JP6033913B2 - ユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法 - Google Patents
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Description
本発明はテストプラットフォーム及びそのテスト方法に関するものであり、特にユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法に関するものである。
現在チップメーカーはある種類のチップを出荷前のテストを行う時、専門のテスト回路を組み立ててテストしている。
研究開発の仕事では同時に多くのチップを使用する試験員にとって、専門のテスト回路を逐一組み立ててチップをテストする方法はとても面倒で、効率は低く、操作が簡便で、チップのテスト効率が十分に高いテスト装置が急務である。
本発明はユニバーサルテストプラットフォームを提供し、ホスト、コントロールボード、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイ(field−programmable logic gate array)ボード、複数の第二ポート、複数のソケットボード、複数のNAND型フラッシュメモリを備える。コントロールボードはホストに電気的に接続され、且つコントローラと少なくとも一つのマルチデータレートSDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)と複数の第一ポートを備える。フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードは処理ユニットを備える。前記複数の第二ポートはフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの向かい合う両側にペアで設置され、且つフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する各第二ポートは対応する第一ポートに電気的に接続される。各ソケットボードは2つの第三ポートを備え、対応する前記2つの第三ポートにより、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードのもう片側に位置するいずれか2つの隣り合う第二ポートに電気的に接続される。前記複数のNAND型フラッシュメモリはそれぞれ前記複数のソケットボードに接続される。
本発明の一つの実施例において、前記コントロールボードは第一コネクタをさらに備え、ホストが第一コネクタによりコントロールボードに電気的に接続される。
本発明の一つの実施例において、前記第一ポートは複数の第一テストポートと第一信号受信ポートを備える。第二ポートは複数の第二テストポートと2つの第二信号受信ポートを備える。第一テストポートとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する第二テストポートは対応して設置され、且つ、第一信号受信ポートとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する第二信号受信ポートは対応して設置される。
本発明の一つの実施例において、前記第一信号受信ポートは少なくとも一つのマルチデータレートSDRAMと電気的に接続される。
本発明の一つの実施例において、第一ポートは第一モニターポートをさらに備え、第二ポートは第二モニターポートをさらに備える。第一モニターポートとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する第二モニターポートは対応して設置される。
本発明の一つの実施例において、前記ユニバーサルテストプラットフォームはモニターモジュールをさらに備え、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードのもう片側に位置する第二モニターポートに電気的に接続され、且つフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する第二モニターポートと第一モニターポートによりコントロールボードと電気的に接続される。
本発明はユニバーサルテストプラットフォームのテスト方法を提供し、以下のステップを含む。複数のソケットボードを提供するステップ。複数のNAND型フラッシュメモリを前記複数のソケットボードに電気的に接続させるステップ。前記ソケットボードとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードを電気的に接続させるステップ。フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードとコントロールボードを電気的に接続させるステップ。コントロールボードとホストを電気的に接続させるステップ。ホストにより指示信号をコントロールボードに発信するステップ。コントロールボードのコントローラにより指示信号を制御信号に変換するステップ。制御信号をフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの処理ユニットに書き込み、且つ処理ユニットにより制御信号を各ソケットボードに送り、各ソケットボード上の前記複数のNAND型フラッシュメモリをテストするステップ。
本発明はユニバーサルテストプラットフォームのテスト方法を提供し、さらに以下のステップを含む。モニターモジュールとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードを電気的に接続し、且つ処理ユニットにより制御信号を分析し、且つ制御信号の分析結果をモニターモジュールに表示するステップ。
本発明はユニバーサルテストプラットフォームのテスト方法を提供し、さらに以下のステップを含む。各ソケットボード上のNAND型フラッシュメモリのテスト結果をモニターモジュールに表示させ、モニターモジュールに表示された制御信号の分析結果と比較するステップ。
上述に基づき、本発明のモジュール化されたユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法は、試験員に供試のコントローラをコントロールボード上に電気的に接続させ、且つ供試のNAND型フラッシュメモリをソケットボード上に電気的に接続させ、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードによりコントロールボードとソケットボードを電気的に接続させ、複数のソケットボード上の複数の供試のNAND型フラッシュメモリをそれぞれテストするステップ。従来のテスト装置は異なる型番のコントローラに対して逐一対応する回路の配置を設計する必要があることと比較し、且つコントローラとNAND型フラッシュメモリを同じ回路基板に設置する技術構成からすると、本実施例のモジュール化されたユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法はコントローラのテスト効率を効果的に向上させ、テストコストを大幅に低下させる。
本発明はユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法を提供し、違う型番のコントローラをテストでき、コントローラのテスト効率を向上させる。
本発明の上述した特徴と利点を更に明確化するために、以下、幾つかの実施例を挙げて図面と共に詳細な内容を説明する。
図1は本発明の一つの実施例のテストプラットフォームのブロック図である。図2は図1のテストプラットフォームの部分的な構造の側面図である。図3は図2のコントロールボードの平面図であり、わかりやすい表示と、説明のしやすさのために、図2はフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130のうちの一つのソケットボード150に電気的に接続されていることを図示し、第二モニターポート141cによって見えない第二信号受信ポート141bを点線で表示している。図1から図3に示されるように、本実施例において、ユニバーサルテストプラットフォーム100は、ホスト110、コントロールボード120、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130、複数の第二ポート140と141、複数のソケットボード150、複数のNAND型フラッシュメモリ160を備え、ホスト110はデスクトップパソコン又はノートパソコンであっても良く、ケーブル10によりコントロールボード120の第一コネクタ124に接続され、それは例えばSATA(Serial Advanced Technology Attachment)やPCIe(Peripheral Component Interconnect Express)バスインターフェースである。
詳細には、コントロールボード120はコントローラ121、2つのマルチデータレートSDRAM(DDRx
SDRAM)122、複数の第一ポート123を備え、コントローラ121は例えばSSD(solid state disk)コントローラであり、且つマルチデータレートSDRAM122、第一ポート123、第一コネクタ124とそれぞれ電気的に接続されている。従って、ホスト110は第一コネクタ124によりコントローラ121に電気的に接続され、コントローラ121とNAND型フラッシュメモリ160の制御とアクセスを行う。一方、マルチデータレートSDRAM122は例えば、ダブルデータレートSDRAM、トリプルデータレートSDRAM、クアドラプルデータレートSDRAM、又はさらにハイデータレートSDRAMであり、本発明はこれに対して制限をしない。
SDRAM)122、複数の第一ポート123を備え、コントローラ121は例えばSSD(solid state disk)コントローラであり、且つマルチデータレートSDRAM122、第一ポート123、第一コネクタ124とそれぞれ電気的に接続されている。従って、ホスト110は第一コネクタ124によりコントローラ121に電気的に接続され、コントローラ121とNAND型フラッシュメモリ160の制御とアクセスを行う。一方、マルチデータレートSDRAM122は例えば、ダブルデータレートSDRAM、トリプルデータレートSDRAM、クアドラプルデータレートSDRAM、又はさらにハイデータレートSDRAMであり、本発明はこれに対して制限をしない。
図4は図2のフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの平面図である。図2から図4に示されるように、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130はコントロールボード120と前記複数のソケットボード150の接続媒体となり、そのうちフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130の向かい合う両側にペアで設置された前記複数の第二ポート140、141は主要な接続インターフェースとなる。詳細には、第一ポート123は複数の第一テストポート123aと第一信号受信ポート123bを備え、第二ポート140は複数の第二テストポート140aと第二信号受信ポート140bを備え、第一テストポート123aと第二テストポート140aは対応して設置され、且つ第一信号受信ポート123bと第二信号受信ポート140bは対応して設置される。
同様に、第二ポート141も複数の第二テストポート141aと第二信号受信ポート141bを備え、第二テストポート140aと141aは、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130の向かい合う両側にペアで設置され、且つ第二信号受信ポート140bと141bは、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130の向かい合う両側にペアで設置される。ここで、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130のコントロールボード120側の各第二テストポート140aは対応する第一テストポート123aに接続され、各第二信号受信ポート140bは対応する第一信号受信ポート123bに接続され、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130とコントロールボード120を電気的に接続させる。図示していない実施例において、ケーブル又はそのほか適切な接続線で第二テストポート140aは対応する第一テストポート123aに接続され、第二信号受信ポート140bは対応する第一信号受信ポート123bに接続され、本発明はこれに対して制限をしない。
図5は図2のソケットボードの平面図である。図1、図2、図5に示されるように、各ソケットボード150は、2つの第三ポート151と複数の接続域(又はコンセントと呼ぶ)152を備え、前記複数のNAND型フラッシュメモリ160は前記複数の接続域152にそれぞれ接続し、且つ各ソケットボード150上のNAND型フラッシュメモリ160はいずれも第三ポート151の同一側に位置する。NAND型フラッシュメモリ160は例えばソケットボード150上の接続域(コンセント)152に抜き差し可能に取り付けられるため、NAND型フラッシュメモリ160のテスト終了後、接続域(コンセント)152から容易に抜き去ることができ、はんだ除去の必要が無く、コロイド残留の問題も発生することなく、故にNAND型フラッシュメモリ160の構造の損傷を防ぐことができる。具体的には、各ソケットボード150は対応する2つの第三ポート151によりフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130のコントロールボード120と反対側のいずれか2つの隣り合う第二テストポート141aに接続し、コントローラ121を第一テストポート123a、第二テストポート140aと141a、第三ポート151により各ソケットボード150上のNAND型フラッシュメモリ160に電気的に接続させる。且つ、コントローラ121が発信する制御信号は第一テストポート123aと第二テストポート140aを経てフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130上の処理ユニット131に送られ、信号分析を行う。
一方、第一信号受信ポート123bは各マルチデータレートSDRAM122と電気的に接続し、各マルチデータレートSDRAM122のクロック信号を受信する。本実施例において、第一ポート123は第一モニターポート123cをさらに備え、第二ポート140は第一ポート123に対応して設置される第二モニターポート140cをさらに備え、同様に、第二ポート141は第二モニターポート140cに対応して設置される第二モニターポート141cをさらに備える。第一モニターポート123cとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130のコントロールボード120側の第二モニターポート140cは対応して設置されるため、第二モニターポート140cを第一モニターポート123cに接続された後、第一モニターポート123cは第二モニターポート140cにより第二モニターポート141cに電気的に接続され、第二モニターポート141cによりモニターモジュール170に電気的に接続される。ここで、第二モニターポート141cとモニターモジュール170との間の電気的な接続は例えばケーブル20により行われる。換言すると、コントローラ121がフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130上の処理ユニット131に発信した制御信号が分析された後、その分析結果は第二モニターポート141cを経由してモニターモジュール170に送られ、表示される。さらに、コントローラ121が発信する制御信号も処理ユニット131に転送し、処理ユニット131を経て第二テストポート141aにより各ソケットボード150に迅速に送られ(図1及び図2に図示)、ソケットボード150上のNAND型フラッシュメモリ160をテストする。NAND型フラッシュメモリ160のテスト後のテスト結果はフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130に返送され、それから第二モニターポート141cによりモニターモジュール170に送られ、表示される。従って、試験員はモニターモジュール170でコントローラ121が発信した制御信号の分析結果とNAND型フラッシュメモリ160のテスト結果を同時に観察でき、ファームウェア設計の正確性の比較と分析がしやくなる、又は必要な場合デバッグしやすくする。
簡潔には、モジュール化されたユニバーサルテストプラットフォーム100の設計は、試験員に、供試のコントローラ121をコントロールボード120上に電気的に接続させ、供試のNAND型フラッシュメモリ160をソケットボード150上に電気的に接続させ、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130によりコントロールボード120とソケットボード150を電気的に接続させ、複数のソケットボード150上の複数の供試のNAND型フラッシュメモリ160をそれぞれテストする。従来のテスト装置は異なる型番のコントローラは逐一対応する回路の配置を設計する必要があることと比較し、且つコントローラとNAND型フラッシュメモリを同じ回路基板に設置する技術構成からすると、本実施例のモジュール化されたユニバーサルテストプラットフォーム100はコントローラ121のテスト効率を効果的に向上させ、テストコストを大幅に低下させる。
図6は図1のテストプラットフォームのフローチャート図である。図6及びそれに合う上述の図に示されるように、ユニバーサルテストプラットフォーム100のテスト方法は、ソケットボード150を提供するステップS1と、複数のNAND型フラッシュメモリ160をソケットボード150に電気的に接続されるステップS2を先行して行う。それから、ソケットボード150とフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130を電気的に接続されるステップS3を行う。それから、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130とコントロールボード120を電気的に接続されるステップS4を行う。それから、コントロールボード120とホスト110を電気的に接続されるステップS5を行う。それから、モニターモジュール170とフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130を電気的に接続されるステップS6を行う。それから、ホスト110により指示信号をコントロールボード120のコントローラ121に発信し、コントローラ121により指示信号を制御信号に変換するステップS7を行う。それから、制御信号をフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード130の処理ユニット131に書き込み、処理ユニット131により制御信号を各ソケットボード150に送り、各ソケットボード150上のNAND型フラッシュメモリ160をテストするステップS8を行う。ステップS8と同時に、処理ユニット131により制御信号を分析して、制御信号の分析結果をモニターモジュール170に表示するステップS9を行う。最後に、ソケットボード150上のNAND型フラッシュメモリ160のテスト結果をモニターモジュール170に表示し、モニターモジュール170に表示された制御信号の分析結果と比較するステップS10を行う。
以上のように、本発明のモジュール化されたユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法は、試験員に供試のコントローラをコントロールボード上に電気的に接続させ、且つ供試のNAND型フラッシュメモリをソケットボード上に電気的に接続させ、フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードによりコントロールボードとソケットボードを電気的に接続させ、複数のソケットボード上の複数の供試のNAND型フラッシュメモリをそれぞれテストする。従来のテスト装置は異なる型番のコントローラは逐一対応する回路の配置の設計する必要があることと比較し、且つコントローラとNAND型フラッシュメモリを同じ回路基板に設置する技術構成からすると、本実施例のモジュール化されたユニバーサルテストプラットフォーム及びそのテスト方法はコントローラのテスト効率を効果的に向上させ、テストコストを大幅に低下させる。
本発明は以上の実施例のように示したが、本発明は、これに限られるものではなく、当業者が本発明の精神の範囲から逸脱しない範囲において、変更又は修正することが可能であるが故に本発明の保護範囲は均等の範囲にまで及ぶものとする。
本発明はテストプラットフォーム及びそのテスト方法に関するものであり、コントローラのテスト効率を効果的に向上させ、テストコストを大幅に低下させる。
10、20:ケーブル
100:ユニバーサルテストプラットフォーム
110:ホスト
120:コントロールボード
121:コントローラ
122:マルチデータレートSDRAM
123:第一ポート
123a:第一テストポート
123b:第一信号受信ポート
123c:第一モニターポート
124:第一コネクタ
130:フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード
131:処理ユニット
140、141:第二ポート
140a、141a:第二テストポート
140b、141b:第二信号受信ポート
140c、141c:第二モニターポート
150:ソケットボード
151:第三ポート
152:接続域
160:NAND型フラッシュメモリ
170:モニターモジュール
S1〜S10:ステップ
100:ユニバーサルテストプラットフォーム
110:ホスト
120:コントロールボード
121:コントローラ
122:マルチデータレートSDRAM
123:第一ポート
123a:第一テストポート
123b:第一信号受信ポート
123c:第一モニターポート
124:第一コネクタ
130:フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボード
131:処理ユニット
140、141:第二ポート
140a、141a:第二テストポート
140b、141b:第二信号受信ポート
140c、141c:第二モニターポート
150:ソケットボード
151:第三ポート
152:接続域
160:NAND型フラッシュメモリ
170:モニターモジュール
S1〜S10:ステップ
Claims (9)
- ホストと、
前記ホストに電気的に接続され、コントローラと少なくとも一つのマルチデータレートSDRAMと複数の第一ポートを備えるコントロールボードと、
処理ユニットを備えるフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードと、
前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの向かい合う両側にペアで設置され、それぞれ前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置し、対応する第一ポートに電気的に接続される複数の第二ポートと、
それぞれ2つの第三ポートを備えた複数のソケットボードであり、前記2つの第三ポートにより、前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードのもう片側に位置するいずれか2つの隣り合う前記第二ポートに電気的に接続される、複数のソケットボードと、
それぞれ前記複数のソケットボードに接続される複数のNAND型フラッシュメモリと、
を備えることを特徴とするユニバーサルテストプラットフォーム。 - 前記コントロールボードが、第一コネクタをさらに備え、前記ホストが前記第一コネクタにより前記コントロールボードに電気的に接続されることを特徴とする請求項1に記載のユニバーサルテストプラットフォーム。
- 前記複数の第一ポートは複数の第一テストポートと第一信号受信ポートを備え、前記複数の第二ポートは複数の第二テストポートと2つの第二信号受信ポートを備え、前記第一テストポートと前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する前記第二テストポートは対応して設置され、且つ、前記第一信号受信ポートと前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する前記第二信号受信ポートは対応して設置されることを特徴とする請求項1に記載のユニバーサルテストプラットフォーム。
- 前記第一信号受信ポートと少なくとも一つの前記マルチデータレートSDRAMは電気的に接続されることを特徴とする請求項3に記載のユニバーサルテストプラットフォーム。
- 前記複数の第一ポートは第一モニターポートをさらに備え、前記複数の第二ポートは2つの第二モニターポートをさらに備え、前記第一モニターポートと前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する前記第二モニターポートは対応して設置されることを特徴とする請求項3に記載のユニバーサルテストプラットフォーム。
- モニターモジュールをさらに備え、前記モニターモジュールは、前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードのもう片側に位置する前記第二モニターポートに電気的に接続され、且つ前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの片側に位置する前記第二モニターポートと前記第一モニターポートにより前記コントロールボードと電気的に接続されることを特徴とする請求項5に記載のユニバーサルテストプラットフォーム。
- 複数のソケットボードを提供するステップと、
複数のNAND型フラッシュメモリを前記複数のソケットボードにそれぞれ電気的に接続されるステップと、
前記ソケットボードとフィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードを電気的に接続されるステップと、
前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードとコントロールボードを電気的に接続されるステップと、
前記コントロールボードとホストを電気的に接続されるステップと、
前記ホストにより指示信号を前記コントロールボードに発信するステップと、
前記コントロールボード上のコントローラにより前記指示信号を制御信号に変換するステップと、
前記制御信号を前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードの処理ユニットに書き込み、且つ前記処理ユニットにより前記制御信号を前記各ソケットボードに送り、前記各ソケットボード上の前記複数のNAND型フラッシュメモリをテストするステップと、
を含むことを特徴とするユニバーサルテストプラットフォームのテスト方法。 - モニターモジュールと前記フィールドプログラマブル論理ゲートアレイボードを電気的に接続し、且つ前記処理ユニットにより前記制御信号を分析し、且つ前記制御信号の分析結果を前記モニターモジュールに表示するステップをさらに含むことを特徴とする請求項7に記載のユニバーサルテストプラットフォームのテスト方法。
- 前記各ソケットボード上の前記複数のNAND型フラッシュメモリのテスト結果を前記モニターモジュールに表示させ、前記モニターモジュールに表示された前記制御信号の分析結果と比較するステップをさらに含むことを特徴とする請求項8に記載のユニバーサルテストプラットフォームのテスト方法。
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