CN116991641A - 基于fio的兼容性测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种基于FIO的兼容性测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取待测芯片的属性信息；对属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；根据FIO文件测试信息对待测芯片进行测试处理得到测试数据；将测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理得到芯片测试结果。根据本发明实施例的方案，能够根据待测芯片的类型而自动选择不同的测试方法，使得芯片的测试过程更加灵活快速，提高芯片的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种基于FIO的兼容性测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着社会经济的不断发展，科技的不断进步，电子产品的数量也在不断地攀升，而电子产品中的芯片数量也在不断地猛增；在芯片装备使用之前往往都需要对芯片进行测试处理，但是对于不同的芯片类型，往往需要手动切换不同的测试方法，无法灵活、快速地根据测试芯片的类型进行快速切换，这样就会使得芯片的测试效率不高，影响芯片的生产规模的扩大。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
为此，本发明提出一种基于FIO的兼容性测试方法，能够根据待测芯片的类型而自动选择不同的测试方法，使得芯片的测试过程更加灵活快速，提高芯片的测试效率。
本发明还提出一种应用上述基于FIO的兼容性测试方法的装置。
本发明还提出一种应用上述基于FIO的兼容性测试方法的电子设备。
本发明还提出一种应用上述基于FIO的兼容性测试方法的计算机可读存储介质。
根据本发明第一方面实施例的基于FIO的兼容性测试方法，所述方法包括：
获取待测芯片的属性信息；
对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；
根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息；
根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据；
将所述测试数据与预设的所述数据测试阈值进行比较处理得到所述芯片测试结果。
根据本发明的一些实施例，所述属性信息包括系统类别信息，所述对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息，包括：
从所述属性信息中提取所述系统类别信息；
根据所述系统类别信息确定所述芯片类型信息。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息，包括：
在所述芯片类型信息表征所述待测芯片为安卓系统芯片的情况下，根据所述芯片类型信息确定FIO执行文件；
在所述芯片类型信息表征所述待测芯片为鸿蒙/Linux系统芯片的情况下，根据所述芯片类型信息确定FIO执行命令。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据，包括：
在所述FIO文件测试信息为所述FIO执行文件的情况下，将所述FIO执行文件输入至所述安卓系统芯片，执行批处理脚本以生成所述测试数据。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据，包括：
在所述FIO文件测试信息为所述FIO执行命令的情况下，安装FIO Linux执行驱动，基于所述FIO执行命令生成所述测试数据。
根据本发明的一些实施例，所述批处理脚本包括第一FIO老化测试参数，所述执行批处理脚本以生成所述测试数据后，所述方法还包括：
基于所述第一FIO老化测试参数对所述待测芯片进行老化测试处理得到第一老化测试结果。
根据本发明的一些实施例，所述FIO执行命令包括第二FIO老化测试参数，所述基于所述FIO执行命令生成所述测试数据后，所述方法还包括：
基于所述第二FIO老化测试参数对所述待测芯片进行老化测试处理得到第二老化测试结果。
根据本发明第二方面实施例的基于FIO的兼容性测试装置，所述装置包括：
第一处理模块，用于获取待测芯片的属性信息；
第二处理模块，用于对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；
第三处理模块，用于根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息；
第四处理模块，用于根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据；
第五处理模块，用于将所述测试数据与预设的所述数据测试阈值进行比较处理得到所述芯片测试结果。
根据本发明第三方面实施例的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的基于FIO的兼容性测试方法。
根据本发明第四方面实施例的一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被控制处理器执行时实现如上所述的基于FIO的兼容性测试方法。
根据本发明实施例的基于FIO的兼容性测试方法，至少具有如下有益效果：在基于FIO的兼容性测试的过程中，首先获取待测芯片的属性信息；接着对属性信息进行分析处理就可以得到芯片类型信息；接着根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；接着根据FIO文件测试信息对待测试芯片进行测试处理就可以得到测试数据；最后将测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理就可以得到待测试芯片的芯片测试结果。通过上述技术方案，能够根据待测芯片的类型而自动选择不同的测试方法，使得芯片的测试过程更加灵活快速，提高芯片的测试效率。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本公开技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。
图1是本发明一个实施例提供的基于FIO的兼容性测试方法流程图；
图2是本发明一个实施例提供的S200的具体流程图；
图3是本发明一个实施例提供的S300的具体流程图；
图4是本发明一个实施例提供的S400的具体流程图；
图5是本发明另一个实施例提供的S400的具体流程图；
图6是本发明另一个实施例提供的基于FIO的兼容性测试方法流程图；
图7是本发明另一个实施例提供的基于FIO的兼容性测试方法流程图；
图8是本发明一个实施例提供的基于FIO的兼容性测试装置的构造示意图；
图9是本发明一个实施例提供的电子设备的构造示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明提供了一种基于FIO的兼容性测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，方法包括：在基于FIO的兼容性测试的过程中，首先获取待测芯片的属性信息；接着对属性信息进行分析处理就可以得到芯片类型信息；接着根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；接着根据FIO文件测试信息对待测试芯片进行测试处理就可以得到测试数据；最后将测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理就可以得到待测试芯片的芯片测试结果。通过上述技术方案，能够根据待测芯片的类型而自动选择不同的测试方法，使得芯片的测试过程更加灵活快速，提高芯片的测试效率。
下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
如图1所示，图1是本发明一个实施例提供的基于FIO的兼容性测试方法的流程图。该方法包括但不限于步骤S100、步骤S200、步骤S300、步骤S400和步骤S500。
步骤S100，获取待测芯片的属性信息；
步骤S200，对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；
步骤S300，根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息；
步骤S400，根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据；
步骤S500，将所述测试数据与预设的所述数据测试阈值进行比较处理得到所述芯片测试结果。
需要说明的是，在基于FIO的兼容性测试的过程中，首先获取待测芯片的属性信息；接着对属性信息进行分析处理就可以得到芯片类型信息；接着根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；接着根据FIO文件测试信息对待测试芯片进行测试处理就可以得到测试数据；最后将测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理就可以得到待测试芯片的芯片测试结果。通过上述技术方案，能够根据待测芯片的类型而自动选择不同的测试方法，使得芯片的测试过程更加灵活快速，提高芯片的测试效率。
需要说明的是，FIO是Linux下开源的一款IOPS测试工具，主要用来对磁盘进行压力测试和性能验证，可以产生许多线程或进程来执行用户特定类型的I/O操作，通过编写作业文件或者直接命令去执行测试动作，相当于是一个多线程的I/O生成工具，用于生成多种IO模式来测试硬盘设备的性能。
值得注意的是，获取待测芯片的属性信息，接着对属性信息进行分析处理就可以得到待测芯片的芯片类型信息，其中，芯片类型信息表征待测芯片应用的系统类型，示例性地，待测芯片应用的系统类型可以包括安卓系统、鸿蒙系统或者Linux系统。
值得注意的是，根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息，FIO文件测试信息用于控制基于FIO对待测芯片进行测试的过程中的相关测试参数，因为不同的芯片类型，都会对应的着不同的FIO文件测试信息，因此可以通过芯片类型信息对FIO文件测试信息进行确定处理。根据FIO文件测试信息对待测芯片进行测试处理即为根据FIO文件测试信息对测试过程中的相关参数进行控制处理；将得到的测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理就可以得到相应的芯片测试结果。
值得注意的是，根据FIO文件测试信息对待测芯片进行测试处理而得到的测试数据可以包括待测芯片的性能参数以及时延参数等关键数据，将得到的相关性能参数和时延参数与数据测试阈值进行比较处理，就可以得到芯片测试结果，比较的过程简单方便。
另外，在一实施例中，如图2所示，属性信息包括系统类别信息，上述步骤S200可以包括但不限于步骤S210和步骤S220。
步骤S210，从属性信息中提取系统类别信息；
步骤S220，根据系统类别信息确定芯片类型信息。
需要说明的是，在对属性信息进行分析处理得到芯片类型信息的过程中，首先从属性信息中提取系统类型信息，接着根据系统类型信息确定芯片类型信息。其中，芯片类型信息可以包括安卓系统类型或者鸿蒙/Linux系统类型。
另外，在一实施例中，如图3所示，上述步骤S300可以包括但不限于步骤S310和步骤S320。
步骤S310，在芯片类型信息表征待测芯片为安卓系统芯片的情况下，根据芯片类型信息确定FIO执行文件；
步骤S320，在芯片类型信息表征待测芯片为鸿蒙/Linux系统芯片的情况下，根据芯片类型信息确定FIO执行命令。
需要说明的是，在根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息的过程中，在芯片类型信息表征待测芯片为安卓系统芯片的情况下，根据芯片类型信息就可以确定FIO执行文件；在芯片类型信息表征待测芯片为鸿蒙/Linux系统芯片的情况下，就可以根据芯片类型信息确定FIO执行命令。
另外，在一实施例中，如图4所示，上述步骤S400可以包括但不限于步骤S410。
步骤S410，在FIO文件测试信息为FIO执行文件的情况下，将FIO执行文件输入至安卓系统芯片，执行批处理脚本以生成测试数据。
需要说明的是，在FIO文件测试信息为FIO执行文件的情况下，就可以将FIO执行文件输入到安卓系统芯片，然后执行批处理脚本以生成测试数据；测试数据可以包括但不限于芯片运行的性能参数以及芯片的时延参数。其中，FIO执行文件为已经编译的FIO可执行文件。
另外，在一实施例中，如图5所示，上述步骤S400可以包括但不限于步骤S420。
步骤S420，在FIO文件测试信息为FIO执行命令的情况下，安装FIO Linux执行驱动，基于FIO执行命令生成测试数据。
需要说明的是，在FIO文件测试信息为FIO执行命令的情况下，可以先安装FIOLinux执行驱动，接着可以通过执行FIO执行命令，进而生成相应的测试数据；测试数据也可以包括但不限于芯片运行的性能参数以及芯片的时延参数。
另外，在一实施例中，如图6所示，批处理脚本包括第一FIO老化测试参数，执行完上述步骤S410可以包括但不限于步骤S411。
步骤S411，基于第一FIO老化测试参数对待测芯片进行老化测试处理得到第一老化测试结果。
需要说明的是，基于第一FIO老化测试参数对待测芯片进行老化测试处理就可以得到第一老化测试结果。其中，第一FIO老化测试参数可以设定测试时长、测试模式和测试大小。
另外，在一实施例中，如图7所示，FIO执行命令包括第二FIO老化测试参数，执行完上述步骤S420可以包括但不限于步骤S421。
步骤S421，基于第二FIO老化测试参数对待测芯片进行老化测试处理得到第二老化测试结果。
需要说明的是，基于第二FIO老化测试参数对待测芯片进行老化测试处理就可以得到第二老化测试结果。其中，第二FIO老化测试参数也可以设定测试时长、测试模式和测试大小。
在本发明的一些实施例中，如图8所示，本发明的一个实施例还提供了一种基于FIO的兼容性测试装置10，该装置包括：
第一处理模块100，用于获取待测芯片的属性信息；
第二处理模块200，用于对属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；
第三处理模块300，用于根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；
第四处理模块400，用于根据FIO文件测试信息对待测芯片进行测试处理得到测试数据；
第五处理模块500，用于将测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理得到芯片测试结果。
该基于FIO的兼容性测试装置10的具体实施方式与上述基于FIO的兼容性测试方法的具体实施例基本相同，在此不再赘述。
在本发明的一些实施例中，如图9所示，本发明的一个实施例还提供了一种电子设备700，包括：存储器720、处理器710及存储在存储器720上并可在处理器710上运行的计算机程序，处理器710执行计算机程序时实现上述实施例中的基于FIO的兼容性测试方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S100至步骤S500、图2中的方法步骤S210至步骤S220、图3中的方法步骤S310至步骤S320、图4中的方法步骤S410、图5中的方法步骤S420、图6中的方法步骤S411和图7中的方法步骤S421。
在本发明的一些实施例中，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述设备实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的基于FIO的兼容性测试方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S100至步骤S500、图2中的方法步骤S210至步骤S220、图3中的方法步骤S310至步骤S320、图4中的方法步骤S410、图5中的方法步骤S420、图6中的方法步骤S411和图7中的方法步骤S421。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本发明权利要求所限定的范围内。
Claims (10)
1.一种基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待测芯片的属性信息；
对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；
根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息；
根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据；
将所述测试数据与预设的所述数据测试阈值进行比较处理得到所述芯片测试结果。
2.根据权利要求1所述的基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述属性信息包括系统类别信息，所述对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息，包括：
从所述属性信息中提取所述系统类别信息；
根据所述系统类别信息确定所述芯片类型信息。
3.根据权利要求1所述的基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息，包括：
在所述芯片类型信息表征所述待测芯片为安卓系统芯片的情况下，根据所述芯片类型信息确定FIO执行文件；
在所述芯片类型信息表征所述待测芯片为鸿蒙/Linux系统芯片的情况下，根据所述芯片类型信息确定FIO执行命令。
4.根据权利要求3所述的基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据，包括：
在所述FIO文件测试信息为所述FIO执行文件的情况下，将所述FIO执行文件输入至所述安卓系统芯片，执行批处理脚本以生成所述测试数据。
5.根据权利要求3所述的基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据，包括：
在所述FIO文件测试信息为所述FIO执行命令的情况下，安装FIO Linux执行驱动，基于所述FIO执行命令生成所述测试数据。
6.根据权利要求4所述的基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述批处理脚本包括第一FIO老化测试参数，所述执行批处理脚本以生成所述测试数据后，所述方法还包括：
基于所述第一FIO老化测试参数对所述待测芯片进行老化测试处理得到第一老化测试结果。
7.根据权利要求5所述的基于FIO的兼容性测试方法，其特征在于，所述FIO执行命令包括第二FIO老化测试参数，所述基于所述FIO执行命令生成所述测试数据后，所述方法还包括：
基于所述第二FIO老化测试参数对所述待测芯片进行老化测试处理得到第二老化测试结果。
8.一种基于FIO的兼容性测试装置，其特征在于，所述装置包括：
第一处理模块，用于获取待测芯片的属性信息；
第二处理模块，用于对所述属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；
第三处理模块，用于根据所述芯片类型信息确定FIO文件测试信息；
第四处理模块，用于根据所述FIO文件测试信息对所述待测芯片进行测试处理得到测试数据；
第五处理模块，用于将所述测试数据与预设的所述数据测试阈值进行比较处理得到所述芯片测试结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的基于FIO的兼容性测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述计算机可执行指令被控制处理器执行时实现如权利要求1至7任意一项所述的基于FIO的兼容性测试方法。
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