CN115547393A - 多块sata ssd高低温测试装置、方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统，装置包括上位机和下位机，上位机用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；下位机通过治具的PCI槽口插接多个SATA SSD；其中，上位机和下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，下位机用于执行测试脚本，获取多块SATA SSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。本申请通过上位机和下位机通信下发测试脚本，下位机通过治具的插口插接多个SATA SDD，实现同时检测多块SATA SSD产品，有效保证了SATA SSD产品质量和生产效率。

Description

多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试技术领域，具体是涉及一种多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统。

背景技术

SSD(固态驱动器)是一种非易失性存储介质，可将固态闪存存储在固态闪存中。构成SSD的两个关键组件是闪存控制器和NAND闪存芯片。SSD控制器的架构配置经过优化，可为顺序和随机数据请求提供高读写性能。SSD有时被称为闪存驱动器或固态磁盘。

SSD与硬盘驱动器(HDD)不同，其没有移动部件可以断开或旋转。传统的硬盘驱动器由一个旋转磁盘组成，该磁盘在称为执行器的机械臂上具有读/写头。HDD机制和硬盘封装为集成单元。尽管SSD现在在台式机和笔记本电脑中很常见，但由于其较低的单位成本和较高的平均耐久性，企业和计算机制造商历来使用旋转磁盘。

旋转的HDD以磁性方式读取和写入数据，这是连续使用中最古老的存储介质之一。然而，磁性能会导致机械故障。相反，SSD将数据读取和写入互连闪存芯片的基板，互连闪存芯片由硅制成。制造商通过在网格中堆叠芯片来实现SSD，以实现不同的密度。

为了防止波动，SSD制造商设计具有浮栅晶体管(FGR)的器件来保持电荷。这允许SSD即使在未连接到电源时也能保留存储的数据。每个FGR包含一位数据，如果充电电池指定为1，或者如果电池没有电荷则指定为0。

SATA类型的SSD通过计算机上的SATA口进行连接使用，通过标准通用工具对盘进行读写测试时，每次只能对一块盘进行读写测试，并且不能对盘控制掉电、上电然后读写的测试，对产品质量和生产效率带来了严重的瓶颈限制。

发明内容

本发明的目的是为了克服上述背景技术的不足，提供一种多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统。

第一方面，本申请提供了一种多块SATA SSD高低温测试装置，包括上位机和下位机，所述上位机，用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；所述下位机通过治具的槽口插接多个SATA SSD；其中，所述上位机和所述下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，所述下位机用于执行测试脚本，获取多块SATA SSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

根据第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述上位机采用Windows系统，所述下位机采用Linux系统。

第二方面，本申请提供了一种应用于如上所述的多块SATA SSD高低温测试装置中的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；

下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

根据第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统的步骤，具体包括以下步骤：

控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

根据第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试的步骤，具体包括以下步骤：

控制上位机程序启动，读取测试项配置信息；

比对测试项配置信息和预设测试项配置结果，获取比对工况；

当测试项配置信息和预设测试项配置结果匹配时，判定测试信息准备好，控制上位机获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS(Full Disk Scan)测试、PCT测试和BITPCT测试。

根据第二方面的第二种可能的实现方式，在第二方面的第三种可能的实现方式中，所述下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示的步骤，具体包括以下步骤：

控制获取SATA SSD对应于下位机上的串口并进行初始化；

获取测试命令；

检查SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果。

根据第二方面的第三种可能的实现方式，在第二方面的第四种可能的实现方式中，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，具体包括以下步骤：

当检测到SATA SSD运行时，控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。

根据第二方面的第三种可能的实现方式在，在第二方面的第五种可能的实现方式中，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，还包括以下步骤：

当检测到SATA SSD运行时，依次检测BIT测试、PCT测试和FDS测试的测试需求；

当BIT测试、PCT测试和FDS测试任一项需要进行测试时，控制控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。

第三方面，本申请提供了一种多块SATA SSD高低温测试系统，包括：

测试项目获取模块，用于通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；

测试控制模块，与所述测试项目获取模块通信连接，用于下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

与现有技术相比，本发明的优点如下：

本申请提供的多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统，通过上位机和下位机通信下发测试脚本，下位机通过治具的插口插接多个SATA SDD，实现同时检测多块SATASSD产品，还可以通过扩展下位机的数量的方式，实现对更多块的SATA SSD产品的测试，有效保证了SATA SSD产品质量和生产效率。

附图说明

图1是本发明实施例的多块SATA SSD高低温测试的方法流程图；

图2是本发明实施例的多块SATA SSD高低温测试的另一方法流程图；

图3是本发明实施例的多块SATA SSD高低温测试的另一方法流程图；

图4是测试案例的上位机程序启动图；

图5是测试案例的上位机IP信息图；

图6是测试案例的下位机IP信息图；

图7是测试案例的下位机对应通道对应的SSD信息图；

图8是测试案例的上位机对应各个下位机下发的脚本及发送和接收状态信息图；

图9是测试案例的下位机程序启动信息图；

图10是测试案例的上位机扫盘结果图；

图11是测试案例的治具上盘默认状态图；

图12是测试案例的下位机盘掉电及等待过程图；

图13是测试案例的治具上盘掉电图；

图14是测试案例的下位机盘上电及等待过程图；

图15是测试案例的治具上盘上电图；

图16是测试案例的下位机扫盘结果图；

图17是测试案例的下发脚本测试图；

图18是测试案例的脚本中的高低温信息显示图；

图19是上位机上的高低温信息显示图；

图20是当前测试项的温度显示图；

图21是测试案例的下位机测试过程信息显示图；

图22是测试案例的上位机更新的测试项结果信息显示图；

图23是测试案例的具体的错误信息及详细的测试结果显示图；

图24是测试案例的下位机的测试项结果信息显示图；

图25是测试案例的QMS系统上的结果信息显示图；

图26是测试案例的脚本测试结束后的统计信息显示图。

具体实施方式

现在将详细参照本发明的具体实施例，在附图中例示了本发明的例子。尽管将结合具体实施例描述本发明，但将理解，不是想要将本发明限于所述的实施例。相反，想要覆盖由所附权利要求限定的在本发明的精神和范围内包括的变更、修改和等价物。应注意，这里描述的方法步骤都可以由任何功能块或功能布置来实现，且任何功能块或功能布置可被实现为物理实体或逻辑实体、或者两者的组合。

为了使本领域技术人员更好地理解本发明，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

注意：接下来要介绍的示例仅是一个具体的例子，而不作为限制本发明的实施例必须为如下具体的步骤、数值、条件、数据、顺序等等。本领域技术人员可以通过阅读本说明书来运用本发明的构思来构造本说明书中未提到的更多实施例。

现有技术中的SATA类型的SSD(即SATA SSD)通过计算机上的SATA口进行连接使用，通过标准通用工具对SATA SSD进行读写测试时，每次只能对一块SATA SSD进行读写测试，并且不能对SATA SSD控制掉电、上电然后读写的测试，对产品质量和生产效率带来了严重的瓶颈限值。

有鉴于此，本申请提供了可以同时多多块SATA SSD产品进行测试的多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统。

第一方面，请参考图1，本申请提供了一种多块SATA SSD高低温测试装置，包括上位机和下位机，所述上位机，用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；所述下位机通过治具的槽口插接多个SATA SSD；其中，所述上位机和所述下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，所述下位机用于执行测试脚本，获取多块SATA SSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

本申请提供的多块SATA SSD高低温测试装置、方法及系统，通过上位机和下位机通信下发测试脚本，下位机通过治具的插口插接多个SATA SDD，实现同时检测多块SATASSD产品，还可以通过扩展下位机的数量的方式，实现对更多块的SATA SSD产品的测试，有效保证了SATA SSD产品质量和生产效率。

在一实施例中，所述上位机采用Windows系统，通过控制Chamber进行高低温的变化和下发测试脚本到下位机，获取NVME SSD测试项目，分类上传结果到QMS系统；所述下位机采用Linux系统，使用特定的治具链接到下位机的SATA 口上，SATA SSD插接在该治具的槽口上进行测试。

试验证明，单个治具上可以同时测试6块SATA SSD，还可通过扩展多个下位机的方式实现对更多块的SATA SSD进行测试。

在一实施例中，所述测试包括高低温测试、正常上下电读写测试和异常上下电读写测试。

在一实施例中，所述通过控制Chamber进行高低温变化，定义为控制单块或多块的SATA SSD所在的腔室内的控制，以实现高低温测试功能。

第二方面，请参考图1-3，本申请提供了一种应用于如上所述的多块SATA SSD高低温测试装置中的多块SATA SSD高低温测试方法，包括以下步骤：

步骤S1、通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；

步骤S2、下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

在一实施例中，所述通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统的步骤，具体包括以下步骤：

控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

其中，BIT测试定义为从LBA0开始写入某个数据量再读取比对数据的正确性为一个循环，然后重复一直到Max.LBA为止为1LOOP；FDS测试定义为对SSD做全盘写入、全盘读取并比对data是否正确为1LOOP；PCT测试为对SSD取任意LBA位置写入某个数据量、断电、上电、identify device、检查SMART Attribute后将写入的数据读取比较数据是否正确，此测试的断电时机是在write command完毕后，通常会下一个flush或standby command后断电，属于正常断电；BITPCT测试定义为对NVME SSD从LBA0写入某个数据量，在这个过程中，随机对SSD进行断电，上电、识别设备、检查SMART属性后将写入的数据读取比较data是否正确。此测试的断电时机是在写入命令过程中，不会通知SSD，所以属于异常断电。

在一实施例中，所述控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试的步骤，具体包括以下步骤：

控制上位机程序启动，读取测试项配置信息；

比对测试项配置信息和预设测试项配置结果，获取比对工况；

当测试项配置信息和预设测试项配置结果匹配时，判定测试信息准备好，控制上位机获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

在一实施例中，所述下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示的步骤，具体包括以下步骤：

控制获取SATA SSD对应于下位机上的串口并进行初始化；

获取测试命令；

检查SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果。

在一实施例中，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，具体包括以下步骤：

当检测到SATA SSD运行时，控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。

在一实施例中，SATA SSD在治具的槽口上支持热插拔，所以每项测试项开启前需要对SATA SSD进行掉电、上电这个操作，不可以直接发送Identify命令来找盘，因此，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，还包括以下步骤：

当检测到SATA SSD运行时，依次检测BIT测试、PCT测试和FDS测试的测试需求；

当BIT测试、PCT测试和FDS测试任一项需要进行测试时，控制控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。

在一实施例中，所述控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试的步骤，具体包括以下步骤：

控制SATA SSD掉电并等待第一预设时间；

控制SATA SSD上电并等待第二预设时间。

在一实施例中，所述第一预设时间为5s，所述第二预设时间为10s。

第三方面，本申请提供了一种多块SATA SSD高低温测试系统，包括：

测试项目获取模块，用于通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；

测试控制模块，与所述测试项目获取模块通信连接，用于下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

以下通过具体测试案例进行说明，具体流程如下：

步骤1、上位机程序启动如图4所示，信息包含如图5所示的上位机IP信息和如图6所示的下位机IP信息；下位机对应通道对应的SSD信息如图7所示；上位机对应各个下位机下发的脚本及发送和接收状态信息显示如图8所示。

步骤2、下位机程序启动信息图如图9所示。

步骤3、上位机选择测试脚本，并进行扫描SN的操作，上位机扫盘结果如图10所示。

由于SATA SSD在这套治具上支持热插拔，为了保证测试结果的准备性，防止误操作和一些特殊情况，在找盘和每个测试项开始时，都会先对盘进行掉电、等待一段时间、上电、等待一段时间。掉电等待时间和上电等待时间，都是在脚本中可以配置，根据不同容量不同特性的SATA SSD进行修改，做到灵活运用，不用修改下位机的程序已达到功能效果；每个下位机的测试脚本可以不一样，测试项可以根据实际情况进行配置。

治具上盘默认状态如图11所示；下位机盘掉电及等待过程如图12所示；治具上盘掉电如图13所示；下位机盘上电及等待过程如图14所示；治具上盘上电如图15所示；下位机扫盘结果如图16所示。

步骤4、开始下发脚本测试，如图17所示。

脚本中的高低温信息如图18所示；上位机上的高低温信息如图19所示；当前测试项的温度如图20所示；下位机测试过程显示信息如图21所示。

步骤5、当前测试项结束后，实时更新结果统计并上传结果信息到上位机及QMS系统。

上位机更新的测试项结果信息如图22所示；显示具体的错误信息及详细的测试结果log如图23所示；下位机的测试项结果信息如图24所示；QMS系统上的结果信息如图25所示；步骤6、脚本测试结束后的统计信息如图26所示。

通过以上测试案例，可以看出，通过此种方案，本申请可以实现对多块SATA SSD进行高低温的量产测试，有效保证产品质量并提高产品生产效率。还可以通过扩展下位机的数量来增加同时测试的SATA SSD的数量，根据测试结果来进行SSD分类，成功的进入到下一流程，失败的通过测试log分析失败的具体原因。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法的所有方法步骤或部分方法步骤。

本发明实现上述方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。计算机可读介质可以包括：能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，存储器上储存有在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述方法中的所有方法步骤或部分方法步骤。

所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，处理器是计算机装置的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机装置的各个部分。

存储器可用于存储计算机程序和/或模块，处理器通过运行或执行存储在存储器内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，实现计算机装置的各种功能。存储器可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(例如声音播放功能、图像播放功能等)；存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(例如音频数据、视频数据等)。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(SmartMedia Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、服务器或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、服务器和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种多块SATA SSD高低温测试装置，其特征在于，包括：

上位机，用于控制SATA SSD的腔室进行高低温的变化；

下位机，所述下位机通过治具的槽口插接多个SATA SSD；

其中，所述上位机和所述下位机通信连接，用于下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统，所述下位机用于执行测试脚本，获取多块SATASSD的性能测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

2.如权利要求1所述的多块SATA SSD高低温测试装置，其特征在于，所述上位机采用Windows系统，所述下位机采用Linux系统。

3.一种应用于如权利要求1-2任一项所述的多块SATA SSD高低温测试装置中的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；

下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

4.如权利要求3所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统的步骤，具体包括以下步骤：

控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

5.如权利要求4所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述控制上位机程序启动，获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试的步骤，具体包括以下步骤:

控制上位机程序启动，读取测试项配置信息；

比对测试项配置信息和预设测试项配置结果，获取比对工况；

当测试项配置信息和预设测试项配置结果匹配时，判定测试信息准备好，控制上位机获取测试项目，所述测试项目包括BIT测试、FDS测试、PCT测试和BITPCT测试。

6.如权利要求3所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示的步骤，具体包括以下步骤：

控制获取SATA SSD对应于下位机上的串口并进行初始化；

获取测试命令；

检查SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果。

7.如权利要求6所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，具体包括以下步骤：

当检测到SATA SSD运行时，控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。

8.如权利要求6所述的多块SATA SSD高低温测试方法，其特征在于，所述检测SATA SSD运行工况，根据SATA SSD的运行工况，执行不同的对多块SATA SSD进行测试的测试策略，获取多块SATA SSD的测试结果的步骤，还包括以下步骤：

当检测到SATA SSD运行时，依次检测BIT测试、PCT测试和FDS测试的测试需求；

当BIT测试、PCT测试和FDS测试任一项需要进行测试时，控制控制从治具槽口上移除设备，控制多个SATA SSD进行掉电上电测试操作扫描SATA SSD，再执行对多块SATA SSD进行测试。

9.一种多块SATA SSD高低温测试系统，其特征在于，包括：

测试项目获取模块，用于通过上位机获取测试项目，并下发测试脚本至下位机，获取SATA SSD测试项目，分类上传测试结果到QMS系统；

测试控制模块，与所述测试项目获取模块通信连接，用于下位机的治具槽口插接多个SATA SSD，控制下位机根据测试脚本对多块SATA SSD进行测试，获取多块SATA SSD的测试结果，并进行结果成功和失败的分类以及失败原因的显示。

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