CN111552475B - 一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法及系统 - Google Patents

一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法及系统，其中的方法首先输入Workload测试文件；然后对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；再根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果。本发明的方法可以提高对Workload测试文件执行效率以及测试效率，以及解决Workload测试文件命令行格式多样性、正确性问题。

Description

一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、 测试方法及系统
技术领域
本发明涉及半导体存储器测试领域，具体涉及一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法及系统。
背景技术
半导体存储器(semi-conductor memory)是现代数字系统特别是计算机系统中的重要组成部件，随着半导体存储器技术快速发展，半导体存储器的集成度越来越高，对半导体存储器件的可靠性也提出更高要求，半导体存储器测试的自动化与智能化成为必然趋势。
现有技术中，为了实现自动化测试存储芯片，一般采用的方法是：工程师针对存储芯片特性将对芯片操作的命令编辑成Workload文件，然后通过人工检查该Workload文件是否正确。检查正确后，直接将Workload文件交由半导体测试设备系统执行，测试设备系统获取Workload文件后需解析、生成操作数据和计算操作数据的校验码等操作后，才真正执行。
本申请发明人在实施本发明的过程中，发现现有技术的方法，至少存在如下技术问题：
Workload文本文件不能高效、友好的被半导体测试设备系统执行，半导体测试设备系统直接执行Workload测试文件，需多步耗时操作后，才能被执行，执行效率较低，从而测试效率低。
发明内容
本发明提供了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法系统，用于解决Workload测试文件测试效率低的技术问题。
为了解决上述技术问题，本发明第一方面提供了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法，包括：
输入Workload测试文件；
对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；
根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果。
在一种实施方式中，在根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析之后，所述方法还包括：
判断解析的命令行是否发生错误，如果发生错误，则输出与命令行对应的错误行告警信息。
在一种实施方式中，所述根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，包括：
当格式识别结果为Workload测试文件为已知的Workload测试文件格式时，则采用已知的文件格式对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析；
否则，自定义Workload测试文件格式解析正则表达式，并采用自定义的Workload测试文件格式解析正则表达式对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析。
在一种实施方式中，命令行的内容包括操作命令类型、操作LBA的范围和操作LBA的数据，所述生成与命令行对应的二进制数据，包括：
根据操作LBA的范围确定LBA的起始位置以及操作LBA长度；
根据操作LBA的数据，计算CRC校验码；
将操作命令类型、LBA的起始位置、操作LBA长度、操作LBA的数据以及CRC校验码生成命令行对应的二进制数据。
在一种实施方式中，当操作命令类型为写命令时，所述方法还包括设置写命令写入LBA的数据值类型，写入LBA的数据值类型包括固定值类型和随机值类型，所述根据操作LBA的数据，计算CRC校验码，包括：
当写入LBA的数据值类型为固定值类型时，操作LBA的数据为固定值数据，则根据固定值数据，计算CRC校验码；
当写入LBA的数据值类型为随机值类型时，操作LBA的数据为随机数据，根据随机数据，计算CRC校验码。
在一种实施方式中，当操作命令为擦除命令时，所述根据操作LBA的数据，计算CRC校验码，包括：
读取操作LBA的数据中的0值，并计算CRC校验码。
在一种实施方式中，在所述编译生成与命令行对应的二进制数据之后，所述方法还包括：
设置分片行数；
判断生成的二进制数据中包含的命令行行数是否大于分片行数，如果大于，则对二进制数据进行分片，并生成分片文件，再输出分片文件信息。
在一种实施方式中，基于同样的发明构思，本发明第二方面提供了一种半导体存储器老化测试方法，基于第一方面方法得到的Workload测试文件的编译结果对半导体存储器进行测试。
基于同样的发明构思，本发明第三方面提供了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译系统，包括：
输入模块，用于输入Workload测试文件；
格式识别模块，用于对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；
编译模块，用于根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果。
基于同样的发明构思，本发明第四方面提供了一种半导体存储器老化测试系统，包括第三方面所述的编译系统以及测试模块，其中，测试模块用于根据编译系统得到的编译结果对半导体存储器进行测试。本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种技术效果：
本发明提供的一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法，首先对输入的Workload测试文件进行格式识别，并根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据。可以在测试之前，对Workload测试文件进行格式以及包含的命令行进行解析，相对于现有技术中直接执行Workload测试文件，需多步耗时操作后才能被执行的方法来说，可以提高Workload测试文件的执行效率，故而提高了测试的效率。
进一步地，本发明在对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析后，所还判断解析的命令行是否发生错误，如果发生错误，则输出与命令行对应的错误行告警信息，从而可以快速定位出Workload测试文件中的错误行。
进一步地，本发明可以结合已知的Workload测试文件格式和自定义的Workload测试文件格式解析的正则表达式对Workload测试文件进行格式识别，从而可以解决Workload测试文件格式的多样性和兼容性的问题。
进一步地，本发明可以根据命令行的内容，生成对应的二进制数据，并包括操作命令类型、LBA的起始位置、操作LBA长度、操作LBA的数据以及CRC校验码，可以进一步提高Workload测试文件的可读性，使其更容易被机器阅读。
进一步地，在操作命令类型为写命令时，根据写入LBA的数据值类型确定操作LBA的数据，并计算出CRC校验码，使得在后续测试的执行阶段，可以从读取的二进制数据中直接提取出LBA和CRC校验码，而无需重新计算写入LBA数据的CRC校验码，减少了测试设备系统的生成CRC校验码时间，提高测试设备系统的执行Workload测试文件的效率。
进一步地，本发明还提前设置分片行数，当生成的二进制数据中包含的命令行行数大于分片行数是，对二进制数据进行分片，分解成多个Workload测试文件，便于文件传输和半导体测试设备系统执行。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法的实现流程示意图；
图2为一种实施方式本发明的Workload编译方法的总体流程图；
图3是Workload编译输出的命令行存储结构示意图；
图4为本发明提供的一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译系统的结果框图。
具体实施方式
本发明提供了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法，可以在测试之前，对Workload测试文件进行格式以及包含的命令行进行解析，可以提高Workload测试文件的执行效率，从而可以提高测试的效率；能够输出错误行信息，实现对Workload测试文件的快速定位，还可以节省半导体测试设备系统命令解析时间和生成校验码时间，提高半导体测试设备系统执行Workload操作命令效率，此外还可以解决Workload测试文件格式的多样性问题。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
本实施例提供了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法，请参见图1，该方法包括：
S1：输入Workload测试文件；
S2：对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；
S3：根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果。
具体来说，Workload测试文件是一种存储芯片读、写、擦除等操作测试文件，Workload测试文件包含多个命令行，每一个命令行表示对指定范围内的LBA进行操作，指定范围即指定的地址范围S2是对Workload测试文件的格式进行识别，具体实施过程中，可以通过读取Workload测试文件中的第一行命令行来实现。
识别成功后，则对命令行进行解析，生成对应的二进制数据，即编译结果。
现有技术的方法未涉及到Workload编译过程，直接采用解析Workload文本文件进行半导体存储器老化测试。而本申请则在测试之前，对Workload测试文件进行格式和相关内容的编译，可以自动检查其是否正确，从而节省半导体测试设备系统命令解析时间，提高半导体测试设备系统执行Workload测试文件中操作命令的效率，故而可以提高测试的效率。
在一种实施方式中，在根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析之后，所述方法还包括：
判断解析的命令行是否发生错误，如果发生错误，则输出与命令行对应的错误行告警信息。
具体来说，在解析完一个命令行后，则判断解析的命令行是否发生错误，如果发生错误则输出对应的错误行告警信息，从而方便后续快速定位出发生错误的定位行，相对比现有技术中，需要逐一去检查是哪个命令行发生错误来说，可以进一步提高定位错误的效率。
在一种实施方式中，所述根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，包括：
当格式识别结果为Workload测试文件为已知的Workload测试文件格式时，则采用已知的文件格式对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析；
否则，自定义Workload测试文件格式解析正则表达式，并采用自定义的Workload测试文件格式解析正则表达式对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析。
具体来说，通过读取Workload测试文件中的第一行，则可以确定出Workload测试文件的格式，即识别结果有两种情况，第一种是该Workload测试文件为已知的Workload测试文件格式，第二种是其他文件格式，如果是第一种情况，则采用已知的文件格式进行解析，如果是第二种情况，则采用自定义的文件格式进行解析，从而可以兼容各种不同的文件格式。
当两种格式都无法解析时，则输出格式错误信息。
在一种实施方式中，命令行的内容包括操作命令类型、操作LBA的范围和操作LBA的数据，所述生成与命令行对应的二进制数据，包括：
根据操作LBA的范围确定LBA的起始位置以及操作LBA长度；
根据操作LBA的数据，计算CRC校验码；
将操作命令类型、LBA的起始位置、操作LBA长度、操作LBA的数据以及CRC校验码生成命令行对应的二进制数据。
具体来说，LBA的起始位置即LBA的起始地址，从哪个地方开始操作LBA中的数据，从哪个地方截止。关于CRC校验码的介绍如下：命令操作的最小单元是LBA，一个LBA表示的存储空间为4096字节，CRC校验码是通过计算LBA的存储空间的数据内容得出来的校验码。当测试系统往芯片的LBA写入数据时，测试系统需要计算写入LBA数据的CRC校验码，并记录下该LBA与CRC校验码的映射关系，当后续有读该LBA操作时，测试系统读取LBA数据计算出一个CRC校验码，并与之前记录的CRC校验码比较，当两个CRC校验码不一致时，表明测试芯片有问题。即CRC校验码用于在测试过程中，检测芯片是否发生问题。
此外，命令行是逐行进行解析的，当解析完一个命令行后，则输出当前的编译进度，表示已经有多少命令行已经解析完。
在一种实施方式中，当操作命令类型为写命令时，所述方法还包括设置写命令写入LBA的数据值类型，写入LBA的数据值类型包括固定值类型和随机值类型，所述根据操作LBA的数据，计算CRC校验码，包括：
当写入LBA的数据值类型为固定值类型时，操作LBA的数据为固定值数据，则根据固定值数据，计算CRC校验码；
当写入LBA的数据值类型为随机值类型时，操作LBA的数据为随机数据，根据随机数据，计算CRC校验码。
具体来说，写命令写入LBA的数据值类型包括固定值数据和随机值类型，当为固定值数据类型时，则操作LBA的数据值为一个固定值数据，当为随机值类型，那么编译时根据Workload测试文件中的行号生成一个种子值，再根据种子值生成一个LBA(4096字节)的随机数据。
对于写命令来说，即一个命令行为写命令行，在编译该命令行时，编译系统提前知道写命令的LBA是什么数据，因此会提前生成CRC校验码，与其他字段组合成15字节的二进制数据。那么在测试系统在执行阶段，读取编译后的二进制格式文件(编辑结果)，通过提取LBA数据和CRC校验码后，实时更新LBA与CRC校验码映射关系表即可，无需重新计算写入LBA数据的CRC校验码，从而减少测试设备系统的生成CRC校验码时间，故而可以提高测试设备系统的执行Workload效率。
在一种实施方式中，当操作命令为擦除命令时，所述根据操作LBA的数据，计算CRC校验码，包括：
读取操作LBA的数据中的0值，并计算CRC校验码。
具体来说，擦除命令是将LBA存储空间的数据全部清0，因此，擦除LBA数据对应的CRC校验码为计算LBA包含的4096字节的数据中的0值所计算出的特定值。
此外，对于读命令，其对应的CRC校验字段无效，直接填0值。虽然读和擦除命令的CRC字段都是默认的0x00值，但是擦除命令的0值是根据LBA存储的数据计算得到的，其有意义，而读命令对应的CRC校验码仅表示有这个字段，而没有实际意义。
在具体的实施方式中，编译过程将Workload文本文件的每一个命令行编译成15字节二进制数据，该数据主要包括操作命令类型、LBA的起始位置、操作LBA长度、操作LBA的数据以及CRC校验码作为示例，命令行存储结构图图3所示，操作命令类型(操作码)为数据段第一个字节的3Bit，最多支持八种命令操作，写命令为0，读命令为1，擦除命令为2等；命令操作LBA长度占用第一个字节最后5Bit和第二、三字节，总共占用21Bit，一个LBA可存储4096字节数据，4096*221＝8GB，即单个命令最大支持8GB；起始LBA占用4字节；数据字段占用4字节，分为数据值部分和数据值类型部分，数据值类型占用4字节最高2Bit(0：固定值类型，1：随机值类型)，如固定值类型，数据值为0x55，则写命令对应范围内的LBA数据值均为0x55，如随机值类型，数据值为随机数的种子值，取Workload文本文件行号，种子值通过随机值生成接口可生成4096字节数据，用于填充写命令对应范围内的LBA；CRC字段用于校验后续读取该LBA数据的正确性。
在一种实施方式中，在所述编译生成与命令行对应的二进制数据之后，所述方法还包括：
设置分片行数；
判断生成的二进制数据中包含的命令行行数是否大于分片行数，如果大于，则对二进制数据进行分片，并生成分片文件，再输出分片文件信息。
此外，无论是否对二进制文件进行分片，还进一步判断Workload测试文件是否编译完成，如果编译完成，则结束，否则继续对Workload测试文件进行解析。
为了更清楚地说明本发明提供的编译方法的具体实现流程，下面通过一个完整实例进行介绍，请参见图2，该流程主要包括三个部分，输入项、编译过程以及编译输出。
输入项对应于编译参数设置和待编译的Workload测试文件的输入，该实例中，编译参数包括分片行数，写LBA数据类型(固定值类型和随机值类型，如果为固定值类型，则对应一个固定数据值表，如果为随机值类型，则对应一个随机数种子值)。
选择待编译的Workload文本文件(一行表示对UFS存储芯片指定范围的LBA进行读、写、擦除等操作命令)；设置Workload编译时每多少行生成一个分片文件；设置写命令写入LBA的数据值类型，若设置固定值类型，那么输入至少一个固定值数据，若设置随机值类型，那么编译时根据Workload文本文件中的行号生成一个种子值，再根据种子值生成一个LBA(4096字节)的随机数据；若提供的Workload文本文件格式不能识别，则需要配置解析的正则表达式，用于编译时能正确语法分析，至此输入项准备好。
编译过程包括语法分析和内容解析，语法分析部分包括Workload测试文件格式和命令行格式的解析，内容解析为命令行内容的解析，具体流程为：
根据输入项，开始进行语法分析，语法分析无误后，根据写命令数据值类型，准备操作LBA的数据值，并计算出LBA数据值的CRC校验码，生成Workload命令行的二进制数据，再判断是否超出分片行数，超过分片行数则生成二进制分文件。最后判断文件是否结束，如果未结束则继续解析，否则结束编译。
最后编译输出；输出主要有编译结果的二进制文件输出，格式不识别错误输出、命令行格式不正确告警输出、编译进度、二进制分片文件信息输出。
本发明涉及的属于的英文缩写的含义解释如下：UFS表示Universal FlashStorage通用闪存，CRC表示Cyclic Redundancy Check循环冗余校验，Workload表示存储芯片读、写、擦除等操作测试文件，LBA表示Logical BlockAddress逻辑块地址。
与现有技术相比，本发明具有以下优点和有益效果：
1、Workload编译参数灵活性；可配置Workload写命令写LBA方式，可选固定值类型、随机值类型。可配置分片文件行数；Workload文本文件行数过大时，可对其进行分片，分解成多个Workload测试文件，便于文件传输和半导体测试设备系统执行。
2、Workload格式兼容性；各厂家定义Workload测试文件格式不一致，编译Workload时，可指定使用厂家格式编译，同时可自定义厂家Workload格式的正则表达式用于兼容各厂家Workload格式。
3、Workload编译后二进制文件存储格式定义；编译输出二进制格式能被测试设备系统快速提取，二进制格式中包含写命令行CRC校验码，较少测试设备系统生成CRC时间，提高半导体测试设备系统执行Workload操作命令效率。
4、分片信息、编译进度、告警、错误信息输出；对于较大Workload测试文件进行拆分，便于测试设备传输和执行；编译时不合规、错误行告警输出，可快速定位Workload错误处，为半导体存储器老化测试的Workload编译提供高效、可靠、友好的方法。
实施例二
基于同样的发明构思，本实施例提供了一种半导体存储器老化测试方法，基于实施例一得到的Workload测试文件的编译结果对半导体存储器进行测试。
由于本发明实施例二所介绍的方法，为基于本发明实施例一中的编译结果所实现的方法，故而基于本发明实施例一所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该方法的具体实施方式，故而在此不再赘述。凡是基于本发明实施例一的方法所实现的测试方法都属于本发明所欲保护的范围。
实施例三
基于同样的发明构思，本实施例提供了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译系统，请参见图4，包括：
输入模块201，用于输入Workload测试文件；
格式识别模块202，用于对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；
编译模块203，用于根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果。
由于本发明实施例三所介绍的系统，为实施本发明实施例一中半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法所采用的系统，故而基于本发明实施例一所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该系统的具体结构及变形，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例一的方法所采用的系统都属于本发明所欲保护的范围。
实施例四
基于同样的发明构思，本发明提供了一种半导体存储器老化测试系统，包括实施例三种的编译系统以及测试模块，其中，测试模块用于根据编译系统得到的编译结果对半导体存储器进行测试。
由于本发明实施例四所介绍的系统，为实施本发明实施例二中半导体存储器老化测试方法所采用的系统，故而基于本发明实施例三所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该系统的具体结构及变形，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例三的方法所采用的系统都属于本发明所欲保护的范围。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法，其特征在于，包括：
输入Workload测试文件；
对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；
根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果；
其中，命令行的内容包括操作命令类型、操作LBA的范围和操作LBA的数据，所述生成与命令行对应的二进制数据，包括：
根据操作LBA的范围确定LBA的起始位置以及操作LBA长度；
根据操作LBA的数据，计算CRC校验码；
将操作命令类型、LBA的起始位置、操作LBA长度、操作LBA的数据以及CRC校验码生成命令行对应的二进制数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析之后，所述方法还包括：
判断解析的命令行是否发生错误，如果发生错误，则输出与命令行对应的错误行告警信息。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，包括：
当格式识别结果为Workload测试文件为已知的Workload测试文件格式时，则采用已知的文件格式对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析；
否则，自定义Workload测试文件格式解析正则表达式，并采用自定义的Workload测试文件格式解析正则表达式对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当操作命令类型为写命令时，所述方法还包括设置写命令写入LBA的数据值类型，写入LBA的数据值类型包括固定值类型和随机值类型，所述根据操作LBA的数据，计算CRC校验码，包括：
当写入LBA的数据值类型为固定值类型时，操作LBA的数据为固定值数据，则根据固定值数据，计算CRC校验码；
当写入LBA的数据值类型为随机值类型时，操作LBA的数据为随机数据，根据随机数据，计算CRC校验码。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当操作命令为擦除命令时，所述根据操作LBA的数据，计算CRC校验码，包括：
读取操作LBA的数据中的0值，并计算CRC校验码。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述编译生成与命令行对应的二进制数据之后，所述方法还包括：
设置分片行数；
判断生成的二进制数据中包含的命令行行数是否大于分片行数，如果大于，则对二进制数据进行分片，并生成分片文件，再输出分片文件信息。
7.一种半导体存储器老化测试方法，其特征在于，基于权利要求1-6任一项中得到的Workload测试文件的编译结果对半导体存储器进行测试。
8.一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译系统，其特征在于，包括：
输入模块，用于输入Workload测试文件；
格式识别模块，用于对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；
编译模块，用于根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果；
其中，命令行的内容包括操作命令类型、操作LBA的范围和操作LBA的数据，所述生成与命令行对应的二进制数据，包括：
根据操作LBA的范围确定LBA的起始位置以及操作LBA长度；
根据操作LBA的数据，计算CRC校验码；
将操作命令类型、LBA的起始位置、操作LBA长度、操作LBA的数据以及CRC校验码生成命令行对应的二进制数据。
9.一种半导体存储器老化测试系统，其特征在于，包括如权利要求8所述的编译系统以及测试模块，其中，测试模块用于根据编译系统得到的编译结果对半导体存储器进行测试。
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