TWI238174B - Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography - Google Patents

Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography Download PDF

Info

Publication number
TWI238174B
TWI238174B TW090117454A TW90117454A TWI238174B TW I238174 B TWI238174 B TW I238174B TW 090117454 A TW090117454 A TW 090117454A TW 90117454 A TW90117454 A TW 90117454A TW I238174 B TWI238174 B TW I238174B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
compound
group
patent application
item
absorbing
Prior art date
Application number
TW090117454A
Other languages
English (en)
Inventor
Teresa Baldwin
Mary Richey
James Drage
Hui-Jung Wu
Richard Spear
Original Assignee
Honeywell Int Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell Int Inc filed Critical Honeywell Int Inc
Application granted granted Critical
Publication of TWI238174B publication Critical patent/TWI238174B/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/42Block-or graft-polymers containing polysiloxane sequences
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D4/00Coating compositions, e.g. paints, varnishes or lacquers, based on organic non-macromolecular compounds having at least one polymerisable carbon-to-carbon unsaturated bond ; Coating compositions, based on monomers of macromolecular compounds of groups C09D183/00 - C09D183/16
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/28Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with organic material
    • C03C17/30Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with organic material with silicon-containing compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F7/00Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic Table
    • C07F7/02Silicon compounds
    • C07F7/08Compounds having one or more C—Si linkages
    • C07F7/18Compounds having one or more C—Si linkages as well as one or more C—O—Si linkages
    • C07F7/1804Compounds having Si-O-C linkages
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D183/00Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
    • C09D183/04Polysiloxanes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31652Of asbestos
    • Y10T428/31663As siloxane, silicone or silane

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Description

1238174 A7 — --- B7 五、發明説明(1 ~'—"—-~~—~— 技術領域 本發明-般係關於破璃上之吸光旋塗材料,尤其是關於可 〇到玻璃上旋塗材料巾,用作光微影巾之抗反射層之吸光 化合物,及吸光化合物之製造方法。 背景 / 為付合更快速效能之需求,需持績的降低積體電路裝置之 零件之特定尺寸。較小零件尺寸裝置之製造對許多一般用 於半導體製造之製程產生新的挑戰。此等製造製程之最重 要之一為光微影。 長久以來均了解光微影產生之直線寬度變化可由自半導體 晶圓上之底層光反射出產生之光干涉造成。由於下層型態 所導致光阻厚度之改變亦導致直線寬度之改變。在光阻層 之下塗佈抗反射塗層(ARC)曾用於防止輻射束反射之干擾。 另外,抗氧化塗層使晶圓型態部分平坦化,因為光阻厚度 更均句,因此可協助改善步驟中線寬度之變化。 有機聚合物膜,尤其是在i-線(365奈米)及g-線(436奈米) 波長處吸光者經常用於曝曬光阻劑,且最近已使用248奈米 波長處吸光者當作抗反射塗層。然而,具有許多與有機光 阻劑相同化學性質之有機ARC會限制可用之製程順序。再者 ,有機ARC可能與光阻層混合。避免混合之一方法為導入熱 固性結合劑當作有機ARC之額外成分,例如Flaim等人之美 國專利第5,693,691號中之敘述。有機ARC中亦可添加染料, 以及選用之其他添加劑,如潤濕劑、黏著促進劑、防腐劑 、及可塑劑,如Arnold等人之美國專利第4,91〇,122號中所述 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
1238174 A7 B7 五、發明説明(2 氧基氮化矽為曾用作抗反射塗層之另一種材料。然而,氧 基氮化矽以解構干涉製程用作ARC更甚於吸收,亦即需極嚴 格的控制氧基氮化物之厚度,且該材料在高度變化之型態 上無法完全用作ARC。再者,氧基氮化矽一般係以化學蒸氣 沉積沉積,但光阻層一般係使用旋塗塗佈器塗佈。其他化 學蒸氣沉積法會增加製程之複雜度。 又另一類可用作抗反射層之物質為含染料之在玻璃上旋塗 (SOG)組合物。Yau等人之美國專利第4,587,138號中揭示一 種與量約1重量%之玻璃上旋塗混合之基本黃# 1 1染料。 Allman等人之美國專利第5,100,503號揭示一種含無機染料, 如Ti02、Cr2〇7、Μο04、Μη04、或Sc04及黏著促進劑之交聯 聚有機硬氧燒。Allman另外教示亦當作偏極化層之玻璃上旋 塗組合物。然而,迄今為止揭示之玻璃上旋塗、染料結合 物無法適當的曝曬於可用於製造小尺寸裝置之深紫外線, 尤其是248及193奈米之光源中。另外,並非所有染料均可加 到任意之玻璃上旋塗組合物中。 因此仍需要在深紫外線光譜區中可強力吸收,且可加到玻 璃上旋塗組合物中,得到抗反射塗層之化合物,及製備該 吸收化合物之方法。 發明概要 深紫外線光微影用之抗反射塗層材料包含一種或多種加到 玻璃上旋塗(SOG)材料中之有機吸收化合物。依據本發明之 較佳具體例,係使用經由氧键聯與莕或蒽發色團相連之包 -5- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) ^238174 A7 B7 五、發明説明(4 ) 一一"一一~ 物中 < 玻璃上旋塗材料之塗料溶液係用於在積體電路裝置 之各層中形成抗反射薄膜。 依據本發明之另一目的,亦提供一種製備包含吸光醚化合 物之吸收玻璃上旋塗組合物之方法。 附圖之簡要敘述 圖1敛述依據本發明之聚體例,使用甲基三乙醯氧基矽烷 製備9 -恩甲氧基_甲基二乙氧基矽烷之方法。 發明之詳細敘述 冰紫外線光微影用之抗反射塗層材料包含一種或多種加到 玻璃上旋塗(SOG)材料中之有機吸收化合物。該吸光之玻璃 上旋塗組合物溶於適當溶劑中,形成塗料溶液,且塗佈於 製造半導體裝置之各材料層上。吸光玻璃上旋塗之抗反射 圖W經設計成可輕易的整合到現有之半導體製造製程中。 得到整合之性質包含顯像劑抗性、標準光阻製程過程中之 熱安定性、及對下層之選擇性移除。 彳夕以奈及恩為主之化合物在2 4 8奈米及更低下均明顯的 吸光。以苯為主(在本文中相當於以苯基為主)之化合物在波 長低於200奈米下明顯的吸光。雖然此等以僚、蒽及苯為主 (化合物通稱之為染料,但在此處使用吸收化合物之詞, 因為此等化合物之吸光並不限於波長在光譜之可見光區中 。然而’並非所有此種吸收化合物均可加到用作ARC材料之 玻璃上旋塗中。本發明中適用之吸收化合物,其吸收峰之 寬度在可用作微影之波長範圍,如248奈米、193奈米或其他 紫外線波長如365奈米,至少為10奈米。在此等波長下僅具 本紙張尺度適财_家標準(CNS) M規格(2iQx297公菱) 1238174 A7 B7 五、發明説明(5 ) 有狹窄之吸收峰,例如少於2奈米寬,之吸收化合物並非如 所需。 適當吸收化合物之發色團一般具有一個、二個或三個可能 會或可能不會稠合之苯環。可添加之吸收化合物具有與發 色團相連之可用反應基,該反應基包含羥基、胺基、羧酸 基、及具有與一、二或三個 ''離去基〃(如烷氧基或函素原 子)鍵結之經取代甲矽烷基。乙氧基或甲氧基或氯原子為經 常使用之離去基。因此,適用之反應基包含矽乙氧基、矽 二乙氧基、矽三乙氧基、矽甲氧基、矽二甲氧基、矽三甲 氧基、氯甲矽烷基、二氯甲矽烷基、及三氯甲矽烷基。玻 璃上旋塗組合物用之可添加吸收化合物之特定實例敘述於 美國專利申請案系列編號第09/491,166號中,其係與本申請 案一起讓度,且在此提出供參考。具有一個或多個與碎键 結之乙氧基之反應基經發現較佳,尤其是對於提昇吸收SOG 薄膜之熱安定性。 依據本發明之目的,可添加之吸收化合物包含以氧键結, 與莕或蒽發色團相連之當作反應性基之矽乙氧基、矽二乙 氧基或矽三乙氧基類。因此,本發明之吸收化合物為似醚 狀(若吸收化合物中之矽原子以碳原子取代,則化合物之分 類為醚)。化合物之一般結構為
-8- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1238174 A7 B7 五、發明説明(6 其中n=l-3,111 = 0- 2 ’且R為氳化燒基如甲基、乙基、或 丙基。結構.1及2說明之化合物其中之反應基矽在特殊之位 置與發色團相連。其中之反應基再另一位置相連之類似化 合物均以一般式 C14H9(CH2)nOSiRm(OC2H5)3.m 或 C10H8(CH2)nOSiRm(OC2H5)3-m敘述,且均包含在本發明中。 製備結構式1及2之吸光似醚化合物之方法係以在醇存在 下,使醇取代之稠合環發色團與乙醯氧基矽化合物之反應 為主。乙醯氧基矽反應物之一般式為RmSi(OCOCH3)4_m,其 中R之定義如上。所用乙醯氧基矽之特殊實例包含甲基三乙 醯氧基矽烷(MTAS)、四乙醯氧基矽烷(TAS)、二甲基二乙 醯氧基矽烷及二乙基二乙醯氧基矽烷。所用之醇包含甲醇 、乙醇及丙醇。 例如製備下式之9 -蒽甲氧基-甲基二乙氧基矽烷3
裝.
係使用莫爾比為i : 1 : 2之9-蒽曱醇、MTAS及乙醇當作 反應物。由圖1中之反應機構可了解到,MTAS中之乙酿氧 基與9-E甲醇中之-CH2〇H反應,形成與含矽之反應基及乙 酸間之_鍵聯,同時MTAS中之二乙醯氧基與乙醇反應,形 本紙張尺度1Α4_(21() χ 29ϋ 1238174 A7 --— __ B7 五、發明説明(7 ) *—"" 成乙氧基及乙酸。依該製備方法,反應物係與丙酮或其他 同類,如甲基異丁基酮(MIBK)或甲乙酮合併,形成反應混 合物’其再授拌至足以形成產物3之時間(一般為數天),接 著藉由充惰性氣體或真空萃取移除乙酸副產物。由該反應 機構可了解一般而言,醇取代之熔化環化合物與乙醯氧基 碎化合物(RmSi(〇COCH3)4_m)及醇之比為i : i : 3_m。 吸光之似醚化合物可添加於包含甲基矽氧烷、甲基矽倍半 氧烷、苯基矽氧烷、苯基矽倍半氧烷、甲基苯基矽氧烷、 甲基苯基矽倍半氧烷及矽酸酯聚合物之玻璃上旋塗材料 中。至於此處所用之玻璃上旋塗材料亦包含一般式(H〇_ i.〇Si〇i.5-2.G)x之氫矽氧烷聚合物及式(HSiC)i 5)χ之氫矽倍半氧 烷永合物(其中之X大於約8 )。亦包含者為烷基氫化物基矽 氧烷或羥基氫化物基矽氧烷。玻璃上旋塗之材料另包含一 般式(Ho-uSiO^2 G)n(R’G1 GSi〇i 5 2止之有機氫化物基矽氧 烷聚合物,及一般式為(Hsi〇i5)n(R,si〇i5)n^有機氫化物基 矽倍半氧烷聚合物(·其大於〇,且m&n之總合約大於8, 且R,為烷基或芳基)。部分使用之有機氫化物基矽烷聚合物 足η與m總合約為8至約5〇〇〇,且R,為Ci_c2❹烷基或C6_Ci2芳 基。有機氫化物基矽氧烷及有機氫化物基矽倍半氧烷 物可交互代表聚合物上之旋塗。特^之實例包含甲基氣㈣ 基矽氧烷、乙基氫化物基矽氧烷、丙基氫化物基矽氧燒、第 三-丁基氫化物基矽氧烷、苯基氫化物基矽氧烷、〒基氫化 物基矽倍半氧烷、乙基氫化物基矽倍半氧烷、丙基氫化物基 矽倍半氧烷、第三-丁基氫化物基矽倍半氧烷、苯基氫化物 -10-
1238174 A7 B7 五、發明説明(8 ) 基矽倍半氧烷及其合併物。 吸光玻璃上旋塗組合物中,吸收化合物可間斷的加到玻璃 上旋塗基質中。另外,吸收化合物係與玻璃上旋塗聚合物 化學鍵結。在不受任何理論限制下,本發明者建議可添加 吸收化合物經由可用之反應基與玻璃上旋塗聚合物主鏈键 結可得到有利之結果。 玻璃上旋塗材料一般係由各種梦燒反應物製備,包含例如 三乙氧基矽烷(HTEOS)、四乙氧基矽烷(TEOS)、甲基三乙 氧基矽烷(MTEOS)、二甲基二乙氧基矽烷、二甲基二甲氧 基矽烷、四甲氧基矽烷(TMOS)、甲基三甲氧基矽烷 (MTMOS)、三甲氧基矽烷、二甲基二甲氧基矽烷、苯基三 乙氧基矽烷(PTEOS)、苯基三甲氧基矽烷(PTMOS)、二苯基 二乙氧基矽烷、及二苯基二甲氧基矽烷。齒矽烷尤其是氯 矽烷,如三氯矽烷、甲基三氯矽烷、乙基三氯矽烷、苯基 三氯矽烷、四氯矽烷;二氯矽烷、甲基二氯矽烷、二甲基 二氯矽烷、氯三乙氧基矽烷、氯三甲氧基矽烷、氯甲基三 乙氧基矽烷、氯乙基三乙氧基矽烷、氯苯基三乙氧基矽烷 、氯甲基三甲氧基矽烷、氯乙基三甲氧基矽烷、及氯苯基 三甲氧基矽烷亦可用作矽烷反應物。為製造玻璃上旋塗組 合物,吸收醚化合物,如結構式(1)或(2)或結構式(1)及/ 或(2 )之結合物及其他吸收化合物係在SOG材料製備過程中 與矽烷反應物合併。 製備吸光玻璃上旋塗組合物之一般方法中,反應槽中會形 成包含矽烷反應物,例如HTEOS、或TEOS及MTEOS、或 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
裝.
1238174 五、發明説明(9
TMOS及MTMOS ;另外四备^ 力外四鼠矽烷及甲基三氯矽烷、一 多種吸收化合物;溶崎丨劣^ ^ 、 次/谷劑之結合物,及酸/水混合物之 反應混合物。適用之溶劑包 丙酮、2_丙醇、及其他轉輩 之醇類、賴、及醋類如h丙醇、mIBK、丙氧基丙醇、及 乙酸丙酉日㊃/ 混合物為例如硝酸及水。其他質子酸或酸 酐,如乙酸、甲酸、磷酸、鹽酸、或乙酸肝均可交互用於 酸混合物中。所得混合物維持在3〇至8〇。。間約424小時 ,至得吸光SOG聚合物溶液。 吸光SOG可以以適當之溶劑稀釋,得到產生各種厚度之膜 <塗料溶液。適當之稀釋劑溶亦包含丙酮、2_丙醇、乙醇 、丁醇、乙酸丙酉旨、乳酸乙酉旨、丙二醇、甲基酸乙 酸酯、及丙二醇丙基醚,市售稱之為Pr〇pas〇1_p。具有高沸 點之稀釋劑落劑經發現更有利,如乳酸乙酯及丙二醇丙基 醚。相#咼沸點落劑可降低形成氣泡膜缺陷之可能性。相 反的’較低、滞點之溶劑會包在薄膜之交連上層之下,接著 在烘烤製程步驟中.驅除時會產生孔隙。本發明中所用之其 他溶劑包含以二醇二甲基醚(另稱之為直鏈聚醚)、苯甲醚、 二丁基醚、二丙基醚、及戊醇。塗料溶液中亦可視情況添 加界面活性劑,如3M(Minneapolis,MN)提供之產物FC340 ’或DIC(日本)提供之產物Megaface R08。塗料溶液一般含 0.5至20重量%之聚合物。使用前,以標準過濾技術過濾塗 料溶液。 形成吸光有機氫化物基矽氧烷材料之方法包含形成包含非 及相溶劑及及性溶劑之雙相溶劑混合物及相轉移處媒之混 12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1238174 A7
奋物’添加一種或多種有機二 ’緣一 _矽烷、氫化物基三_矽烷 及一種或多種吸收化合物,搵 件到雙相反應混合物;且使雙 相反應混合物反應1至2 4小换 μ , 广、 、’件到吸光之有機氫化物基碎 氧I $元聚合物。包含相韓移觸拔 . 邳得秒觸媒,但並不限於氯化四丁基銨 及氯化Τ基三甲基铵。列裹令非4τ 11 , 幻举< 非極性溶劑包含(但不限)戊烷 、己烷、庚烷、環己燒、茉、 _ ^〜 ^ 甲枣、二甲苯,齒化之溶劑 如四氯化碳及其混合戊。所用之極性溶劑包含水、醇及醇 與水之混合物。吸光之聚合物溶液如上述般稀釋及過滤, 形成塗料溶液。 吸光之SOG塗料溶液係依據特定之製程,塗怖於用於半導 體製程之各層上’且一般係以傳統之旋塗沉積技術。此等 技術包含分佈旋塗、厚度旋塗及熱烘步驟,得到吸光s〇g抗 反射薄膜。一般之製程包含在1〇〇〇至4〇〇〇 rpm下厚度旋塗約 20秒鐘’且在8(TC至·。C間之溫度下進行三次烘烤步驟各 約一分鐘。如下列實例2所述,具有(3)之吸光醚之吸光 SOG抗反射薄膜呈現之消散係數大於〇18。 製備9 -蒽甲氧基-甲基二乙氧基矽烷3、9_蒽甲氧基-三乙 氧基矽烷及包含此等吸收化合物之吸光s〇G材料之方法救述 於下列實例中。 實例1 9-蒽甲氧基-甲基二乙氧基矽烷之製備 將92.37克(0.419莫爾)甲基三乙醯氧基矽烷(Μτα§)、 87.36克(0.419莫爾)9·蒽甲醇、38.56克(0.839莫爾)乙醇、 595.51克(10.20莫爾)丙酮合併於三升之瓶中。使溶液在氣氣 -13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 1238174 A7 ______________ B7 _____ 五、發¥説明 Γ""^ ~~~~~~~~~ ~~ ~ 中攪拌7天。溶液經除氣移除乙酸副產物。 實例2 含9 -蒽甲氧基·甲基二乙氧基矽烷之吸光s〇G之製備 將297克(4.798莫爾)2-丙醇、148克(2.558莫爾)丙酮、123 克(0.593 莫爾)TEOS、77 克(0.432莫爾)MTEOS、200克實例 1中製備之9-蒽甲氧基-甲基二乙氧基矽烷、261克(0.009莫 爾)玫紅酸、1 0克(0.024莫爾)2-羥基-4-(3-三乙氧基甲矽烷 基丙氧基)二苯基酮、〇·〇9克(0.0004莫爾)蒽黃酸、0.6克1.0 Μ硝酸及72克(3.716莫爾)去離子水合併於1升瓶中。使該瓶 回流4小時。溶液中添加43克(0.590莫爾)之丁醇。過濾溶 液。溶液經分配,接著以3000 rpm厚度旋塗20秒,且各在 8 0°C 及 180°C 下烘烤一分鐘。以 n&K Technology Model 1200 分析儀測量光學性質。薄膜厚度為2801埃。248奈米下之反 射係數(η)為1.470,且消散係數(k)為〇·185。 實例3 9 ·蒽甲氧基-三乙氧·基矽烷之製備 將110.73克(0.419莫爾)四乙醯氧基矽烷(TAS)、87.36克 (0.419莫爾)9_蒽曱醇、57.98克( 1.2585莫爾)乙醇、595.51克 (10.20莫爾)丙酮合併於3升瓶中。使溶液在氮氣中揽拌7天 。所得溶液除氣移除乙酸副產物。 實例4 含9-蒽甲氧基-三乙氧基矽烷之吸光s〇G溶液之製備 將297克(4.798莫爾)2_丙醇、148克(2.558莫爾)丙酮' 123 克(〇·593 莫爾)TEOS、77 克(0.432莫爾)MTEOS、200克實例 -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公釐) 1238174 A7 -~ B7 五、{ 12 ) — _ --— 3中製備之9·®甲氧基三乙氧基㈣、G.6jU()M硝酸及72 克(3.716莫爾)去離子水合併於!升瓶中。使帛瓶回流*小時 。溶液中添加43克(0.590莫爾)之丁醇。過濾溶液。 S 9 -蒽甲氧基-甲基二乙氧基石夕燒之吸光s〇G之製備 將297克(4.798莫爾)2_丙醇、148克(2.558莫爾)丙酮、123 克(0.593 莫爾)TEOS、77 克(0.432莫爾)MTEOS、200克實例 1中製備之9-¾甲氧基_甲基二乙氧基碎燒、〇6克1〇 %硝酸 及7 2克(3.716莫爾)去離子水合併於i升瓶中。使該瓶回流4 小時。溶液中添加43克(0.590莫爾)之丁醇。過濾溶液。 雖然本發明已參考特定之實例敘述,但此等實例僅為本發 明應用之實例,不應視同本發明之限制。揭示實例特性之 各種分離及合併均在下列申請專利範圍所定義之本發明申 請專利範圍中。 -15-本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公羡)

Claims (1)

  1. A8 B8 C8 ..JDB. 123 8 VMl 17454號專利申請案 中文申請專利範圍替換本(93年10月) 申請專利範圍 1 · 一種製備吸光似醚化合物之方法,該方法包括: 結合醇取代之稠合苯環化合物(該稠合之環化合物包 括二或三個環)、乙醯氧基矽化合物、醇、及溶劑,製 成反應混合物,其中乙醯氧基矽化合物之一般式為 RmSl(〇C〇CH3)4-m,其中R係為氫或一烷基,且m=〇-2 ’且其中之稠合環化合物、乙醯氧基矽化合物及醇係以 化學計量比1 : 1 : 3-m結合; 攪拌反應混合物至足以形成吸光醚化合物之時間;及 移除酸副產物。 2 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中乙醯氧基矽化合物 之一般式為RmSi(OCOCH3)4_m,其中之R係選自由氳' 甲基、乙基、及丙基所組成之群,且^==0-2,且其中 之稠合環化合物、乙醯氧基矽化合物及醇係以化學計量 比1 · 1 · 3 - in結合。 3 ·如申請專利範圍第2項之方法,其中之乙醯氧基矽化合 物為甲基三乙醯氧基矽烷。 4 ·如申請專利範圍第2項之方法,其中之稠合環化合物為 9 -蒽甲醇。 5 _如申請專利範圍第2項之方法,其中之醇為乙醇。 6·如申請專利範圍第3項之方法,其中之高吸光醚化合物 為9 -蒽甲氧基-甲基二乙氧基矽烷。 7 * 一種吸光玻璃上旋塗之組合物,該組合物包括碎燒聚合 物及包括二或三個稠合苯環及與選自由矽乙氧基、石夕二 乙氧基、及矽三乙氧基所組成之群之含矽類鍵聯之氧之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
    吸光似醚化合物。 8 •如申請專利範圍第7項之組合物,其中之吸光醚化合物之 般式為 C14H9(CH2)n〇SiRm(〇C2H5)3_m4c10H8(CH2)n〇SiRm(〇c2H5)3· m,其中n=i-3,m = 〇_2,且尺係選自由氫、甲基、乙 基及丙基所組成之群。 如申w專利範圍第8項之組合物,其中之吸光醚類化合 物為9-E甲氧基_甲基二乙氧基矽烷。 口 11 如申μ專利範圍第7項之組合物,其中之石夕氧燒聚合物 係選自由甲基矽氧烷、甲基矽倍半氧烷、苯基矽氧烷、 苯基矽倍半氧烷、甲基苯基矽氧烷、甲基苯基矽倍半氧 烷、及矽酸酯聚合物所組成之群之聚合物。 如申印專利範圍第7項之組合物,其中之矽氧烷聚合物 為選自由氫矽氧烷、氫矽倍半矽氧烷、有機氫化物基矽 氧烷、及有機氫化物基矽倍半氧烷聚合物,及氫矽倍半 氧烷及烷氧基氫化物基矽氧烷或羥基氫化物基矽氧烷所 組成之群之共聚物。 12·如申請專利範圍第u項之組合物,其中之矽氧烷聚合 物為具備選自由下列所組成之群之一般式之聚合物·· (Hw.〇Si〇m‘,其中之 X 大於 8,及(H〇 i 〇Si〇i 5_ ,其中m大於〇,且之她人 至5000,且R,為Cl-C2Q烷基或C6-Ci2芳基。 〜口 13. -種塗料溶液,纟包括如申請專利範圍第7項之組合物 及溶劑或溶劑混合物。 14·如申請專利範圍第13項之塗料溶液,其中溶液中之吸 2- 1238174 A8 B8 C8 ______ D8 六、申請專利範圍 光玻璃上旋塗組合物在〇·5%至2〇%(重量)之間。 1 5. —種製備吸光玻璃上旋塗組合物之方法,包括: 結合一種或多種選自由烷氧基矽烷及鹵矽烷所組成之 群之碎坑反應物,一種或多種可添加之有機吸收化合物 (且其中至少一種有機吸收化合物為包括二或三個稠合 苯環及與選自由矽乙氧基、矽二乙氧基、矽三乙氧基所 組成之群之含矽類鍵聯之氧之吸光醚化合物)、酸/水混 合物及一種或多種溶劑,形成反應混合物,及 使反應混合物維持在3 0至8 0 t:之溫度下,至足以形 成吸光玻璃上旋塗組合物之時間。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項之方法,其中之一種或多種矽 燒反應物係選自由三乙氧基石夕燒、四乙氧基石夕垸、甲基 三乙氧基矽烷、二甲基二乙氧基矽烷、二甲基二甲氧基 石夕燒、四甲氧基矽烷、甲基三甲氧基矽烷、三甲氧基矽 烷、二甲基二甲氧基矽烷、苯基三乙氧基矽烷、苯基三 甲氧基矽烷、二苯基二乙氧基矽烷、及二苯基二甲氧基 石夕燒。IS矽烷尤其是氯矽烷,如三氯矽烷、甲基三氯矽 k*、乙基二氯梦燒、苯基三氯碎燒、四氯石夕燒;二氯石夕 烷、甲基二氯矽烷、二甲基二氯矽烷、氯三乙氧基矽烷 、氯二甲氧基石夕燒、氯甲基三乙氧基石夕燒、氯乙基三乙 氧基石夕虎、氯苯基三乙氧基矽烷、氯甲基三甲氧基矽烷 、氯乙基三甲氧基矽烷、及氯苯基三甲氧基矽烷所組成 之群。 1 7 ·如申請專利範圍第1 6項之方法,其中之一種或多種硬 I_ '3· 本紙張尺度it财目S家標準(CNS) A4規格(210X297公羡) · --- 74 ΊΧ 8 3 2 8 8 8 8 A B c D 六、申請專利範圍 烷反應物為四乙氧基矽烷及甲基三乙氧基矽烷。 1 8 .如申請專利範圍第1 5項之方法,其中之酸/水混合物為 硝酸/水混合物。 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
TW090117454A 2000-07-17 2001-07-17 Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography TWI238174B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/617,365 US6368400B1 (en) 2000-07-17 2000-07-17 Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TWI238174B true TWI238174B (en) 2005-08-21

Family

ID=24473372

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW090117454A TWI238174B (en) 2000-07-17 2001-07-17 Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography
TW093130882A TW200512257A (en) 2000-07-17 2001-08-07 Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093130882A TW200512257A (en) 2000-07-17 2001-08-07 Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography

Country Status (9)

Country Link
US (3) US6368400B1 (zh)
EP (1) EP1301569A4 (zh)
JP (1) JP2004504328A (zh)
KR (1) KR100804870B1 (zh)
CN (1) CN1296435C (zh)
AU (1) AU2001280558A1 (zh)
CA (1) CA2413726C (zh)
TW (2) TWI238174B (zh)
WO (1) WO2002006402A1 (zh)

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003044078A1 (en) * 2001-11-15 2003-05-30 Honeywell International Inc. Anti-reflective coatings for photolithography and methods of preparation thereof
KR100804873B1 (ko) * 1999-06-10 2008-02-20 얼라이드시그날 인코퍼레이티드 포토리소그래피용 sog 반사방지 코팅
US6824879B2 (en) * 1999-06-10 2004-11-30 Honeywell International Inc. Spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography
US6268457B1 (en) * 1999-06-10 2001-07-31 Allied Signal, Inc. Spin-on glass anti-reflective coatings for photolithography
US6890448B2 (en) * 1999-06-11 2005-05-10 Shipley Company, L.L.C. Antireflective hard mask compositions
KR100816698B1 (ko) * 2000-04-03 2008-03-27 가부시키가이샤 알박 다공성 sog 필름의 제조방법
AU8500701A (en) 2000-08-17 2002-02-25 Shipley Co Llc Etch resistant antireflective coating compositions
TW588072B (en) * 2000-10-10 2004-05-21 Shipley Co Llc Antireflective porogens
JP3602071B2 (ja) * 2001-06-05 2004-12-15 株式会社日立製作所 核酸の精製分離方法
JP4144204B2 (ja) * 2001-09-20 2008-09-03 日産自動車株式会社 光吸収膜およびその製造方法
CN1606713B (zh) * 2001-11-15 2011-07-06 霍尼韦尔国际公司 用于照相平版印刷术的旋涂抗反射涂料
WO2004044025A2 (en) * 2002-11-12 2004-05-27 Honeywell International Inc Anti-reflective coatings for photolithography and methods of preparation thereof
KR101156200B1 (ko) * 2003-05-23 2012-06-18 다우 코닝 코포레이션 습식 에치율이 높은 실록산 수지계 반사 방지 피막 조성물
KR100857967B1 (ko) * 2003-06-03 2008-09-10 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 반사 방지막 재료, 이것을 이용한 반사 방지막 및 패턴형성 방법
US7303785B2 (en) * 2003-06-03 2007-12-04 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Antireflective film material, and antireflective film and pattern formation method using the same
TW200523298A (en) * 2003-08-04 2005-07-16 Honeywell Int Inc Coating composition optimization for via fill and photolithography applications and methods of preparation thereof
US7223517B2 (en) * 2003-08-05 2007-05-29 International Business Machines Corporation Lithographic antireflective hardmask compositions and uses thereof
US8053159B2 (en) * 2003-11-18 2011-11-08 Honeywell International Inc. Antireflective coatings for via fill and photolithography applications and methods of preparation thereof
US7153783B2 (en) * 2004-07-07 2006-12-26 Honeywell International Inc. Materials with enhanced properties for shallow trench isolation/premetal dielectric applications
US20080157065A1 (en) * 2004-08-03 2008-07-03 Ahila Krishnamoorthy Compositions, layers and films for optoelectronic devices, methods of production and uses thereof
US8901268B2 (en) * 2004-08-03 2014-12-02 Ahila Krishnamoorthy Compositions, layers and films for optoelectronic devices, methods of production and uses thereof
US20060051929A1 (en) * 2004-09-03 2006-03-09 Honeywell International Inc. Electrical properties of shallow trench isolation materials via high temperature annealing in the presence of reactive gases
US7833696B2 (en) 2004-12-17 2010-11-16 Dow Corning Corporation Method for forming anti-reflective coating
WO2006065310A2 (en) * 2004-12-17 2006-06-22 Dow Corning Corporation Siloxane resin coating
US20060154485A1 (en) * 2005-01-12 2006-07-13 Bo Li Sacrificial layers comprising water-soluble compounds, uses and methods of production thereof
US7867779B2 (en) 2005-02-03 2011-01-11 Air Products And Chemicals, Inc. System and method comprising same for measurement and/or analysis of particles in gas stream
US20060183055A1 (en) * 2005-02-15 2006-08-17 O'neill Mark L Method for defining a feature on a substrate
EP1762895B1 (en) * 2005-08-29 2016-02-24 Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. Antireflective Hard Mask Compositions
KR101324052B1 (ko) 2006-02-13 2013-11-01 다우 코닝 코포레이션 반사방지 코팅 재료
US20070212886A1 (en) * 2006-03-13 2007-09-13 Dong Seon Uh Organosilane polymers, hardmask compositions including the same and methods of producing semiconductor devices using organosilane hardmask compositions
US9051491B2 (en) * 2006-06-13 2015-06-09 Braggone Oy Carbosilane polymer compositions for anti-reflective coatings
JP2009540084A (ja) * 2006-06-13 2009-11-19 ブラゴーン オサケ ユキチュア 反射防止被膜用の無機−有機混成重合体組成物
US7704670B2 (en) * 2006-06-22 2010-04-27 Az Electronic Materials Usa Corp. High silicon-content thin film thermosets
US8026040B2 (en) 2007-02-20 2011-09-27 Az Electronic Materials Usa Corp. Silicone coating composition
WO2008104874A1 (en) * 2007-02-26 2008-09-04 Az Electronic Materials Usa Corp. Process for making siloxane polymers
US8642246B2 (en) 2007-02-26 2014-02-04 Honeywell International Inc. Compositions, coatings and films for tri-layer patterning applications and methods of preparation thereof
KR101523393B1 (ko) 2007-02-27 2015-05-27 이엠디 퍼포먼스 머티리얼스 코프. 규소를 주성분으로 하는 반사 방지 코팅 조성물
TWI439494B (zh) * 2007-02-27 2014-06-01 Braggone Oy 產生有機矽氧烷聚合物的方法
KR20100126295A (ko) 2008-01-08 2010-12-01 다우 코닝 도레이 캄파니 리미티드 실세스퀴옥산 수지
CN101910253B (zh) * 2008-01-15 2013-04-10 陶氏康宁公司 倍半硅氧烷树脂
CN101990551B (zh) * 2008-03-04 2012-10-03 陶氏康宁公司 倍半硅氧烷树脂
KR101541939B1 (ko) * 2008-03-05 2015-08-04 다우 코닝 코포레이션 실세스퀴옥산 수지
JP5359014B2 (ja) * 2008-04-28 2013-12-04 三菱瓦斯化学株式会社 紫外線吸収能を有するポリカーボネート樹脂
US8809482B2 (en) 2008-12-10 2014-08-19 Dow Corning Corporation Silsesquioxane resins
JP5632387B2 (ja) * 2008-12-10 2014-11-26 ダウ コーニング コーポレーションDow Corning Corporation 湿式エッチング可能な反射防止膜
US8084186B2 (en) * 2009-02-10 2011-12-27 Az Electronic Materials Usa Corp. Hardmask process for forming a reverse tone image using polysilazane
US8557877B2 (en) 2009-06-10 2013-10-15 Honeywell International Inc. Anti-reflective coatings for optically transparent substrates
CN101979352B (zh) * 2010-10-28 2012-11-28 常熟耀皮特种玻璃有限公司 可降低玻璃表面光反射的有机涂覆材料及玻璃
CN102485807A (zh) * 2010-12-01 2012-06-06 常熟卓辉光电科技有限公司 一种降低玻璃表面光反射的涂覆材料
US8864898B2 (en) 2011-05-31 2014-10-21 Honeywell International Inc. Coating formulations for optical elements
JP6196194B2 (ja) * 2014-08-19 2017-09-13 信越化学工業株式会社 紫外線吸収剤、レジスト下層膜形成用組成物、及びパターン形成方法
JP6803842B2 (ja) 2015-04-13 2020-12-23 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッドHoneywell International Inc. オプトエレクトロニクス用途のためのポリシロキサン製剤及びコーティング
CN109722033B (zh) * 2018-12-10 2021-08-06 沈阳化工大学 一种二蒽基二苯醚乙烯基硅橡胶制备方法

Family Cites Families (88)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3615272A (en) 1968-11-04 1971-10-26 Dow Corning Condensed soluble hydrogensilsesquioxane resin
US3884702A (en) 1972-12-14 1975-05-20 Unitika Ltd Photosensitive polyamide composition
US3873361A (en) 1973-11-29 1975-03-25 Ibm Method of depositing thin film utilizing a lift-off mask
US4053313A (en) 1975-06-03 1977-10-11 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for image reproduction using multilayer photosensitive solvent processable elements
JPS55165922A (en) * 1979-06-14 1980-12-24 Daicel Chem Ind Ltd Production of thermosetting organopolysiloxane
US4349609A (en) 1979-06-21 1982-09-14 Fujitsu Limited Electronic device having multilayer wiring structure
JPS5850417B2 (ja) 1979-07-31 1983-11-10 富士通株式会社 半導体装置の製造方法
US4257826A (en) 1979-10-11 1981-03-24 Texas Instruments Incorporated Photoresist masking in manufacture of semiconductor device
US4290896A (en) 1980-05-27 1981-09-22 Dow Corning Corporation Dewatering fine coal slurries using organopolysiloxanes
US4483107A (en) 1980-06-17 1984-11-20 Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. Polishing method for electrophotographic photoconductive member
EP0046695B1 (en) 1980-08-26 1986-01-08 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Ladder-like lower alkylpolysilsesquioxanes and process for their preparation
JPS5760330A (en) 1980-09-27 1982-04-12 Fujitsu Ltd Resin composition
US4515828A (en) 1981-01-02 1985-05-07 International Business Machines Corporation Planarization method
US4423135A (en) 1981-01-28 1983-12-27 E. I. Du Pont De Nemours & Co. Preparation of photosensitive block copolymer elements
US4413052A (en) 1981-02-04 1983-11-01 Ciba-Geigy Corporation Photopolymerization process employing compounds containing acryloyl group and anthryl group
US4419437A (en) 1981-02-11 1983-12-06 Eastman Kodak Company Image-forming compositions and elements containing ionic polyester dispersing agents
US4312970A (en) 1981-02-20 1982-01-26 Dow Corning Corporation Silazane polymers from {R'3 Si}2 NH and organochlorosilanes
DE3278567D1 (en) 1981-10-03 1988-07-07 Japan Synthetic Rubber Co Ltd Solvent-soluble organopolysilsesquioxanes, processes for producing the same, and compositions and semiconductor devices using the same
JPS58171416A (ja) 1982-04-02 1983-10-08 Hitachi Ltd 耐熱性重合体
US4910122A (en) 1982-09-30 1990-03-20 Brewer Science, Inc. Anti-reflective coating
US4434127A (en) 1982-12-09 1984-02-28 Dow Corning Corporation Heat curable polydiorganosiloxane compositions having enhanced release upon cure
JPS59109565A (ja) 1982-12-16 1984-06-25 Fujitsu Ltd コ−テイング樹脂溶液およびその製造方法
KR890003903B1 (ko) 1983-06-29 1989-10-10 가부시끼가이샤 히다찌세이사꾸쇼 패턴 형성 방법
US4617252A (en) 1983-07-01 1986-10-14 Philip A. Hunt Chemical Corporation Antireflective coatings for use in the manufacture of semi-conductor devices, methods and solutions for making such coatings, and the method for using such coatings to absorb light in ultraviolet photolithography processes
GB8333901D0 (en) 1983-12-20 1984-02-01 Minnesota Mining & Mfg Radiationsensitive compositions
GB8401016D0 (en) 1984-01-14 1984-02-15 Hagen Perennatorwerk Organopolysiloxane compositions
JPS60177029A (ja) 1984-02-21 1985-09-11 Toray Silicone Co Ltd オルガノポリシロキサン組成物の硬化方法
US4702990A (en) 1984-05-14 1987-10-27 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Photosensitive resin composition and process for forming photo-resist pattern using the same
KR900002364B1 (ko) 1984-05-30 1990-04-12 후지쓰가부시끼가이샤 패턴 형성재의 제조방법
US4657965A (en) 1984-10-22 1987-04-14 Toshiba Silicone Co., Ltd. Silicone elastomer composition
US4670299A (en) 1984-11-01 1987-06-02 Fujitsu Limited Preparation of lower alkyl polysilsesquioxane and formation of insulating layer of silylated polymer on electronic circuit board
US4587138A (en) 1984-11-09 1986-05-06 Intel Corporation MOS rear end processing
US4620986A (en) 1984-11-09 1986-11-04 Intel Corporation MOS rear end processing
CA1245394A (en) 1985-02-15 1988-11-22 Dale R. Flackett Organopolysiloxane composition curable to an elastomer and use thereof
FR2579552B1 (fr) 1985-03-27 1990-06-08 Honda Motor Co Ltd Dispositif de direction des roues avant et arriere pour vehicule
EP0204963B1 (en) 1985-05-10 1993-01-13 Hitachi, Ltd. Use of Alkali-Soluble Polyorganosilsesquioxane Polymers in a resist for preparing electronics parts.
US4745169A (en) 1985-05-10 1988-05-17 Hitachi, Ltd. Alkali-soluble siloxane polymer, silmethylene polymer, and polyorganosilsesquioxane polymer
US4663414A (en) 1985-05-14 1987-05-05 Stauffer Chemical Company Phospho-boro-silanol interlayer dielectric films and preparation
US4816049A (en) * 1985-07-12 1989-03-28 Hoya Corporation Process of surface treating laser glass
US4786569A (en) 1985-09-04 1988-11-22 Ciba-Geigy Corporation Adhesively bonded photostructurable polyimide film
US4723978A (en) 1985-10-31 1988-02-09 International Business Machines Corporation Method for a plasma-treated polysiloxane coating
US4676867A (en) 1986-06-06 1987-06-30 Rockwell International Corporation Planarization process for double metal MOS using spin-on glass as a sacrificial layer
DE3760773D1 (en) 1986-07-25 1989-11-16 Oki Electric Ind Co Ltd Negative resist material, method for its manufacture and method for using it
US4806504A (en) 1986-09-11 1989-02-21 Fairchild Semiconductor Corporation Planarization method
US4898907A (en) 1986-12-03 1990-02-06 Dow Corning Corporation Compositions of platinum and rhodium catalyst in combination with hydrogen silsesquioxane resin
US4822697A (en) 1986-12-03 1989-04-18 Dow Corning Corporation Platinum and rhodium catalysis of low temperature formation multilayer ceramics
US4756977A (en) 1986-12-03 1988-07-12 Dow Corning Corporation Multilayer ceramics from hydrogen silsesquioxane
US4808653A (en) 1986-12-04 1989-02-28 Dow Corning Corporation Coating composition containing hydrogen silsesquioxane resin and other metal oxide precursors
US5008320A (en) 1986-12-04 1991-04-16 Dow Corning Corporation Platinum or rhodium catalyzed multilayer ceramic coatings from hydrogen silsesquioxane resin and metal oxides
US4753855A (en) 1986-12-04 1988-06-28 Dow Corning Corporation Multilayer ceramic coatings from metal oxides for protection of electronic devices
US4911992A (en) 1986-12-04 1990-03-27 Dow Corning Corporation Platinum or rhodium catalyzed multilayer ceramic coatings from hydrogen silsesquioxane resin and metal oxides
JPH0819381B2 (ja) 1987-01-06 1996-02-28 日本合成ゴム株式会社 コーティング用組成物
DE3810247A1 (de) * 1987-03-26 1988-10-06 Toshiba Kawasaki Kk Lichtempfindliche beschichtungsmasse
US4855199A (en) 1987-04-03 1989-08-08 General Electric Company Photopatterned product of silicone polyamic acid on a transparent substrate
JPS63312643A (ja) 1987-06-16 1988-12-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の製造方法
US4849296A (en) 1987-12-28 1989-07-18 Dow Corning Corporation Multilayer ceramic coatings from metal oxides and hydrogen silsesquioxane resin ceramified in ammonia
US4847162A (en) 1987-12-28 1989-07-11 Dow Corning Corporation Multilayer ceramics coatings from the ceramification of hydrogen silsequioxane resin in the presence of ammonia
JPH01185367A (ja) 1988-01-18 1989-07-24 Toshiba Silicone Co Ltd 表面処理されたポリメチルシルセスキオキサン粉末の製造方法
US4921778A (en) 1988-07-29 1990-05-01 Shipley Company Inc. Photoresist pattern fabrication employing chemically amplified metalized material
US4981530A (en) 1988-11-28 1991-01-01 International Business Machines Corporation Planarizing ladder-type silsesquioxane polymer insulation layer
US4885262A (en) 1989-03-08 1989-12-05 Intel Corporation Chemical modification of spin-on glass for improved performance in IC fabrication
US4999397A (en) 1989-07-28 1991-03-12 Dow Corning Corporation Metastable silane hydrolyzates and process for their preparation
US5045592A (en) 1989-07-28 1991-09-03 Dow Corning Corporation Metastable silane hydrolyzates
CA2027031A1 (en) 1989-10-18 1991-04-19 Loren A. Haluska Hermetic substrate coatings in an inert gas atmosphere
US4973526A (en) 1990-02-15 1990-11-27 Dow Corning Corporation Method of forming ceramic coatings and resulting articles
US5043789A (en) 1990-03-15 1991-08-27 International Business Machines Corporation Planarizing silsesquioxane copolymer coating
JPH03272131A (ja) 1990-03-22 1991-12-03 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体素子の製造方法
US5059448A (en) 1990-06-18 1991-10-22 Dow Corning Corporation Rapid thermal process for obtaining silica coatings
US5100503A (en) 1990-09-14 1992-03-31 Ncr Corporation Silica-based anti-reflective planarizing layer
US5527872A (en) 1990-09-14 1996-06-18 At&T Global Information Solutions Company Electronic device with a spin-on glass dielectric layer
US5472488A (en) 1990-09-14 1995-12-05 Hyundai Electronics America Coating solution for forming glassy layers
US5063267A (en) 1990-11-28 1991-11-05 Dow Corning Corporation Hydrogen silsesquioxane resin fractions and their use as coating materials
DE4132697A1 (de) * 1991-10-01 1993-04-08 Wacker Chemie Gmbh Verfahren zur herstellung von organopolysiloxanharz
US6165697A (en) 1991-11-15 2000-12-26 Shipley Company, L.L.C. Antihalation compositions
JPH0656560A (ja) 1992-08-10 1994-03-01 Sony Corp Sog組成物及びそれを用いた半導体装置の製造方法
JPH06333803A (ja) 1992-09-18 1994-12-02 Sharp Corp 投影型露光装置用フィルター
US5328975A (en) * 1993-04-02 1994-07-12 Ppg Industries, Inc. Ultraviolet radiation absorbing coating
DE4338360A1 (de) * 1993-11-10 1995-05-11 Inst Neue Mat Gemein Gmbh Verfahren zur Herstellung von funktionellen glasartigen Schichten
JP3272131B2 (ja) 1993-12-27 2002-04-08 マツダ株式会社 歯車変速機の噛合装置
JP3301215B2 (ja) 1994-05-31 2002-07-15 ソニー株式会社 ハーフトーン型位相シフトマスク、ハーフトーン型位相シフトマスクの作製に用いる半透明部形成材料、及びハーフトーン型位相シフトマスクの作製方法
US5729563A (en) 1994-07-07 1998-03-17 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for optically and thermally isolating surface emitting laser diodes
TW404974B (en) * 1995-07-19 2000-09-11 Kansai Paint Co Ltd Solidifiable coating composite
US5693691A (en) 1995-08-21 1997-12-02 Brewer Science, Inc. Thermosetting anti-reflective coatings compositions
US5583195A (en) * 1995-09-29 1996-12-10 General Electric Company Photocurable epoxy silicones functionalized with fluorescent or photosensitizing marker dyes
JP3473887B2 (ja) 1997-07-16 2003-12-08 東京応化工業株式会社 反射防止膜形成用組成物及びそれを用いたレジストパターンの形成方法
US5962067A (en) * 1997-09-09 1999-10-05 Lucent Technologies Inc. Method for coating an article with a ladder siloxane polymer and coated article
US6268457B1 (en) * 1999-06-10 2001-07-31 Allied Signal, Inc. Spin-on glass anti-reflective coatings for photolithography
JP4248098B2 (ja) * 1999-09-20 2009-04-02 東京応化工業株式会社 反射防止膜形成用組成物及びレジストパターンの形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1301569A1 (en) 2003-04-16
US6914114B2 (en) 2005-07-05
AU2001280558A1 (en) 2002-01-30
CA2413726C (en) 2005-11-29
KR100804870B1 (ko) 2008-02-20
WO2002006402A1 (en) 2002-01-24
EP1301569A4 (en) 2007-08-29
CN1296435C (zh) 2007-01-24
KR20030031120A (ko) 2003-04-18
JP2004504328A (ja) 2004-02-12
US20030199659A1 (en) 2003-10-23
CA2413726A1 (en) 2002-01-24
US6368400B1 (en) 2002-04-09
TW200512257A (en) 2005-04-01
CN1443218A (zh) 2003-09-17
US6605362B2 (en) 2003-08-12
US20020068181A1 (en) 2002-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI238174B (en) Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography
JP4703745B2 (ja) フォトリソグラフィ用のスピンオングラス反射防止コーティング
EP1190277B1 (en) Semiconductor having spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography
US6506497B1 (en) Spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography
WO2003044600A1 (en) Spin-on anti-reflective coatings for photolithography
JP2005509710A (ja) フォトリソグラフィ用のスピンオングラス反射防止性コーティング
JP2011221549A (ja) フォトリソグラフィー用スピンオン反射防止膜
KR100917241B1 (ko) 포토리소그래피용 스핀-온 무반사 코팅
JP2009280822A (ja) フォトリソグラフィ用のスピンオングラス反射防止性コーティング
JP2009175747A (ja) フォトリソグラフィー用スピンオン反射防止膜

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees