TWI459012B - 具有多連接埠的測試裝置 - Google Patents

Description

具有多連接埠的測試裝置

一種測試裝置，特別有關於一種具有多連接埠的測試裝置。

在系統電腦、伺服器等在出廠之前，都會進行一系列的功能測試，以確保其所有的功能都能正常運作。在刀鋒伺服器(Blade Server)中，於不同機種之伺服器的主機板上，會配置不同類型之測試卡的連接埠，且這些連接卡用以連接硬碟(SAS_HDD)，以進行相同類型之連接埠之主機板與硬碟之間的測試。

由於這些測試卡各自具有不同的類型，也使得這些測試卡所配置之連接埠的類型也不相同，例如有長方形、正方形等。因此，需要根據不同類型之連接埠，生產對應的測試卡，且每張測試卡也必須搭配相對應機種之伺服器的主機板才能使用，以進行主機板與硬碟之間的測試。如此一來，會增加測試卡的生產成本以及測試的時間。

鑒於以上的問題，本揭露在於提供一種具有多連接埠的測試裝置，藉以具有多用途的功能，並可減少更換測試卡與測試的時間，以及降低生產成本。

本揭露之一種具有多連接埠的測試裝置，包括多個第一連接埠、多個第二連接埠、切換單元與控制單元。前述第一連接埠的類型不同。前述第二連接埠分別耦接前述第一連接埠，並且第二 連接埠的類型分別對應第一連接埠的類型。切換單元耦接於第一連接埠與第二連接埠之間，用以依據控制訊號，將第一連接埠其中之一耦接至對應的第二連接埠。控制單元耦接切換單元，用以產生控制訊號。

在一實施例中，前述第一連接埠的類型包括連接埠的形狀及與連接埠連接之導線的數量。

在一實施例中，前述控制單元更依據跳線器的設定狀態，而對應產生控制訊號。

在一實施例中，前述具有多連接埠的測試裝置更包括偵測單元。此偵測單元耦接第一連接埠與控制單元，用以偵測每一第一連接埠的連接狀態，並依據連接狀態，產生偵測訊號給控制單元，使控制單元對應產生控制訊號。

在一實施例中，前述第一連接埠與第二連接埠具有熱插拔功能的連接埠。

本揭露之一種具有多連接埠的測試裝置，其配置有不同類型的多個第一連接埠與第二連接埠，並藉由控制單元控制切換單元進行切換，以將類型相同的第一連接埠與第二連接埠進行耦接。如此一來，使得具有多連接埠的測試裝置具有多用途的功能，並可減少更換測試卡與測試的時間，以及降低生產成本。

有關本揭露的特徵與實作，茲配合圖式作最佳實施例詳細說明如下。

以下所列舉的各實施例中，將以相同的標號代表相同或相似的元件。

請參考「第1圖」所示，其為本揭露之具有多連接埠的測試裝置的示意圖。具有多連接埠的測試裝置100包括多個第一連接埠111、112、113、多個第二連接埠121、122、123、切換單元130與控制單元140。其中，第一連接埠111、112、113例如用以與主機板上對應之連接埠進行連接，而第二連接埠121、122、123用以與不同類型之硬碟(例如SAS_HDD)所對應之連接埠進行連接，以進行主機板與硬碟之間相關的測試。

在本實施例中，第一連接埠111、112、113的類型彼此不同。其中，前述第一連接埠的類型包括連接埠的形狀及與連接埠連接之導線的數量。舉例來說，假設第一連接埠111的形狀為正方形，且與第一連接埠111之導線的數量為8條；第一連接埠112的形狀為長方形，且與第一連接埠112之導線的數量為12條；第一連接埠113的形狀為金手指，且與第一連接埠113之導線的數量為16條。

第二連接埠121、122、123分別耦接第一連接埠111、112、113，並且第二連接埠121、122、123的類型分別對應第一連接埠111、112、113的類型。也就是說，第二連接埠121對應第一連接埠111，並且第二連接埠121的形狀為正方形，以及與第二連接埠121之導線的數量為8條；第二連接埠122對應第一連接埠112，並且第二連接埠122的形狀為長方形，以及與第二連接埠122之 導線的數量為12條；第二連接埠123對應第一連接埠113，並且第二連接埠123的形狀為金手指，以及與第一連接埠113之導線的數量為16條。

在本實施例中，第一連接埠111、112、113與第二連接埠121、122、123例如為具有熱插拔功能的連接埠，使得主機板可以在不重新開機的情況下，即可對連接相對應之連接埠的主機板與硬碟進行相關的測試。

切換單元130耦接於第一連接埠111、112、113與第二連接埠121、122、123之間，用以依據控制訊號CS，將第一連接埠111、112、113其中之一耦接至對應的第二連接埠。也就是說，切換單元130依據控制訊號CS，將第一連接埠111耦接至對應的第二連接埠121、將第一連接埠112耦接至對應的第二連接埠122或是將第一連接埠113耦接至對應的第二連接埠123。

控制單元140耦接切換單元130，用以產生控制訊號CS。其中，控制單元140例如為複雜可程式邏輯元件(Complex Programmable Logic Device,CPLD)。

在本實施例中，具有多連接埠的測試裝置100更包括跳線器(Jumper)150，且跳線器150耦接控制單元140，而使用者可透過調整跳線器150的設定，使得控制單元140可依據跳線器的設定狀態，對應產生控制訊號CS。

舉例來說，假設跳線器150的設定狀態為“01”，控制單元140可依據此“01”的設定狀態，而產生對應的控制訊號CS，以 控制切換單元130將第一連接埠111耦接至第二連接埠121。假設跳線器150的設定狀態為“10”，控制單元140可依據此“10”的設定狀，而產生對應的控制訊號CS，以控制切換單元130將第一連接埠112耦接至第二連接埠122。假設跳線器150的設定狀態為“11”，控制單元140可依據此“11”的設定狀態，而產生對應的控制訊號CS，以控制切換單元130將第一連接埠113耦接至第二連接埠123。

藉此，使用者便可依據連接埠的類型，而調整跳線器150的設定狀態，以使相同類型的第一連接埠與第二連接埠耦接，以便於進行相關的測試。如以一來，具有多連接埠的測試裝置100可具有多用途的功能，並在測試不同連接埠類型的主機板與硬碟時，減少更換測試卡與測試的時間，以及降低生產成本。

在前述實施例中，第一連接埠與第二連接埠的數量以3個為例來說明，但本揭露不限於此，第一連接埠與第二連接埠的數量可為2個或3個以上。其中，第一連接埠與第二連接埠的數量相同，且第二連接埠的類型一對一對應第一連接埠的類型。

請參考「第2圖」所示，其為本揭露之另一具有多連接埠的測試裝置的示意圖。具有多連接埠的測試裝置200包括多個第一連接埠111、112、113、多個第二連接埠121、122、123、切換單元130、控制單元140與偵測單元210。其中，第一連接埠111、112、113、第二連接埠121、122、123、切換單元130與控制單元140的耦接關係與相關操作可參考「第1圖」之實施例的說明，故 在此不再贅述。

在本實施例中，偵測單元210耦接第一連接埠111、112、113與控制單元140，用以偵測每一第一連接埠111、112、113的連接狀態，並依據連接狀態，產生偵測訊號給控制單元140，使控制單元140對應產生控制訊號CS。也就是說，偵測單元210例如偵測第一連接埠111、112、113與主機板上對應之連接埠的連接狀態。

舉例來說，當偵測單元140偵測到第一連接埠111與主機板上對應之連接埠連接時，偵測單元210例如產生“01”的偵測訊號給控制單元140。接著，控制單元140便依據“01”的偵測訊號，對應產生控制訊號CS給切換單元130，使得切換單元130自動將第一連接埠111耦接至第二連接埠121。如此，使用者便可對與第一連接埠111及第二連接埠121所連接之主機板與硬碟進行相關的測試。

當偵測單元140偵測到第一連接埠112與主機板上對應之連接埠連接時，偵測單元210例如產生“10”的偵測訊號給控制單元140。接著，控制單元140便依據“10”的偵測訊號，對應產生控制訊號CS給切換單元130，使得切換單元130自動將第一連接埠112耦接至第二連接埠122。如此，使用者便可對與第一連接埠112及第二連接埠122所連接之主機板與硬碟進行相關的測試。

當偵測單元140偵測到第一連接埠113與主機板上對應之連接埠連接時，偵測單元210例如產生“11”的偵測訊號給控制單元140。接著，控制單元140便依據“11”的偵測訊號，對應產生 控制訊號CS給切換單元130，使得切換單元130自動將第一連接埠113耦接至第二連接埠123。如此，使用者便可對與第一連接埠113及第二連接埠123所連接之主機板與硬碟進行相關的測試。

如以一來，具有多連接埠的測試裝置200亦可具有多用途的功能，並可減少更換測試卡與測試的時間，以及生產成本。

本揭露之實施例的具有多連接埠的測試裝置，其配置有不同類型的多個第一連接埠與第二連接埠，並藉由控制單元依據跳線器的設定狀態或偵測單元的偵測訊號，以控制切換單元進行切換，進而將類型相同的第一連接埠與第二連接埠進行耦接。如此一來，使得具有多連接埠的測試裝置具有多用途的功能，並可減少更換測試卡與測試的時間，以及降低生產成本。

雖然本揭露以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何熟習相像技藝者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本揭露之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

100、200‧‧‧具有多連接埠的測試裝置

111、112、113‧‧‧第一連接埠

121、122、123‧‧‧第二連接埠

130‧‧‧切換單元

140‧‧‧控制單元

150‧‧‧跳線器

210‧‧‧偵測單元

CS‧‧‧控制訊號

第1圖為本揭露之具有多連接埠的測試裝置的示意圖。

第2圖為本揭露之另一具有多連接埠的測試裝置的示意圖。

100‧‧‧測試裝置

111、112、113‧‧‧第一連接埠

121、122、123‧‧‧第二連接埠

130‧‧‧切換單元

140‧‧‧控制單元

150‧‧‧跳線器

CS‧‧‧控制訊號

Claims (4)

1. 一種具有多連接埠的測試裝置，包括：多個第一連接埠，該些第一連接埠的類型不同；多個第二連接埠，分別耦接該些第一連接埠，並且該些第二連接埠的類型分別對應該些第一連接埠的類型；一切換單元，耦接於該些第一連接埠與該些第二連接埠之間，用以依據一控制訊號，將該些第一連接埠其中之一耦接至對應的該第二連接埠；一控制單元，耦接該切換單元，用以產生該控制訊號；以及一偵測單元，耦接該些第一連接埠與該控制單元，用以偵測每一該些第一連接埠的一連接狀態，並依據該些連接狀態，產生一偵測訊號給該控制單元，使該控制單元對應產生該控制訊號。
2. 如請求項1所述之具有多連接埠的測試裝置，其中該些第一連接埠的類型包括連接埠的形狀及與連接埠連接之導線的數量。
3. 如請求項1所述之具有多連接埠的測試裝置，其中該控制單元更依據一跳線器的設定狀態，而對應產生該控制訊號。
4. 如請求項1所述之具有多連接埠的測試裝置，其中該些第一連接埠與該些第二連接埠具有熱插拔功能的連接埠。