CN101334448B - 一种测试印刷线路板的测试平台及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试印刷线路板的测试平台及方法,其中,该测试平台包括:处理器、通用测试板及印刷线路板PCB放置台,其中,处理器,用于存储测试程序,测试PCB时,将对应该PCB的测试程序导入到通用测试板中,接收通用测试板发送的数字测试参数或测试结果;通用测试板,用于根据从处理器接收的测试程序对PCB放置台上的PCB进行相应测试点的测试,测试完成后,将得到的数字测试参数或测试结果输出给处理器;PCB放置台,用于放置PCB。因此,本发明可以实现测试同一功能不同型号的PCB不同功能的PCB,从而避免了测试平台的设置周期比较长,测试成本高,测试效率低下的缺点。
Description
技术领域
本发明涉及印刷线路板(PCB,Printed Circuit Board)的处理领域,特别涉及一种测试PCB的测试平台及方法。
背景技术
随着电路技术的发展,PCB可以实现多种功能,如采用PCB制造全球定位系统(GPS,Global Positioning System)设备,用于进行定位等。当制造了实现某种功能的PCB时,需要对所制造的PCB进行测试,根据测试得到的参数确定是否符合设计的标准。对PCB进行测试时,就需要测试平台和测试方法,常常针对不同实现功能的PCB,设置的测试平台和测试方法也不相同。甚至是对于实现同种功能的不同型号PCB,如不同型号的GPS设备,设置的测试平台和测试方法也不同。
举一个例子说明一下。比如对3.5寸GPS设备的PCB进行测试,则设置的测试平台包括:放置3.5寸GPS设备的PCB放置台、以及和放置台上设定测试点相连接的电流电压表,该电流电压表的控制按键以及显示窗都设置在测试人员可达处。当对该PCB测试时,将该PCB放置到放置台上,由测试人员通过控制按键控制电流电压表,得到GPS设备的测试参数。
可以看出,由于放置台的设置是针对3.5寸GPS设备的PCB设置的,且电流电压表连接在预先设置好的测试点,该测试点也是针对3.5寸GPS设备的PCB选择的,只有将3.5寸GPS设备的PCB正确放置到该放置台上,才能通过该放置台设置好的测试点测试该PCB,所以该测试平台无法测试其他型号的PCB。因此,不同型号的GPS设备需要设置不同测试平台对其进行测试,甚至当GPS设备进行PCB改版后,由于其测试点的变更,原有的GPS设备的PCB测试平台也无法测试改版后的PCB了。这种测试平台在测试3.5寸GPS设备的PCB时,需要测试人员手工进行测试,且测试参数需要测试人员自己读取并确定测试结果,在手工进行测试过程中存在因为误操作而导致PCB损坏的可能性,测试时比较烦琐且对测试人员的技能要求比较高。
综上,目前设置的测试平台只能针对不同型号的实现某种功能的PCB,而不能对所有PCB进行测试,不具备通用性。这样测试会导致测试一种型号的PCB就需要设置相应的PCB测试平台,由此带来许多缺点:测试平台的设置周期比较长,测试成本高及测试效率低下等。另外,由于采用设置的测试平台对相应的PCB进行测试时,是由测试人员手工测试并根据测试参数自己确定测试结果,所以在测试过程中会存在误判或误操作的可能性。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种测试PCB的测试平台,该测试平台不仅可以实现测试同一功能的不同型号的PCB,又可以实现测试不同功能的PCB。
本发明还提供一种测试PCB方法,该方法不仅可以实现测试同一功能的不同型号的PCB,又可以实现测试不同功能的PCB。
为达到上述目的,本发明实施例的技术方案具体是这样实现的:
一种测试印刷线路板的测试平台,该测试平台包括:处理器、通用测试板及印刷线路板PCB放置台,其中,
处理器,用于存储测试程序,测试PCB时,将对应该PCB的测试程序导入到通用测试板中,接收通用测试板发送的数字测试参数或测试结果;
通用测试板,用于根据从处理器接收的测试程序对PCB放置台上的PCB进行相应测试点的测试,测试完成后,将得到的数字测试参数或测试结果输出给处理器;
PCB放置台,用于放置PCB。
所述PCB放置台为PCB顶针放置台,所述PCB放置台的一端为扁平排线连接顶针,连接不同的PCB,另一端为可以连接通用测试板的标准接头。
所述通用测试板包括通道选择&继电器驱动模块、继电器网络模块、信号调理模块、模数转换ADC采样转换模块以及数据锁存模块,其中,
通道选择&继电器驱动模块,用于根据从处理器接收的测试程序,切换测试通道确定测试点,测试确定的测试点得到测试信号,驱动继电器网络模块将得到的测试信号输入到信号调理模块上;
继电器网络模块,用于在通道选择&继电器驱动模块的驱动下,将测试信号输入到信号调理模块上;
信号调理模块,用于调整接收的测试信号,将测试信号的幅度调整到进行ADC输入范围内后,发送给ADC采样转换模块;
ADC采样转换模块,用于接收调整后的测试信号后,进行模数采样转换后,输出数字的测试信号,输出给数据锁存模块;
数据锁存模块,用于对接收的ADC采样转换模块输出的数字测试信号进行锁存并发送给处理器,或者根据接收的ADC采样转换模块输出的数字测试信号和测试程序中的测试标准比较得到测试结果,发送给处理器。
所述通道选择&继电器驱动模块包括通道选择器和集成驱动电路。
所述通用测试板还包括光耦隔离模块,在通用测试板的通道选择&继电器驱动模块和处理器之间,用于对处理器发送的测试程序进行光耦隔离后,再发送给通用测试板的通道选择&继电器驱动模块。
所述处理器还用于将接收的数字测试信号和存储测试系统中的测试标准相比较,得到测试结果。
一种测试印刷线路板的方法,该方法包括:
确定PCB型号,将该PCB型号对应的PCB测试程序,导入到通用测试板上;
通用测试板根据导入的PCB测试程序,对PCB进行测试,得到数字测试信号。
所述PCB测试程序包括对测试PCB过程的控制,包括:测试通道选择、测试信号调理、ADC转换后得到数字测试信号;
所述PCB测试程序还包括对每一控制步骤所采用的测试参数。
所述对PCB进行测试,得到数字测试信号的过程为:
通用测试板选择测试通道,在所选择的测试通道确定相应测试点,对PCB测试台上的PCB的相应测试点进行测试,得到测试信号,将测试信号经过信号调理、ADC转换以及锁存后,得到数字测试信号。
所述该方法还包括:
将得到的测试信号和PCB测试程序中的PCB测试标准相比较,确定得到的数字测试信号是否符合该PCB的测试标准,如果是,则通过测试;如果否,则不通过测试,并根据该PCB的测试标准得到该PCB的出错信息。
由上述技术方案可见,本发明为同一功能的不同型号PCB或不同功能的PCB设置通用的测试平台,根据不同PCB的测试要求设置不同的测试程序,在设置的通用测试平台上运行,由通用测试平台为放置台上的PCB设置相应测试点,通过设置的测试点对放置台上的PCB测试后,将得到的测试参数和设置的测试标准比较,得到最终的测试结果。因此,本发明提供的测试平台及方法不仅可以实现测试同一功能的不同型号的PCB,又可以实现测试不同功能的PCB,从而避免了测试平台的设置周期比较长,测试成本高,测试效率低下的缺点。另外,由于本发明提供的测试平台及方法不需要手工对PCB进行测试,并且测试结果也不需要测试人员根据测试参数判断,而是由测试平台根据测试程序完成,所以在测试过程中比较简便,且不会存在误判或误操作的可能性。
附图说明
图1为本发明提供的测试PCB的测试平台结构示意图;
图2为本发明提供的测试PCB的方法流程图;
图3为本发明提供的测试PCB的方法实施例流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下参照附图并举实施例,对本发明作进一步详细说明。
为了不像现有技术那样,对于实现不同功能的PCB或实现同一功能的不同型号PCB采用不同的测试平台而造成的各种缺点,本发明为实现不同功能的PCB或实现同一功能的不同型号PCB设置了通用测试平台。当测试PCB时,将相应的测试程序在该测试平台上运行,由该测试平台根据测试程序为放置台上的PCB设置相应测试点,通过设置的测试点对放置台上的PCB测试后,将得到的测试参数和设置的测试标准比较,得到最终的测试结果。
图1为本发明提供的测试PCB的测试平台结构示意图,包括:处理器、通用测试板及PCB放置台,其中,
处理器,用于存储测试程序,当需要测试PCB时,将对应该PCB的测试程序导入到通用测试板中,接收通用测试板发送的数字形式的测试参数。在具体实现上,该处理器可以采用计算机实现。
通用测试板,用于根据从处理器接收的测试程序对PCB放置台上的PCB进行相应测试点的测试,测试完成后,将得到的测试参数采用数字形式输出给处理器。
PCB放置台,用于放置PCB。
具体地,PCB放置台,也可以称为PCB顶针放置台,用于根据不同的PCB设置不同的PCB放置台,该PCB放置台的一端为扁平排线连接顶针,用于连接不同的PCB,另一端为可以连接通用测试板的标准接头。
通用测试板包括通道选择&继电器驱动模块、继电器网络模块、信号调理模块、模数转换(ADC)采样转换模块以及数据锁存模块,其中,
通道选择&继电器驱动模块,用于根据从处理器接收的测试程序,切换测试通道,对PCB放置台上的PCB进行相应测试通道的测试,得到测试信号,驱动继电器网络模块将相应测试通道的测试信号输入到信号调理模块上。在该实施例中,不同测试通道对应在PCB放置台上的PCB的不同测试点。该模块包括通道选择器和驱动集成电路,其中,通道选择器采用译码器集成电路实现,比如型号为CD4051的集成电路,驱动集成电路的型号可以为MC1413。通道选择&继电器驱动模块具有可以连接PCB置放台的标准接口。
继电器网络模块,用于在通道选择&继电器驱动模块的驱动下,将相应测试通道的测试信号输入到信号调理模块上。
信号调理模块,用于调整接收的测试信号,将测试信号的幅度调整到进行ADC输入范围内后,发送给ADC采样转换模块。该模块可以采用滤波处理来实现将测试信号的幅度调整到进行ADC输入范围内。
ADC采样转换模块,用于接收调整后的测试信号后,进行模数采样转换后,输出数字的测试信号,输出给数据锁存模块。该模块可以为双通道或多通道的ADC采样转换模块,对各通道的调整后的测试信号进行转换后,输出数字的测试信号。
数据锁存模块,用于对接收的ADC采样转换模块输出的数字测试信号进行锁存并发送给处理器。
为了防止通用测试板对处理器的信号影响,可以在通用测试板中设置光耦隔离模块,设置在通用测试板的通道选择&继电器驱动模块和处理器之间,对处理器发送的测试程序进行光耦隔离后,再发送给通用测试板的通道选择&继电器驱动模块。
在本发明中,可以看出,对不同PCB测试需要设置不同的PCB程序,该程序能够实现对不同PCB测试过程的控制,该程序包括有测试参数文件,包括:测试通道选择、测试通道切换时间间隔值、滤波处理范围值、模数采样次数值及数字测试信号的存储和输出等。在PCB测试过程中涉及的测试参数文件可以由测试人员设置。
在本发明中,PCB测试程序也可以携带PCB的测试标准,当数据锁存模块接收到数字测试信号后,也可以和PCB测试程序的PCB测试标准进行比较,得到最终是否测试通过的测试结果及在得到不通过的测试结果时得出出错原因后,锁存并发送给处理器。
在本发明中,处理器也可以在存储的PCB测试程序中包括测试标准,当接收到数据锁存模块发送的数字测试信号后,也可以和PCB测试程序的PCB测试标准进行比较,得到最终是否测试通过的测试结果及在得到不通过的测试结果时得出出错原因。
图2为本发明提供的测试PCB的方法流程图,其具体步骤为:
步骤201、确定在PCB放置台上的PCB型号,根据该PCB型号到处理器中获取对应的PCB测试程序,导入到通用测试板上;
PCB测试程序中对测试的过程进行了描述,包括:测试通道选择、测试信号调理、ADC转换后得到测试结果。在每一步骤中,所采用的测试参数也对应于步骤设置在PCB测试程序,通用测试板根据该PCB测试程序就可以完成对PCB的测试。
步骤202、通用测试板,根据导入的PCB测试程序,对PCB放置台上的PCB进行测试,得到数字测试信号。
在该步骤中,具体地,通用测试板根据导入的PCB测试程序,首先选择测试通道,在所选择的测试通道中对PCB测试台上的PCB进行测试,得到测试信号,将测试信号经过信号调理、ADC转换以及锁存后,得到数字测试信号。
在该方法中,也可以将数字测试信号输入到处理器中,处理器中在PCB测试程序中存储有对应该PCB的测试标准,将两者比较,确定得到的数字测试信号是否符合该PCB的测试标准,如果是,则通过测试;如果否,则不通过测试,并根据该PCB的测试标准得到该PCB的出错信息。当然,这个过程也可以由通用测试板根据PCB测试程序完成。
这样,采用图2所述的过程就完成了该PCB的测试了。
以下结合图1所示的测试平台结构示意图,举一个具体实施例说明本发明提供的方法。图3为本发明提供的测试PCB的方法实施例流程图,该实施例以测试4.3寸GPS设备的PCB为例说明,其具体步骤包括:
步骤301、在PCB测试平台上放置GPS设备的PCB;
在本步骤中,PCB测试平台的一端扁平排线连接PCB,另一端为接入通用测试板的标准接头;
步骤302、处理器将对应在PCB测试平台上的PCB的测试程序输入到通用测试板中;
步骤303、通用测试板根据接收的该测试程序对在PCB测试平台上放置的PCB进行测试,即对测试通道进行选择、在测试通道内测量得到测试信号、调整测试信号、进行ADC转换后得到数字测试信号,输出。
在该步骤中,当测试程序中包括有对应该PCB的测试标准时,也可以将得到的数字的测试信号和测试标准相比较,确定得到的数字测试信号是否符合该PCB的测试标准,如果是,则通过测试,输出测试通过的测试结果;如果否,则不通过测试,并根据该PCB的测试标准得到该PCB的出错信息,作为测试不通过的测试结果输出。
从上述本发明提供的测试平台和方法可以看出,由于设置的通用测试平台能够测试实现不同功能的PCB或实现同一功能的不同型号的PCB,所以减少了当测试PCB时要设置对应的测试平台周期和成本,提高了测试效率。由于该测试平台测试得到测试信号后,可以进行一系列处理得到数字测试信号,并将得到的数字测试信号和对应PCB的测试标准比较得到测试结果,所以不需要由测试人员确定测试结果,提高了测试的准确性,较少因为人为原因而导致的测试错误出现。
以上举较佳实施例,对本发明的目的、技术方案和优点进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种测试印刷线路板的测试平台,其特征在于,该测试平台包括:处理器、通用测试板及印刷线路板PCB放置台,其中,
处理器,用于存储不同的测试程序,该测试程序能够实现对不同PCB测试过程的控制;测试PCB时,先确定在PCB放置台上的PCB型号,根据该PCB型号获取对应的PCB测试程序,将对应该PCB的测试程序导入到通用测试板中,接收通用测试板发送的数字测试信号或测试结果;
通用测试板,用于根据从处理器接收的测试程序,根据导入的测试程序,选择测试通道,在所选择的测试通道中对PCB放置台上的PCB进行相应测试点的测试,测试完成后,将得到的数字测试信号或测试结果输出给处理器;
PCB放置台,用于放置PCB;
所述通用测试板包括通道选择&继电器驱动模块、继电器网络模块、信号调理模块、模数转换ADC采样转换模块以及数据锁存模块,其中,
通道选择&继电器驱动模块,用于根据从处理器接收的测试程序,根据导入的测试程序,选择测试通道,切换测试通道到所选择的测试通道中以确定测试点,测试确定的测试点得到测试信号,驱动继电器网络模块将得到的测试信号输入到信号调理模块上;
继电器网络模块,用于在通道选择&继电器驱动模块的驱动下,将测试信号输入到信号调理模块上;
信号调理模块,用于调整接收的测试信号,将测试信号的幅度调整到进行ADC输入范围内后,发送给ADC采样转换模块;
ADC采样转换模块,用于接收调整后的测试信号后,进行模数采样转换后,输出数字的测试信号,输出给数据锁存模块;
数据锁存模块,用于对接收的ADC采样转换模块输出的数字测试信号进行锁存并发送给处理器,或者根据接收的ADC采样转换模块输出的数字测试信号和测试程序中的测试标准比较得到测试结果,发送给处理器。
2.如权利要求1所述的测试平台,其特征在于,所述PCB放置台为PCB顶针放置台,所述PCB放置台的一端为扁平排线连接顶针,连接不同的PCB,另一端为连接通用测试板的标准接头。
3.如权利要求1或2所述的测试平台,其特征在于,所述通道选择&继电器驱动模块包括通道选择器和集成驱动电路。
4.如权利要求1或2所述的测试平台,其特征在于,所述通用测试板还包括光耦隔离模块,在通用测试板的通道选择&继电器驱动模块和处理器之间,用于对处理器发送的测试程序进行光耦隔离后,再发送给通用测试板的通道选择&继电器驱动模块。
5.如权利要求1所述的测试平台,其特征在于,所述处理器还用于将接收的数字测试信号和存储测试系统中的测试标准相比较,得到测试结果。
6.一种采用如权利要求1所述的测试印刷线路板的测试平台对印刷线路板进行测试的方法,其特征在于,所述方法包括:
处理器确定PCB型号,获取该PCB型号对应的PCB测试程序,处理器将该PCB型号对应的PCB测试程序,导入到通用测试板上;
对PCB进行测试,得到数字测试信号的过程为:
通用测试板根据导入的测试程序,选择测试通道,在所选择的测试通道确定相应测试点,对PCB放置台上的PCB的相应测试点进行测试,得到测试信号,将测试信号经过信号调理、ADC转换以及锁存后,得到数字测试信号。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述PCB测试程序包括对测试PCB过程的控制,包括:测试通道选择、测试信号调理、ADC转换后得到数字测试信号;
所述PCB测试程序还包括对每一控制步骤所采用的测试参数。
8.如权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述该方法还包括:
将得到的测试信号和PCB测试程序中的PCB测试标准相比较,确定得到的数字测试信号是否符合该PCB的测试标准,如果是,则通过测试;如果否,则不通过测试,并根据该PCB的测试标准得到该PCB的出错信息。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
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Granted publication date: 20120704 Termination date: 20170523 |