JP2016151930A - 評価試験システム、評価試験制御装置及び評価試験制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】評価対象装置に対する水温の異なる評価試験の環境を１つのＣＤＵで実現すること。【解決手段】複数の評価対象装置は、各々対応する温度制御バルブを介して冷却水をＣＤＵから供給される。そして、評価試験制御装置１０の装置条件生成部１６が、温度制御バルブを制御して各評価対象装置に供給される冷却水の流量を制御する。したがって、評価試験制御装置１０は、異なる流量とすることで複数の評価対象装置を異なる温度環境下に置く。【選択図】図２

Description

本発明は、評価試験システム、評価試験制御装置及び評価試験制御方法に関する。

従来、水冷サーバ装置等の水で冷却される水冷装置の評価試験では、異なる水温での試験を同時に行う場合、異なる水温の数だけＣＤＵ（水冷却装置）を用意して試験が行われていた。ここで、ＣＤＵは、水冷装置に冷却水を供給する装置である。

図１３は、従来の評価試験システムの構成例を示す図である。図１３に示す例では、評価試験システム７は、４台の装置８（装置Ａ〜装置Ｄ）に対して異なる試験（低温試験、常温試験、高温試験、高温限界試験）を行うために、４台のＣＤＵ９（ＣＤＵ Ａ〜ＣＤＵ Ｄ）を用いる。

各装置８はＣＰＵ（Central Processing Unit）温度センサ８１等のセンサを備え、ＣＰＵ温度等のデータが収集される。各ＣＤＵ９は水温センサ９１、流量センサ９２等のセンサを備え、ＣＤＵ９の冷却水の水温、流量等が監視される。評価試験制御装置９０は、ＣＤＵ９及び装置８の設定、監視、制御を行うとともに、装置８からＣＰＵ温度等のデータを収集し、装置８の評価を行う。

なお、コールド・プレートから複数のコンピュータ・システムに供給される冷却材の流量を制御して、コンピュータ・システムから出る冷却材温度を最大とすることによって、周囲空気の自由冷却温度を利用し、システムから冷却機をなくす従来技術がある。

また、冷却液を循環させる主循環配管をラックキャビネットに設け、主循環配管に複数のサーバモジュールを並列に接続して冷却液を給排水し、冷却することで、ラックキャビネットに搭載されたサーバモジュールの十分な冷却を可能とする技術がある。

また、電子デバイスのテストの温度条件に従って、バイパス路を流れる冷媒の温度を制御することで、電子デバイスのテスト温度範囲を広くするとともに、冷媒を圧縮するコンプレッサの温度上昇を抑制する技術がある。

特表２０１１−５１４５９４号公報 特開２００４−２４６６４９号公報 特開２００７−２８８１９７号公報

しかしながら、異なる水温の数だけＣＤＵを用意して評価試験を行う従来技術には、評価設備費が増大するという問題がある。

本発明は、１つの側面では、水冷装置に対する水温の異なる評価試験の環境を１つのＣＤＵで実現することを目的とする。

本願の開示する評価試験システムは、１つの態様において、冷却液により冷却される複数の液冷装置と、複数の液冷装置を冷却する冷却液を供給する冷却液供給装置と、冷却液供給装置を用いた複数の液冷装置の評価試験を制御する評価試験制御装置とを有する。前記評価試験制御装置は、流量制御部と試験部とを有する。前記流量制御部は、前記冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御する。前記試験部は、前記流量制御部による制御によって各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する。

１実施態様によれば、水冷装置に対する水温の異なる評価試験の環境を１つのＣＤＵで実現することができる。

図１は、実施例に係る評価試験システムの構成を示す図である。 図２は、評価試験制御装置の機能構成を示す図である。 図３は、評価試験パターンテーブルの一例を示す図である。 図４Ａは、流量・温度変換テーブル（常温〜高温テーブル）の一例を示す図である。 図４Ｂは、流量・温度変換テーブル（低温〜常温テーブル）の一例を示す図である。 図５は、試験条件テーブルの一例を示す図である。 図６は、試験ステーション設定登録テーブルの一例を示す図である。 図７は、ハード構成登録テーブルの一例を示す図である。 図８は、評価試験設定パターン登録テーブルの一例を示す図である。 図９は、試験監視テーブルの一例を示す図である。 図１０は、評価試験のフローを示すフローチャートである。 図１１は、複数の試験ステーションを用いた並列評価試験を説明するための図である。 図１２は、実施例に係る評価試験制御プログラムを実行するコンピュータのハードウェア構成を示す図である。 図１３は、従来の評価試験システムの構成例を示す図である。

以下に、本願の開示する評価試験システム、評価試験制御装置及び評価試験制御方法の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例は開示の技術を限定するものではない。

まず、実施例に係る評価試験システムの構成について説明する。図１は、実施例に係る評価試験システムの構成を示す図である。図１に示すように、実施例に係る評価試験システム１は、ＣＤＵ２と、ｎ台の評価対象装置３と、評価試験制御装置１０とを有する。ここで、ｎは１以上の整数である。

ＣＤＵ２は、ｎ台の評価対象装置３に冷却水を供給する装置である。評価対象装置３は、評価試験の対象となる装置であり、具体的には、水冷サーバ装置すなわち水冷のコンピュータである。ＣＤＵ２と各評価対象装置３との間の冷却水路には温度制御バルブ４が設けられ、評価対象装置３へ供給される冷却水の流量が制御される。温度制御バルブ４は、流量を制御する電磁弁である。

ＣＤＵ２は水温センサ２ａを備え、ＣＤＵ２の水温が監視される。評価対象装置３はＣＰＵ温度センサ３１を備え、水冷サーバ装置に搭載されるＣＰＵの温度が監視される。評価対象装置３の冷却水の入り口には流量センサ５が設けられ、評価対象装置３に供給される冷却水の流量が監視される。

評価試験制御装置１０は、ＣＤＵ２及び評価対象装置３の監視、制御等を行う。また、評価試験制御装置１０は、温度制御バルブ４を制御し、評価対象装置３へ供給される冷却水の流量を制御する。評価試験制御装置１０は、評価対象装置３に供給される冷却水の流量と評価対象装置３の内部のＣＰＵの温度との対応をテーブルとして有し、設定すべきＣＰＵ温度に対応した流量をテーブルから取得する。そして、評価試験制御装置１０は、ＣＰＵ温度センサ３１を用いてＣＰＵ温度を監視し、評価対象装置３の内部のＣＰＵの温度が設定温度になるように冷却水の流量を制御する。

このように、評価試験制御装置１０は、評価対象装置３毎に供給する冷却水の流量を制御することによって、１台のＣＤＵ２で複数の評価対象装置３を異なる温度で評価を行うことができる。

次に、評価試験制御装置１０の機能構成について説明する。図２は、評価試験制御装置１０の機能構成を示す図である。図２に示すように、評価試験制御装置１０は、評価対象装置３の評価試験の制御に用いるテーブルを記憶する記憶部１０ａと、記憶部１０ａに記憶されたテーブルを用いて評価対象装置３の評価試験を制御する制御部１０ｂとを有する。

記憶部１０ａは、マスタテーブル１１と、登録テーブル１２と、試験監視テーブル１３とを記憶する。制御部１０ｂは、装置条件生成部１６と、リモート制御部１７と、試験監視部１８とを有する。

マスタテーブル１１は、評価試験パターン、評価試験条件、流量・温度変換条件が登録されるテーブルである。マスタテーブル１１には、評価試験パターンテーブル１１ａと、流量・温度変換テーブル１１ｂと、試験条件テーブル１１ｃとが含まれる。

評価試験パターンテーブル１１ａは、評価試験パターンが登録されたテーブルである。図３は、評価試験パターンテーブル１１ａの一例を示す図である。図３には、正常動作確認試験、高温試験及び高温限界試験の評価試験パターンが例として登録されている。

正常動作確認試験は、常温試験とも呼ばれ、常温で評価対象装置３すなわち水冷サーバ装置が正常に動作するか否かを評価する試験である。高温試験は、温度、周波数、電圧を組合せたマージン試験である。高温限界試験は、温度マージンの限界を確認する試験である。

例えば、正常動作確認試験では、図３に示すように、常温に環境設定が行われた後、ハード設定、ＣＰＵテスト、メモリテスト、ＩＯテスト、テスト結果収集、テスト結果分析が行われる。評価の基準値としては、ＣＰＵ温度が５０°Ｃであり、周波数及び電圧が設定値±０％である。基準値で示される条件で水冷サーバ装置を動作させ、エラーがないとき、水冷サーバ装置の評価結果は、ＯＫとなる。

流量・温度変換テーブル１１ｂは、ＣＰＵ等の内部素子の設定温度と試験対象装置３へ供給される冷却水の流量との関係が登録されたテーブルである。図４Ａは、流量・温度変換テーブル１１ｂ（常温〜高温テーブル）の一例を示す図であり、図４Ｂは、流量・温度変換テーブル１１ｂ（低温〜常温テーブル）の一例を示す図である。図４Ａ及び図４Ｂに示すように、流量・温度変換テーブル１１ｂは、所定のＣＤＵ出水温度において、流量と、内部素子温度とを対応付ける。

図４Ａは、ＣＤＵ２の出水温度が２５°Ｃであり、常温試験、高温試験、高温限界試験に適用される。例えば、常温試験において内部素子温度を５０°Ｃに設定する場合には、流量を１６０Ｌ／ｍｉｎ（毎分１６０リットル）とすればよい。なお、流量・温度変換テーブル（常温〜高温テーブル）１１ｂは、事前にＣＤＵ２の出水温度を常温使用時の温度に設定し、温度制御バルブ４を全開状態から徐々に閉じながら評価対象装置３毎に内部素子温度と流量の相関関係をデータ取りすることで作成される。

図４Ｂは、ＣＤＵ２の出水温度が１５°Ｃであり、低温試験、低温試験（動作確認）、常温試験に適用される。例えば、低温試験において内部素子温度を４０°Ｃに設定する場合には、流量を１６０Ｌ／ｍｉｎとすればよい。なお、流量・温度変換テーブル（低温〜常温テーブル）１１ｂは、事前にＣＤＵ２の出水温度を低温使用限界温度に設定し、温度制御バルブ４を全開状態から徐々に閉じながら評価対象装置３毎に内部素子温度と流量の相関関係をデータ取りすることで作成される。

試験条件テーブル１１ｃは、試験条件が登録されたテーブルである。図５は、試験条件テーブル１１ｃの一例を示す図である。図５では、正常動作確認試験、高温試験及び高温限界試験の試験条件が登録されている。例えば、正常動作確認試験の試験条件は、ＣＰＵ温度が５０°Ｃであり、周波数及び電圧が設定値±０％である。

登録テーブル１２は、評価対象装置３のＣＤＵ２との接続位置、評価対象装置３のハードウェア構成、評価試験のパターンが設定登録されるテーブルである。登録テーブル１２には、試験ステーション設定登録テーブル１２ａと、ハード構成登録テーブル１２ｂと、評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃとが含まれる。

試験ステーション設定登録テーブル１２ａは、評価対象装置３のＣＤＵ２との接続位置を示す試験ステーションの使用状況が登録されるテーブルである。図６は、試験ステーション設定登録テーブル１２ａの一例を示す図である。図６に示すように、試験ステーション設定登録テーブル１２ａには、試験ステーション毎に評価試験で選択されているか否かが登録される。図６では、チェックマークが選択されることを示し、４つの試験ステーションが評価試験で選択されている。

ハード構成登録テーブル１２ｂは、評価対象装置３のハードウェア構成が登録されるテーブルである。図７は、ハード構成登録テーブル１２ｂの一例を示す図である。図７に示すように、ハード構成登録テーブル１２ｂは、ＣＰＵ周波数、メモリ容量、ＩＯの有無、ＣＰＵとメモリの間のＬｉｎｋ−Ｓｐｅｅｄ、及びＣＰＵとＩＯの間のＬｉｎｋ−Ｓｐｅｅｄが登録される。

評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃは、評価試験で設定されるパターンが登録されるテーブルである。評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃには、パターンのパーツが登録されるテーブルと、パーツが順に実行されるシナリオが登録されるテーブルとが含まれる。

図８は、評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃの一例を示す図である。図８では、６つのパターンがパーツとして登録されている。図８において、パターンＮｏ．は、パーツとしてのパターンを識別する番号であり、カテゴリＮｏ．には、評価試験で行われる項目が対応付けられる。例えば、パターンＮｏ．が「１」であるパーツには、環境設定（常温）、ハード設定、ＣＰＵテスト、メモリテスト、ＩＯテスト、テスト結果収集、テスト結果分析が含まれる。

また、図８では、３つのシナリオが登録されている。図８において、評価試験Ｎｏ．は、シナリオを識別する番号であり、実行順は、シナリオにおいて順番に実行されるパーツの順番を示す。例えば、評価試験Ｎｏ．が「１」であるシナリオでは、パターンＮｏ．１、パターンＮｏ．２、パターンＮｏ．３のパーツの試験が順番に行われる。

試験監視テーブル１３は、各評価対象装置３の試験進捗状況、試験結果等を記録するテーブルである。図９は、試験監視テーブル１３の一例を示す図である。図９に示すように、試験監視テーブル１３には、試験ステーション毎すなわち評価対象装置３毎に、ＣＰＵ設定温度の設定が正しく行われたか否か（ＯＫ／ＮＧ）、ＣＰＵの周波数、メモリ及びＩＯの試験構成がＯＫか否か（ＯＫ／ＮＧ）が記録される。また、試験監視テーブル１３には、シナリオ毎に、実行されるパーツ、試験状態（未（未実施）／中（試験中）／済（試験済））、試験結果（ＯＫ／ＮＧ）、総合判定結果（ＯＫ／ＮＧ）が記録される。

また、試験監視テーブル１３には、評価試験装置ハード情報（ＣＰＵ数、メモリ数、搭載ＰＴ数、動作周波数、温度、電圧、ハード内部設定）、走行したテストプログラム種、指定オプション、走行時に発生したエラー内容等の情報も記録される。

装置条件生成部１６は、評価試験の準備、評価試験用の設定を行い、評価試験環境を構築する。装置条件生成部１６は、評価試験の準備として、試験ステーションの登録、評価試験パターンの登録、試験構成の情報の生成を行う。また、装置条件生成部１６は、評価試験用の設定として、評価試験パターンの確認、ハード構成のチェック、装置電源のＯＮ、流量調整、ＣＰＵ設定温度の到達確認を行う。

試験ステーションの登録では、装置条件生成部１６は、ユーザに評価試験制御装置１０の画面から評価試験で使用する試験ステーション番号を選択させ、試験ステーション設定登録テーブル１２ａに書込む。

評価試験パターンの登録では、装置条件生成部１６は、ユーザに評価試験制御装置１０の画面から試験パターン及び試験パターンの実行順序を入力させ、評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃにパーツ及びシナリオとして書込む。

試験構成の情報の生成では、装置条件生成部１６は、試験ステーション設定登録テーブル１２ａの情報及び評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃの情報と評価試験パターンテーブル１１ａの情報とを照合する。そして、照合が取れた場合に、装置条件生成部１６は、試験監視テーブル１３に実行するシナリオの情報を書込む。

具体的には、装置条件生成部１６は、試験ステーションＮｏ．、評価試験装置ハード情報（ＣＰＵ数、メモリ数、搭載ＰＴ数、動作周波数、温度、電圧、ハード内部設定）、評価試験パターン、評価試験項目を試験監視テーブル１３に書込む。

評価試験パターンの確認では、装置条件生成部１６は、評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃに基づいて実施される評価試験パターンを確認する。評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃに評価試験パターンの登録がない場合には、装置条件生成部１６は、評価試験を終了する。

ハード構成のチェックでは、装置条件生成部１６は、ＣＰＵ単体試験の結果を記録するＣＰＵ単体試験記録装置よりＣＰＵのコア電圧及び動作周波数等を取得し、ハード構成登録テーブル１２ｂに書込む。また、装置条件生成部１６は、評価対象装置３内のハード構成情報格納ユニットよりメモリ情報、ハード内部情報（高品質モード、高性能モード、パーティション分割、ＣＰＵ−メモリ間インタフェースチューニング）等を取得し、ハード構成登録テーブル１２ｂに書込む。

装置電源のＯＮでは、装置条件生成部１６は、ＣＤＵ２の稼働状況及び初期設定温度を確認し、問題ない場合は評価対象装置３に電源ＯＮの指示を行う。

流量調整では、装置条件生成部１６は、流量・温度変換テーブル１１ｂに基づいて内部素子温度が指定温度（例えば５０°Ｃ）になるよう評価対象装置３へ供給される冷却水の流量を制御する。流量の制御は、リモート制御部１７に指示して温度制御バルブ４を制御することによって行う。

ＣＰＵ設定温度の到達確認では、装置条件生成部１６は、内部素子温度が指定温度に到達したことをＣＰＵ温度センサ３１を用いて確認する。

リモート制御部１７は、装置条件生成部１６及び試験監視部１８の指示に基づいて評価対象装置３や温度制御バルブ４をリモート制御する。例えば、リモート制御部１７は、評価対象装置３の電源のオンオフ、温度制御バルブ４の電磁弁の開閉、評価対象装置３の設定、テストプログラムの走行等を行う。

試験監視部１８は、試験監視テーブル１３を用いて評価試験を行う。具体的には、試験監視部１８は、ハード設定、テストプログラムの走行指示、テスト結果の収集、テスト結果の確認、ハード再設定、評価試験の完了確認を行う。

ハード設定では、試験監視部１８は、ハード構成登録テーブル１２ｂの情報を参照し、ＣＰＵの電圧及び動作周波数の設定とメモリ情報の設定をリモート制御部１７を介して行う。

テストプログラムの走行指示では、試験監視部１８は、ＣＰＵテスト、メモリテスト、ＩＯテストの順にテストプログラムを実行するようにリモート制御部１７に指示する。

テスト結果の収集では、試験監視部１８は、テストプログラム走行時の環境情報（温度、周波数、電圧)、走行したテストプログラム種、指定オプション、走行時に発生したエラー内容を収集し、収集した情報を試験監視テーブル１３に書込む。

テスト結果の確認では、試験監視部１８は、収集した情報からテストの結果がＯＫであるかＮＧであるかを判断し、ＮＧであれば、より詳細なレジスタレベルでのハードログダンプを行う。また、試験監視部１８は、環境情報からマージン動作分布マップ（温度/周波数/電圧）を作成する。試験監視部１８は、例えば、正常動作確認試験及び高温試験では、テスト結果がＯＫであれば試験を完了し、高温限界試験では、マージン動作分布マップを作成すると試験を完了する。

ハード再設定では、試験監視部１８は、テスト結果の確認でＮＧと判断された場合に、現在設定されている動作周波数と温度をそれぞれ下げた値に再設定する。例えば、試験監視部１８は、動作周波数を−０．５％、温度を−５°Ｃに再設定する。テスト結果でＯＫと判断された場合は、試験監視部１８は、ハード再設定は行わない。

評価試験の完了確認では、試験監視部１８は、試験監視テーブル１３の評価試験パターンを参照し、試験監視テーブル１３に登録されている全ての評価試験パターンを完了していることを確認する。

次に、評価試験のフローについて説明する。図１０は、評価試験のフローを示すフローチャートである。なお、評価試験制御装置１０は、評価試験準備としてステップＳ１〜ステップＳ３の処理を行い、試験設定としてステップＳ４〜ステップＳ８の処理を行い、試験としてステップＳ９〜ステップＳ１２の処理を行う。また、ステップＳ４〜ステップＳ１２の処理は、異なる評価試験パターンに対して繰り返される。そして、試験が終了すると、ステップＳ１３の処理が行われる。

図１０に示すように、評価試験制御装置１０は、ユーザの選択に基づいて、試験ステーション設定登録テーブル１２ａに評価試験に用いる試験ステーションを登録する（ステップＳ１）。そして、評価試験制御装置１０は、ユーザの入力に基づいて評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃに評価試験パターンを登録し（ステップＳ２）、試験構成の情報を生成する（ステップＳ３）。

そして、評価試験制御装置１０は、評価試験設定パターン登録テーブル１２ｃに登録された評価試験パターンを確認し（ステップＳ４）、ハード構成をチェックする（ステップＳ５）。そして、評価試験制御装置１０は、評価対象装置３の電源をＯＮし（ステップＳ６）、流量調整を行う（ステップＳ７）。そして、評価試験制御装置１０は、ＣＰＵ設定温度の到達を確認し（ステップＳ８）、ＣＰＵ設定温度の到達を確認すると試験を開始する。

試験では、評価試験制御装置１０は、ハードを設定し、テストプログラムを走行し、テスト結果を収集する（ステップＳ９）。そして、評価試験制御装置１０は、テスト結果はＯＫか否かを判定し（ステップＳ１０）、ＯＫでない場合には、ハードを再設定して（ステップＳ１１）、ステップＳ９に戻る。

一方、テスト結果がＯＫである場合には、評価試験制御装置１０は、評価試験は完了したか否かを判定し（ステップＳ１２）、完了していない場合には、ステップＳ４に戻って次の評価試験パターンの設定及び試験を行う。一方、完了した場合には、評価試験制御装置１０は、評価対象装置３の電源をオフする（ステップＳ１３）。

このように、評価試験制御装置１０は、評価試験パターン毎に評価試験用の設定を行って試験を実施することで、１つの試験ステーションで複数の評価試験パターンの試験を順番に行うことができる。

なお、評価試験制御装置１０は、複数の試験ステーションを用いて並列に評価試験を行う。図１１は、複数の試験ステーションを用いた並列評価試験を説明するための図である。図１１では、３つの試験ステーションＳＴ＃１〜ＳＴ＃３が用いられている。例えば、ＳＴ＃１で正常動作確認試験を行い、ＳＴ＃２で高温試験を行い、ＳＴ＃３で高温限界試験を行うことで、評価試験システム１は、１つのＣＤＵ２を用いて異なる環境の試験を並列して行うことができる。

上述してきたように、実施例では、複数の評価対象装置３は、各々対応する温度制御バルブ４を介して冷却水をＣＤＵ２から供給される。そして、評価試験制御装置１０の装置条件生成部１６が、温度制御バルブ４を制御して各評価対象装置３に供給される冷却水の流量を制御する。したがって、評価試験制御装置１０は、異なる流量とすることで複数の評価対象装置３を異なる温度環境下に置くことができ、１台のＣＤＵ２を用いて異なる温度環境で複数の評価対象装置３の評価試験を並行して行うことができる。

また、実施例では、装置条件生成部１６は、温度制御バルブ４を制御して１つの試験ステーションで評価対象装置３を異なる温度環境下に置く。したがって、評価試験制御装置１０は、１つの試験ステーションで異なる試験環境で連続して評価試験を行うように制御することができる。

また、実施例では、試験監視テーブル１３に評価試験のシナリオを登録し、試験監視部１８は、試験監視テーブル１３に基づいて評価試験を行う。したがって、評価試験制御装置１０は、シナリオに基づいて異なる温度条件の試験を連続して行うことができる。

なお、実施例では、評価試験制御装置１０について説明したが、評価試験制御装置１０が有する構成をソフトウェアによって実現することで、同様の機能を有する評価試験制御プログラムを得ることができる。そこで、評価試験制御プログラムを実行するコンピュータについて説明する。

図１２は、実施例に係る評価試験制御プログラムを実行するコンピュータのハードウェア構成を示す図である。図１２に示すように、コンピュータ２０は、メインメモリ２１と、ＣＰＵ２２と、ＬＡＮ（Local Area Network）インタフェース２３と、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）２４とを有する。また、コンピュータ２０は、スーパーＩＯ（Input Output）２５と、ＤＶＩ（Digital Visual Interface）２６と、ＯＤＤ（Optical Disk Drive）２７とを有する。

メインメモリ２１は、プログラムやプログラムの実行途中結果などを記憶するメモリである。ＣＰＵ２２は、メインメモリ２１からプログラムを読み出して実行する中央処理装置である。ＣＰＵ２２は、メモリコントローラを有するチップセットを含む。

ＬＡＮインタフェース２３は、コンピュータ２０をＬＡＮ経由でＣＤＵ２、評価対象装置３、他のコンピュータに接続するためのインタフェースである。ＨＤＤ２４は、プログラムやデータを格納するディスク装置であり、スーパーＩＯ２５は、マウスやキーボードなどの入力装置を接続するためのインタフェースである。ＤＶＩ２６は、液晶表示装置を接続するインタフェースであり、ＯＤＤ２７は、ＤＶＤの読み書きを行う装置である。

ＬＡＮインタフェース２３は、ＰＣＩエクスプレス（ＰＣＩｅ）によりＣＰＵ２２に接続され、ＨＤＤ２４及びＯＤＤ２７は、ＳＡＴＡ（Serial Advanced Technology Attachment）によりＣＰＵ２２に接続される。スーパーＩＯ２５は、ＬＰＣ（Low Pin Count）によりＣＰＵ２２に接続される。

そして、コンピュータ２０において実行される評価試験制御プログラムは、ＤＶＤに記憶され、ＯＤＤ２７によってＤＶＤから読み出されてコンピュータ２０にインストールされる。あるいは、評価試験制御プログラムは、ＬＡＮインタフェース２３を介して接続された他のコンピュータ・システムのデータベースなどに記憶され、これらのデータベースから読み出されてコンピュータ２０にインストールされる。そして、インストールされた評価試験制御プログラムは、ＨＤＤ２４に記憶され、メインメモリ２１に読み出されてＣＰＵ２２によって実行される。

また、実施例では、水冷サーバ装置を試験する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、他の水冷装置を試験する場合にも同様に適用することができる。

また、実施例では、水冷装置を試験する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、他の冷却液を冷却に用いる装置を試験する場合にも同様に適用することができる。

１，７ 評価試験システム
２，９ ＣＤＵ
２ａ，９１ 水温センサ
３ 評価対象装置
４ 温度制御バルブ
５，９２ 流量センサ
８ 装置
１０，９０ 評価試験制御装置
１０ａ 記憶部
１０ｂ 制御部
１１ マスタテーブル
１１ａ 評価試験パターンテーブル
１１ｂ 流量・温度変換テーブル
１１ｃ 試験条件テーブル
１２ 登録テーブル
１２ａ 試験ステーション設定登録テーブル
１２ｂ ハード構成登録テーブル
１２ｃ 評価試験設定パターン登録テーブル
１３ 試験監視テーブル
１６ 装置条件生成部
１７ リモート制御部
１８ 試験監視部
２０ コンピュータ
２１ メインメモリ
２２ ＣＰＵ
２３ ＬＡＮインタフェース
２４ ＨＤＤ
２５ スーパーＩＯ
２６ ＤＶＩ
２７ ＯＤＤ
３１，８１ ＣＰＵ温度センサ

Claims (6)

1. 冷却液により冷却される複数の液冷装置と、
   前記複数の液冷装置を冷却する冷却液を供給する冷却液供給装置と、
   前記冷却液供給装置を用いた前記複数の液冷装置の評価試験を制御する評価試験制御装置とを有し、
   前記評価試験制御装置は、
   前記冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御する流量制御部と、
   前記流量制御部による制御によって各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する試験部と
   を有することを特徴とする評価試験システム。
2. 前記評価試験制御装置は、
   複数の種類の評価試験を連続して行うように制御する試験制御部をさらに有し、
   前記流量制御部は、前記試験制御部による制御に基づいて前記冷却液供給装置から供給される冷却液の流量を制御することを特徴とする請求項１に記載の評価試験システム。
3. 前記評価試験制御装置は、
   試験温度と流量とを対応付ける対応情報を記憶する記憶部をさらに有し、
   前記流量制御部は、前記記憶部に記憶された対応情報に基づいて、前記冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を制御することを特徴とする請求項１又は２に記載の評価試験システム。
4. 前記評価試験制御装置は、
   複数の種類の評価試験の順番を記憶する記憶部をさらに有し、
   前記試験制御部は、前記記憶部に記憶された順番に基づいて複数の種類の評価試験を連続して行うように制御することを特徴とする請求項２に記載の評価試験システム。
5. 冷却液により冷却される複数の液冷装置に冷却液を供給する冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御する流量制御部と、
   前記流量制御部による制御によって各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する試験部と
   を有することを特徴とする評価試験制御装置。
6. コンピュータに、
   冷却液により冷却される複数の液冷装置に冷却液を供給する冷却液供給装置から各液冷装置に供給される冷却液の流量を各液冷装置の試験温度に基づいて制御し、
   各液冷装置の温度が前記試験温度に到達すると評価試験を実行して評価データを収集する
   処理を実行させることを特徴とする評価試験制御方法。

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