TW542941B - Mask and method of manufacturing the same, electroluminescence device and method of manufacturing the same - Google Patents
Mask and method of manufacturing the same, electroluminescence device and method of manufacturing the same Download PDFInfo
- Publication number
- TW542941B TW542941B TW091121906A TW91121906A TW542941B TW 542941 B TW542941 B TW 542941B TW 091121906 A TW091121906 A TW 091121906A TW 91121906 A TW91121906 A TW 91121906A TW 542941 B TW542941 B TW 542941B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- substrate
- aforementioned
- mask
- substrates
- manufacturing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/12—Production of screen printing forms or similar printing forms, e.g. stencils
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/04—Coating on selected surface areas, e.g. using masks
- C23C14/042—Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
542941 A7 ___ B7 五、發明説明(]) [發明之技術領域] 本-發明是關於掩罩及其製造方法以及el裝置的製造方 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 法。 要求高精細之掩罩。例如,在彩色之有機電激發光(以 下簡稱爲EL)裝置的製造過程中,以使用掩罩之蒸鍍來形成 各色有機材料是眾所皆知的事。掩罩之製造方法上,對基 材進行蝕刻的方法爲大家所熟知,然而,因爲利用此方法 製造之掩罩十分薄,而有發生反翹或變形等問題。 [發明之槪述] 本發明可解決傳統問題,其目的則是提供高強度掩罩 及其製造方法以及EL裝置的製造方法。 (1) 本發明之掩罩製造方法中,含有將形成複數貫通 孔之第2基板裝設於形成開口之第1基板上的步驟,且 前述複數貫通孔配置於前述開口之內側。 依據本發明,利用第1基板實施第2基板之補強,故 可製造高強度之掩罩。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (2) 此掩罩之製造方法中, 亦可利用陽極接合來接合前述第1及第2基板。 此處之陽極接合,爲利用施加電壓使接合界面產生靜 電引力,在接合界面產生化學接合之接合方法。 (3) 此掩罩之製造方法中’ 亦可利用能量硬化性黏著劑黏著前述第1及第2基板 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公t ) 542941 A7 _ B7 五、發明説明(2 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 此處之能量包括光(紫外線、紅外線、及可見光)、X線 等放射線、及熱。利用此方式,可以在實施第1及第2基· 板之定位後再施加能量,故很容易實施第1及第2基板之 定位。 (4) 此掩罩之製造方法中, 前述第2基板亦可利用含有在矽晶圓上形成前述複數 貫通孔,及對應前述第2基板之外形切割前述矽晶圓之步 驟來形成。 (5) 此掩罩之製造方法中, 亦可使前述第1基板具有第1調正標示, 使前述第2基板具有第2調正標示,且 可利用前述第1及第2調正標示來實施前述第1及第2 基板之定位及裝配。 (6) 此掩罩之製造方法中, 前述第1及第2基板之至少一方亦可進一步形成掩罩 定位標示。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 此處之掩罩定位標示,爲使用掩罩實施蒸鍍等時,用 以進行掩罩之定位。 (7) 此掩罩之製造方法中’ 亦可在前述第2基板上形成磁性體膜。 利用此方式,可製造可以磁力吸附之掩罩。 (8) 此掩罩之製造方法中, 亦可將複數之前述第2基板裝配於前述第1基板上’ 前述第1基板上則形成複數之前述開口’ 本紙張尺度適用中.國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -5- 542941 A 7 B7 五、發明説明(3 ) 且將各前述第2基板以對應1個前述開口之方式裝設 〇 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 利用此方式’可以製造大型之掩罩(將複數掩罩一體化 之掩罩)。 (9) 此掩罩之製造方法中, 亦可以可裝卸方式來裝設前述第1基板及前述複數之 第2基板。 利用此方式,可以更換各個破損之第2基板,而更具 經濟性。 (10) 此掩罩之製造方法中, 亦可進一步對裝設於前述第1基板之前述複數第2基 板表面進行硏磨,使其高度均一化。 利用此方式,可以使複數第2基板之表面更爲平坦化 ,提高其和實施蒸鍍等之對象物的緊密性。 (11) 本發明之掩罩,具有形成開口之第1基板、 裝設於前述第1基板且形成複數貫通孔之第2基板, 前述複數貫通孔配置於前述開口之內側。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 利用本發明,可利用第1基板對第2基板進行補強, 故可避免第2基板之反翹及變形。 (12) 此掩罩之製造方法中, 亦可利用陽極接合來接合前述第1及第2基板。 此處之陽極接合,爲利用施加電壓使接合界面產生靜 電引力,在接合界面產生化學接合之接合方法。 (13) 此掩罩之製造方法中, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -6 - 542941 A7 B7 五、發明説明(4 ) 亦可利用能量硬化性黏著劑黏著前述第1及第2基板 〇 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) (14) 此掩罩之製造方法中, 亦可使前述第1基板具有第1調正標示, 使前述第2基板具有第2調正標示,且 可利用前述第1及第2調正標示來實施前述第1及第2 基板之定位及裝配。 (15) 此掩罩之製造方法中, 前述第1及第2基板之至少一方亦可進一步形成掩罩 定位標不。 此處之掩罩定位標示,爲使用掩罩實施蒸鍍等時,用 以進行掩罩之定位。 (16) 此掩罩之製造方法中, 亦可在前述第2基板上形成磁性體膜。 利用此方式,可製造可以磁力吸附之掩罩。 (17) 此掩罩之製造方法中, 經濟部智慈財產局8工消費合作社印製 亦可將複數之前述第2基板裝配於前述第1基板上, 前述第1基板上則形成複數之前述開口, 且將各前述第2基板以對應1個前述開口之方式裝設 〇 此掩罩因將複數掩罩一體化而爲大型掩罩。 (18) 此掩罩之製造方法中, 亦可以可裝卸方式來裝設前述第1基板及前述複數之 第2基板。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 542941 A7 B7 五、發明説明(5 ) 利用此方式,可以更換各個破損之第2基板,而更具 經濟性。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) (19)此掩罩之製造方法中, 亦可進一步對裝設於前述第1基板之前述複數第2基 板表面進行硏磨,使其高度均一化。 利用此方式,可以使複數第2基板之表面更爲平坦化 ,提高其和實施蒸鍍等之對象物的緊密性。 (2 0)本發明之EL裝置的製造方法,是含有使用前述 掩罩實施發光材料之成膜步驟。 [圖式之簡單說明] 圖1 A〜圖1B爲本發明實施形態之掩罩的說明圖。 圖2A〜圖2B爲本發明實施形態之掩罩的放大圖。 圖3爲第1基板圖。 圖4爲第2基板圖。 圖5A〜圖5B爲本發明實施形態之掩罩的製造方法說 明圖。 經濟部智慧財產局S工消費合作社印製 圖6爲本實施形態變形例之說明圖。 圖7爲本發明實施形態之掩罩的製造方法說明圖。 圖8爲本實施形態變形例之說明圖。 圖9A及圖9B爲本發明實施形態之掩罩及EL裝置的製 造方法說明圖。 圖10A〜圖10C爲發光材料之成膜方法的說明圖。 圖1 1爲利用本發明實施形態之掩罩而以發光材料之成 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -8- 542941 A7 ___B7_ 五、發明説明(6 ) 膜方法製造的EL裝置圖。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖1 2爲本發明實施形態之電子機器圖。 圖1 3爲本發明實施形態之電子機器圖。 [元件符號之說明] 10 第 1 基 板 12 開 □ 14 第 1 調 正 標 示 16 掩 罩 定 位 標 示 20 第 2 基 板 22 貫 通 孔 24 第 2 調 正 標 示 26 矽 晶 圓 30 黏 著 劑 50 掩 罩 52 磁 性 體 膜 經濟部智慧財產局Μ工消費合作社印製 [發明之實施形態說明] 以下,參照圖面說明本發明之適當實施形態。 圖1 A〜圖1 B爲本發明實施形態之掩罩的說明圖。圖 1B爲圖1A所示之IB-IB線的剖面圖。圖2A〜圖2B爲本發 明實施形態之掩罩的放大圖。圖2B爲圖2A所示之IIB-IIB 線的剖面圖。掩罩具有第1基板10、及至少1個之(® 1A 所示之實例爲複數個)第2基板20。圖3爲第1基板® ° ® 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -9- 542941 A7 B7 五、發明説明(7 ) 4爲第2基板圖。 第1基板1 0亦可以爲透明基板。在本實施形態中,第 1基板1 0由可以和第2基板20進行陽極接合之材料(例如 ,硼矽酸鹽玻璃)所構成。第1基板10上至少會形成1個( 圖1 A所示實例爲複數個)開口 1 2。第1基板1 0可以稱之爲 架構。開口 12會小於第2基板20。然而,開口 12會大於 第2基板20上形成複數貫通孔22之區域。開口 12亦可以 爲矩形。 第1基板10上會形成第1調正標示14。第1調正標示 14用於和第2基板20之定位。第1調正標示14可以金屬 膜形成,亦可以蝕刻方式形成。第1基板1 0會形成掩罩定 位標示1 6。使用掩罩實施蒸鍍等時,以掩罩定位標示1 6來 進行掩罩之定位。掩罩定位標示1 6亦可以金屬模形成。變 形例則在第2基板20上形成掩罩定位標示1 6。 第2基板20亦可以爲矩形。第2基板20上會形成複 數貫通孔22(參照圖2A及圖2B)。貫通孔22之形狀可以爲 正方形、平行四邊形、及圓形之其中任一種形狀。貫通孔 22之形狀、配置、及個數會構成掩罩圖案。第2基板20可 以稱爲螢幕板。 第2基板20上會形成第2調正標示24。第1及第2基 板10、20會使用第1及第2調正標示14、24來進行定位。 第2調正標示24可以以對第2基板20進行蝕刻來形成, 亦可以金屬膜形成。 第2基板20裝設於第1基板1〇上。如圖2A所示,第 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局Μ工消費合作社印製 -10- 542941 A7 B7 五、發明説明(8 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 2基板20之配設上’爲其複數貫通孔22位於開口 1 2之內 側的方式。又,第2基板20之端部會配設於第1基板1〇 之開口 12的端部上。詳細情形則爲,第2基板20之全部 邊緣端部(角環狀部份)會配設於第1基板1 〇之開口的全部 邊緣端部(角環狀部份)。對應1個開口 1 2配置1個第2基 板2 0。第2基板20裝設於和第1基板1 〇上形成第1調正 標示14之面相反的面。本實施形態中,第1及第2基板1 〇 、20爲陽極接合。第2基板20是以可以和第1基板1〇進 行陽極接合之材料(例如,矽)所構成。 圖5A〜圖5B爲本發明實施形態之掩罩的製造方法說 明圖。在本實施形態中,會先準備第1及第2基板10、20 。第1基板10之開口 12的形成上,可利用噴砂。第1基 板1 0之第1調正標示14或掩罩定位標示1 6的形成上,可 利用濺鍍或蒸鍍等,亦可利用蝕刻。 經濟部智慧財產局員工消f合作社印製 在第2基板20上形成複數之貫通孔22。可以蝕刻(例 如,具晶面方位依存性之異向性蝕刻)方式來形成。貫通孔 22之壁面可以垂直第2基板20之表面,亦可有斜度。如圖 4所示,亦可以矽晶圓2 6來形成第2基板2 0。此時,亦可 對應第2基板20來切割矽晶圓26。第2基板20之第2調 正標示24的形成上,可採用蝕刻,亦可採用濺鍍或蒸鍍等 〇 如圖5A所不,實施第1及第2基板1〇、20之定位並 配置。複數之第2基板20以不會重疊之方式配置。第1基 板10之一方表面上,配置著複數之第2基板20。利用第1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐] ""~ -11 - 542941 A7 B7 五、發明説明(9 ) 及第2調正標示1 4、24實施定位。位置相關之其他詳情如 上面所述。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本買) 如圖5B所示,裝設第1及第2基板10、20。因利用第 1基板10來對第2基板20進行補強,故可製造高強度之掩 罩。本實施形態中,採用陽極接合。具體而言,將第1及 第2基板10、20之接合面互相貼合配置,加熱至300〜500 °C,施加500V程度之電壓。第1基板10由硼矽酸鹽玻璃( 例如,COATING#7740(PILEX(登錄商標)GLASS))所構成、第 2基板20由矽所構成時,將第1基板10連接至負極。如此 ,第1基板10之正離子(鈉離子)會朝負極方向移動,第1 基板10之第2基板20側的表面會帶負電。另一方面,第2 基板20之第1基板10側的表面會帶正電。如此,第1及 第2基板10、20會因靜電引力而相吸,產生化學接合而互 相接合在一起。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 構成第1基板10之C〇ATING#7740(PILEX(登錄商標 )GLASS)的熱膨脹係數約爲3.5ppmrc,接近構成第2基板 20之矽的熱膨脹係數。所以,即使在高溫下使用掩罩,反 翹及變形會極小,而可忽視。又,利用陽極接合,因未使 用黏著劑,故不會有硬化收縮導致之變形,亦不會產生氣 體。如上面所述,本貫施形態之掩罩最適合高真空之蒸鍍 〇 又,本發明並未將利用黏著劑接合之情形排除在外。 圖6爲本實施形態變形例之說明圖。在此變形例中,第1 及第2基板1 〇、2 0就是以黏著劑3 0接合。黏著劑3 〇可以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -12- 542941 Μ Β7 ------- - - - ----------------- ---------------- ------- ------------------------------- ------ . 五、發明説明(1〇) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 爲能量硬化性黏著劑。能量包括光(紫外線、紅外線、及可 見光)、X線等之放射線、及熱。利用此方式,可在實施第 1及第2基板10、20之定位後再施加能量,故第1及第2 基板1 0、20之定位十分簡單。 利用以上之步驟,可以裝配第1及第2基板1 〇、20。 如圖7所示,因複數之第2基板20的厚度上有誤差等理由 而使其高度不均一時,亦可以磨石40等硏磨第2基板20 之表面。利用此方式,可使複數之第2基板20的表面獲得 平坦化,故可提高其和實施蒸鍍等之對象物的緊密性。 圖8爲本實施形態變形例之說明圖。在此變形例中, 以可裝卸方式將第2基板20裝配於第1基板1 〇上。例如 ,亦可在第1基板10上裝上裝配部42並形成導引溝,然 後將第2基板20嵌入該導引溝內。又,以圖上未標示之螺 栓等來固定第2基板20或避免其脫離亦可。利用此方式, 可以只更換破損之各第2基板20,更具經濟性。 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 圖9Α及圖9Β爲本發明實施形態之掩罩及EL裝置的製 造方法說明圖。在圖9A所示之掩罩50(例如,第2基板20) 上形成磁性體膜52。磁性體膜52可以鐵、鈷、及鎳等強磁 性材料形成。亦可以Ni、Co、Fe、或含有Fe成份之不銹鋼 合金等磁性金屬材料、或磁性金屬材料及非磁性金屬材料 之結合,來形成磁性體膜52。掩罩50之其他詳細情形如第 1實施形態之說明。 本實施形態中,使用掩罩50在基板54上形成發光材 料之薄膜。基板54之目的是形成複數之EL裝置(例如,有 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -13- 542941 A7 B7 五、發明説明(Μ ) 機EL裝置)’而爲玻璃基板等透明基板。如圖1〇A所示, 在基板54上形成電極(例如,由ιτ〇等構成之透明電極)% 、及電洞傳輸層58。又,亦可形成電子傳遞層。 如圖9A所示,以使第2基板20位於基板54側之方式 配置掩罩50。在基板54之背面則配置磁石48,可以吸引 在掩罩50(第2基板20)上形成之磁性體膜52。利用此方式 ’即使掩罩50(第2基板20)產生反翹,亦可進行矯正。 圖9B爲掩罩定位方法的說明圖。如上面所述,在第1 基板10上形成掩罩定位標示16。另一方面,在基板54上 形成定位標示5 5。利用掩罩定位標示1 6及定位標示55實 施第1基板10及基板54之定位。 圖10A〜圖10C爲發光材料之成膜方法的說明圖。發 光材料可以爲例如有機材料,低分子之有機材料可以爲鋁 α奎啉酚錯複合物(a 1 u m i n u m q u i η ο 1 i η ο 1) (A1 q 3),高分子之有機 材料可以爲聚對苯乙烯polypwaphenylene vinyene (PPV)。 發光材料之成膜可以利用蒸鍍。例如,如圖1 0 A所示,經 由掩罩50實施紅色發光材料之圖案化並成膜,形成紅色之 發光層60。又如圖10B所示,移動掩罩50實施綠色發光材 料之圖案化並成膜,形成綠色之發光層62。又,如圖10C 所示,再度移動掩罩50實施藍色發光材料之圖案化並成膜 ,形成藍色之發光層64。 在本實施形態中,當做螢幕之第2基板20可因第1基 板10而獲得補強。所以,不會發生第2基板20之反翹或 變形,並可提高選擇蒸鍍之再現性及生產性。在本實施形 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ,裝- 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -14- 542941 A7 ___ B7 五、發明説明(12 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 態中,可利用掩罩50在第丨基板1〇上形成複數之開口 ι2 ’且第2基板20會位於對應各開口 12之位置。各第2基 板20則對應1個EL裝置。亦即,使用掩罩50,可以製造 一體化之複數EL裝置。切割基板54即可得到各個EL裝置 〇 圖11爲利用發光材料之成膜方法製造的EL裝置圖。 EL裝置(例如,有機El裝置)具有基板54、電極56、電洞 傳輸層58、發光層60、62、64等。發光層60 ' 62、64上 會形成電極66。電極66可以爲例如陰極電極。EL裝置(EL 面板)爲顯示裝置(顯示器)。 具有本發明實施形態之EL裝置的電子機器,在圖1 2 中爲筆記型個人電腦1000,圖Π中則爲行動電動2000。 經濟部智慧財產局R工消費合作社印製 本發明並不限定爲前面所述之實施形態,可以有各種 變形。例如,本發明包括和實施形態中說明之構成實質相 同之構成(例如,機能、方法、及結果爲相同構成,或目的 及結果爲相同構成)。又,本發明亦包括針對實施形態說明 之構成中的非本質部份進行置換者。又,本發明亦包括和 實施形態明之構成具有相同作用功效之構成、或可達成相 同目的之構成。又,本發明亦包括在實施形態說明之構成 上附加已知技術之構成。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Μ規格(210X 297公釐) -15-
Claims (1)
- 542941 A8 B8 C8 ___ D8 六、申請專利範圍 , 1 · 一種掩罩之製造方法,其特徵爲: (請先閱讀背面之注意事項存填寫本頁) 含有將形成複數貫通孔之第2基板裝設於形成開口之 第丨基板上的步驟,且 將前述複數貫通孔配置於前述開口之內側。 2·如申請專利範圍第1項之掩罩之製造方法,其中 利用陽極接合來接合前述第1及第2基板。 3·如申請專利範圍第1項之掩罩之製造方法,其中 利用能量硬化性黏著劑黏著前述第1及第2基板。 4. 如申請專利範圍第1至3項之其中任一項之掩罩之製 造方法,其中 前述第2基板利用含有··在矽晶圓上形成前述複數貫通 孔’及對應前述第2基板之外形切割前述矽晶圓之步驟來 形成。 5. 如申請專利範圍第1至3項之其中任—項之掩罩之製. 造方法,其中 使前述第1基板具有第1調正標示, 使前述第2基板具有第2調正標示,且 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 利用前述第1及第2調正標示來實施前述第1及第2 基板之定位及裝配。 6·如申請專利範圍第1至3項之其中任一項之掩罩之製 造方法,其中 前述第1及第2基板之至少其中一方進一步形成掩罩 定位標示。 7 ·如申請專利範圍第1至3項之其中任一項之掩罩之製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ' ~ *- -16- 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 542941 AS B8 C8 _08 六、申請專利範圍 2 造方法,其中 在前述第2基板上形成磁性體膜。 8 ·如申請專利範圍第1至3項之其中任一項之掩罩之製 造方法,其中 將複數之前述第2基板裝配於前述第1基板上, 在前述第1基板上形成複數之前述開口, 且將各前述第2基板以對應1個前述開口之方式裝設 〇 9 ·如申請專利範圍第8項之掩罩之製造方法,其中· 以可裝卸方式來裝設前述第1基板及前述複數之第2 基板。 1 〇 .如申請專利範圍第8項之掩覃之製造方法,其中 對裝設於前述第1基板之前述複數第2基板表面進行 硏磨,使其高度均一化。 11·一種掩罩,其特徵爲具有: 形成開口之第1基板、及 裝設於前述第1基板且形成複數貫通孔之第2基板, 且 前述複數貫通孔配置於前述開口之內側。 12. 如申請專利範圍第11項之掩罩,其中 利用陽極接合來接合前述第1及第2基板。 13. 如申請專利範圍第11項之掩罩,其中 利用能量硬化性黏著劑黏著前述第i及第2基板。 14. 如申請專利範圍第11至I3項之其中任一項之掩罩 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS〉A4規格(210X297公釐) 71 一 0·^------訂----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 542941 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 __ _六、申請專利範圍 3 ,其中 使前述第1基板具有第1調正標示’ 使前述第2基板具有第2調正標示’且 利用前述第1及第2調正標示來實施前述第1及第2 基板之定位及裝配。 1 5 .如申請專利範圍第1 1至1 3項之其中任一項之掩罩 ,其中 前述第1及第2基板之至少其中一方進一步形成掩罩 定位標示。 16. 如申請專利範圍第11至13項之其中任一項之掩罩 ,其中 在前述第2基板上形成磁性體膜。 17. 如申請專利範圍第U至13項之其中任一項之掩罩 ,其中 將複數之前述第2基板裝配於前述第1基板上, 前述第1基板上則形成複數之前述開口, 且將各前述第2基板以對應1個前述開口之方式裝設 〇 18. 如申請專利範圍第17項之掩罩,其中 以可裝卸方式來裝設前述第1基板及前述複數之第2 基板。 19. 如申請專利範圍第I7項之掩罩,其中 對裝設於前述第1基板之前述複數第2基板表面進行 硏磨,使其高度均一化。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -IB· m I -二· 一裝· 、1T 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) -18- 542941 A8 B8 C8 D8六、申請專利範圍 4 20.—種電激發光(EL)裝置的製造方法,其特徵爲具有: 形成開口之第1基板、及 裝設於前述第1基板且形成複數貫通孔之第2基板, 且 前述複數貫通孔利用配置於前述開口內側之掩罩實施 發光材料之成膜步驟。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ---------訂-------------- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -19-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001292040A JP3651432B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | マスク及びその製造方法並びにエレクトロルミネッセンス装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW542941B true TW542941B (en) | 2003-07-21 |
Family
ID=19114083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091121906A TW542941B (en) | 2001-09-25 | 2002-09-24 | Mask and method of manufacturing the same, electroluminescence device and method of manufacturing the same |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6875542B2 (zh) |
JP (1) | JP3651432B2 (zh) |
KR (1) | KR100484023B1 (zh) |
CN (1) | CN100428527C (zh) |
TW (1) | TW542941B (zh) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3775493B2 (ja) * | 2001-09-20 | 2006-05-17 | セイコーエプソン株式会社 | マスクの製造方法 |
JP3596502B2 (ja) | 2001-09-25 | 2004-12-02 | セイコーエプソン株式会社 | マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器 |
JP2005042133A (ja) * | 2003-07-22 | 2005-02-17 | Seiko Epson Corp | 蒸着マスク及びその製造方法、表示装置及びその製造方法、表示装置を備えた電子機器 |
JP2005042147A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 蒸着用マスクの製造方法および蒸着用マスク |
KR100889764B1 (ko) * | 2003-10-04 | 2009-03-20 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 전자 발광 소자의 박막 증착용 마스크 프레임 조립체및, 그것을 이용한 박막 증착 방법 |
JP3794407B2 (ja) | 2003-11-17 | 2006-07-05 | セイコーエプソン株式会社 | マスク及びマスクの製造方法、表示装置の製造方法、有機el表示装置の製造方法、有機el装置、及び電子機器 |
JP2005163099A (ja) * | 2003-12-02 | 2005-06-23 | Seiko Epson Corp | マスク、マスクの製造方法、有機el装置の製造方法、有機el装置 |
JP2005276480A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Seiko Epson Corp | マスク、マスクの製造方法、薄膜パターンの形成方法、電気光学装置の製造方法および電子機器 |
JP4455937B2 (ja) * | 2004-06-01 | 2010-04-21 | 東北パイオニア株式会社 | 成膜源、真空成膜装置、有機elパネルの製造方法 |
KR100626041B1 (ko) * | 2004-11-25 | 2006-09-20 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판표시장치의 박막 증착용 마스크 및 그의 제조방법 |
JP4375232B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2009-12-02 | セイコーエプソン株式会社 | マスク成膜方法 |
JP2006199998A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Seiko Epson Corp | 成膜装置、成膜方法 |
JP2006201538A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Seiko Epson Corp | マスク、マスクの製造方法、パターン形成方法、配線パターン形成方法 |
JP2006233286A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Seiko Epson Corp | マスク、マスクの製造方法、パターン形成装置、パターン形成方法 |
JP4428285B2 (ja) | 2005-05-16 | 2010-03-10 | セイコーエプソン株式会社 | マスク保持構造、成膜方法、及び電気光学装置の製造方法 |
TWI265556B (en) * | 2005-06-22 | 2006-11-01 | Advanced Semiconductor Eng | Wafer and method of cutting the same |
JP4285456B2 (ja) | 2005-07-20 | 2009-06-24 | セイコーエプソン株式会社 | マスク、マスクの製造方法、成膜方法及び電気光学装置の製造方法 |
KR100658762B1 (ko) * | 2005-11-30 | 2006-12-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 증착용 마스크 프레임 조립체 및 이를 이용한 증착 방법 |
KR100768212B1 (ko) | 2006-03-28 | 2007-10-18 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 증착 방법 및 유기 발광 표시장치의 제조방법 |
JP4832160B2 (ja) * | 2006-05-19 | 2011-12-07 | トッキ株式会社 | 有機el素子形成用マスク,アライメント方法並びに有機el素子形成装置 |
JP2013209700A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空蒸着装置及びその方法 |
CN102866576B (zh) * | 2012-08-27 | 2014-08-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种掩膜板组及应用掩膜板组确定对位精度范围的方法 |
JP5382259B1 (ja) * | 2013-01-10 | 2014-01-08 | 大日本印刷株式会社 | 金属板、金属板の製造方法、および金属板を用いて蒸着マスクを製造する方法 |
JP5382257B1 (ja) * | 2013-01-10 | 2014-01-08 | 大日本印刷株式会社 | 金属板、金属板の製造方法、および金属板を用いて蒸着マスクを製造する方法 |
CN103199084B (zh) * | 2013-03-08 | 2015-10-14 | 京东方科技集团股份有限公司 | 基板对位标记、基板及基板对位标记的制作方法 |
JP5455099B1 (ja) | 2013-09-13 | 2014-03-26 | 大日本印刷株式会社 | 金属板、金属板の製造方法、および金属板を用いてマスクを製造する方法 |
JP5516816B1 (ja) | 2013-10-15 | 2014-06-11 | 大日本印刷株式会社 | 金属板、金属板の製造方法、および金属板を用いて蒸着マスクを製造する方法 |
CN103713466B (zh) * | 2013-12-30 | 2016-05-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 掩膜板及其制作方法 |
JP5641462B1 (ja) | 2014-05-13 | 2014-12-17 | 大日本印刷株式会社 | 金属板、金属板の製造方法、および金属板を用いてマスクを製造する方法 |
TWI696708B (zh) | 2015-02-10 | 2020-06-21 | 日商大日本印刷股份有限公司 | 有機el顯示裝置用蒸鍍遮罩之製造方法、欲製作有機el顯示裝置用蒸鍍遮罩所使用之金屬板及其製造方法 |
JP2018127702A (ja) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 蒸着マスク、蒸着マスクのアライメント方法、及び蒸着マスク固定装置 |
US10620530B2 (en) | 2017-07-31 | 2020-04-14 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Multiple-mask multiple-exposure lithography and masks |
DE102017126395B4 (de) | 2017-07-31 | 2022-03-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Masken für Mehrmasken-Mehrfachbelichtungs-Lithografie |
JP6783471B2 (ja) * | 2017-11-21 | 2020-11-11 | 株式会社飯沼ゲージ製作所 | マスク製造方法、アライメント方法及びマスク製造装置 |
CN108109906B (zh) * | 2017-12-28 | 2021-08-17 | Tcl华星光电技术有限公司 | 基底与掩模对位的方法以及对基底图案化的方法 |
JP2021175824A (ja) * | 2020-03-13 | 2021-11-04 | 大日本印刷株式会社 | 有機デバイスの製造装置の蒸着室の評価方法、評価方法で用いられる標準マスク装置及び標準基板、標準マスク装置の製造方法、評価方法で評価された蒸着室を備える有機デバイスの製造装置、評価方法で評価された蒸着室において形成された蒸着層を備える有機デバイス、並びに有機デバイスの製造装置の蒸着室のメンテナンス方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5379775A (en) | 1976-12-24 | 1978-07-14 | Matsushima Kogyo Kk | Thin film forming musk |
JPS57126967A (en) * | 1981-01-29 | 1982-08-06 | Fujitsu Ltd | Method for holding mask for film formation |
JPS612450U (ja) | 1984-06-09 | 1986-01-09 | 株式会社 堀場製作所 | フイルタ製造用マスク |
JPH10204615A (ja) * | 1997-01-21 | 1998-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の製造装置 |
DE29707686U1 (de) * | 1997-04-28 | 1997-06-26 | Balzers Prozess Systeme Vertri | Magnethalterung für Folienmasken |
JP2001118780A (ja) | 1999-10-20 | 2001-04-27 | Nikon Corp | 電子線用転写マスクブランクス、電子線用転写マスク及びそれらの製造方法 |
JP2001181822A (ja) * | 1999-12-17 | 2001-07-03 | Oem Kk | マスキング磁石治具 |
JP2001185350A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 被着用マスク、その製造方法、エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
JP2001230194A (ja) | 2000-02-21 | 2001-08-24 | Hoya Corp | X線マスク用基板及びその製造方法、並びにx線マスク及びその製造方法 |
JP2001237073A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Tohoku Pioneer Corp | 多面取り用メタルマスク及びその製造方法 |
JP2001246599A (ja) | 2000-03-01 | 2001-09-11 | Seiko Epson Corp | マイクロレンズ成形型及びマイクロレンズ基板の製造方法 |
JP2002047560A (ja) | 2000-07-31 | 2002-02-15 | Victor Co Of Japan Ltd | 真空蒸着用マスク、それを用いた薄膜パターンの形成方法及びel素子の製造方法 |
US7396558B2 (en) * | 2001-01-31 | 2008-07-08 | Toray Industries, Inc. | Integrated mask and method and apparatus for manufacturing organic EL device using the same |
JP3775493B2 (ja) * | 2001-09-20 | 2006-05-17 | セイコーエプソン株式会社 | マスクの製造方法 |
JP3596502B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2004-12-02 | セイコーエプソン株式会社 | マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器 |
-
2001
- 2001-09-25 JP JP2001292040A patent/JP3651432B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-09-10 KR KR10-2002-0054384A patent/KR100484023B1/ko active IP Right Grant
- 2002-09-20 US US10/247,570 patent/US6875542B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-09-24 CN CNB021425981A patent/CN100428527C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2002-09-24 TW TW091121906A patent/TW542941B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100484023B1 (ko) | 2005-04-20 |
CN100428527C (zh) | 2008-10-22 |
CN1514675A (zh) | 2004-07-21 |
KR20030026222A (ko) | 2003-03-31 |
US6875542B2 (en) | 2005-04-05 |
JP2003100460A (ja) | 2003-04-04 |
JP3651432B2 (ja) | 2005-05-25 |
US20030059690A1 (en) | 2003-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW542941B (en) | Mask and method of manufacturing the same, electroluminescence device and method of manufacturing the same | |
KR100755352B1 (ko) | 마스크, 마스크의 제조 방법, 패턴 형성 장치, 패턴 형성방법 | |
TW585011B (en) | Mask and method of manufacturing the same, and method of manufacturing electro-luminescence (EL) device | |
KR100683336B1 (ko) | 마스크, 마스크의 제조 방법, 유기 el 장치의 제조 방법및 유기 el 장치 | |
US20100112194A1 (en) | Mask fixing device in vacuum processing apparatus | |
KR20040050045A (ko) | 마스크 증착 방법 및 장치, 마스크 및 마스크의 제조 방법, 표시 패널 제조 장치, 표시 패널 및 전자 기기 | |
JP2006188731A (ja) | マスク成膜方法,マスク | |
JP2005206939A (ja) | 薄膜形成方法、薄膜形成装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置、及び電子機器 | |
KR20060118331A (ko) | 마스크 지지 구조, 성막 방법, 전기 광학 장치의 제조 방법및 전자기기 | |
TW200811487A (en) | Systems and methods for manufacturing wire grid polarizers | |
KR101108012B1 (ko) | 대면적 기판용 기판정렬장치 | |
JP2008196002A (ja) | 蒸着マスクおよび蒸着マスクの製造方法 | |
JP4235823B2 (ja) | マスクの製造方法 | |
CN108866478B (zh) | 掩膜版制作方法以及掩膜版 | |
JP2004335486A (ja) | マスク及びその製造方法、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びに電子機器 | |
JP2006188732A (ja) | マスク、マスクの製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法 | |
JP5953566B2 (ja) | 薄膜パターン形成方法及び有機el表示装置の製造方法 | |
JP2002009098A (ja) | パターン形成装置、パターン形成方法、有機電界発光素子ディスプレイの製造装置及び製造方法 | |
TWI248630B (en) | Method for fabricating cathode of carbon nanotube field effect emission display and the carbon nanotube field effect emission display | |
TWI440730B (zh) | 一種使用靜電板承載一金屬網板而進行蒸鍍的方法及其裝置 | |
KR101254805B1 (ko) | Uv 차단 마스크 및 이의 제조 방법 | |
JP6095088B2 (ja) | マスクの製造方法、薄膜パターン形成方法及び有機el表示装置の製造方法 | |
KR20210083843A (ko) | 새도우 마스크 제조 방법 및 새도우 마스크 핸들링 장치 | |
JP2001162847A (ja) | サーマルプリントヘッド用基板及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |