JP6402644B2 - 評価試験システム、評価試験制御装置及び評価試験制御方法 - Google Patents
評価試験システム、評価試験制御装置及び評価試験制御方法 Download PDFInfo
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Description
2,9 CDU
2a,91 水温センサ
3 評価対象装置
4 温度制御バルブ
5,92 流量センサ
8 装置
10,90 評価試験制御装置
10a 記憶部
10b 制御部
11 マスタテーブル
11a 評価試験パターンテーブル
11b 流量・温度変換テーブル
11c 試験条件テーブル
12 登録テーブル
12a 試験ステーション設定登録テーブル
12b ハード構成登録テーブル
12c 評価試験設定パターン登録テーブル
13 試験監視テーブル
16 装置条件生成部
17 リモート制御部
18 試験監視部
20 コンピュータ
21 メインメモリ
22 CPU
23 LANインタフェース
24 HDD
25 スーパーIO
26 DVI
27 ODD
31,81 CPU温度センサ
Claims (5)
- 冷却液により冷却される複数の液冷装置と、
前記複数の液冷装置を冷却する冷却液を供給する冷却液供給装置と、
前記冷却液供給装置を用いた前記複数の液冷装置の評価試験を制御する評価試験制御装置とを有し、
前記評価試験制御装置は、
試験温度と流量とを対応付ける対応情報を記憶する第1記憶部と、
前記第1記憶部に記憶された対応情報に基づいて、前記冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御する流量制御部と、
前記流量制御部による制御によって各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する試験部と
を有することを特徴とする評価試験システム。 - 前記評価試験制御装置は、
複数の種類の評価試験を連続して行うように制御する試験制御部をさらに有し、
前記流量制御部は、前記試験制御部による制御に基づいて前記冷却液供給装置から供給される冷却液の流量を制御することを特徴とする請求項1に記載の評価試験システム。 - 前記評価試験制御装置は、
複数の種類の評価試験の順番を記憶する第2記憶部をさらに有し、
前記試験制御部は、前記第2記憶部に記憶された順番に基づいて複数の種類の評価試験を連続して行うように制御することを特徴とする請求項2に記載の評価試験システム。 - 試験温度と流量とを対応付ける対応情報を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された対応情報に基づいて、冷却液により冷却される複数の液冷装置に冷却液を供給する冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御する流量制御部と、
前記流量制御部による制御によって各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する試験部と
を有することを特徴とする評価試験制御装置。 - コンピュータに、
試験温度と流量とを対応付ける対応情報を記憶部に記憶し、
前記記憶部に記憶された対応情報に基づいて、冷却液により冷却される複数の液冷装置に冷却液を供給する冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御し、
各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する
処理を実行させることを特徴とする評価試験制御方法。
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