KR20100009844A - 태양전지 검사장치 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 45
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 116
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 52
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- H—ELECTRICITY
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/05—Electrical interconnection means between PV cells inside the PV module, e.g. series connection of PV cells
- H01L31/0504—Electrical interconnection means between PV cells inside the PV module, e.g. series connection of PV cells specially adapted for series or parallel connection of solar cells in a module
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- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S40/00—Components or accessories in combination with PV modules, not provided for in groups H02S10/00 - H02S30/00
- H02S40/30—Electrical components
- H02S40/38—Energy storage means, e.g. batteries, structurally associated with PV modules
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Sustainable Development (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract
본 발명은 태양전지 검사장치에 관한 것으로서, 검사 대상 태양전지의 양부 및 성능을 검사하는 장치에 있어서, 복수개의 상기 태양전지가 각각 위치되며 상기 태양전지로부터 생성된 전기적인 출력을 전달하는 복수개의 지지부, 복수개의 상기 태양전지에 각각 대응하도록 상기 복수개의 지지부의 상측에 각각 결합되어 상기 태양전지에 빛을 조사하는 복수개의 광원부, 상기 복수개의 지지부를 상면에 구비하며 상기 복수개의 지지부로부터 상기 출력을 전송하는 검사 보드 및 상기 검사 보드의 내부에 구비되고 상기 검사 보드로부터 상기 출력을 전달받아 그 출력값을 확인하는 검사부를 포함한다.
본 발명에 의하면, 다수개의 지지부에 형성된 수용홈 내부에 태양전지가 위치되고, 광원부가 태양전지와 인접되도록 다수개의 지지부의 상측에 결합되어 각각의 태양전지에 빛을 동시에 조사하여 검사하므로, 복수개의 태양전지에 대해 동시에 양부 및 성능 검사를 수행하여 시간당 생산량을 향상시킬 수 있다.
태양전지, 검사장치
Description
본 발명은 태양전지 검사장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 다수개의 태양전지를 동시에 검사하여 단위 시간에 따른 검사 효율을 향상시킬 수 있는 태양전지 검사장치에 관한 것이다.
최근 환경문제와 에너지 고갈에 대한 관심이 높아지면서, 환경오염에 대한 문제가 없고 무한에 가까운 자원량을 가지며, 에너지 효율이 높은 대체 에너지인 태양에너지를 활용하는 방안에 대한 관심이 높아지고 있다.
이러한 태양에너지를 활용하는 태양전지는, 태양열을 이용하여 터빈을 회전시키는데 필요한 증기를 발생시키는 태양열 전지와 반도체의 성질을 이용하여 태양빛(photons)을 전기에너지로 변환시키는 태양광 전지로 나눌 수 있다. 그 중에서도 빛을 흡수하여 전자와 정공을 생성함으로써 광 에너지를 전기 에너지로 변환하는 태양광 전지(이하, '태양전지'라고 한다)에 대한 연구가 활발히 행해지고 있다.
일반적으로 이러한 태양전지는, 크게 실리콘 웨이퍼와 같은 태양전지용 기판을 제조하는 과정, 태양전지용 기판을 에칭하여 표면 처리하고 p-n 접합을 형성하는 공정, 후면 접합을 형성하고 반사방지막 코팅을 하는 공정, 전극을 형성하고 전 극을 열처리하는 공정, 그리고 제조된 태양전지의 양부 및 성능을 검사하는 테스트 공정을 거쳐 완성된다.
여기서, 제조된 태양전지의 양부 및 성능을 검사하는 테스트 공정은 태양전지 검사장치에 의해 수행된다.
도 1은 종래의 태양전지 검사장치의 일례를 개략적으로 도시한 정면도이다. 종래의 태양전지 검사장치(1)는 컨베이어 시스템을 이용한 인라인 형태로서, 암실(暗室, 20)로 형성된 공간 내에 컨베이어(Conveyor, 30)에 의해 태양전지(10)가 반입되면, 검사부(미도시)와 전기적으로 연결된 프로브(Prove)가 태양전지(10)의 단자와 접촉되고, 컨베이어(30)의 상측에 이격 설치된 하나 이상의 광원부(40)가 태양전지(10)에 빛을 조사하면, 검사부(미도시)가 조사된 빛에 의해 태양전지(10)에서 출력되는 전류값 및 전압값을 측정함으로써, 태양전지(10)의 양부 및 전기 생성 성능 검사가 수행된다.
이러한 종래의 태양전지 검사장치(1)는 컨베이어(30) 상면에 위치되어 암실(20)의 내부로 이송되는 태양전지(10) 각각에 대해 그 출력값을 확인하여 검사를 진행하므로, 다량의 태양전지(10)에 대한 양부 및 성능 검사를 수행함에 있어 시간에 따른 검사 효율이 낮은 단점이 있다.
또한, 컨베이어 시스템이 설치될 넓은 공간이 필요할 뿐만 아니라, 별도의 암실(20)의 공간이 구비되어야 하고, 광원부(40)가 컨베이어(30)의 상측에 이격된 상태로 구비되어, 장비가 차지하는 면적 및 부피가 크고, 이에 따라 공간 활용 효율이 낮은 단점이 있다.
한편, 종래의 태양전지 검사장치(1)는 태양전지(10)가 위치되는 컨베이어(30)의 상면 전체에 태양전지(10)의 검사에 필요한 만큼의 높은 조도 환경을 형성해야 한다.
그런데, 상기 태양전지(10)에 조사되는 광량은 광원으로부터의 거리에 제곱 반비례하고 광원부(40)는 컨베이어(30)의 상측에 이격된 상태로 구비되므로, 광원부(40)로서 고용량의 광원이 사용되어야 하고, 이에 따라 광원부(40)가 소비하는 전력도 과다한 문제점이 있다.
그리고, 일반적으로 고용량의 광원은 제작 또는 구입 비용이 높아서, 이러한 고용량 광원의 제작 또는 구입을 위해 많은 비용이 소모되어 장비의 제작 비용이 증대되고, 고용량의 광원은 시간당 소비 전력도 높아 장비의 사용에 따른 전력 비용도 증대되는 문제점이 있다.
상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 본 발명은, 복수개의 태양전지와 검사부의 전기적인 연결 관계 및 검사 방법 설계를 통해, 복수개의 태양전지에 대한 검사를 단위 시간 내에 동시에 수행할 수 있는 태양전지 검사장치를 제공하고자 한다.
또한, 광원부의 위치 및 타 구성요소와의 결합 관계 개선을 통해 작은 크기로 제작되어 공간 활용 효율을 극대화할 수 있도록 구성요소들이 배치되고, 광원부에서 방출되는 광량의 손실도 최소화할 수 있는 태양전지 검사장치를 제공하고자 한다.
상기한 바와 같은 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 태양전지 검사장치는, 검사 대상 태양전지의 양부 및 성능을 검사하는 장치에 있어서, 복수개의 상기 태양전지가 각각 위치되며 상기 태양전지로부터 생성된 전기적인 출력을 전달하는 복수개의 지지부, 복수개의 상기 태양전지에 각각 대응하도록 상기 복수개의 지지부의 상측에 각각 결합되어 상기 태양전지에 빛을 조사하는 복수개의 광원부, 상기 복수개의 지지부를 상면에 구비하며 상기 복수개의 지지부로부터 상기 출력을 전송하는 검사 보드 및 상기 검사 보드의 내부에 구비되고 상기 검사 보드로부터 상기 출력을 전달받아 그 출력값을 확인하는 검사부를 포함한다.
상기 검사 보드 내에 구비되어, 상기 검사부에 대한 상기 출력의 전달을 제 어하는 제어부가 구비될 수 있다.
상기 제어부는 상기 복수개의 지지부에 각각 위치되는 복수개의 상기 태양전지의 직렬 연결에 대한 합성 출력값이 검사부에 전달되도록 제어할 수 있다.
상기 제어부는 상기 검사부에 의해 복수개의 상기 태양전지의 직렬 연결에 대한 합성 출력값이 비정상으로 확인되는 경우, 복수개의 상기 태양전지 각각의 출력값이 검사부에 전달되도록 제어할 수 있다.
상기 복수개의 지지부 상측에 각각 대응되도록 상기 복수개의 광원부가 하면에 설치되는 광원 보드를 포함하되, 상기 광원 보드가 상기 검사 보드에 인접됨에 따라 상기 복수개의 광원부가 상기 복수개의 지지부에 각각 결합될 수 있다.
이러한 본 발명의 태양전지 검사장치에 의하면, 다수개의 지지부에 형성된 수용홈 내부에 태양전지가 위치되고, 광원부가 태양전지와 인접되도록 다수개의 지지부의 상측에 결합되어 각각의 태양전지에 빛을 동시에 조사하여 검사하므로, 복수개의 태양전지에 대해 동시에 양부 및 성능 검사를 수행하여 시간당 생산량을 향상시킬 수 있다.
또한, 검사 대상 태양전지와 광원부가 인접되도록 지지부 및 광원부가 결합 형성되고, 이에 따라 태양전지가 위치된 수용홈의 내부가 암실로 형성되어 장비를 별도의 암실에 설치할 필요가 없으므로, 작은 크기로 제작될 수 있어 공간 활용 효율을 향상시킬 수 있다.
또한, 광원부가 지지부마다 구비되어 태양전지에 인접되게 설치되므로, 광원 부에서 방출되는 광량의 손실을 최소화할 수 있고, 저용량의 광원부를 사용할 수 있으며, 광원부가 소비하는 전력을 감소시킬 수 있다. 따라서, 광원부의 제작 또는 구입 비용 및 장비의 사용에 따른 전력 비용을 절감할 수 있다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 그 범위가 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
태양전지 제조 공정 중에서 태양전지의 양부 및 성능을 검사하는 공정은, 제조된 태양전지 중에서 불량품을 검출하거나, 비슷한 성능을 갖는 복수의 태양전지를 묶어서 태양전지 모듈(Solar cell module)로 조립하기 위해, 반드시 필요한 공정이다.
본 발명에 따른 태양전지 검사장치는, 제조된 태양전지를 암실에 위치시키고 빛을 조사한 후, 태양전지로부터 출력되는 전압 및 전류를 확인하여 태양전지의 양부 및 성능 검사 공정을 수행하는 장치이다.
이하, 첨부된 도 2 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 제1실시예에 따른 태양전지 검사장치의 구성 및 작용효과를 구체적으로 설명한다. 본 발명의 제1실시예에 따른 태양전지 검사장치(100)는, 복수개의 지지부(110), 복수개의 광원부(120), 검사 보드(130), 검사부(140) 및 제어부(150)를 포함한다.
상기 복수개의 지지부(110)는 검사 대상 태양전지(10)가 각각 안착되는 곳으 로서, 복수의 태양전지(10)에 형성되어 있는 양전극(11) 및 음전극(12)과 각각 접촉되는 양전극 탐침(111) 및 음전극 탐침(112)이 각각 구비된다.
또한, 상기 복수개의 지지부(110)에는 검사 대상 태양전지(10)가 수용되는 수용홈(113)이 형성되고, 상기 양전극 탐침(120) 및 음전극 탐침(130)은 상기 수용홈(113)의 저면에 구비된다.
그리고, 상기 수용홈(113)의 중심부 저면에는 수용홈(113)에 반입된 태양전지(10)의 하면을 지지하는 지지부재(114)가 각각 구비된다. 상기 지지부재(114)는 태양전지(10)에 대한 검사가 수행되는 동안, 태양전지(10)를 수용홈(113) 내부에서 지지한다. 상기 지지부재(114)는 태양전지(10)가 안착될 때, 태양전지(10)에 전달되는 충격을 완화할 수 있도록 탄성 수지와 같은 소정의 탄성력을 갖는 재질로 이루어질 수 있다.
그리고, 바람직하게는 검사 대상 태양전지(10)가 복수개의 지지부(110)에 각각 하나씩 안착될 수 있도록 구비된다. 즉, 검사 대상 태양전지(10) 하나에 상기 복수개의 지지부(110) 및 그 지지부(110)에 결합된 복수개의 광원부(120)가 하나씩 대응되도록 구비된다.
상기 복수개의 광원부(120)는, 태양전지(10)의 양부 및 성능 검사에 필요한 빛을 방출하여 검사 대상 태양전지(10)에 조사하는 것으로서, 지지부(110)의 상측에 접촉 또는 분리될 수 있도록 구비되고, 지지부(110)에 접촉되었을 때 수용홈(113) 내부에 반입된 검사 대상 태양전지(10)와 인접되도록 설치된다.
보다 구체적으로 설명하면, 상기 복수개의 광원부(120)는 수용홈(113)의 상 측 측단(115)에 접촉 또는 분리될 수 있도록 구비되어, 수용홈(113)의 상측 측단(115)에 접촉되어 수용홈(113)을 덮은 상태에서 수용홈(113) 내부에 위치된 검사 대상 태양전지(10)와 인접될 수 있도록 설치된다.
이와 같이, 복수개의 광원부(120)가 복수의 태양전지(10)와 인접되면, 광원부(120)로서 저용량의 광원을 사용하더라도 태양전지(10) 검사에 필요한 수준의 광량을 확보할 수 있게 된다.
한편, 태양전지(10)의 양부 및 성능 검사는 정확한 검사를 위해, 광원부(120)를 통해 공급되는 빛 외의 다른 빛이 태양전지(10)에 조사되지 않도록, 태양전지(10)가 위치된 곳을 암실로 형성해야 할 필요가 있다.
그런데, 상기 복수개의 광원부(120)가 상술한 바와 같이 복수개의 지지부(110)에 접촉될 수 있도록 설치되면, 검사 대상 태양전지(10)가 수용홈(113) 내부에 반입되었을 때, 광원부(120)가 수용홈(113)의 측단(115) 상측에 접촉되어 수용홈(113)을 덮음으로서, 태양전지(10)가 위치된 수용홈(113)의 내부를 암실로 형성할 수 있다.
따라서, 본 발명의 바람직한 제1실시예에 따른 태양전지 검사장치(100)는, 상기 복수개의 지지부(110)에 별도의 암실을 위치시키지 않더라도 검사 대상 태양전지(10)에 암실의 환경을 제공하여, 검사 결과의 정확성 및 신뢰성을 확보할 수 있다.
상기 검사 보드(130)는, 태양전지(10)가 안착된 복수개의 지지부(110)가 그 상면에 격자 형태로 이격되어 설치된다. 그리고, 상기 검사 보드(130)의 내부에는 복수개의 지지부(110)에 형성되어 있는 양전극 탐침(111)과 음전극 탐침(112)에 각각 전기적으로 연결되어 출력되는 전압값 및 전류값을 전송하는 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)가 구비된다. 따라서, 상기 검사 보드(130)는 그 상면에 격자 형태로 나열된 복수개의 지지부(110)와 전기적으로 연결되며, 각각의 태양전지(10)에서 출력되는 전류값 및 전압값을 검사부(140)로 전송하게 된다.
상술한 바와 같이 복수개의 지지부(110)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 검사 보드(130)의 상면에 격자 형태로 이격되어 설치된다. 따라서, 소정의 공간에 격자 형태로 검사 대상 태양전지(10)가 위치될 수 있어, 좁은 면적을 차지하는 크기의 장비로 복수의 태양전지(10)에 대한 검사를 동시에 수행할 수 있으므로 공간 활용 효율이 극대화된다.
상기 검사부(140)는 검사 보드(130)의 내부에 구비되며, 복수개의 지지부(110)에 구비된 양전극 탐침(111) 및 음전극 탐침(112)과 전기적으로 연결된 검사 보드(130)를 통해 검사 대상 태양전지(10)로부터 출력되는 출력값인 전압값 및 전류값을 전달받아 확인함으로써, 태양전지(10)의 양부 및 성능을 검사한다.
한편, 상기 복수개의 지지부(110)에 각각 구비된 양전극 탐침(111) 및 음전극 탐침(112)은 검사 보드(130)에 구비된 양전극 프로브(131)와 음전극 프로브(132)에 각각 연결됨으로써 검사부(140)와 전기적으로 연결된다. 따라서, 상기 검사부(140)에 대해 복수개의 지지부(110)에 위치된 태양전지(10)는 검가 보드(130)를 통해 직렬로 연결된다.
이때, 양전극 탐침(111)과 음전극 탐침(112)은 각각 스위치(미도시)를 통해 양전극 프로브(131)와 음전극부 프로브(132)에 연결되어, 양전극 프로브(131)와 음전극 프로브(132)에 대해 선택적으로 연결 또는 분리될 수 있도록 구비된다.
따라서, 상기 스위치(미도시)를 제어함으로써 복수개의 지지부(110)에 위치된 태양전지(10)와 검사부(140) 사이의 전기적인 연결을 선택적으로 분리할 수 있다.
상기 검사부(140)는 복수개의 지지부(110)에 위치된 복수의 태양전지(10)에 대한 양부 확인을 수행하는데, 이를 위해 우선적으로 복수의 태양전지(10) 전체가 직렬 연결된 합성 출력값을 측정한다. 이때, 측정한 합성 출력값이 기설정된 정상값이라면 직렬 연결된 복수의 태양전지(10) 전체를 양품으로 인식한다.
따라서, 한 번의 측정을 통해 복수의 태양전지(10) 전체에 대한 양부 판정이 가능하므로 검사 공정이 신속하게 수행될 수 있다. 여기서, 상기 출력값은 전압값 또는 전류값일 수 있다.
하지만, 측정한 합성 출력값이 기설정된 정상값 미만이라면 직렬 연결된 복수의 태양전지(10) 중 일부가 불량이라고 인식하고, 각 태양전지(10)에 대한 측정을 실시하거나, 임의의 일부 태양전지(10)를 제외한 합성 출력값을 순차적으로 측정함으로써 불량인 태양전지(10)를 확인한다.
본 발명에 있어서, 상기 검사부(140)는 복수개의 지지부(110)에 위치된 복수의 태양전지(10)로 직렬 연결되고, 1차적으로 직렬 연결에 대한 합성 출력값을 측정함으로써 태양전지(10)에 대한 양부 검사를 수행하는 형태로 구비되었으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
즉, 상기 검사부(140)는 복수의 태양전지(10)가 검사부(140)에 병렬 연결되고, 병렬 연결에 대한 합성 출력값을 측정하여 태양전지(10)에 대한 양부 검사를 수행하는 형태로 구비될 수 있으며, 직ㆍ병렬 합성 출력값을 모두 측정하는 형태로 구현될 수도 있다.
상기 제어부(150)는 검사부(140)의 검사 형태에 따라, 양전극 탐침(111)과 음전극 탐침(112)을 양전극 프로브(131)와 음전극 프로브(132)에 각각 연결하는 복수의 스위치(미도시)를 연결 또는 개방시킨다. 그리고, 이러한 스위치(미도시)에 대한 제어 정보를 검사부(140)에 전달하여, 검사부(140)가 현재 출력값이 각 태양전지(10)의 개별적인 출력값인지, 전체 합성 출력값인지 등, 그 출력값의 정보를 확인할 수 있도록 한다.
이러한 제어부(150)의 구성은, 상기 스위치(미도시)의 구성으로부터 당업자가 용이하게 안출할 수 있는 것으로서, 이에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
이하, 도 5 및 도 6을 참조하여, 본 발명의 제2실시예에 따른 태양전지 검사장치의 구성 및 작용효과를 구체적으로 설명한다. 본 발명의 제2실시예에 따른 태양전지 검사장치(100')는 복수개의 지지부(110)의 구성 및 검사부(140)와 제어부(150)의 위치를 제외하고는 본 발명의 제1실시예의 구성과 유사하다. 따라서, 이하 상기 복수개의 광원부(120)의 구성 및 검사부(140)와 제어부(150)의 위치를 중심으로 설명하고, 본 발명의 제1실시예의 구성과 유사한 복수개의 지지부(110)에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
상기 복수개의 광원부(120)는, 태양전지(10)의 양부 및 성능 검사에 필요한 빛을 방출하여 검사 대상 태양전지(10)에 조사하는 것으로서, 복수의 태양전지(10)가 안착된 복수개의 지지부(110)에 동시에 접촉되어 복수의 태양전지(10)에 빛을 조사하도록 복수개의 광원부(120)를 연결하는 광원 보드(160)가 구비된다.
따라서, 상기 복수개의 광원부(120)는 복수개의 지지부(110) 상측에 각각 대응되도록 광원 보드(160)의 하면에 설치되어, 검사 보드(130)에 인접됨에 따라 상기 복수개의 광원부(120)가 상기 복수개의 지지부(110)에 각각 결합하게 된다.
이와 같이, 복수개의 광원부(120)가 광원 보드(160)에 의해 태양전지(10)와 인접되면, 광원부(120)로서 저용량의 광원을 사용하더라도 태양전지(10) 검사에 필요한 수준의 광량을 확보할 수 있게 된다.
상기 검사 보드(130)는 태양전지(10)가 안착된 다수개의 지지부(110)가 그 상면에 격자 형태로 이격되어 설치된다. 그리고, 상기 검사 보드(130)의 내부에는 복수개의 지지부(110)에 형성되어 있는 양전극 탐침(111)과 음전극 탐침(112)에 각각 전기적으로 연결되어 출력되는 전압값 및 전류값을 전송하는 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)가 구비된다. 따라서, 상기 검사 보드(130)는 그 상면에 격자 형태로 결합된 복수개의 지지부(110)와 전기적으로 연결되며, 복수의 태양전지(10)에서 출력되는 전류값 및 전압값을 검사부(140)로 전송하게 된다.
이와 같이, 복수개의 지지부(110)가 격자 형태로 나열된 구조에서, 검사 보드(130)는 복수개의 광원부(120)가 결합된 광원 보드(160)에 대하여 측 방향으로 슬라이딩 이송될 수 있도록 구비된다.
즉, 상기 검사 보드(130)가 슬라이딩 이송되어 광원 보드(160)로부터 인출된 상태에서, 검사 대상 태양전지(10)가 복수개의 지지부(110)에 각각 반입되거나, 검사 완료된 태양전지(10)가 복수개의 지지부(110)로부터 반출된다.
이러한 검사 보드(130)의 왕복 이송 구조는, 복수개의 지지부(110)가 서로 격자 형태로 이격되어 설치된 구조에 있어서, 최소한의 공간을 최소한의 공간을 이용하여 태양전지(10)를 용이하게 검사 보드(130)에 구비된 복수개의 지지부(110)에 반출ㆍ입시킬 수 있는 구조이다.
그러나, 태양전지(10)를 검사 보드(130)에 구비된 복수개의 지지부(110)에 반출ㆍ입시키기 위한 구조가 이러한 슬라이딩 왕복 이송 구조로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 검사 보드(130)가 승강될 수 있도록 구비되고 복수개의 광원부(120)가 결합된 광원 보드(160)가 일방향으로 회동되면서 수용홈(111)이 개방되는 구조로 구현될 수도 있다.
상기한 검사 보드(130)의 왕복 이송 구조는, 예를 들어 슬라이딩 가이드부와 구동 모터를 포함하는 이송부로 이루어질 수 있는데, 이러한 왕복 이송 구조의 구체적인 구성은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자(이하, '당업자'라고 한다)가 용이하게 안출할 수 있는 것이므로, 이에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
상기 검사부(140)는 검사 보드(130)의 왕복 이송에 따라 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)가 각각 접촉 또는 분리될 수 있도록 검사 보드(130)의 일측에 이격된 상태로 구비된다. 즉, 상기 검사부(140)는 검사 보드(130)가 광원 보드(160)로부터 슬라이딩 이송되면 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)의 전 기적인 각각 연결이 단절된다. 그리고, 검사 보드(130)가 이송되어 다시 광원 보드(160)의 하측에 위치되면, 단절되었던 연결이 서로 접촉됨으로써, 복수의 태양전지(10)로부터 출력되는 출력값인 전압값 및 전류값을 검사 보드(130)를 통해 전달받아 복수의 태양전지(10)의 양부 및 성능을 검사하게 된다.
이와 같이, 광원 보드(160)에 대한 검사 보드(130)의 왕복 이송에 따라 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)가 각각 측 방향으로 연결 또는 분리되도록, 각각의 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)와 검사부(140)의 연결은 서로 접촉 또는 분리될 수 있도록 단자(133,141)에 의해 구현된다.
즉, 검사 보드(130)가 광원 보드(160)로부터 인출될 때에는, 인출되는 검사 보드(130)의 일측에 이격된 상태로 위치한 검사부(140)에 구비되어 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)와 각각 연결되도록 하는 각 단자(141)들은 인출되는 검사 보드(130)에 구비된 단자(133)들과 서로 이격됨으로써, 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)의 각 연결이 단절된다.
그리고, 검사 보드(130)가 이송되어 다시 광원 보드(160)의 하면에 위치되면, 서로 이격되었던 각 단자(133,141)들이 서로 접촉됨으로써, 양전극 프로브(131) 및 음전극 프로브(132)의 각 연결이 형성된다.
상기 제어부(150)는 검사부(140)의 일측에 위치되며, 검사부(140)의 검사 형태에 따라, 양전극 탐침(111)과 음전극 탐침(112)을 양전극 프로브(131)와 음전극 프로브(132)에 각각 연결하는 복수의 스위치(미도시)를 연결 또는 개방시킨다. 그리고, 이러한 스위치(미도시)에 대한 제어 정보를 검사부(140)에 전달하여, 검사 부(140)가 현재 출력값이 각 태양전지(10)의 개별적인 출력값인지, 전체 합성 출력값인지 등, 그 출력값의 정보를 확인할 수 있도록 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 태양전지 검사장치의 동작 및 사용상태를 구체적으로 설명한다.
먼저, 복수개의 광원부(120)가 복수개의 지지부(110)로부터 분리된 상태에서, 복수개의 지지부(110)에 형성된 수용홈(113)에 검사 대상 태양전지(10)가 각각 반입된다. 이때, 태양전지(10)에 형성된 양전극(11) 및 음전극(12)이 수용홈(113)의 저면에 구비된 양전극 탐침(111) 및 음전극 탐침(112)에 각각 접촉되어 전기적으로 연결된다.
다음, 복수개의 광원부(120)가 각 수용홈(113)의 측단(115)에 접촉되어 지지부(110)와 결합됨으로써 수용홈(113)을 덮는다. 이렇게 수용홈(113) 내부에 암실이 형성되면, 검사부(140)가 복수의 태양전지(10)에 대한 출력값을 동시에 확인하며, 동시에 검사를 시작한다.
이후, 복수개의 광원부(120)에 전력이 공급되고, 검사 대상 태양전지(10)에 빛이 조사되는 상태에서 검사부(140)가 태양전지(10)에서 출력되는 전압값 및 전류값을 확인하여, 복수의 태양전지(10)의 양부 및 성능 검사를 수행한다.
검사가 완료되면, 복수개의 광원부(120)에 대한 전력의 공급이 차단되고, 복수개의 광원부(120)가 복수개의 지지부(110)로부터 분리된다. 그 후, 각각의 수용홈(113) 내부에 위치된 검사 완료된 복수의 태양전지(10)는 외부로 반출되며, 상기 검사부(140)는 해당 태양전지(10)의 검사 결과를 저장한다.
상술한 바와 같은, 본 발명에 따른 태양전지 검사장치(100)는, 복수개의 광원부(120)가 복수개의 지지부(110)에 일체로 결합되고, 검사 보드(130)의 상면에 격자 형태로 설치되어 복수의 태양전지(10)를 동시에 검사함으로써, 단위 시간당 검사 효율이 증대되고, 생산성을 향상시킬 수 있다.
이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만, 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부되어 있는 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.
도 1은 종래의 태양전지 검사장치의 정면도,
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 태양전지 검사장치의 측면도,
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 태양전지 검사장치에 있어서, 광원부가 제외된 상태의 평면도,
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 태양전지 검사장치에 따른 지지부의 확대 단면도,
도 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 태양전지 검사장치에 있어서, 복수개의 광원부가 광원 보드에 의해 복수개의 지지부로부터 이격된 상태를 나타낸 측면도,
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 태양전지 검사장치에 있어서, 복수개의 광원부가 광원 보드에 의해 복수개의 지지부에 접촉된 상태를 나타낸 측면도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
100 : 태양전지 검사장치 110 : 복수개의 지지부
111 : 양전극 탐침 112 : 음전극 탐침
113 : 수용홈 114 : 지지부재
115 : 측단 120 : 복수개의 광원부
130 : 검사 보드 131 : 양전극 프로브
132 : 음전극 프로브 133 : 단자
140 : 검사부 141 : 단자
150 : 제어부 160 : 광원 보드
Claims (5)
- 검사 대상 태양전지의 양부 및 성능을 검사하는 장치에 있어서,복수개의 상기 태양전지가 각각 위치되며, 상기 태양전지로부터 생성된 전류를 전달하는 복수개의 지지부;복수개의 상기 태양전지에 각각 대응하도록 상기 복수개의 지지부의 상측에 각각 결합되어, 상기 태양전지에 빛을 조사하는 복수개의 광원부;상기 복수개의 지지부를 상면에 구비하며, 상기 복수개의 지지부로부터 상기 전류를 전송하는 검사 보드; 및상기 검사 보드의 내부에 구비되고, 상기 검사 보드로부터 상기 전류을 전달받아 그 출력값을 확인하는 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지 검사장치.
- 제 1항에 있어서,상기 검사 보드 내에 구비되어, 상기 검사부에 대한 상기 출력의 전달을 제어하는 제어부;가 구비되는 것을 특징으로 하는 상기 태양전지 검사장치.
- 제 2항에 있어서,상기 제어부는,상기 복수개의 지지부에 각각 위치되는 복수개의 상기 태양전지의 직렬 연결 에 대한 합성 출력값이 검사부에 전달되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 상기 태양전지 검사장치.
- 제3항에 있어서,상기 제어부는,상기 검사부에 의해 복수개의 상기 태양전지의 직렬 연결에 대한 합성 출력값이 비정상으로 확인되는 경우, 복수개의 상기 태양전지 각각의 출력값이 검사부에 전달되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 상기 태양전지 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 복수개의 지지부 상측에 각각 대응되도록 상기 복수개의 광원부가 하면에 설치되는 광원 보드;를 포함하되,상기 광원 보드가 상기 검사 보드에 인접됨에 따라 상기 복수개의 광원부가 상기 복수개의 지지부에 각각 결합되는 것을 특징으로 하는 상기 태양전지 검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080070656A KR20100009844A (ko) | 2008-07-21 | 2008-07-21 | 태양전지 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080070656A KR20100009844A (ko) | 2008-07-21 | 2008-07-21 | 태양전지 검사장치 |
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---|---|
KR20100009844A true KR20100009844A (ko) | 2010-01-29 |
Family
ID=41818103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080070656A KR20100009844A (ko) | 2008-07-21 | 2008-07-21 | 태양전지 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR20100009844A (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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