CN102521092A - 硬盘测试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种硬盘测试方法和装置，其中，该方法包括：读取硬盘的第一预定参数信息；对被测的硬盘进行系统安装策测试，测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；根据预定策略，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能；针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试；测试硬盘在预定工作负载下的工作性能；读取硬盘的第二预定参数信息，并将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较，其中，第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。本发明能够针对多种类型的硬盘控制器和工作模式，对硬盘的稳定性、可靠性、功能性、兼容性等多个方面进行全面测试和评估。

Description

硬盘测试方法和装置

技术领域

本发明涉及计算机领域，并且特别地，涉及一种硬盘测试方法和装置。

背景技术

目前，已经提出了一些硬盘测试技术，这些技术也在随着硬盘密度和转速的提高而不断发展。

虽然已有的硬盘测试技术已经有很多种，但是，每种测试技术所执行的测试功能并不相同，如何组合这些测试技术，从而全面、完整地测试硬盘的性能、并且省略不必要的测试步骤，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中所提出的问题，本发明提出一种硬盘测试方法和装置，能够对硬盘进行全面的测试，并且不会增加不必要的测试过程。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种硬盘测试方法。

该方法包括：读取硬盘的第一预定参数信息；对被测的硬盘进行系统安装策测试，测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；根据预定策略，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能；针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试；测试硬盘在预定工作负载下的工作性能；读取硬盘的第二预定参数信息，并将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较，其中，第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。

其中，在进行系统安装测试之前，该方法进一步包括：记录硬盘的信息，记录的信息包括以下至少之一：硬盘厂商、硬盘型号、容量、固件版本、接口、机械尺寸。

此外，在进行系统安装测试之前，该方法进一步包括：记录测试平台信息，其中，测试平台信息包括以下至少之一：硬盘控制器厂商、型号、硬盘控制器BIOS、固件版本、操作系统下驱动版本，主板厂商、主板型号、PCB版本、CPU型号、内存型号、电源型号、网卡型号、主板芯片组驱动、网卡驱动和VGA驱动。

其中，在记录测试平台信息之后，该方法进一步包括：对硬盘进行外观检测，包括对硬盘的盘体部分、PCB部分和连接器部分进行检查。

此外，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能包括以下至少之一：通过IOMeter对硬盘进行测试；通过HD Tach对硬盘进行测试；通过HD Tune对硬盘进行测试；通过ATTO Disk Benchmark对硬盘进行测试；通过Crystal Disk Benchmark对硬盘进行测试；通过Bonnie++对硬盘进行测试；通过DD命令对硬盘进行测试。

此外，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能包括以下处理中的至少之一：控制硬盘进行数据拷贝、和/或数据压缩/解压缩，对经过拷贝、和/或压缩/解压缩后的数据进行验证；遍历多种大小的块和以及多种读写模式，以循环的方式对硬盘进行IO zone测试。

并且，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能进一步包括以下处理中的至少之一：对硬盘进行持续性数据写入压力测试；对硬盘进行多次重启，测试硬盘的上/下电时序、硬盘自检功能、以及硬盘与控制器的兼容性。

此外，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能进一步包括：将硬盘置于预定温度的工作环境中，对硬盘的老化测试。

可选地，第一预定参数信息和第二预定参数信息为自我监测、分析及报告技术SMART参数信息。

根据本发明的另一方面，提供了一种硬盘测试装置。

该装置包括：第一读取模块，用于读取硬盘的第一预定参数信息；第一测试模块，用于对被测的硬盘进行系统安装策测试，以测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；第二测试模块，用于根据预定策略，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能；第三测试模块，用于针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试；第四测试模块，用于测试硬盘在预定工作负载下的工作性能；第二读取模块，用于读取硬盘的第二预定参数信息；比较模块，用于将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较，其中，第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。

本发明通过选择不同方面的测试方法、以一定顺序进行组合，判断出硬盘在各种工作模式下的性能，并检测硬盘在各种硬盘控制器下的兼容性，能够针对多种类型的硬盘控制器和工作模式，对硬盘的稳定性、可靠性、功能性、兼容性等多个方面进行全面测试和评估。

附图说明

图1是根据本发明实施例的硬盘测试方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的硬盘测试装置的框图。

具体实施方式

根据本发明的实施例，提供了一种硬盘测试方法。

如图1所示，根据本发明实施例的硬盘测试方法包括：

步骤S101，读取硬盘的第一预定参数信息；

步骤S103，对被测的硬盘进行系统安装策测试，测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；

步骤S105，根据预定策略，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能；

步骤S107，针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试；

步骤S109，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能；

步骤S111，读取硬盘的第二预定参数信息，并将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较，其中，第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。

其中，在进行系统安装测试之前，该方法可以进一步包括：记录硬盘的信息，记录的信息包括以下至少之一：硬盘厂商、硬盘型号、容量、固件版本、接口、机械尺寸。

另外，在进行系统安装测试之前，该方法还可以进一步包括：记录测试平台信息，其中，测试平台信息包括以下至少之一：硬盘控制器厂商、型号、硬盘控制器BIOS、固件版本、操作系统下驱动版本，主板厂商、主板型号、PCB版本、CPU型号、内存型号、电源型号、网卡型号、主板芯片组驱动、网卡驱动和VGA驱动。

其中，在记录测试平台信息之后，该方法进一步包括：对硬盘进行外观检测，包括对硬盘的盘体部分、PCB部分和连接器部分进行检查。

可选地，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能包括以下至少之一：

通过IOMeter对硬盘进行测试；

通过HD Tach对硬盘进行测试；

通过HD Tune对硬盘进行测试；

通过ATTO Disk Benchmark对硬盘进行测试；

通过Crystal Disk Benchmark对硬盘进行测试；

通过Bonnie++对硬盘进行测试；

通过DD命令对硬盘进行测试。

此外，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能包括以下处理中的至少之一：控制硬盘进行数据拷贝、和/或数据压缩/解压缩，对经过拷贝、和/或压缩/解压缩后的数据进行验证；遍历多种大小的块和以及多种读写模式，以循环的方式对硬盘进行IO zone测试。

并且，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能的处理还可以进一步包括以下处理中的至少之一：对硬盘进行持续性数据写入压力测试；对硬盘进行多次重启，测试硬盘的上/下电时序、硬盘自检功能、以及硬盘与控制器的兼容性。

此外，测试硬盘在预定工作负载下的工作性能的处理可以进一步包括：将硬盘置于预定温度的工作环境中，对硬盘的老化测试。

此外，第一预定参数信息和第二预定参数信息为自我监测、分析及报告技术SMART参数信息。

下面将结合具体的实例描述本发明的处理过程。

在实际应用中，本发明的硬盘测试方法可以包括以下步骤：

(1)记录被测硬盘信息。包括硬盘厂商，硬盘型号，容量，固件版本，接口，机械尺寸等信息。

(2)记录测试平台信息。包括硬盘控制器厂商，型号，硬盘控制器BIOS，固件版本，Windows系统下驱动版本，Linux系统下驱动版本，采用主板厂商，主板型号，PCB版本，CPU型号，内存型号，电源型号，网卡型号，主板芯片组驱动，网卡驱动和VGA驱动。记录这些信息一方面为测试验证过程提供信息支撑，另一方面在出现问题的时候便于追查当时的具体测试观景，方便进行故障复现。

(3)硬盘外观检查。主要针对硬盘盘体部分，PCB部分和连接器部分进行检查。检查有专门标准，本方法中一般仅做简单检查即可。比如盘体表面是否有划伤和磕痕，PCB是否洗板干净，金属部分是否有氧化，连接器部分是否镀金，引脚长度是否符合要求等。

(4)系统安装策测试。本测试主要针对硬盘能否在不同控制器和不同工作模式下进行系统安装功能的测试。主要针对兼容性进行考虑。需要涉及的硬盘控制器有：Intel ICH10R，AMD SB710，LSI 1068e，LSI 1078e和LSI 2008等。并且还需要在IDE、AHCI和RAID模式下进行测试。需要安装的系统为Windows Server 2003SP2和Red Hat Enterprise Linux 5.

(5)硬盘性能测试。主要使用各种软件针对硬盘不同方面的性能在不同控制器，不同模式下进行性能测试。测试可以全面的反映硬盘性能。所有测试软件都需要覆盖第(4)部中的硬盘控制器和模式。

(a)IOMeter测试。测试分区大小选择30GB，硬盘控制器和工作模式设计第(4)中的所有模式。测试参数选择方面，队列深度统一使用32队列深度。此时可以发挥硬盘的最高性能。其他参数如下：

64KB块大小，100％顺序读；64KB块大小，100％顺序写。此两种主要反映硬盘的最大内部读写传输率。

512B块大小，100％顺序读；512B块大小，100％顺序写。此两种主要反映硬盘的主控芯片对IO操作的处理能力。

4KB块大小，100％顺序读写。此两种反映硬盘在小块情况下的顺序读写能力。

4KB块大小，100％随机读写。此两种主要反映硬盘寻道能力和寻道时间等参数。

(b)HD Tach测试。本测试可以进行硬盘突发传输率，随机访问时间，CPU占用率，平均读取能力和平均写入能力的测试。同时还可以根据测试结果进行绘图，较为直观的反映了内盘内外圈传输率曲线的变化。

(c)HD Tune测试。本测试可以进行硬盘最大、最小、平均传输率测试，随机访问时间测试，随机IOPS性能测试和不同块大小情况下，队列深度为1的文件读写性能测试。

(d)ATTO Disk Benchmark测试。本测试可以在队列深度为4～10的情况下，针对512B～8MB块大小的文件读写测试。

(e)Crystal Disk Benchmark测试。本测试可以测试顺序读写性能，512B块大小下的随机读写性能，4K块大小在队列深度为1和32情况下的随机读写性能。

(f)Bonnie++测试。本测试是在Linux下针对硬盘顺序读写性能和随机访问延迟时间进行测试的工具。

(g)DD测试。本测试是调用Linux自带的系统命令针对硬盘在制定块大小情况下的顺序读写性能进行测试。本方法选择的块大小为64KB。

(6)硬盘热插拔测试。本测试是硬盘功能性测试的一部分。通过在不同控制器和OS下的热插和热拔测试来验证硬盘的热插拔功能和识别特性。同时，也验证了硬盘与硬盘背板之间的兼容性。

(7)压力测试。本测试主要采用长时间，重负载的模式针对硬盘提供压力，从而考研硬盘的稳定性与可靠性。具体测试软件或方法如下：

(A)Copy and Compare测试。本测试采用自编脚本反复在硬盘之间进行拷贝，并通过压缩解压缩后数据再次进行比较来验证硬盘读写数据的稳定性。

(B)IOzone测试。本测试是在Linux系统下，遍历不同块大小和读写模式进行的测试。此测试可以用来评估性能并生成excel图表。本方法中，编写脚本调用此工具进行循环，来给硬盘提供压力进行测试。

(C)TD测试。本测试采用自编脚本针对单盘或多盘情况进行持续性大数据量的写入压力测试。

(D)重启功能测试。通过反复重启来验证硬盘的上下电时序和硬盘自检功能以及与控制器的兼容性。

(8)高温老化测试。采用环境温度55度的情况下，针对硬盘进行压力测试12～72小时，来考察硬盘在环境恶略情况下工作的稳定性。

(9)测试完成后的硬盘稳定性评估。针对SATA硬盘，采用在测试开始前和结束后读取硬盘S.M.A.R.T信息的方法来查看硬盘的稳定性。主要涉及的值有：第05项，第188项，等。具体评估方法有一套专门的评估手段。针对SAS硬盘，采用Read Defect命令读取硬盘的G-List，根据G-List增长情况来判断硬盘的稳定性。

经过以上测试，待测硬盘可以基本满足性能，兼容性，功能性和稳定性方面的需求。

根据本发明的实施例，还提供了一种硬盘测试装置。

如图2所示，根据本发明实施例的硬盘测试装置包括：

第一读取模块21，用于读取硬盘的第一预定参数信息；

第一测试模块22，用于对被测的硬盘进行系统安装策测试，以测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；

第二测试模块23，连接至第一测试模块22，用于根据预定策略，测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能；

第三测试模块24，连接至第二测试模块23，用于针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试；

第四测试模块25，连接至第三测试模块24，用于测试硬盘在预定工作负载下的工作性能；

第二读取模块26，连接至第四测试模块25，用于读取硬盘的第二预定参数信息；

比较模块27，连接至第一读取模块21和第二读取模块26，用于将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较，其中，第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。

根据本实施例的装置的各个模块所执行步骤已经在之前进行了详细描述，这里不再重复。

综上所述，借助于本发明的上述技术方案，能够选择不同方面的测试方法、以一定顺序进行组合，判断出硬盘在各种工作模式下的性能，并检测硬盘在各种硬盘控制器下的兼容性，能够针对多种类型的硬盘控制器和工作模式，对硬盘的稳定性、可靠性、功能性、兼容性等多个方面进行全面测试和评估。通过本发明提出的测试方案，可以保证被测硬盘与制定系统，如PC/笔记本/服务器的可用性与兼容性。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种硬盘测试方法，其特征在于，包括：

读取硬盘的第一预定参数信息；

对被测的硬盘进行系统安装策测试，测试所述硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；

根据预定策略，测试所述硬盘在所述多种控制器和所述多种工作模式下的工作性能；

针对所述多种控制器和多种操作系统对所述硬盘进行热插拔测试；

测试所述硬盘在预定工作负载下的工作性能；

读取所述硬盘的第二预定参数信息，并将所述第二预定参数信息与所述第一预定参数信息进行比较，其中，所述第一预定参数信息和所述第二预定参数信息对应相同类型的参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在进行系统安装测试之前，所述方法进一步包括：

记录所述硬盘的信息，记录的所述信息包括以下至少之一：硬盘厂商、硬盘型号、容量、固件版本、接口、机械尺寸。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在进行系统安装测试之前，所述方法进一步包括：

记录测试平台信息，其中，所述测试平台信息包括以下至少之一：硬盘控制器厂商、型号、硬盘控制器BIOS、固件版本、操作系统下驱动版本，主板厂商、主板型号、PCB版本、CPU型号、内存型号、电源型号、网卡型号、主板芯片组驱动、网卡驱动和VGA驱动。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在记录所述测试平台信息之后，所述方法进一步包括：

对所述硬盘进行外观检测，包括对所述硬盘的盘体部分、PCB部分和连接器部分进行检查。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试所述硬盘在所述多种控制器和所述多种工作模式下的工作性能包括以下至少之一：

通过IOMeter对所述硬盘进行测试；

通过HD Tach对所述硬盘进行测试；

通过HD Tune对所述硬盘进行测试；

通过ATTO Disk Benchmark对所述硬盘进行测试；

通过Crystal Disk Benchmark对所述硬盘进行测试；

通过Bonnie++对所述硬盘进行测试；

通过DD命令对所述硬盘进行测试。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试所述硬盘在预定工作负载下的工作性能包括以下处理中的至少之一：

控制所述硬盘进行数据拷贝、和/或数据压缩/解压缩，对经过拷贝、和/或压缩/解压缩后的数据进行验证；

遍历多种大小的块和以及多种读写模式，以循环的方式对所述硬盘进行IO zone测试。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，测试所述硬盘在预定工作负载下的工作性能进一步包括以下处理中的至少之一：

对所述硬盘进行持续性数据写入压力测试；

对所述硬盘进行多次重启，测试所述硬盘的上/下电时序、硬盘自检功能、以及所述硬盘与控制器的兼容性。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试所述硬盘在预定工作负载下的工作性能进一步包括：

将所述硬盘置于预定温度的工作环境中，对所述硬盘的老化测试。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一预定参数信息和所述第二预定参数信息为自我监测、分析及报告技术SMART参数信息。

10.一种硬盘测试装置，其特征在于，包括：

第一读取模块，用于读取硬盘的第一预定参数信息；

第一测试模块，用于对被测的硬盘进行系统安装策测试，以测试所述硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能；

第二测试模块，用于根据预定策略，测试所述硬盘在所述多种控制器和所述多种工作模式下的工作性能；

第三测试模块，用于针对所述多种控制器和多种操作系统对所述硬盘进行热插拔测试；

第四测试模块，用于测试所述硬盘在预定工作负载下的工作性能；

第二读取模块，用于读取所述硬盘的第二预定参数信息；

比较模块，用于将所述第二预定参数信息与所述第一预定参数信息进行比较，其中，所述第一预定参数信息和所述第二预定参数信息对应相同类型的参数。

Images