深度和数据宽度等等重要参数。内存控制器中的寄存器也记录有各个内存通道的信息，包括通道上是否存在内存的信息，后续通过访问内存控制器中的寄存器就可以达到识别内存通道上的内存。
本实施例提供的系统内存识别测试方法，通过底层访问芯片内存控制器寄存器来判断内存是否被识别，可以精确判定芯片上的每个内存通道是否有问题，使得测试更加直接和精确。工程师直接查看测试结果即可定位到具体通道，而目前内存识别技术方案还需要将芯片重新装载到主板，上电检查，相比较而言，本发明能节省大量调试时间。
图2为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试方法实施例二的流程示意图。参见图2，该方法包括以下步骤：
步骤S201，获取内存识别请求；
本实施例中，此步骤与上述方法实施例的步骤S101类似，此处不再赘述。
步骤S202，测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道；
本实施例中，作为一可选实施方式，本步骤S202，可以包括：通过预先设置的内存控制器测试用例测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道。
本实施例中，作为一可选实施方式，本步骤S202，还包括：获取以下至少一项参数：所述内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
步骤S203，判断当前的内存通道是否测试通过，是则执行步骤S204，否则执行步骤S205；
步骤S204，确定当前的内存通道对应内存识别成功，并获取所述内存控制器的寄存器中记录的相应内存参数；
本实施例中，内存参数可以包括内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
步骤S205，确定当前的内存通道对应内存识别失败，停止测试并提示识别失败的内存通道信息。
本实施例中，自动化测试程序启动后，当执行到内存控制器测试用例时，如果发现有内存通道测试失败，则可以停止测试，并告知用户具体哪个通道有问题，或者进一步生成测试失败日志。如果没有问题，则可以继续进行其他测试。
本实施例提供的系统内存识别测试方法，通过底层访问芯片内存控制器寄存器来判断内存是否被识别，可以精确判定芯片上的每个内存通道是否有问题，使得测试更加直接和精确。工程师直接查看测试结果即可定位到具体通道，而目前内存识别技术方案还需要将芯片重新装载到主板，上电检查，相比较而言，本发明能节省大量调试时间。进一步的，本发明提供的系统内存识别测试方法，还可以测试内存控制器相关其他功能，如当前最大内存频率支持，设计最大内存频率，当前的内存频率等。
图3为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试系统实施例一的结构示意图。参看图3，本发明系统内存识别测试系统，包括：
请求获取模块1，用于获取内存识别请求；
识别内存模块2，用于通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存。
图4为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试系统实施例二的结构示意图。参看图4，本实施例是在实施例一的结构的基础上，识别内存模块2，包括：
通道测试子模块21，用于测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道；
判断子模块22，用于判断当前的内存通道是否测试通过；
内存参数获取子模块23，用于若当前的内存通道测试通过，则确定当前的内存通道对应内存识别成功，并获取所述内存控制器的寄存器中记录的相应内存参数。
本实施例中，作为一可选实施方式，通道测试子模块21，还用于通过预先设置的内存控制器测试用例测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道。
本实施例中，作为一可选实施方式，通道测试子模块21，还用于获取以下至少一项参数：所述内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
图5为本发明实施例提供的一种系统内存识别测试系统实施例三的结构示意图。参看图5，本实施例是在实施例二的结构的基础上，识别内存模块2，还包括：
识别失败提示模块24，用于若当前的内存通道测试不通过，则确定当前的内存通道对应内存识别失败，停止测试并提示识别失败的内存通道信息。
本发明实施例还提供一种电子设备。图6为本发明电子设备一个实施例的结构示意图，可以实现本发明图1和2所示实施例的流程，如图6所示，上述电子设备可以包括：壳体41、处理器42、存储器43、电路板44和电源电路45，其中，电路板44安置在壳体41围成的空间内部，处理器42和存储器43设置在电路板44上；电源电路45，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器43用于存储可执行程序代码；处理器42通过读取存储器43中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述任一实施例所述的系统内存识别测试方法。
该电子设备以多种形式存在，包括但不限于：
(1)移动通信设备：这类设备的特点是具备移动通信功能，并且以提供话音、数据通信为主要目标。这类终端包括：智能手机(例如iPhone)、多媒体手机、功能性手机，以及低端手机等。
(2)超移动个人计算机设备：这类设备属于个人计算机的范畴，有计算和处理功能，一般也具备移动上网特性。这类终端包括：PDA、MID和UMPC设备等，例如iPad。
(3)便携式娱乐设备：这类设备可以显示和播放多媒体内容。该类设备包括：音频、视频播放模块(例如iPod)，掌上游戏机，电子书，以及智能玩具和便携式车载导航设备。
(4)服务器：提供计算服务的设备，服务器的构成包括处理器、硬盘、内存、系统总线等，服务器和通用的计算机架构类似，但是由于需要提供高可靠的服务，因此在处理能力、稳定性、可靠性、安全性、可扩展性、可管理性等方面要求较高。
(5)其他具有数据交互功能的电子设备。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
为了描述的方便，描述以上装置是以功能分为各种单元/模块分别描述。当然，在实施本发明时可以把各单元/模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的防护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的防护范围之内。因此，本发明的防护范围应以权利要求的防护范围为准。

Claims (9)

1.一种系统内存识别测试方法，其特征在于，包括：
获取内存识别请求；
通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存；
所述通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存，包括：
测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道；
判断当前的内存通道是否测试通过；
若当前的内存通道测试通过，则确定当前的内存通道对应内存识别成功，并获取所述内存控制器的寄存器中记录的相应内存参数。
2.根据权利要求1所述的系统内存识别测试方法，其特征在于，所述测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道，包括：
通过预先设置的内存控制器测试用例测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道。
3.根据权利要求1所述的系统内存识别测试方法，其特征在于，所述测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道，还包括：
获取以下至少一项参数：所述内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
4.根据权利要求1所述的系统内存识别测试方法，其特征在于，所述判断当前的内存通道是否测试通过步骤之后，还包括：
若当前的内存通道测试不通过，则确定当前的内存通道对应内存识别失败，停止测试并提示识别失败的内存通道信息。
5.一种系统内存识别测试系统，其特征在于，包括：
请求获取模块，用于获取内存识别请求；
识别内存模块，用于通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存；
所述识别内存模块，包括：
通道测试子模块，用于测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道；
判断子模块，用于判断当前的内存通道是否测试通过；
内存参数获取子模块，用于若当前的内存通道测试通过，则确定当前的内存通道对应内存识别成功，并获取所述内存控制器的寄存器中记录的相应内存参数。
6.根据权利要求5所述的系统内存识别测试系统，其特征在于，所述通道测试子模块，还用于通过预先设置的内存控制器测试用例测试所述内存控制器的寄存器对应的各内存通道。
7.根据权利要求5所述的系统内存识别测试系统，其特征在于，所述通道测试子模块，还用于获取以下至少一项参数：所述内存控制器支持的最大内存频率、设计最大内存频率、当前内存频率。
8.根据权利要求5所述的系统内存识别测试系统，其特征在于，所述识别内存模块，还包括：
识别失败提示模块，用于若当前的内存通道测试不通过，则确定当前的内存通道对应内存识别失败，停止测试并提示识别失败的内存通道信息。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述任一权利要求1-4所述的系统内存识别测试方法。
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